JP4843272B2 - マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム - Google Patents
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Claims (16)
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システムであって、
a)投影の間に投影光に露光される表面を有する光学素子と、
b)前記表面上の少なくとも1つの点の位置データを決定する測定デバイスと、
c)前記表面の形状を変更するためのマニピュレータと、
d)前記測定デバイスに接続された、前記マニピュレータを制御するための制御デバイスと、
を備え、
前記測定デバイスは、
測定ビームが前記少なくとも1つの点で反射または屈折されるように、測定ビームを前記少なくとも1つの点に向け、
前記反射または屈折された測定ビームの逸れを測定することによって、少なくとも1つの点の前記位置データを決定し、
前記制御デバイスは、案内量として前記表面の予め決定された目標形状を受けるように構成され、前記決定された位置データに応じて、前記表面が前記予め決定された目標形状を得るように前記マニピュレータを駆動する
光学システム。 - 前記測定デバイスは、前記表面上の複数の点で位置データを決定するように構成される請求項1に記載の光学システム。
- 前記測定デバイスは、干渉計測定デバイスであり、前記少なくとも1つの点で反射または屈折された前記測定ビームは、前記表面に入射しない参照ビームと干渉する請求項1に記載の光学システム。
- 前記測定デバイスは、コヒーレント光を生成するための光源と、干渉計とを備える請求項3に記載の光学システム。
- 前記測定デバイスは、ビーム・スプリッタを備え、そのビーム・スプリッタは、前記光源によって生成された前記光を、前記参照ビームと前記測定ビームに分割する請求項4に記載の光学システム。
- 前記測定デバイスは、少なくとも1つの傾斜可能な偏向ミラーを含み、傾斜可能な偏向ミラーは、前記測定ビームを、前記光学素子の前記表面上の異なる点に向けるように構成される請求項3に記載の光学システム。
- 前記測定デバイスは、三角測定デバイスである請求項1に記載の光学システム。
- 前記目標形状は、前記光学素子が、最小の結像エラーを引き起こすように決定される請求項1に記載の光学システム。
- 前記目標形状は、前記光学素子が、他の光学素子によって引き起こされる結像エラーを少なくとも部分的に訂正するように決定される請求項1に記載の光学システム。
- 前記光学素子は、カタディオプトリック投影対物レンズのひとみ面に配置され、またはひとみ面に近接して配置される凹状ミラーである請求項1に記載の光学システム。
- マイクロリソグラフィ投影露光装置の、投影の間に投影光に露光される表面を有する光学素子を備える光学システムの結像特性を改善する方法であって、
a)測定デバイスを使用して前記表面上の少なくとも1つの点の位置データを決定するステップと、
b)予め決定された目標データからの前記位置データの逸脱を決定するステップと、
c)前記決定された位置データの逸脱に応じて、前記光学システムの結像特性が改善されるように、訂正処置を実施するステップと
を含み、
少なくとも1つの点の前記位置データは、
測定ビームが前記少なくとも1つの点で反射または屈折されるように、測定ビームを前 記少なくとも1つの点に向け、
前記反射または屈折された測定ビームの逸れを測定することによって決定され、
前記訂正処置は、マニピュレータによる、光学素子の位置または形状における変更を含む、
方法。 - 前記光学素子の形状は、ステップb)において決定される前記逸脱が、所定の閾値未満にあるように変更される請求項11に記載の方法。
- 前記訂正処置は、前記光学システムに含まれる他の光学素子の位置または形状における変更を含む請求項11に記載の方法。
- 前記表面の目標データは、前記光学素子が最小の結像エラーを引き起こすように決定される請求項11に記載の方法。
- 前記表面の目標データは、前記光学素子が、前記光学システムに含まれる他の光学素子によって引き起こされる結像エラーを少なくとも部分的に訂正するように決定される請求項11に記載の方法。
- 前記表面の前記位置データは、干渉計測定デバイスによって決定され、前記少なくとも1つの点で反射または屈折される前記測定ビームは、前記表面に入射しない参照ビームと干渉する請求項11に記載の方法。
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