JP4745820B2 - 回路基板検査装置および回路基板検査方法 - Google Patents
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Description
2 検査部
3 制御部
4 記憶部
10 検査対象基板
20 回路基板検査処理
D0 検査用基準データ
D1 検査対象体特定用データ
D2 検査結果データ
R1〜R8 電子部品
X01〜X08,X11,X12,X21 検査対象体
Xx11,Xx12,Xx21 仮検査対象体
Claims (4)
- 回路基板上の複数の検査対象体について所定の電気的パラメータを測定してその測定結果と検査用基準データとに基づいて当該各検査対象体の良否を検査する検査部、および当該検査部を制御して前記各検査対象体の良否を検査させる制御部を備え、
前記制御部は、同一種類の複数の前記回路基板を順次検査する際に、前記検査部によっていずれかの前記検査対象体が不良と判定されたときに、当該不良と判定された検査対象体と、当該不良と判定された検査対象体に対して電気的に直接接続されている他の前記検査対象体とをグループ化した1つの検査対象体として前記電気的パラメータを前記検査部に測定させ、その測定結果が当該グループ化した1つの検査対象体についての前記検査用基準データに対して所定の基準を満たすときに、その後に検査する他の前記回路基板において前記グループ化した1つの検査対象体を新たな1つの検査対象体として前記検査部に検査させる回路基板検査装置。 - 前記制御部は、いずれかの前記検査対象体が不良と判定された前記回路基板に対する検査の後に他の前記回路基板を検査する際に、前記グループ化した1つの検査対象体に属する前記各検査対象体を前記検査部に個別的に検査させ、当該各検査対象体のすべてが良と判定されたときに、当該グループ化した1つの検査対象体についての前記電気的パラメータを前記検査部に測定させ、その測定結果を当該グループ化した1つの検査対象体についての前記検査用基準データとして用いる請求項1記載の回路基板検査装置。
- 前記制御部は、複数の前記検査対象体をグループ化した前記新たな1つの検査対象体が不良と判定されたときに、当該新たな1つの検査対象体に属する前記各検査対象体について前記検査部に個別的に検査させる請求項1または2記載の回路基板検査装置。
- 同一種類の複数の回路基板を順次検査する際に、当該回路基板上の複数の検査対象体のうちのいずれかを不良と判定したときに、当該不良と判定した検査対象体と、当該不良と判定した検査対象体に対して電気的に直接接続されている他の前記検査対象体とをグループ化した1つの検査対象体として電気的パラメータを測定し、その測定結果が当該グループ化した1つの検査対象体についての検査用基準データに対して所定の基準を満たすときに、その後に検査する他の前記回路基板において前記グループ化した1つの検査対象体を新たな1つの検査対象体として検査する回路基板検査方法。
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