JP4428495B2 - 研磨剤及び研磨剤スラリー - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シリコンウエハのポリッシング、多層配線構造を形成するIC後工程におけるCMP(Chemical Mechanical Polishing)に好適に供せられる研磨剤及び研磨剤スラリーに関する。
【0002】
【従来の技術】
近年のLSIの高性能化、高機能化に伴い、多層配線を進めるプロセスにおいては、リソグラフィ技術の焦点深度を確保するため、表面の平坦化処理が不可欠となっている。その超精密研磨技術として、CMP技術が急速に普及しつつあり、特にIBM社の絶縁膜平坦化技術や、金属のダマシン法が発表されて以来、急速に採用されてきている。
【0003】
CMP技術に不可欠な材料は研磨剤スラリーであり、その研磨用砥粒としてはナノメーターレベルの超微粒子が用いられている。超微粒子材料は「半導体CMP技術、土肥俊郎編著、工業調査会発行2001年1月10日発行」に記載されているように、酸化アルミニウム、二酸化珪素、酸化セリウム等が好適に用いられており、特に二酸化珪素は多層配線層の絶縁膜の研磨処理を主体に使用されている。さらには、二酸化珪素はCu配線工程においても多用されつつある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
二酸化珪素超微粉末には、四塩化珪素から製造されるヒュームドシリカ、ケイ酸ナトリウムから液相中で形成されるコロイダルシリカ、更には有機シリケートを加水分解して得られるコロイダルシリカ等があるが、それぞれ一長一短がある。
【0005】
ヒュームドシリカは、高純度微粉末が得られやすいのでCMPスラリーとして好適である。たとえば、特開平11−302633号公報には、従来の研磨剤が純度管理が不十分であることを指摘し、研磨剤微粉末としてはヒュームドシリカが好適であるとし、更にスラリー中での微粉末安定化に向けた種々の添加剤の不純物を制御することで、CMP用に適したスラリーの発明を開示している。しかしながら、ヒュームドシリカは単分散化しておらず、個々の粒子が網目状構造に連なった凝集構造を形成しており、スラリー中でもこの構造を維持しながら研磨に供されるため、特開2000−208451号公報に記載のように、往々にして配線層表面にスクラッチと呼ばれる微小な傷が生じやすい。この凝集を防止するため種々の分散剤、界面活性剤等が使用され工夫されているが、まだまだ満足されたものではない。
【0006】
ケイ酸ナトリウムを原料とするコロイダルシリカは、スラリー中での単分散微粒子形成が可能であるが、特開2000−208451号公報に記載のように、コロイダルシリカ中のNa等の不純物が多く、酸洗浄等によってそれを除去処理をしても原料のケイ酸ナトリウムに起因するナトリウム不純物を十分なレベルにまで低減することは困難であり、CMP用として必要な高純度化までには至っていない。
【0007】
有機シリケートを原料とするコロイダルシリカは、単分散微粒子化と高純度化が可能であるが、原料価格に由来して高価格となり、それが解決されるまでは広く普及しないものと考えられる。
【0008】
本発明の目的は、ヒュームドシリカと同等の高純度を有し、経時安定性に優れ、スクラッチ発生の極めて少ない高品質の磨剤剤及び研磨剤スラリーを提供することである。本発明の目的は、金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られる二酸化珪素微粉末を特定量・種のシランカップリング剤で処理したものを研磨剤とすることによって達成することができる。
【0009】
すなわち、本発明は、金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nmで、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末のシランカップリング剤による表面処理物からなり、上記シランカップリング剤による表面処理量が、処理前後の炭素量増分として0.05〜1.0質量%であり、しかも上記シランカップリング剤が、γ−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン又はフェニルトリエトキシシランであることを特徴とする研磨剤である。
また、本発明は、金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nmで、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末のシランカップリング剤とシランモノマー剤との混合物による表面処理物からなり、上記混合物のシランカップリング剤:シランモノマー剤との質量比が7:3〜9.5:0.5であり、しかも上記シランカップリング剤による表面処理量が、処理前後の炭素量増分として0.05〜1.0質量%であり、上記シランカップリング剤がγ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(β−アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン又はNフェニルγアミノプロピルトリメトキシシランで、上記シランモノマー剤がメチルトリエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン又はn−オクチルトリエトキシシランであることを特徴とする研磨剤である。
また、本発明はこの研磨剤を水に分散させてなることを特徴とする研磨剤スラリーである。
さらに、金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nm で、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末を、その生成工程から捕集工程の気流中に、シランカップリング剤又はシランカップリング剤とシランモノマー剤との混合物を気化させて併存流入させることを特徴とする上記に記載の研磨剤の製造方法である。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、更に詳しく本発明を説明する。
【0011】
本発明で使用される二酸化珪素微粉末の第1要件は、水酸基濃度3〜10個/nm2である。
【0012】
通常、二酸化珪素粒子はその表面に水酸基を有し、その水酸基の有する極性のために比較的弱い水素結合が形成され凝集状態となる。この凝集はわずかな外力によって解離できるが、再凝集しやすいので、研磨剤スラリーとして好適に利用するには、粒子表面の水酸基をシランカップリング剤等で処理することが必要である。この処理によって、単分散性を付与することの他に、スラリー中での粒子の沈降性を抑制する効果を発現する。シランカップリング剤による処理効果は微粉末表面の水酸基濃度に依存し、3〜10個/nm2の範囲にある場合に好適な効果が発現される。水酸基濃度が3個/nm2未満であると、シランカップリング剤による処理効果が不十分となって高分散化が困難となり、また沈降しやすくなる。一方、水酸基濃度が10個/nm2よりも大きいと、粒子間同士の凝集が起こりやすく、またシランカップリング剤による処理も十分に行えなくなり、これまた高分散化が困難となる。このような分散のよくない研磨剤スラリーを用いるとスクラッチが往々にして発生する。水酸基濃度は、金属Si蒸気及び/又は亜酸化珪素蒸気の発生温度及び酸化時に併存させる水分濃度で調整が可能であり、これについては後記する。
【0013】
本発明において、二酸化珪素微粉末の水酸基濃度は、カールフィッシャー法によって測定される。具体的には水分気化装置に当該微粉末をセットし、電気ヒーターで加熱しながら、脱水処理されたアルゴンガスをキャリアガスとして供給し、当該微粉末表面に付着した水酸基が縮合して揮発することにより生成する水蒸気を測定器に導き、その水分量を測定することによって行われる。加熱温度900℃までに発生する水分のうち、吸着水による水分量を除いて発生した水分量を水酸基の脱水縮合によるものとみなし、それを基に単位表面積あたりの水酸基濃度を求めることができる。吸着水分は、200℃までの加熱範囲で発生する水分として測定される。
【0014】
本発明で使用される二酸化珪素微粉末の第2要件は、実質的にストラクチャー構造を形成していないことである。ヒュームドシリカは、高純度ではあるが、個々の粒子が網目状構造に連なったストラクチャー構造を形成しているので、それを用いた研磨剤スラリーでは往々にして配線層表面にスクラッチが生じやすくなるが、本発明の二酸化珪素微粉末によればこの問題を解消させることができる。
【0015】
本発明において、「実質的にストラクチャー構造を形成していない」とは、以下に従ってTEM観察された粒子の球形度が0.9以上であると定義される。具体的には任意に選ばれた20個以上の粒子について画像解析装置によって取り込み、表示された値が0.9以上である。画像解析装置としては、例えば日本アビオニクス社製「SPICCA−II」が用いられる。
【0016】
TEM(透過型電子顕微鏡)観察は、二酸化珪素微粉末を分散させ、所定の倍率(粒子の大きさに応じて10万倍〜100万倍)で写真撮影を行い、ストラクチャーの形成観察と画像解析によって行われる。二酸化珪素微粉末の分散方法としては、例えばアセトン溶媒に極微量の試料を超音波分散させ、その希薄な溶液をメンブランフィルターで吸引濾過して粉末を分散状態にして乾燥する。その後フィルターに付着したままの粉末をTEM観察する。
【0017】
本発明で使用される二酸化珪素微粉末の比表面積は50〜200m2/g、炭素量0.01質量%以下、Fe、Na、Clの各イオン成分の合計が30ppm以下特に20ppm以下であることが好ましい。比表面積は窒素ガス吸着法、炭素量は、炭素/硫黄同時分析計「CS−444LS型」(LECO社製)、Fe、Na、Clの各イオン成分は抽出法による原子吸光光度法で測定される。なお、Feイオンは王水で、またNaイオン、Clイオンはイオン交換水でそれぞれ抽出して測定する。
【0018】
本発明で使用される二酸化珪素微粉末は、金属Si蒸気及び/又は亜酸化珪素蒸気の気相成分を酸化することによって製造できる。金属Si蒸気は、高純度Si原料を用いて2000℃以上に加熱気化させることにより発生させることができる。加熱・気化手段としては、高周波加熱、アーク加熱、もしくは炭化水素ガスによる火炎中に金属Si微粉末を投入する等、2000℃以上の高温度を実現できる方式で、不純物混入が避けられる方式が好ましい。一方、亜酸化珪素蒸気は、例えば高純度珪石を高純度炭素の存在下で1600℃以上に加熱することにより、炭素による珪石の還元反応を起こさせることによって発生させることができる。二酸化珪素微粉末の水酸基濃度、比表面積等は、金属Si蒸気及び/又は亜酸化珪素蒸気の発生温度、酸化時に併存させる水分濃度、酸素ガス供給量によって調整することができる。
【0019】
つぎに、本発明で使用されるシランカップリング剤種は、アミノ基を有するカップリング剤種とシランモノマーとを質量比7:3〜9.5:0.5で組み合わせたもの、又はフェニル基を有するシランカップリング剤である。
【0020】
アミノ基を有するシランカップリング剤としては、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(β−アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン等があり、シランモノマーとしては、メチルトリエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、n−オクチルトリエトキシシラン等がある。これらのシランカップリング剤は、単独では二酸化珪素微粉末の分散性が不十分となって、微粉末相互の凝集を解消できずに沈降しやすくなるが、両者の特定量を併用するとそれが大幅に改善される。このメカニズムは明らかでないが、アミノ基を有するカップリング剤では被覆処理しきれない孤立水酸基を分子量の小さいシランモノマーが被覆し、単分散化及び非沈降性を発現しているものと考えられる。
【0021】
一方、フェニル基を有するシランカップリング剤としては、γ−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン等があげられ、このれらは単独使用をしても高分散性・非沈降性を実現できる。
【0022】
シランカップリング剤の処理量は、炭素成分値で代表させ、処理後の炭素量増分として0.05〜1.0質量%となる量である。処理量が0.05質量%未満では効果が不十分であり、孤立水酸基による凝集を完全に解消できず、凝集粒子による研磨面への傷が発生する。一方、処理量が1.0質量%超であると、シランカップリング剤により粒子間の凝集が発生し、やはり単分散化、非沈降性の効果が十分でなくなる。なお、本発明の二酸化珪素微粉末の処理前の炭素量は、通常、0.01質量%以下である。
【0023】
本発明においては、シランカップリング剤の処理は微量であるため、二酸化珪素微粉末の生成工程から捕集工程の任意の気流中に、シランカップリング剤を気化させて併存流入させることが好ましく、これによって効率的かつ十分な処理が可能となる。
【0024】
シランカップリング剤による処理量は、二酸化珪素微粉末の処理前後の炭素量を試料0.1gを用いて炭素/硫黄同時分析計「CS−444LS型」(LECO社製)により測定し、検量線法にて求めることができる。
【0025】
本発明の研磨剤スラリーは、上記本発明のシランカップリング剤で処理された二酸化珪素微粉末をイオン交換水に例えば10重量%濃度に分散させることによって製造することができる。分散にはビーズミル等媒体攪拌ミルが使用される。研磨剤スラリーは弱酸性を有するので、例えばCMP用層間絶縁膜や金属膜研磨用に好適なものとするため、アンモニア水等によってpH9〜11に調整しておくことは好ましい。
【0026】
本発明において、研磨剤スラリー中の二酸化珪素微粉末の高分散化・非沈降性は、二酸化珪素微粉末10%濃度のスラリー1kgを調製し、1ヶ月間静置させた後の沈降量を測定することによって行うことができる。凝集粒子は粗大粒子として振る舞うために沈降しやすく、沈降程度はストークスの式に従うことになる。本発明で使用される二酸化珪素微粉末は、比表面積50〜200m2/g(BET径55〜13nm)が好適となるが、例えばBET径100nmでは沈降速度が約8×10-4m/日と算出される。
【0027】
本発明の研磨剤スラリーの研磨性能は、図1にその概略を示すように、研磨対象物として4インチSiウエハーを使用し、バフ(BUEHLER社製マスターテックス)面への印加加重を5.6Pa、バフ面回転数100rpm、研磨剤スラリー(10%濃度)投入量25cm3/分として20分間研磨処理(BUEHLER社製全自動研磨機「ECOMET4/AUTOMET3」)を実施し、処理後のSiウエハー研磨面の微細構造を電子顕微鏡にて観察し、100μm四方の領域における微小な傷の有無(スクラッチ発生本数)を測定することによって行うことができる。なお、ウエハーの被研磨面には、あらかじめ熱酸化による二酸化珪素絶縁膜(1μm厚み)を形成させた。
【0028】
【実施例】
以下、実施例、比較例を挙げて更に具体的に説明する。
【0029】
実施例1〜4
高純度金属Si原料を高周波加熱炉にて2000℃以上の各種温度に加熱して金属Si蒸気を発生させ、湿度70%以下の範囲内で空気の湿度と流入量を変え、種々の比表面積と水酸基濃度を有する二酸化珪素微粉末を製造し、バグフィルターで捕集する前工程において、表3に示されるシランカップリング剤を加熱気化させて捕集管内に流入させ、シランカップリング剤処理二酸化珪素微粉末を捕集した。
【0030】
実施例5〜7
高純度炭素と高純度珪石を用い、高周波加熱炉にて1600℃以上の各種温度に加熱して得られた亜酸化珪素蒸気を用いそれを酸化させたこと以外は、実施例1と同様にしてシランカップリング剤処理二酸化珪素微粉末を捕集した。
【0031】
比較例1、2
シランカップリング剤による処理を行わなかったこと以外は、実施例1又は実施例2と同様にして二酸化珪素微粉末を製造した。
【0032】
比較例3、4
エポキシ系シランカップリング剤又はアミノ系シランカップリング剤を用いたこと以外は、実施例3と同様にしてシランカップリング剤処理二酸化珪素微粉末を捕集した。
【0033】
比較例5〜7
アミノ基含有シランカップリング剤とシランモノマーの割合が異なる混合物を用い、その処理量を0.1質量%又は0.8質量%としたこと以外は、実施例5、6又は7と同様にしてシランカップリング剤処理二酸化珪素微粉末を捕集した。
【0034】
比較例8〜10
実施例7又は実施例4に準じ、気相化温度、酸化用空気の湿度を調整して水酸基濃度2個/nm2未満又は14個/nm2の二酸化珪素微粉末を製造し、各種シランカップリング剤処理を行ってシランカップリング剤処理二酸化珪素微粉末を捕集した。
【0035】
比較例11、12
ヒュームドシリカとして「アエロジル130」(日本アエロジル社製)を用い、シランカップリング剤処理なしの比較例11と、アエロジルとともにボールミル中にシランカップリング剤を噴霧処理した比較例12を製造した。
【0036】
実施例・比較例で製造された各種二酸化珪素微粉末の比表面積、水酸基濃度、Fe、Na、Clの各イオン成分、シランカップリング剤処理量を上記に従い測定するとともに、それをイオン交換水に分散させた10質量%濃度の研磨剤スラリーを調製し、沈降量と研磨特性を測定した。実施例の結果を表1に、比較例の結果を表2に示す。また、二酸化珪素微粉末のストラクチャー構造の形成の有無を上記に従い測定したところ、比較例11、12では観察されたが、それ以外では観察されなかった。
【0037】
【表1】
Figure 0004428495
【0038】
【表2】
Figure 0004428495
【0039】
【表3】
Figure 0004428495
【0040】
【発明の効果】
本発明の研磨剤は、ヒュームドシリカを用いたのと同等の高純度を示すと共に、個々の粒子間での凝集が極めて少ない経時安定性の高いものである。本発明の研磨剤スラリーは、二酸化珪素微粉末が高分散化され非沈降性であり、それを用いてSiウエハー面のポリッシング、多層配線層のCMP用研磨を行っても、スクラッチ発生の極めて少ない研磨が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ウエハー研磨試験装置の概略図
【符号の説明】
1 試料ホルダー
2 全自動研磨機
3 バフ
4 研磨剤スラリー滴下装置
5 Siウエハー

Claims (6)

  1. 金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nmで、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末のシランカップリング剤による表面処理物からなり、上記シランカップリング剤による表面処理量が、処理前後の炭素量増分として0.05〜1.0質量%であり、しかも上記シランカップリング剤が、γ−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン又はフェニルトリエトキシシランであることを特徴とする研磨剤。
  2. シランカップリング剤がフェニルトリエトキシシランであることを特徴とする請求項1記載の研磨剤。
  3. 金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nmで、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末のシランカップリング剤とシランモノマー剤との混合物による表面処理物からなり、上記混合物のシランカップリング剤:シランモノマー剤との質量比が7:3〜9.5:0.5であり、しかも上記シランカップリング剤による表面処理量が、処理前後の炭素量増分として0.05〜1.0質量%であり、上記シランカップリング剤がγ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(β−アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン又はNフェニルγアミノプロピルトリメトキシシランで、上記シランモノマー剤がメチルトリエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン又はn−オクチルトリエトキシシランであることを特徴とする研磨剤。
  4. シランカップリング剤がNフェニルγアミノプロピルトリメトキシシランであり、シランモノマー剤がメチルトリエトキシシランであることを特徴とする請求項3記載の研磨剤。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載の研磨剤を水に分散させてなることを特徴とする研磨剤スラリー。
  6. 金属Si及び/又は亜酸化珪素の気相成分を酸化して得られた、水酸基濃度3〜10個/nm で、実質的にストラクチャー構造を形成していない二酸化珪素微粉末を、その生成工程から捕集工程の気流中に、シランカップリング剤又はシランカップリング剤とシランモノマー剤との混合物を気化させて併存流入させることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の研磨剤の製造方法。
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