JP4277777B2

JP4277777B2 - 実装構造体、実装用基板、電気光学装置及び電子機器

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Inventors: 正則湯本; 善久平野
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Description

本発明は、電気的に接続される２枚の基板を有する実装構造体、実装用基板、電気光学装置、及びその電気光学装置を用いた電子機器に関する。

電気光学装置、例えばＣＯＧ（ＣｈｉｐｏｎＧｌａｓｓ）方式の液晶装置は、一対の基板間に液晶を封入した液晶パネルと、液晶パネルの基板上に実装された半導体素子と、該半導体素子と電気的に接続するフレキシブル配線基板と、液晶パネルに対してフレキシブル配線基板及び半導体素子を介して信号を供給する回路基板と、を有している。フレキシブル配線基板と回路基板とは、フレキシブル配線基板と回路基板それぞれに設けられる電極パターンとしての接続端子がＡＣＦ（ＡｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃＣｏｎｄｕｃｔｉｖｅＦｉｌｍ；異方性導電フィルム）を介して電気的に接続されることにより、接続されている。この電極パターンは、例えば千鳥状に配列される（例えば、特許文献１参照。）。
特開平８−７０１６７号公報（段落［００１３］〜［００１５］、図１）

しかしながら、上述のような構成の液晶装置においては、接続端子が千鳥状に配列されて複数例に配置されているため、接続端子を一列に並べるよりも、フレキシブル配線基板と回路基板との接着面積領域を縮小することができるものの、十分に縮小することができないという問題があった。また、フレキシブル配線基板上の接続端子と回路基板上の接続端子との位置ずれ検査が容易ではなく、フレキシブル配線基板と回路基板との接続不良の有無の確認を、目視などによって行う必要があり、作業効率が悪いという問題があった。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたもので、２枚の基板の電気的接着面積の更なる縮小化を実現し、更に、２枚の基板それぞれに設けられる接続端子同士の位置ずれ検査が容易な実装構造体、実装用基板、電気光学装置、及びその電気光学装置を用いた電子機器を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の実装構造体は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板とを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、第１の基板と第２の基板との接続面積を縮小化することが可能となる。また、第１の基板において接続用配線と第１の接続端子及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部（第２の部分）が第１の接続端子及び第２の接続端子の幅よりも狭い幅となっているので、第１の基板と第２の基板との接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１の接続端子及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、実装構造体に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができるので、実装構造体の製造効率が向上し、接続不良のない安定した品質の実装構造体を容易に得ることができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から実装構造体に対して光を照射し、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光との強度差（色差）を観察する。すなわち、第１基板と第２基板とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線の第１の部分は第３の接続端子と平面的に完全に重なることになり、接続用配線による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、第１基板と第２基板とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。このように、反射光を用いて位置ずれを検査することができ、観察される反射光のパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

また、前記第１の基板及び前記第２の基板は、前記第１の接続端子、前記第２の接続端子、前記第３の接続端子及び前記接続用配線よりも、高い光透過率を有することを特徴とする。

このような構成によれば、第１の基板と第２の基板との位置ずれ検査として、実装構造体の第１の基板と第２の基板とが重なる領域に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１、第２及び第３の接続端子、接続用配線のうち少なくとも１つが存在する領域と、これらが存在しない領域とでは、光の透過率が異なるため明暗が認識でき、第１、第２及び第３の接続端子及び接続用配線によって平面的に形成されるパターン形状を暗いパターン形状として認識することができる。そして、このパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができ、第１、第２及び第３）の接続端子及び接続用配線によって平面的に形成されるパターン形状を視認することにより容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができる。従って、実装構造体の製造効率が向上し、接続不良のない安定した品質の実装構造体を容易に得ることができる。

また、前記第１及び第２の接続端子と、前記第３の接続端子とは、光透過性の導電部材により接続されていることを特徴とする。

このように光透過性の導電部材、例えば光透過性の樹脂に導電粒子が分散されたものを用いることができる。そして、例えば光照射による位置ずれ検査を行う場合、導電部材によって光が遮断されることがなく、位置ずれ検査を容易に行うことができる。

本発明の他の実装構造体は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より小さい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１の部分よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板とを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、第１の基板と第２の基板との接続面積を縮小化することが可能となる。また、第１及び第２の接続端子は接続配線の第１の部分よりも大きく形成されているので、第１基板と第２基板との実装時に、位置ずれにより第２の基板の第３の接続端子と第１及び第２接続端子との接続不良を少なくすることができる。また、第１の基板において接続用配線と第１の接続端子及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部が第１の部分と第２の部分とによって形成された縊れ部分を有しているので、第１の基板と第２の基板との接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１の接続端子及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、実装構造体に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部（接続配線の縊れ部分）を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができるので、実装構造体の製造効率が向上し、接続不良のない安定した品質の実装構造体を容易に得ることができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から実装構造体に対して光を照射し、接続用配線、第１、第２及び第３の接続端子による反射光により形成されるパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の更に他の実装構造体は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より大きい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板とを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、）更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、第１の基板と第２の基板との接続面積を縮小化することが可能となる。また、第１の基板において接続用配線と第１の接続端子及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部が第１の部分と第２の部分とによって形成された縊れ部分を有しているので、第１の基板と第２の基板との接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１の接続端子及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、実装構造体に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続用配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部（接続配線の縊れ部分に相当）を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ部付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができるので、実装構造体の製造効率が向上し、接続不良のない安定した品質の実装構造体を容易に得ることができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から実装構造体に対して光を照射し、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光との強度差（色差）を観察する。すなわち、第１基板と第２基板とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線の第１の部分は第３の接続端子と平面的に完全に重なることになり、接続用配線による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、第１基板と第２基板とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。このように、反射光を用いて位置ずれを検査することができ、観察される反射光のパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。ここで、接続用配線の第１の部分は、第１及び第２の接続端子より平面的に大きく形成されているため、第１基板を平面的に観察した場合、第１及び第２の接続端子は接続用配線と完全に重なりあい接続用配線によって観察できないので、反射光による位置ずれ検査の際、単純に接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の２種類のみが観察され、３種類以上の反射光を観察する場合と比較して、検査が容易である。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の実装用基板は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールとを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、）更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、実装用基板を縮小化することが可能となる。また、本発明による実装用基板は、接続用配線と第１の接続端子及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部（第２の部分）が第１の接続端子及び第２の接続端子の幅よりも狭い幅となっているので、例えば、この実装用基板と第３の端子を有する第２の基板とを接続して第１及び第２の接続端子と第３の接続端子とを接続する場合、接続後における両基板の位置ずれ検査及び第１の接続端子及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続用配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ部付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から光を照射し、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光との強度差（色差）を観察する。すなわち、第１基板と第２基板とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線の第１の部分は第３の接続端子と平面的に完全に重なることになり、接続用配線による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、第１基板と第２基板とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。このように、反射光を用いて位置ずれを検査することができ、観察される反射光のパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の他の実装用基板は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より小さい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１の部分よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールとを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、実装用基板を縮小化することが可能となる。また、第１及び第２の接続端子は接続配線の第１の部分よりも大きく形成されているので、例えば、第３の端子を有する第２の基板と本発明における実装用基板とを実装する際、両基板の位置ずれによる、実装用基板の第１及び第２の接続端子と第２の基板の第３の接続端子との接続不良を少なくすることができる。また、実装用基板において、接続用配線と第１の接続端子及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部が第１の部分と第２の部分とによって形成された縊れ部分を有しているので、例えば本発明の実装用基板と第３の接続端子を有する第２の基板とを接続する場合、接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、実装構造体に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部（接続配線の縊れ部分に相当）を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ部付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から実装構造体に対して光を照射し、接続用配線、第１、第２及び第３の接続端子による反射光により形成されるパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の更に他の実装用基板は、第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より大きい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールとを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子と重なるように接続用配線を設け、）更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、実装用基板を縮小化することが可能となる。また、実装用基板において、接続用配線と第１及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部が第１の部分と第２の部分とによって形成された縊れ部分を有しているので、本発明における実装用基板と第３の端子を有する第２の基板とを接続する場合、接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続用配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部（接続配線の縊れ部分に相当）を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認する、言い換えると接続用配線の第１の部分と第２の部分とによって形成される縊れ部付近の形状がどのように観察されるかを視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができる。更に、第２の基板が４層基板構造等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から光を照射し、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光との強度差（色差）を観察する。すなわち、第１基板と第２基板とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線の第１の部分は第３の接続端子と平面的に完全に重なることになり、接続用配線による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、第１基板と第２基板とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。このように、反射光を用いて位置ずれを検査することができ、観察される反射光のパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。また、接続用配線の第１の部分は、第１及び第２の接続端子より平面的に大きく形成されているため、第１基板を平面的に観察した場合、第１及び第２の接続端子は接続用配線と完全に重なりあい接続用配線によって観察できないので、反射光による位置ずれ検査の際、単純に接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の２種類のみが観察され、３種類以上の反射光を観察する場合と比較して、検査が容易である。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の電気光学装置は、電気光学物質と、前記電気光学物質を保持する電気光学装置用基板と、前記電気光学装置用基板に電気的に接続する第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し且つ前記第１の方向に沿って前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、前記第２の面に配置され前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、前記各第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板とを具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、第１の接続端子と第２の接続端子とを千鳥状ではなく第２の方向に沿って設け、第１の接続端子と第２の接続端子とを重なるように配線を設け、更に第２の接続端子と接続用配線とを電気的に接続しているので、第１の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第１の面、第２の接続端子と電気的に接続する導電パターンを第２の面というように、別々の面に設けることができ、千鳥状に接続端子を設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができる。言い換えると、同じ数の接続端子を設ける場合においては、第１の基板と第２の基板との接続面積を縮小化することが可能となる。また、第１の基板において接続用配線と第１及び第２の接続端子とが平面的に重なり、接続用配線の少なくとも一部（第２の部分）が第１及び第２の接続端子の幅よりも狭い幅となっているので、第１の基板と第２の基板との接続後における両基板の位置ずれ検査、すなわち第１及び第２の接続端子と第３の接続端子との接続不良検査を容易に行うことができる。すなわち、例えば、第１の基板及び第２の基板を、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線よりも、高い光透過率を有するものとする、より具体的には、第１の基板及び第２の基板を光透過性を有するものとし、第１の接続端子、第２の接続端子、第３の接続端子及び接続用配線を光遮断性を有すものとする場合、位置ずれ検査として、実装構造体に対して一方の側から光を照射し、他方の側からその透過光を観察すると、第１の基板のみが存在する領域、第２の基板のみが存在する領域または第１の基板と第２の基板のみが重なる領域においては、光が透過するのに対し、第１、第２及び第３の接続端子及び接続配線のうち少なくとも１つが存在する領域においては光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ、第１の方向に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合のみ、接続不良がないと判断することができる。このように、光遮断領域のパターン形状を視認することにより、容易に位置ずれ及び接続不良を判断することができるので、電気光学装置の製造効率が向上し、接続不良のない表示特性の良い電気光学装置を容易に得ることができる。更に、第２の基板が４層基板等で光透過性が悪い場合には、反射にて位置ずれ検査を行うことができる。具体的には、第１の基板側から実装構造体に対して光を照射し、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光との強度差（色差）を観察する。すなわち、第１基板と第２基板とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線の第１の部分は第３の接続端子と平面的に完全に重なることになり、接続用配線による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、第１基板と第２基板とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線による反射光と第３の接続端子による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。このように、反射光を用いて位置ずれを検査することができ、観察される反射光のパターン形状により接続不良の有無を判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、第１基板及び第１基板と第２基板とを接続するＡＣＦといった接着材には光透過性が必要であるが、第２基板には光透過性があってもなくても検査には問題ない。

本発明の電子機器は、上述に記載の電気光学装置を具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、２枚の基板間における接続不良のない、表示特性の良い表示画面を有する電子機器を得ることができる。

以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、電気光学装置として液晶装置を例にあげる。具体的にはＣＯＧ方式の単純マトリクス型の液晶装置について説明するが、ＴＦＴ方式やＴＦＤ方式のアクティブマトリック方式であっても良い。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。

<実装構造体及び電気光学装置の構成>

図１は本発明の実施形態に係る実装構造体を有する電気光学装置としての液晶装置の概略斜視図である。図２は、図１の楕円Ａで囲まれた領域の部分拡大図であり、分解斜視図である。尚、図２では、フレキシブル配線基板とリジット基板とを電気的に接続する導電部材としてのＡＣＦ（ＡｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃＣｏｎｄｕｃｔｉｖｅＦｉｌｍ；異方性導電フィルム）の図示を省略している。図３は、図１の楕円Ａで囲まれた領域におけるフレキシブル配線基板の概略部分拡大平面図である。図３（ａ）、（ｂ）はともに、図１の矢印Ｂの方向からフレキシブル配線基板を見たときの平面図である。図３（ａ）は、矢印Ｂの方向から見たときに視認できる面（後述する第２の面３０ｂ）に設けられた接続配線を図示し、図３（ｂ）は、矢印Ｂ´の方向から見たときに視認できる面（後述する第１の面３０ａ）に設けられた接続端子を透視して図示している。図４は、図２の線Ｃ―Ｃ´で切断したフレキシブル配線基板とリジット基板の概略断面図である。

図１に示すように、液晶装置１は、電気光学パネルとしての液晶パネル２と、液晶パネル２を挟み込むように設けられた一対の偏光板（図示せず）と、液晶パネル２に電気的に接続されたフレキシブル配線基板１３０と、液晶パネル２に実装された駆動用ＩＣ２０と、実装用基板としてのフレキシブル配線基板１３０に電気的に接続された回路基板４０と、フレキシブル配線基板１３０に電気的に接続された第２の基板としてのリジット基板１５０とを具備している。液晶装置１は、実装構造体としての、フレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０との接続構造を有する。

液晶パネル２は、シール材（図示せず）により接着された一対のガラスなどの絶縁基板からなる第１液晶装置用基板２１と、電気光学装置用基板としての第２液晶装置用基板２２を有している。一対の第１液晶装置用基板２１及び第２液晶装置用基板２２とシール材により囲まれた領域内には、電気光学物質として例えば９０度捩じれＳＴＮ（ＳｕｐｅｒＴｗｉｓｔｅｄＮｅｍａｔｉｃ）液晶（図示せず）が保持されている。

第１液晶装置用基板２１には、透明のＩＴＯ（ＩｎｄｉｕｍＴｉｎＯｘｉｄｅ）膜からなる複数のストライプ状のコモン電極（図示せず）と、これを覆う配向膜（図示せず）が設けられている。

一方、第２液晶装置用基板２２には、コモン電極と平面的に交差するように、透明のＩＴＯ膜からなる複数のストライプ状のセグメント電極（図示せず）と、これを覆う配向膜（図示せず）が設けられている。

第２液晶装置用基板２２は第１液晶装置用基板２１よりも張り出した張り出し部２２ａを有している。張り出し部２２ａには、半導体素子としての駆動用ＩＣ２０が配置されている。張り出し部２２ａには、コモン電極と駆動用ＩＣ２０とを電気的に接続する配線（図示せず）、セグメント電極と駆動用ＩＣ２０とを電気的に接続する配線（図示せず）、駆動用ＩＣ２０とフレキシブル配線基板１３０とを電気的に接続する配線（図示せず）が設けられている。電子機器などに液晶装置１を組み込む状態では、フレキシブル配線基板１３０は折り曲げられ、その大部分が液晶パネル２の第２液晶装置用基板２２と隣り合うように配置される。

図１に示すように、フレキシブル配線基板１３０は、その一端部が液晶パネル２と電気的に接続し、他の一端部１３０ｂが回路基板４０と電気的に接続し、更に他の一端部１３０ａがリジット基板１５０と電気的に接続している。リジット基板１５０には、昇圧回路）が設けられている。回路基板４０には、電源回路が設けられている。

フレキシブル配線基板１３０は、図４に示すように、例えば光透過性のポリイミドなどからなる対向する第１の面３０ａ及び第２の面３０ｂを有する第１の基板としての第１のベース基材３０と、第１の面３０ａに設けられた第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３と、第２の面３０ｂに設けられた複数の配線としての接続用配線３１とを有する。第１のベース基材３０には、これを貫通するスルーホール３４が設けられており、このスルーホール３４に設けられる導電層を介して、第２の接続端子３３と接続用配線３１とは電気的に接続している。第１の接続端子３５、第２の接続端子３３、接続用配線３１及びスルーホール３４に設けられる導電層は、Ｃｕ（銅）からなる。第１のベース基材３０の第１の面３０ａはリジット基板１５０に実装される側の実装面であり、第２の面３０ｂは非実装面である。図３（ｂ）に示すように、第１の面３０ａには、第１の方向としてのｘ軸方向８０に沿って複数（ここでは４つ）の第１の接続端子３５と、第１の面３０ａでｘ軸方向８０に沿って、かつ、ｘ軸方向８０と直交する第２の方向としてのｙ軸方向９０に対して複数の第１の接続端子３５とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数（ここでは４つ）の第２の接続端子３３と、各第１の接続端子３５に接続する配線３６と、が設けられている。第２の面３０ｂには、第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３と平面的に重なる複数の接続用配線３１と、各接続用配線３１と接続する配線３２と、が設けられている。接続用配線３１は、ｙ軸方向９０に延在して設けられ、部分的にその幅（ｘ軸方向８０における幅）が狭くなっている。具体的には、接続用配線３１は、第１の部分としての第１幅広部３１ａと、第２幅広部３１ｃと、これらの幅広部の間に位置する第２の部分としての幅狭部３１ｂを有している。第１幅広部３１ａは平面的に第２の接続端子３３と重なり、第２幅広部３１ｃは平面的に第１の接続端子３５と重なっている。幅狭部３１ｂは、その幅がｘ軸方向８０に対して第１の接続端子３５及び第２の接続端子の幅よりも狭くなるように設けられている。上述したように、接続用配線３１はスルーホール３４を介して第２の接続端子３３と電気的に接続しているので、リジット基板１５０から供給される電力のうち、第１の接続端子３５に対して供給される電力は第１の面３０ａに設けられている配線３６に供給され、第２の接続端子３３に対して供給される電力は第２の面３０ｂに設けられている配線３２に供給される。本実施形態においては、第１の接続端子３５と第２の接続端子３３との距離ａが４００μｍ、互いに隣り合う接続端子間距離ｂが２００μｍ、接続端子幅ｃが３００μｍとなっているが、更なる狭ピッチは可能である。

このように、第１の接続端子３５と第２の接続端子３３とを千鳥状ではなく一方向（本実施形態におけるｙ軸方向９０）に沿って設け、それぞれの接続端子が接続する配線を第１のベース基材３０の対向する面にそれぞれ設けているので、千鳥状に設ける場合と比較して、同じ面積により多くの接続端子を設けることができ、フレキシブル配線基板とリジット基板との接続面積を縮小化することが可能となる。

図２及び図４に示すように、リジット基板１５０は、例えば光透過性のガラスクロスエポキシ樹脂などからなる第２のベース基材５０と、第１の接続端子３５とＡＣＦ６０を介して電気的に接続された第３の接続端子５２と、第２の接続端子３３とＡＣＦ６０を介して電気的に接続された第３の接続端子５１とを有する。ＡＣＦ６０は、光透過性の樹脂中に導電性粒子が分散されてなる。第３の接続端子５１及び５２は第２のベース基材５０の一方の面上に設けられている。第２のベース基材５０の他方の面には電源制御回路、昇圧回路、ＤＣ／ＤＣコンバータに電気的に接続する配線（図示せず）が設けられており、この配線と第３の接続端子５１及び５２とは、第２のベース基材５０に設けられたスルーホール（図示せず）を介して電気的に接続している。第３の接続端子５１及び５２は、銅などからなる。位置ずれなくフレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０とをＡＣＦ６０を介して接続したとき、第３の接続端子５１は平面的に第２の接続端子３３と重なり、第３の接続端子５２は平面的に第１の接続端子３５と重なる。

本実施形態においては、第１のベース基材３０及び第２のベース基材５０は、第１の接続端子３５、第２の接続端子３３、第３の接続端子５１及び５２、及び接続配線３１よりも高い光透過率を有する。

本実施形態においては、フレキシブル配線基板１３０において接続配線３１と第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３とが平面的に重なり、接続配線３１の少なくとも一部が第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３の幅よりも狭い幅となっているので、フレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０とのＡＣＦ６０による接続後の両基板の位置ずれ検査を容易に行うことができる。以下、位置ずれ検査の方法について詳細に説明する。

位置ずれ検査では、第１のベース基材３０、第２のベース基材５０及びＡＣＦ６０が光透過性を有し、接続配線３１、第１の接続端子３５、第２の接続端子３３及び第３の接続端子５１及び５２が光遮断性を有することを利用している。具体的には、重なりあったフレキシブル配線基板１３０及びリジット基板１５０に対して、リジット基板１５０側から光を照射、すなわち図１に示す矢印Ｂ´の方向から光を照射した状態で、図１に示す矢印Ｂの方向からフレキシブル配線基板１３０及びリジット基板１５０を観察して位置ずれ検査を行っている。すなわち、光を照射し、その透過を観察した場合、第１のベース基材３０のみが存在する領域、第２のベース基材のみが存在する領域、または、第１のベース基材３０及び第２のベース基材５０のみが重なり合う領域においては、光が透過するのに対し、接続配線３１、第１の接続端子３５、第２の接続端子３３及び第３の接続端子５１及び５２のうち少なくとも１つが存在する領域は光が遮断されるので、光が透過する領域と光が遮断される領域との明暗により、光遮断領域のパターン形状を認識することができる。そして、この光遮断領域のパターン形状により位置ずれの有無を観察し、接続が不良か否かを判断することができる。

次に、図５を用いて、光遮断領域のパターン形状の例をあげて、位置ずれの有無の判断方法について説明する。

図５は、図１の楕円Ａで囲まれた領域の部分拡大図に相当し、図１に示す矢印Ｂ´の方向からフレキシブル配線基板１３０及びリジット基板１５０に対して光を照射し、図１に示す矢印Ｂの方向からフレキシブル配線基板１３０及びリジット基板１５０を観察した時の平面図である。図５（ａ）はフレキシブル配線基板１３０及びリジット基板１５０が位置ずれなく接続された場合を示す平面図である。図５（ｂ）及び図５（ｃ）は、位置ずれした例を示す平面図である。図５において、右下がりの斜線で埋められた領域は、第２の面３０ｂに設けられた接続配線３１及びこれに接続する配線３２を示す。また、右上がりの斜線で埋められた領域は、第１の面３０ａに設けられた第１の接続端子３５、第２の接続端子３３及び第１の接続端子３５に接続された配線３６を示す。また、輪郭が実線で図示され点線の縦線で埋められた領域は、リジット基板１５０に設けられた第３の接続端子５１及び５２を示す。

図５（ａ）に示すように、位置ずれなくフレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０とが接続される場合、接続配線３１、第１の接続端子３５、第２の接続端子３３及び第３の接続端子５１及び５２のうち少なくともいずれか１つ存在する領域、すなわち光遮断領域７０ａのパターン形状が、接続配線３１の平面形状と同じ形状に観察される。このように光遮断領域７０ａのパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ図面ｘ軸方向８０に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合、位置ずれがないと判断することができ、フレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０との接続不良がないと判断することができる。

これに対し、図５（ｂ）及び図５（ｃ）のように光遮断領域７０ｂ及び７０ｃが観察される場合、位置ずれが生じて、接続不良が生じていると判断することができる。

図５（ｂ）は、図面ｙ軸方向９０に位置ずれした場合であり、第３の接続端子５１が第２の接続端子３３だけでなく第１の接続端子３５にも平面的に重なっている場合を示している。この場合、第３の接続端子５１は、本来、第２の接続端子３３のみに電気的に接続しなければならないのに第１の接続端子３５にも電気的に接続してしまうこととなり、接続不良となる。この場合、光遮断領域７０ｂのパターン形状は、図面ｘ軸方向８０に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間した状態となっているが、幅が狭い幅狭部３１ｂがない状態となる。このように、光遮断領域７０ｂのパターン形状に幅が狭い部分がない場合、位置ずれが生じ、接続不良が生じていると判断することができる。

図５（ｃ）は、図面ｘ軸方向８０に位置ずれした場合であり、第３の接続端子５１が１つの第２の接続端子３３だけでなく２つの第２の接続端子３３にまたがって平面的に重なり、第３の接続端子５２が１つの第１の接続端子３５だけでなく２つの第１の接続端子３５にまたがって平面的に重なっている場合を示している。この場合、複数の第３の接続端子５１は、本来、それぞれが１つの第１の接続端子３５または第２の接続端子３３に電気的に接続しなければならないのに、２つの第１の接続端子３５または２つの第２の接続端子３３にまたがって電気的に接続してしまうこととなり、接続不良となる。この場合、光遮断領域７０ｃのパターン形状は、幅が狭い幅狭部を有した状態となっているが、図面ｘ軸方向８０に沿って並ぶ複数のパターンが離間せず連なった１つのパターンとなる。このように、光遮断領域７０ｃのパターン形状が、互いに離間した独立したパターン形状に認識できない場合、位置ずれが生じ、接続不良が生じていると判断することができる。

以上のように、光照射を利用して光遮断領域のパターン形状を観察し、そのパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ図面ｘ軸方向８０に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合、言い換えると、接続用配線３１の、幅広部３１ａ及び３１ｃと幅狭部３１ｂとによって形成される狭縊部付近にある角部形状が、各接続配線３１毎に観察できる場合、接続不良がないと判断することができ、位置ずれの有無による接続不良の有無を視認により容易に判断することができ、液晶装置１の製造効率が向上する。

尚、本実施形態において、接続配線３１は、幅広部３１ａ及び３１ｃと幅狭部３１ｂとを有し、部分的に幅が狭くなっているが、全ての幅を第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３の幅よりも狭い形状としてもよく、本実施形態の如く位置ずれ検査を視認により容易に行うことができる。

また、上述の位置ずれ検査では、透過光を用いたが、第２の基板としてのリジット基板１５０が多層基板構造を有し光透過性が悪い場合には、反射光を用いた位置ずれ検査を行うことができる。この場合、フレキシブル配線基板１３０側から光を照射し、接続用配線３１による反射光と第３の接続端子５１及び５２による反射光との強度差（色差）を観察することにより位置ずれ検査を行う。すなわち、フレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０とが位置ずれなく接続される場合は、接続用配線３１の第１の部分である幅広部３１ａ及び３１ｃは第３の接続端子５１及び５２と平面的に完全に重なることになり、接続用配線３１による反射光のみが観察される、言い換えると１種類の光強度の反射光が観察されることとなる。一方、フレキシブル配線基板１３０とリジット基板１５０とが位置ずれして接続される場合は、接続用配線３１による反射光と第３の接続端子５１及び５２による反射光の両方が観察される、言い換えると２種類の光強度の反射光が観察されることとなる。従って、１種類の光強度の反射光が観察された場合は、接続不良がないと判断することができ、２種類の光強度の反射光が観察された場合は、位置ずれしていると判断することができる。また、上述に記載した透過光時の光遮断領域のパターン形状の観察と同様に、反射光により形成されるパターン形状が、幅が狭い幅狭部を有し、かつ図面ｘ軸方向８０に沿って並ぶ複数のパターンが互いに接触することなく離間して独立した形状として観察される場合、言い換えると、接続用配線３１の、幅広部３１ａ及び３１ｃと幅狭部３１ｂとによって形成される縊れ部付近にある角部形状が、各接続配線３１毎に観察できる場合、接続不良がないと判断することができ、位置ずれの有無による接続不良の有無を視認により容易に判断することができる。尚、このような反射光による検査の場合、リジット基板１５０のベース基材５０に光透過性は必ずしも必要ない。

上述の実施形態においては、接続用配線３１の幅広部３１ａ及び３１ｃの大きさと、第１の接続端子３５及び第２の接続端子３３の大きさとが同じである。これに対し、変形例として、図６及び図７に示すように、第１の接続端子３５´及び第２の接続端子３３´の大きさを、接続用配線３１´の幅広部３１ａ´及び３１ｃ´の大きさよりも大きくしても良い。また、他の変形例として、図８及び図９に示すように、第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´の大きさを、接続用配線３１´´の幅広部３１ａ´´及び３１ｃ´´の大きさよりも小さくしても良い。

図６は、図１の楕円Ａで囲まれた領域におけるフレキシブル配線基板１３０´の概略部分拡大平面図である。図６（ａ）、（ｂ）はともに、図１の矢印Ｂの方向からフレキシブル配線基板１３０´を見たときの平面図である。図６（ａ）は、矢印Ｂの方向から見たときに視認できる面（第２の面３０´ｂ）に設けられた接続配線を図示し、図６（ｂ）は、矢印Ｂ´の方向から見たときに視認できる面（第１の面３０´ａ）に設けられた接続端子を透視して図示している。図７は、図６の線Ｄ―Ｄ´で切断したフレキシブル配線基板１３０´とリジット基板１５０の概略断面図である。図８は、図１の楕円Ａで囲まれた領域におけるフレキシブル配線基板１３０´´の概略部分拡大平面図である。図８（ａ）、（ｂ）はともに、図１の矢印Ｂの方向からフレキシブル配線基板１３０´´を見たときの平面図である。図８（ａ）は、矢印Ｂの方向から見たときに視認できる面（第２の面３０´´ｂ）に設けられた接続配線を図示し、図８（ｂ）は、矢印Ｂ´の方向から見たときに視認できる面（第１の面３０´´ａ）に設けられた接続端子を透視して図示している。図９は、図８の線Ｅ―Ｅ´で切断したフレキシブル配線基板１３０´´とリジット基板１５０の概略断面図である。

図６及び図７に示すように、変形例における実装用基板としてのフレキシブル配線基板１３０´は、対向する第１の面３０´ａ及び第２の面３０´ｂを有する第１の基板としての第１のベース基材３０´と、第１の面３０´ａに設けられた第１の接続端子３５´及び第２の接続端子３３´と、第２の面３０´ｂに設けられた複数の配線としての接続用配線３１´とを有する。第１のベース基材３０´には、これを貫通するスルーホール３４´が設けられており、このスルーホール３４´に設けられる導電層を介して、第２の接続端子３３´と接続用配線３１´とは電気的に接続している。第１のベース基材３０´の第１の面３０´ａはリジット基板１５０に実装される側の実装面であり、第２の面３０´ｂは非実装面である。図６（ｂ）に示すように、第１の面３０´ａには、第１の方向としてのｘ軸方向８０に沿って複数（ここでは４つ）の第１の接続端子３５´と、第１の面３０´ａでｘ軸方向８０に沿って、かつ、ｘ軸方向８０と直交する第２の方向としてのｙ軸方向９０に対して複数の第１の接続端子３５´とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数（ここでは４つ）の第２の接続端子３３´と、各第１の接続端子３５´に接続する配線３６´と、が設けられている。第２の面３０´ｂには、第１の接続端子３５´及び第２の接続端子３３´と平面的に重なる複数の接続用配線３１´と、各接続用配線３１´と接続する配線３２´と、が設けられている。接続用配線３１´は、第１の部分としての第１幅広部３１´ａと、第１の部分としての第２幅広部３１´ｃと、これらの幅広部の間に位置する第２の部分としての幅狭部３１´ｂを有している。第１幅広部３１´ａは平面的に第２の接続端子３３´と略重なり、第１幅広部３１´ａは第２の接続端子３３´よりもその平面面積が小さく設けられている。第２幅広部３１´ｃは平面的に第１の接続端子３５´と略重なり、第２幅広部３１´ｃは第１の接続端子３５´よりもその平面面積が小さく設けられている。言い換えると、第１の接続端子３５´と第２の接続端子３３´とは、接続用配線３１´の第１幅広部３１´ａ及び第２幅広部３１´ｃよりも大きく形成されている。幅狭部３１´ｂは、その幅がｘ軸方向８０に対して第１幅広部３１´ａ及び第２幅広部３１´ｃの幅よりも狭くなるように設けられている。このように、第１の接続端子３５´と第２の接続端子３３´とを、接続用配線３１´の第１幅広部３１´ａ及び第２幅広部３１´ｃよりも大きく形成することにより、以下のような効果を有する。即ち接続用配線を実装用基板の第２の面に形成する際に、加工条件バラツキにより接続用配線の形成位置がずれた場合でも、接続用配線の第１幅広部３１´ａ及び第２幅広部３１´ｃの外形からはみ出ることを防ぐことができる。従ってはみ出ることにより第１の接続端子３５´と第２の接続端子３３´の外形の形状が崩れ、第３の接続端子との外形を一致させることで位置ずれを検出すること精度を劣化させることを防ぐ効果を生じる。尚、本変形例においては、第１の接続端子３５´及び第２の接続端子３３´が、接続用配線３１´の第１幅広部３１´ａ及び第２幅広部３１´ｃよりも大きく形成されているが、接続用配線の形成位置のずれ量程度大きければよく例えば０．０５〜０．１ｍｍ程度あれば十分に位置ずれ検出に精度を維持できる。

図８及び図９に示すように、変形例における実装用基板としてのフレキシブル配線基板１３０´´は、対向する第１の面３０´´ａ及び第２の面３０´´ｂを有する第１の基板としての第１のベース基材３０´´と、第１の面３０´´ａに設けられた第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´と、第２の面３０´´ｂに設けられた複数の配線としての接続用配線３１´´とを有する。第１のベース基材３０´´には、これを貫通するスルーホール３４´´が設けられており、このスルーホール３４´´に設けられる導電層を介して、第２の接続端子３３´´と接続用配線３１´´とは電気的に接続している。第１のベース基材３０´´の第１の面３０´´ａはリジット基板１５０に実装される側の実装面であり、第２の面３０´´ｂは非実装面である。図８（ｂ）に示すように、第１の面３０´ａには、第１の方向としてのｘ軸方向８０に沿って複数（ここでは４つ）の第１の接続端子３５´´と、第１の面３０´´ａでｘ軸方向８０に沿って、かつ、ｘ軸方向８０と直交する第２の方向としてのｙ軸方向９０に対して複数の第１の接続端子３５´´とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数（ここでは４つ）の第２の接続端子３３´´と、各第１の接続端子３５´´に接続する配線３６´´と、が設けられている。第２の面３０´´ｂには、第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´と平面的に略重なる複数の接続用配線３１´´と、各接続用配線３１´´と接続する配線３２´´と、が設けられている。接続用配線３１´´は、第１の部分としての第１幅広部３１´´ａと、第１の部分としての第２幅広部３１´´ｃと、これらの幅広部の間に位置する第２の部分としての幅狭部３１´´ｂを有している。第１幅広部３１´´ａは平面的に第２の接続端子３３´´と略重なり、第１幅広部３１´´ａは第２の接続端子３３´´よりもその平面面積が大きく設けられている。第２幅広部３１´´ｃは平面的に第１の接続端子３５´´と略重なり、第２幅広部３１´´ｃは第１の接続端子３５´´よりもその平面面積が大きく設けられている。言い換えると、第１の接続端子３５´´と第２の接続端子３３´´とは、接続用配線３１´´の第１幅広部３１´´ａ及び第２幅広部３１´´ｃよりも小さく形成されている。幅狭部３１´´ｂは、その幅がｘ軸方向８０に対して第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´ｃの幅よりも狭くなるように設けられている。このように、第１の接続端子３５´´と第２の接続端子３３´´とを、接続用配線３１´´の第１幅広部３１´´ａ及び第２幅広部３１´´ｃよりも小さく形成することにより、以下のような効果を生じる。接続用配線を実装用基板の第２の面に形成する際に、加工条件バラツキにより接続用配線の形成位置ずれ量が、配線の位置ずれ検出上無視しうるような場合には、接続用配線の面積が大きくすることができ、例えば上述のような光反射を用いた位置ずれ検査時において、反射光は、接続用配線３１´´による反射光と第３の接続端子５１及び５２の反射光の２種のみからなり、反射光が３種類以上ある場合と比較して、位置ずれ検査が容易である。尚、本変形例においては、第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´は、接続用配線３１´´の第１幅広部３１´´ａ及び第２幅広部３１´´ｃよりも小さく形成されているが、第１の接続端子３５´´及び第２の接続端子３３´´それぞれが、接続用配線３１´´の第１幅広部３１´´ａ及び第２幅広部３１´´ｃよりも例えば０．０５〜０．１ｍｍ程度小さくければ良い。

（電子機器）

次に、上述した液晶装置１を備えた電子機器について説明する。

図１０は本実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図である。

電子機器３００は、表示制御系として例えば図１０に示すように液晶パネル２及び表示制御回路３９０などを備え、その表示制御回路３９０は表示情報出力源３９１、表示情報処理回路３９２、電源回路３９３及びタイミングジェネレータ３９４などを有する。

また、液晶パネル２上は、その表示領域Ｇを駆動する駆動回路３６１を有する。駆動回路３６１は上述した液晶装置１の駆動用ＩＣ２０に相当し、制御回路３９０は回路基板６０に相当する。

表示情報出力源３９１は、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）などからなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスクなどからなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備えている。更に表示情報出力源３９１は、タイミングジェネレータ３９４によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの形で表示情報を表示情報処理回路３９２に供給するように構成されている。

また、表示情報処理回路３９２はシリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路などの周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号ＣＬＫと共に駆動回路３６１へ供給する。駆動回路３６１は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路３９３は、上述した各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。

このような電子機器３００は、フレキシブル配線基板とリジット基板との接続不良がなく、良好な表示画面を有する。

具体的な電子機器としては、携帯電話機やパーソナルコンピュータなどの他に液晶装置が搭載されたタッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、上述した例えば液晶装置１が適用可能なのは言うまでもない。

なお、本発明の電気光学装置及び電子機器は、上述した例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加え得ることは勿論である。

例えば、上述した電気光学装置の一部として設けられた実装構造体として、フレキシブル配線基板とリジット基板との接続構造を例にあげて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、フレキシブル配線基板と液晶パネルとの接続構造や、フレキシブル配線基板と回路基板との接続構造に適用しても良く、２枚の基板間における接続構造であれば全てに適用することができ、接続面積の縮小化が可能となり、かつ、２枚の基板の位置ずれ検査を容易に視認により容易に行うことができ製造効率が向上する。

また、上述の実施形態では、電気光学装置として液晶装置を例にあげているが、無機或は有機エレクトロルミネッセンス装置、プラズマディスプレイ装置、電気泳動ディスプレイ装置、電子放出素子を用いた装置（ＦｉｅｌｄＥｍｉｓｓｉｏｎＤｉｓｐｌａｙ及びＳｕｒｆａｃｅ−ＣｏｎｄｕｔｉｏｎＥｌｅｃｔｒｏｎ−ＥｍｉｔｔｅｒＤｉｓｐｌａｙ等）などの各種電気光学装置であってもよい。

実施形態に係る液晶装置の概略斜視図。図１の楕円Ａで囲まれた領域の分解拡大斜視図。フレキシブル配線基板の接続端子及び配線の位置関係を示す部分概略平面図。図２の線Ｃ−Ｃ´で切断したフレキシブル配線基板とリジット基板の断面図。フレキシブル配線基板とリジット基板との位置ずれ検査方法を示す平面図。変形例におけるフレキシブル配線基板の部分概略平面図。図６の線Ｄ−Ｄ´で切断したフレキシブル配線基板とリジット基板の断面図。他の変形例におけるフレキシブル配線基板の部分概略平面図。図８の線Ｅ−Ｅ´で切断したフレキシブル配線基板とリジット基板の断面図。実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図。

符号の説明

１液晶装置、２２第２液晶装置用基板、３０、３０´、３０´´ 第１のベース基材、３０ａ、３０´ａ、３０´´ａ第１の面、３０ｂ、３０´ｂ、３０´´ｂ第２の面、３１、３１´、３１´´ 接続用配線、３１ａ、３１´ａ、３１´´ａ幅広部、３１ｂ、３１´ｂ、３１´´ｂ幅狭部、３１ｃ、３１´ｃ、３１´´ｃ幅広部、３３、３３´、３３´´ 第２の接続端子、３５、３５´、３５´´ 第１の接続端子、３４、３４´、３４´´ スルーホール、５１、５２第３の接続端子、６０ＡＣＦ、８０ｘ軸方向、９０ｙ軸方向、１３０フレキシブル配線基板、１５０リジット基板、３００電子機器

Claims

第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、
前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板と
を具備することを特徴とする実装構造体。
前記第１の基板及び前記第２の基板は、前記第１の接続端子、前記第２の接続端子、前記第３の接続端子及び前記接続用配線よりも、高い光透過率を有することを特徴とする請求項１記載の実装構造体。
前記第１及び第２の接続端子と、前記第３の接続端子とは、光透過性の導電部材により接続されていることを特徴とする請求項１または請求項２記載の実装構造体。
第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より小さい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１の部分よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、
前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板と
を具備することを特徴とする実装構造体。
第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より大きい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、
前記第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板と
を具備することを特徴とする実装構造体。
第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと
を具備することを特徴とする実装用基板。
第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より小さい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１の部分よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと
を具備することを特徴とする実装用基板。
第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し、且つ前記第１の方向に沿って、前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され、前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる部分を有し、前記第１及び前記第２の接続端子より大きい面積を有して形成された第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと
を具備することを特徴とする実装用基板。
電気光学物質と、
前記電気光学物質を保持する電気光学装置用基板と、
前記電気光学装置用基板に電気的に接続する第１の面と第２の面とを有する第１の基板と、
前記第１の面上で、第１の方向に沿って配置された複数の第１の接続端子と、
前記第１の面上で、前記第１の方向と直交する第２の方向に位置し且つ前記第１の方向に沿って前記複数の第１の接続端子とそれぞれ所定の間隙をもって配置された複数の第２の接続端子と、
前記第２の面に配置され前記第１及び前記第２の接続端子と平面的に重なる第１の部分と、前記第１の方向に対して前記第１及び第２の接続端子よりも幅狭に形成された第２の部分とからなる複数の接続用配線と、
前記各第２の接続端子と前記各接続用配線とを接続するように前記第１の基板を貫通する複数のスルーホールと、
前記各第１及び第２の接続端子と接続され、該第１及び第２の接続端子と平面的に重なる複数の第３の接続端子を有する第２の基板と
を具備することを特徴とする電気光学装置。
請求項９記載の電気光学装置を具備することを特徴とする電子機器。