JP4522143B2 - 真空計 - Google Patents

真空計 Download PDF

Info

Publication number
JP4522143B2
JP4522143B2 JP2004149910A JP2004149910A JP4522143B2 JP 4522143 B2 JP4522143 B2 JP 4522143B2 JP 2004149910 A JP2004149910 A JP 2004149910A JP 2004149910 A JP2004149910 A JP 2004149910A JP 4522143 B2 JP4522143 B2 JP 4522143B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibrating body
vibration
gravity
axis
vacuum gauge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004149910A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005331362A (ja
Inventor
真人 根岸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2004149910A priority Critical patent/JP4522143B2/ja
Publication of JP2005331362A publication Critical patent/JP2005331362A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4522143B2 publication Critical patent/JP4522143B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

本発明は、減圧チャンバや真空チャンバ等の雰囲気圧力を計測する真空計に関し、特に高、中真空領域の真空度を高精度で測定するのに適した真空計に関するものである。
従来の真空計は、特許文献1に開示されているように、振動体と支持体をエッチングにより一体形成した構造および制御回路を備える。
例えば図12に示すように、一枚の板103をくりぬいて形成されるトーションバー101と振動体102を有する構造体と、加振用の電極105と回路108、検出用の電極106と回路109、および制御回路110を支持する基板104を有し、トーションバー101に弾性支持された振動体102を振動させ、そのときの振動振幅が最大になる周波数、すなわち共振周波数を測定することにより、真空度を測定する装置が開発されている。
このように、真空内で振動体を振動させると共振周波数が真空度によって変化する現象や、中真空度以上の分子流領域において、雰囲気の粘性が真空度によって変化するため、運動する物体が雰囲気から受ける力が真空度に対応して変化することは知られている。
特許第2518814号公報
上記従来の装置では以下のような未解決の課題があった。
(1)高真空側の感度が悪い。
雰囲気の真空度が上がると、関与する分子の数も減るので振動体が受ける力が極端に小さくなる。その結果振動体の共振周波数の変化も小さくなる。従来方式では共振周波数の変化を測定しているため、感度が悪い。
そして、高真空側の感度が低いので、圧力測定レンジの広い真空計を実現することができない。
(2)加振力の誤差に弱い。
加振用の電極に電圧を供給する制御回路の電気的なノイズは振動体の振動振幅を変化させる。振動振幅の最大値を探索する従来方法では、この電気的なノイズによる振動体の振幅変動の影響を直接受けてしまう。従って真空度の測定結果も加振力の誤差に直接影響されてしまう。
(3)外乱振動に弱い。
外乱振動が加わると振動体が振動する。この振動は電気的なノイズによる加振力の誤差と同様に、真空度の測定結果に影響を及ぼす。特に真空チャンバにおいては、真空ポンプなど、振動源になりやすい機械装置が周辺に配置される機会が多く、真空計が用いられる場所の外乱振動も無視できない。
本発明は、上記従来の技術の有する未解決の課題に鑑みてなされたものであり、高真空でも感度が高く、しかも加振力の誤差や外乱振動があっても安定して測定できる真空計を提供することを目的とするものである。
上記の目的を達成するため、本発明の真空計は、重心を通る第1軸に対して非対称な形状を有する振動体と、前記振動体を前記第1軸に沿って水平支持する弾性体を有するハウジングと、前記重心に作用する駆動力により、前記第1軸に直交する第2軸に沿って前記振動体に並進振動を発生させる加振手段と、前記並進振動に伴って発生する前記振動体の前記第1軸まわりの慣性回転振動を検出する検出手段とを備え、前記検出手段の出力に基づいて前記振動体の周囲の雰囲気圧力を求めることを特徴とする。
加振手段による振動体の並進振動に伴って発生する慣性回転振動は、振動体の周囲の雰囲気から受ける力によって増大する。真空または減圧雰囲気から受ける力は小さいが、振動体の並進振動によって繰り返し力を受けるため、慣性回転振動は確実に増幅され、高真空でも検知することができる。また、外乱はハウジングおよび弾性体を介して振動体の重心へ一時的に作用するのみであるから、振動体の慣性回転振動には影響しない。
検出手段は、振動体が慣性回転振動を始めてから所定の振幅(回転角)に達するまでの時間、あるいは所定の時間が経過するまで加振したときの最大振幅を計測することで、慣性回転振動の振幅が増大する速さを検出するように構成する。
このようにして検出手段の加振力に含まれる誤差を平均化し、その影響を低減することにより、ノイズの少ない高感度な真空計を実現できる。
また、加振手段による振動体の並進振動の共振周波数と慣性回転振動の共振周波数が等しくなるように構成することで、慣性回転振動を拡大し、より一層高感度な真空計を実現できる。
ハウジング、弾性体、振動体を一体の平板構造とすることで、主要部品を一枚の平板から切り出すことが可能となり、検出手段や加振電極等とともに半導体リソグラフィ技術によって簡便かつ低コストに製造できる。
図1に示すように、振動体1は、弾性体である2本の梁2を介してハウジング3に支持される。2本の梁2は振動体1の重心4に対して対称位置に配置され、梁2によって水平支持された振動体1は、重心4を通る第1軸であるY軸のまわりの回転振動が自在である。ハウジング3は、スペーサ5を介してベース基盤6上に支持され、ベース基盤6は、振動体1を加振する加振手段である加振電極7を有し、その加振力(駆動力)の作用線が振動体1の重心4を貫く第2軸であるZ軸に一致するように構成される。振動体1の形状は、回転振動の中心となるY軸に対して非対称であり、加振電極7によって振動体1の重心4をZ方向に往復移動させ、Z方向の振動体1の並進振動に伴う振動体1の慣性回転振動の振幅の変化を検出手段である検出用電極8、9によって検出し、その検出値を、予め用意された参照値と比較することで、真空度を求める。
図2は図1の真空計の測定原理を示す模式図である。振動体1aがトーションバーなどの弾性体2aで支持され、弾性体2aは振動体1aの重心4aを通るY軸上に配置される。振動体1aを剛体とみなすと、一般に振動の運動方程式は重心4aを中心に6つの振動モードに分けて独立に考えることができる。すなわち、図2におけるX、Y、Z軸に沿った並進方向の振動、そして3つの慣性主軸まわりの回転振動である。慣性主軸は振動体1aの重量や形で決まるが、図2のような矩形の形では、ほぼX、Y、Z軸と一致する。以後、方位などの説明のために、原点が重心位置にあり、静止している直交X、Y、Z座標を用いる。
本実施の形態では、上記6つの振動モードのうち、2つの振動モードを使用する。第1の振動モードは図3の(a)に示すように重心4aを含む垂直軸方向の往復振動、すなわちZ方向の並進振動である。
第2の振動モードは上記の並進振動によって発生する図3の(b)に示す水平方向の軸回りの振動、すなわちY軸まわりの慣性回転振動である。振動体1aの形は、回転振動の回転軸であるY軸に対して非対称である。例えば、振動体1aの一部の厚さを厚くすることによって重心位置の左右で非対称な形状となっている。振動体1aに対して、作用線がちょうど重心4aを通るようにZ軸方向の加振力を加える。加振力は、電磁力や静電気の吸引、反発を利用して直接振動体1aに作用させてもよいし、あるいは、弾性体2aを支持しているハウジング全体を上下振動させることも可能である。この時の加振周波数fは、第2の振動モードの固有振動周波数とほぼ同じ周波数とする。この2つの振動は、前述したように第1の振動モードと、第2の振動モードとで、独立して考えることができる。
第1の振動モードである往復変位zによる並進振動だけを考えると、重心4aに作用する加振周波数fの力によって加振され、従来からよく知られているように、このときの固有周波数が雰囲気圧力によって変化する。しかし、この並進振動を利用する真空計では従来技術の未解決の課題を解決できない。なお、加振力のベクトルが重心4aを通るので、この力だけでは第2の振動モードである回転振動が励振されることはない。
第2の振動モードである回転振動は、作用線が重心4aを通る第1の振動モードを加振する力ではなく、第1の振動モードによる並進振動に伴って非対称な形状の振動体1aが雰囲気から受ける力によって加振される慣性回転振動である。
まず雰囲気が超高真空であり、空気の分子がほとんど無い場合を考える。この場合、雰囲気から受ける力が無いため、回転角θによる第2の振動モードが励振されることはない。この時の振動波形を図4の(a)に示す。第1の振動モードで加振すると次第に並進振動の振幅Aが大きくなるが、その振幅は加振するエネルギーと構造材料がもつ減衰がバランスするところで一定になり、それ以上には大きくならない。これに対して第2の振動モードである回転振動は雰囲気から受ける加振力が無いため振動しない。
一方、高、中真空、つまり不完全な真空の場合、振動体1aは雰囲気の中を運動しているので、雰囲気の粘性などの作用により、振動体1aは力を受ける。この力は雰囲気に接している面積によって変わる力なので、外形が非対称な振動体1aは重心4aを挟んで非対称な力を受ける。その結果、第2の振動モードの回転振動が雰囲気からの力で励振される。つまり、第2の振動モードは重心4aの並進振動などには影響されず、雰囲気との相互作用があって初めて励振される振動モードである。
この様子を図4の(b)に示す。雰囲気から受ける力がたとえわずかであっても、繰り返し加振されることによって、少しずつ第2の振動モードの振幅Bが大きくなる。そして、最終的には雰囲気から受けるエネルギーと構造材料がもつ減衰がバランスするところで一定になり、それ以上には大きくならない。
このとき、振幅Bが次第に大きくなっていく速さは雰囲気の粘性によって変化する。雰囲気の粘性が高い場合、雰囲気から受ける力も大きくなるので振幅Bは早く増大し、粘性が低いとゆっくりと大きくなる。雰囲気の粘性は圧力によって変化することが知られているので、振幅Bの大きくなる速さを測定すれば、真空度を求めることができる。
なお、第2の振動モードを加振する力が最大になるのは、第1の振動モードの速度が最大になるところなので、図4の(b)に示すように第1の振動モードである往復振動と、第2の振動モードである回転振動で位相がずれている。
高真空の場合、雰囲気の分子の数が少ないので振動体1aが受ける力は小さいが、たとえわずかな力であっても繰り返し力を受けるため、第2の振動モードである回転振動の振幅Bは図4の(b)に示すように次第に大きくなっていく。しかもこの第2の振動モードを加振する力は、雰囲気から受ける力だけで、外から加える加振力には影響されない。従って微弱な加振力に対しても感度があり、従来例のように高真空領域において測定感度が落ちるおそれはない。
また、第1の振動モードの加振力に誤差があると、第1の振動モードの並進振動が変化するが、この変化が重心4aまわりの回転振動である第2の振動モードに直接影響することはない。静止座標系において、並進方向の運動と、慣性主軸まわりの回転振動では運動を独立に考えてよいからである。
ただし、第1の振動モードの変化によって第2の振動モードを加振する雰囲気からの力が変化する。しかし、雰囲気からの力はもともと小さいので影響も小さい。そして、第2の振動モードの振幅Bが大きくなる速度を測定するのにかかる測定時間の間に小さな変化は積分され、平均される。従って、加振力の誤差に影響されにくい真空度測定が可能である。
外乱振動がこの振動体1aに加わると、その外乱による加振力は弾性体2aを伝わって振動体1aに作用するが、弾性体2aは振動体1aの重心4aを通るY軸上に配置してあるので、結局振動体1aの重心4aに作用する加振力に誤差がある場合と同様に第2の振動モードに直接影響することはない。従って外乱振動に影響されにくい真空度測定が可能である。
また、第1の振動モードと第2の振動モードが同じ共振周波数を持つように形状等を設計することで、より一層感度を上げることができる。加振周波数fを第1の振動モードの共振周波数と同じにすることで振幅を大きくすれば、雰囲気から受ける力も増大するからである。
図1に示すように、振動体1は2つの梁2で両端を支えられ、ハウジング3に支持されている。この構造は例えばリソグラフィおよびエッチング技術を用いて製作する。原点を振動体1の重心4とし、図示上下方向をZ方向、梁2が支える水平方向をY方向とする。振動体1の重心4を通るY軸上に各梁2が配設され、振動体1はY軸に対して非対称な外形を有する。すなわち、Y軸の両側で、振動体1の片側の厚さが厚くて面積が小さく、反対側の厚さが薄くて面積が広い。
この構造がもつ2つの振動モードのうちの、第1の振動モードは、図5の(a)に示すように、重心4が上下するZ方向の変位zによる往復振動モードである。振動体1を支える梁2は重心4に対して対称位置に配置してあるので、図示するように上下に振動する。
第2の振動モードは、重心4を通るY軸のまわりの回転角θによる回転振動モードである。物体の運動は一般に、重心の並進運動と、重心まわりの回転運動とに分けて考えることができるので、第1の振動モードが振動していても、第2の振動モードを独立して考えられる。第2の振動モードを加振するのは雰囲気から受ける力である。特に上下方向に振動している振動体は雰囲気の粘性に応じた力を受ける。その結果、振動の振幅は次第に大きくなる。
図1に示すように、振動体1、梁2、ハウジング3は導電性材料で製作し電気的に導通させておく。このような材料として例えば導電性を上げるために不純物をドープしたシリコンが使用可能である。ハウジング3は、絶縁体のスペーサ5を介してベース基盤6に接合される。絶縁体材料として、例えばシリコンと陽極接合により簡単に接合できるガラスが使用可能である。
ベース基盤6には、振動体1を加振するための加振電極7が配設される。加振電極7は、振動体1の重心位置に対して対称な形状を有し、発生する力のZ方向の合力ベクトルが重心4を通るように配置する。すなわち、重心4の真下に配置する。このとき、スペーサ5をベース基盤6とハウジング3の間に挟んでいるので加振電極7と振動体1は接触しない。
ベース基盤6には振動体1の位置、姿勢を検出するための第1の検出用電極8と第2の検出用電極9を設ける。スペーサ5をベース基盤6とハウジング3の間に挟んでいるので検出用電極8、9と振動体1は接触しない。
加振回路10をベース基盤6上に設け、ハウジング3と加振電極7に接続する。これはハウジング3と加振電極7の間に電圧をかける電圧源であり、その電圧を制御することにより、振動体1と加振電極7の間で両者が引き合う静電力を発生する。この力により振動体1を加振する。第1の検出回路11をベース基盤6上に設け、ハウジング3と第1の検出用電極8に接続する。これはハウジング3と第1の検出用電極8の間の静電容量を検出する電気回路であり、その出力は振動体1と第1の検出用電極8の間の距離を表す。
第2の検出回路12をベース基盤6上に設け、ハウジング3と第2の検出用電極9に接続する。これはハウジング3と第2の検出用電極9の間の静電容量を検出する電気回路であり、その出力は振動体1と第2の検出用電極9の間の距離を表す。
制御回路13をベース基盤6上に設け、加振回路10、第1の検出回路11、第2の検出回路12を接続する。制御回路13の中ではこの検出回路11、12からの信号を次のように加工する。振動体1の重心4と第1の検出用電極8とのベース基盤6上に投影した距離をLa とし、振動体1の重心4と第2の検出用電極9とのベース基盤6に投影した距離をLb とする。第1の検出回路11の出力をSa 、第2の検出回路12の出力をSb とすると、振動体1の第1の振動モードの振幅信号S1 、すなわち、上下振動は重心位置の上下運動なので次式で計算する。
1 =(Lb a +La b )/(La +Lb
また、振動体1の第2の振動モードの振幅信号S2 、すなわち、Y軸まわりの回転振動は次式で回転角を計算する。
2 =Sb /Lb −Sa /La
以上の構成において、真空度の測定動作を図6のフローチャートを用いて説明する。この測定シーケンスは制御回路13によって、発生させるものである。ステップ100で、振幅信号S1 、S2 が充分小さいか判断する。つまり振動体1が振動していないことを確認する。ステップ101でもしも振動していたら時間待ちし、それでも振動していたらエラー停止する。ステップ102でコントローラ内部にタイマーを設け、そのタイマーをゼロにリセットする。
ステップ103でタイマーを起動させ、さらに、加振回路10を用い、加振電極7と振動体1の間に加振周波数fの交流電圧をかける。このとき、加振電極7で発生する静電力ベクトルが振動体1の重心4を通るように、加振電極7を配置してあるので、振動体1の第1の振動モードは加振されるが、第2の振動モードは加振されることなく、振動体1の第1の振動モードのみが加振周波数fで振動しはじめる。
この時の第1および第2の振動モードの振幅は前述した振幅信号S1 、S2 で表わされる。この加振力は、作用線が重心4を貫いているので第2の振動モードを加振することはない。つまり振幅信号S1 はこの加振力によって出力されるが、振幅信号S2 はこの加振力のみによっては出力されない。
ステップ104で第2の振動モードによる回転振動が生じ、雰囲気から受ける力によって、次第に振幅が大きくなる。第2の振動モードの振幅信号S2 が所定の振幅に達するか、タイマーが所定の時間に達するまで待つ。ここで所定の振幅とは第1の検出回路11、または第2の検出回路12がオーバーフローしない範囲で決める。また、所定の振幅は振動体1と各電極7、8、9とが接触しない範囲で決める。例えば10μmといった値である。また、所定の時間とは、真空計が測定を開始してから測定結果を出力するまでの時間であり、例えば10秒といった値である。
ステップ105で振幅信号S2 をタイマーの値で割ったもの、すなわち、振幅信号S2 が大きくなる速さを計算し、予め用意した、振動振幅が大きくなる速さと真空度との対応表から、参照値と比較して真空度を求める。この表は、真空容器に高精度真空計と本真空計を取り付け、両者を比較することにより容易に求めることができる。
本実施例の真空計によれば、真空度が高くなると、雰囲気から受ける力も小さくなるが、第2の振動モードは繰り返し力を受けるので振幅が次第に大きくなる。すなわち、フローチャートのステップ104で説明したように、時間がたつにつれ、振幅が大きくなる。従って高真空領域の雰囲気から受けるわずかな力でもその効果を累積することにより、高感度な真空計を実現できる。
また、加振力に誤差があると、振動体が上下動する並進振動の振幅や周波数が変わるが、それが直接測定誤差にはならない。静止座標系において並進方向の運動と、慣性主軸まわりの回転振動では運動を独立に考えてよいからである。ただし、第1の振動モードの変化によって第2の振動モードを加振する雰囲気からの力が変化する。しかし、雰囲気からの力はもともと小さいので影響も小さい。しかも、フローチャートのステップ104で説明したように、第2の振動モードの振幅が大きくなるまでの時間は誤差が平均化されると考えてよい。従って加振する力の誤差に影響されにくい真空度測定が可能である。
この真空計を設置する環境が振動していた場合、ハウジングが振動することになる。その振動は梁を伝わり振動体に伝達されるが、梁が重心に対して対称な位置に配置してあるので第1の振動モードは加振されても第2の振動モードを加振することはない。そして、第2の振動モードの振幅の変化を測定するので、設置環境の外乱振動の影響を受けにくい真空計を実現できる。
本実施例では振動体の形を矩形としたが、重心を通る回転軸に対して非対称な形ならば、雰囲気から受ける力も非対称なので、例えば振動体の角が丸まっていても同じ効果がある。
また、本実施例において第1の振動モードと、第2の振動モードの共振周波数が同じになるように設計すると、振動体は共振により第1の振動モードで非常に大きな振幅で振動することになる。従って雰囲気から受ける力も大きくすることができ、真空計の感度を向上させることができる。
この時の設計は梁の形状を変えることにより実現可能である。例えば梁の厚さ、幅、長さを変えることにより、第1の振動モードの共振周波数を支配する梁の曲げ剛性と、第2の振動モードの共振周波数を支配する梁のねじれ剛性とを調節することができる。その結果、第1、第2の振動モードの共振周波数が同じになるように設計することが可能となる。
図7は実施例2を示す。実施例1では、振動体1を支える梁2は振動体1を両端で支えていたが、その一方をカットし、振動体1を1本の梁2で支える構造である。第1の振動モードは、片持ち梁となるので支点が梁2の根元付近にある往復振動であり、第2の振動モードはY軸回りの回転振動である。その他の構成と作用は実施例と同様であるから説明を省略する。
本実施例によれば、実施例1に比べて、片持ち梁の構造なので第1の振動モードの共振周波数を容易に下げることができる。共振周波数を下げると並進振動の振幅を大きくしやすいため、雰囲気から受ける力を大きくできる。
また、実施例1の場合と同様に、第1の振動モードの共振周波数と第2の振動モードの共振周波数を一致させることにより、真空計の感度を向上できる。このとき、片持ち梁の構成が両持ち梁の構成に加わったことで設計の自由度を向上することができ、設計がより簡単になるという利点が付加される。
図8は実施例3を示す。実施例1、2では振動体の厚さを変化させることによって非対称な振動体を構成していたが、本実施例は同じ厚さで非対称な振動体21を構成するものである。振動体21、梁22およびハウジング23は1枚の、一様な厚さの薄板構造である。2つの梁22はY軸上に配設され、振動体21はY軸上に重心24を有する。振動体21の厚さが一定なため、Y軸の左右で面積が等しくなるように外形を設計する。すなわち、左側はY軸である回転軸に近い範囲とし、右側は回転軸から遠い範囲まで伸ばすことによって、左右で非対称な形状とする。
本実施例では、実施例1、2に比べて、厚さが一定なのでフォトリソグラフィ技術で容易に製作できるという長所がある。
また、厚さが一定であるため、寸法誤差になるのは水平方向の寸法ずれだけである。従って、厚さと寸法ずれの両方から誤差の影響を受ける実施例1、2に比べて、本実施例ではより高精度に振動体を形成できる。その結果、誤差要因のひとつである、重心位置のずれが少なくなり、より高精度な真空計を作成することができる。
図9は実施例4を示す。実施例1では加振電極を振動体の重心位置に対応して1個、重心位置の真下に配置したが、本実施例では2つの加振電極37a、37bを用いる。そして配置する位置を振動体31の重心位置の真下から両側へ等距離とし、各加振電極37a、37bを第1、第2の加振回路40a、40bに接続する。加振回路40a、40bは電圧分配回路44に接続し、電圧分配回路44を制御回路13に接続する。電圧分配回路44は制御回路13からの電圧信号を一定の比で電圧分配し、第1および第2の加振回路40a、40bに出力する。その結果、加振電極37aおよび37bに発生する電圧は一定の比となる。
実施例1と同じように、図6のフローチャートに従い振動体31を加振する。このとき、2つの加振電極37a、37bにかける電圧の比を調節することにより、加振力の合力ベクトルがちょうど重心位置を通るように調節することができる。つまり、実施例1では加振電極を形成する位置誤差と寸法誤差によって、加振力と重心位置がずれる懸念があったが、本実施例ではこのずれを、電圧分配する電圧の比で調節することができる。
従って、加振電極や振動体の寸法誤差を許容することができ、真空計の製作を容易にできる。また、この調節により、加振力と重心とを精密に調整できるようになるため、より精度の高い真空計を構成することができる。
電圧分配回路の電圧分配の比は、超高真空チャンバにこの真空計を取り付け、支持値がゼロ、すなわち第2の振動モードの信号が出力されないように電圧分配比を調節すれば、容易に決定できる。
図10は実施例5を示す。実施例1では加振電極と振動体の間に発生する静電力を利用して振動体を加振していたが、本実施例ではベース基盤56を支持するピエゾ素子57によって加振する。振動体51は2本の梁52で両端を支えられ、ハウジング53に支持されている。この構造は例えばリソグラフィおよびエッチング技術を用いて製作する。原点を振動体51の重心53とし、図示上下方向をZ方向、梁52が支える方向をY方向とする。振動体51の重心54を通るY軸上に梁52が配設され、振動体51はY軸に対して非対称になっている。すなわち、片側の厚さが厚くて面積が小さく、反対側の厚さが薄くて面積が広い。
この構造がもつ第1の振動モードは、重心54が上下する往復振動モードである。振動体51を支える2本の梁52は重心54に対して対称位置に配置してあるので、図示するように上下に振動する。
第2の振動モードは、重心54を通るY軸まわりの回転振動である。物体の運動は一般に、重心の並進運動と、重心回りの回転運動とに分けて考えることができるので、第1の振動モードが振動していても、第2の振動モードを独立して考えられる。第2の振動モードを加振するのは雰囲気から受ける力である。特に上下方向に振動している振動体51は雰囲気の粘性に応じた力を受ける。その結果、振動振幅は次第に大きくなる。
振動体51、梁52、ハウジング53は導電性材料で製作し電気的に導通させておく。このような材料として例えば導電性を上げるために不純物をドープしたシリコンが使用可能である。ハウジング53は、絶縁体のスペーサ55を介してベース基盤56に接合される。絶縁体材料として、例えばシリコンと陽極接合により簡単に接合できるガラスが使用可能である。
ベース基盤56にピエゾ素子57を固定し、ピエゾ素子57はベース板66上に支持される。加振回路60をベース基盤56上に設け、加振回路60からの電圧信号をアンプ67を設けてこれに接続し、アンプ67の出力をピエゾ素子57に接続する。
第1の検出回路61をベース基盤56上に設け、ハウジング53と第1の検出用電極58に接続する。これはハウジング53と第1の検出用電極58の間の静電容量を検出する電気回路であり、その出力は振動体51と第1の検出用電極58の間の距離を表す。第2の検出回路62をベース基盤56上に設け、ハウジング53と第2の検出用電極59に接続する。これはハウジング53と第2の検出用電極59の間の静電容量を検出する電気回路であり、その出力は振動体51と第2の検出用電極59の間の距離を表す。
制御回路63をベース基盤56上に設け、加振回路60、第1の検出回路61、第2の検出回路62を接続する。制御回路63の中では検出回路61、62からの信号を次のように加工する。振動体51の重心54と第1の検出用電極58とのベース基盤56に投影した距離をLa とし、振動体51の重心54と第2の検出用電極59とのベース基盤56に投影した距離をLb とする。第1の検出回路61の出力をSa 、第2の検出回路62の出力をSb とすると、振動体51の第1の振動モードの振幅信号S1 、すなわち、上下振動は重心位置の上下運動なので次式で計算する。
1 =(Lb a +La b )/(La +Lb
また、振動体51の第2の振動モードの振幅信号S2 、すなわち、Y軸まわりの回転振動は次式で回転角を計算する。
2 =Sb /Lb −Sa /La
以上の構成において、真空度の測定動作は図6のフローチャートと同様のフローで行われる。この測定シーケンスは制御回路63によって、発生させるものである。ステップ200で、振幅信号S1 、S2 が充分小さいか判断する。つまり振動体51が振動していないことを確認する。ステップ201でもしも振動していたら時間待ちし、それでも振動していたらエラー停止する。ステップ202でコントローラ内部にタイマーを設け、そのタイマーをゼロにリセットする。
ステップ203でタイマーを起動させ、さらに、加振回路60を用い、アンプ67に加振周波数fの交流電圧を出力する。アンプ67はこの電圧を増幅した電圧をピエゾ素子57にかける。ピエゾ素子57は印加された電圧に応じて伸縮するので、ベース基板56全体を振動させる。ベース基板56全体が振動すると、その振動は、スペーサ55、ハウジング53、梁52と伝わり、振動体51を振動させる。このとき、梁52が重心54に対して対称な位置に配置してあるので第1の振動モードは加振されるが、第2の振動モードは加振されない。その結果、振動体51の第1の振動モードが加振周波数fで振動しはじめる。
この時の第1および第2の振動モードの振幅は前述した振幅信号S1 、S2 である。この加振力は、作用線が重心54を貫いているので第2の振動モードの振幅を加振することはない。つまり振幅信号S1 はこの加振力によって出力するが、振幅信号S2 はこの加振力のみによっては出力されない。
ステップ204で第2の振動モードの振幅は雰囲気から受ける力によって、次第に振幅が大きくなる。振幅信号S2 が所定の振幅に達するか、タイマーが所定の時間に達するまで待つ。ここで所定の振幅とは第1の検出回路61、または第2の検出回路62がオーバーフローしない範囲で決める。また、所定の振幅は振動体51と各電極57、58、59とが接触しない範囲で決める。例えば10μmといった値である。また、所定の時間とは、本真空計が測定を開始してから測定結果を出力するまでの時間であり、例えば10秒といった値である。
ステップ205で振幅信号S2 をタイマーの値で割ったもの、すなわち、振幅信号S2 が大きくなる速さを計算する。予め用意した、振動振幅が大きくなる速さと真空度との対応表から、真空度を求める。この表は真空容器に高精度真空計と本真空計とを取り付け、両者を比較することにより容易に求めることができる。
以上のように真空計を構成すれば、加振をピエゾ素子で行うので大きな力で加振できる。従ってより周波数が高く、振幅が大きい振動が可能となる。振動体の振動が大きくなるにつれて、雰囲気から振動体が受ける力も大きくなる。雰囲気から振動体が受ける力が大きくなるので、第2の振動モードを加振する力も大きくなり、その振幅が大きくなる。このようにして、より一層感度の高い真空計を実現することができる。
図11は実施例6を示す。実施例5ではベース基盤を支持するピエゾ素子を1個用いたが、本実施例では複数のピエゾ素子77a、77bを用いる。そして配置する位置を振動体51の重心位置の真下から両側へ等距離とし、各ピエゾ素子77a、77bを電圧分配回路84に接続する。電圧分配回路84は制御回路63からアンプ67を経て送信される電圧信号を一定の比で電圧分配し、ピエゾ素子77a、77bを駆動する。
振動体51を加振するとき、2つのピエゾ素子77a、77bにかける電圧の比を調節することにより、加振力の合力ベクトルの作用位置を調節することができる。つまり、加振力と振動体51の重心位置がずれる懸念があっても、電圧分配する電圧の比で調節することができる。
従って、振動体等の寸法誤差を許容することができ、真空計の製作を容易にできる。また、この調節により、加振力と重心とを精密に調整できるようになるため、より精度の高い真空計を構成することができる。
電圧分配回路の電圧分配の比は、超高真空チャンバにこの真空計を取り付け、支持値がゼロ、すなわち第2の振動モードの信号が出力されないように電圧分配比を調節すれば、容易に決定できる。
実施例1による真空計を分解して示す分解斜視図である。 実施例1の基本構造を説明する模式図である。 図2の装置の第1および第2の振動モードを説明する図である。 第1および第2の振動モードの振動波形を示すものである。 実施例1における第1および第2の振動モードを説明する図である。 実施例1の測定動作を説明するフローチャートである。 実施例2による真空計を分解して示す分解斜視図である。 実施例3の主要部を示す部分平面図である。 実施例4による真空計を分解して示す分解斜視図である。 実施例5による真空計を分解して示す分解斜視図である。 実施例6による真空計を分解して示す分解斜視図である。 一従来例を示す図である。
符号の説明
1、1a、21、31、51 振動体
2、22、52 梁
2a 弾性体
3、23、53 ハウジング
4、4a、24、54 重心
5、55 スペーサ
6、56 ベース基盤
7、37a、37b 加振電極
8、58 第1の検出用電極
9、59 第2の検出用電極
10、40a、40b、60 加振回路
11、61 第1の検出回路
12、62 第2の検出回路
13、63 制御回路
44、84 電圧分配回路
57、77a、77b ピエゾ素子
66 ベース板
67 アンプ

Claims (7)

  1. 重心を通る第1軸に対して非対称な形状を有する振動体と、前記振動体を前記第1軸に沿って水平支持する弾性体を有するハウジングと、前記重心に作用する駆動力により、前記第1軸に直交する第2軸に沿って前記振動体に並進振動を発生させる加振手段と、前記並進振動に伴って発生する前記振動体の前記第1軸まわりの慣性回転振動を検出する検出手段とを備え、前記検出手段の出力に基づいて前記振動体の周囲の雰囲気圧力を求めることを特徴とする真空計。
  2. 検出手段が、振動体の慣性回転振動の振幅が増大する速さを検出するように構成されていることを特徴とする請求項1記載の真空計。
  3. 第2軸に沿った振動体の並進振動の共振周波数と第1軸まわりの慣性回転振動の共振周波数が等しいことを特徴とする請求項1または2記載の真空計。
  4. ハウジングと弾性体と振動体が一体である平板構造を有し、前記弾性体が、前記振動体の重心を通る第1軸上に配設された少なくとも1本の梁を備えていることを特徴とする請求項1ないし3いずれか1項記載の真空計。
  5. スペーサを介してハウジングを支持するベース基盤が設けられており、加振手段が、振動体に対向するように前記ベース基盤上に配設された加振電極を有することを特徴とする請求項1ないし4いずれか1項記載の真空計。
  6. 加振手段が、ハウジングと弾性体と振動体とを一体的に往復移動させるピエゾ素子を有することを特徴とする請求項1ないし4いずれか1項記載の真空計。
  7. 加振手段が、個別に制御自在である複数の加振電極または複数のピエゾ素子を有することを特徴とする請求項1ないし6いずれか1項記載の真空計。
JP2004149910A 2004-05-20 2004-05-20 真空計 Expired - Fee Related JP4522143B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004149910A JP4522143B2 (ja) 2004-05-20 2004-05-20 真空計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004149910A JP4522143B2 (ja) 2004-05-20 2004-05-20 真空計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005331362A JP2005331362A (ja) 2005-12-02
JP4522143B2 true JP4522143B2 (ja) 2010-08-11

Family

ID=35486120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004149910A Expired - Fee Related JP4522143B2 (ja) 2004-05-20 2004-05-20 真空計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4522143B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5151935B2 (ja) * 2008-11-28 2013-02-27 富士電機株式会社 真空計
JP5151934B2 (ja) * 2008-11-28 2013-02-27 富士電機株式会社 真空計
JP2011021964A (ja) * 2009-07-15 2011-02-03 Mtc:Kk 密封性能測定装置
CN113008453A (zh) * 2021-03-09 2021-06-22 中国科学院空天信息创新研究院 基于谐振器的真空度检测方法、***及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01110232A (ja) * 1987-10-23 1989-04-26 Mitsubishi Electric Corp 粘性真空計
JP2518814B2 (ja) * 1985-04-08 1996-07-31 株式会社日立製作所 真空計
JPH08292207A (ja) * 1995-04-12 1996-11-05 Sensonor As 力センサー
JPH0996552A (ja) * 1995-09-29 1997-04-08 Omron Corp センサ装置
JPH09269249A (ja) * 1996-03-29 1997-10-14 Omron Corp センサ装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2518814B2 (ja) * 1985-04-08 1996-07-31 株式会社日立製作所 真空計
JPH01110232A (ja) * 1987-10-23 1989-04-26 Mitsubishi Electric Corp 粘性真空計
JPH08292207A (ja) * 1995-04-12 1996-11-05 Sensonor As 力センサー
JPH0996552A (ja) * 1995-09-29 1997-04-08 Omron Corp センサ装置
JPH09269249A (ja) * 1996-03-29 1997-10-14 Omron Corp センサ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005331362A (ja) 2005-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4288071B2 (ja) ヨーレートセンサ
KR101518405B1 (ko) 교정 유닛들을 구비한 코리올리 자이로스코프와 직교 바이어스를 감소시키기 위한 방법
CN102947674B (zh) 用于角速率传感器的mems结构
US6484578B2 (en) Vibrating beam accelerometer
JP4433747B2 (ja) 角速度検出装置
US9366535B2 (en) Vibration gyro element, gyro sensor, and electronic apparatus
TWI391662B (zh) Vibration type sensor
JP3327150B2 (ja) 共振型角速度センサ
JP2008545128A (ja) 振動質量体の運動の示差測定のための微細機械加工されたジャイロメータセンサ
US7770451B2 (en) Angular velocity detecting device
US10371520B2 (en) Quadrature compensation method for MEMS gyroscopes and a gyroscope sensor
JP3102320B2 (ja) センサ装置
EP2783222A1 (en) Mems inertial sensor and method of inertial sensing
JP2010117342A (ja) 圧力センサー及び受圧手段
JP2014134549A (ja) 振動型微小機械角速度センサおよび振動型角速度センサの作製方法
JP2000046560A (ja) 角速度センサ
US8104344B2 (en) Angular velocity sensor utilizing coriolis force
JPH10221083A (ja) 振動型ジャイロ装置
JP4522143B2 (ja) 真空計
CN111065889A (zh) 振动陀螺仪
JP2012149961A (ja) 振動ジャイロ
US9753057B2 (en) Acceleration sensor
JP5631529B2 (ja) 加速度センサ
JP2001082964A (ja) 共振素子
JP2012202799A (ja) バイアス安定性に優れた振動型ジャイロ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070509

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20090527

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100402

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100511

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100525

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees