JP4772815B2 - 補正パターン画像生成装置、パターン検査装置および補正パターン画像生成方法 - Google Patents
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Description
図2は、第1の実施の形態のパターン検査装置の構成を示すブロック図である。図2において、パターンが形成された露光用マスクやウェハ等の基板を試料として、かかる試料の欠陥を検査するパターン検査装置100は、光学画像取得部150と制御系回路160を備えている。光学画像取得部150は、XYθテーブル102、光源103、拡大光学系104、フォトダイオードアレイ105、センサ回路106、レーザ測長システム122、オートローダ130、照明光学系170を備えている。制御系回路160では、コンピュータとなる制御計算機110が、データ伝送路となるバス120を介して、位置回路107、比較回路108、展開回路111、参照回路112、オートローダ制御回路113、テーブル制御回路114、磁気ディスク装置109、磁気テープ装置115、フレシキブルディスク装置(FD)116、CRT117、パターンモニタ118、プリンタ119に接続されている。また、XYθテーブル102は、X軸モータ、Y軸モータ、θ軸モータにより駆動される。
108 比較回路
140 位置合わせ部
146 比較部
200 補正パターン画像生成部
202 相対シフト量算出部
204 画像シフト部
206 第1の方程式生成部
208 第1のパラメータ推定部
210 第1の補正パターン画像生成部
212 第2の方程式生成部
214 第2のパラメータ推定部
216 第2の補正パターン画像生成部
Claims (3)
- 試料のパターン検査に用いる検査基準パターン画像の補正を行う補正パターン画像生成装置であって、
被検査パターン画像と前記検査基準パターン画像の位置合わせを行い、サブ画素単位の相対シフト量を算出する相対シフト量算出部と、
前記検査基準パターン画像を、前記相対シフト量に基づいて垂直または水平方向のいずれか一方のシフト方向にシフトする画像シフト部と、
前記被検査パターン画像およびシフトした前記検査基準パターン画像に対して、第1の線形予測モデルを用いた入出力関係を記述する第1の連立方程式を生成する第1の方程式生成部と、
前記第1の連立方程式のパラメータを求める第1のパラメータ推定部と、
前記第1の連立方程式のパラメータが代入された前記第1の線形予測モデルを用いて、前記検査基準パターン画像を、前記シフト方向に対し垂直な方向に補正した第1の補正パターン画像を生成する第1の補正パターン画像生成部と、
前記被検査パターン画像および前記第1の補正パターン画像に対して、第2の線形予測モデルを用いた入出力関係を記述する第2の連立方程式を生成する第2の方程式生成部と、
前記第2の連立方程式のパラメータを求める第2のパラメータ推定部と、
前記第2の連立方程式のパラメータが代入された前記第2の線形予測モデルを用いて、前記第1の補正パターン画像を、前記シフト方向と同一の方向に補正した第2の補正パターン画像を生成する第2の補正パターン画像生成部と、
を備え、
前記第1の線形予測モデルが1×n(nは3以上の整数)画素の領域を入力とする1×n次のモデルであり、かつ、前記第2の線形予測モデルがn×1画素の領域を入力とするn×1次のモデルであること、または、
前記第1の線形予測モデルがn×1画素の領域を入力とするn×1次のモデルであり、かつ、前記第2の線形予測モデルが1×n画素の領域を入力とする1×n次のモデルであることを特徴とする補正パターン画像生成装置。 - 請求項1記載の補正パターン画像生成装置を有することを特徴とするパターン検査装置。
- 試料のパターン検査に用いる検査基準パターン画像の補正を行う補正パターン画像生成方法であって、
被検査パターン画像と前記検査基準パターン画像の位置合わせを行い、サブ画素単位の相対シフト量を算出する相対シフト量算出ステップと、
前記検査基準パターン画像を、前記相対シフト量に基づいて垂直または水平方向のいずれか一方のシフトする画像シフトステップと、
前記被検査パターン画像およびシフトした前記検査基準パターン画像に対して、第1の線形予測モデルを用いた入出力関係を記述する第1の連立方程式を生成する第1の方程式生成ステップと、
前記第1の連立方程式のパラメータを求める第1のパラメータ推定ステップと、
前記第1の連立方程式のパラメータが代入された前記第1の線形予測モデルを用いて、前記検査基準パターン画像を、前記シフト方向に対し垂直な方向に補正した、第1の補正パターン画像を生成する第1の補正パターン画像生成ステップと、
前記被検査パターン画像および前記第1の補正パターン画像に対して、第2の線形予測モデルを用いた入出力関係を記述する第2の連立方程式を生成する第2の方程式生成ステップと、
前記第2の連立方程式のパラメータを求める第2のパラメータ推定ステップと、
前記第2の連立方程式のパラメータが代入された前記第2の線形予測モデルを用いて、前記第1の補正パターン画像を、前記シフト方向と同一の方向に補正した第2の補正パターン画像を生成する第2の補正パターン画像生成ステップと、
を備え、
前記第1の線形予測モデルが1×n(nは3以上の整数)画素の領域を入力とする1×n次のモデルであり、かつ、前記第2の線形予測モデルがn×1画素の領域を入力とするn×1次のモデルであること、または、
前記第1の線形予測モデルがn×1画素の領域を入力とするn×1次のモデルであり、かつ、前記第2の線形予測モデルが1×n画素の領域を入力とする1×n次のモデルであることを特徴とする補正パターン画像生成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008071959A JP4772815B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 補正パターン画像生成装置、パターン検査装置および補正パターン画像生成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2008071959A JP4772815B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 補正パターン画像生成装置、パターン検査装置および補正パターン画像生成方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009229555A JP2009229555A (ja) | 2009-10-08 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008071959A Active JP4772815B2 (ja) | 2008-03-19 | 2008-03-19 | 補正パターン画像生成装置、パターン検査装置および補正パターン画像生成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4772815B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4988000B2 (ja) * | 2010-03-17 | 2012-08-01 | 株式会社東芝 | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
JP5921990B2 (ja) * | 2012-08-23 | 2016-05-24 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 欠陥検出方法 |
KR102521949B1 (ko) * | 2018-08-31 | 2023-04-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 영상 보정부 및 표시 장치의 구동 방법 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0658216B2 (ja) * | 1986-01-13 | 1994-08-03 | 株式会社日立製作所 | パタ−ン欠陥判定装置 |
JPS62168270A (ja) * | 1986-01-20 | 1987-07-24 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン変更装置 |
JPH0786349A (ja) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Fujitsu Ltd | 電子ビームを用いた検査装置 |
JP4597509B2 (ja) * | 1999-08-26 | 2010-12-15 | 株式会社ナノジオメトリ研究所 | パターン検査装置およびパターン検査方法 |
JP3524853B2 (ja) * | 1999-08-26 | 2004-05-10 | 株式会社ナノジオメトリ研究所 | パターン検査装置、パターン検査方法および記録媒体 |
JP4074624B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2008-04-09 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | パターン検査方法 |
JP4203498B2 (ja) * | 2005-09-22 | 2009-01-07 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 |
JP4233556B2 (ja) * | 2005-09-22 | 2009-03-04 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン検査方法 |
JP4199786B2 (ja) * | 2006-08-10 | 2008-12-17 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 試料検査装置、画像位置合わせ方法及びプログラム |
JP4943304B2 (ja) * | 2006-12-05 | 2012-05-30 | 株式会社 Ngr | パターン検査装置および方法 |
JP4652391B2 (ja) * | 2006-12-08 | 2011-03-16 | 株式会社東芝 | パターン検査装置、及び、パターン検査方法 |
JP2008233343A (ja) * | 2007-03-19 | 2008-10-02 | Advanced Mask Inspection Technology Kk | 試料検査装置、補正画像生成方法及びプログラム |
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JP2009229555A (ja) | 2009-10-08 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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