JP4643647B2 - 高性能リピータモードおよび通常リピータモード並びにリセット機能を有するリピータ回路 - Google Patents

高性能リピータモードおよび通常リピータモード並びにリセット機能を有するリピータ回路 Download PDF

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Description

関連出願の相互参照
本願は、本発明の出願人に譲渡され、代理人事件整理番号TRAN−P326の「Stacked Inverter Delay Chain」と題される、R.Masleidらによって2004年6月8日に出願された米国特許出願第10/864,271号の一部継続出願であり、参照により全体が本明細書に組み込まれる。
本願は、本特許出願と同じ出願人に譲渡され、代理人事件整理番号TRAN−P320の「Repeater Circuit with High Performance Repeater Mode and Normal Repeater Mode」と題される、R.Masleidらによって2004年6月28日に出願された米国特許出願第10/879,879号に関連し、参照により全体が本明細書に組み込まれる。
本願は、本発明の出願人に譲渡され、代理人事件整理番号TRAN−P331の「Circuits and Methods for Detecting and Assisting Wire Transitions」と題される、R.Masleidらによって2004年6月28日に出願された米国特許出願第10/879,807号に関連し、参照により全体が本明細書に組み込まれる。
本願は、本発明の出願人に譲渡され、代理人事件整理番号TRAN−P332の「Repeater Circuit Having Different Operating and Reset Voltage Ranges,and Methods Thereof」と題される、R.Masleidらによって2004年6月28日に出願された米国特許出願第10/879,808号に関連し、参照により全体が本明細書に組み込まれる。
本明細書は、一般的にはリピータ回路に関する。より詳しくは、本文書は高性能リピータモード(high performance repeater mode)および通常リピータモード(normal
repeater mode)を有し、該高性能リピータモードが高速リセット機能を有する、リピータ回路の分野に関する。
集積回路(IC)チップの設計では、信号(例えば、クロック信号、論理信号、電源信号等)は、用いられる製造プロセスで可能な最小設計寸法に比較して「長い」金属配線に沿って伝播することができる。伝播遅延および歪は、その長い金属配線に沿って伝播する信号が受ける悪影響の一部である。これらの悪影響は、上記金属配線のRC定数を減らすことにより最小化することができる。しかしながら、一部のICチップ設計では、RC定数を最大限に低減しても設計仕様を満足させるのには充分でない。そこで、他の技術が用いられる。1つの方法としては、伝播遅延の低減(すなわち速い遷移時間の維持)のみならず信号の増幅(すなわち歪の除去)も行うために、長い金属配線に沿って周期的な間隔でリピータ回路を挿入することがある。
高性能リピータモードおよび通常リピータモードを有し、該高性能リピータモードが高速なリセット機能を有する、リピータ回路が提供され、説明される。1つの例において、スイッチが第1のスイッチ位置に設定され、リピータ回路は高性能リピータモードで動作する。別の例において、スイッチは第2の位置に設定され、リピータ回路は通常リピータモードで動作する。
ここで、添付図面に例が例示されている本発明の実施形態について詳細に説明する。本発明はこれらの実施形態に関連して説明されるが、本発明をこれらの実施形態に制限することを意図するものでないことが理解されるであろう。逆に、本発明は、添付の請求項により規定される本発明の範囲内に含まれてよい、代替、修正、及び等価物を含むことを意図している。さらに、本発明の以下の詳細な説明では、多数の特定の詳細が本発明の十分な理解を提供するために述べられている。しかしながら、本発明はこれらの特定の詳細なくしても実施され得ることが理解される。
一般的にリピータ回路は、高性能リピータ回路または通常リピータ回路に分類できる。他の分類も可能である。
あるICチップ設計のレイアウト中に、リピータ回路は、伝播遅延の低減(すなわち速い遷移時間の維持)に加え信号の増幅(すなわち歪の除去)を行うために、長い金属配線に沿って周期的な間隔で挿入される。通常、リピータ回路は、上述の2つの分類の各々の中で豊富な選択の幅を有する。リピータ回路の選択には、そのリピータ回路が挿入される環境はもちろんのこと、利用できるリピータ回路の長所および短所が考慮される。
しかしながら、上記ICチップ設計がひとたび製造されると、製造プロセスのばらつきが、ICチップの内部のその選択されたリピータ回路の動作を損なう可能性がある。他のタイプのリピータ回路が、製造プロセスのばらつきにもかかわらず適切に動作する可能性がある。
高性能リピータ回路と通常リピータ回路の中から選択しなければならないということに代えて、本発明は、高性能リピータモードまたは通常リピータモードで選択的に動作できるリピータ回路を提供する。従って、本リピータ回路の動作モードは、製造プロセスのばらつきの影響が既知となった後に、最高の性能がもたらされるように選択することができる。本発明の一実施形態において、リピータ回路100は、高速リセット機能を備えた高性能リピータモード(図1に示す)または通常リピータモード(図2に示す)で動作することができる。
図1は、高速リセット機能を備えた高性能リピータモードで動作する、本発明の一実施形態によるリピータ回路100を説明し、第1のスイッチ位置にあるスイッチ71〜75を示している。図1に示すように、複数のスイッチ71〜75が、リピータ回路100の様々なノードに挿入されている。上記スイッチ71〜75は、任意の方法(例えば、プログラム可能、固定等)で実施することができる。上記複数のスイッチが図1に示す第1のスイッチ位置に設定されているときは、リピータ回路100は高速リセット機能を備えた高性能リピータモードで動作する。しかしながら、上記複数のスイッチが図2に示す第2のスイッチ位置に設定されているときは、リピータ回路100は通常リピータモードで動作する。図1、2および3で与えられたトランジスタサイズは、例示的なものである。他のトランジスタサイズも可能である。
図1について続けると、リピータ回路100は、入力ノード5、立ち上がりエッジ駆動回路210、キーパ回路220、立ち下がりエッジ駆動回路230、および出力ノード7を含む。
立ち上がりエッジ駆動回路210は、入力ノード5に連結されたNANDゲート10を有する。NANDゲート10は、n型の金属酸化膜電界効果トランジスタ(すなわちnFET)12、14、およびp型の金属酸化膜電界効果トランジスタ(すなわちpFET)16、18を含む。加えて、NANDゲート10の出力ノード241が出力駆動pFET30に連結される。更に、NANDゲート10の出力ノード241は、2つの遅延パスを有する上側遅延回路に連結される。第1の遅延パスは、インバータ15A〜15EおよびnFET17を含む。第2の遅延パスは、インバータ15AおよびnFET13を含み、第1の遅延パスの遅延時間が第2の遅延パスの遅延時間よりも大きい。立ち上がりエッジリセットpFET19は、nFET13に連結される。さらに、上側ハーフラッチ回路20が、nFET13、立ち上がりエッジリセットpFET19、およびNANDゲート10に連結される。上側ハーフラッチ回路20は、nFET22およびインバータ24を有する。
キーパ回路220は、入力ノード5と出力ノード7間で直列に連結された、インバータ42、44、46、48を含む。
更に図1を参照すると、立ち下がりエッジ駆動回路230は、入力ノード5に連結されるNORゲート50を有する。NORゲート50は、n型金属酸化膜電界効果トランジスタ(すなわちnFET)52、54、およびp型の金属酸化膜電界効果トランジスタ(すなわちpFET)56、58を含む。加えて、NORゲート50の出力ノード242が出力駆動nFET70に連結される。更に、NORゲート50の出力ノード242は、2つの遅延パスを有する下側遅延回路に連結される。第1の遅延パスは、インバータ55A〜55EおよびpFET59を含む。第2の遅延パスは、インバータ55AおよびpFET53を含み、第1の遅延パスの遅延時間が第2の遅延パスの遅延時間よりも大きい。立ち下がりエッジリセットnFET57は、pFET53に連結される。さらに、下側ハーフラッチ回路60が、pFET53、立ち下がりエッジリセットnFET57、およびNORゲート50に連結される。下側ハーフラッチ回路60は、pFET62およびインバータ64を有する。
入力ノード5での立ち下がりエッジ(すなわち、論理1から論理0への遷移)に応答したリピータ回路100の動作について、以下に説明する。入力ノード5における立ち下がりエッジは、NORゲート50の出力ノード242を立ち上がらせ、パルスの前縁(leading edge)を生成する。NORゲート50の出力ノード242の立ち上がりは、出力駆動nFET70を作動させ、出力ノード7を立ち下がらせる。更に、入力ノード5における立ち下がりエッジは、キーパ回路220のノード243を立ち下がらせ、立ち上がりエッジリセットpFET19を作動させることによって立ち上がりエッジ駆動回路210をリセットする。
その上、NORゲート50の出力ノード242の立ち上がりは、第1の遅延パス(インバータ55A〜55E)および第2の遅延パス(インバータ55A)を立ち下がらせ、pFET59およびpFET53をそれぞれ作動させる。pFET59とpFET53双方の作動は、下側ハーフラッチ回路60の論理high(すなわち、1)へのラッチを開始する。このようにして、下側ハーフラッチ回路60は、NORゲート50の出力ノード242を立ち下がらせ、上記パルスの後縁(trailing edge)を生成する。NORゲート50の出力ノード242が立ち下がることにより、出力駆動nFET70の作動を停止させる。キーパ回路220は、そのトランジスタサイズが小さいことから、出力ノード7を論理low(すなわち、0)に弱く保持する。
加えて、NORゲート50の出力ノード242の立ち下がりは、第1の遅延パス(インバータ55A〜55E)および第2の遅延パス(インバータ55A)の立ち上がりをもたらす。第2の遅延パス(インバータ55A)の遅延時間が短いため、pFET53は、上記パルスの後縁の直後にインバータ55Aによりその作動が停止される。事実上、長い第1の遅延パス(インバータ55A〜55E)はバイパスされる。更に、第2の遅延パス(インバータ55A)の立ち上がりは、下側ハーフラッチ回路60を解除し、パルスを終了させ、入力ノード5での立ち上がりエッジ(すなわち、論理0から1への遷移)に応答したリピータ回路100の動作期間中の、立ち下がりエッジ駆動回路230のリセットを可能にする。従って、リピータ回路100は、入力ノード5における立ち上がりエッジ(すなわち、論理0から論理1への遷移)にすぐに応答できる。最後に、第1の遅延パス(55A〜55E)がpFET59の作動を停止する。
ここで、入力ノード5での立ち上がりエッジ(すなわち、論理0から論理1への遷移)に応答したリピータ回路100の動作について、説明する。入力ノード5における立ち上がりエッジは、NANDゲート10の出力ノード241を立ち下がらせ、パルスの前縁を生成する。NANDゲート10の出力ノード241の立ち下がりは、出力駆動pFET30を作動させ、出力ノード7を立ち上がらせる。更に、入力ノード5における立ち上がりエッジは、キーパ回路220のノード243を立ち上がらせ、立ち下がりエッジリセットnFET57を作動させることによって立ち下がりエッジ駆動回路230をリセットする。
その上、NANDゲート10の出力ノード241の立ち下がりは、第1の遅延パス(インバータ15A〜15E)および第2の遅延パス(インバータ15A)を立ち上がらせ、nFET17およびnFET13をそれぞれ作動させる。nFET17とnFET13双方の作動は、上側ハーフラッチ回路20の論理low(すなわち、0)へのラッチを開始する。このようにして、上側ハーフラッチ回路20は、NANDゲート10の出力ノード241を立ち上がらせ、上記パルスの後縁を生成する。NANDゲート10の出力ノード241が立ち上がることにより、出力駆動pFET30の作動が停止される。キーパ回路220は、そのトランジスタサイズが小さいことから、出力ノード7を論理high(すなわち、1)に弱く保持する。
加えて、NANDゲート10の出力ノード241の立ち上がりは、第1の遅延パス(インバータ15A〜15E)および第2の遅延パス(インバータ15A)の立ち下がりをもたらす。第2の遅延パス(インバータ15A)の遅延時間が短いため、nFET13は、パルスの後縁の直後にインバータ15Aによりその作動が停止される。事実上、長い第1の遅延パス(インバータ15A〜15E)はバイパスされる。更に、第2の遅延パス(インバータ15A)の立ち下がりは、上側ハーフラッチ回路20を解除し、パルスの終了と、入力ノード5での立ち下がりエッジ(すなわち、論理1から論理0への遷移)に応答したリピータ回路100の動作期間中の、立ち上がりエッジ駆動回路210のリセットとを可能にする。従って、リピータ回路100は、入力ノード5における立ち下がりエッジ(すなわち、論理1から0への遷移)にすぐに応答できる。最後に、第1の遅延パス(15A〜15E)がnFET17の作動を停止する。
図2は、通常リピータモードで動作する、本発明の一実施形態によるリピータ回路100を説明しており、第2のスイッチ位置にあるスイッチ71〜75を示している。図2に示すように、上記スイッチ71から75が第2のスイッチ位置に設定されているときは、リピータ回路100は通常リピータモードで動作する。
図2を参照すると、スイッチ71、72および73が第2のスイッチ位置に設定され、立ち上がりエッジ駆動回路210のいくつかの構成部品をディスエーブルしている。これらの動作不能な構成部品は、薄い色で表されている。具体的には、nFET12、pFET18、インバータ15A〜15E、nFET17、nFET13、立ち上がりエッジリセットpFET19、nFET22、およびインバータ24が、バイパスされているかまたはディスエーブルされている。
同様にスイッチ73、74および75が第2のスイッチ位置に設定され、立ち下がりエッジ駆動回路230のいくつかの構成部品をディスエーブルしている。これらの動作不能な構成部品は、薄い色で表されている。具体的には、nFET54、pFET58、インバータ55A〜55E、pFET59、pFET53、立ち下がりエッジリセットnFET57、pFET62、およびインバータ64が、バイパスされているかまたはディスエーブルされている。
図3は、本発明の一実施形態による図2のリピータ回路100の、不作動の部品を除いた図である。図3に示すように、通常リピータモードにおいて、図2のリピータ回路100は、インバータ42、44、46、48を有するキーパ回路220と並列接続された二重インバータ回路310(インバータ81、82を有する)に変換されている。インバータ81は、nFET92(図2の2つのnFET52、14に相当)およびpFET91(図2の2つのpFET56、16に相当)を含む。インバータ82は、nFET96(図2のnFET70に相当)およびpFET94(図2のpFET30に相当)を含む。
要するに、スイッチ71、72、73、74、75は、高速リセット機能を有する高性能リピータモードかまたは通常リピータモードかのいずれかで、リピータ回路100を動作させる柔軟性を提供している。
高速リセット機能を有する高性能リピータモードに設定された図1のリピータ回路100は、通常リピータモードに設定された図2および3のリピータ回路100に優るいくつかの利点を有している。まず第1に、高速リセット機能を有する高性能リピータモード構成が、通常リピータモード構成よりも伝播遅延をより低減することである。第2に、高速リセット機能を有する高性能リピータモード構成が、通常リピータモード構成に比較してリピータ回路間のインターバル長を延長し、必要なリピータ回路の数を低減することである。
加えて、高速リセット機能は、リピータ回路100(図1)が入力ノード5での1つのエッジ遷移への応答がちょうど終了した後に、リピータ回路100が(効率的に)入力ノード5における反対のエッジ遷移に即時に応答することできるようにすることを可能とする。具体的には、インバータおよびトランジスタ(例えば、インバータ15AとnFET13、またはインバータ55AとpFET53)によりハーフラッチ回路(例えば、20または60)を解除することにより、立ち上がりエッジ駆動回路または立ち下がりエッジ駆動回路によりそれぞれ生成されたパルスを終了させ、リピータ回路100が反対のエッジ遷移をいつでも受け入れられるように整える。従って、入力ノード5にて受け入れ可能な最小パルス幅は、事実上、上記立ち上がりエッジ駆動回路または立ち下がりエッジ駆動回路のいずれかにより生成されたパルス幅とすることができる。さらに、この高速リセット機能は、入力ノード5におけるグリッチへの耐力を増加する。
通常リピータ構成(図2および3)は、高速リセット機能を有する高性能リピータモード構成に比べ、性能が低い。その上、キーパ回路220は、そのトランジスタサイズが比較的小さいことから、二重インバータ回路310の性能には大きな影響は及ぼさない。さらに、インバータ81と82のトランジスタサイズおよびトランジスタ比(transistor ratio)が、通常リピータ回路アプリケーションに対し効果的な性能を提供する。
このように、本発明のリピータ回路は、高速リセット機能を有する高性能リピータモード構成の使用を可能としているが、ICチップ設計を検討する上でよりアグレッシブでない(すなわち複雑でない)後退した構成も可能としている。要するに、通常リピータモード構成は「セーフ」モードであり、一方、高速リセット機能を有する高性能リピータモード構成は「アグレッシブ」モードである。
大まかに要約すると、本開示は、高性能リピータモードおよび通常リピータモードを有し、該高性能リピータモードが高速リセット機能を有する、リピータ回路について説明している。一実施形態では、スイッチが第1のスイッチ位置に設定され、リピータ回路を高性能リピータモードで動作させる。別の実施形態では、スイッチは第2のスイッチ位置に設定され、リピータ回路を通常リピータモードで動作させる。
本発明の特定の実施形態の上記の説明は、図解と説明のために提示された。それらは、網羅的となる、あるいは開示されている正確な形式に本発明を限定することを目的とするのではなく、上記の教示に鑑みて多くの修正及び変形が可能であることは明白である。実施形態は、本発明の原理とその実用化を最もよく説明し、それにより当業者が、意図された特定の用途に適するような多様な変形とともに、本発明及び多様な実施形態を最もよく活用できるように選ばれ、説明されている。本発明の範囲は、本明細書に添付されている請求項とその同等物によって規定されることが意図されている。
本明細書に組み込まれ本明細書の一部をなす添付図面は、本発明の実施形態を例示し、説明と共に、本発明の原理を説明するのに役立つ。
高速リセット機能を有する高性能リピータモードで動作する本発明の一実施形態によるリピータ回路を、第1のスイッチ位置にあるスイッチとともに示している図である。 通常リピータモードで動作する本発明の一実施形態によるリピータ回路を、第2のスイッチ位置にあるスイッチとともに示している図である。 本発明の一実施形態による図2のリピータ回路の、動作不能な構成部品を除いた図である。

Claims (20)

  1. 出力と、
    複数のトランジスタと、
    第1のスイッチ位置および第2のスイッチ位置で作動する複数のスイッチと、
    を備えるリピータ回路であって、
    前記複数のトランジスタおよび前記複数のスイッチが連結されて複数のサブ回路を形成し、
    前記スイッチが前記第1のスイッチ位置にある場合、前記サブ回路が第1および第2の長い遅延回路並びに第1および第2の短い遅延回路を含む高性能リピータモードへと配置され、
    前記長い遅延回路及び前記短い遅延回路は入力エッジ遷移に応答して前記出力においてパルスの生成を可能とし、
    前記高性能リピータモードにおいて、前記第1および第2の短い遅延回路が前記第1および第2の長い遅延回路をバイパスして、前記入力エッジ遷移に応答した後の前記リピータ回路のアベイラビリティを迅速化し、
    前記複数のスイッチが前記第2のスイッチ位置にある場合、前記複数のサブ回路は通常リピータモードへと配置される、リピータ回路。
  2. 前記高性能リピータモードにおいて、前記複数のサブ回路は、
    入力及び出力を備えたキーパ回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち上がりエッジ駆動回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち下がりエッジ駆動回路と、
    を含む、請求項1記載のリピータ回路。
  3. 前記立ち上がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNANDゲートと、
    前記NANDゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力p型トランジスタ装置と、
    前記NANDゲートの前記出力に連結され、前記第1の長い遅延回路および前記第1の短い遅延回路を含む、上側遅延回路と、
    前記上側遅延回路および前記NANDゲートに連結される上側ハーフラッチ回路と、
    を含む、請求項2記載のリピータ回路。
  4. 前記立ち下がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNORゲートと、
    前記NORゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力n型トランジスタ装置と、
    前記NORゲートの前記出力に連結され、前記第2の長い遅延回路および前記第2の短い遅延回路を含む、下側遅延回路と、
    前記下側遅延回路および前記NORゲートに連結される下側ハーフラッチ回路と、
    を含む、請求項2記載のリピータ回路。
  5. 前記キーパ回路は、直列に配置される第1のインバータ、第2のインバータ、第3のインバータ、および第4のインバータを含む、請求項2記載のリピータ回路。
  6. 前記通常リピータモードにおいて、前記複数のサブ回路は、
    二重インバータ回路と、
    前記二重インバータ回路と並列に配置されるキーパ回路と、
    を含む、請求項1記載のリピータ回路。
  7. 前記二重インバータ回路は、前記高性能リピータモードのNANDゲートから及び前記高性能リピータモードのNORゲートからの特定のトランジスタを用いて形成される、請求項6記載のリピータ回路。
  8. 入力及び出力を備えたキーパ回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち上がりエッジ駆動回路であって、第1のスイッチ位置で作動している複数の第1のスイッチを有し、かつ第1の長い遅延回路と該第1の遅延回路をバイパスして入力立ち上がりエッジ遷移に応答した後のアベイラビリティを迅速化するための第1の短い遅延回路とを有する、立ち上がりエッジ駆動回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち下がりエッジ駆動回路であって、第1のスイッチ位置で作動している複数の第2のスイッチを有し、かつ第2の長い遅延回路と該第2の遅延回路をバイパスして入力立ち下がりエッジ遷移に応答した後のアベイラビリティを迅速化するための第2の短い遅延回路とを有する、立ち下がりエッジ駆動回路と、
    を備え、前記複数のスイッチが第2のスイッチ位置で動作される場合、前記立ち上がりエッジ駆動回路および立ち下がりエッジ駆動回路が二重インバータ回路に変換される、リピータ回路。
  9. 前記立ち上がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNANDゲートと、
    前記NANDゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力p型トランジスタ装置と、
    前記NANDゲートの前記出力に連結され、前記第1の長い遅延回路および前記第1の短い遅延回路を含む、上側遅延回路と、
    前記上側遅延回路および前記NANDゲートに連結される上側ハーフラッチ回路と、
    を更に含む、請求項8記載のリピータ回路。
  10. 前記立ち下がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNORゲートと、
    前記NORゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力n型トランジスタ装置と、
    前記NORゲートの前記出力に連結され、前記第2の長い遅延回路および前記第2の短い遅延回路を含む、下側遅延回路と、
    前記下側遅延回路および前記NORゲートに連結される下側ハーフラッチ回路と、
    を更に含む、請求項8記載のリピータ回路。
  11. 前記キーパ回路が、直列に配置される第1のインバータ、第2のインバータ、第3のインバータ、および第4のインバータを含む、請求項8記載のリピータ回路。
  12. 前記二重インバータ回路と前記キーパ回路が並列に配置される、請求項8記載のリピータ回路。
  13. 前記二重インバータ回路は、前記立ち下がりエッジ駆動回路のNORゲートから及び前記前記立ち上がりエッジ駆動回路のNANDゲートからの特定のトランジスタを用いて形成される、請求項8記載のリピータ回路。
  14. 複数のモードでリピータ回路を作動させる方法であって、前記方法は、
    第1および第2の長い遅延回路並びに第1および第2の短い遅延回路を有する前記リピータ回路に、複数のスイッチを挿入し、前記長い遅延回路及び前記短い遅延回路は入力エッジ遷移に応答して前記出力においてパルスの生成を可能とし、
    高性能リピータモードでの動作が望ましい場合には、前記複数のスイッチを第1のスイッチ位置に設定し、前記高性能リピータモードにおいて、前記第1および第2の短い遅延回路が前記第1および第2の長い遅延回路をバイパスして、入力エッジ遷移に応答した後のアベイラビリティを迅速化し、
    通常リピータモードでの動作が望ましい場合には、前記複数のスイッチを第2のスイッチ位置に設定する、方法。
  15. 前記高性能リピータモードにおいて、前記リピータ回路は、
    入力及び出力を備えたキーパ回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち上がりエッジ駆動回路と、
    前記キーパ回路の前記入力及び前記出力に接続された立ち下がりエッジ駆動回路と、
    を含む、請求項14記載の方法。
  16. 前記立ち上がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNANDゲートと、
    前記NANDゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力p型トランジスタ装置と、
    前記NANDゲートの前記出力に連結され、前記第1の長い遅延回路および前記第1の短い遅延回路を含む、上側遅延回路と、
    前記上側遅延回路および前記NANDゲートに連結される上側ハーフラッチ回路と、
    を含む、請求項15記載の方法。
  17. 前記立ち下がりエッジ駆動回路は、
    前記リピータ回路の入力に連結されるNORゲートと、
    前記NORゲートの出力に連結されかつ前記リピータ回路の出力に連結される出力n型トランジスタ装置と、
    前記NORゲートの前記出力に連結され、前記第2の長い遅延回路および前記第2の短い遅延回路を含む、下側遅延回路と、
    前記下側遅延回路および前記NORゲートに連結される下側ハーフラッチ回路と、
    を含む、請求項15記載の方法。
  18. 前記キーパ回路は、直列に配置される第1のインバータ、第2のインバータ、第3のインバータ、および第4のインバータを含む、請求項15記載の方法。
  19. 前記通常リピータモードにおいて、前記リピータ回路は、
    二重インバータ回路と、
    前記二重インバータ回路と並列に配置されるキーパ回路と、
    を含む、請求項14載の方法。
  20. 前記二重インバータ回路は、前記高性能リピータモードのNANDゲートから及び前記高性能リピータモードのNORゲートからとの特定のトランジスタを用いて形成される、請求項19記載の方法。
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