JP4211368B2 - 表示駆動回路の試験方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、有機EL(Electronic Luminescence)等の電流駆動型表示パネル用の表示駆動回路の試験方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
【0003】
【特許文献1】
特開平11−95723号公報
【0004】
図2は、従来の表示駆動回路とその試験構成図である。この表示駆動回路10は、有機ELパネル1を駆動してドット・マトリクス表示を行うものである。有機ELパネル1は、図2中に示すように、交差して設けられた複数のデータ線SGi(但し、i=1〜m)と走査線CMj(但し、j=1〜n)の各交差箇所に有機EL素子PEi,j を配置し、この有機EL素子PEi,j の陽極と陰極を、それぞれデータ線SGiと走査線CMjに接続したものである。
【0005】
一方、表示駆動回路10は、定電流部11i、スイッチ部12,13、及び駆動制御部14を有している。
【0006】
定電流部11iは、各データ線SGiに対応して設けられ、有機EL素子PEi,j を均一な輝度で発光させるための一定電流を出力するものである。各定電流部11iの入力側は電源電圧VSが与えられる電源端子15に共通接続され、出力側はスイッチ部12のスイッチ12iの電極aに接続されている。各スイッチ12iの電極bは、接地電圧GNDが与えられる接地端子16に共通接続され、電極cは端子17iに接続されている。この端子17iには、有機ELパネル1の対応するデータ線SGiが接続されるようになっている。
【0007】
スイッチ部13は、有機ELパネル1の各走査線CMjに対応する複数のスイッチ13jで構成されている。各スイッチ13jの電極a,bは、それぞれ接地端子16と電源端子15に共通接続され、電極cは端子18jに接続されている。この端子18jには、有機ELパネル1の対応する走査線CMjが接続されるようになっている。
【0008】
駆動制御部14は、データ端子19から与えられる表示用のデータDTに応じて、スイッチ部12の各スイッチ12iと、スイッチ部13の各スイッチ13jの切り替え制御を行うものである。
【0009】
このような表示駆動回路10では、データ端子19に与えられるデータDTに応じて、駆動制御部14によってスイッチ部13のスイッチ13jが一定の周期で1個ずつ順番に選択され、電極a側に切り替えられる。これにより、選択されたスイッチ13jに対応する有機ELパネル1の走査線CMjのみが接地電圧GNDとなり、その他の選択されていない走査線CMは、すべて電源電圧VSとなる。
【0010】
更に、駆動制御部14の制御に従って、スイッチ部12の各スイッチ12iが、選択された走査線CMjの表示内容に応じて切り替えられる。即ち、有機EL素子PEi,j を発光させる時には、スイッチ12iが電極a側に切り替えられ、消灯させる時には、スイッチ12iが電極b側に切り替えられる。
【0011】
このように、スイッチ13部によって走査線CMjを一定の周期で順次選択し、選択した走査線CMjに対応する各有機EL素子PEi,j の発光をスイッチ部12によって制御する。これにより、有機ELパネル1にドット・マトリクス形式の表示が行われる。
【0012】
有機ELパネル1と表示駆動回路10は、それぞれ別工程で製造されて単体検査が行われる。表示駆動回路10は、半導体ウエハの状態で電気的特性を含む機能試験が行われ、合格したものがチップとして切り出されてパッケージに組み立てられ、有機ELパネル1に接続される。特に、表示駆動回路10の各定電流部11iから出力される表示用の駆動電流の均一性は、表示品質に大きな影響を与えるので、正確な試験が必要である。
【0013】
このような表示駆動回路10の試験は、図2に示すような試験装置30を使用して行われる。
【0014】
試験装置30は、表示駆動回路10の駆動制御部14に対してスイッチ部12,13の切り替え設定を行うためのデータDTを与える切替設定部31を有している。また、試験装置30は、表示駆動回路10に対する表示用の電源電圧VP(例えば、7V)を供給する定電圧源32、及び有機EL素子PEi,j の発光時の電圧降下に相当する電圧(例えば、4V)を出力する定電圧源33とこれに直列接続された電流計34を有している。更に、試験装置30は、有機ELパネル1の走査線CMjに流れる電流の最大値に相当する電流(例えば、数十mA)をスイッチ部13に与える定電流源35、及びこのスイッチ部13における電圧降下を測定する電圧計36を備えている。試験装置30と表示駆動回路10の間は、プローブ付きの測定ケーブルを介して接続するようになっている。
【0015】
このような構成で、電流計34を表示駆動回路10の端子17iに順次接続し、対応する定電流部11iに流れる電流を測定する。更に、定電流源35と電圧計36を、表示駆動回路10の端子18jに順次接続し、対応するスイッチ13jを含む経路の電圧降下を測定する。そして、各電流及び電圧降下の値が規格を満たしているか否かを判定する。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の表示駆動回路の試験方法では、次のような課題があった。
【0017】
第1の課題は、端子17i,18jにプローブを順次接触させて電流を流し、その電流値や電圧降下を測定するため、流れる電流が安定して正確な値が得られるまでの測定時間が長くなることである。
【0018】
第2の課題は、プローブの接触圧力や接触面積等のばらつきにより、測定結果にばらつきが生じることである。特に、表示品質を保証するため、測定結果のばらつきの許容範囲は厳しく制限されている。このため、実際には規格を満たしていても、測定誤差のために不良品と認定されてしまうおそれがあった。
【0019】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明のうちの第1の発明は、電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第1の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第1のスイッチと、前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第2の端子を順次選択して該第2の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第2のスイッチと、前記複数の第1または第2の端子を、試験信号に応じて試験用の電流端子に接続する複数の第3のスイッチと、を備えた表示駆動回路の試験方法である。そして、前記第1または第2のスイッチと前記第3のスイッチとにより前記電流端子に試験用の電流を流し、前記第1または第2の端子の電圧を測定することを特徴とする。
【0020】
第2の発明は、電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第1の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第1のスイッチと、前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第2の端子を順次選択して該第2の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第2のスイッチと、前記複数の第1の端子を、試験信号に応じて試験用の第1の電流端子に接続する複数の第3のスイッチと、前記複数の第2の端子を、前記試験信号に応じて試験用の第2の電流端子に接続する複数の第4のスイッチと、を備えた表示駆動回路の試験方法である。そして、前記第1および第3のスイッチにより前記第1の電流端子に試験用の電流を流し、および/または、前記第2および第4のスイッチにより前記第2の電流端子に試験用の電流を流し、前記第1および/または第2の端子の電圧を測定することを特徴とする。
【0021】
第1の発明によれば、試験信号によって第3のスイッチを制御して、任意の第1または第2の端子を試験用の電流端子に接続し、定電流部の電流をこの電流端子に導いたり、この電流端子から走査線の電流に対応する電流を与える。このような状態で第1または第2の端子の電圧を測定する。これにより、電流が安定するまでの時間が短縮されると共に、電圧測定用のプローブの接触状態による測定結果のばらつきが低減される。
第2の発明によれば、試験信号によって第3または第4のスイッチを制御して、任意の第1または第2の端子を試験用の第1または第2の電流端子に接続し、定電流部の電流を第1の電流端子に導いたり、第2の電流端子から走査線の電流に対応する電流を与える。このような状態で第1または第2の端子の電圧を測定する。これにより、電流が安定するまでの時間が短縮されると共に、電圧測定用のプローブの接触状態による測定結果のばらつきが低減される。
【0022】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施形態を示す表示駆動回路とその試験構成図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0023】
この表示駆動回路10Aは、有機ELパネル1を駆動してドットマトリクス表示を行うものである。有機ELパネル1は、平行に配置された複数のデータ線SGi(但し、i=1〜m)と、これらのデータ線SGiに交差して配置された複数の走査線CMj(但し、j=1〜n)を有している。データ線SGiと走査線CMjの各交差箇所には有機EL素子PEi,j が配置され、この有機EL素子PEi,j の陽極がデータ線SGiに、陰極が走査線CMjに、それぞれ接続されている。また、各データ線SGiと各走査線CMjの一端には、それぞれ表示駆動回路10Aに接続するための端子TSi,TCjが設けられている。
【0024】
一方、表示駆動回路10Aは、図2と同様の定電流部11i、スイッチ部12,13、及び駆動制御部14に加えて、試験制御部21とスイッチ部22,23が追加されている。
【0025】
定電流部11iは、各データ線SGiに対応して設けられ、有機EL素子PEi,j を一定の輝度で発光させるための数十〜数百μAの一定電流を供給するものである。各定電流部11iの入力側は、電源電圧VSが与えられる電源端子15に共通接続され、出力側はスイッチ部12のスイッチ12iの電極aに接続されている。各スイッチ12iの電極bは、接地電圧GNDが与えられる接地端子16に共通接続され、電極cは、それぞれ端子17iに接続されている。端子17iには、有機ELパネル1の端子TSiを介して、対応するデータ線SGiが接続されるようになっている。
【0026】
スイッチ部13は、有機ELパネル1の各走査線CMjに対応する複数のスイッチ13jで構成されている。各スイッチ13jの電極a,bは、それぞれ接地端子16と電源端子15に共通接続され、電極cは、端子18jに接続されている。端子18jには、有機ELパネル1の端子TCjを介して、対応する走査線CMjが接続されるようになっている。
【0027】
駆動制御部14は、データ端子19から与えられる表示用のデータに応じて、スイッチ部12の各スイッチ12iと、スイッチ部13の各スイッチ13jの切り替え制御を行うものである。
【0028】
試験制御部21は、試験端子20から与えられる試験信号TSTに従って、スイッチ部22,23の制御を行うものである。スイッチ部22は、試験制御部21からの制御に従って、各端子17iと試験用の電流端子24との間を個別にオン・オフするスイッチ22iで構成されている。また、スイッチ部23は、試験制御部21からの制御に従って、各端子18jと試験用の電流端子25との間を個別にオン・オフするスイッチ23jで構成されている。
【0029】
次に、このような表示駆動回路10Aの半導体ウエハの状態における電気的特性試験について説明する。
【0030】
この試験で使用する試験装置30Aは、図1に示すように、切替設定部31、定電圧源32,33、電流計34、定電流源35、電圧計36,38,抵抗39及び試験設定部37を備えている。
【0031】
切替設定部31は、表示駆動回路10Aの駆動制御部14に対してスイッチ部12,13の切り替え設定を行うためのデータDTを与えるものである。定電圧源32は、表示駆動回路10Aに対する表示用の電源電圧VP(例えば、7V)を供給するものである。定電圧源33は、有機EL素子PEi,j の発光時の電圧降下に相当する電圧(例えば、4V)を出力するもので、この定電圧源33に直列に電流計34と抵抗39が接続され、表示駆動回路10Aの定電流部11iの電流を測定できるようになっている。また、電圧計38は、測定対象の定電流部11iに対応する端子17iの電圧を測定するものである。
【0032】
定電流源35は、有機ELパネル1の走査線CMjに流れる電流の最大値に相当する電流(例えば、数十mA)をスイッチ部13に与えるものであり、電圧計36は、このスイッチ部13における電圧降下を測定するものである。
【0033】
更に、試験設定部37は、表示駆動回路10Aの試験制御部21に対して、スイッチ部22,23の切り替え設定を行うための試験信号TSTを与えるものである。
【0034】
試験装置30Aと表示駆動回路10Aの間は、プローブ付きの測定ケーブルで接続される。即ち、試験装置30Aの接地電圧GNDと定電圧源32は、それぞれ表示駆動回路10Aの接地端子16と電源端子15に接続される。試験装置30Aの切替設定部31と試験設定部37は、表示駆動回路10Aのデータ端子19と試験端子20にそれぞれ接続される。
【0035】
試験装置30Aの電流計34は、表示駆動回路10Aの電流端子24に接続され、電圧計38が、測定対象の定電流部11iに対応する端子17iに接続される。更に、試験装置30Aの定電流源35は、表示駆動回路10Aの電流端子25に接続され、電圧計36は測定対象のスイッチ部13の端子18jに接続される。
【0036】
このような試験構成により、各定電流部11iに流れる電流の測定と、各スイッチ13jを含む経路の電圧降下の測定が、次のように行われる。
【0037】
各定電流部11iに流れる電流の測定では、駆動制御部14によってスイッチ部12の各スイッチ12iがすべて電極a側に切り替えられ、試験制御部21によってスイッチ部22の各スイッチ22iが順次1個ずつ順番にオンにされる。これにより、オン状態のスイッチ22iを介して定電流部11iから抵抗39に電流が流れるので、対応する端子17iに測定用のプローブを順次接続し、電圧計38でその電圧を測定して電流の値に換算する。
【0038】
また、各スイッチ13jを含む経路の電圧降下の測定では、駆動制御部14によってスイッチ部13の各スイッチ13jがすべて電極a側に切り替えられ、試験制御部21によってスイッチ部23の各スイッチ23jが順次1個ずつ順番にオンにされる。これにより、定電流部35からオン状態のスイッチ23jを介してスイッチ部13に電流が流れるので、対応する端子18jに測定用のプローブを順次接続し、電圧計36でその電圧を測定して抵抗の値に換算する。
【0039】
これらの測定結果が所定の規格を満たしていれば、表示駆動回路10Aはチップとして切り出され、パッケージに組み立てられて有機ELパネル1に接続される。このとき、スイッチ部22,23の各スイッチ22i,23jは、すべてオフ状態に固定される。
【0040】
なお、有機ELパネル1に接続された状態での表示駆動回路10Aの動作は、図2中の表示駆動回路10と同様である。
【0041】
以上のように、本実施形態の表示駆動回路10Aは、各定電流部11iに試験用の電流を流すための電流端子24を設けると共に、各端子17iとこの電流端子24との間を個別にオン・オフ制御するためのスイッチ部22を有している。これにより、各定電流部11iに試験用の電流を流すためにプローブの接続変更を行う必要がなくなり、プローブの接触状態のばらつきによる測定結果の変動を無くすことができる。また、端子17iを電圧測定用の端子として使用し、電流をほとんど流すことがないので、短時間で精度の高い測定が可能になるという利点がある。
【0042】
更に、この表示駆動回路10Aは、各スイッチ13jに試験用の電流を与えるための電流端子25を設けると共に、各端子18jとこの電流端子25との間を個別にオン・オフ制御するためのスイッチ部23を有している。これにより、各スイッチ13jに試験用の電流を流すためにプローブの接続変更を行う必要がなくなり、プローブの接触状態のばらつきによる測定結果の変動を無くすことができる。また、端子18iを電圧測定用の端子として使用し、電流をほとんど流すことがないので、短時間で精度の高い測定が可能になるという利点がある。
【0043】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば、次のようなものがある。
【0044】
(a) 表示駆動回路10Aは、有機ELパネル1の駆動に限らず、電流駆動型のマトリクス表示パネルであれば、どのような表示パネルに対しても同様に適用することができる。
【0045】
(b) 測定装置30Aの構成や測定方法は一例であり、本発明の趣旨に沿ったものであれば、どのような測定装置や測定方法を用いても良い。
【0046】
(c) 表示駆動回路10Aは、有機ELパネル1のデータ線SGiと走査線CMjに対応する2つのスイッチ部12,13を有しているが、いずれか一方のみでもそれに応じた効果が得られる。
【0047】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、表示パネルのデータ線や走査線を接続するための第1及び第2の端子とは別に、試験用の電流端子と、この電流端子と第1または第2の端子を試験信号に応じて接続する第3のスイッチとを備えた表示駆動回路の試験方法であって、電流駆動型表示駆動回路でありながら、電流の出力は別途設けた電流端子、電圧は第1または第2の端子の電圧を測定することで、表示駆動回路の電気的特性を迅速かつ精度良く測定することができる。
第2の発明によれば、表示パネルのデータ線や走査線を接続するための第1及び第2の端子とは別に、試験用の第1および第2の電流端子と、この第1および第2の電流端子と第1および第2の端子とを試験信号に応じてそれぞれ接続する第3および第4のスイッチとを備えた表示駆動回路の試験方法であって、電流駆動型表示駆動回路でありながら、電流の出力は別途設けた第1または第2の電流端子、電圧は第1または第2の端子の電圧を測定することで、表示駆動回路の電気的特性を迅速かつ精度良く測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示す表示駆動回路とその試験構成図である。
【図2】従来の表示駆動回路とその試験構成図である。
【符号の説明】
1 有機ELパネル
10A 表示駆動回路
11i 定電流部
12,13,22,23 スイッチ部
14 駆動制御部
15 電源端子
16 接地端子
17i,18j 端子
19 データ端子
20 試験端子
21 試験制御部
24,25 電流端子
30A 試験装置
Claims (2)
- 電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、
前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第1の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第1のスイッチと、
前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第2の端子を順次選択して該第2の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第2のスイッチと、
前記複数の第1または第2の端子を、試験信号に応じて試験用の電流端子に接続する複数の第3のスイッチと、
を備えた表示駆動回路の試験方法であって、
前記第1または第2のスイッチと前記第3のスイッチとにより前記電流端子に試験用の電流を流し、
前記第1または第2の端子の電圧を測定することを特徴とする表示駆動回路の試験方法。 - 電流駆動でマトリクス表示を行う表示パネルの複数のデータ線に対応して設けられて該データ線を駆動するための一定電流を出力する複数の定電流部と、
前記表示パネルのデータ線を接続するための複数の第1の端子と前記複数の定電流部との間を表示データに従ってオン・オフ制御する複数の第1のスイッチと、
前記表示パネルの走査線を接続するための複数の第2の端子を順次選択して該第2の端子に流れる電流をオン・オフ制御する複数の第2のスイッチと、
前記複数の第1の端子を、試験信号に応じて試験用の第1の電流端子に接続する複数の第3のスイッチと、
前記複数の第2の端子を、前記試験信号に応じて試験用の第2の電流端子に接続する複数の第4のスイッチと、
を備えた表示駆動回路の試験方法であって、
前記第1および第3のスイッチにより前記第1の電流端子に試験用の電流を流し、および/または、前記第2および第4のスイッチにより前記第2の電流端子に試験用の電流を流し、
前記第1および/または第2の端子の電圧を測定することを特徴とする表示駆動回路の試験方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002341333A JP4211368B2 (ja) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | 表示駆動回路の試験方法 |
US10/647,306 US7106283B2 (en) | 2002-11-25 | 2003-08-26 | Efficiently testable display driving circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002341333A JP4211368B2 (ja) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | 表示駆動回路の試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004177514A JP2004177514A (ja) | 2004-06-24 |
JP4211368B2 true JP4211368B2 (ja) | 2009-01-21 |
Family
ID=32321966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002341333A Expired - Fee Related JP4211368B2 (ja) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | 表示駆動回路の試験方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7106283B2 (ja) |
JP (1) | JP4211368B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100717334B1 (ko) * | 2002-03-25 | 2007-05-15 | 엘지전자 주식회사 | 일렉트로루미네센스 표시소자의 구동방법 및 장치 |
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CN1934610A (zh) | 2004-03-24 | 2007-03-21 | 罗姆股份有限公司 | 有机el面板驱动电路及其检查装置和有机el显示装置 |
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CN104062784B (zh) | 2014-06-25 | 2017-06-30 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种面板检测电路及显示面板 |
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JP3437152B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2003-08-18 | ウインテスト株式会社 | 有機elディスプレイの評価装置および評価方法 |
-
2002
- 2002-11-25 JP JP2002341333A patent/JP4211368B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2003
- 2003-08-26 US US10/647,306 patent/US7106283B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040100428A1 (en) | 2004-05-27 |
JP2004177514A (ja) | 2004-06-24 |
US7106283B2 (en) | 2006-09-12 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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