JP4584313B2 - 同軸光照射装置 - Google Patents

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Description

本発明は、撮像方向と同軸方向からワークに対して光を照射することが可能な同軸光照射装置に関するものである。
従来、例えば製品等の対象物(以下ワークという)に、撮像方向と同軸方向から光を照射する場合には、観測軸上に斜め45度に挿入されたハーフミラーを具備し、そのハーフミラーに観測軸と直交する方向から光を照射するように構成した同軸光照射装置が用いられている。
さらに近時では、特許文献1に示すように、ハーフミラーを必要とせず、大幅なコンパクト化や接近撮像等を可能な同軸光照射装置も開発されてきている。
具体的に、この光照射装置は、多数の微細な反射部材を、互いの間に隙間が形成されるように、薄い透光板のワーク側の面に並べ設けるとともに、その透光板の側周端面からLED光を導入するようにしたものであり、全体として薄い板状をなし、観測軸上に直交して挿入することができる。光は、透光板の中を全反射しながら進行するが、そのうちの一部は、反射部材で反射して当該透光板のワーク側の面からワークに向かって照射され、当該ワークを照明する。しかして撮像装置は、反射部材の間に隙間があるため、網戸から明るい部屋の中を覗くように、反射部材にほとんど影響されることなく、ワークを撮像することができる。
特開2003−98093号公報
しかしながら、このような光照射装置の場合、透光板の周囲から光が入ってくる関係上、反射部材を等密度で配置すると、透光板の周辺部に配置された反射部材で反射する光が強くなる一方で、中央部で反射する光が弱くなり、照度ムラが生じる場合がある。これを回避するためには、例えば反射部材の密度を中央のものほど高くするといった工夫が必要となるが、撮像の観点から言えば、できるだけ反射部材は均一な密度で配置されている方が好ましいし、密度に変化をつけることで、製造に負担がかかる場合もある。
また、透光板の周囲にLEDを配置しなければならないことから、径方向に大きくなりがちで、顕微撮像分野などへの応用を考えれば、さらなるコンパクト化、軽量化を推し進める必要もある。
そこで本発明は、同軸照明に用いることのできる光照射装置において、よりムラのない照明と、コンパクト化、軽量化とをさらに推し進めるべく図ったものである。
すなわち本発明にかかる光照射装置は、製品等のワークに対して光を照射し、その表面の検査等を行うためのものであって、ワーク側に配置した透明電極層と、反ワーク側に配置した非透明電極層と、それら電極間に配置され、電圧付与によって発光する発光層とを備えた微細EL素子を、互いの間に隙間を設けて多数並び設けた構造としており、所定厚みを有した透光板をさらに備え、前記EL素子がその透光板のいずれかの面に貼り付けられて支持されており、前記微細EL素子及び前記透光板が、前記ワークから離間して設けられるとともに、前記微細EL素子の隙間の大きさ又はピッチが、前記ワークに照射された光の反射光が該隙間を通ってワークの反対側に配される撮像装置によって撮像可能となるように設定されていることを特徴とする。ここでELとは、Electro Luminescence の略である。発光層はPN半導体を層構造にしたものでもよいし、後述する有機EL素子の場合のように有機高分子や低分子で構成しても構わない。
微細化が可能で、モアレの抑制にも寄与できるEL素子としては、有機EL素子を挙げることができる。
発光層からの光を効率よくワークに照射するとともに、EL素子の反ワーク側の面(撮像装置側の面)での光反射を抑制し、撮像を好適に行えるようにするには、前記非透明電極層の発光層側の面が光反射面であり、その反対側の面が光を遮蔽又は吸収する光遮蔽面であるものが望ましい。
各EL素子への電力供給を無理なく行えるようにするには、隣り合うEL素子の電極層同士を接続し、EL素子全体としての電極層が格子状をなすように構成しているものが好適である。
EL素子の具体的支持態様としては、所定厚みを有した透光板をさらに備え、前記EL素子がその透光板のいずれかの面に貼り付けられて支持されているものを挙げることができる。
このように構成した本発明に係る光照射装置によれば、各EL素子が自発的に発光するため、それらの配設密度を均等にしながら光照射も均一に行うことができ、撮像に好適な照明が容易に可能になる。
さらに、LED等の光源を周囲に別途配置するといった必要がなく、コンパクト化と軽量化を大きく促進できる。
本発明の一実施形態における光照射装置の内部構造を示す中央縦正端面図。 同実施形態における光照射装置の平面図。 図2におけるA部詳細図。 図3におけるB−B線部分端面図。
符号の説明
1…光照射装置
3…透光板
3a…一方の面(ワーク対向面)
3b…他方の面(反ワーク対向面)
3…有機EL素子
6…撮像装置(CCDカメラ)
S…隙間
W…ワーク
以下に本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る光照射装置1は、図1、図2に概略図を示すように、全体として薄い板状をなすもので、光の照射対象である製品等のワークWと、CCDカメラ等の撮像装置6との間の撮像軸C上に直交して配置され、ワークWを照明するとともに、ワークWからの反射光の一部を透過させて、撮像装置6によるワークWの撮像を可能ならしめるものである。
具体的にこの光照射装置1は、矩形板状をなす透光板3と、その透光板3の一方の面に貼り設けた複数(多数)の有機EL素子2と、前記有機EL素子2に電流を供給する図示しない電源部とを備えている。
透光板3は、前記一方の面をワーク対向面3aとしてワークWに向けて設置される、等厚で平面視正方形状の板状をなす無色透明のものであり、例えばアクリルやガラスなどを素材として形成している。
有機EL素子2は、その端面図を模式的に図4に示すように、発光層21が二つの電極層22、23の間に挟まれたサンドイッチ構造をなすもので、電極層22、23間に電圧が付与されて発光層21に電流が供給されると、自発的に発光する。
ここでは、ワーク側の電極層22(アノード)には、例えばITO等の透明素材を用い、反ワーク側の電極層23(カソード)には、非透明な金属板を用いている。この非透明電極層23(カソード)におけるワーク側の面(発光層側の面23a)は、光を反射させるために鏡面にしてあり、反ワーク側の面23bは、光の反射散乱を防止するために、光を遮蔽又は吸収する黒色つや消しメッキ等が施されている。
発光層21には、例えばポリフェニレンビニレン(PPV(poly(phenylene vinylene))を用いているが、低分子のもの等でも構わない。また、この発光層21の表裏には、図4のように、直接電極層22、23が貼り付けてあるが、正孔輸送層、電子輸送層を介して電極層22、23が貼り付けた構成などでもよい。
この有機EL素子2の全体としての厚みは、数百nm以下と非常に薄く、個々の大きさ(厚み方向と直交する方向の大きさ)も数十μm以下と非常に小さい。
しかしてこの実施形態では、この有機EL素子2を、図2、図3に示すように、平面視、互いの間に隙間Sを有して多数並び設けた構造としている。
より具体的には、図3に示すように、隣り合う有機EL素子2の電極層22同士、23同士を接続し、有機EL素子2全体としての電極層22、23が四角格子状をなすように構成している。
次に、このように構成した光照射装置1の作用を以下に説明する。
まず、図1に示すように、ワークWと撮像装置6とを対向させて設置し、その間に、光照射装置1を、そのワーク対向面31aがワークWに向くようにして、撮像軸C上に設置する。
この状態で、電力を供給すると、各有機EL素子2からワークWに向かって光が照射される。より具体的には発光層21で発生した光は、直接又は非透明電極層23で反射して、透明電極層22に向かい、この透明電極層22を通過してワークWに照射される。そしてこの光で、ワークWは一様に照明される。
一方、撮像装置6は、前記ワークWで反射し、有機EL素子2間の隙間Sを通って透光板31を通過した光を捕捉することにより、ワークWを撮像し、当該ワークWの表面検査や記号読取を行う。しかして、有機EL素子2は微細であるために、網戸を介して明るい部屋の中を見ることができるように、この有機EL素子2が撮像の邪魔にはなることはない。特にこの実施形態では、有機EL素子2の反ワーク側の面23bを、光の反射散乱を抑制する光遮蔽面にしているため、この有機EL素子2での反射光が撮像装置6に取り込まれることなく、好適な撮像を行うことができる。
なお、より好ましくは、隙間Sや有機EL素子2の大きさ、あるいはピッチを、撮像装置6と有機EL素子2との離間距離、撮像装置6とワークWとの離間距離等をパラメータとして観測に支障がでない最適なものに定めればよい。例えば撮像装置6と有機EL素子2との離間距離が小さい場合には、隙間Sや有機EL素子2の大きさ、あるいはピッチを相応に大きくし、逆の場合は小さく設定すればよい。
このようにして、各有機EL素子2からの照射光により撮像装置6の観測軸Cと同軸方向からの照明が行えるとともに、前記ワークWを、隙間Sを介して撮像装置6で撮像し、検査等を行うことができる。
したがって、このように構成した本実施形態に係る同軸光照射装置1によれば、均等な密度で配設した各有機EL素子2がそれぞれ自発的に発光するため、均一で照度ムラのない照明を行うことができる。
さらに、この光照射装置1は、透光板3の一方の面3aに非常に薄い有機EL素子2が貼り付けられただけの構成であり、透光板3そのものとほぼ同じ大きさにすることができることから、従来のものに比べて、さらなるコンパクト化と軽量化を大きく促進できる。
また有機EL素子2は、大パターン化も比較的容易にできるため、大きな発光面積を有した光照射装置も作成可能である。さらに、個々の有機EL素子2を非常に微細化することもできるので、CCD画像素子との関係で発生する干渉縞(モアレ)を抑制することもできる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、各EL素子は四角格子状のみならず三角格子状等でもよいし、ドットマトリクス状に不連続に設けても構わない。
また透明板の反ワーク側の面にEL素子を貼り設けてもよいし、透明板の厚み内にEL素子を埋め込んで配設しても構わない。
EL素子は単色のみならず、カラー3原色の構成として、種々の色合いでワークを照明できるようにしてもよい。
さらに、透光板は平板に限られず、球面状のものなど、湾曲板でもよい。
その他、本発明は、前記図示例や説明例に限られず、各部を適宜組み合わせたりすることはもちろんのこと、その主旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。
このような構成を有する本発明に係る光照射装置によれば、各EL素子が自発的に発光するため、それらの配設密度を均等にしながら光照射も均一に行うことができ、撮像に好適な照明が容易に可能になり、さらに、LED等の光源を周囲に別途配置するといった必要がなく、コンパクト化と軽量化を大きく促進できる。

Claims (4)

  1. 製品等のワークに対して光を照射し、その表面の検査等を行うためのものであって、
    ワーク側に配置した透明電極層と、反ワーク側に配置した非透明電極層と、それら電極間に配置され、電圧付与によって発光する発光層とを備えた微細EL素子を、互いの間に隙間を設けて多数並び設けた構造としており、
    所定厚みを有した透光板をさらに備え、前記EL素子がその透光板のいずれかの面に貼り付けられて支持されており、
    前記微細EL素子及び前記透光板が、前記ワークから離間して設けられるとともに、
    前記微細EL素子の隙間の大きさ又はピッチが、前記ワークに照射された光の反射光が該隙間を通ってワークの反対側に配される撮像装置によって撮像可能となるように設定されていることを特徴とする光照射装置。
  2. 前記EL素子が有機EL素子である請求項1記載の光照射装置。
  3. 前記非透明電極層の発光層側の面が光反射面であり、その反対側の面が光を遮蔽又は吸収する光遮蔽面である請求項1記載の光照射装置。
  4. 隣り合うEL素子の電極層同士を接続し、EL素子全体としての電極層が格子状をなすように構成している請求項1記載の光照射装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2452737B (en) * 2007-09-12 2011-09-14 Roger Seaman Light emitting and/or receiving apparatus
CN102027614B (zh) * 2008-05-16 2013-05-29 株式会社半导体能源研究所 发光元件、发光装置和电子设备
DE102008055714B4 (de) * 2008-11-04 2018-07-19 Carl Zeiss Ag Semitransparente Beleuchtungsvorrichtung
JP5182833B1 (ja) * 2012-06-19 2013-04-17 バイスリープロジェクツ株式会社 表面検査装置および表面検査方法
JP2014096253A (ja) * 2012-11-08 2014-05-22 Yamagata Prefecture 透視性を有する面状光源及びそれを用いた撮像方法
JP7143740B2 (ja) * 2018-02-07 2022-09-29 オムロン株式会社 画像検査装置および照明装置
JP7027926B2 (ja) 2018-02-07 2022-03-02 オムロン株式会社 画像検査装置および照明装置
EP3524967B1 (en) * 2018-02-07 2024-01-31 OMRON Corporation Image inspection device and lighting device
JP6939640B2 (ja) * 2018-02-23 2021-09-22 オムロン株式会社 画像検査装置および画像検査方法
JP6939641B2 (ja) * 2018-02-23 2021-09-22 オムロン株式会社 画像検査装置および画像検査方法
JP7187782B2 (ja) 2018-03-08 2022-12-13 オムロン株式会社 画像検査装置
JP2020068160A (ja) * 2018-10-26 2020-04-30 シーシーエス株式会社 Oled照明装置
JP7392582B2 (ja) * 2020-06-12 2023-12-06 オムロン株式会社 検査システムおよび検査方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002207434A (ja) * 2001-01-11 2002-07-26 Seiko Epson Corp 照明装置、表示装置、並びに電子機器
JP2003098093A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Ccs Inc 検査用照明装置
JP2003332066A (ja) * 2002-05-10 2003-11-21 Seiko Instruments Inc フロントライト用有機el素子および反射型液晶表示装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4972093A (en) * 1987-10-09 1990-11-20 Pressco Inc. Inspection lighting system
US5172005A (en) * 1991-02-20 1992-12-15 Pressco Technology, Inc. Engineered lighting system for tdi inspection comprising means for controlling lighting elements in accordance with specimen displacement
US5690417A (en) * 1996-05-13 1997-11-25 Optical Gaging Products, Inc. Surface illuminator with means for adjusting orientation and inclination of incident illumination
JP3118503B2 (ja) * 1996-07-08 2000-12-18 シーシーエス株式会社 照明装置
JP2975893B2 (ja) * 1996-07-08 1999-11-10 シーシーエス株式会社 照明装置の製造方法
US6075883A (en) * 1996-11-12 2000-06-13 Robotic Vision Systems, Inc. Method and system for imaging an object or pattern
IES20000356A2 (en) * 1999-05-14 2001-02-07 Mv Res Ltd A microvia inspection system
US6788411B1 (en) * 1999-07-08 2004-09-07 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for adjusting illumination angle
ATE376178T1 (de) * 2000-06-28 2007-11-15 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum bildlichen erfassen von stückgütern
US6644832B2 (en) * 2000-12-25 2003-11-11 Seiko Epson Corporation Illumination device and manufacturing method therefor, display device, and electronic instrument
US20020135757A1 (en) * 2001-01-02 2002-09-26 Robotic Vision Systems, Inc. LCC device inspection module
JP3496644B2 (ja) * 2001-01-12 2004-02-16 シーシーエス株式会社 検査用照明装置
CN1266451C (zh) * 2001-04-03 2006-07-26 沃思测量技术股份有限公司 用于照明物体的测量仪和方法
US6861669B2 (en) * 2003-03-31 2005-03-01 Agilent Technologies, Inc. Compound display
US7504613B2 (en) * 2004-03-25 2009-03-17 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Optical imaging system having an illumination source between object and image
US7429753B2 (en) * 2005-05-20 2008-09-30 Sanyo Electric Co., Ltd. Display device
US7891840B1 (en) * 2010-01-22 2011-02-22 Southern Taiwan University Polygonal radiation module having radiating members without light guiding board

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002207434A (ja) * 2001-01-11 2002-07-26 Seiko Epson Corp 照明装置、表示装置、並びに電子機器
JP2003098093A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Ccs Inc 検査用照明装置
JP2003332066A (ja) * 2002-05-10 2003-11-21 Seiko Instruments Inc フロントライト用有機el素子および反射型液晶表示装置

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Publication number Publication date
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