JP4209707B2 - 可動プローブピンの接触圧検査機構およびその方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板検査装置が備える可動プローブピンのプロービング動作時における被接触部位に対する接触圧の程度を検査してその良否を判断できる可動プローブピンの接触圧検査機構およびその方法に関する技術である。
【0002】
【従来の技術】
回路基板検査装置は、例えば、固定テーブルなどに定置された被検査回路基板のランドなどからなる所定の測定部位に電気的に接触させてプロービングすることができる針状の接触ピンをその先端部に有するプローブピンを備えている。
【0003】
この場合、回路基板検査装置が備えるプローブピンには、X−Y軸方向への移動ができない固定プローブピンと、X−Y軸方向への移動も自在な可動プローブピンとの2通りがある。このうち、固定プローブピンは、被検査回路基板の所定の検査位置に同時接触させることができるように、例えば剣山のような配置関係のもとで多数本が固定された状態で配置されているため、同一規格の被検査基板には用いることができるものの、規格を異にする被検査基板にも適用できるだけの汎用性は備えていない。
【0004】
一方、可動プローブピンは、3軸方向であるX−Y軸方向とZ軸方向とへの制御された移動を自在に配設される複数本で構成することにより、規格を異にする各種の被検査回路基板に対しても適宜適用し得るだけの汎用性が付与されており、これにより所望する測定部位に対するプロービングを行うことができるようになっている。
【0005】
図5は、従来からある可動プローブピンの配置関係の一例を模式的に示す説明図である。この例においては、被検査回路基板Pの第1測定部位に対し左斜め方向から電気的に接触する第1の可動プローブピン1と、第2測定部位に対し右斜め方向から電気的に接触する第2の可動プローブピン2と、略垂直方向から電気的に接触する第3の可動プローブピン3との3本で構成されている。
【0006】
このため、各可動プローブピン1,2,3は、被検査回路基板Pにおける初回測定ポイントとの関係で定まる所定の各測定部位に対し所要のプロービングを行った後、次順の測定ポイントとの関係で定まる各測定部位へと移動した上で再びプロービングを行い、このようなプロービング動作を繰り返し行うことで必要な測定作業を行うことができる。
【0007】
この場合、各可動プローブピン1,2,3は、筒状となったプローブ本体部1a,2a,3aと、これらに内在させた図示しないコイルスプリングにより常に突出方向へと付勢され、かつ、コーティングされたテフロン層などからなる滑り層を介して進退自在に保持された接触ピン1b,2b,3bとを少なくとも備えて形成されている。
【0008】
このため、所定位置へと移動して位置決めされた各可動プローブピン1,2,3は、それぞれをZ軸方向である下降方向へと移動させることにより、各接触ピン1b,2b,3bの接触端を被検査回路基板Pの各測定部位に所定の接触圧のもとで接触させることができることになる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、各可動プローブピン1,2,3は、測定ポイントを異にしながら繰り返し行われるプロービング動作により、各プローブ本体部1a,2a,3aと各接触ピン1b,2b,3bとの間に介在させてある滑り層が摩耗して円滑な摺動ができなくなったり、コイルスプリングのバネ性が性能劣化してショック吸収力が弱化するなどして、被検査回路基板Pの各測定部位に対し各接触ピン1b,2b,3bを適正な接触圧で接触させることができなくなる不都合があった。
【0010】
そして、このような不都合があると、各接触ピン1b,2b,3bは、被検査回路基板Pの側に接触した際に適正な接触圧を上回る押圧力で圧接するに至る結果、可動プローブピン1,2,3の側を損傷させたり、被検査回路基板Pの側を破損してしまうなどの不具合を引き起こすおそれがあった。
【0011】
本発明は、上記した従来技術の課題に鑑みてなされたものであり、可動プローブピンが常に適正な接触圧のもとで被検査回路基板の側に接触させることができる接触圧を保持しているか否かを簡単、かつ、正確に検出してその良否を知ることができる可動プローブピンの接触圧検査機構およびその方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するためになされたものであり、そのうちの第1の発明(接触圧検査機構)は、3軸方向への移動が自在な少なくとも2本以上の可動プローブピンを備える回路基板検査装置における前記可動プローブピンの可動範囲内の適位置に対し、異なる所定位置に同時に接触させた際の前記可動プローブピン相互の短絡または非短絡を自在に配設された通電回路と、これら可動プローブピンのうち、検査対象である少なくとも1本の可動プローブピンが所定の接触圧よりも大きな接触圧で接触した際の接点の開成または閉成を自在にして前記通電回路中に介在させた検出スイッチとを少なくとも具備させ、
検査対象の可動プローブピンが前記検出スイッチと接触した際の接点の開閉状態との関係で判別される接触圧の程度によりその良否判断を自在としたことに特徴がある。
【0013】
この場合、前記通電回路は、非検査対象の可動プローブピンを接触させるための電極部を備えるダミー基板片と、同電極部と導通して検査対象の可動プローブピンが接触される前記検出スイッチとで形成したり、非検査対象の2本の可動プローブピンを各別に接触させるための一対の電極部を備えるダミー基板片と、一方の前記電極部から検査対象の1本の可動プローブピンが接触される前記検出スイッチを経て他方の前記電極部へと至る導電路とで形成したりすることができる。また、前記検出スイッチを常閉スイッチとし、検査対象であるすべての可動プローブピンの別に前記通電回路中に各別に介在配置させておくこともできる。
【0014】
また、第2の発明(接触圧検査方法)は、3軸方向への移動が自在な少なくとも2本以上の可動プローブピンを備える回路基板検査装置の適位置に、各可動プローブピンを異なる所定位置に各別に接触させた際に各可動プローブピン相互が短絡または非短絡となる通電回路を設け、該通電回路には、検査対象である少なくとも1本の可動プローブピンが所定の接触圧よりも大きな接触圧で接触した際に接点が開成または閉成される検出スイッチを介在させ、検査対象の可動プローブピンを前記検出スイッチに接触させた際の接点の開閉状態との関係で判別される接触圧の程度によりその良否を判断することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係る可動プローブピンの接触圧検査機構の一例を概略的に示す平面図であり、図2は、接触圧検査機構と可動プローブピンとの配置関係を正面方向から示した説明図である。なお、可動プローブピンについては、図4に示す従来例と同じ3本構成とし、図中に同一の符号を用いて示す。
【0016】
可動プローブピンの接触圧検査機構11は、図示しない回路基板検査装置にあって被検査回路基板の固定位置から外れる各可動プローブピン1,2,3の可動範囲内の適位置に配設される略方形を呈する絶縁基台12と、該絶縁基台12の表出面13に配設されたダミー基板22と、同じく表出面13上のダミー基板22の側とは離間する位置に配設された検出スイッチ32とを少なくとも備えている。
【0017】
このうち、ダミー基板22は、略方形を呈する板片部23と、該板片部23の表面23a上の適宜位置に相互に離間させて設置された一対の電極部24,25とで形成されている。
【0018】
また、常閉スイッチとして示される検出スイッチ32は、相互に所定間隔をおいて基台12の表出面13上に対向配置された一対の支台部33,36と、一方の支台部33に基端部34aを片持ち状に固定させて自由端である先端部34b側を他方の支台部36方向へと向かわせた導電性の可動側スイッチ片34と、他方の支台部36に基端部37aを片持ち状に固定させて自由端である先端部37b側を一方の支台部33方向へと向かわせた導電性の固定側スイッチ片37とで形成されている。
【0019】
この場合、可動側スイッチ片34の先端上面には可動接点35が、固定側スイッチ片37の先端下面には不動接点38が、常態時において相互に接触する配置関係のもとでそれぞれが突設されており、これら可動接点35と不動接点38とは、受ける押圧力の程度により接離自在となっている。
【0020】
しかも、可動側スイッチ片34と固定側スイッチ片36とは、常態時に所要の圧接力のもとで可動接点35を不動接点38に接触させ得るように、必要な弾性反発力が付与されて形成されている。
【0021】
また、絶縁基台12上に配設されたダミー基板22が備える一対の電極部24,25と、検出スイッチ32を形成している可動側スイッチ片34と固定側スイッチ片37との間は、図1中に破線として示す例えばリード線などからなる導電部材16,17を介して接続させることで、異なる一方の位置にある電極部24には可動プローブピン1を、他方の位置にある電極部25には可動プローブピン2を、それぞれ同時に接触させた際に相互が短絡される通電回路15が形成されている。
【0022】
つまり、図2に示す常態時における配置関係のもとでは、電極部24に接触させた可動プローブピン1の側から流した電流は、電極部24→導電部材16→可動側スイッチ片34→固定側スイッチ片37→導電部材17→電極部25→可動プローブピン2へと至るので、可動プローブピン1,2相互間は短絡された状態とすることができる。
【0023】
次に、図2および図3に示す例に基づいて本発明に係る可動プローブピンの接触圧検査方法を、接触圧検査機構の動作とともに説明する。なお、この例においては、可動プローブピン3が検査対象とされ、他の1本の可動プローブピン1は電極部24に、残りの1本の可動プローブピン2は電極部25にそれぞれ接触させた状態のもとで、可動プローブピン3の接触ピン3aの接触圧の程度を検査してその良否を判断しようとするものである。
【0024】
この場合、検査対象となっている可動プローブピン3は、図2に示されているように、検査スイッチ32における可動側スイッチ片34の先端部34b寄りの上方位置から下降させた際に、その接触ピン3bが先端部34b側に接触する位置関係へと移動させて位置決めする。
【0025】
このようにして位置決めされた後は、可動プローブピン3を下降させて、通常のプロービング動作と同じ接触圧のもとで接触ピン3bを可動側スイッチ片34に押下げ方向から接触させる。
【0026】
このとき、可動側スイッチ片34は、可動プローブピン3の被検査回路基板に対する適正な接触圧(例えば150g)よりも大きな弾性反発力(例えば200g)が付与されて固定側スイッチ片37の側と接触している。このため、可動プローブピン3における接触ピン3bが200gよりも少ない例えば160gの接触圧のもとで接触することがあっても、弾性反発力が200gである可動側スイッチ片34の側が押し下げられることはない。
【0027】
したがって、検出スイッチ32は、不動接点38に可動接点35が接触している閉成状態を維持し続ける結果、可動プローブピン1と可動プローブピン2とは通電回路15を介して短絡され、検査対象となっている可動プローブピン3が適正な接触圧を保持しながら接触している良品であることを知ることができる。
【0028】
しかし、検査対象となっている可動プローブピン3における接触ピン3aの側が、滑り層の摩耗やコイルスプリングのバネ性の性能劣化などで適正な接触圧を上回る例えば230gの接触圧で可動側スイッチ片34に接触した場合には、弾性反発力が200gである可動側スイッチ片34は例えば図3に示されているように押し下げられてしまうことになる。
【0029】
その結果、検出スイッチ32は、可動接点35が不動接点38から強制的に引き離されてその接触状態が解除されてしまうので、可動プローブピン1と可動プローブピン2との間には電流が流れない非短絡状態となり、検査対象となっている可動プローブピン3の接触圧が異常を来しているを知ることができ、これにより該可動プローブピン3が不良品であることを知ることができることになる。
【0030】
以上は、本発明を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、図4に示すように、非検査対象の可動プローブピン1を接触させるための電極部26を備えるダミー基板片22と、同電極部26と導通して検査対象の可動プローブピ2ンが接触される検出スイッチ32とで通電回路を形成し、一方の可動プローブピン1を電極部26に接触させた状態で、他方の可動プローブ2を検出スイッチ32の可動側スイッチ片34に接触させた際の接点の開閉状態との関係で、その接触圧の適否を検査できるようにしてもよい。また、図示例における検出スイッチ32は、常閉スイッチとして示されているが、例えば図2における可動側スイッチ片34を上側に、固定側スイッチ片37を下側に配置し、常態時において可動側スイッチ片34の可動接点35が固定側スイッチ片37の不動接点38から離れて対向する常開スイッチとして配設することもできる。この場合、通電回路は、検査対象の可動プローブピ2ンの接触圧が適正圧を上回る場合に閉成され、これにより接触圧の程度が検査でき、その良否を知ることができることになる。
【0031】
また、図1に示す電極部24,25に代え、通電回路15中に可動プローブピン1用の検出スイッチ(常閉スイッチ)32と、可動プローブピン2用の検出スイッチ(常閉スイッチ)32とをそれぞれ設け、可動プローブピン用の検出スイッチ(常閉スイッチ)32とを含め、同時にもしくは各別にそれぞれの検出スイッチ32の可動側スイッチ片34に接触させた際の接点の開閉状態との関係で、それぞれの接触圧の程度を検査でき、その良否を知ることができるようにすることもできる。
【0032】
さらに、図示例では、可動側スイッチ片34の弾性反発力を考慮して絶縁基台12の表出面13から所要の高さを確保して配設した常閉スイッチとしての検出スイッチ32が示されている。しかし、このような図示例の構造に限定されるものではなく、例えば、可動側スイッチ片34の可動接点35と固定側スイッチ片37の不動接点38とを所要の磁着力で磁着させるなど、可動プローブピンの接触圧を判別できる適宜のスイッチ手法を採用することもできる。
【0033】
本実施形態においては、可動プローブピン3を検査対象とした例について説明しているが、他の可動プローブピン1,2を順次、検査対象としてその接触圧を可動プローブピン3と同様に検査することもできる。
【0034】
また、本実施形態においては3本の可動プローブピン1,2,3を備える回路基板検査装置を例にして説明したが、少なくとも2本以上備えているものであればよく、その数は限定されない。なお、可動プローブピンの接触圧を通電回路の開閉との関係で検査し、不適正と判断された場合には、ブザーを鳴らしたり、エラー表示ランプを点灯するなどの適宜の報知手段により作業者に報知できるようにしておくのが好ましい。
【0035】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、基板検査装置が備える各可動プローブピンを異なる所定位置に各別に接触させた際に各可動プローブピン相互が短絡する通電回路を設け、該通電回路には、検査対象である少なくとも1本の可動プローブピンが所定の接触圧よりも大きな接触圧で接触した際に接点が開成される検出スイッチを介在させてあるので、検査対象の可動プローブピンを前記検出スイッチに接触させた際の接点の開閉状態によってその接触圧の程度を簡単に検査し、その良否を判断することができる。
【0036】
しかも、この場合、可動プローブピンを回路基板検査装置から取り外すことなくそのままの状態で検査することができるので、実測定作業に先立って接触圧を事前チェックすることで、可動プローブピンの損傷や被検査回路基板の破損を防止して円滑に測定作業を遂行することができるほか、接触圧の適否検査の作業性の向上を図ることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る可動プローブピンの接触圧検査機構の一例を概略的に示す平面図。
【図2】 本発明に係る可動プローブピンの接触圧検査機構と可動プローブピンとの配置関係を正面方向から示した説明図。
【図3】 可動プローブピンの接触圧が適正な接触圧を上回った場合の検査スイッチの状態を示す説明図。
【図4】 本発明に係る可動プローブピンの接触圧検査機構の他例を図2に対応させて示す説明図。
【図5】 3本からなる可動プローブピンのプロービング動作例を示す説明図。
【符号の説明】
1,2,3 可動プローブピン
1a,2a,3a プローブ本体部
1b,2b,3b 接触ピン
11 接触圧検査機構
12 絶縁基台
13 表出面
15 通電回路
16,17 導電材
22 ダミー基板
23 板片部
23a 表面
24,25 電極部
32 検出スイッチ
33 支台部
34 可動側スイッチ片
34a 基端部
34b 先端部
35 可動接点
36 支台部
37 可動側スイッチ片
37a 基端部
37b 先端部
38 不動接点
Claims (5)
- 3軸方向への移動が自在な少なくとも2本以上の可動プローブピンを備える回路基板検査装置における前記可動プローブピンの可動範囲内の適位置に対し、
異なる所定位置に同時に接触させた際の前記可動プローブピン相互の短絡または非短絡を自在に配設された通電回路と、
これら可動プローブピンのうち、検査対象である少なくとも1本の可動プローブピンが所定の接触圧よりも大きな接触圧で接触した際の接点の開成または閉成を自在にして前記通電回路中に介在させた検出スイッチとを少なくとも具備させ、
検査対象の可動プローブピンが前記検出スイッチと接触した際の接点の開閉状態との関係で判別される接触圧の程度によりその良否判断を自在としたことを特徴とする可動プローブピンの接触圧検査機構。 - 前記通電回路は、非検査対象の可動プローブピンを接触させるための電極部を備えるダミー基板片と、同電極部と導通して検査対象の可動プローブピンが接触される前記検出スイッチとで形成した請求項1に記載の可動プローブピンの接触圧検査機構。
- 前記通電回路は、非検査対象の2本の可動プローブピンを各別に接触させるための一対の電極部を備えるダミー基板片と、一方の前記電極部から検査対象の1本の可動プローブピンが接触される前記検出スイッチを経て他方の前記電極部へと至る導電路とで形成した請求項1に記載の可動プローブピンの接触圧検査機構。
- 前記検出スイッチは常閉スイッチであり、検査対象であるすべての可動プローブピンの別に前記通電回路中に各別に介在配置させた請求項1に記載の可動プローブピンの接触圧検査機構。
- 3軸方向への移動が自在な少なくとも2本以上の可動プローブピンを備える回路基板検査装置の適位置に、各可動プローブピンを異なる所定位置に各別に接触させた際に各可動プローブピン相互が短絡または非短絡となる通電回路を設け、該通電回路には、検査対象である少なくとも1本の可動プローブピンが所定の接触圧よりも大きな接触圧で接触した際に接点が開成または閉成される検出スイッチを介在させ、検査対象の可動プローブピンを前記検出スイッチに接触させた際の接点の開閉状態との関係で判別される接触圧の程度によりその良否を判断することを特徴とする可動プローブピン接触圧検査方法。
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