JP4519750B2 - 回転角度検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置に関する。
従来、永久磁石等の磁界発生手段の外周側に磁気検出素子を設置し、検出対象の回転により変化する磁界に基づいて、検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1においては、図13に示すように、回転軸300にとともに磁石302が回転し、磁石302の外周側に回転方向に設置された複数のヨーク310と、周方向に隣接するヨーク310の間に2個の磁気検出素子320が設置されている。特許文献1では、回転方向に90°の角度で2個の磁気検出素子320を設置することにより、各磁気検出素子320がそれぞれ出力する出力信号をつなぎ合わせて回転軸300の回転角度を演算している。つまり、2個の磁気検出素子320は、回転軸300の回転角度を検出する磁気検出センサを構成している。
しかしながら、図13に示すように、回転軸300の回転角度を検出するために2個の磁気検出素子320を回転軸300の回転方向に離して設置する構成では、磁気検出素子320同士を高精度に位置決めすることが困難である。したがって、磁気検出素子320同士の角度間隔が所望の角度間隔からずれるか、あるいは各磁気検出素子320の設置方向が所望の設置方向からずれることがある。その結果、磁気検出素子320が出力する出力信号が例えば90°の位相からずれることにより、磁気検出素子320の出力信号をつなぎ合わせて演算する回転軸300の回転角度に誤差が生じるという問題がある。
このような磁気検出素子の設置角度のずれによる回転角度の誤差の問題は、特許文献1のように磁気検出素子の出力信号をつなぎ合わせる場合だけでなく、複数の磁気検出素子の出力信号に基づいて三角関数の逆演算により回転角度を検出する場合にも発生する。
また、2個の磁気検出素子320が離れて設置されると、回転角度検出装置内に温度勾配が発生する場合に磁気検出素子320同士に温度差が生じ、磁気検出素子320の信号レベルがばらつくという問題がある。
また、磁気検出素子が離れて設置されていると、磁気検出センサへの配線が複雑になるという問題がある。
特開2004−271495号公報
本発明は上記問題を解決するためになされたものであって、磁界発生手段と径方向位置がほぼ同じか、磁界発生手段よりも径方向外側に磁気検出センサを設置する構成において、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子同士を高精度に位置決めし、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子の温度差を解消し、磁気検出センサへの配線を容易にする回転角度検出装置を提供することを目的とする。
請求項1からに記載の発明によれば、磁界発生手段と径方向位置がほぼ同じか磁界発生手段よりも径方向外側に磁気検出センサを設置する構成において、複数の磁気検出素子を1箇所に設置して磁気検出センサを構成している。そして、磁気検出センサとともに磁界発生手段に対して相対回転する磁路部材は、磁界発生手段が発生する磁束を案内する磁路を磁気検出センサにおいて交差させるように形成している。この構成により、回転角度の検出対象の回転にともない磁界発生手段に対して磁路部材および磁気検出センサが相対回転すると、磁気検出センサにおいて交差する磁路により磁気検出センサにおいて形成される合成磁界が、検出対象の回転に応じて変化する。そして、合成磁界の変化に応じて異なる位相で変化する磁気検出センサの複数の磁気検出素子の出力信号から、検出対象の回転角度を検出することができる。 また、磁界発生手段の外周側に設置される磁路部材が、内側ヨークと内側ヨークの外周側に内側ヨークとほぼ同一平面上に設置されている外側ヨークとを有し、周方向に隣接する内側ヨークが形成する間隙に磁気検出センサが設置されている。よって、磁気検出センサにおける合成磁界の強さは、内側ヨーク、磁気検出センサおよび外側ヨークの回転軸方向の組付位置が回転軸方向に多少ずれても殆ど変化しない。
このような請求項1からのいずれか一項に記載の発明では、複数の磁気検出素子を1箇所に近接して設置し磁気検出センサを構成しているので、位相の異なる信号を出力する複数の磁気検出素子を、磁気検出センサにおいて高精度に位置決めできる。その結果、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子の出力信号が所望の位相差からずれることを防止できるので、磁気検出センサを構成する磁気検出素子の出力信号から検出対象の回転角度を高精度に検出できる。
また、磁気検出センサが1箇所に設置された複数の磁気検出素子により構成されているので、複数の磁気検出素子を有する磁気検出センサへの配線が簡単になる。
また、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子が1箇所に設置されているので、回転角度検出装置内に温度勾配が発生しても、磁気検出センサの磁気検出素子の間には温度差が殆ど発生しない。したがって、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子の出力信号の信号レベルが、装置内の温度勾配によりばらつくことを防止できる。
請求項2に記載の発明によれば、磁気検出センサは1チップで形成されているので、磁気検出センサを構成する複数の磁気検出素子を、形成時に高精度に位置決めできる
請求項に記載の発明によれば、外側ヨークは磁気検出センサに向けて内側に突出し、磁界発生手段に近づく突部を有しているので、外側ヨークが内側ヨークの外周側に設置され内側ヨークよりも磁界発生手段から離れていても、磁気検出センサにおいて外側ヨークが形成する径方向の磁路の磁界の強さを増加できる。
請求項に記載の発明によれば、内側ヨークは周方向に等角度間隔に間隙を複数形成し、前記突部は各間隙に対応する周方向位置に設けられ各間隙に向けて内側に突出している。この構成により、内側ヨークおよび外側ヨークが形成する磁路の磁界の強さが磁界発生手段の相対回転位置により偏ることを防止できる。したがって、磁界発生手段の相対回転位置に関わらず、検出対象の回転角度を高精度に検出できる。
請求項に記載の発明によれば、磁気検出センサが周方向に離れて複数設置されているので、1個の磁気検出センサが例えば断線等により検出不能になっても、他の磁気検出センサで検出対象の回転角度を検出できる。また、磁気検出センサに組付誤差があり、1個の磁気検出センサだけでは検出信号に誤差が生じる場合にも、複数の磁気検出センサの出力信号を設置されている角度間隔に応じて互いに補正することにより、検出対象の回転角度を高精度に検出できる。
請求項に記載の発明によれば、磁気検出センサを構成する2個の磁気検出素子を出力信号が正弦と余弦との位相関係になる角度に設置しているので、2個の磁気検出素子の出力信号から、三角関数の逆演算により検出対象の回転角度を容易に検出できる。
以下、本発明の複数の実施の形態について説明する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態による回転角度検出装置を図1に示す。回転角度検出装置10は、回転角度を検出する図示しない検出対象とともに回転する回転軸12の軸方向の途中に、回転軸12の外周側に設置されている。回転角度検出装置10は、永久磁石20、内側ヨーク30、外側ヨーク40、および磁気検出センサ50から構成されている。磁界発生手段としての環状の永久磁石20は、径方向の一方向に平行に着磁されている。永久磁石20は、回転軸12の外周面に取り付けられており、回転軸12とともに回転する。内側ヨーク30および外側ヨーク40は磁路部材を構成している。
4個の内側ヨーク30は、永久磁石20の外周側に周方向に等角度間隔に環状に設置されている。周方向に隣接している内側ヨーク30同士の間に間隙32が形成されている。間隙32は周方向に90°間隔に形成されており、永久磁石20に対して180°反対側に2個の間隙32が位置している。
外側ヨーク40は、環状に形成されており、4個の内側ヨーク30の外周側に4個の内側ヨーク30とほぼ同一平面上に設置されている。外側ヨーク40は、内側ヨーク30が形成する4個の間隙32に向けて内側に突出する突部42を4箇所設けている。したがって、1個の突部42は磁気検出センサ50に向けて突出している。
内側ヨーク30および外側ヨーク40は、永久磁石20が発生する磁束を図1の点線の矢印に示すように案内する磁路200、202をそれぞれ形成している。磁路200と磁路202とは磁気検出センサ50においてほぼ90°に交差している。
磁気検出センサ50は、1チップの半導体素子で形成されており、内側ヨーク30が4箇所形成している間隙32の1箇所に設置されている。図2に示すように、磁気検出センサ50は、90°の角度に設置された2個のホール素子52により構成されている。
このように構成された回転角度検出装置10において、検出対象とともに回転軸12および永久磁石20が回転すると、磁気検出センサ50において交差する磁路200、202により磁気検出センサ50における合成磁界の方向が変化する。磁気検出センサ50において合成磁界の方向が変化することにより、磁気検出素子としての2個のホール素子52から図3に示す出力信号が出力される。2個のホール素子52が90°の角度に設置されているので、2個のホール素子52の出力信号は、正弦と余弦の位相関係になっている。したがって検出対象の回転角度をθ、2個のホール素子52の出力信号をVa、Vb、ホール素子52の感度により決定される係数をk、磁気検出センサ50において形成される合成磁界の磁束密度をB、ホール素子52に供給する定電流をIとすると、Va、Vbは次式(1)、(2)で示される。
Va=kBI・sinθ ・・・(1)
Vb=kBI・sin(θ+90)=kBI・cosθ・・・(2)
VaとVbの比から次式(3)に示すようにtanθを算出する。そして、逆正接演算により、次式(4)に示すように回転角度θを算出する。
Va/Vb=sinθ/cosθ=tanθ ・・・(3)
θ=arctan(Va/Vb) ・・・(4)
第1実施形態では、2個のホール素子52を半導体素子により1箇所に設置して磁気検出センサ50を構成しているので、2個のホール素子52を高精度に位置決めし90°の角度に設置できる。したがって、図3に示すように、2個のホール素子52の出力信号を高精度に正弦と余弦の位相関係にすることができる。その結果、検出対象の回転角度を逆正接演算により高精度に、かつ容易に検出できる。
また、2個のホール素子52を1箇所に設置して磁気検出センサ50を構成しているので、磁気検出センサ50への配線が容易である。
また、2個のホール素子52を1箇所に設置して磁気検出センサ50を構成しているので、回転角度検出装置10内に温度勾配が生じても、2個のホール素子52の間に温度差が殆ど発生しない。したがって、2個のホール素子52の出力信号のレベルがばらつくことを防止できる。
また、環状に設置されている内側ヨーク30に対し、外側ヨーク40が磁気検出センサ50側に回転軸12の中心に向けて突出する突部42を設けているので、永久磁石20と突部42との距離が近くなる。したがって、外側ヨーク40は内側ヨーク30よりも永久磁石20から離れているが、外側ヨーク40が形成している磁路202の磁界の強さを増加できる。
また、磁気検出センサ50の外周側に環状の外側ヨーク40が設置されているので、外側ヨーク40は磁気シールドとしても作用する。したがって、回転角度検出装置10に対する外乱を防止できる。
(第2実施形態)
図4に示す第2実施形態の回転角度検出装置60では、第1実施形態の構成の回転角度検出装置10において、180°反対側に形成されている間隙32にそれぞれ磁気検出センサ50を設置している。この構成により、2個の磁気検出センサ50の組付位置が内側ヨーク30および外側ヨーク40に対してずれて出力信号の誤差が生じても、2個の磁気検出センサ50の出力信号を組み合わせることにより、互いの出力信号のずれを補正し、補正された出力信号に基づいて回転角度を高精度に検出できる。
(第3、第4、第5、第6、第7実施形態)
本発明の第3実施形態を図5に示し、第4実施形態を図6に示し、第5実施形態を図7に示し、第6実施形態を図8に示し、第7実施形態を図9に示す。尚、各実施形態において他の実施形態と実質的に同一構成部分には同一符号を付す。
図5に示す第3実施形態の回転角度検出装置70では、半円状の2個の内側ヨーク72が永久磁石20の外周側に環状に設置されている。2個の内側ヨーク72の間に180°反対側に間隙74が形成されている。外側ヨーク76は、環状に形成されており、2個の内側ヨーク72の外周側に2個の内側ヨーク72とほぼ同一平面上に設置されている。外側ヨーク76は、内側ヨーク72が形成する間隙74に向けて内側に突出する突部78を2箇所設けている。内側ヨーク72および外側ヨーク76は磁路部材を構成している。内側ヨーク72および外側ヨーク76は、磁気検出センサ50においてほぼ90°に交差している磁路200、202をそれぞれ形成している。磁気検出センサ50は、2箇所形成されている間隙74の1箇所に設置されている。第3実施形態では、内側ヨーク72の部品点数が第1実施形態よりも減少しているので、回転角度検出装置70の組付が容易になる。
図6に示す第4実施形態の回転角度検出装置80では、永久磁石20に対して径方向の一方の外周側に2個の内側ヨーク30を間隙32を形成して設置している。磁気検出センサ50は、内側ヨーク30が1箇所形成している間隙32に設置されている。
図7に示す第5実施形態の回転角度検出装置90では、永久磁石20の外周側に1個の内側ヨーク30を設置している。磁気検出センサ50は、内側ヨーク30の周方向の一端側に設置されている。
図8に示す第6実施形態の回転角度検出装置100では、外側ヨーク102は半円状に形成されている。外側ヨーク102は、内側ヨーク30が形成する3箇所の間隙32に向けて内側中心に突出する突部104を形成している。内側ヨーク30および外側ヨーク102は磁路部材を構成している。
図9に示す第7実施形態の回転角度検出装置110では、第1実施形態の外側ヨーク40に代えて、軸方向の厚みを薄くした外側ヨーク112を設置している。外側ヨーク112の厚みが薄いので、磁気検出センサ50への配線が容易である。内側ヨーク30および外側ヨーク112は磁路部材を構成している。
(第8、第9実施形態)
本発明の第8実施形態を図10に示し、第9実施形態を図11に示す。尚、各実施形態において他の実施形態と実質的に同一構成部分には同一符号を付す。
図10に示す第8実施形態の回転角度検出装置120では、永久磁石20よりも径方向外側に設置されている第1ヨーク122および第2ヨーク124は、永久磁石20に対して軸方向にずらして設置されており、磁路部材を構成している。
第1ヨーク122は第2ヨーク124よりも永久磁石20に近い位置に設置されている。第1ヨーク122は環状に複数設置されており、周方向に隣接する第1ヨーク122の間に間隙が形成されている。この間隙の1箇所に磁気検出センサ50は設置されている。第2ヨーク124は、第1ヨーク122が形成する間隙に向けて突出する突部126を複数設けており、そのうちの1個は磁気検出センサ50に向かっている。第1ヨーク122および第2ヨーク124が形成する磁路は、磁気検出センサ50において交差している。
第8実施形態では、永久磁石20に対して、第1ヨーク122、第2ヨーク124を軸方向にずらして設置することにより、第1ヨーク122および第2ヨーク124を小径化し、回転角度検出装置120を小径化できる。
図11に示す第9実施形態の回転角度検出装置130では、第1ヨーク132および磁気検出センサ50は永久磁石20に対して同一平面上に設置されているが、第2ヨーク134は永久磁石20に対して軸方向にずらして設置されている。第1ヨーク132は環状に複数設置されており、周方向に隣接する第1ヨーク132の間に間隙が形成されている。この間隙の1箇所に磁気検出センサ50は設置されている。第2ヨーク134は、第1ヨーク132が形成する間隙に向けて突出する突部136を複数設けており、そのうちの1個は磁気検出センサ50に向かっている。第1ヨーク132および第2ヨーク134は磁路部材を構成しており、第1ヨーク132および第2ヨーク134が形成する磁路は、磁気検出センサ50において交差している。
第9実施形態では、永久磁石20に対して、第2ヨーク134を軸方向にずらして設置することにより、第2ヨーク134を小径化し、回転角度検出装置130を小径化できる。
(第10実施形態)
本発明の第10実施形態を図12に示す。尚、他の実施形態と実質的に同一構成部分に同一符号を付す。
第10実施形態の回転角度検出装置140では、4個の内側ヨーク142および外側ヨーク150の形状は第1実施形態の内側ヨーク30および外側ヨーク40とそれぞれ同一であるが、径が大きくなっている。そして、周方向に隣接する内側ヨーク142の間に形成される間隙144の内周側に4個の補助ヨーク160がそれぞれ設置されている。つまり、補助ヨーク160は、外側ヨーク150の突部152と永久磁石20との間、磁気検出センサ50が設置されている箇所においては磁気検出センサ50と永久磁石20との間に設置されている。内側ヨーク142、外側ヨーク150および補助ヨーク160は磁路部材を構成している。
このように外側ヨーク150の突部152と永久磁石20との間に補助ヨーク160を設置し、補助ヨーク160を介して永久磁石20と外側ヨーク150の突部152との間に磁路202を形成することにより、磁気検出センサ50における磁路202の磁界の強さを増加できる。
(他の実施形態)
以上説明した上記複数の実施形態では、磁気検出センサ50を構成する2個のホール素子52を90°の角度に設置することにより、2個のホール素子52の出力信号の位相差を90°にして逆正接演算により検出対象の回転角度を検出したが、2個のホール素子52を90°以外の角度に設置してもよい。また、3個以上のホール素子52を1箇所に設置して磁気検出センサを構成してもよい。また、磁気検出センサを構成する磁気検出素子として、ホール素子52に代えて磁気抵抗素子を使用してもよい。
また、磁界発生手段である永久磁石を検出対象とともに回転させたが、磁路部材および磁気検出センサを検出対象とともに回転させる構成にしてもよい。
上記複数の実施形態では、回転軸12に永久磁石20を取り付けたが、検出対象に直接永久磁石20を取り付けてもよい。
上記第2実施形態では、180°反対側に設置した2個の磁気検出センサ50の出力信号を組み合わせることにより互いの出力信号のずれを補正したが、180°以外の角度に2個の磁気検出センサ50を設置してもよい。この場合にも、設置角度に基づいて互いの出力信号のずれを補正し、回転角度を高精度に検出できる。また、2個に限らず3個以上の磁気検出センサ50を周方向に設置してもよい。
このように、本発明は、上記複数の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能である。
(A)は第1実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図、(B)は(A)のB−B線断面図。 磁気検出センサを示す構成図。 磁気検出センサによる回転角度と出力との関係を示す特性図。 (A)は第2実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図、(B)は(A)のB−B線断面図。 第3実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図。 第4実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図。 第5実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図。 第6実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図。 (A)は第7実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図、(B)は(A)のB−B線断面図。 第8実施形態による回転角度検出装置を示す縦断面図。 第9実施形態による回転角度検出装置を示す縦断面図。 第10実施形態による回転角度検出装置を示す横断面図。 (A)は従来の回転角度検出装置を示す横断面図、(B)は(A)のB−B線断面図。
符号の説明
10、60、70、80、90、100、110、120、130、140:回転角度検出装置、12:回転軸、20:永久磁石(磁界発生手段)、30、72、142:内側ヨーク(磁路部材)、32:間隙、40、76、102、112、150:外側ヨーク(磁路部材)、42、78、104、114、126、136、152:突部、122、132:第1ヨーク(磁路部材)、124、134:第2ヨーク(磁路部材)

Claims (6)

  1. 検出対象の回転角度を検出する回転角度検出装置であって、
    磁界を発生する磁界発生手段と、
    回転中心に対して前記磁界発生手段と径方向位置がほぼ同じか前記磁界発生手段よりも径方向外側に設置され、前記検出対象の回転にともない前記磁界発生手段に対して相対的に回転することにより生じる磁界の変化に応じて変化し、かつ位相の異なる信号を出力する複数の磁気検出素子を1箇所に設置した磁気検出センサと、
    前記磁界発生手段と径方向位置がほぼ同じか前記磁界発生手段よりも径方向外側に設置され、前記磁気検出センサとともに前記磁界発生手段に対して相対的に回転し、前記磁界発生手段が発生する磁束を案内する複数の磁路を前記磁気検出センサにおいて交差させて形成している磁路部材と、
    を備え
    前記磁路部材は、前記磁界発生手段の外周側に周方向に設置されている複数の内側ヨークと、前記複数の内側ヨークの外周側に前記複数の内側ヨークとほぼ同一面上に設置されている外側ヨークとを有し、
    前記磁気検出センサは周方向に隣接する前記内側ヨークが形成する間隙に設置されており、前記複数の内側ヨークが形成する磁路と前記外側ヨークが形成する磁路とは前記磁気検出センサにおいて交差していることを特徴とする回転角度検出装置。
  2. 前記磁気検出センサは1チップで形成されている請求項1に記載の回転角度検出装置。
  3. 前記外側ヨークは前記磁気検出センサに向けて内側に突出する突部を有する請求項1または2に記載の回転角度検出装置。
  4. 前記間隙は周方向に等角度間隔に複数形成され、前記突部は各間隙に対応する周方向位置に設けられ各間隙に向けて内側に突出している請求項に記載の回転角度検出装置。
  5. 前記磁気検出センサは周方向に離れて複数設置されている請求項1からのいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
  6. 前記磁気検出センサは、出力信号が正弦と余弦との位相関係になる角度に設置された2個の磁気検出素子を有している請求項1からのいずれか一項に記載の回転角度検出装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2893410B1 (fr) * 2005-11-15 2008-12-05 Moving Magnet Tech Mmt Capteur de position angulaire magnetique pour une course allant jusqu'a 360
JP5021253B2 (ja) 2006-08-24 2012-09-05 株式会社デンソー 回転角度検出装置
US8355239B2 (en) 2008-01-29 2013-01-15 Infineon Technologies Ag Predictive phase locked loop system
CN102144142A (zh) * 2008-09-03 2011-08-03 阿尔卑斯电气株式会社 角度传感器
JP2010085389A (ja) * 2008-09-05 2010-04-15 Alps Electric Co Ltd 角度センサ
EP2354769B1 (de) * 2010-02-03 2015-04-01 Micronas GmbH Winkelgeber und Verfahren zur Bestimmung eines Winkels zwischen einer Sensoranordnung und einem Magnetfeld
JP5218491B2 (ja) 2010-07-29 2013-06-26 株式会社デンソー 回転角度検出装置
CN102022974B (zh) * 2010-10-29 2013-01-23 昌辉汽车电气***(安徽)有限公司 一种磁感应效应角度传感器的标定方法
DE102011018267A1 (de) * 2011-04-20 2012-10-25 Schwing Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Dickstoff-, insbesondere Betonförderung mit Drehwinkelmessung
CH713154A2 (de) * 2016-11-23 2018-05-31 Scharmueller Gmbh & Co Kg Vorrichtung zur Messung eines Knickwinkels und Fahrzeug.
JP6954139B2 (ja) 2018-01-16 2021-10-27 株式会社デンソー 回転角度検出装置
WO2020184115A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 磁気センサ、及びセンサシステム
DE102019215947A1 (de) 2019-10-16 2021-04-22 Infineon Technologies Ag Messanordnung und sensorpackage

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04212016A (ja) * 1990-06-01 1992-08-03 Mitsubishi Electric Corp 回転数検出器
JPH09243311A (ja) * 1996-03-08 1997-09-19 Unisia Jecs Corp 回動角検出装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3194990A (en) * 1965-07-13 Hall plate solid state resolver
US2911538A (en) * 1956-01-23 1959-11-03 Munz Otto John Linear motor control
US5789917A (en) * 1990-12-05 1998-08-04 Moving Magnet Technologie Sa Magnetic position sensor with hall probe formed in an air gap of a stator
FR2670286B1 (fr) * 1990-12-05 1993-03-26 Moving Magnet Tech Capteur magnetique de position et de vitesse a sonde de hall.
DE4123131A1 (de) * 1991-07-12 1993-01-14 Inst Schiffbautechnik Und Umwe Verfahren und anordnung zur bereitstellung eines, von einem drehwinkel linear abhaengigen, elektrischen ausgangssignals
US5694039A (en) * 1996-03-07 1997-12-02 Honeywell Inc. Angular position sensor having multiple magnetic circuits
DE19817356A1 (de) * 1998-04-18 1999-10-21 Bosch Gmbh Robert Winkelgeber und Verfahren zur Winkelbestimmung
JP4118755B2 (ja) * 2003-01-14 2008-07-16 株式会社日本自動車部品総合研究所 回転角センサ及びこの回転角センサを具備した回転角検出装置
US7023202B2 (en) * 2003-08-01 2006-04-04 Japan Servo Co., Ltd. Magnetic rotary position sensor
JP4224382B2 (ja) * 2003-11-18 2009-02-12 株式会社日立製作所 回転位置センサ及び内燃機関の電子制御式スロットル装置
JP4720233B2 (ja) * 2005-03-18 2011-07-13 株式会社デンソー 回転角度検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04212016A (ja) * 1990-06-01 1992-08-03 Mitsubishi Electric Corp 回転数検出器
JPH09243311A (ja) * 1996-03-08 1997-09-19 Unisia Jecs Corp 回動角検出装置

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