JP4482622B2 - 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4482622B2 JP4482622B2 JP2008522609A JP2008522609A JP4482622B2 JP 4482622 B2 JP4482622 B2 JP 4482622B2 JP 2008522609 A JP2008522609 A JP 2008522609A JP 2008522609 A JP2008522609 A JP 2008522609A JP 4482622 B2 JP4482622 B2 JP 4482622B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test pattern
- care
- don
- combination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 54
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 41
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 274
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 53
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 45
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 38
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 8
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 28
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 28
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 22
- 238000013101 initial test Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000004044 response Effects 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 6
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 5
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000002546 full scan Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318328—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences for delay tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318335—Test pattern compression or decompression
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
100b 中間テストパターン
(1)信号線a2の0縮退故障を検出する。
(2)信号線a1にa2と反対の論理値割り当てをする。
(1)信号線a2の1縮退故障を検出する。
(2)信号線a1にa2と反対の論理値割り当てをする。
Claims (7)
- 論理回路に対して予め与えられた遷移遅延故障を検出する複数のテストベクトルを有するテストパターンを前記論理回路に印加する前に論理値が異なるビット構成の前記遷移遅延故障を検出する新たなテストパターンに変換する変換装置において、
前記予め与えられたテストパターンの構成要素は連続して前記論理回路に印加されることが予定されたN個(N≧2)のテストベクトルであり、且つ、前記構成要素を構成するN個(N≧2)のテストベクトルは互いのビット間の関係が反転関係に限られず且つそれぞれのビット配列が交互にビット反転するものに限られないテストベクトルであり、
前記構成要素の印加により検出される前記論理回路の遷移遅延故障の検出条件をN時刻展開回路(N≧2)により定め、この検出条件を満たす前記予め与えられたテストパターン中の論理値の組み合わせであってドントケアとできないビットについての論理値の組合せを決定する決定手段を備え、
前記決定手段は前記遷移遅延故障の検出条件である信号値変化前に必要となる初期条件及び変化後の信号値を確認する条件の二つの条件のいずれをも満たすテストパターン中の論理値の組合せを決定する、変換装置。 - 前記決定手段により決定された論理値の組合せに含まれないビットの論理値をドントケアとするドントケア決定手段を備えた、請求項1記載の変換装置。
- 論理回路に対して予め与えられた所定の故障を検出する複数のテストベクトルを有するテストパターンを前記論理回路に印加する前に論理値が異なるビット構成の前記故障を検出する新たなテストパターンに変換する変換方法において、
前記予め与えられたテストパターンの構成要素は連続して前記論理回路に印加されることが予定されたN個(N≧2)のテストベクトルであり、且つ、前記構成要素を構成するN個(N≧2)のテストベクトルは互いのビット間の関係が反転関係に限られず且つそれぞれのビット配列が交互にビット反転するものに限られないテストベクトルであり、
決定手段が前記構成要素の印加により検出される前記論理回路の故障の検出条件を満たす前記予め与えられたテストパターン中の論理値の組み合わせであってドントケアとできないビットについての論理値の組合せを決定する決定ステップを含み、
前記決定ステップは、前記論理回路の故障の検出条件をN時刻展開回路(N≧2)により定め、この検出条件を満たす前記予め与えられたテストパターン中の論理値の組合せを決定する、変換方法。 - 前記決定ステップは前記決定手段が前記故障の検出条件である信号値変化前に必要となる初期条件及び変化後の信号値を確認する条件の二つの条件のいずれをも満たすテストパターン中の論理値の組合せを決定する、請求項3記載の変換方法。
- 前記決定ステップにより前記決定手段が決定した論理値の組合せに含まれないビットの論理値をドントケアとするドントケア決定ステップを含む、請求項3又は4記載の変換方法。
- 請求項3から5のいずれかに記載の変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム。
- 請求項6記載のプログラムをコンピュータが実行することが可能にて記録した記録媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006180655 | 2006-06-30 | ||
JP2006180655 | 2006-06-30 | ||
PCT/JP2007/062929 WO2008001818A1 (fr) | 2006-06-30 | 2007-06-27 | dispositif de conversion, procédé de conversion, programme et support d'enregistrement |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008001818A1 JPWO2008001818A1 (ja) | 2009-11-26 |
JP4482622B2 true JP4482622B2 (ja) | 2010-06-16 |
Family
ID=38845583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008522609A Expired - Fee Related JP4482622B2 (ja) | 2006-06-30 | 2007-06-27 | 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8037387B2 (ja) |
JP (1) | JP4482622B2 (ja) |
TW (1) | TW200831935A (ja) |
WO (1) | WO2008001818A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102412817B1 (ko) * | 2020-12-18 | 2022-06-23 | 연세대학교 산학협력단 | X 필링 방법 및 장치 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009051191A1 (ja) * | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kyushu Institute Of Technology | ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム |
KR101555736B1 (ko) * | 2008-08-20 | 2015-10-06 | 고쿠리츠 다이가쿠 호진 큐슈 코교 다이가쿠 | 생성 장치, 생성 방법 및 프로그램 |
US8872537B2 (en) * | 2009-05-20 | 2014-10-28 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit, circuit testing system, circuit testing unit, and circuit test method |
CN103592599A (zh) * | 2013-10-31 | 2014-02-19 | 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 | 基于usb逻辑分析仪触发装置 |
US10795751B2 (en) * | 2017-03-03 | 2020-10-06 | Mentor Graphics Corporation | Cell-aware diagnostic pattern generation for logic diagnosis |
US10969429B1 (en) * | 2019-08-13 | 2021-04-06 | Cadence Design Systems, Inc. | System and method for debugging in concurrent fault simulation |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001004710A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US6968286B1 (en) * | 1999-07-28 | 2005-11-22 | Lsi Logic Corporation | Functional-pattern management system for device verification |
US6327687B1 (en) * | 1999-11-23 | 2001-12-04 | Janusz Rajski | Test pattern compression for an integrated circuit test environment |
JP3845016B2 (ja) * | 1999-11-23 | 2006-11-15 | メンター・グラフィクス・コーポレーション | テスト中回路技術分野へのテストパターンの連続的な適用およびデコンプレッション |
JP4488595B2 (ja) * | 2000-06-08 | 2010-06-23 | 株式会社アドバンテスト | テストパターン生成方法 |
US7685491B2 (en) * | 2006-04-05 | 2010-03-23 | Xijiang Lin | Test generation methods for reducing power dissipation and supply currents |
-
2007
- 2007-06-27 JP JP2008522609A patent/JP4482622B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-06-27 WO PCT/JP2007/062929 patent/WO2008001818A1/ja active Application Filing
- 2007-06-28 TW TW096123402A patent/TW200831935A/zh not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-12-29 US US12/345,310 patent/US8037387B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102412817B1 (ko) * | 2020-12-18 | 2022-06-23 | 연세대학교 산학협력단 | X 필링 방법 및 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI370906B (ja) | 2012-08-21 |
JPWO2008001818A1 (ja) | 2009-11-26 |
US20090113261A1 (en) | 2009-04-30 |
WO2008001818A1 (fr) | 2008-01-03 |
TW200831935A (en) | 2008-08-01 |
US8037387B2 (en) | 2011-10-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4482622B2 (ja) | 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 | |
US8904255B2 (en) | Integrated circuit having clock gating circuitry responsive to scan shift control signal | |
US10476740B1 (en) | Data generation for streaming networks in circuits | |
US8645778B2 (en) | Scan test circuitry with delay defect bypass functionality | |
US8850280B2 (en) | Scan enable timing control for testing of scan cells | |
US11585853B2 (en) | Trajectory-optimized test pattern generation for built-in self-test | |
JP5032395B2 (ja) | テスト条件の生成方法およびテスト条件生成装置 | |
JP5066684B2 (ja) | 生成装置、生成方法、生成方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 | |
Devtaprasanna et al. | Methods for improving transition delay fault coverage using broadside tests | |
US11293980B2 (en) | Customer-transparent logic redundancy for improved yield | |
JP2007155339A (ja) | 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 | |
JP2008082867A (ja) | 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 | |
US10996273B2 (en) | Test generation using testability-based guidance | |
US10078114B2 (en) | Test point circuit, scan flip-flop for sequential test, semiconductor device and design device | |
US20220043062A1 (en) | Bidirectional scan cells for single-path reversible scan chains | |
US7313743B2 (en) | Hybrid scan-based delay testing technique for compact and high fault coverage test set | |
JP7169044B2 (ja) | 半導体集積回路、その設計方法、プログラム及び記憶媒体 | |
US5528604A (en) | Test pattern generation for an electronic circuit using a transformed circuit description | |
JP2005308471A (ja) | パスディレイテスト方法 | |
JP5221554B2 (ja) | ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム | |
Seshadri et al. | Accelerating diagnostic fault simulation using z-diagnosis and concurrent equivalence identification | |
JP2024010862A (ja) | テストパターン生成プログラム、テストパターン生成装置及びテストパターン生成方法 | |
Samala | Test Pattern Generation for Double Transition Faults | |
Wang et al. | Diagnosis of delay faults due to resistive bridges, delay variations and defects | |
Vierhaus et al. | Test Technology for Sequential Circuits |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090813 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20090907 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090917 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091211 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4482622 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402 Year of fee payment: 3 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |