JP4311240B2 - 半田検査装置および半田検査方法 - Google Patents
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Description
置決め部1によってマスクプレート12に対して位置合わせされ下方から当接する。基板6の回路形成面の半田印刷範囲6e内には、図4(a)に示すように種類の異なる電子部品P1,P2,P3,P4を接合するための電極6a、6b、6c、6dが設けられている。電極6a、6b、6c、6dは、それぞれの電子部品の接続用電極に応じて丸や四角など異なった形状となっており、さらに同一形状でもサイズが異なっている。
27a、部品データライブラリ27b、マスク開口データライブラリ27c、しきい値データ27dは、通信部29を介してデータ管理用のコンピュータなどの他装置から転送され記憶される。
称面積SA(開口面積)に加算して、検査基準面積STDを算出するようにしている。
T25)、また範囲内でなければ不良品と判定する(ST26)。すなわち、撮像工程における撮像結果から求められた半田印刷面積SCを予め記憶された検査基準面積STDと比較することにより、印刷状態の良否を判定する(判定工程)。
6 基板
6a,6b,6c,6d 電極
9 クリーム半田
12 マスクプレート
16 パターン孔
20 カメラ
STD 検査基準面積
SA 公称面積
LA 公称周囲長
WA 補正幅
Claims (6)
- マスクプレートに設けられたパターン孔を介して基板に印刷された半田の印刷状態を検査する半田検査装置であって、半田印刷後の基板において前記半田印刷位置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段による撮像結果から求められた前記基板の各電極に形成された要素半田印刷部の半田印刷面積を予め記憶された検査基準面積と比較することにより前記印刷状態の良否を判定する判定手段と、前記パターン孔の貫通開口部の開口面積および開口周囲長を含む開口部形状データを提供する開口部データ提供手段と、前記検査基準面積を前記開口部形状データに基づいて求める検査用データ作成手段とを備え、前記検査用データ作成手段は、前記開口周囲長に前記開口部形状データおよび正常に印刷された前記要素半田印刷部の半田印刷面積であって実測により求められた良品面積から算出され記憶された補正幅を乗じた補正面積を前記開口面積に加算して前記検査基準面積を算出することを特徴とする半田検査装置。
- 前記開口周囲長として、前記貫通開口部に外接する多角形の周長を代替して用いることを特徴とする請求項1記載の半田検査装置。
- 前記開口周囲長に代えて、前記開口周囲長と一定の相関関係を有するデータを用いることを特徴とする請求項1記載の半田検査装置。
- マスクプレートに設けられたパターン孔を介して基板に印刷された半田の印刷状態を検査する半田検査方法であって、前記パターン孔の貫通開口部の開口面積および開口周囲長を含む開口部形状データを取得する開口部データ取得工程と、検査基準面積を前記開口部形状データに基づいて求め検査用データとして記憶する検査用データ作成工程と、半田印刷後の基板において前記半田印刷位置を撮像する撮像工程と、前記撮像工程における撮像結果から求められた前記基板の各電極に形成された要素半田印刷部の半田印刷面積を記憶された前記検査基準面積と比較することにより前記印刷状態の良否を判定する判定工程とを含み、前記検査用データ作成工程において、前記開口周囲長に前記開口部形状データおよび正常に印刷された前記要素半田印刷部の半田印刷面積であって実測により求められた良品面積から算出され記憶された補正幅を乗じた補正面積を前記開口面積に加算して前記検査基準面積を算出することを特徴とする半田検査方法。
- 前記開口周囲長として、前記貫通開口部に外接する多角形の周長を代替して用いることを特徴とする請求項4記載の半田検査方法。
- 前記開口周囲長に代えて、前記開口周囲長と一定の相関関係を有するデータを用いることを特徴とする請求項4記載の半田検査方法。
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