JP4843071B2 - プリント配線板の検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
移動機構部6は、各種モータ、そのモータを駆動させるモータドライバなどから構成される。移動機構部6には、プローブ支持部2を介してプローブ1が取り付けられており、プローブ1は、プリント配線板3と平行方向(XY方向)及び垂直方向(Z方向)に移動可能である。なお、本実施の形態では、プローブ1が2本の場合を例に説明するが、3本以上であってもよい。
t>0でのV0は式(2)で表すことができる。
式(2)において、Raが有限であればt=∞ではV0は式(3)になる。
で立ち上り、Raの指数関数で、良品値である
に収束することが解る。その時の関係を図6のグラフに示す。Raの値が小さくなるに従って収束時間が短くなるので、矩形パルス印加直後の最適測定時間t0でV0を測定することにより、断線検査を行うことができる。
であるため、V0=1Vとなる。時間t0での測定値830mVは、良品時の1Vと比較して、17%減少することになる。よって、時間t0での測定値と良品時の測定値を比較することで、回路ネットに導通抵抗の増加があるかを判定することができる。一般的に断線検査の場合、検出すべき導通抵抗は低ければ低いほど良く、矩形パルス印加後の比較的微少な時間が最適な測定時間となる。
から立ち上り、
に収束するようになる。その時の関係を図9のグラフに示す。R12の値が大きいほど収束時間は長くなる。よって、絶縁抵抗の減少を検査するには、矩形パルス印加後の最適測定時間t1経過後にV0の測定を行えば良いことになる。実際の短絡検査において、t1は検査にかけられる時間、検査すべき抵抗値、基準プレーンとの静電容量などから計算や実験などで最適時間として設定される。
であるため、V0=375mVとなる。時間t1での測定値462mVは良品時の375mVと比較して、23%増加することになる。よって、t1での測定値と良品時の測定値を比較することで、回路ネットに短絡不良を有しているかを判定することができる。一般に短絡検査の場合、検出すべき絶縁抵抗は高ければ高いほど良く、矩形パルス印加後の比較的長い時間が最適な測定時間となる。
2 プローブ支持部
3 プリント配線板
4a〜4e プリント配線板上の回路(ネット)
5 基準面
6 移動機構部
7 測定部
8 記憶部
9 制御部
Claims (6)
- 検査対象のプリント配線板のネットに接触するための第1及び第2のプローブと、
記憶手段とを有し、
前記プリント配線板の基準面に前記第1のプローブを接触させ、前記プリント配線板のネットに前記第2のプローブを接触させ、前記第2のプローブを介して前記ネットに矩形パルス電圧を印加し、
前記第1のプローブにより、前記矩形パルス印加直後の前記プリント配線板外に設けられた外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定と、絶縁抵抗を判別するために設定された最適測定時間経過後の前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定とを行い、
前記プリント配線板の検査対象すべてのネットについて前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定を行い、その値を前記記憶手段に記憶し、
予め測定した前記矩形パルス印加直後及び前記最適測定時間経過後での前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定で測定した良品の第1の測定値および第2の測定値と、前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定で測定した第1の測定値および第2の測定値とを比較し、
同一ネット内の完全断線を含む導通抵抗の増加不良と、近接するネットとの完全短絡を含む絶縁抵抗の減少不良とを検出するように構成されていることを特徴とするプリント配線板の検査装置。 - 前記絶縁抵抗の減少不良の検出において、予め測定した前記最適測定時間経過後での前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定で測定した良品の第2の測定値と比べ、
前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定で測定した第2の測定値が増加しているネットを短絡不良ネットと判定することを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の検査装置。 - 前記導通抵抗の増加不良の検出において、予め測定した前記矩形パルス印加直後での前記外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定で測定した良品の第1の測定値と比べ、
前記外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定で測定した第1の測定値が減少しているネットを断線不良ネットと判定することを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の検査装置。 - プリント配線板の基準面に第1のプローブを接触させ、前記プリント配線板のネットに第2のプローブを接触させ、前記第2のプローブを介して前記ネットに矩形パルス電圧を印加し、
前記第1のプローブにより、前記矩形パルス印加直後の前記プリント配線板外に設けられた外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定と、絶縁抵抗を判別するために設定された最適測定時間経過後の前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定とを行い、
前記プリント配線板の検査対象すべてのネットについて前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定を行い、その値を記憶手段に記憶し、
予め測定した前記矩形パルス印加直後及び前記最適測定時間経過後での前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定で測定した良品の第1の測定値および第2の測定値と、前記外部コンデンサC 0 の第1及び第2の電圧測定で測定した第1の測定値および第2の測定値とを比較し、
同一ネット内の完全断線を含む導通抵抗の増加不良と、近接するネットとの完全短絡を含む絶縁抵抗の減少不良とを検出することを特徴とするプリント配線板の検査方法。 - 前記絶縁抵抗の減少不良の検出において、予め測定した前記最適測定時間経過後での前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定で測定した良品の第2の測定値と比べ、
前記外部コンデンサC 0 の第2の電圧測定で測定した第2の測定値が増加しているネットを短絡不良ネットと判定することを特徴とする請求項4記載のプリント配線板の検査方法。 - 前記導通抵抗の増加不良の検出において、予め測定した前記矩形パルス印加直後での前記外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定で測定した良品の第1の測定値と比べ、
前記外部コンデンサC 0 の第1の電圧測定で測定した第1の測定値が減少しているネットを断線不良ネットと判定することを特徴とする請求項4記載のプリント配線板の検査方法。
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