JP4729500B2

JP4729500B2 - 信号特性決定方法及びその装置

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Publication number: JP4729500B2
Application number: JP2006539367A
Authority: JP
Inventors: パク，ヒョン−スー; リー，ジェ−ウク; シム，ジェ−ソン; リー，ジョン−ヒョン; チョウ，ウン−ソプ; リュー，ウン−ジン
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2003-11-11
Filing date: 2004-11-03
Publication date: 2011-07-20
Anticipated expiration: 2024-11-03
Also published as: JP2010225271A; JP5153827B2; TW200525537A; JP2007511031A; KR101044939B1; KR20050045810A

Description

本発明は、信号特性決定方法及びその装置に係り、特に光ディスクから得たＲＦ信号の特性を決定する方法及びその装置に関する。

光ディスクから反射された光を電気的信号に変換させた後、所定の信号処理過程を通じて光ディスクに記録された２進データが再生される。この際、光ディスクから反射された光を電気的信号に変換することによって得た信号をＲＦ（ＲａｄｉｏＦｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号という。光ディスクには、２進信号が記録されているとしても、光ディスクから得たＲＦ信号は、光ディスク特性と光学的な特性とによりアナログ信号の性質を有している。ＲＦ信号を２値化（ｂｉｂａｒｉｚａｔｉｏｎ）することによって２進データが得られる。

従来の技術によれば、光ディスクから得られたＲＦ信号の特性を示す色々な指標が存在する。一例として非対称性（ａｓｙｍｍｅｔｒｙ）と変調度（ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎｒａｔｉｏ）とがある。ＲＦ信号は、如何なるコードを用いてデータを変調したかによって、多様な周期の信号を含む。例えば、（２、１０）コードを用いて変調した場合、基本ピット周期の３倍である３Ｔ（Ｔは、単位周期またはピット長）信号が最短周期信号となり、１１Ｔ信号が最大周期信号となる。非対称性は最大周期より短い所定周期を有する信号の中心部が最大周期の信号の中心部からいかほど離れているかを示す尺度である。変調度は、最大周期より短い所定周期を有する信号の大きさが、最大周期の信号の大きさに比べていかほど小さいかを示す尺度である。図１は、非対称性と変調度とを説明するためにアイパターン（ｅｙｅ−ｐａｔｔｅｒｎ）信号を示すグラフである。アイパターン信号は、光ディスクから得た多様な周期の信号をオシロスコープに同時に表示することによって得られる。

図１を参照するに、１１ＴＴＯＰ及び１１ＴＢＴＭは、変調方式を（２、１０）コードを用いた場合において、最大周期信号である１１Ｔ信号の最大値及び最小値を各々示す。３ＴＴＯＰ及び３ＴＢＴＭは、最小周期信号である３Ｔ信号の最大値及び最小値を各々示す。ＲＦ信号の非対称性及び変調度は、前記１１ＴＴＯＰ、１１ＴＢＴＭ、３ＴＴＯＰ及び３ＴＢＴＭを用いて計算される。非対称性と変調度に関するさらに詳細な説明は、米国特許第５，４９０，１２７号に開示されている。

光ディスクがローディングされたデータ記録及び／または再生装置が光ディスクに記録されたデータをエラーなしに再生するために前述した非対称性及び変調度は、所定範囲の値を有することが要求される。したがって、非対称性及び変調度などのＲＦ信号の特性を示す尺度の正確な測定が重要である。

しかし、光ディスクの記録密度の上昇または記録品質が悪くなることによって、光ディスクから得たＲＦ信号の品質が次第に劣悪になるので、非対称性及び変調度などのＲＦ信号の特性を示す尺度を正確に決定し難いという問題がある。

従って、本発明が解決しようとする技術的課題は、ＲＦ信号の特性をさらに正確に決定できる信号特性決定方法及びその装置を提供するところにある。

前記課題を達成するための本発明の一特徴は、信号特性決定装置において、ＲＦ信号及び前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データが入力され、前記２進データを用いて選択信号を生成し、前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号の各サンプル値をレベル別に分類し、各レベル別サンプル値の平均値を出力するレベル検出部と、前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算する信号特性決定部とを備え、前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であり、前記レベル検出部は、前記ＲＦ信号の２進データが入力されれば、入力された前記２進データを用いて前記選択信号を生成する信号推定部と、前記選択信号によって、前記各サンプル値を対応する値に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を求めるチャンネル識別部と、を備え、前記信号推定部は、前記ＲＦ信号のサンプリング周期に相当する時間ほど、入力される前記２進データを遅延させる複数の遅延器と、前記複数の遅延器各々から出力される１ビットの２進データと前記ＲＦ信号の２進データとが入力されれば、前記複数の遅延器各々から出力される１ビットの２進データと前記ＲＦ信号の２進データとを用いて、前記選択信号を生成して前記チャンネル識別部に提供する選択信号生成部と、を備え、前記チャンネル識別部は、前記ＲＦ信号を遅延させる複数の遅延器と、前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値の平均値を出力する複数の平均値フィルタと、前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して前記複数の平均値フィルタのうちの１つに出力するスイッチと、を備えることである。

本発明の他の特徴は、信号特性決定方法において、ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて前記ＲＦ信号の各サンプル値をレベル別に分類するための選択信号を生成するステップと、前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号のサンプル値をレベル別に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を得るステップと、前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算するステップと、を含み、前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であり、前記選択信号生成ステップでは、複数の遅延器を用いて前記２進データを遅延させて抽出された所定数の連続するビット情報と前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて前記選択信号を生成し、前記平均値を得るステップでは、前記ＲＦ信号を複数の遅延器で遅延させ、前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して複数の平均値フィルタのうちの１つに出力することである。

本発明のさらに他の特徴は、信号特性決定方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読取り可能な記録媒体において、複数の遅延器を用いてＲＦ信号を２値化して得た２進データを遅延させて抽出された所定数のビット情報と前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて選択信号を生成するステップと、前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号のサンプル値をレベル別に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を得るステップと、前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算するステップと、を含み、前記平均値を得るステップでは、前記ＲＦ信号を複数の遅延器で遅延させ、前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して複数の平均値フィルタのうちの１つに出力し、前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であることを特徴とする方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読取り可能な記録媒体である。

本発明によれば、ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値をさらに正確に決定しうる。また、ハードウェアの具現がさらに簡単になり、ビタビデコーダの出力２進データを用いることによってＲＦ信号の特性をさらに正確に決定しうる。

以下、添付された図面を参照して本発明による実施形態を詳細に説明する。

図２は、本発明による信号特性決定装置のブロック図を示す図である。図２を参照するに、本発明による信号特性決定装置は、レベル検出部３００及び信号特性決定部５００を備える。

レベル検出部３００は、光ディスク（図示せず）から得たＲＦ信号及び前記ＲＦ信号を所定方式によって２値化して得た２進データを入力され、前記２進データを用いて前記ＲＦ信号の各サンプル値をレベル別に分類するための選択信号を生成し、前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号のサンプル値をレベル別に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を出力する。

信号特性決定部５００は、レベル検出部３００から出力されたＲＦ信号の各レベル別サンプル値の平均値を用いてＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算する。

図３は、図２に示されたレベル検出部３００のブロック図の一例を示す図である。図３を参照するに、レベル検出部３００は、信号推定部３１０及びチャンネル識別部３３０を含む。

信号推定部３１０は、ＲＦ信号を所定方式によって２値化することによって得た２進データを入力される。高い信頼度の２進データを得るために図７に示したようにビタビデコーダ１５の出力を利用しうる。すなわち、ＲＦ信号をビタビデコーディングすることによって得た２進データを再び信号推定部３１０の入力として用いる。しかし、図８に示したようにスライサ２５の出力を信号推定部３１０の入力として用いるなど多様な２値化手段を用いて信号推定部３１０の入力として用いるための２進データを得られる。

信号推定部３１０は、入力２進データの時間間隔、すなわち、ＲＦ信号のサンプリング周期に相当する時間ほど２進データを各々遅延させる多数の遅延器３１１ないし３１５及びチャンネル識別部３３０を制御するための選択信号を発生させる選択信号生成部３１７を含む。

ＲＦ信号のサンプル値は、いくつかのレベルに分けられる。理想的には、ＲＦ信号のサンプル値は、一定のレベルを有させねばならないが、各種のノイズ、光ディスクの品質及び記録及び／または再生装置の性能の限界などの要素によって誤差を含む。チャンネル識別部３３０は、信号推定部３１０から出力された選択信号によってＲＦ信号の各サンプル値を対応するレベルに分類する。チャンネル識別部３３０は、レベル別に分類されたＲＦ信号の各サンプル値の平均値であるＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍを出力する。

選択信号生成部３１７は、多数の遅延器３１１ないし３１５のそれぞれの出力である２進値を入力されてＲＦ信号のそれぞれのサンプル値に対応するレベルを決定した後、前記決定されたレベルに対応する選択信号を生成してチャンネル識別部３３０に提供する。すなわち、信号推定部３１０は、遅延器３３３の出力であるＲＦ信号のサンプル値が属するレベルを決定した後、決定されたレベルに対応する選択信号を発生させる。発生した選択信号によってスイッチ３３９は、多数の平均値フィルタ３３４ないし３３８のうち、１つのフィルタに遅延器３３３の出力であるＲＦ信号のサンプル値を出力する。

それぞれの平均値フィルタ３３４ないし３３８は、レベル別ＲＦ信号のサンプル値の平均値のＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍを各々出力する。それぞれの平均値フィルタ３３４ないし３３８は、低域通過フィルタを用いて具現しうる。

下記式（１）は、それぞれの平均値フィルタ３３４ないし３３８によりＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍを求めるための一例を示す。

更新されたレベル＝以前レベル＋（遅延された入力信号−以前レベル）／定数（１）
前記式（１）の定数値を大きくするほど、更新されたレベルは少ない値が変わるために、全体的に遅く追従する。また、このように得られたレベル値をビタビデコーダと共に使用して選択されたレベルがビタビデコーダに使われる場合、最適の条件で信号をデコーディングしうる。

選択信号生成部３１７から出力された前記選択信号によってスイッチ３４０は、それぞれの平均値フィルタ３３４ないし３３８の出力であるＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍのうち、１つの出力を品質演算部３５０に出力する。ＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍは、雑音が除去されたＲＦ信号のレベル別平均値であるために、理想的なレベル値の推定値と見なしうる。

一方、選択信号生成部３１７から出力された選択信号との同期を合せるためにチャンネル識別部３３０に入力されるＲＦ信号は多数の遅延器３３１ないし３３３により一定のシステムクロック数ほど遅延される。

信号特性決定部５００は、レベル検出部３００から出力されたＲＦ信号の理想的なレベル値の推定値であるＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍを入力されてＲＦ信号の特性を示す所定値を演算する。前記ＲＦ信号の特性を示す所定値としては、非対称性（ａｓｙｍｍｅｔｒｙ）、変調度（ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎｒａｔｉｏ）及び非線形性などを例と挙げ得る。

図４は、図２に示された信号特性決定部５００のブロック図の一例を示す図である。本実施形態による信号特性決定部５００は、レベル検出部３００から出力されたＲＦ信号の理想的なレベル値の推定値であるＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔ０ないしＬｅｖｅｌＯｕｐｕｔｍを入力されてＲＦ信号の非対称性及び変調度を演算する。

非対称性は、最大周期より短い所定周期を有する信号の中心部が最大周期の信号の中心部からいかほど離れているかを示す尺度である。変調度は、最大周期より短い所定周期を有する信号の大きさが最大周期の信号の大きさに比べていかほど小さいかを示す尺度である。

下記式（２）は、非対称性値（ａｓｙｍｍｅｔｒｙｖａｌｕｅ）を求める一例を示す。

下記式（３）は、変調度（ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎｒａｔｉｏ）を求める一例を示す。

ＡＬＬ‘１’ＬＥＶＥＬは、選択信号生成のために選択信号生成部３１７に入力される多数の２進値がいずれも“１”である場合に対応するレベルであって、光ディスクから得た最大周期信号の最大値である。ＡＬＬ‘０’ＬＥＶＥＬは、選択信号生成部３１７に入力される多数の２進値がいずれも“０”である場合に対応するレベルであって、前記最大周期信号の最小値を意味する。ＵＰＰＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬ及びＬＯＷＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬは、最大周期信号の周期より短い所定周期を有する信号の最大値及び最小値を各々意味する。

図４を参照するに、信号特性決定部５００は、第１平均値演算部５１０、第２平均値演算部５３０及び信号特性値演算部５５０を備える。信号特性値演算部５５０は、前述したＡＬＬ‘１’ＬＥＶＥＬ、ＡＬＬ‘０’ＬＥＶＥＬ、ＵＰＰＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬ及びＬＯＷＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬを入力されて式（２）及び（３）によって非対称性値及び変調度を演算する。

選択信号生成のために選択信号生成部３１７に入力される多数の２進値を入力されてＲＦ信号のそれぞれのサンプル値に対応するレベルを決定した後、前記決定されたレベルに対応する選択信号を生成してチャンネル識別部３３０に提供する。

ｒｕｎｌｅｎｇｔｈは、選択信号生成部３１７に入力される多数の２進値で連続的な“０”または“１”の数を意味する。例えば、選択信号生成部３１７に入力される２進シーケンスが“１１００１”である場合、ｒｕｎｌｅｎｇｔｈは２となる。本実施形態によれば、ｒｕｎｌｅｎｇｔｈが同一であっても、ＤＳＶ（ｄｉｇｉｔａｌｓｕｍｖａｌｕｅ）の異なる２進シーケンスが存在する。ＤＳＶは、データビットが１である場合は１、データビットが０である場合は−１に置換してあらゆるビットを加算した結果をいう。

ｒｕｎｌｅｎｇｔｈが同じであっても、ＤＳＶが異なる場合が２つ存在する。ｒｕｎｌｅｎｇｔｈ及びＤＳＶが同じケースに該当するレベル値の平均を取れば、所望のｒｕｎｌｅｎｇｔｈ及びＤＳＶでの平均値が求められる。このうち、ＤＳＶが大きいとＵＰＰＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬ、ＤＳＶが小さいとＬＯＷＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬに定義される。本実施形態によれば、第１平均値演算部５１０は、ｒｕｎｌｅｎｇｔｈがＰ１であり、ＤＳＶがＭ１であるケースに該当するレベル値を入力されてＵＰＰＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬを出力する。第２平均値演算部５３０は、ｒｕｎｌｅｎｇｔｈがＰ２であり、ＤＳＶがＭ２であるケースに該当するレベル値を入力されてＬＯＷＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬを出力する。本実施形態の場合、Ｐ１及びＰ２は同一である。

図５は、（１,７）コード５タップ（ｔａｐ）を使用した場合の信号特性決定部５００の入出力信号の一例を示す図である。５タップを使用したということは選択信号生成部３１７の前端に４個の遅延器を配することによって、図３に示したように選択信号生成部３１７に入力される２進値がいずれも５つである場合をいう。

選択信号生成部３１７に入力される２進値が５つであるために、選択信号生成部３１７は３２個のレベルを各々示す選択信号を生成しうる。しかし、（１,７）コードの場合、１Ｔ信号は存在しないので、１Ｔ信号が含まれたレベルを除く場合には、１６個のレベルが存在する。このうち、ｌｅｖｅｌ１１１１１は、ａｌｌ‘１’ｌｅｖｅｌとなり、ｌｅｖｅｌ０００００は、ａｌｌ‘０’ｌｅｖｅｌとなる。ｌｅｖｅｌ１１００１及びｌｅｖｅｌ１００１１は、２Ｔ信号が含まれたレベルであって、ＤＳＶが１であるためにＵＰＰＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬを演算する場合に使われ、ｌｅｖｅｌ００１１０及びｌｅｖｅｌ０１１００は、２Ｔ信号が含まれたレベルであって、ＤＳＶが−１であるためにＬＯＷＥＲＭＩＤＤＬＥＬＥＶＥＬを演算する場合に使われる。

ＲＦ信号の特性を示す特性値として非対称性と変調度以外に非線形性がある。図６は、（１,７）コードの場合、サンプリングされたＲＦ信号を示す図である。図６に示されたＲＦ信号の非線形性を下記式（４）によって求めうる。

前記式（４）でＩ_２Ｈは、（Ｉ_{２Ｈ＿ｆａｌｌ}＋Ｉ_{２Ｈ＿ｒｉｓｅ}）／２、Ｉ_４Ｈは、（Ｉ_{４Ｈ＿ｆａｌｌ}＋Ｉ_{４Ｈ＿ｒｉｓｅ}）／２、Ｉ_２Ｌは、（Ｉ_{２Ｌ＿ｆａｌｌ}＋Ｉ_{２Ｌ＿ｒｉｓｅ}）／２であり、Ｉ_４Ｌは（Ｉ_{４Ｌ＿ｆａｌｌ}＋Ｉ_{４Ｌ＿ｒｉｓｅ}）／２である。Ｉ_５ＰＰはＩ_５Ｈ−Ｉ_５Ｌである。

前記式（５）でＩ_{３Ｈ＿ｒｉｓｅ}はＩ_{３ＭＨ＿ｒｉｓｅ}、Ｉ_{３Ｈ＿ｆａｌｌ}はＩ_{３ＭＨ＿ｆａｌｌ}、Ｉ_{３Ｌ＿ｒｉｓｅ}はＩ_{３ＭＬ＿ｒｉｓｅ}であり、Ｉ_{３Ｌ＿ｆａｌｌ}はＩ_{３ＭＬ＿ｆａｌｌ}である。

前記式（４）でＬＮＬはＬｅｖｅｌＮｏｎ−Ｌｉｎｅａｒｉｔｙの略字であり、ＰＲＮＬは、ＰａｒｔｉａｌＲｅｓｐｏｎｓｅＮｏｎ−Ｌｉｎｅａｒｉｔｙの略字である。図６を参照するに、ＲＦ信号が完全な線形性を有するならば、Ｉ_{４Ｈ＿ｆａｌｌ}の値とＩ_{４Ｈ＿ｒｉｓｅ}の値は、同一でなければならない。同様に、Ｉ_{３ＭＨ＿ｆａｌｌ}の値とＩ_{３ＭＨ＿ｒｉｓｅ}の値、Ｉ_{２Ｈ＿ｒｉｓｅ}の値とＩ_{２Ｈ＿ｆａｌｌ}の値も互いに同一でなければならない。しかし、ＲＦ信号が非線形性を有する場合、図６に示したように互いに対応するサンプル値が同一でなくなる。ＬＮＬとＰＲＮＬは、ＲＦ信号の非線形性の程度、すなわち、互いに対応するサンプル値が同一でない程度を示す。前記式（４）及び（５）によれば、ＲＦ信号の正数部分のレベルと負数部分のレベルの非線形性を求める部分と立上りエッジ、立下りエッジ別に差が出る非線形性部分を各々求めうるという長所がある。

以上、ＲＦ信号の特性を示す特性値として非対称性、変調度及び非線形性を説明した。しかし、それ以外にも本発明によるレベル検出部３００の出力である検出されたレベル値を用いて多様な信号特性値を求めうる。

図７は、図２に示した本発明による信号特性決定装置を含む２進データ検出装置のブロック図の一例を示す図である。２進データ検出装置は、ＲＦ信号から２進データを検出する。図７に示された２進データ検出装置は、アナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）１１、ＤＣオフセット除去部１２、ＰＬＬ１３、ＦＩＲフィルタ１４、ビタビデコーダ１５及びレベル検出部３００と信号特性決定部５００とを含む本発明による信号特性決定装置を含む。

ＡＤＣ１１は、ＲＦ信号を所定周期でサンプリングし、サンプリングされたＲＦ信号を出力する。ＤＣオフセット除去部１２はＡＤＣ１１の出力であるサンプリングされたＲＦ信号を入力されてＤＣオフセット値を除去する。ＰＬＬ１３は、システムクロックを生成してＡＤＣ１１及びＤＣオフセット除去部１２に提供する。一般的にビタビデコーダ１５は、チャンネルの特性が一定しているという仮定下で設計されるためにビタビデコーダ１５に入力される信号のチャンネル特性を調整するためにＦＩＲフィルタ１４を使用しうる。

ビタビデコーダ１５は、レベル検出部３００で検出されたＲＦ信号のレベル値を用いてＲＦ信号から２進データを得る。

図７に図示された２進データ検出装置は、ビタビデコーダ１５とＦＩＲフィルタ１４とを使用することによって、システム性能を高めて高品質の出力を得られる。

図８は、図２に示した本発明による信号特性決定装置を含む２進データ検出装置のブロック図の他の実施形態を示す図である。図８に示した２進データ検出装置は、ビタビデコーダを使用せず、単純な二値化器（ｓｌｉｃｅｒ）２５を使用する場合にも、ＲＦ信号の特性を示す非対称性や変調度などを求めうるということを示すためのものである。

本発明は、またコンピュータで読取り可能な記録媒体に、コンピュータで読取り可能なコードとして具現することが可能である。コンピュータで読取り可能な記録媒体は、コンピュータシステムによって読取り可能なデータが保存されるあらゆる種類の記録装置を含む。コンピュータで読取り可能な記録媒体の例としては、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、フロッピー（登録商標）ディスク、光データ保存装置などがあり、また、キャリアウェーブ（例えば、インターネットを通じた伝送）の形で具現されるものも含む。また、コンピュータで読取り可能な記録媒体は、ネットワークで連結されたコンピュータシステムに分散され、分散方式でコンピュータで読取り可能なコードとして保存されて実行されうる。

以上、本発明についてその望ましい実施形態を中心に説明した。当業者ならば、本発明が本発明の本質的な特性から外れない範囲で変形された形態に具現されうることを理解できるであろう。本発明の範囲は、前述した説明でなく特許請求の範囲に現れており、それと同等な範囲内にあるあらゆる差異点は、本発明に含まれたと解釈されねばならない。

アイパターン（ｅｙｅ−ｐａｔｔｅｒｎ）信号を示すグラフである。本発明による信号特性決定装置のブロック図を示す図である。図２に示されたレベル検出部のブロック図の一例を示す図である。図２に示された信号特性決定部５００のブロック図の一例を示す図である。（１,７）コード５タップを使用した場合の信号特性決定部５００の入出力信号の一例を示す図である。（１,７）コードの場合、サンプリングされたＲＦ信号を示す図である。図２に示した本発明による信号特性決定装置を含む２進データ検出装置のブロック図の一例を示す図である。図２に示した本発明による信号特性決定装置を備える２進データ検出装置のブロック図の他の実施形態を示す図である。

Claims

信号特性決定装置において、
ＲＦ信号及び前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データが入力され、前記２進データを用いて選択信号を生成し、前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号の各サンプル値をレベル別に分類し、各レベル別サンプル値の平均値を出力するレベル検出部と、
前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算する信号特性決定部とを備え、
前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であり、
前記レベル検出部は、
前記ＲＦ信号の２進データが入力されれば、入力された前記２進データを用いて前記選択信号を生成する信号推定部と、
前記選択信号によって、前記各サンプル値を対応する値に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を求めるチャンネル識別部と、を備え、
前記信号推定部は、
前記ＲＦ信号のサンプリング周期に相当する時間ほど、入力される前記２進データを遅延させる複数の遅延器と、
前記複数の遅延器各々から出力される１ビットの２進データと前記ＲＦ信号の２進データとが入力されれば、前記複数の遅延器各々から出力される１ビットの２進データと前記ＲＦ信号の２進データとを用いて、前記選択信号を生成して前記チャンネル識別部に提供する選択信号生成部と、を備え、
前記チャンネル識別部は、
前記ＲＦ信号を遅延させる複数の遅延器と、
前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値の平均値を出力する複数の平均値フィルタと、
前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して前記複数の平均値フィルタのうちの１つに出力するスイッチと、を備えることを特徴とする装置。
前記選択信号生成部により前記複数の遅延器から各々受信された１ビットの２進データは、前記チャンネル識別部により受信された前記ＲＦ信号のサンプル値に対応することを特徴とする請求項１に記載の装置。
前記平均値フィルタは、各レベルのＲＦ信号のサンプル値を平均することによって得られる各レベルを出力することを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
前記平均値フィルタは、低域通過フィルタを用いることを特徴とする請求項３に記載の装置。
前記平均値フィルタにより出力されたレベルは次の等式:
アップデートされたレベル=以前レベル＋(遅延された入力信号−以前レベル)／定数
により得られることを特徴とする請求項３に記載の装置。
信号特性決定方法において、
ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて前記ＲＦ信号の各サンプル値をレベル別に分類するための選択信号を生成するステップと、
前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号のサンプル値をレベル別に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を得るステップと、
前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算するステップと、を含み、
前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であり、
前記選択信号生成ステップでは、
複数の遅延器を用いて前記２進データを遅延させて抽出された所定数の連続するビット情報と前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて前記選択信号を生成し、
前記平均値を得るステップでは、
前記ＲＦ信号を複数の遅延器で遅延させ、前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して複数の平均値フィルタのうちの１つに出力することを特徴とする方法。
信号特性決定方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読取り可能な記録媒体において、
複数の遅延器を用いてＲＦ信号を２値化して得た２進データを遅延させて抽出された所定数のビット情報と前記ＲＦ信号を２値化して得た２進データを用いて選択信号を生成するステップと、
前記選択信号を用いて前記ＲＦ信号のサンプル値をレベル別に分類した後、各レベル別サンプル値の平均値を得るステップと、
前記各レベル別サンプル値の平均値を用いて前記ＲＦ信号の特性を示す所定の特性値を演算するステップと、を含み、
前記平均値を得るステップでは、
前記ＲＦ信号を複数の遅延器で遅延させ、前記複数の遅延器で遅延させた前記ＲＦ信号のサンプル値を、前記選択信号に対応して複数の平均値フィルタのうちの１つに出力し、
前記所定の特性値は、前記ＲＦ信号の非対称性、変調度及び非線形性のうち、１つを示す値であることを特徴とする方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読取り可能な記録媒体。