JP4697284B2 - 排気ガス浄化用触媒 - Google Patents
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上記CePr系複合酸化物粒子は、CeとPrと触媒金属とが酸化物粒子を形成するように複合されてなり、且つ上記Ceの酸化物及び上記Prの酸化物各々の少なくとも一部が互いに固溶し、上記触媒金属が当該酸化物粒子に固溶したものであって、
上記CePr系複合酸化物粒子に固溶している触媒金属はPtであり、上記触媒層には、上記CePr系複合酸化物粒子に固溶しているPtの他に、Pt溶液が含浸されて担持されたPtが設けられていることを特徴とする。
図2は本発明に係るPtドープCePr系複合酸化物粒子の、大気雰囲気において1000℃の温度に24時間加熱した後のTEM(透過型電子顕微鏡)写真である。この複合酸化物粒子は、触媒金属としてのPtが結晶格子又は原子間に配置されるように固溶したCePr系複合酸化物粒子であり、Ptを除く組成式は、Ce0.9Pr0.1O2である。また、該複合酸化物粒子のPtドープ量、すなわち、粒子全体のPt濃度(平均濃度)は0.5質量%である。同TEM写真の矢符は当該複合酸化物粒子の表面に分散して露出しているPt粒子を指しており、該Pt粒子の直径は3nm以下である。Ptドープ量は0.1質量%以上2.0質量%以下とすることが好ましい。
Ceイオン、Prイオン、及びPtのヒドロキソ錯体を含む酸性溶液を調製する。Ce源としては硝酸セリウム(III)六水和物を、Pr源としては硝酸プラセオジム(III)六水和物を、Pt源(ヒドロキソ錯体)としてはヘキサヒドロキソ白金(IV)酸エタノールアミン溶液又はヘキサヒドロキソ白金(IV)酸硝酸溶液を、それぞれ採用することができる。これらCe源、Pr源及びPt源各々の所定量と水とを混合して原料溶液(酸性)とする。図3はヘキサヒドロキソ白金(IV)錯イオンの構造を示す。
以下に述べる実施例1〜4、比較例1の各複合酸化物粉末を調製し、各々の表層領域のPt濃度が粒子全体のPtの平均濃度の何倍になっているかを調べた。
Pt源としてヘキサヒドロキソ白金(IV)酸エタノールアミン溶液を使用し、上述のPtドープCePr系複合酸化物粉末の製法に従って、実施例1に係る複合酸化物粉末を調製した。Ce/Prモル比は9/1とした。Pt源の仕込み量は粒子全体のPt濃度が0.5質量%となるように調整した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「EthanolPtドープ Ce/Pr=9/1」又は「EthanolPtドープ Ce0.9Pr0.1O2」と記する。
Ce/Prモル比を1/9とする他は実施例1と同じ条件及び方法で実施例2に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「EthanolPtドープ Ce/Pr=1/9」又は「EthanolPtドープ Ce0.1Pr0.9O2」と記する。
Pt源として図4に示すジニトロジアミン白金(II)の硝酸溶液(通称;白金Pソルト)を使用し、他は実施例1と同じ条件及び方法で実施例3に係る複合酸化物粉末を調製した。ジニトロジアミン白金(II)の硝酸溶液Pt源とする場合、アンモニア等の塩基性溶液を添加しても、Pt水酸化物として共沈するのは約80%であるので、この実施例の場合のPt源の仕込み量を目標値の1.25倍にすることで、粒子全体のPt濃度が0.5質量%となるように調整した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−Pドープ Ce/Pr=9/1」又は「Pt−Pドープ Ce0.9Pr0.1O2」と記する。
Ce/Prモル比を1/9とする他は実施例3と同じ条件及び方法で実施例4に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−Pドープ Ce/Pr=1/9」又は「Pt−Pドープ Ce0.1Pr0.9O2」と記する。
Ce/Prモル比=9/1のCePr複合酸化物粉末とジニトロジアミン白金(II)硝酸溶液とを混合し、蒸発乾固することにより、比較例1に係る複合酸化物粉末を調製した。Pt担持量は当該複合酸化物粉末の0.5質量%となるようにした。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−P乾固 Ce/Pr=9/1」又は「Pt−P乾固 Ce0.9Pr0.1O2」と記する。
上記実施例1〜4及び比較例1の各複合酸化物粒子の表層領域(表面から2nm深さまでの領域)のPt濃度をXPS(X線光電子分光)分析によって測定し、表面Pt濃度比(表層領域のPt濃度/粒子全体のPt濃度)を求めた(ここで、表面からの特性X線の侵入深さはその特性X線の強度に依存することが知られており、今回は1000eVの強度のX線を用いていることから、上記「2nm」を特定した。)。結果を図5に示す。
上記実施例1〜4及び比較例1の各複合酸化物粉末に加えて、さらに次の実施例5〜7及び比較例2,3の各複合酸化物粉末を調製し、各々の細孔容積等を調べた。
Ce/Prモル比を7/3とする他は実施例1と同じ条件及び方法で実施例5に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「EthanolPtドープ Ce/Pr=7/3」又は「EthanolPtドープ Ce0.7Pr0.3O2」と記する。
Ce/Prモル比を5/5とする他は実施例1と同じ条件及び方法で実施例6に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「EthanolPtドープ Ce/Pr=5/5」又は「EthanolPtドープ Ce0.5Pr0.5O2」と記する。
Ce/Prモル比を5/5とする他は実施例3(Pt−Pドープ)と同じ条件及び方法で実施例7に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−Pドープ Ce/Pr=5/5」又は「Pt−Pドープ Ce0.5Pr0.5O2」と記する。
Ce/Prモル比を5/5とする他は比較例1(Pt−P乾固)と同じ条件及び方法で比較例2に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−P乾固 Ce/Pr=5/5」又は「Pt−P乾固 Ce0.5Pr0.5O2」と記する。
Ce/Prモル比を1/9とする他は比較例1(Pt−P乾固)と同じ条件及び方法で比較例3に係る複合酸化物粉末を調製した。得られた複合酸化物粉末を図面又は表においては「Pt−P乾固 Ce/Pr=1/9」又は「Pt−P乾固 Ce0.1Pr0.9O2」と記する。
上記実施例1〜7及び比較例1〜3の各複合酸化物について、大気雰囲気において750℃又は1000℃の温度に24時間加熱するエージングを行なった後の、細孔容積、細孔径、結晶子径、及びBET比表面積の測定結果を表1に示す。なお、表1において、「細孔径」は平均細孔径であり、「結晶子径」はX線回折装置を用い、シェラーの式(結晶子径(hkl)=0.9λ/(β1/2・cosθ),ここで、hklはミラー指数、λは特性X線の波長(オングストローム)、β1/2は(hkl)面の半価幅(ラジアン)、θはX線反射角度である。)により求めた。また、「EthanolPtドープ Ce/Pr=1/9」及び「Pt−P乾固 Ce/Pr=1/9」は1000℃×24時間のエージングによってPr6O11の分相を生ずることから、該エージング後の結晶子径は母相酸化物と分相酸化物の平均値となっている。
上記実施例1〜3,5〜7及び比較例1の複合酸化物粉末、並びに「EthanolPtドープCeO2」粉末について、大気雰囲気において750℃の温度に24時間加熱するエージング後の酸素吸蔵放出量を調べた。「EthanolPtドープCeO2」粉末は、実施例1の製法においてPr源の量を零として調製したものであり、Pt濃度は0.5質量%である。酸素吸蔵放出量の測定にあたっては、供試材0.10gに、5%O2ガス(残;He)を100mL/分の流速で供給しながら、20℃/分の速度で昇温させていき、600℃の温度に20分間保持した後、室温まで冷却する前処理(酸素吸蔵処理)を行なった。しかる後、2%COガス(残;He)を100mL/分の流速で供給しながら、10℃/分の速度で昇温させていき、供試材から放出されるCO2量の温度による変化を計測した。そのCO2放出量は供試材の酸素放出量に対応する。
上記実施例1,2,5,6及び「EthanolPtドープCeO2」、並びに「EthanolPtドープPr6O11」の各複合酸化物粉末について、NOx吸着脱離特性をNO−TPD(昇温脱離)テストにより調べた。「EthanolPtドープPr6O11」粉末は、実施例1の製法においてCe源の量を零として調製したものであり、Pt濃度は0.5質量%である。
図1に示す排気ガス浄化用触媒の構成において、下触媒層2にPtドープCePr複合酸化物(Ptを除く組成;Ce0.9Pr0.1O2)粉末及び活性アルミナ粉末を配置し、上触媒層3にRh担持活性アルミナ粉末を配置し、この上下の触媒層2,3にPt、Rh及びNOx吸蔵材としてのBa及びSrを含浸させたPtドープ割合が異なる4種類の供試触媒を調製した。
Ptドープ量はいずれも0.5質量%としてPr/(Ce+Pr)モル%を変えた複数のPtドープCePr複合酸化物粉末、並びに、Ptドープ量はいずれも0.5質量%としてPr/(Ce+Pr)モル%を変えた複数のPt担持CePr複合酸化物粉末を調製した。PtドープCePr複合酸化物粉末はいずれも、実施例1と同じく、Pt源としてヘキサヒドロキソ白金(IV)酸エタノールアミン溶液を使用して共沈法により調製した。Pt担持CePr複合酸化物粉末はいずれも、比較例1と同じく、Pt源としてジニトロジアミン白金(II)硝酸溶液を使用して蒸発乾固法により調製した。
2 上触媒層
3 下触媒層
Claims (5)
- 担体上に形成された触媒層に、排気ガスの空燃比が理論空燃比よりもリーンであるときに該排気ガス中のNOxを吸蔵し理論空燃比近傍あるいは理論空燃比よりもリッチであるときに該NOxを放出するNOx吸蔵材と、CePr系複合酸化物粒子とが含まれている排気ガス浄化用触媒において、
上記CePr系複合酸化物粒子は、CeとPrと触媒金属とが酸化物粒子を形成するように複合されてなり、且つ上記Ceの酸化物及び上記Prの酸化物各々の少なくとも一部が互いに固溶し、上記触媒金属が当該酸化物粒子に固溶したものであって、
上記CePr系複合酸化物粒子に固溶している触媒金属はPtであり、上記触媒層には、上記CePr系複合酸化物粒子に固溶しているPtの他に、Pt溶液が含浸されて担持されたPtが設けられていることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。 - 請求項1において、
上記CePr系複合酸化物粒子に固溶しているPtの一部は、該複合酸化物粒子の表面に分散して露出していることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。 - 請求項1又は請求項2において、
上記CePr系複合酸化物粒子の表面から2nm深さまでの表層領域における上記Ptの濃度が、該複合酸化物粒子全体での該Ptの平均濃度の2.5倍以下であることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
上記CePr系複合酸化物粒子に固溶している固溶Pt量と、上記触媒層に含浸担持されたPt量との合計量中に占める上記固溶Pt量の割合が20質量%以上60質量%以下であることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一において、
上記担体には、Rhを担持した酸化物粒子を含有する触媒層が設けられ、該触媒層よりも下側に、上記NOx吸蔵材及びCePr系複合酸化物粒子を含有する触媒層が配置されていることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。
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