JP4783700B2 - 携帯端末 - Google Patents
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Description
二次電池は、充放電の繰り返し、高温、高電圧などのストレスにより経年劣化し、内部抵抗が増し、電池容量が減少する。電池の劣化の判断方法として、この内部抵抗を測定する方法や、電池の放電終止状態から満充電までの充電量を測定する方法がある。しかし、電池の内部抵抗は、測定条件によりばらつき、本来の電池劣化に伴う内部抵抗の変化を測定することがむずかしい。充電量を充放電して測定する方法は、測定に時間を要する。内部抵抗値と電池容量の関係は個体バラツキも大きく、内部抵抗値を測定しても電池容量と必ずしも正確に対応が付かないとの問題も有った。
また、二次電池を搭載した携帯電話機では、二次電池を携帯電話機から取り外して、専用の電池測定器で電池特性を測定しており、携帯電話機の販売店などに出向く必要があり、携帯電話機の使用者にとっては不便であった。また、携帯電話機も、二次電池を容易に取り外し可能な構造とする必要があり、構造が複雑になっていた。
電池の内部抵抗を測定して、電池寿命の表示を行う電池残容量表示装置がある(例えば、特許文献1参照。)。この特許文献1では、電池から定電流負荷回路7に放電した時の電圧降下により電池の内部抵抗を測る。更に、温度を測定して、常温以外と判断した場合は、前記内部抵抗値に温度補正を加える。この温度補正後の内部抵抗値により電池寿命を判断して、電池交換の表示をしている(段落0024〜0039)。
電池の内部抵抗を測定して、電池劣化の判定を行う電池劣化判定装置がある(例えば、特許文献2参照。)。この特許文献2では、電池から抵抗12に放電した時の電圧降下により電池の内部抵抗を測り、更に温度で補正して記憶する。この処理を、電池の出荷時の初期状態で行う。また、実使用上の定期的もしくは任意の時に行い、初期内部抵抗からの変化量でもって劣化を判定している(段落0006〜0016)。また、電池の初期状態と実使用時において、トリクル充電中の満充電状態での電圧を測定する。電池が劣化して内部抵抗が高くなると充電電流により前記満充電状態での電圧も高くなるので、初期状態と実使用時とで前記満充電状態での電圧を比較することにより、劣化を判定している(段落0017)。これらの方法により、電池固体間の内部抵抗ばらつきの問題を解決している。
また、内部抵抗の測定は、電池の放電時、または充電時のみに行っており、その場合、電圧降下の値は小さくて測定精度が悪くなる。また、電池の放電時にのみに測定を行うと、測定のために電池電流を消費してしまうという問題がある。
図1は、本発明の各実施例に係る携帯端末の関連部分のブロック図である。携帯端末100は、接点1、ダイオード2、充電回路3、電池6、サーミスタ7、操作部8、トランジスタスイッチ9〜11、送信パワーアンプ12、LCD13、白色LED14、制御部15などによって構成される。更に、充電回路3は、トランジスタスイッチ4、電圧制御回路5などを有する。また、制御部15は、検出部16、電流記憶メモリ17、電池温度特性メモリ18、測定データ記憶メモリ19、充電回数カウンタ20などを有する。図示しないACアダプタ200は、携帯端末100の充電用の定電流源であり、充電時は、携帯端末100がACアダプタ200に載置される。
(a)は、「充電中かつ軽負荷」状態での電圧と電流を示す。ACアダプタ200の定電流を500mAとすると、充電電流500mAが供給される。この値は、予め制御部15の電流記憶メモリ17に記憶されている。充電電流値スイッチ9〜11は全てオフであり、負荷電流は、制御部15に供給されるIddのみである。従って、電池6には、500−Idd[mA]が充電される。この時、電池電圧6a=電池セル電圧V+(500−Idd)×内部抵抗61であり、制御部15によりこの電池電圧6aが測定される。
(a)は、内部抵抗とSOC(満充電や完全放電等を表す充電状態)との一般的な関係、および電池電圧とSOCとの一般的な関係を示す。内部抵抗は、SOCの状態によっても変化する。横軸のSOCは、0[%]が完全放電状態、100[%]が満充電状態を表す。太い実線で示した内部抵抗[mΩ]は、SOCが小さい状態では大きく、SOCが大きくなるにつれて小さくなり、SOCの中央付近のN以上ではほぼ平坦な特性となる。従って、正確な内部抵抗を測定するためには、この抵抗値が平坦な部分で測定するのが望ましい。しかし、このSOCを検知するために充放電量をチェックするのは時間が掛かるので、電池電圧でSOC状態を把握する。
以上で、内部抵抗を算出するデータは揃うが、ステップS12〜S18を複数回繰り返して複数回分を測定して平均値を取ってもよい。複数回繰り返しても処理時間は短時間で済む。内部抵抗算出用の電圧測定などが終わると、次に、ADC入力のゲインを下げて通常の充電処理に入る準備をし(ステップS19)、充電処理継続に入る(ステップS50)。
また、測定データ記憶メモリ19には、電圧[V]や抵抗値[mΩ]として記憶したが、検出部16のADC39の出力2値データをそのまま記録するようにしてもよい。多くの場合、使用者が知りたいことは電池の劣化量であるので、使用者に報知するデータも抵抗値の代わりにADC39の出力値を10進数や8進数や16進数としたものでも良い。電池劣化の程度の判断基準値をこれらの劣化表示値と共に表示することは使用者に対する利便性を上げるので好ましい。
図9は、本発明の各実施例に係る携帯端末の制御部の電池劣化報知の表示画面を説明する図であり、(a)は抵抗値の変化量表示、(b)は電池電圧差分(ADC値)の変化量表示の例である。
図8、図9の(a)により、動作を説明する。制御部15は、携帯端末100のユーザーによる電池劣化の報知操作がなされると(ステップS201でYES)、測定データ記憶メモリ19から最新の充電回数の「抵抗値変化量」を読み出す(ステップS202)。例えば、現在の充電回数が100回目が最新であれば、現在の「抵抗値変化量」は30.2mΩである。そして、この現在の「抵抗値変化量」30.2mΩを、表示画面の「初期値に対する内部抵抗値の変化量」欄に表示する。また、表示画面の「電池劣化の目安表示」欄に、「抵抗値変化量」VS電池劣化を表す文言も合わせて表示する(ステップS203)。
また、内部抵抗の劣化以外によるばらつき要因であるSOCや温度の影響が取り除かれて、内部抵抗の劣化を判断するための正確な内部抵抗測定が可能になる。
また、内部抵抗の劣化以外によるばらつき要因であるSOCや温度の影響が取り除かれて、内部抵抗の劣化を判断するための正確な内部抵抗測定が可能になる。
また、内部抵抗の劣化以外によるばらつき要因であるSOCや温度の影響が取り除かれて、内部抵抗の劣化を判断するための正確な内部抵抗測定が可能になる。
なお、各実施例の携帯端末は、携帯電話機、PDA、カメラ、ノートパソコンなどに適用することができる。
2 ダイオード
3 充電回路
4 トランジスタスイッチ
5 電圧制御回路
6 電池
61 内部抵抗
7 サーミスタ
8 操作部
9、10、11 トランジスタスイッチ
12 送信パワーアンプ
13 LCD
14 白色LED
15 制御部
16 検出部
17 電流記憶メモリ
18 電池温度特性メモリ
19 測定データ記憶メモリ
20 充電回数カウンタ
31、32 抵抗
33 増幅器
34、35、36 抵抗
37 トランジスタスイッチ
38 レジスタ
39 ADC
100 携帯端末
200 ACアダプタ
Claims (3)
- 充電可能な電池と、
前記電池から電流を供給される負荷部と、
前記電池電圧を第1の測定精度で測定しながら所定の満充電近辺の電圧まで充電制御し、
前記所定の満充電近辺の電圧に達したら、充電中に前記負荷部を軽負荷として前記負荷部に第1負荷電流を流す第1状態と、充電停止中に前記負荷部を重負荷として前記負荷部に当該第1負荷電流より多い第2負荷電流を流す第2状態とを切り替え、
前記第1状態と前記第2状態の電池電圧を前記第1の測定精度より高精度の第2の測定精度で測定して当該電池電圧の差分を算出、又は、当該電池電圧差分を前記第1状態と第2状態の電池電流差分で除算して前記電池の内部抵抗を算出し、
更に、前記電池電圧差分の変化量又は前記内部抵抗の変化量を算出し、前記電池電圧差分の変化量又は前記内部抵抗の変化量に対応して前記電池の特性に関する情報を報知する制御手段とを具備することを特徴とする携帯端末。 - 前記第1及び第2の測定精度での測定は充電1回毎に行われ、
前記電池電圧を第1の測定精度で測定しながら所定の満充電近辺の電圧まで充電制御して前記所定の満充電近辺の電圧に達したら、前記第2の測定精度での電池電圧測定を行い、この測定が終わると、前記電池電圧を第1の測定精度で測定しながら充電制御を継続することを特徴とする請求項1記載の携帯端末。 - 更に、
前記電池の充電回数をカウントする充電回数カウント手段と、
前記充電回数カウント手段をリセットするリセット手段とを備え、
前記制御手段は、
前記電池電圧差分の変化量又は前記内部抵抗の変化量の算出は、前記充電回数が初期のときに算出した前記電池電圧差分又は前記内部抵抗を基準として、前記変化量を算出することを特徴とする請求項2記載の携帯端末。
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