JP4470896B2

JP4470896B2 - 光ディスク装置

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Publication number: JP4470896B2
Application number: JP2006062998A
Authority: JP
Inventors: 圭司上野
Original assignee: Teac Corp
Current assignee: Teac Corp
Priority date: 2006-03-08
Filing date: 2006-03-08
Publication date: 2010-06-02
Anticipated expiration: 2026-03-08
Also published as: CN101034564B; CN101034564A; JP2007242138A

Description

本発明は光ディスク装置、特に記録レーザ光パワーの調整に関する。

従来より、光ディスクにデータを記録する際に、光ディスクの所定のテストエリアにおいて記録レーザ光パワーを種々変化させてテストデータを記録し、テストデータを再生してその再生品質に基づいて最適記録パワーを設定するＯＰＣの技術とともに、実際のデータ記録中において光ディスクからの反射光量を検出し、反射光量に応じて記録レーザ光パワーを増減調整するＲＯＰＣ（ランニングＯＰＣ）が実用化されている。

ＲＯＰＣにおいては、データ記録中の反射光量のうち、記録レーザ光によりピットが形成されてその反射光量が安定するレベルＢ部分をサンプリングして検出しており、このレベルＢの値に応じて記録レーザ光パワーを増減調整する。例えば、記録レーザ光パワーをＰ、レベルＢの値をＢとすると、Ｂ／Ｐⁿが一定となるように記録レーザ光パワーＰを調整する。ｎは例えば２等に設定される。

レベルＢ部分のサンプリングは、レベルＢの安定に要する時間や、フィルタリングの帯域等を考慮すると、できるだけデータ長の長いピットで行うのが好都合である。例えば、ＤＶＤでは９Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔ等のデータ長において反射光量をサンプリングしてレベルＢの値を得ている。

下記の特許文献には、内周側より外周側に向けて試し書き領域、バッファ領域、リードイン領域、プログラム領域、リードアウト領域が設けられているディスクを角速度一定の状態で回転させる光ディスク装置において、試し書き領域及びリードアウト領域の外側にある外周領域にテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号を再生することによりレーザ出力値の設定動作を行うことが記載されている。

特開２００２−１５７７３８号公報

ＲＯＰＣでは、上記のとおりできるだけデータ長の長いピットを記録するタイミングでレベルＢを検出するが、最近ではデータ記録速度の高速化要求に応じて記録パルスの絶対時間が短くなっており、たとえデータ長の長いピットに着目したとしてもレベルＢを安定して検出することが極めて困難となっている。

さらに、光ディスクの種類が代わると、データ長の長いピットが存在しない場合も想定される。例えば、次世代光ディスクの一つであるブルーレイディスクでは、最大データ長が８Ｔであり、同期信号であっても９Ｔのデータ長しか有さず、レベルＢの検出が一層困難になる。

本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、データ記録速度の高速化、あるいは次世代光ディスクの短データ長によらず、確実にＲＯＰＣを実行して記録レーザ光のパワーを調整し、記録品質を確保できる光ディスク装置を提供することにある。

本発明は、所定の記録ブロック毎にデータを記録していく光ディスク装置であって、前記記録ブロックはユーザデータ領域を含み、記録レーザ光を照射する照射手段と、前記記録ブロックの前記ユーザデータ領域以外の所定領域において前記記録レーザ光を照射して所定データ長のテストデータを試し書きし、試し書き時の反射光量に応じて記録レーザ光パワーを調整するパワー調整手段とを有し、データ記録時において前記所定の記録ブロック毎に前記記録レーザ光パワーを繰り返し調整することを特徴とする。

本発明の１つの実施形態では、前記ユーザデータ領域以外の所定領域は、パワーを調整するためのＡＰＣ領域（オートパワーコントロール領域）であり、前記ＡＰＣ領域のうち、電流と発光量との関係を算出してパワー調整する（ＡＰＣ）ために用いる領域の残存領域を用いて前記所定データ長のデータを試し書きする。所定データ長は、記録すべきデータの規定データ長よりも長いデータ長とすることが好適である。

本発明によれば、記録ブロックのうちのユーザデータ領域以外の所定領域においてＲＯＰＣを実行するので、ＲＯＰＣの実行を担保して記録品質を確保できる。特に、ＡＰＣ領域のうちの残存領域を用い、記録すべきデータの規定データ長よりも長いデータ長のテストデータを用いることで、記録速度の増大にも対応できる。

以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。

図１に、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。ＤＶＤ、次世代光ディスク（ブルーレイ）等のデータ記録可能な光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。

光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２はシステムコントローラ３２からの指令によりＬＤの発光量を制御する。図ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、後述するようにドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。

光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。

アドレス信号の１つの例はウォブル信号であり、光ディスク１０の絶対アドレスを示す時間情報の変調信号で光ディスク１０のトラックをウォブルさせ、このウォブル信号を再生信号から抽出しデコードすることでアドレスデータ（ＡＴＩＰ）を得ることができる。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。

光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインタフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは記録品質に影響することから、通常はある最適ストラテジに固定される。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に記憶されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。

システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、特にＯＰＣとＲＯＰＣを実行する。ＯＰＣでは、光ディスク１０のテストエリアに記録パワーを階段状に変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してそのβ値やγ値、変調度、エラーレート等を測定する。そして、エラーレート等の再生信号品質が所望の値となる記録パワーを選択して最適記録パワーＰｏとする。システムコントローラ３２は、選択した記録パワーＰｏとなるようにドライバ２２を制御する。また、システムコントローラ３２は、ＲＯＰＣも実行する。ＲＯＰＣでは、上記のとおり記録レーザ光でピットを形成する時のレベルＢの値をサンプリングし、得られたレベルＢの値に応じてドライバ２２を制御し記録パワーを増減調整する。

以下、システムコントローラ３２におけるＲＯＰＣの処理について、光ディスク１０としてブルーレイを例にとり説明する。

図８に、ブルーレイのデータ構造を示す。データは記録ユニットブロック（ＲＵＢ）毎に管理され、一つのＲＵＢは２７６０チャネルビット（ｃｂｓ）のランイン部（Ｒｕｎｉｎ部）と、４９６×１９３２チャネルビットの物理クラスタ（ＰｈｙｓｉｃａｌＣｌｕｓｔｅｒ）と、１１０４チャネルビットのランアウト部（Ｒｕｎｏｕｔ部）から構成される。物理クラスタがユーザデータ領域である。ランイン部、物理クラスタ、ランアウト部のうち、先頭のランイン部にはＡＰＣ領域が設けられている。このＡＰＣ領域は５ウォブル分（５×６９チャネルビット）存在し、この領域を用いてＡＰＣが実行される。ここで、「ＡＰＣ」とは、レーザダイオード（ＬＤ）の発光特性は温度依存性があり、同一駆動電流でも発光量が変化し得ることから、電流（ｉ）と発光量（Ｌ）との関係を算出し、所望の発光量が得られる駆動電流を調整することを意味する。このＡＰＣ領域を用いて、駆動電流を種々変化させて発光量を検出し、電流と発光量との関係を算出し、所望の発光量が得られる駆動電流を算出する処理を実行する。例えば、５ｍＷと１５ｍＷでＬＤを駆動し、このときの発光量をＬＤ近傍に配置した受光素子（フロントモニタ）で検出し、ＬＤのｉ−Ｌ特性を学習あるいは補正する。ＡＰＣ領域は上記のとおり５ウォブル分だけ確保されているが、実際にｉ−Ｌ特性を学習あるいは補正するには５ウォブル分は必要とせず、ＡＰＣ領域のうちの残りの領域は未使用のまま残ることになる。

本実施形態では、この未使用の領域に着目し、ＡＰＣ領域のうちＡＰＣで使用されない残存領域を用いてＲＯＰＣを実行する。例えば、ＡＰＣ領域の５ウォブル期間のうち、２ウォブル期間をＡＰＣで用い、残りの３ウォブル期間をＲＯＰＣで用いる等である。また、ブルーレイではデータ長として２Ｔ〜８Ｔ（同期信号を含めると９Ｔまで）のデータしか出現しないが、ＡＰＣ領域では任意のテストデータを試し書きできるため、ＲＯＰＣを行う際には９Ｔより長いデータ長を有するテストデータ、例えば５０Ｔ等のテストデータを試し書きしてレベルＢを検出する。

図２に、記録ユニットブロックＲＵＢのＡＰＣ領域においてＡＰＣ及びＲＯＰＣを行う要部構成を示す。光ピックアップ１６は、ＬＤや４分割フォトディテクタＰＤ、対物レンズ、対物レンズ駆動回路（フォーカス方向及びトラッキング方向の駆動回路）の他、ＬＤを駆動するドライバ（ＬＤＤ）２２、ＬＤの近傍に配置されＬＤからの発光量を検出するフロントモニタ（ＦＭＴ）１６ｂとを備える。フロントモニタ１６ｂはＬＤからの発光量を電気信号に変換してシステムコントローラ３２に出力する。

また、４分割フォトディテクタは、ＬＤからのレーザ光のうち光ディスク１０で反射した反射光量（戻り光量）を検出し、ローパスフィルタＬＰＦ４４に供給する。

ローパスフィルタ４４は、反射光信号に含まれる高域成分をノイズとして除去し、サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６に供給する。高域成分は、例えばデータ記録時の記録ストラテジに起因する変調成分が含まれる。本実施形態では、５０Ｔ等のデータ長の長いテストデータにおいてサンプルホールドするため、ローパスフィルタ４４のカットオフ周波数ｆｃは高く設定する必要はない。サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６は、ローパスフィルタ４４からの信号をサンプルホールドし、反射光量のレベルＢを検出してシステムコントローラ３２に供給する。サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６でのサンプルホールドタイミングは、エンコーダ３６から与えられる。エンコーダ３６は、記録ユニットブロックＲＵＢのＡＰＣ領域であることを示すフォーマッタあるいはタイミングジェネレータからのタイミング制御信号Ｔａｐｃを入力し、この信号に基づいてＡＰＣ領域の開始タイミングを判定する。そして、２ウォブル期間においてＡＰＣを実行するタイミング信号をシステムコントローラ３２に供給するとともに、２ウォブル期間の終了タイミング信号、つまりＲＯＰＣの開始タイミング信号信号をシステムコントローラ３２及びサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６に供給する。サンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６は、エンコーダ３６からのＲＯＰＣ開始タイミング信号に応じて、反射光量をサンプルホールドし、レベルＢを検出する。レベルＢは上記のとおりピットが形成されて反射光量が安定したタイミングにおける値であり、ＲＯＰＣの開始タイミングから所定時間経過後のタイミングとして規定される。

エンコーダ３６は、フォーマッタあるいはタイミングジェネレータからのタイミング信号に応じて、ＡＰＣ領域においてＡＰＣ及びＲＯＰＣを実行すべく記録パルスをドライバ２２に供給するとともに、物理クラスタにおいてユーザデータを記録すべく所定の記録ストラテジに従った記録パルスをドライバ２２に供給する。図３に、ユーザデータを記録する際の記録ストラテジの一例を示す。記録ストラテジは、先頭パルスＴｔｏｐ、それに続くマルチパルスＴｍｐ、ラストパルスＴｌｐから構成される。先頭パルスＴｔｏｐのパルス幅やパルスレベル（Ｐｗ）、マルチパルスの数やパルスレベル（Ｐｂ）、ラストパルスＴｌｐのパルス幅やパルスレベル（Ｐｗ）、ラストパルスＴｌｐ後のパルス幅（Ｔｓ）やパルスレベル（Ｐｃ）により記録ストラテジは種々変化する。先頭パルスＴｔｏｐやマルチパルスＴｍｐ、ラストパルスＴｌｐはバイアスレベルＰｓに重畳されるが、バイアスレベルＰｓは再生レベルあるいは消去レベルに設定される。記録すべきデータ長が２Ｔの場合には先頭パルスＴｔｏｐのみでマルチパルスＴｍｐ及びラストパルスＴｌｐは存在せず、記録すべきデータ長が３Ｔの場合には先頭パルスＴｔｏｐ及びラストパルスＴｌｐが存在しマルチパルスＴｍｐは存在しない。記録すべきデータ長がｎＴ（ｎは４以上）の場合には、先頭パルスＴｔｏｐ、マルチパルスＴｍｐ、ラストパルスＴｌｐのいずれも存在し、
Ｔｔｏｐ＋（ｎ−３）×Ｔｍｐ＋Ｔｌｐ
で与えられる。記録ストラテジは固定でもよく、あるいはＯＰＣ実行時に最適化してもよい。

実際のデータを記録すべき場合には上記のストラテジに従うが、ＡＰＣを実行する場合には単一のパルスで駆動すればよく、また、ＲＯＰＣを実行する場合にはテストデータを試し書きするのであるから任意のストラテジを用いることができる。但し、本実施形態では、エンコーダ３６は実際のデータを記録する際の記録ストラテジを援用してテストデータを試し書きしＲＯＰＣを実行することでＲＯＰＣの実効性を確実に担保する。具体的には、データ長が５０Ｔのテストデータを記録するために、上記の式に従うと、
Ｔｔｏｐ＋４７×Ｔｍｐ＋Ｔｌｐ
なる記録ストラテジでテストデータを試し書きする。

システムコントローラ３２は、エンコーダ３６からのタイミング信号に応じてＡＰＣ領域においてＡＰＣ及びＲＯＰＣを実行すべくドライバ２２を制御する。ＲＯＰＣでは、以下のような処理を実行する。すなわち、まず、ブルーレイのテストエリアにおいてＯＰＣを実行して最適記録パワーＰｏを設定し、設定された最適記録パワーＰｏで５０Ｔのテストデータを試し書きしてそのときの反射光量のレベルＢ（これをＢｏとする）を検出しメモリに記憶しておく。このようにして得られた記録パワーＰｏ及びレベルＢの値Ｂｏが理想的な記録条件での組み合わせとなる。そして、実際のデータ記録時において、レベルＢの値をサンプリングし、Ｂｏ／Ｐｏⁿ＝Ｂ／Ｐⁿ＝一定となるように記録パワーＰを調整する。得られたＰｏ、Ｂｏ、Ｂを用いて他の方法により記録パワーＰを調整してもよい。例えば、現在の記録パワーＰと得られたレベルＢとからＢ／Ｐⁿを算出し、これとＢｏ／Ｐｏⁿとを大小比較し、大小関係に応じて一定量（例えば±０．２ｍＷ）だけ現在の記録パワーＰを増減調整してもよい。

図４に、ＡＰＣ領域におけるＡＰＣ及びＲＯＰＣの実行タイミングを示す。記録ユニットブロックＲＵＢの先頭にＡＰＣ領域１００が存在し、ＡＰＣ領域１００はＡＰＣ動作用エリアとＲＯＰＣ動作用エリアに２分割される。ＡＰＣ動作用エリアでは、図に示すように２つのパワーＰ１及びＰ２でＬＤを駆動し、そのときの発光量をフロントモニタ１６ｂで検出してｉ−Ｌ特性を得る。得られたｉ−Ｌ特性に基づき、所望の発光量が得られる駆動電流を算出し、算出した駆動電流でＬＤを駆動する。ＬＤのｉ−Ｌ特性は温度の影響を受けて変動する。したがって、ＲＵＢ毎にＡＰＣを実行して常にｉ−Ｌ特性を補正あるいは校正することが必要である。ＲＯＰＣ動作用エリアでは、上記のとおり５０Ｔのテストデータを記録し、該テストデータの試し書き中における反射光量をサンプルホールドしてレベルＢを検出する。５０Ｔのテストデータとすることで、十分に帯域の低いローパスフィルタ４４を通して、マルチパルスのノイズを十分に除去することができる。例えば、チャネルビットレートが６６ＭＨｚの場合、５０Ｔは０．７６μｓに相当するので、ローパスフィルタ４４のカットオフ周波数ｆｃは最も低い場合で１．３２ＭＨｚまで下げることができる。図には、反射光量波形（戻り光波形）、ローパスフィルタ４４通過後の波形、及びサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６のサンプルホールドタイミング波形を示す。反射光量波形には記録ストラテジの変調成分が重畳しているが、ローパスフィルタ４４でこの変調成分が除去されていることがわかる。

以上のようにして、所定周期で出現するＡＰＣ領域にてＲＯＰＣを実行し、記録パワーを増減調整しつつデータを記録する。ＲＯＰＣ実行時には図に示すように５０Ｔのテストデータを１回だけ試し書きしてレベルＢを検出してもよいが、ＡＰＣ領域１００は５ウォブル期間あり、そのうちの３ウォブル期間をＲＯＰＣに当てる場合、３×６９＝２０７チャネルビット確保できるため、５０Ｔのテストデータは１回だけでなく４回分試し書きすることができる。そこで、所定のテストエリアでＯＰＣを実行する際に記録パワーを階段状に変化させるのと同様に、記録パワーを複数段に変化させて５０Ｔのテストデータを試し書きしてＲＯＰＣを実行してもよい。

図５に、記録パワーをＰ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７と変化させて５０Ｔのテストデータを試し書きする場合のタイミングチャートを示す。図５（ａ）は記録パルス波形であり、５０Ｔのテストデータを試し書きするための記録ストラテジが４回繰り返し出現する波形である。図５（ｂ）はそのときの反射光量（戻り光）波形であり、図中ローパスフィルタ４４を通過した後の信号波形を実線で示す。図５（ｃ）はサンプルホールド回路Ｓ／Ｈ４６のサンプルホールドタイミングを示す。合計４回の５０Ｔのテストデータの試し書き及び反射光量のサンプルホールドにより、合計４組の記録パワーとレベルＢの値が得られる。これらを（Ｐ４，Ｂ４）、（Ｐ５，Ｂ５）、（Ｐ６，Ｂ６）、（Ｐ７，Ｂ７）とする。次に、これらの組み合わせを用いてＲＯＰＣを実行すべく、
反射率Ｒ＝Ｂ／Ｐ
を算出する。すなわち、Ｒ４＝Ｂ４／Ｐ４、Ｒ５＝Ｂ５／Ｐ５、Ｒ６＝Ｂ６／Ｐ６、Ｒ７＝Ｂ７／Ｐ７を算出する。さらに、これら反射率Ｒと記録パワーとの関係式を算出する。図６に、記録パワーＰと反射率Ｒとの関係を示す。システムコントローラ３２は、記録パワーＰと反射率Ｒとの関係からｆ（Ｐｘ、Ｒｘ）を算出する。そして、ＯＰＣの実行時に得られた理想的な（Ｐｏ，Ｂｏ）から理想的な反射率Ｒｏを算出し、この理想的な反射率Ｒｏを関係式ｆ（Ｐｘ、Ｒｘ）に代入することで、ＲＯＰＣ実行位置における理想的な記録パワーを得ることができる。ＲＯＰＣ処理をまとめると以下のようになる。

（１）ブルーレイのテストエリアにおいてＯＰＣを実行し、かつ、最適記録パワーＰｏで５０Ｔのテストデータを試し書きしてレベルＢを検出し、理想的な記録パワーＰｏとレベルＢの値Ｂｏとの組み合わせ（Ｐｏ，Ｂｏ）を求める。
（２）（Ｐｏ，Ｂｏ）より理想的な反射率Ｒｏ＝Ｂｏ／Ｐｏを求める。
（３）ＡＰＣ領域においてＡＰＣを実行した後、記録パワーを複数段に変化させながら５０Ｔのテストデータを複数回繰り返し試し書きし、そのときのレベルＢをそれぞれ検出して記録パワーＰとレベルＢとの組み合わせを求める。
（４）記録パワーとレベルＢとの組み合わせより反射率Ｒを求める。
（５）記録パワーと反射率との間の関係式ｆ（Ｐｘ，Ｂｘ）を算出する。
（６）理想的な反射率Ｒｏと関係式ｆとから記録パワーを算出し、現在の記録パワーを増減調整する。

本実施形態では、ＡＰＣ領域においてＲＯＰＣを繰り返し実行するため、常に記録パワーを最適値に調整することが可能である。また、５０Ｔというデータ長の長いテストデータを用いてＲＯＰＣを実行するため、記録速度増大にも対応し得る。

なお、本実施形態ではＡＰＣ領域の５ウォブル期間のうち、２ウォブル期間をＡＰＣ動作用、残りの３ウォブル期間をＲＯＰＣ動作用としているが、３ウォブル期間をＡＰＣ動作用、残りの２ウォブル期間をＲＯＰＣ動作用とする等、任意に設定することができる。また、光ディスク毎に、あるいは同一光ディスクであっても半径位置毎にＡＰＣ動作用とＲＯＰＣ動作用の比率を適応的に変化させてもよい。例えば、内周側ではＡＰＣ動作用に３ウォブル期間、ＲＯＰＣ動作用に２ウォブル期間を割り当て、外周側ではＡＰＣ動作用に２ウォブル期間、ＲＯＰＣ動作用に３ウォブル期間を割り当てる等である。内周側ではＯＰＣで設定した最適記録パワーＰｏをそのまま適用できる可能性があるので、内周側では５ウォブル期間をＡＰＣ動作用に割り当て、ＲＯＰＣ動作は行わないようにしてもよい。一般的には、外周ほどＲＯＰＣの必要性が高まるため、ＲＯＰＣの実行精度を上げるべくＲＯＰＣ動作用の比率を増大させることが好適である。

図７に、ＡＰＣ領域に対するＲＯＰＣ動作領域の比率の例を示す。ａ、ｂ、ｃの３つの場合を例示している。比率ａは、ＲＯＰＣの比率が半径によらず６０％（５ウォブル期間のうちの３ウォブル期間）と固定の場合である。比率ｂは、ある半径位置ｒ２まではＲＯＰＣの比率が４０％であり、それ以上の半径では６０％に増大する場合である。比率ｃは、ある半径ｒ１まではＲＯＰＣの比率は０％、つまりＲＯＰＣは実行せずＡＰＣのみを実行し、半径ｒ１〜ｒ２までは半径位置に応じて順次ＲＯＰＣの比率が増大し、半径位置ｒ２以上ではＲＯＰＣの比率が１００％、つまりＲＯＰＣのみを実行する場合である。比率ｃは、光ディスク１０の全ての領域においてＡＰＣとＲＯＰＣとを常に実行するのではなく、少なくとも一部の領域においてＡＰＣ領域を用いてＡＰＣとＲＯＰＣを実行することを示す。

本実施形態では、ＲＯＰＣ実行時にＢ／ＰあるいはＢ／Ｐ²を用いて記録パワーを増減調整しているが、より一般的にＢ／Ｐⁿ（ｎは１以上の実数）を用いて記録パワーを増減調整してもよい。

実施形態の光ディスク装置の全体構成図である。光ディスク装置の要部構成図である。記録ストラテジの説明図である。ＡＰＣとＲＯＰＣの実行タイミングチャートである。ＲＯＰＣの他の実行タイミングチャートである。記録パワーと反射率との関係を示すグラフ図である。光ディスクのディスク半径とＲＯＰＣ比率との関係を示すグラフ図である。ブルーレイディスクのデータ構造説明図である。

符号の説明

１０光ディスク、１６光ピックアップ、１６ｂフロントモニタ、２２ドライバ（ＬＤＤ）、３２システムコントローラ、３６エンコーダ、４４ローパスフィルタ、４６サンプルホールド回路。

Claims

所定の記録ブロック毎にデータを記録していく光ディスク装置であって、
前記記録ブロックはユーザデータ領域を含み、
記録レーザ光を照射する照射手段と、
前記記録ブロックの前記ユーザデータ領域以外の所定領域において前記記録レーザ光を照射して所定データ長のテストデータを試し書きし、試し書き時の反射光量に応じて記録レーザ光パワーを調整するパワー調整手段と、
を有し、データ記録時において前記所定の記録ブロック毎に前記記録レーザ光パワーを繰り返し調整するものであり、
前記ユーザデータ領域以外の所定領域は、パワーを調整するためのＡＰＣ領域であり、前記パワー調整手段は、前記ＡＰＣ領域のうち、電流と発光量との関係を算出するために用いる領域の残存領域を用いて前記所定データ長のデータを試し書きすることを特徴とする光ディスク装置。
請求項１記載の装置において、
前記所定データ長は、記録すべきデータの規定データ長よりも長いデータ長であることを特徴とする光ディスク装置。
請求項１記載の装置において、
前記テストデータの記録ストラテジは、記録すべきデータの記録ストラテジと同一であることを特徴とする光ディスク装置。
請求項１記載の装置において、
前記パワー調整手段は、前記テストデータを試し書きする場合の、ピットが形成され反射光量が安定化したタイミングにおける反射光量であるレベルＢの値に応じて記録レーザ光パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
請求項４記載の装置において、
前記パワー調整手段は、前記テストデータを試し書きする場合の記録レーザ光パワーＰと、前記レベルＢの値ＢとからＢ／Ｐ ⁿ （ｎは１以上の実数）を算出し、Ｂ／Ｐ ⁿ に応じて記録レーザ光パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
請求項４記載の装置において、
前記パワー調整手段は、記録レーザ光パワーを変化させて複数の前記テストデータを試し書きし、それぞれの記録レーザ光パワーにおける前記レベルＢの値に応じて記録レーザ光パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
請求項１記載の装置において、
前記ＡＰＣ領域における前記残存領域の比率は、前記光ディスク毎に可変調整されることを特徴とする光ディスク装置。
請求項１記載の装置において、
前記ＡＰＣ領域における前記残存領域の比率は、前記光ディスクの半径位置に応じて可変調整されることを特徴とする光ディスク装置。