JP4653008B2 - クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法 - Google Patents

クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4653008B2
JP4653008B2 JP2006122155A JP2006122155A JP4653008B2 JP 4653008 B2 JP4653008 B2 JP 4653008B2 JP 2006122155 A JP2006122155 A JP 2006122155A JP 2006122155 A JP2006122155 A JP 2006122155A JP 4653008 B2 JP4653008 B2 JP 4653008B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
time width
level
target
monitoring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006122155A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007293682A (ja
Inventor
昭作 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2006122155A priority Critical patent/JP4653008B2/ja
Priority to US11/503,169 priority patent/US7391240B2/en
Priority to CNB2006101517913A priority patent/CN100565423C/zh
Publication of JP2007293682A publication Critical patent/JP2007293682A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4653008B2 publication Critical patent/JP4653008B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/19Monitoring patterns of pulse trains

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

本発明は、外部発振器から与えられるクロックで動作するデジタル回路において、クロックの擾乱等の異常状態を検出する技術に関するものである。
クロックの異常を検出する従来技術として、例えば図1に示す方法がある。この方法は、予め定めた監視周期内でのクロックエッジの有無を監視し、監視周期内でクロックエッジが1つも検出されなかった場合にクロック断と判断し、アラームを出力し、監視周期内に1つでもクロックエッジが検出された場合にアラームを解除する方法である。
このクロック異常検出方法を実現する回路の例を図2に示す。また、この回路の動作タイムチャートを図3に示す。この回路は、FF(フリップフロップ)1、FF2、FF3、及びOR回路4を含む。FF1のCL端子に断検出対象クロックが入力され、FF2のCL端子に断検出対象クロックの反転が入力される。FF1、FF2のD端子には常にHレベルが入力され、CK端子には監視タイマー信号が入力される。
図3に示すように、断検出対象クロックが正常であれば、FF1、FF2の出力値は常にクリアされるので、監視タイマーがHになってもFF1、及びFF2の出力はLとなる。断検出対象クロックが断になった(A点)後、FF1、及びFF2の出力は断検出対象クロックによりクリアされなくなるので、監視タイマーがHになると、Hを保持する。また、Bの時点で監視タイマーがHになると、FF3の出力がHとなり、アラームが出力される。その後、断検出対象クロックが回復すると、FF1、FF2の出力はLとなり、次の監視タイマーHのタイミングでFF3の出力はLとなり、アラーム出力が停止する。このような動作によりクロック断検出が可能となっている。
なお、クロックの異常検出に関する先行技術文献の例として特許文献1、特許文献2がある。
特開平09−244761号公報 特開平11−355110号公報
上記の従来技術では監視周期内で全くクロックエッジが検出されない場合の異常しか検出することができず、より短期間内のクロック断やクロック周期が不安定な状態であるクロックの擾乱を検出することはできない。従って、従来技術でクロックの擾乱等に起因する異常が発生した場合に、クロック系の問題かどうかを特定するのに時間を要する等の問題あった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、従来のクロック系の異常監視を行う断検出回路よりも高精度にクロックの異常検出を行うことが可能なクロック異常検出回路を提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、上記の課題は、対象クロックを分周して対象分周クロックを出力する分周部と、対象クロックと同期関係にある監視クロックの立ち上がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第1の時間幅測定部と、前記監視クロックの立ち下がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第2の時間幅測定部と、第1の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出され、かつ、第2の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出されたときに対象クロックが異常であると判定する異常判定部と、を備えることを特徴とするクロック異常検出回路により解決できる。
本発明によれば、従来のクロック系の異常監視を行う断検出回路よりも高精度にクロックの異常検出を行うことが可能となる。特に、立ち上がり、立ち下がりの両エッジを用いて対象クロックのHレベルもしくはLレベルの時間幅を測定するので、対象クロック取り込み時の不定状態の影響を回避できる。また、対象クロックを分周した対象分周クロックを監視するので、Duty幅変動の影響を回避できる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
(概要構成)
図4に本発明の実施の形態におけるクロック異常検出回路10の概要構成を示す。図4に示すように、本発明の実施の形態におけるクロック異常検出回路は、1/2分周部11、立ち上がりエッジ使用時間幅測定部12、立ち下がりエッジ使用時間幅測定部13、及び対象クロック異常検出部14を備えている。立ち上がりエッジ使用時間幅測定部12は、対象クロックデータ取得部15、対象クロックHレベル幅測定部16、及び対象クロックLレベル幅測定部17を有し、立ち下がりエッジ使用時間幅測定部13は、対象クロックデータ取得部18、対象クロックHレベル幅測定部19、及び対象クロックLレベル幅測定部20を有している。
本実施の形態では、異常監視対象クロック(以下、単に対象クロックという)の周波数を38.88MHzとする。また、異常を監視するための77.76MHzの監視クロックが1/2分周部11を除く各回路に供給されている。
1/2分周部11には対象クロックが入力され、1/2分周部11は対象クロックを1/2分周して出力する。なお、対象クロックが1/2分周された後のクロックを対象分周クロックと呼ぶことにする。
対象クロックデータ取得部15は、監視クロックの立ち上がりエッジを利用することにより、入力された対象分周クロックの値(High(H)又はLow(L))を取得し、出力する。対象クロックデータ取得部18は、監視クロックの立ち下がりエッジを利用することにより、入力された対象分周クロックの値を取得し、出力する。
対象クロックHレベル幅測定部16は、対象クロックデータ取得部15から入力される値におけるHレベルの時間幅を測定する。対象クロックLレベル幅測定部17は、対象クロックデータ取得部15から入力される値におけるLレベルの時間幅を測定する。対象クロックHレベル幅測定部19は、対象クロックデータ取得部18から入力される値におけるHレベルの時間幅を測定する。対象クロックLレベル幅測定部20は、対象クロックデータ取得部18から入力される値におけるLレベルの時間幅を測定する。
クロック異常検出部14は、上記の対象クロックHレベル幅測定部16、19、及び対象クロックLレベル幅測定部17、20から出力される時間幅のデータを所定の監視クロック分の時間幅で監視し、異常があればアラームを出力する。
(動作原理)
次に、図4の構成を有するクロック異常検出回路10の動作原理を説明する。なお、本実施の形態では、38.88MHzクロックにおいて±6.43ns以上の周期変動があった場合に異常(擾乱やクロック断)であると定義している。従って、±6.43nsの周期変動を監視可能なクロックである77.76MHzの監視クロックを使用している。また、対象クロックと監視クロックは、同期(位相関係が流れない)関係にあることを前提としている。
まず、クロック異常検出回路10の最も基本的な動作を図5のタイムチャートを参照して説明する。
図5におけるaは分周される前の対象クロックであり、bは1/2分周された対象分周クロックであり、cは監視クロックである。本実施の形態では、監視クロックの立ち上がりエッジもしくは立ち下がりエッジを用いて取り込んだ対象分周クロックの値(d)におけるHレベルの時間幅、及びLレベルの時間幅を監視し、時間幅の異常を検知することによりクロックの擾乱を検出するのが基本である。
本実施の形態では対象クロックを1/2分周しているが、その理由は以下の通りである。図6に示す対象クロックの場合のように、対象クロックの周期変動は無いが、Duty幅が変動している場合がある。このケースで対象クロックを分周しないで直接監視すると、監視クロックの隣接するエッジ間に対象クロックの隣接するエッジ(図6の(x)の部分)が存在してしまい、この(x)の部分を検出することができなくなる。これにより、周期変動がないのに周期変動であると判定したりする等の誤判定をする可能性がある。そこで、本実施の形態では、対象クロックを1/2分周し、Duty幅の変動を消去したクロックを対象に異常監視を行うことにより、対象クロックの周期は正常でDuty幅のみが変動する状態に対して擾乱と見なさないことが可能となっている。
また、対象クロックが如何なる速度であっても、監視クロックの両エッジで異常検出できる速度まで分周することにより、擾乱等を検出できる。このような点からも対象クロックを分周することの意味がある。
さて、図7に示すように監視クロックのエッジで対象分周クロックの値を取り込む場合、図7のdに示すように、一方のエッジ(図7の例では立ち上がりエッジ(Positive側))により、Hを取り込むか、Lを取り込むか定まらない不定状態(メタステーブル状態)が発生する場合がある。従って、一方のエッジで取り込んだ値のみを監視すると、誤判定になる可能性がある。
そこで、本実施の形態では、監視クロックの立ち上がりエッジで取得した値に加えて、図7のeに示すように、監視クロックの立ち下がりエッジ(Negative側)で取得した値も用いている。一方のエッジではメタステーブルが発生する場合でも、もう一方のエッジでは確実に値を取得できるからである。つまり、本実施の形態ではd(立ち上がりエッジ使用)とe(立ち下がりエッジ使用)のそれぞれにおけるHレベルの時間幅、及びLレベルの時間幅を監視し、時間幅の異常を検知することによりクロックの擾乱を検出する。なお、時間幅は、HレベルもしくはLレベルにおける監視クロックの個数をカウントし、そのカウント値で判定している。
以下、対象クロックの周期が伸びる場合と、周期が縮まる場合の異常検出の方法を説明する。
まず、図8のタイムチャートを参照して対象クロックの周期が伸びる場合について説明する。
図8は、対象クロックの周期が、正常な対象クロックの1周期である25.72nsよりも伸びて一時的に(25.72+12.86)ns以上になった場合を示している。
また、対象分周クロックと監視クロックのエッジにおいて楕円で囲まれた部分は不定状態が発生する部分を示し、図8では、取得した各値がHになった場合(ケース1)、及びLになった場合(ケース2)を示している。
fはケース1における立ち上がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。gはケース1におけるfで示す取得値のHレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
hはケース2における立ち上がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。iはケース2におけるhで示す取得値のLレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
jは立ち下がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。kはiで示す取得値のHレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
なお、本実施の形態では、立ち上がりエッジで取得した値のHレベルの時間幅とLレベルの時間幅、及び立ち下がりエッジで取得した値のHレベルの時間幅とLレベルの時間幅の全てを測定しているが、図8では周期が伸びる場合の検出例を説明するために必要なもののみを示している。
本実施の形態では、立ち上がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)の時間幅と、立ち下がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)の時間幅の両方に異常があった場合に異常が発生したと判定する。
より詳細には、対象分周クロックのHレベル及びLレベルの時間幅は、それぞれ監視クロックの2周期分となるのが正常であることから、監視クロックを用いたHレベル又はLレベルの時間幅のカウント値に"3"が出現したら周期が伸びていると判断する。この判定は、例えば、監視クロックの5クロック分(5周期のクロック分)を常時監視し、そのウィンドウ幅の中で、立ち上がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)の時間幅と、立ち下がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)の時間幅の両方に"3"が出現するか否かを監視することにより行う。図8の例では、5クロック内に、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側の両方に"3"が出現しているので、周期が伸びるクロック擾乱が発生したと判定できる。
次に、図9のタイムチャートを参照して対象クロックの周期が縮まる場合について説明する。
図9は、対象クロックの周期が、正常な対象クロックの1周期である25.72nsから縮まり一時的に(25.72-12.86)ns以下になった場合を示している。
また、対象分周クロックと監視クロックのエッジにおいて楕円で囲まれた部分は不定状態が発生する部分を示し、図9でも、取得した各値がHの場合(ケース1)と、Lの場合(ケース2)を示している。
lはケース1における立ち上がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。mはケース1におけるlで示す取得値のHレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。nはケース1におけるlで示す取得値のLレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
oはケース2における立ち上がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。pはケース2におけるoで示す取得値のHレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。qはケース2におけるoで示す取得値のLレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
rは立ち下がりエッジを使用して取得した対象分周クロックの値を示す。sはrで示す取得値のHレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。tはrで示す取得値のLレベルの時間幅を監視クロックを用いてカウントした値を示している。
周期が縮まる場合に関して、対象分周クロックのHレベル及びLレベルの時間幅は、それぞれ監視クロックの2周期分となるのが正常であり、正常な場合はクロック値が"0"→"1"→"2"→"0"となることから、Hレベル又はLレベルの時間幅のカウント値が"1"→"0"となったら異常である。また、"0"→"0"→"0"→"0"、つまり0が4つ連続する場合も異常である。
そして、例えば、監視クロックの4クロック分を常時監視し、そのウィンドウ幅の中で、立ち上がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)と、立ち下がりエッジで取得した値(Hレベル又はLレベル)の両方に上記の異常のいずれかが出現するか否かを監視し、両方に異常が発生している場合に周期が縮まる異常が発生したと判断でき、アラームを出力する。図9の例では、4クロック内に、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側の両方に異常が出現しているので、このときにクロック擾乱が発生したと判定できる。
上記の例では、38.88MHzの対象クロックにおける±6.43ns以上の周期変動を検出するために77.76MHzの監視クロックを用いている。ここで、6.43nsは77.76MHzの半周期(隣接する立ち上がりエッジと立ち下りエッジ間の時間長さ)に相当する。つまり、監視クロックとして、異常を判定したい変動幅の2倍の周期のクロックを用いればよい。
より短い周期変動を検出するためにはより周波数の高い監視クロックを用いればよいので、例えば、77.76MHz の2倍の周波数(155.5MHz)の監視クロックを用いることにより、6.43nsの半分の周期変動を検出できる。ただし、この場合は、異常であると判定するためのカウント値が上記の例と異なる。77.76MHz の2倍の周波数の監視クロックを用いる場合、対象分周クロックのHレベル及びLレベルの時間幅は、それぞれ監視クロックの4周期分となるのが正常であることに基づき、異常と判断すべきカウント値を決めればよい。例えば、対象クロックの周期が伸びる場合に関しては、カウント値に"5"が出現したら異常であると判断する。また、対象クロックの周期が縮む場合に関しては、例えば、カウント値が"3"→"0"となったら異常であると判断できる。
(クロック異常検出回路詳細構成)
次に、本実施の形態におけるクロック異常検出回路10の詳細構成例を図10〜図12を参照して説明する。図10は、図4と比較して特にクロック異常検出部14を詳細に示している。
1/2分周部11、立ち上がりエッジ使用時間幅測定部12、立ち下がりエッジ使用時間幅測定部13については図4と同様である。立ち上がりエッジ使用時間幅測定部12、及び立ち下がりエッジ使用時間幅測定部13内の各対象クロックデータ取得部は、フリップフロップ回路等を用いて実現できる。対象クロックHレベル幅測定部16、19は監視クロックのエッジを用いてカウントを行うカウンタ回路を用いて実現できる。また、対象クロックLレベル幅測定部17、20は、反転回路とカウンタ回路を用いて実現できる。以下、対象クロックHレベル幅測定部をHカウンタ、対象クロックLレベル幅測定部をLカウンタと呼ぶ。
図10に示すように、Hカウンタ16、19、Lカウンタ17、20の各々にカウント値監視部Aとカウント値監視部Bが接続されている。カウント値監視部Aは、Hレベル幅もしくはLレベル幅が正常値より延びる場合を検出するための回路であり、本実施の形態ではHカウンタ16、19もしくはLカウンタ17、20から出力されるカウント値に"3"が出現するかどうかを監視する。
カウント値監視部Bは、Hレベル幅もしくはLレベル幅が正常値より縮む場合を検出するための回路であり、本実施の形態ではHカウンタ16、19もしくはLカウンタ17、20から出力されるカウント値が"1"→"0"、もしくは"0"→"0"→"0"→"0"になるかどうかを監視する。
対象クロックデータ取得部15に接続されているHカウンタ16とLカウンタ17に接続されている2つのカウント値監視部A(31、33)はOR回路41に接続され、2つのカウント値監視部B(32、34)はOR回路42に接続される。対象クロックデータ取得部18に接続されているHカウンタ19とLカウンタ20に接続されている2つのカウント値監視部A(35、37)はOR回路43に接続され、2つのカウント値監視部B(36、38)はOR回路44に接続される。立ち上がりエッジ使用監視側のOR回路41と、立ち下がりエッジ使用監視側のOR回路43がAND回路51で接続され、立ち上がりエッジ使用監視側のOR回路42と、立ち下がりエッジ使用監視側のOR回路44がAND回路52で接続される。そして、AND回路51とAND回路52がOR回路61に接続される。
このような回路構成により、立ち上がりエッジ使用側のH側のカウント値監視部A(31)とL側のカウント値監視部A(33)のいずれかで異常が検出され、なおかつ、立ち下がりエッジ使用側のH側のカウント値監視部A(35)とL側のカウント値監視部A(37)のいずれかで異常が検出された場合に擾乱検出アラームが出力される。この場合のアラームは対象クロックの周期が伸びたことが検出されたことを意味する。また、立ち上がりエッジ使用側のH側のカウント値監視部B(32)とL側のカウント値監視部B(34)のいずれかで異常が検出され、なおかつ、立ち下がりエッジ使用側のH側のカウント値監視部B(36)とL側のカウント値監視部B(38)のいずれかで異常が検出された場合にも擾乱検出アラームが出力される。この場合のアラームは対象クロックの周期が縮まったことが検出されたことを意味する。
図11に、カウント値監視部Aの詳細構成例を示す。図11に示すように、カウント値を保持する5つのレジスタ71〜74が接続され、それぞれのレジスタの出力に、レジスタ値が"3"かどうかを判定する"3"判定部81〜85が接続され、各"3"判定部はOR回路86に接続される。カウント値は、監視クロックに同期して次のレジスタにシフトする。これにより、カウント値監視部Aは常に5クロック分のカウント値を監視でき、いずれかのレジスタ値が"3"である場合に異常を示す信号を出力する。
図12に、カウント値監視部Bの詳細構成例を示す。図12に示すように、カウント値を保持する4つのレジスタ91〜94が接続される。また、レジスタ91にはカウント値が"0"かどうかを判定する"0"判定部101が接続され、レジスタ92〜94の各々にはカウント値が"1"であるかどうかを判定する"1"判定部とカウント値が"0"かどうかを判定する"0"判定部が接続されている。
隣接するレジスタに対応する"0"判定部と"1"判定部はAND回路(111〜113)で接続され、また、4つの"0"判定部はAND回路114で接続され、それぞれのAND回路はOR回路115に接続される。
このような回路構成により、カウント値監視部Bは常に4クロック分のカウント値を監視し、4クロック分のどこかで"1"→"0"が発生するかどうか、また、4クロックが全て"0"であるかどうかを監視し、いずれかの場合が発生した場合に異常を示す信号を出力する。
なお、図10の回路で擾乱検出アラームが発生されると、全てのカウント値監視部Aのレジスタの値は全て"0"に同期リセットされ、全てのカウント値監視部Bのレジスタの値は全て"1"に同期セットされる。
また、カウント値を保持するレジスタの数をもっと多くしてもよい。これにより、より長い時間幅で監視を行うことができ、より確実にクロック異常を検出できる。
(動作例)
以下、本実施の形態におけるクロック異常検出回路の動作例を図13〜図25のタイムチャートに示す。各タイムチャートにおいて、ケース1は不定状態においてHを取得した場合を示し、ケース2は不定状態においてLを取得した場合を示している。
図13は、対象クロックが正常であり、なおかつクロック値取り込み時に不定状態が発生しない場合のタイムチャートである。図13に示すとおり、立ち上がりエッジ使用側と立ち下がり使用側ともに規則的なカウント値("0"→"1"→"2"→"0")が得られている。
図14は、対象クロックは正常であるが、クロック値取り込み時に不定状態が発生する場合のタイムチャートである。不定状態が発生している立ち上がりエッジ使用側で"3"が発生するが、立ち下がりエッジ使用側では異常値は発生しないので、擾乱検出アラームは発生しない。
図15は、対象クロックの周期は正常であるが、Duty幅が変動する場合のタイムチャートである。この場合、対象クロックを1/2分周することにより、Duty幅の変動を解消しているので、カウント値の異常は発生しない。
図16は、対象クロックの周期が伸びるが、その伸びが検出可能な伸び(6.43ns)未満である場合のタイムチャートである。この場合、立ち上がりエッジ使用側でカウント値"3"が発生するが、立ち下がりエッジ使用側で異常値は検出されず、クロック擾乱検出アラームは発生しない。
図17は、対象クロックの周期の伸びが6.43nsである場合のタイムチャートである。この場合、立ち上がりエッジ使用側のケース1、ケース2、及び立ち下がりエッジ使用側のケース1、ケース2の中でのいずれの組み合わせにおいても所定クロック分の監視の中で立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"3"が発生している。従って、この場合はクロック擾乱検出アラームが発生する。
図18は、対象クロックの周期の伸びが6.43ns以上12.86ns未満である場合のタイムチャートである。この場合も所定クロック分監視の中で立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"3"が発生している。従って、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図19は、対象クロックの周期の伸びが12.86nsである場合のタイムチャートである。この場合も立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"3"が発生している。従って、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図20は、対象クロックの周期の伸びが12.86ns以上である場合のタイムチャートである。この場合も立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"3"が発生している。従って、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図21は、対象クロックの周期が縮むが、その縮みが検出可能な縮み(6.43ns)未満である場合のタイムチャートである。この場合、立ち上がりエッジ使用側でカウント値"1"→"0"が発生するが、立ち下がりエッジ使用側で異常値は検出されず、クロック擾乱検出アラームは発生しない。
図22は、対象クロックの周期の縮みが6.43nsである場合のタイムチャートである。この場合、立ち上がりエッジ使用側のケース1、ケース2、及び立ち下がりエッジ使用側のケース1、ケース2の中でのいずれの組み合わせにおいても所定クロック分の監視の中で立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"1"→"0"等が発生していることから、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図23は、対象クロックの周期の縮みが6.43ns以上12.86ns未満である場合のタイムチャートである。この場合も立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"1"→"0"が発生していることから、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図24は、対象クロックの周期の縮みが12.86nsである場合のタイムチャートである。この場合、立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"1"→"0"もしくは"0"→"0"→"0"→"0"が発生していることから、クロック擾乱検出アラームが発生する。
図25は、対象クロックの周期の縮みが12.86ns以上である場合のタイムチャートである。この場合も立ち上がりエッジ使用側と立ち下がりエッジ使用側の両方に"1"→"0"もしくは"0"→"0"→"0"→"0"が発生していることから、クロック擾乱検出アラームが発生する。
以上説明したように、本実施の形態におけるクロック擾乱検出回路により高精度にクロック異常を検出できる。
また、例えば、対象クロック発生手段を備えた現用系回路と、対象クロック発生手段を備えた予備系回路を備える機器において、本実施の形態におけるクロック擾乱検出回路により現用系回路の対象クロック発生手段から発生するクロックの異常を検出した場合に、予備系回路に切り替える手段を備えることにより、クロック障害に強い高品質の機器を提供することが可能となる。
本発明は、上記の実施の形態に限定されることなく、特許請求の範囲内において、種々変更・応用が可能である。
(付記1)
対象クロックを分周して対象分周クロックを出力する分周部と、
対象クロックと同期関係にある監視クロックの立ち上がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第1の時間幅測定部と、
前記監視クロックの立ち下がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第2の時間幅測定部と、
第1の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出され、かつ、第2の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出されたときに対象クロックが異常であると判定する異常判定部と、
を備えることを特徴とするクロック異常検出回路。
(付記2)
対象クロックの周期が正常値から所定の時間幅以上ずれた場合に異常であると定義する場合において、前記監視クロックとして前記所定の時間幅の2倍の周期のクロックを使用することを特徴とする付記1に記載のクロック異常検出回路。
(付記3)
第1の時間幅測定部と第2の時間幅測定部のそれぞれが、前記Hレベルの時間幅としてHレベルの期間における監視クロックの個数をカウントするHレベルカウンタと、前記Lレベルの時間幅としてLレベルの期間における監視クロックの個数をカウントするLレベルカウンタを備えることを特徴とする付記1に記載のクロック異常検出回路。
(付記4)
前記異常検出部は、第1の時間幅測定部のHレベルカウンタに接続される第1のカウント値異常検出部、第1の時間幅測定部のLレベルカウンタに接続される第2のカウント値異常検出部、第2の時間幅測定部のHレベルカウンタに接続される第3のカウント値異常検出部、第2の時間幅測定部のLレベルカウンタに接続される第4のカウント値異常検出部を備え、
カウント値異常検出部のそれぞれが、対象クロックの周期が伸びる場合のカウント値の異常を検出する周期伸張検出部と、対象クロックの周期が縮む場合のカウント値の異常を検出する周期短縮検出部とを備えることを特徴とする付記3に記載のクロック異常検出回路。
(付記5)
対象クロックを分周して対象分周クロックを出力する分周ステップと、
対象クロックと同期関係にある監視クロックの立ち上がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第1の時間幅測定ステップと、
前記監視クロックの立ち下がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第2の時間幅測定ステップと、
第1の時間幅測定ステップで測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出され、かつ、第2の時間幅測定ステップで測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出されたときに対象クロックが異常であると判定する異常判定ステップと、
を備えることを特徴とするクロック異常検出方法。
(付記6)
対象クロックの周期が正常値から所定の時間幅以上ずれた場合に異常であると定義する場合において、前記監視クロックとして前記所定の時間幅の2倍の周期のクロックを使用することを特徴とする付記5に記載のクロック異常検出方法。
(付記7)
第1の時間幅測定ステップと第2の時間幅測定ステップのそれぞれにおいて、前記Hレベルの時間幅としてHレベルの期間における監視クロックの個数をカウントし、前記Lレベルの時間幅としてLレベルの期間における監視クロックの個数をカウントすることを特徴とする付記5に記載のクロック異常検出方法。
(付記8)
前記異常検出ステップにおいて、
第1の時間幅測定ステップにおけるHレベル及びLレベルのそれぞれについて、対象クロックの周期が伸びる場合のカウント値の異常と、対象クロックの周期が縮む場合のカウント値の異常を監視し、
第2の時間幅測定ステップにおけるHレベル及びLレベルのそれぞれについて、対象クロックの周期が伸びる場合のカウント値の異常と、対象クロックの周期が縮む場合のカウント値の異常を監視することを特徴とする付記7に記載のクロック異常検出回路。
クロックの異常を検出する従来技術の例を説明するための図である。 従来技術におけるクロック異常検出回路の構成図である。 図2に示すクロック異常検出回路の動作を説明するための図である。 本発明の実施の形態におけるクロック異常検出回路10の概要構成図である。 クロック異常検出回路10の基本的な動作を説明するためのタイムチャートである。 対象クロックのDuty幅変動がある場合のタイムチャートである。 不定状態を説明するための図である。 対象クロックの周期が伸びる場合の異常検出を説明するためにタイムチャートである。 対象クロックの周期が縮む場合の異常検出を説明するためにタイムチャートである。 本発明の実施の形態におけるクロック異常検出回路10の詳細構成例を示す図である。 カウント値監視部Aの詳細構成図である。 カウント値監視部Bの詳細構成図である。 対象クロックが正常であり、クロック値取り込み時に不定状態が発生しない場合のタイムチャートである。 対象クロックは正常であるが、クロック値取り込み時に不定状態が発生する場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期は正常であるが、Duty幅が変動する場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期が伸びるが、その伸びが検出可能な伸び(6.43ns)未満である場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の伸びが6.43nsである場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の伸びが6.43ns以上12.86ns未満である場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の伸びが12.86nsである場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の伸びが12.86ns以上である場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期が縮むが、その縮みが検出可能な縮み(6.43ns)未満である場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の縮みが6.43nsである場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の縮みが6.43ns以上12.86ns未満である場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の縮みが12.86nsである場合のタイムチャートである。 対象クロックの周期の縮みが12.86ns以上である場合のタイムチャートである。
符号の説明
11 1/2分周部
12 立ち上がりエッジ使用時間幅測定部
13 立ち下がりエッジ使用時間幅測定部
14 対象クロック異常検出部
15、18 対象クロックデータ取得部
16、19 対象クロックHレベル幅測定部(Hカウンタ)
17、20 対象クロックLレベル幅測定部(Lカウンタ)
31、33、35、37 カウント値監視部A
32、34、36、38 カウント値監視部B
41〜44、61、86、115 OR回路
51、52、111〜114 AND回路
71〜75、91〜94 レジスタ
81〜85 "3"判定部
101、103、105、107 "0"判定部
102、104、106 "1"判定部

Claims (5)

  1. 対象クロックを分周して対象分周クロックを出力する分周部と、
    対象クロックと同期関係にある監視クロックの立ち上がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第1の時間幅測定部と、
    前記監視クロックの立ち下がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第2の時間幅測定部と、
    第1の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出され、かつ、第2の時間幅測定部で測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出されたときに対象クロックが異常であると判定する異常判定部と、
    を備えることを特徴とするクロック異常検出回路。
  2. 対象クロックの周期が正常値から所定の時間幅以上ずれた場合に異常であると定義する場合において、前記監視クロックとして前記所定の時間幅の2倍の周期のクロックを使用することを特徴とする請求項1に記載のクロック異常検出回路。
  3. 第1の時間幅測定部と第2の時間幅測定部のそれぞれが、前記Hレベルの時間幅としてHレベルの期間における監視クロックの個数をカウントするHレベルカウンタと、前記Lレベルの時間幅としてLレベルの期間における監視クロックの個数をカウントするLレベルカウンタを備えることを特徴とする請求項1に記載のクロック異常検出回路。
  4. 前記異常検出部は、第1の時間幅測定部のHレベルカウンタに接続される第1のカウント値異常検出部、第1の時間幅測定部のLレベルカウンタに接続される第2のカウント値異常検出部、第2の時間幅測定部のHレベルカウンタに接続される第3のカウント値異常検出部、第2の時間幅測定部のLレベルカウンタに接続される第4のカウント値異常検出部を備え、
    カウント値異常検出部のそれぞれが、対象クロックの周期が伸びる場合のカウント値の異常を検出する周期伸張検出部と、対象クロックの周期が縮む場合のカウント値の異常を検出する周期短縮検出部とを備えることを特徴とする請求項3に記載のクロック異常検出回路。
  5. 対象クロックを分周して対象分周クロックを出力する分周ステップと、
    対象クロックと同期関係にある監視クロックの立ち上がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第1の時間幅測定ステップと、
    前記監視クロックの立ち下がりエッジを使用して対象分周クロックの値を取得し、Hレベルの時間幅とLレベルの時間幅を測定する第2の時間幅測定ステップと、
    第1の時間幅測定ステップで測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出され、かつ、第2の時間幅測定ステップで測定されたHレベルもしくはLレベルの時間幅に異常が検出されたときに対象クロックが異常であると判定する異常判定ステップと、
    を備えることを特徴とするクロック異常検出方法。
JP2006122155A 2006-04-26 2006-04-26 クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法 Expired - Fee Related JP4653008B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006122155A JP4653008B2 (ja) 2006-04-26 2006-04-26 クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法
US11/503,169 US7391240B2 (en) 2006-04-26 2006-08-14 Clock anomaly detection circuit and clock anomaly detection method
CNB2006101517913A CN100565423C (zh) 2006-04-26 2006-09-08 时钟异常检测电路和时钟异常检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006122155A JP4653008B2 (ja) 2006-04-26 2006-04-26 クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007293682A JP2007293682A (ja) 2007-11-08
JP4653008B2 true JP4653008B2 (ja) 2011-03-16

Family

ID=38684568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006122155A Expired - Fee Related JP4653008B2 (ja) 2006-04-26 2006-04-26 クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7391240B2 (ja)
JP (1) JP4653008B2 (ja)
CN (1) CN100565423C (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010268105A (ja) * 2009-05-13 2010-11-25 Renesas Electronics Corp マイクロコンピュータ
CN101582732B (zh) * 2009-06-10 2012-07-04 中兴通讯股份有限公司 一种时钟检测的方法及装置
TW201332704A (zh) * 2012-02-10 2013-08-16 中原大學 刃口積屑監控方法
JP5955608B2 (ja) * 2012-03-29 2016-07-20 株式会社メガチップス 処理装置間通信システム
JP6244118B2 (ja) * 2013-06-14 2017-12-06 サイプレス セミコンダクター コーポレーション ノイズ検出回路および受信回路
CN105738074B (zh) * 2016-03-07 2018-07-03 山信软件股份有限公司 一种光电管异常状态的检测方法及装置
CN106685542A (zh) * 2016-12-21 2017-05-17 惠州Tcl移动通信有限公司 一种基于移动终端的时钟信号质量检测方法及***
CN107124161B (zh) * 2017-03-17 2020-04-24 东南大学 一种基于单分子和二分子化学反应网络实现m/n占空比时钟信号的方法
US10033400B1 (en) 2017-10-18 2018-07-24 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Analog-to-digital converter verification using quantization noise properties
US9985646B1 (en) 2017-10-18 2018-05-29 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Analog-to-digital converter verification using quantization noise properties
JP7238464B2 (ja) * 2019-02-26 2023-03-14 セイコーエプソン株式会社 リアルタイムクロックモジュール、電子機器及び移動体
CN112731049B (zh) * 2020-12-08 2023-07-07 深圳供电局有限公司 时钟同步异常监测方法、装置及计算机可读存储介质
TWI779930B (zh) * 2021-11-18 2022-10-01 新唐科技股份有限公司 時脈監控電路、微控制器,及其控制方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08316946A (ja) * 1995-05-18 1996-11-29 Fujitsu Ltd クロック断検出回路
JP2002296309A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Nec Eng Ltd 周波数異常検出回路およびそれに用いる異常検出値設定回路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0784667A (ja) * 1993-09-14 1995-03-31 Fujitsu Ltd クロックドライバの異常監視方法及び装置
JPH09244761A (ja) 1996-03-11 1997-09-19 Oki Electric Ind Co Ltd クロック異常検出回路
JP3501271B2 (ja) 1998-06-10 2004-03-02 沖電気工業株式会社 クロック異常検出回路
FR2783985B1 (fr) * 1998-09-25 2000-11-24 St Microelectronics Sa Dispositif de neutralisation d'un circuit electronique
US6765954B1 (en) * 1999-08-16 2004-07-20 Globespanvirata, Inc. System and method for implementing a delta-sigma modulator integrity supervisor
JP4211195B2 (ja) * 2000-05-17 2009-01-21 沖電気工業株式会社 クロック異常検出回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08316946A (ja) * 1995-05-18 1996-11-29 Fujitsu Ltd クロック断検出回路
JP2002296309A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Nec Eng Ltd 周波数異常検出回路およびそれに用いる異常検出値設定回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007293682A (ja) 2007-11-08
CN100565423C (zh) 2009-12-02
US7391240B2 (en) 2008-06-24
CN101063895A (zh) 2007-10-31
US20070262824A1 (en) 2007-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4653008B2 (ja) クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法
EP1675267B1 (en) Periodic electrical signal frequency monitoring systems and methods
US8564355B2 (en) Clock device
US20170123470A1 (en) Electrical fast transient tolerant input/output (i/o) communication system
US6469544B2 (en) Device for detecting abnormality of clock signal
JP4819707B2 (ja) 冗長演算システムよび演算部
JP5077815B2 (ja) パルス入力装置
CN113692562B (zh) 同步复位信号生成电路及数字处理装置
JPH04306930A (ja) クロック異常検出器
JP4962497B2 (ja) クロック監視回路、情報処理装置およびクロック監視方法
JP5171379B2 (ja) 周波数異常検出回路
JPH11330931A (ja) 制御システムにおけるクロック動作監視装置及び方法
KR100221496B1 (ko) 동기상태 감시회로
JP2002026704A (ja) クロック異常検出装置及びその方法
JP4612235B2 (ja) 非同期検出回路
WO2020258419A1 (zh) 一种温度检测装置、方法及显示***
JP2005030989A (ja) ロータリーエンコーダの回転検出装置および電子機器
JP2006031133A (ja) 半導体装置
JP3586578B2 (ja) エッジ検出回路
CN118017981A (zh) 一种时钟检测的装置、方法及芯片
JP2827904B2 (ja) バイポーラクロック擾乱検出回路
KR960010757B1 (ko) 클럭 감시 장치
JP2970690B2 (ja) 同期制御回路
JP2008166922A (ja) 極性判定装置及び方法並びに極性設定装置
JP2013187715A (ja) クロック監視装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101130

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4653008

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees