JP4522140B2 - 指標配置情報推定方法および情報処理装置 - Google Patents

指標配置情報推定方法および情報処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4522140B2
JP4522140B2 JP2004144891A JP2004144891A JP4522140B2 JP 4522140 B2 JP4522140 B2 JP 4522140B2 JP 2004144891 A JP2004144891 A JP 2004144891A JP 2004144891 A JP2004144891 A JP 2004144891A JP 4522140 B2 JP4522140 B2 JP 4522140B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
index
constraint condition
information
plane
correction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004144891A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005327103A (ja
Inventor
大輔 小竹
晋二 内山
清秀 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2004144891A priority Critical patent/JP4522140B2/ja
Priority to US11/126,916 priority patent/US7657065B2/en
Priority to DE602005023374T priority patent/DE602005023374D1/de
Priority to EP05252877A priority patent/EP1596329B1/en
Priority to CNB200510068067XA priority patent/CN100338632C/zh
Publication of JP2005327103A publication Critical patent/JP2005327103A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4522140B2 publication Critical patent/JP4522140B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

本発明は、3次元空間中に配置した指標の配置情報を推定するものに関する。
近年、複合現実感(Mixed Reality;MR)技術の研究が盛んである。MR技術は、現実空間とコンピュータによって作られる仮想空間を継ぎ目なく融合する技術である。MR技術の中でも、現実空間に仮想空間を重ね合わせて表示するAugmented Reality(AR、拡張現実感、増強現実感とも呼ばれる)技術が特に注目を集めている。
ARの画像表示装置は、ビデオカメラ等の撮像装置によって撮影された現実空間の画像に、該撮像装置の位置及び姿勢に応じて生成された仮想空間(コンピュータグラフィクスにより描画された仮想物体や文字情報等)の画像を重畳描画した合成画像を表示するビデオシースルー方式か、あるいは観察者の頭部に装着された光学シースルー型ディスプレイに、観察者の視点の位置及び姿勢に応じて生成された仮想空間の画像を表示する光学シースルー方式によって実現される。
AR技術は、患者の体表面に体内の様子を重畳表示する手術支援や、空き地に仮想のビルを重畳表示する建築シミュレーション、組立作業時に作業手順や配線の様子を重畳表示する組み立て支援等様々な分野への応用が期待される。
AR技術において最も重要な課題の一つは、現実空間と仮想空間の間の位置合わせをいかに正確に行うかということであり、従来より多くの取り組みが行われてきた。ARにおける位置合わせの問題は、ビデオシースルー方式の場合はシーン中における(すなわち基準座標系における)撮像装置の位置及び姿勢を求める問題に帰結する。同様に、光学シースルー方式の場合は、シーン中における観察者の視点あるいはディスプレイの位置及び姿勢を求める問題に帰結する。
前者の問題を解決する方法として、シーン中に複数の指標を配置あるいは設定し、撮像装置が撮影した画像内における指標の投影位置と指標の基準座標系における位置との対応関係から、基準座標系における該撮像装置の位置及び姿勢を求めることが一般的に行われている。また、後者の問題を解決する方法として、計測対象物(すなわち観察者の頭部あるいはディスプレイ)に撮像装置を装着し、前者と同様な方法によって該撮像装置の位置及び姿勢を求め、それに基づいて計測対象物の位置及び姿勢を求めることが一般的に行われている。
図1を用いて、撮像装置が撮影した画像から検出される指標の2次元座標と、基準座標系における指標の3次元位置とを対応づけることで該撮像装置の位置及び姿勢を計測する位置姿勢計測装置の従来例について説明する。図1に示すように、本従来例における位置姿勢計測装置100は、指標検出部110及び位置姿勢算出部120によって構成されており、撮像装置130に接続されている。
また、現実空間中には、撮像装置130の位置姿勢を求めるための指標として、基準座標系における位置が既知であるK個の指標Q(k=1,2,・・・,K)が配置されている。図1の例は、4個の指標Q、Q、Q、Qが配置されており、そのうちの3個Q、Q、Qが撮像装置130の視野内に含まれている状況を示している。
指標Qは、例えば各々が異なる色を有する円形状のマーカなど、撮影画像内における指標の投影位置が検出可能であって、かつ何れの指標であるかが同定可能であるような指標であれば何れの形態であってもよい。例えば3次元空間中の自然特徴点を指標として用い、撮影画像内からテンプレートマッチングによって検出してもよい。撮像装置130が出力する画像は、位置姿勢計測装置100に入力される。指標検出部110は、撮像装置130により画像を入力し、該画像上に撮影されている指標Qの画像座標を検出する。例えば、指標Qの各々が異なる色を有する円形状のマーカによって構成されている場合には、入力画像上から各々のマーカ色に対応する領域を検出し、その重心位置を当該指標の検出座標とする。
さらに指標検出部110は、検出された各々の指標Qknの画像座標uMknとその識別子kを位置姿勢算出部120へと出力する。ここで、n(=1,2,・・・,N)は検出された指標の通し番号を表す記号であり、Nは検出された指標の総数を表している。例えば図1の場合には、N=3であり、識別子k=1、k=3、k=4とこれらに対応する画像座標uMk1、uMk2、uMk3、が出力される。
位置姿勢算出部120は、検出された各々の指標Qknの画像座標uMknと、既知な情報として予め保持している当該指標Qknの基準座標系における位置との対応関係に基づいて、撮像装置130の位置及び姿勢を算出する。指標の3次元座標と画像座標の組から撮像装置の位置及び姿勢を算出する方法は、写真測量の分野において古くから提案されている(例えば、非特許文献1、非特許文献2を参照)。位置姿勢算出部120は、例えば非特許文献1に記載の手法によって、撮像装置130の位置及び姿勢を算出する。
なお、ここでは複数の3次元空間中の点としての指標(以下、点指標)を用いる場合について説明したが、例えば非特許文献3、4で開示されているように、大きさが既知の正方形形状の指標(以下、正方形指標)を用いた撮像装置の位置及び姿勢を算出が提案されている。また、例えば非特許文献7で開示されているように、正方形指標と点指標を組み合わせた撮像装置の位置及び姿勢算出方法も提案されている。点指標には狭いところにも設定できるというメリットがあり、正方形指標には同定が簡単である、一つの指標の情報量が多いため一つの指標だけから撮像装置の位置及び姿勢を求めることができるというメリットがあり、相補的に利用することができる。
以上の方法によって、撮像装置が撮影した画像に基づいて、該撮像装置の位置及び姿勢を取得することが従来からなされてきた。
一方、例えば特許文献1、2や非特許文献5で開示されているように、計測対象である撮像装置に磁気センサや超音波センサなどの6自由度位置姿勢センサを取り付け、前述のような画像処理による指標の検出との併用によって位置及び姿勢を計測することも行われている。センサの出力値は測定範囲によって精度は変わるが安定的に得ることができるため、センサと画像処理を併用する方法は、画像処理だけによる方法に比べてロバスト性を向上させることができる。
指標を利用した位置合わせ手法では、計測対象である撮像装置の基準座標系における位置及び姿勢を求めるために、点指標の場合は基準座標系における位置、正方形指標の場合は基準座標系における位置及び姿勢が既知である必要がある。正方形指標の場合には、基準座標系を別途設けることなく、正方形指標そのものを座標系の基準とする場合が多いが、複数の正方形指標を用いる場合には、互いの位置及び姿勢の関係が既知である必要があるため、基準座標系が必要であることに変わりはない。
指標の位置及び姿勢の計測は、巻尺や分度器を用いた手作業や、測量器によって行うことが可能であるが、精度や手間の問題から、画像を利用した計測が行われている。点指標の位置計測は、バンドル調整法と呼ばれる方法で求めることができる。バンドル調整法は、点指標を撮像装置によって多数撮影し、点指標、点指標の画像上での投影点、撮像装置の視点の3点が同一直線上に存在するという拘束条件をもとに、指標が実際に画像上で観察される投影位置と撮像装置の位置及び姿勢と指標の位置から計算される投影位置との誤差(投影誤差)が最小化されるように、繰返し演算によって画像を撮影した撮像装置の位置及び姿勢と、点指標の位置を求める方法である。
また、非特許文献6では3次元空間中に配置された多数の正方形マーカの位置及び姿勢を計測する方法が開示されている。非特許文献6では、3次元空間中に配置された多数の正方形マーカの画像を多数撮影し、投影誤差が最小になるように繰返し演算によって各画像を撮影した撮像装置の位置及び姿勢と、正方形マーカの位置及び姿勢を求めている。
特開平11−084307号公報 特開2000−041173号公報 R.M.Haralick,C.Lee,K.Ottenberg,and M.Nolle:"Review and analysis of solutions of the three point perspective pose estimation problem",Int’l.J. Computer Vision,vol.13,no.3,pp.331−356,1994. M.A.Fischler and R.C.Bolles:"Random sample consensus: a paradigm for model fitting with applications to image analysis and automated cartography",Comm.ACM,vol.24,no.6,pp.381−395,1981. 暦本純一:"2次元マトリックスコードを利用した拡張現実感の構成手法",インタラクティブシステムとソフトウェアIV,近代科学社,1996. 加藤,M.Billinghurst,浅野,橘:"マーカー追跡に基づく拡張現実感システムとそのキャリブレーション",日本バーチャルリアリティ学会論文誌,vol.4,no.4,pp.607−616,1999. A.State,G.Hirota,D.T.Chen,W.F.Garrett and M.A.Livingston:"Superior augmented reality registration by integrating landmark tracking and magnetic tracking",Proc.SIGGRAPH’96,pp.429−438,1996. G.Baratoff,A.Neubeck and H.Regenbrecht:"Interactive multi−marker calibration for augmented reality applications",Proc.ISMAR2002,pp.107−116,2002. H.Kato,M.Billinghurst,I.Poupyrev,K.Imamoto and K.Tachibana:"Virtual object manipulation on a table−top AR environment",Proc.ISAR2000,pp.111−119,2000.
前述した従来の指標の位置及び姿勢の計測手法では、例えば複数の指標が同一平面上にあるといった指標の配置に関する拘束条件がある場合に、計測結果が拘束条件を満たさない場合がある。これは、前述した計測手法が、撮影した画像上での指標の投影誤差を最小化する手法であるため、指標の投影位置の計算に用いるパラメータ(カメラの焦点距離、主点位置、レンズ歪補正パラメータ)や、指標の画像上での観察位置に誤差がある場合には、計測値にも誤差を生じるからである。この結果、例えば同一平面上にあるはずの複数の指標が同一平面上に存在しないという計測結果が得られる。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、指標の配置に関して拘束条件がある場合には、その拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることにある。
上記目的を達成するために本発明は以下の構成を有することを特徴とする。
請求項1記載の発明は、空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置が行う指標配置情報推定方法であって、前記情報処理装置が有する指標検出手段が、指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出工程と、前記情報処理装置が有する拘束条件設定手段が、指標の拘束条件を設定する拘束条件設定工程と、前記情報処理装置が有する指標投影位置計算手段が、前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算工程と、前記情報処理装置が有する補正値計算手段が、前記指標検出工程が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算工程により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定工程により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算工程と、前記情報処理装置が有する配置情報補正手段が、前記補正値計算工程によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正工程と、前記情報処理装置が有する繰り返し演算手段が、前記配置情報補正工程により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算工程の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算工程と前記補正値計算工程と前記配置情報補正工程とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算工程とを備え、前記拘束条件は、指標が未知の同一平面上に存在することであるという拘束条件であり、該拘束条件に固有な平面の方程式によって表現され、該拘束条件を満たす指標の配置情報は、該拘束条件に固有の指標の平面上の位置と平面の法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現される
請求項3に記載の発明は、空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置が行う指標配置情報推定方法であって、前記情報処理装置が有する指標検出手段が、指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出工程と、前記情報処理装置が有する拘束条件設定手段が、指標の拘束条件を設定する拘束条件設定工程と、前記情報処理装置が有する指標投影位置計算手段が、前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算工程と、前記情報処理装置が有する補正値計算手段が、前記指標検出工程が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算工程により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定工程により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算工程と、前記情報処理装置が有する配置情報補正手段が、前記補正値計算工程によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正工程と、前記情報処理装置が有する繰り返し演算手段が、前記配置情報補正工程により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算工程の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算工程と前記補正値計算工程と前記配置情報補正工程とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算工程とを備え、前記空間中に存在する指標は,位置と姿勢をその配置情報とするような、法線方向の定義可能な指標であって、前記拘束条件は、複数の指標の法線ベクトルの方向が同一であるという拘束条件であり、前記拘束条件に固有な法線ベクトルの方程式で表現され、該拘束条件を満たす指標の配置情報は、指標の位置と該法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現されることを特徴とする指標配置情報推定方法。
以上説明したように、本発明によれば、指標の配置に関して拘束条件がある場合には、その拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることで指標の位置及び姿勢を精度よく求めることが可能になる。
また、請求項6記載の発明によれば、指標の配置に関して複数の拘束条件がある場合に、それらの複数の拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることで指標の位置及び姿勢を精度よく求めることが可能になる。
以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態について説明する。
<第一実施形態>
図2は本実施形態における指標位置姿勢推定装置2の機能構成を示すブロック図である。撮像部210はカメラであり、指標が配置されたシーンを撮影する。画像取り込み部220は、撮像部210によって撮影された画像をコンピュータ内に取り込む。画像取り込み部220によってコンピュータ内に取り込まれた画像から、指標検出同定部230によって指標を検出し、検出されたそれぞれの指標の同定を行う。指標配置条件設定部240では、指標の配置に関する拘束条件を設定する。指標位置姿勢算出部250は、指標検出同定部230の指標検出結果を基に、指標配置条件設定部240で設定した指標の配置に関する拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を算出する。
図3は、本実施形態における指標位置姿勢推定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。図3に示したハードウェア構成は通常のパーソナルコンピュータの構成と同等であるが、さらに画像取り込み器310、カメラ311が接続されている。画像取り込み器310はカメラ311で撮影された画像をコンピュータ内に取り込むものであり、画像取り込み部220に対応する。画像取り込み器310は例えばビデオキャプチャボードであるが、カメラで撮影した画像をコンピュータ内に取り込むものであれば何でもよい。CPU301は、ディスク305またはROM306、不図示の光学メディア、外部記憶装置等に保存されているプログラムを実行することにより、指標検出同定部230、指標配置条件設定部240、指標位置姿勢算出部250として機能する。
次に、以上の構成を備えた本実施形態の指標位置姿勢推定装置の動作の概要について述べる。
まず、本実施形態において用いられる指標について説明する。図4は本実施形態で用いられる指標を説明する図である。図4(a)は配置情報が3次元空間における点の位置によって表される点指標である。画像内で検出できるように、点指標は同一色からなる円形形状をとり、その重心位置を点指標の3次元空間における位置であるとする。図4(b)は、配置情報が3次元空間中における位置と姿勢によって表現される平面指標である。本実施形態では、平面指標として正方形指標を用いるが、平面指標は正方形指標に限るものではなく、平面図形様の指標であれば何れの形態であってもよい。正方形指標の3次元空間における位置は、正方形の中心、すなわち2本の対角線の交点であるとする。また、図4(b)に示すように、指標の法線方向をz軸とし、x軸、y軸を指標の二つの辺に平行になるように正方形指標の座標系をとり、基準座標系から見た正方形指標の座標系の姿勢を正方形指標の姿勢とする。本実施形態における正方形指標は画像上で容易に検出可能なように黒枠で囲まれているので、黒枠内部の正方形を正方形指標として用いる。
(1.指標の撮影)
撮像部210において、指標が配置されたシーンの画像を多数撮影する。撮影された画像は画像取り込み部220によってコンピュータ内に取り込まれる。
(2.指標の検出同定)
指標検出同定部20において、コンピュータ内に取り込まれた撮影画像から指標を検出し同定を行う。ここで、指標の検出とは、2次元画像上での指標の画像座標を求めることであり、点指標の場合は画像上での重心の画像座標を、正方形指標では各頂点の画像座標を求める。指標の画像座標は、自動で求めてもよいし、ユーザが画像上をマウスでクリックするなどして手動で指定してもよい。点指標の位置を自動で求める場合には、例えば指標と同一の色を有する画素を該色に対応するYUV色空間画像の特定領域にあるかどうかで抽出し、同一色として連結している画素をラベリングすることで指標領域を求め、画像内での指標領域の重心を計算する。また、正方形指標の各頂点の位置を自動で求める場合には、例えば入力画像を二値化して、正方形指標の黒枠領域を検出し、黒枠領域に内接する四角形を求める。
指標の同定とは、画像内で検出される指標を一意に特定することである。指標の同定は、自動で行ってもよいし、ユーザが手動で行ってもよい。点指標の同定を自動で行う場合には、例えば複数の点指標の色をそれぞれ異なる色にして、指標検出の際の指標領域のラベリング色を基に同定を行う。また、正方形指標の同定を自動的に行う場合には、例えば指標毎に固有のパターンを持つようにすることで同定を行う。
(3.指標配置条件設定)
指標配置条件設定部240において、指標の配置に関する拘束条件を設定する。本実施形態では、指標の配置に関する拘束条件として、複数の指標が同一平面上に存在するという拘束条件を与える。平面は未知の平面であるとし、未知な平面は複数存在するとする。図5は同一平面上に存在する複数の指標を設定するGUIを説明する図である。GUI上には、撮影画像表示部分があり、撮像装置によって撮影された画像が表示される。撮影画像は、撮影画像切替部分のボタンによって表示を切り替えることが可能である。Previousボタンをマウスでクリックすると、一つ前の撮影画像を表示し、Nextボタンをクリックすると一つ後の撮影画像を表示する。ユーザは撮影画像を見ながら、同一平面上にある指標を設定する。撮影画像上では、同定された指標の周辺に、各指標に固有の名前が表示される。図5では、点指標が2つ(図中POINT1、POINT2)、正方形指標(図中SQUARE1、SQUARE2)が2つ撮影されている撮影画像を撮影画像表示部分に表示している場合である。このうち点指標POINT1と正方形指標SQUARE1が同一平面上にあるとする。ユーザは、撮影画像中のPOINT1かSQUARE1のどちらかの指標の周辺をマウスでクリックし、選択する。選択された指標の名前表示は太字に変わる。次に、選択した指標と同一平面に存在する指標の周辺をシフトキーを押しながらマウスを左クリックすることで、同一平面上にある指標をグループ化する。すでに同一平面上に存在するとグループ化されている指標をクリックした場合には、同一グループ内のすべての指標の名前表示が太字に変わる。この状態で、他の指標をシフトキーを押しながら左クリックすると、グループに追加することができる。また、グループ化されている指標の周辺をシフトキーを押しながらマウスを右クリックすると、グループから外れ、シフトキーを押さないで右クリックするとグループ全体が解除される。
(4.指標の位置姿勢算出)
指標の検出同定結果、指標の配置に関する拘束条件をもとに、基準座標系における指標の位置及び姿勢の算出を行う。はじめに透視投影変換について説明する。図6はカメラ座標系及び画面座標系を説明する図である。画面座標系の原点oは視軸と画像面との交点にとり、画像の水平方向をx軸、垂直方向をy軸にとる。また、カメラ座標系の原点oと画像面との距離(焦点距離)をfとし、カメラ座標系のz軸は視軸の反対方向、x軸は画像の水平方向と平行に、y軸は画像の垂直方向と平行にとる。
透視投影変換により、カメラ座標系上の点x=[xは式(2)のように画面座標がu=[uである点に投影される。
Figure 0004522140
本実施形態ではレンズ歪みは存在しないか、もしくは補正されていると仮定し、カメラはピンホールカメラであると想定している。式(2)は、図7に示すように、空間中の点と、該点の画像上の投影点とカメラ位置(視点)は同一直線上に存在することを示しており、共線条件式とも呼ばれる。
基準座標系におけるカメラの位置をt=[t、カメラの姿勢(実際には、カメラ座標系に対する基準座標系の姿勢)をω=[ωωω]であるとする。ωは3自由度の姿勢表現方法であり、姿勢を回転軸ベクトル及び回転角で表現している。回転角をrとすると、rはωによって式(3)のように表される。
Figure 0004522140
また、回転軸ベクトルをraxis=[rとすると、raxisとωの関係は式(4)のように表される。
Figure 0004522140
ω(回転角r、回転軸ベクトルraxis)と3×3回転変換行列Rとの関係は式(5)のように表される。
Figure 0004522140
基準座標系上の点x=[xのカメラ座標xはt、Rによって式(6)のように表される。
Figure 0004522140
式(2)、(6)から、透視投影変換によって、基準座標上の点x=[xは式(7)のように画像上の点u=[uに投影される。
Figure 0004522140
理想的には、t、ω、xをもとに式(7)から計算される投影位置(計算位置)と実際に観察される位置(観察位置)は一致する。そのため、計算位置と観察位置の画像の水平方向のずれをF、垂直方向のずれをG、観察位置をu=[uoxoyとすると、式(8)に示すようにF、Gは0となる。
Figure 0004522140
F、Gはカメラ位置t、カメラ姿勢ω、観察対象点の基準座標上での位置xに関する関数である。ここで、基準座標上での点の位置xは、指標の種類や、平面上に拘束するかどうかによって異なる変数の関数となるため、F、Gも指標の種類や、平面上に拘束するかどうかによって異なる変数の関数となる。以下では、指標を平面上に拘束する場合としない場合に分けて説明する。
(指標を平面上に拘束しない場合)
点指標の場合には、点指標の基準座標系における位置をtpn=[tpnxpnypnzとすると、式(9)に示すように、xとtpnは同じになる。
Figure 0004522140
そのため、式(10)に示すように、F、Gはカメラ位置t、カメラ姿勢ω、点指標の基準座標系における位置tに関する関数となる。
Figure 0004522140
次に正方形指標の場合について説明する。正方形指標は、基準座標系における位置t=[tsxsysz及び基準座標系に対する姿勢ω=[ωsxωsyωsz](ωに対応した3×3回転変換行列をRとする)で表現される。正方形指標の頂点の正方形指標座標系における位置をx=[x0]とする。正方形指標の頂点の基準座標系における位置xは式(11)のようにtとω(R)に関する関数となる。
Figure 0004522140
そのため、式(12)に示すように、F、Gは、カメラ位置t、カメラ姿勢ω、正方形指標の位置t及び正方形指標の姿勢ωの関数となる。
Figure 0004522140
(指標を平面上に拘束する場合)
まず平面の定義方法について説明する。図8に示すように、平面を極座標表現r=[rθφ]によって表現する。平面座標系のz軸は平面の法線方向に平行であり、基準座標系における原点を通過する。平面の姿勢は、y軸まわりの回転θと、x軸まわりの回転φによって定義する。また、rは平面と基準座標系の原点oとの符号付き距離である。平面の姿勢を表す回転行列Rは式(13)のように表される。
Figure 0004522140
また、平面座標系の原点oの基準座標系における位置tpl=[tplxplyplzは、z軸と平面との交点とし、式(14)のように求める。ただし
Figure 0004522140
は平面の法線ベクトルを表す。
Figure 0004522140
上述の極座標表現r=[rθφ]で表される平面座標系上の点x=[x0]の基準座標系における位置xは式(15)のように表される。式(15)から、xはx、rの関数であることがわかる。
Figure 0004522140
平面上に拘束される点指標は、平面座標系上の位置tpl =[tpl pxpl py0]で表される。式(16)のように、xはtpl と同じになる。
Figure 0004522140
そのため、xはtpl 、rの関数であり、F、Gは式(17)に示すように、カメラ位置t、カメラ姿勢ω、点指標の平面上の位置tpl 及び平面のパラメータrの関数となる。
Figure 0004522140
一方正方形指標の場合、平面座標系上の位置tpl =[tpl sxpl sy0]に加えて、正方形指標の法線ベクトルまわりの(すなわち平面座標系のz軸まわりの)回転θplで表されるため、正方形指標の頂点の正方形指標座標系における位置をx=[x0]とすると、その平面座標xは式(18)のように表される。
Figure 0004522140
よってxはtpl 、θpl、rの関数であり、F、Gは式(19)に示すように、カメラ位置t、カメラ姿勢ω、正方形指標の平面上の位置tpl 、正方形指標の平面上での姿勢θpl及び平面のパラメータrの関数となる。
Figure 0004522140
式(10)、(12)、(17)、(19)はカメラの位置及び姿勢、指標の位置及び姿勢、平面のパラメータについて非線形な方程式となっている。そこで、1次の項までのテイラー展開を用いてカメラの位置及び姿勢、指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値の近傍で線形化し、繰返し計算によってカメラの位置及び姿勢、指標の位置及び姿勢、平面のパラメータを求める。
式(20)、(21)、(22)、(23)は、それぞれ式(10)、(12)、(17)、(19)を線形化したものである。Δt、Δt、Δtはカメラの位置、Δω、Δω、Δωはカメラの姿勢、Δtpx、Δtpy、Δtpzは平面に拘束されない点指標の位置、Δtsx、Δtsy、Δtszは平面に拘束されない正方形指標の位置、Δωsx、Δωsy、Δωszは平面に拘束されない正方形指標の姿勢、Δtpl px、Δtpl pyは平面に拘束される点指標の平面上での位置、Δtpl sx、Δtpl syは平面に拘束される正方形指標の平面上での位置、Δθplは平面に拘束される正方形指標の平面上での姿勢、Δr、Δθ、Δφは平面のパラメータの近似値に対する補正量を表す。
Figure 0004522140
Figure 0004522140
Figure 0004522140
Figure 0004522140
ここで式(20)、(21)、(22)、(23)のF、Gは定数であり、カメラ位置及び姿勢、点指標の位置または正方形指標の位置及び姿勢、平面パラメータの近似値から求まる指標の投影位置(計算位置)と観察位置uとの差である。
式(20)、(21)、(22)、(23)は、ある画像上で観察される一個の点指標または正方形指標の一個の頂点についての観測方程式である。実際には複数の画像上で複数の点指標や正方形指標の頂点が観察されるため、式(20)、(21)、(22)、(23)は複数得られる。そこで複数の式(20)、(21)、(22)、(23)を、カメラの位置及び姿勢、平面上に拘束されない点指標の位置、平面上に拘束されない正方形指標の位置及び姿勢、平面上に拘束される点指標の位置、平面上に拘束される正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値に対する補正値についての連立方程式として解き、近似値を補正することを繰り返すことによってカメラの位置及び姿勢、平面上に拘束されない点指標の位置、平面上に拘束されない正方形指標の位置及び姿勢、平面上に拘束される点指標の位置、平面上に拘束される正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータを求める。
図9は、本実施形態における点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢を求める手順を示すフローチャートである。なお、指標を含むシーンの撮影及び撮影画像からの指標抽出及び同定は終了しているものとする。ステップS100では、各画像を撮影したカメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値の設定を行う。ステップS110以降において、ステップS100で設定された近似値を補正するための補正値を求める。ステップS110では、カメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値から、投影誤差を最小化するような各近似値の補正値を同時に求めるための連立方程式の立式を行う。ステップS120では、ステップS110で立式された連立方程式から各近似値の補正値を求める。ステップS130では、ステップS120で求めた補正値によって近似値を補正し、新たな近似値とする。ステップS140では、ステップS130において補正されたカメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータが最適値に収束しているかどうかの判定を行う。以下、各ステップについて詳細に説明する。
ステップS100において、各画像を撮影したカメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値を入力する。ここで、撮影された画像の枚数をN枚とし、それぞれの画像を撮影したカメラの位置をt=[tixiyiz(i=1,・・・,N)、姿勢をω=[ωixωiyωiz](i=1,・・・,N)とする。また、位置を求める点指標のうち、平面上に拘束されない点指標の数をKp1個、平面上に拘束される点指標の数をKp2個とし、それぞれの点指標の位置をtpi=[tpixpiypiz(i=1,・・・,Kp1)、tpl pi=[tpl pixpl piy(i=1,・・・,Kp2)とする。また、位置及び姿勢を求める正方形指標のうち、平面上に拘束されない正方形指標の数をKs1個、平面上に拘束される正方形指標の数をKs2個とし、それぞれの正方形指標の位置をtsi=[tsixsiysiz(i=1,・・・,Ks1)、tpl si=[tpl sixpl siy(i=1,・・・,Ks2)とし、姿勢をωsi=[ωsixωsiyωsiz](i=1,・・・,Ks1)、θpl (i=1,・・・,Ks2)とする。
カメラの位置及び姿勢の近似値は、カメラに磁気センサのような6自由度位置姿勢センサを装着し、センサの出力値から得てもよいし、基準座標系における位置が既知の点と、該点の画像上での投影位置の対応関係から求めてもよい。基準座標系における位置が既知の点を用いる場合には、シーンには位置が既知の点と、求めようとしている配置情報が未知の指標とが混在していることになる。もしくは、後述する指標の位置および姿勢の近似値を利用して、その値を基にしてカメラの位置姿勢の近似値を求めても良い。
また、モーションコントロールカメラのように機械的にカメラの位置姿勢を得てもよいし、あらかじめ位置姿勢がキャリブレーション済みのカメラを用いて撮影し、そのキャリブレーション結果を用いてもよい。
指標の位置及び姿勢の近似値は、巻尺や分度器、測量器などを用いて手動で測定した概略の値を用いてもよいし、本実施形態の方法等で一度推定された値を用いてもよい。平面上に拘束される指標の位置及び姿勢の近似値は、平面座標系での位置及び姿勢を用いる。
平面のパラメータの近似値は、同一平面上にのる指標がすべて点指標であるならば、点指標の位置の近似値から回帰平面を求めることによって得る。また、同一平面上にのる指標に正方形指標が含まれている場合には、正方形指標を該平面であると仮定して正方形指標の位置及び姿勢から求める。さらに、指標の位置及び姿勢の近似値から求めないで、平面のパラメータをユーザが直接指定してもよい。
次にステップS110において、画像上で観察される指標の数だけ式(20)、(21)、(22)、(23)の観測方程式を立てる。式(20)、(21)、(22)、(23)は、一台のカメラの位置及び姿勢の補正値と、一個の点指標の位置の補正値または一個の正方形指標の位置及び姿勢の補正値と、一個の平面のパラメータの補正値についての観測方程式である。ここでは、式(24)に示すように、N台のカメラの位置及び姿勢、Kp1個の平面上に拘束されない点指標の位置、Kp2個の平面上に拘束される点指標の位置、Ks1個の平面上に拘束されない正方形指標の位置及び姿勢、Ks2個の平面上に拘束される正方形指標の位置及び姿勢、P個の平面のパラメータについての観測方程式を立てる。この場合、未知数となる補正値の数は、(6×N+3×Kp1+2×Kp2+6×Ks1+3×Ks2+3×P)個である。
Figure 0004522140
画像i(i=1,・・・,N)から検出される点指標の数をdpi個、正方形指標の数をdsi個とすると、N枚の画像から検出される点指標の数D、正方形指標のDsは式(25)のようになる。
Figure 0004522140
N枚の画像から検出される点指標の数がD、正方形指標の数がD個である場合には、観測方程式(24)が(D+4×D)組、つまり2×(D+4×D)本の観測方程式が立つ。式(24)の観測方程式の左辺の定数項F、Gを右辺に移項し、連立方程式を立てると、この連立方程式は式(26)のように行列形式で書くことができる。
Figure 0004522140
Jはヤコビ行列と呼ばれ、F、Gのカメラ位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータについての偏微分係数を並べたものである。ヤコビ行列Jの行数は、観測方程式の数2×(D+4×D)個であり、列数は未知数の数(6×N+3×Kp1+2×Kp2+6×Ks1+3×Ks2+3×P)個である。Δは補正値ベクトルである。補正値ベクトルの要素数は未知数の数(6×N+3×Kp1+2×Kp2+6×Ks1+3×Ks2+3×P)個である。Eは誤差ベクトルであり、近似値による投影位置の計算位置と観察位置uの差−F、−Gを要素として持つ。Eの要素数は、観測方程式の数2×(D+4×D)個である。
なお、基準座標系における位置が既知である点指標または位置及び姿勢が既知の正方形指標を同時に撮影することによって、基準座標系の原点、スケール、姿勢を明示的に指定することができる。これらの指標についての式(24)の方程式では、指標の位置及び指標についての偏微分係数の値はすべて0となる。基準座標系の原点、スケール、姿勢を明示的に指定するためには、点指標であれば位置が既知の点指標を3個用いればよく、正方形指標であれば位置及び姿勢が既知の正方形指標を1個用いればよい。
次に、ステップS120においてカメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値に対する補正値を求める。補正値は式(26)から求める。ヤコビ行列Jが正方行列である場合には,式(26)の両辺にJの逆行列をかけることで補正値ベクトルΔを求める。Jが正方行列でない場合には、式(27)に示すように最小二乗法によって補正値ベクトルΔを求める。
Figure 0004522140
ここで、ヤコビ行列Jの各要素の求め方について説明する。まずF=[FG]とおく。式(7)、(8)よりF、Gは式(28)のように書けるので、F、Gはx、y、zの関数である。
Figure 0004522140
F、Gのx、y、zによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(29)のように書ける。
Figure 0004522140
ここで、x、y、zが変数s、s、・・・、sの関数であるならば、F、Gもまたs、s、・・・、sの関数である。F、Gのs、s、・・・、sによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列JFsは、式(30)のように分解することができる。
Figure 0004522140
sをカメラ位置、カメラ姿勢、指標位置、指標姿勢、平面パラメータに置き換えて、
Figure 0004522140
を求めることにより、F、Gのカメラ位置、カメラ姿勢、指標位置、指標姿勢、平面パラメータについての偏微分係数を求めることができる。
F、Gのカメラ位置t、t、tによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列JFtは、式(31)のように書ける。
Figure 0004522140
ただし、姿勢ωと3×3回転変換行列Rの関係は式(5)で表される。
F、Gのカメラ姿勢ω、ω、ωによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列JFωは、式(32)のように分解して書ける。
Figure 0004522140
ここで、
Figure 0004522140
は式(33)に示すようなヤコビ行列である。
Figure 0004522140
また、
Figure 0004522140
は式(34)に示すようなヤコビ行列である。
Figure 0004522140
Figure 0004522140
Figure 0004522140
F、Gの平面上に拘束されない点指標の位置tpx、tpy、tpzによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(37)のように書ける。
Figure 0004522140
F、Gの平面上に拘束されない正方形指標の位置tsx、tsy、tszによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(38)のように書ける。
Figure 0004522140
F、Gの平面上に拘束されない正方形指標の姿勢ωによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(39)のように分解することができる。
Figure 0004522140
Figure 0004522140
は、式(34)〜(36)と同様にして求めることができる。
次に、F、Gの平面上に拘束される点指標の位置tpl px、tpl pyによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(40)のように書ける。
Figure 0004522140
は式(38)内と同様に求められる。
Figure 0004522140
F、Gの平面上に拘束される正方形指標の位置tpl sx、tpl syによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(41)のように書ける。
Figure 0004522140
F、Gの平面上に拘束される正方形指標の姿勢θplによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列
Figure 0004522140
は、式(42)のように書ける。
Figure 0004522140
F、Gの平面のパラメータr、θ、φによる偏微分係数を各要素に持つヤコビ行列JPrは、式(43)のように書ける。
Figure 0004522140
次にステップS140において、収束判定を行う。収束判定は、補正値の絶対値が指定した閾値を下回る、投影位置の計算位置と観察位置の差が指定した閾値を下回る、投影位置の計算位置と観察位置の差が極小となる、などの条件を判定することにより行う。本ステップで収束していると判定された場合、指標の位置及び姿勢推定を終了し、収束していない場合は、ステップS110に戻り、補正されたカメラの位置及び姿勢、点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値をもとに再度連立方程式を立式する。
以上、説明したように、本実施形態では、指標が配置されたシーンの画像を多数撮影し、撮影された画像から指標を検出・同定し、同一平面上に存在する複数の指標を指定し、画像上の指標観察位置と、指標が同一平面上に存在するという拘束条件とから、撮影したカメラの位置及び姿勢、平面上に拘束されない指標の位置及び姿勢、平面上に拘束される指標の位置及び姿勢、平面のパラメータの近似値に対する補正値を求めて近似値を補正する操作を繰返し行うことによって、拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求める。
なお、本実施形態では、平面パラメータはすべて未知であるとしたが、平面パラメータが既知であってもよい。例えば、基準座標系におけるxy平面など、容易に平面パラメータを求めることができる場合は、平面パラメータを既知とすることができる。平面パラメータが既知の場合には、式(22)の平面上に拘束される点指標の観測方程式は式(44)のようになる。
Figure 0004522140
また、式(23)の平面上に拘束される正方形指標の観測方程式は式(45)のようになる。
Figure 0004522140
<第二実施形態>
第一実施形態では、指標の配置に関する拘束条件として、複数の指標が同一平面上に存在するという拘束条件を与えたときに、拘束条件を満たすように指標の位置姿勢を推定方法について説明した。第二実施形態では、複数の指標が同一平面上に存在し、かつそれらの平面のなす角度が既知である場合について説明する。
なお、ここでは平面が二つ存在し、2平面間のなす角度が既知である場合について説明するが、平面の数は二つに限定されるものではない。
図10は、指標が拘束される平面が二つ存在する場合を示している。平面1は第一実施形態で説明したように、基準座標系において極座標表現r=[rθφ]によって表現される。
一方、平面2も極座標表現r=[rθφ]によって表現されるが、θ、φは、平面1に対する相対姿勢であるとする。つまり、平面1をyp1軸まわりにθだけ回転した後、xp1軸まわりにφだけ回転したときの姿勢が、平面2の姿勢であるとする。rは、基準座標系の原点と、平面2との符号付き距離である。このとき、平面1、平面2の姿勢を表す回転行列Rp1、Rp2はそれぞれ式(47)、(48)のように書ける。
Figure 0004522140
Figure 0004522140
ここで、平面1の法線ベクトル
Figure 0004522140
と、平面2の法線ベクトル
Figure 0004522140
のなす角度がαであることから、式(49)が成り立つ。
Figure 0004522140
式(49)から、θ、αよりφを求めることができる。
平面1上に拘束される点指標、正方形指標の観測方程式は、第一実施形態の式(22)、(23)と同じである。一方、平面2はr、θの関数となるため、平面2上に拘束される点指標、正方形指標の観測方程式は、それぞれ式(50)、式(51)のようになる。
Figure 0004522140
Figure 0004522140
本実施形態において指標の位置及び姿勢を求める際には、観測方程式(22)、(23)、(50)、(51)をもとに連立方程式を立て、カメラの位置及び姿勢、指標の位置及び姿勢、平面1の3パラメータ、平面2の2パラメータの近似値に対する補正値を求め、繰返し計算によって近似値を最適化する。なお、式(49)からφを求める際には符号が異なる2つの解が得られるが、繰返し計算ごとに求まるθに対して、2つφの解のうち投影誤差が小さくなる方を解として採用する。
以上説明したように、本実施形態では、指標の配置に関する拘束条件として、複数の指標が同一平面上に存在し、かつそれらの平面のなす角度が既知である場合に、拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることができる。
<第三実施形態>
第三実施形態では、指標の配置に関する拘束条件として、複数の平面図形様の指標の法線ベクトルの方向が同じである場合の、指標の位置及び姿勢推定方法について説明する。
図11は本実施形態を適用可能な指標配置を示す図である。図では、正方形指標が4個配置されており、4個の正方形指標の法線ベクトル、すなわち各正方形指標のz軸の方向が同じであるとする。
正方形指標の法線ベクトルの向きをθ、φで表す。法線ベクトルは、基準座標系のz軸の単位ベクトルをx軸まわりにθだけ回転し、次にy軸まわりにφだけ回転したベクトルであるとする。θ、φは、法線ベクトルが同じ方向である複数の正方形指標にとって共通の値を持つ。個々の正方形指標のz軸まわりの回転をψとすると、正方形指標の基準座標系に対する姿勢Rは式(52)によって表される。
Figure 0004522140
個々の正方形指標の基準座標系における位置をt=[tsxsyszとすると、正方形指標上の点x=[xの基準座標系における位置xは式(53)によって表される。
Figure 0004522140
本実施形態において、正方形指標の各頂点の基準座標系における位置は、法線ベクトルの向きθ、φ、正方形指標のz軸まわりの姿勢ψ、正方形指標の基準座標系における位置tの関数となる。よって、法線ベクトルが拘束される場合の正方形指標の観測方程式は式(54)のようになる。
Figure 0004522140
本実施形態において指標の位置及び姿勢を求める際には、複数の観測方程式(54)をもとに連立方程式を立て、カメラの位置及び姿勢、指標の位置及び姿勢、法線ベクトルの向きθ、φの近似値に対する補正値を求め、繰返し計算によって近似値を最適化する。
以上説明したように、本実施形態では、指標の配置に関する拘束条件として、複数の指標の法線ベクトルの向きが共通である場合に、拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることができる。
<第四実施形態>
第一、第二、第三実施形態では、指標の配置に関する拘束条件の種類を一つとして、指標の位置及び姿勢を求めていた、第四実施形態では、複数の拘束条件が存在する場合の、指標の位置及び姿勢を求める方法について説明する。
図12は、本実施形態を適用可能な指標配置を示す図である。図は、点指標1、正方形指標1が同一平面(平面1)上に存在し、正方形指標2、正方形指標3の法線ベクトルの向きが共通であり、点指標2、正方形指標4は配置に関して拘束条件がない場合を示している。
図12に示すシーンを撮像装置で撮影すると、点指標1については観測方程式(22)が、正方形指標1については観測方程式(23)が、正方形指標2、3については観測方程式(54)が、点指標2については観測方程式(20)が、正方形指標については観測方程式(21)が成り立つ。式(20)〜(23)、(54)は一台のカメラの位置及び姿勢の補正値と、一個の指標の位置及び姿勢、一個の平面のパラメータ、一個の法線ベクトルの向きの補正値についての観測方程式である。本実施形態では、式(55)に示すように、N台のカメラの位置及び姿勢、Kp1個の平面上に拘束されない点指標の位置、Kp2個の平面上に拘束される点指標の位置、Ks1個の平面上に拘束されない正方形指標の位置及び姿勢、Ks2個の平面上に拘束される正方形指標の位置及び姿勢、Ks3個の法線ベクトルが拘束される正方形指標の位置及び姿勢、P個の平面のパラメータ、V個の法線ベクトルの向きの補正値についての観測方程式を立てる。
Figure 0004522140
撮影画像上で検出された点指標及び、正方形指標の各頂点について式(55)の観測方程式を立て連立方程式として解くことにより、カメラ位置t、カメラ姿勢ω、配置に関する拘束のない点指標の位置tpi、配置に関する拘束のない正方形指標の位置tsi、姿勢ωsi、平面上に拘束される点指標の位置tpl pi、平面上に拘束される正方形指標の位置tpl si、姿勢θpl 、法線ベクトルが拘束される正方形指標の位置t si、姿勢ψ、平面のパラメータr、法線ベクトルの向きθ 、φ の近似値についての補正値を同時に求め、繰返し演算によって近似値の補正を繰返して最適化する。
また、本実施形態の指標配置条件を設定するためのGUIは、指標のグループ化と各グループの拘束条件の種類を設定することができる。すなわち、実施形態1において図5を用いて説明したGUIにおいて、さらに拘束条件の種類を設定するためのUIを有している。
以上説明したように、本実施形態では、指標の配置に関する拘束条件が複数存在する場合に、すべての拘束条件を満たすように指標の位置及び姿勢を求めることができる。
<変形例1>
図13に示すように、指標を円筒の側面部分に拘束してもよい。円筒は、円筒の中心に円筒座標系の原点をとり、図のように円筒座標系をとる。円筒の姿勢はx軸まわりの回転θとy軸まわりの回転φで表される。円筒の姿勢を表す回転行列Rcylは式(56)のように表される。
Figure 0004522140
円筒の原点の基準座標系での位置がtcyl=[tcyl cyl cyl ]tとすると、円筒座標系上の点xcyl=[xcylcylcylの基準座標系の位置xは式(57)のようになる。
Figure 0004522140
また、円筒の側面上の点は、z軸まわりの回転角βとz座標d、既知の円筒半径rcylによって、円筒座標系において式(58)のように表せる。
Figure 0004522140
円筒の側面に拘束される指標の投影位置は、カメラの位置及び姿勢、円筒の位置及び姿勢、円筒上での指標の位置β、dについての関数となるので、これらの補正値を求める観測方程式を解くことで、円筒の側面上に拘束された指標の位置を求めることができる。
<変形例2>
図14に示すように、指標を球面上に拘束してもよい。球の中心に球座標系をとる。球は方向性を持たないため、基準座標系に対する位置だけで表される。球座標系の原点の基準座標系での位置がtsph=[tsph sph sph とすると、球座標系上の点xshp=[xshpshpshpの基準座標系の位置xは式(59)のようになる。
Figure 0004522140
また、球面上の点は、既知の円筒半径rsphと角度θ、φによって、球座標系において式(60)のように表せる。
Figure 0004522140
球面に拘束される指標の投影位置は、カメラの位置及び姿勢、球の位置、球面上での指標の位置θ、φについての関数となるので、これらの補正値を求める観測方程式を解くことで、球面上に拘束された指標の位置を求めることができる。
<変形例3>
図15に示すように、指標を直線上に拘束してもよい。直線の通る点t=[tlxlylz、方向ベクトルをd=[dとすると、直線上にある指標の基準座標系の位置は式(61)のように表せる。sは直線上での指標位置を表す変数である。
Figure 0004522140
直線上に拘束される指標の投影位置は、カメラの位置及び姿勢、直線の通る点t、直線の方向ベクトルd、直線上での指標の位置sについての関数となるので、これらの補正値を求める観測方程式を解くことで、球面上に拘束された指標の位置を求めることができる。
<変形例3>
上記実施形態では、指標の配置情報の補正方法として、観測方程式をテイラー展開しその1次の項までを利用して繰り返し補正していく方法を述べた。これは、ある繰り返しの一過程において、局所的に観測方程式を線形近似し、誤差0となると仮定した場合の未知パラメータの補正量を推定する方法であり、一般にニュートン法と呼ばれている方法と等価な方法である。ニュートン法は非線形方程式を数値演算により求解する代表的な方法であるが、上記実施形態に利用する繰り返し演算方法はこの方法に限ったものではない。例えば、ニュートン法と同様に周知の技術として知られているLevenberg−Marquardt法のように、一過程において推定される未知パラメータの補正量のばらつきに基づいて、補正量を動的に変更してもよい。また、テイラー展開した結果をより高次の項まで考慮して、繰り返し演算を行うような方法であっても良い。本発明の本質は、配置情報量の異なる複数種類の指標が混在して存在している場合であっても、それぞれの種類の指標を有効に利用して最適な解を求めることにあり、数値解法としての繰り返し演算の具体的な方法によって本質が失われるものではない。
従来の位置姿勢計測装置を説明する図である。 第一実施形態における指標位置姿勢推定装置2の機能構成を示すブロック図である。 第一実施形態における指標位置姿勢推定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 第一実施形態で用いられる指標を説明する図である。 同一平面上に存在する複数の指標を設定するGUIを説明する図である。 カメラ座標系及び画面座標系を説明する図である。 共線条件式を説明する図である。 平面の定義方法を説明する図である。 第一実施形態における点指標の位置、正方形指標の位置及び姿勢を求める手順を示すフローチャートである。 指標が拘束される平面が二つ存在する場合を示す図である。 第三実施形態を適用可能な指標配置を示す図である。 第四実施形態を適用可能な指標配置を示す図である。 指標が円筒の側面上に拘束されることを説明する図である。 指標が球面上に拘束されることを説明する図である。

Claims (7)

  1. 空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置が行う指標配置情報推定方法であって、
    前記情報処理装置が有する指標検出手段が、指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出工程と、
    前記情報処理装置が有する拘束条件設定手段が、指標の拘束条件を設定する拘束条件設定工程と、
    前記情報処理装置が有する指標投影位置計算手段が、前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算工程と、
    前記情報処理装置が有する補正値計算手段が、前記指標検出工程が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算工程により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定工程により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算工程と、
    前記情報処理装置が有する配置情報補正手段が、前記補正値計算工程によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正工程と、
    前記情報処理装置が有する繰り返し演算手段が、前記配置情報補正工程により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算工程の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算工程と前記補正値計算工程と前記配置情報補正工程とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算工程とを備え
    前記拘束条件は、指標が未知の同一平面上に存在することであるという拘束条件であり、該拘束条件に固有な平面の方程式によって表現され、該拘束条件を満たす指標の配置情報は、該拘束条件に固有の指標の平面上の位置と平面の法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現されることを特徴とする指標配置情報推定方法。
  2. 前記指標は平面図形であることを特徴とする請求項1に記載の指標配置情報推定方法。
  3. 空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置が行う指標配置情報推定方法であって、
    前記情報処理装置が有する指標検出手段が、指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出工程と、
    前記情報処理装置が有する拘束条件設定手段が、指標の拘束条件を設定する拘束条件設定工程と、
    前記情報処理装置が有する指標投影位置計算手段が、前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算工程と、
    前記情報処理装置が有する補正値計算手段が、前記指標検出工程が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算工程により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定工程により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算工程と、
    前記情報処理装置が有する配置情報補正手段が、前記補正値計算工程によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正工程と、
    前記情報処理装置が有する繰り返し演算手段が、前記配置情報補正工程により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算工程の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算工程と前記補正値計算工程と前記配置情報補正工程とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算工程とを備え、
    前記空間中に存在する指標は,位置と姿勢をその配置情報とするような、法線方向の定義可能な指標であって
    前記拘束条件は、複数の指標の法線ベクトルの方向が同一であるという拘束条件であり、前記拘束条件に固有法線ベクトルの方程式で表現され該拘束条件を満たす指標の配置情報は、指標の位置と該法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現されることを特徴とする指標配置情報推定方法。
  4. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の指標配置情報推定方法をコンピュータに実現させるためのプログラム。
  5. 請求項4に記載のプログラムを格納するためのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  6. 空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置であって、
    指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出手段と、
    指標の拘束条件を設定する拘束条件設定手段と、
    前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算手段と、
    前記指標検出手段が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算手段により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定手段により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算手段と、
    前記補正値計算手段によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正手段と、
    前記配置情報補正手段により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算手段の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算手段での計算と前記補正値計算手段での計算と前記配置情報補正手段での補正とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算手段とを備え、
    前記拘束条件は、指標が未知の同一平面上に存在することであるという拘束条件であり、該拘束条件に固有な平面の方程式によって表現され、該拘束条件を満たす指標の配置情報は、該拘束条件に固有の指標の平面上の位置と平面の法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現されることを特徴とする情報処理装置。
  7. 空間中に幾何拘束のもとに存在する指標の空間中での配置情報を推定する情報処理装置であって、
    指標を含む撮影画像から指標を検出する指標検出手段と、
    指標の拘束条件を設定する拘束条件設定手段と、
    前記撮影画像の撮像部の位置及び姿勢の近似値と、指標の配置情報の近似値とを基にして、指標が画像面に投影される位置を計算する指標投影位置計算手段と、
    前記指標検出手段が検出した指標の画像面上での位置と、前記指標投影位置計算手段により得られた指標の画像面上での投影位置との誤差が小さくなるように、かつ、前記拘束条件設定手段により設定された指標の拘束条件を満たすように、指標の配置情報を補正する補正値を求める補正値計算手段と、
    前記補正値計算手段によって求めた補正値によって指標の配置情報を補正する配置情報補正手段と、
    前記配置情報補正手段により補正された指標の配置情報を前記指標投影位置計算手段の近似値のかわりに利用して、前記指標投影位置計算手段と前記補正値計算手段と前記配置情報補正手段とを繰返し行うことにより指標の配置情報を算出する繰り返し演算手段とを備え、
    前記空間中に存在する指標は,位置と姿勢をその配置情報とするような、法線方向の定義可能な指標であって、
    前記拘束条件は、複数の指標の法線ベクトルの方向が同一であるという拘束条件であり、前記拘束条件に固有な法線ベクトルの方程式で表現され、該拘束条件を満たす指標の配置情報は、指標の位置と該法線ベクトルを回転軸とした回転角によって表現されることを特徴とする情報処理装置。
JP2004144891A 2004-05-14 2004-05-14 指標配置情報推定方法および情報処理装置 Expired - Fee Related JP4522140B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004144891A JP4522140B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 指標配置情報推定方法および情報処理装置
US11/126,916 US7657065B2 (en) 2004-05-14 2005-05-11 Marker placement information estimating method and information processing device
DE602005023374T DE602005023374D1 (de) 2004-05-14 2005-05-11 Verfahren zur Schätzung von Positionsinformationen für Bildmarkierungen und Vorrichtung zur Informationsverarbeitung
EP05252877A EP1596329B1 (en) 2004-05-14 2005-05-11 Marker placement information estimating method and information processing device
CNB200510068067XA CN100338632C (zh) 2004-05-14 2005-05-16 标记放置信息估计方法和信息处理设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004144891A JP4522140B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 指標配置情報推定方法および情報処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005327103A JP2005327103A (ja) 2005-11-24
JP4522140B2 true JP4522140B2 (ja) 2010-08-11

Family

ID=34941235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004144891A Expired - Fee Related JP4522140B2 (ja) 2004-05-14 2004-05-14 指標配置情報推定方法および情報処理装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7657065B2 (ja)
EP (1) EP1596329B1 (ja)
JP (1) JP4522140B2 (ja)
CN (1) CN100338632C (ja)
DE (1) DE602005023374D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4266005A1 (en) 2022-04-20 2023-10-25 Canon Kabushiki Kaisha Information processing device, information processing system, method of controlling information processing device, and storage medium

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4914019B2 (ja) * 2005-04-06 2012-04-11 キヤノン株式会社 位置姿勢計測方法及び装置
KR100925907B1 (ko) * 2005-06-30 2009-11-09 올림푸스 가부시키가이샤 마커 특정 장치 및 마커 특정 방법
US7656425B2 (en) * 2006-03-31 2010-02-02 Mitutoyo Corporation Robust field of view distortion calibration
JP4958497B2 (ja) * 2006-08-07 2012-06-20 キヤノン株式会社 位置姿勢測定装置及び位置姿勢測定方法、複合現実感提示システム、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JP4926817B2 (ja) * 2006-08-11 2012-05-09 キヤノン株式会社 指標配置情報計測装置および方法
US8437535B2 (en) 2006-09-19 2013-05-07 Roboticvisiontech Llc System and method of determining object pose
JP4810403B2 (ja) * 2006-11-08 2011-11-09 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法
KR100906974B1 (ko) * 2006-12-08 2009-07-08 한국전자통신연구원 카메라를 이용한 위치 인식 장치 및 그 방법
WO2008076942A1 (en) * 2006-12-15 2008-06-26 Braintech Canada, Inc. System and method of identifying objects
JP4886560B2 (ja) * 2007-03-15 2012-02-29 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法
JP5196825B2 (ja) * 2007-03-29 2013-05-15 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
US20080266323A1 (en) * 2007-04-25 2008-10-30 Board Of Trustees Of Michigan State University Augmented reality user interaction system
US20080306708A1 (en) * 2007-06-05 2008-12-11 Raydon Corporation System and method for orientation and location calibration for image sensors
KR100903629B1 (ko) 2007-07-03 2009-06-18 주식회사 에이알맥스 공선조건식을 이용한 단영상으로부터 개체의 3차원 정보추출 방법, 이를 수행하는 프로그램을 기록한 기록매체 및공선조건식을 이용한 단영상으로부터 개체의 3차원 정보추출 시스템
US7957583B2 (en) * 2007-08-02 2011-06-07 Roboticvisiontech Llc System and method of three-dimensional pose estimation
US9058764B1 (en) * 2007-11-30 2015-06-16 Sprint Communications Company L.P. Markers to implement augmented reality
US8542906B1 (en) 2008-05-21 2013-09-24 Sprint Communications Company L.P. Augmented reality image offset and overlay
KR101465668B1 (ko) * 2008-06-24 2014-11-26 삼성전자주식회사 단말 및 그의 블로깅 방법
JP2010025759A (ja) * 2008-07-18 2010-02-04 Fuji Xerox Co Ltd 位置計測システム
US8559699B2 (en) * 2008-10-10 2013-10-15 Roboticvisiontech Llc Methods and apparatus to facilitate operations in image based systems
US8155387B2 (en) * 2008-10-13 2012-04-10 International Business Machines Corporation Method and system for position determination using image deformation
KR101128913B1 (ko) * 2009-05-07 2012-03-27 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사시스템 및 이를 이용한 좌표변환방법
KR101082285B1 (ko) * 2010-01-29 2011-11-09 주식회사 팬택 증강 현실 제공 단말기 및 방법
JPWO2011111122A1 (ja) * 2010-03-12 2013-06-27 富士通株式会社 取付作業支援装置、方法、及びプログラム
WO2011113483A1 (en) * 2010-03-17 2011-09-22 Brainlab Ag Flow control in computer-assisted surgery based on marker positions
US9158777B2 (en) 2010-03-30 2015-10-13 Gravity Jack, Inc. Augmented reality methods and apparatus
CN101872470B (zh) * 2010-05-30 2011-12-28 李滨 一种ct或mri图像的矫正和靶点定位方法
JPWO2012049795A1 (ja) * 2010-10-12 2014-02-24 パナソニック株式会社 表示処理装置、表示方法およびプログラム
KR101295712B1 (ko) * 2010-11-22 2013-08-16 주식회사 팬택 증강 현실 사용자 인터페이스 제공 장치 및 방법
KR101269773B1 (ko) * 2010-12-13 2013-05-30 주식회사 팬택 증강 현실 제공 단말기 및 방법
US8937628B2 (en) 2011-06-21 2015-01-20 Siemens Energy, Inc. Mapping of a contour shape to an X and Y coordinate system
JP5988563B2 (ja) * 2011-10-25 2016-09-07 キヤノン株式会社 画像処理装置と画像処理装置の制御方法およびプログラムと、情報処理装置と情報処理装置の制御方法およびプログラム
KR101874895B1 (ko) * 2012-01-12 2018-07-06 삼성전자 주식회사 증강 현실 제공 방법 및 이를 지원하는 단말기
US8922589B2 (en) 2013-04-07 2014-12-30 Laor Consulting Llc Augmented reality apparatus
US9191620B1 (en) 2013-12-20 2015-11-17 Sprint Communications Company L.P. Voice call using augmented reality
US10571794B2 (en) * 2014-04-22 2020-02-25 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Video presentation device, dynamic illusion presentation device, video generation device, method thereof, data structure, and program
US9508195B2 (en) * 2014-09-03 2016-11-29 Microsoft Technology Licensing, Llc Management of content in a 3D holographic environment
US9734634B1 (en) * 2014-09-26 2017-08-15 A9.Com, Inc. Augmented reality product preview
JP6564622B2 (ja) * 2015-06-04 2019-08-21 株式会社大林組 三次元位置計測方法、測量方法、三次元位置計測装置及び三次元位置計測プログラム
US10424117B2 (en) * 2015-12-02 2019-09-24 Seiko Epson Corporation Controlling a display of a head-mounted display device
WO2017110071A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 寸法測定装置、宅配ボックス装置、寸法測定方法
US10072934B2 (en) 2016-01-15 2018-09-11 Abl Ip Holding Llc Passive marking on light fixture detected for position estimation
JP6688088B2 (ja) * 2016-01-19 2020-04-28 キヤノン株式会社 情報処理装置およびその制御方法
JP6166409B1 (ja) * 2016-03-16 2017-07-19 ヤフー株式会社 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
US20180268614A1 (en) * 2017-03-16 2018-09-20 General Electric Company Systems and methods for aligning pmi object on a model
CN108596105B (zh) * 2018-04-26 2023-02-03 李辰 增强现实书画***
US11600022B2 (en) 2020-08-28 2023-03-07 Unity Technologies Sf Motion capture calibration using drones
EP4205377A1 (en) * 2020-08-28 2023-07-05 Weta Digital Limited Motion capture calibration using drones
US11636621B2 (en) 2020-08-28 2023-04-25 Unity Technologies Sf Motion capture calibration using cameras and drones
US11830219B2 (en) * 2021-12-29 2023-11-28 Midea Group Co., Ltd. Joint visual localization and orientation detection method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000041173A (ja) * 1998-07-23 2000-02-08 Mr System Kenkyusho:Kk 視点位置姿勢の決定方法、カメラ装置、及び視点位置センサ

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6268862B1 (en) * 1996-03-08 2001-07-31 Canon Kabushiki Kaisha Three dimensional virtual space generation by fusing images
US5889550A (en) * 1996-06-10 1999-03-30 Adaptive Optics Associates, Inc. Camera tracking system
JPH10222668A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Syst Sakomu:Kk モーションキャプチャ方法およびシステム
JPH1184307A (ja) 1997-09-01 1999-03-26 M R Syst Kenkyusho:Kk 頭部装着型の光学装置
US6137491A (en) * 1998-06-05 2000-10-24 Microsoft Corporation Method and apparatus for reconstructing geometry using geometrically constrained structure from motion with points on planes
US7084887B1 (en) * 1999-06-11 2006-08-01 Canon Kabushiki Kaisha Marker layout method, mixed reality apparatus, and mixed reality space image generation method
JP4573977B2 (ja) * 1999-09-22 2010-11-04 富士重工業株式会社 監視システムの距離補正装置、および監視システムの消失点補正装置
JP3467017B2 (ja) * 2000-11-30 2003-11-17 キヤノン株式会社 位置姿勢の決定方法及び装置並びに記憶媒体
JP3631151B2 (ja) * 2000-11-30 2005-03-23 キヤノン株式会社 情報処理装置、複合現実感提示装置及びその方法並びに記憶媒体
GB2372656A (en) * 2001-02-23 2002-08-28 Ind Control Systems Ltd Optical position determination
US7379077B2 (en) * 2001-08-23 2008-05-27 Siemens Corporate Research, Inc. Augmented and virtual reality guided instrument positioning using along-the-line-of-sight alignment
US7274380B2 (en) * 2001-10-04 2007-09-25 Siemens Corporate Research, Inc. Augmented reality system
JP3796449B2 (ja) * 2002-01-31 2006-07-12 キヤノン株式会社 位置姿勢決定方法および装置並びにコンピュータプログラム
EP1349114A3 (en) * 2002-03-19 2011-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Sensor calibration apparatus, sensor calibration method, program, storage medium, information processing method, and information processing apparatus
DE50201006D1 (de) * 2002-04-16 2004-10-21 Brainlab Ag Marker für ein Instrument und Verfahren zur Lokalisation eines Markers
US7190331B2 (en) * 2002-06-06 2007-03-13 Siemens Corporate Research, Inc. System and method for measuring the registration accuracy of an augmented reality system
JP3944019B2 (ja) * 2002-07-31 2007-07-11 キヤノン株式会社 情報処理装置および方法
JP2004151085A (ja) * 2002-09-27 2004-05-27 Canon Inc 情報処理方法及び情報処理装置
JP4136859B2 (ja) * 2003-01-10 2008-08-20 キヤノン株式会社 位置姿勢計測方法
JP4532982B2 (ja) * 2004-05-14 2010-08-25 キヤノン株式会社 配置情報推定方法および情報処理装置
US7734084B2 (en) * 2006-10-20 2010-06-08 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for offset estimation and alignment

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000041173A (ja) * 1998-07-23 2000-02-08 Mr System Kenkyusho:Kk 視点位置姿勢の決定方法、カメラ装置、及び視点位置センサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4266005A1 (en) 2022-04-20 2023-10-25 Canon Kabushiki Kaisha Information processing device, information processing system, method of controlling information processing device, and storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
US7657065B2 (en) 2010-02-02
DE602005023374D1 (de) 2010-10-21
CN100338632C (zh) 2007-09-19
EP1596329B1 (en) 2010-09-08
US20050253870A1 (en) 2005-11-17
EP1596329A2 (en) 2005-11-16
JP2005327103A (ja) 2005-11-24
EP1596329A3 (en) 2006-02-22
CN1696605A (zh) 2005-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4522140B2 (ja) 指標配置情報推定方法および情報処理装置
JP4532982B2 (ja) 配置情報推定方法および情報処理装置
JP4926817B2 (ja) 指標配置情報計測装置および方法
US7664341B2 (en) Index layout measurement method, position and orientation estimation method, index layout measurement apparatus, and position and orientation estimation apparatus
JP4914039B2 (ja) 情報処理方法および装置
JP5036260B2 (ja) 位置姿勢算出方法及び装置
JP4593968B2 (ja) 位置姿勢計測方法および装置
JP5196825B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法
JP4976756B2 (ja) 情報処理方法および装置
JP4574473B2 (ja) 情報処理装置および方法
US10930008B2 (en) Information processing apparatus, information processing method, and program for deriving a position orientation of an image pickup apparatus using features detected from an image
JP4785416B2 (ja) 位置姿勢計測方法及び装置
JP5728372B2 (ja) 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、およびプログラム
JP2007048068A (ja) 情報処理方法および装置
JP2005351886A (ja) 位置姿勢計測方法および情報処理装置
JP2008070319A (ja) 物体計測装置および方法
JP6109213B2 (ja) 情報処理装置および方法、プログラム
JP4926598B2 (ja) 情報処理方法、情報処理装置
JP4810403B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法
JP2006293485A (ja) 指標表示方法及び画像表示装置
JP2005326283A (ja) 位置姿勢計測方法および情報処理装置
JP2004108836A (ja) 撮像装置の方位角計算方法及び装置、撮像装置の姿勢検出装置、撮像装置の傾きセンサ、コンピュータプログラム、並びに三次元モデル構成装置
WO2017125983A1 (en) Information processing apparatus, information processing method, and program for estimating position and orientation of a camera
JP2016065830A (ja) 画像処理装置、画像処理方法
JP2014215821A (ja) 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070514

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100201

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100216

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100415

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100511

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100525

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4522140

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees