JP4864126B2 - Tcp型半導体装置 - Google Patents
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Description
図2は、本実施の形態に係るTCP型半導体装置の構成を概略的に示している。TCP型半導体装置では、TABテープ等のベースフィルム(キャリアテープ)10が用いられる。図2に示されるように、ベースフィルム10の幅方向及び延在方向は、それぞれ、x方向及びy方向である。x方向とy方向は、互いに直交する平面方向である。
2−1.テスト
本実施の形態によれば、半導体装置1のテスト時、プローブとの接触のために専用のコンタクトパッドは用いられない。その代わり、外部端子部40の一部が幅広に形成され、その幅広部がプローブと接触するテストパッド部41として用いられる。図1で示されたようなテスト用のコンタクトパッド140は設けられず、パッド配置領域RPはベースフィルム10上から排除される。その結果、1つの半導体チップ20に対して要求されるベースフィルムの面積を、図1の場合と比べて大きく縮小することができる。従って、材料コストを削減し、また、ベースフィルム10上の半導体チップ20の配置効率を向上させることが可能となる。すなわち、半導体装置1の製造コストを削減することが可能となる。
TCP型半導体装置1を1つずつ切り分ける際には、カットラインCLに沿ってベースフィルム10が切断される(図2、図3参照)。このとき、本実施の形態によれば、金属バリに起因するショート不良を軽減することができる。
本実施の形態に係る半導体チップ20は、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル等の表示パネルを駆動するためのICである。半導体チップ20は、リード30を介して、表示パネルの電極と電気的に接続される。より詳細には、表示パネルは、基板上にマトリックス状に形成された複数の画素、及びそれら画素を駆動するために基板上に形成された複数の電極(データ線等)を備えている。それら複数の電極が、本実施の形態に係るTCP型半導体装置1(パッケージ)の複数のリード30のそれぞれに電気的に接続される。このようにリード30と接続される電極は、以下「基板側電極60」と参照される。
既出の図4で示された例ではテストパッド部41は2段に分散されて配置されていたが、その段数は3段以上であってもよい。例えば図7では、テストパッド部41は、3段に分散されて配置されている。この場合、複数のリード30は、3つのグループG1〜G3に区分けされる。第1グループG1はリード30−1iを含んでおり、第2グループG2はリード30−2iを含んでおり、第3グループG3はリード30−3iを含んでいる(i=1,2・・・)。図7の場合、テストパッド部41と対向する狭窄部43の切り欠きは、片側だけで十分となる。その結果、狭窄部43の幅W3は、図4で示された場合よりも広くなる。
10 ベースフィルム
20 半導体チップ
30 リード
31 第1端部
32 第2端部
40 外部端子部
41 幅広部(テストパッド部)
42 通常部
43 狭窄部
50 プローブ
60 基板側電極
RD デバイス領域
RC 被覆領域
RE 外部端子領域
CL カットライン
SR ソルダーレジスト
Claims (4)
- 互いに平行で各々が直線形状を有する複数の基板側電極と接続されるTCP型半導体装置であって、
ベースフィルムと、
前記ベースフィルム上に搭載された半導体チップと、
前記ベースフィルム上に形成され、前記半導体チップと前記複数の基板側電極のそれぞれとを電気的に接続する複数のリードと
を備え、
前記複数のリードの各々は、第1方向に延在し前記複数の基板側電極のうち対応する1つと接触する外部端子部を有し、
前記外部端子部の長さは、前記複数のリード間で同じであり、
前記ベースフィルムと平行で前記第1方向と直交する平面方向は第2方向であり、
前記複数のリードに関する前記外部端子部の先端位置は、前記第2方向に沿って整列しており、
前記複数のリードの各々の前記外部端子部は、
前記外部端子部の他の部分よりも幅広に形成された幅広部と、
前記幅広部よりも幅が狭い通常部と、
前記通常部よりも更に幅が狭い狭窄部と
を有し、
前記複数のリードのうち隣り合うリード間で、前記第1方向における前記幅広部の位置は異なっており、且つ、前記幅広部は前記第1方向において部分的に重なり合っており、更に、前記幅広部と前記狭窄部とが互いに対向している
TCP型半導体装置。 - 請求項1に記載のTCP型半導体装置であって、
前記通常部の幅は、前記各基板側電極の幅以上である
TCP型半導体装置。 - 請求項1又は2に記載のTCP型半導体装置であって、
前記複数のリードは、少なくとも2つのグループに区分けされ、
前記少なくとも2つのグループの各々において、前記幅広部は前記第2方向に沿って整列している
TCP型半導体装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載のTCP型半導体装置であって、
前記幅広部は、テスト時にプローブと接触するテストパッド部である
TCP型半導体装置。
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