JP4169128B2 - キャパシタ充電用半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、直列接続された複数の電気二重層キャパシタを均等に充電するために、複数の並列モニタ回路を集積した半導体装置の接続端子の配置に関するものである。
電気二重層キャパシタは、充電に時間がかかる2次電池と比較して、急速充電が可能である。しかしながら、電気二重層キャパシタは定格電圧が3V程度と低いため、通常は複数のキャパシタを直列に接続して必要な電圧を確保している。
このように直列接続された複数の大容量キャパシタを充電する際に問題となるのが、キャパシタの容量差や自己充電、自己放電などによって生ずる充電の不均一である。
この対策としては、通常、並列モニタ回路と呼ばれる充電均一化回路が用いられている。
図3は、例えば、特開2000-050495号公報(特許文献1参照)に開示されている並列モニタ回路の構成図である。
この並列モニタ回路は、キャパシタ(C1)の電圧(V1)が基準電圧(Vr1)を超えると、コンパレータ(CMP1)の出力がハイレベルとなり、トランジスタ(Tr1)をオンにするので、充電電流がトランジスタ(Tr1)によってバイパスされ、キャパシタの過充電を防止するように作用する。
特開2000−050495号公報
しかしながら、従来の並列モニタ回路は半導体装置による集積化がされておらず、ディスクリート部品を集めて構成していたので、回路規模が大きく、コストも高くなってしまうという問題があった。そこで、半導体装置による集積化が望まれていた。
しかし、直列接続するキャパシタの数は、その用途によって異なるため、用途に合わせて集積する並列モニタ回路の数を変えた半導体装置を作っていては、多品種少量生産となってしまうため、量産による半導体装置のコストメリットが活かせず、半導体装置のコストが高くなりすぎ、実用的でなかった。また、並列モニタ回路を1つだけ集積した半導体装置を作っても、並列モニタ回路全体の回路規模は余り小さくできず、集積したメリットはほとんど無い。
そこで、1つの半導体装置に並列モニタ回路を5個乃至10個程度を集積し、集積した数より多いキャパシタの充電制御を行う場合は、同じ半導体装置を必要な数だけ縦続接続することにより、多くのキャパシタの充電を制御する半導体装置が考えられる。こうすることで、半導体装置の量産が可能となり、並列モニタ回路全体の回路規模の縮小とコストダウンが可能となる。
(目的)
本発明の目的は、上記半導体装置のピンを含む接続端子の配置を適切なものにして、並列モニタ回路全体の回路規模をより小さく、かつコストダウンが可能になるような半導体装置を提供することである。
本発明のキャパシタ充電用半導体装置は、(1)直流電源を直列接続された複数のキャパシタに印加して、前記キャパシタを充電するために、前記キャパシタの各々の電圧があらかじめ設定された基準電圧を超えると、前記キャパシタの各々に接続されている充電電流をバイパスする、バイパス用トランジスタを制御する並列モニタ回路を複数内蔵した半導体装置において、前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を前記半導体装置の四角形状のうちの一辺側に配置し、該半導体装置に、充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置すると共に、該制御端子の一部を直交する側面に対向するように、対で配置したことを特徴としている
このように、充電制御端子やIC制御端子を、キャパシタ端子と向かい合う辺側および直交する辺側に配置したので、制御用の配線と充電用の配線が交差しなくなり、配線相互の影響による誤動作が起き難くなった。
また、(2)前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことも特徴としている。
このように、高電圧のキャパシタの制御端子を高電圧側に、低電圧のキャパシタの制御端子を低電圧側に、それぞれ配置したので、一つの半導体装置では足らないほど多くのキャパシタを充電するために、半導体装置を縦続接続したときの配線が容易になると共に、配線スペースも小さくできるようになった
また、(3)前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、前記半導体装置と、前記高電圧側の上記半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続できるように配置したことも特徴としている。
このように、最も近い端子同士から順に接続するように配置するので、半導体装置を縦続接続したときの配線がクロスせず配線し易くなると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(4)前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を前記半導体装置の一方の側面を中心に連続した配置で集めたことも特徴としている。
このように、キャパシタとバイパス用トランジスタの接続端子を一辺側中心に連続して集めたので、半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能となった。
また、(5)前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子の並び方は、前記直流電源の高電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子から、より低電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子になるように、順番に配置したことも特徴としている。
この結果、さらに半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能となった。
また、(6)前記キャパシタの両端に接続する端子の間に、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を配置したことも特徴としている。
その結果、さらに半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能となった
また、(7)前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側を中心に連続して配置したことも特徴としている。
その結果、制御用の配線と充電用の配線が交差しなくなり、配線相互の影響による誤動作が起き難くなった。
また、(8)前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することによって縦続接続し、充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことも特徴としている。
その結果、一つの半導体装置では足らないほど多くのキャパシタを充電するために、半導体装置を縦続接続したときの配線が容易になると共に、配線スペースも小さくできるようになった
また、(9)前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続するように配置したことも特徴としている。
その結果、半導体装置も縦続接続したときの配線がクロスせず配線し易くなると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(10)前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子の並び方は、前記直流電源の高電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子から、より低電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子になるように、順番に配置したことも特徴としている。
このように、半導体装置の一辺側に端子を配置し、かつ直流電源の高電圧から低電圧の方向に順番に配置することにより、さらに半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能となった
また、(11)前記キャパシタの両端に接続する端子の間に、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を配置したことも特徴としている。
このように、キャパシタの両端に接続する端子の間に、バイパス用トランジスタの接続端子を配置することにより、さらに半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能となった。
また、(12)前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置することも特徴としている。
このように、半導体装置のキャパシタの接続端子と反対側に制御端子を配置することで、制御用の配線と充電用の配線が交差しなくなり、配線相互の影響による誤動作が起き難くなった。
また、(13)前記半導体装置は、複数の上位および下位半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことも特徴としている。
その結果、一つの半導体装置では足らないほど多くのキャパシタを充電するために、半導体装置を縦続接続したときの配線が容易になると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(14)前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続できるように配置したことも特徴としている。
このように、最も近い端子同士から順に接続できるように配置したので、半導体装置を縦続接続したときの配線がクロスせず、配線し易くなると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(15)前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置し、入りきらなかった端子を対でバイパス用トランジスタ側に該バイパス用トランジスタを挟むように配置したことも特徴としている。
このように、制御端子をキャパシタ端子の反対側または辺側寄りに配置したので、制御用の配線と充電用の配線が交差しなくなり、配線相互の影響による誤動作が起き難くなった。
また、(16)前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことも特徴としている。
このように、制御端子をキャパシタ端子側に配置する場合に、高電圧側の制御端子は高電圧キャパシタの方向に、低電圧側の制御端子は低電圧キャパシタの方向に配線したので、一つの半導体装置では足らないほど多くのキャパシタを充電するために、半導体装置を縦続接続したときの配線が容易になると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(17)前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続するように配置したことも特徴としている。
このように、最も近い端子同士から順に接続可能なように配置したので、半導体装置を縦続接続したときの配線がクロスせず配線し易くなると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
本発明によれば、下記のような効果が得られる。すなわち、(1)キャパシタを均等充電するための並列モニタ回路を複数内蔵した半導体装置において、キャパシタと、バイパス用トランジスタに接続する端子を半導体装置の一辺側に集めたので、半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタの配線がし易くなり、並列モニタ回路の省スペース化が可能になると共に、バイパス用トランジスタに接続する端子と制御端子を完全に分離して一方向に集めなくても、バイパス用トランジスタに接続する端子と制御端子のそれぞれの中心を対向するようにして、端子数を非対称で配置することでも配線スペースも小さくできるようになった。
また、(2)制御端子を、キャパシタおよびバイパス用トランジスタに接続する端子を集めた辺側と向かい合った辺側に集めることにより、制御用の配線と充電用の配線が交差しなくなって、配線相互の影響による誤動作が起き難くなった。
また、(3)半導体装置を縦続接続する時に相互に接続する制御端子を互いに近づく方向に集めることにより、半導体装置を縦続接続したときの配線が容易になると共に、配線スペースも小さくできるようになった。
また、(4)半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続できるように配置することにより、半導体装置を縦続接続したときの配線がクロスせず、配線し易くなると共に、配線スペースも小さくできるようになった
(第1の実施例)
図1は、本発明の第1の実施例を示す半導体装置の接続端子配置図である。
半導体装置の端子は左右に分かれて配置されており、右側の端子は全て、キャパシタとバイパス用トランジスタに接続するための端子である。左側の端子は全て充電制御および半導体装置自体を制御するための端子である(この構成の端子配置を第1群と呼ぶ)。
右側の端子の一番上は電源端子(Vdd)であり、最も高電圧側に接続されるキャパシタ1の正側の端子でもある。端子(OUT1)はキャパシタ1のバイパス用トランジスタのベースに接続するための端子である。端子(Cell1)はキャパシタ1の負側の端子であると共に、キャパシタ1に直列接続されているキャパシタ2の正側の端子でもある。このように、バイパス用トランジスタのベースに接続するための端子は、キャパシタの正負の端子の間に配置している。以下同様にキャパシタ5まで接続できるようになっている。最後の端子(Cell5)は、キャパシタ5の負側の端子であると共に、電源の負側の端子(Vss)を兼ねている。
端子(NC)はどこにも接続しない端子である。
図3は、半導体装置とキャパシタおよびバイパス用トランジスタとの接続端子の具体的配置図の一例である。
ここでは、キャパシタ1と2だけが示されているが、キャパシタ3以降も全く同じ構成である。半導体装置の並列モニタ回路は、コンパレータ(CMP1)と非反転入力の電源端子(Vdd)と反転入力の電圧(Vr1)、および、コンパレータ(CMP2)と非反転入力の電圧(V2)と反転入力の電圧(Vr2)から構成される。図1における端子と図3の端子を対応づけると、図1のVdd端子は、図3の電源端子(Vdd)であり、図1のNc端子はどこにも接続しない端子であって、半導体装置の左右辺側の端子数を合わせるためである。図1のOut1は、図3のコンパレータ(CMP1)の出力に接続され、バイパス用トランジスタTr1のベースに接続されている。図1のCELL1端子は、図3に示すようにキャパシタ1の負側の端子であり、図1のOut2端末は、図3のコンパレータ(CMP2)の出力に接続され、バイパス用トランジスタTr2のベースに接続されている。また、図1のCell2端子は、図3に示すようにキャパシタ2の負側の端子である。全く同じようにして、図1のNc、Out3、Cell3、Nc、Out4、Cell4、Nc、Out5、Cell5の各端子についても、図3の対応するキャパシタ3,4,5およびバイパス用トランジスタTr3,Tr4,Tr5の各端子に接続される。
次に、図1の左側の端子(CON1〜CON16)は上下に分けられ、上半分(CON1〜CON8)が半導体装置よりさらに高電圧側にあるキャパシタを充電するための本半導体装置に、制御信号を伝達するための端子であり、下半分(CON9〜CON16)が本半導体装置よりさらに低電圧側にあるキャパシタを充電するための半導体装置に、制御信号を伝達するための端子である。
(制御端子の配置)
図2は、本発明において半導体装置(第1群)を2つ接続した場合の実施例を示す接続図である。
この回路は、キャパシタを10個直列接続した回路を充電するものであるが、さらに上側の半導体装置(IC1)の上に同じ半導体装置を追加すれば、さらに多くのキャパシタの充電が可能である。
制御回路は、CPUなどで構成されており、半導体装置(IC1)と半導体装置(IC2)の充電および、半導体装置自体の動作を制御する。
半導体装置(IC1)の端子(Vdd)と端子(Cell1)の間には、キャパシタ(C11)が接続されている。さらに、端子(Vdd)には抵抗(R11)の一端が接続され、抵抗(R11)の他端はバイパス用トランジスタ(TR11)のコレクタに接続されている。トランジスタ(TR11)のエミッタは端子(Cell1)に接続され、ベースは端子(OUT1)に接続されている。同様の回路がキャパシタの高電圧側から順に低電圧側に並んでいる。最後の端子(Cell5)は、下側の半導体装置(IC2)の電源端子(Vdd)に接続されている。下側の半導体装置(IC2)の右側の回路は、上側の半導体装置(IC1)の回路と全く同じである。
半導体装置(IC1,IC2)の左側の端子は制御端子である。半導体装置(IC1)と半導体装置(IC2)を縦続接続させるために、制御端子のうちの幾本かを、より高電圧側の半導体装置もしくはより低電圧側の半導体装置との信号の授受に使用する。高電圧側の半導体装置と接続するこれらの端子は、半導体装置内で高電圧側のキャパシタと接続する端子を配置した方向に集め、低電圧側の半導体装置と接続する端子は、低電圧側のキャパシタと接続する端子を配置した方向に集めている。
最も低電圧側のキャパシタを充電する半導体装置(IC2)の、低電圧側の半導体装置と接続する端子は、図2のように制御回路に接続される。
高電圧側の半導体装置(IC1)と、低電圧側の半導体装置(IC2)を接続する制御端子は、半導体装置(IC1)の端子(CON16)と半導体装置(IC2)の端子(CON1)が接続され、次に、半導体装置(IC1)の端子(CON15)と半導体装置(IC2)の端子(CON2)が接続されるように、最も近くに位置する端子同士を順に接続するように配置しているので、配線が交差せず、配線スペースが小さくできるように考慮してある。
なお、本実施例では、右側にキャパシタに接続するための端子、左側に制御信号端子を配置したが、もちろん、左側にキャパシタに接続するための端子、右側に制御信号端子を配置しても構わない。
(第2の実施例)
図4は、本発明の第2の実施例(第2群)を示す半導体装置の接続端子の配置図である。
第2の実施例(第2群)は、左側の制御端子の一部を右側の両端に移した構成の配置である。
この場合、半導体装置の大部分の端子は左右に分かれて配置されており、右側の端子は殆んどキャパシタとバイパス用トランジスタに接続するための端子である。左側の端子は殆んど充電制御および半導体装置自体を制御するための端子である。第2群の構成では、左側の制御端子が多く配置しているため、その一部を右側の両端に移している。すなわち、右側の端子の一番上は制御端子(CON1)であり、左側から移された端子である。その次の端子は端子(Vdd)であり、最も高電圧側に接続されるキャパシタ1の正側の端子でもある。端子(OUT1)はキャパシタ1のバイパス用トランジスタのベースに接続するための端子である。端子(Cell1)はキャパシタ1の負側の端子であると共に、キャパシタ1に直列接続されているキャパシタ2の正側の端子でもある。このように、バイパス用トランジスタのベースに接続するための端子は、キャパシタの正負の端子の間に配置している。以下同様にキャパシタ5まで接続できるようになっている。最後の端子(Cell5)は、キャパシタ5の負側の端子であると共に、電源の負側の端子(Vss)を兼ねている。なお、図1では、右側の端子が多かったため、どこにも接続しない端子(Nc)を配置していたが、図4ではNc端子は最下段にしか配置されていない。
(制御端子の配置)
図5は、本発明において半導体装置(第2群)を2つ接続した場合の実施例配置図である。
半導体装置(IC1)の端子(Vdd)と端子(Cell1)の間には、キャパシタ(C11)が接続されている。さらに、端子(Vdd)には抵抗(R11)の一端が接続され、抵抗(R11)の他端はバイパス用トランジスタ(TR11)のコレクタに接続されている。トランジスタ(TR11)のエミッタは端子(Cell1)に接続され、ベースは端子(OUT1)に接続されている。同様の回路がキャパシタの高電圧側から順に低電圧側に並んでいる。最後の端子(Cell5)は、下側の半導体装置(IC2)の電源端子(Vdd)に接続されている。下側の半導体装置(IC2)の右側の回路は、上側の半導体装置(IC1)の回路と全く同じである。
半導体装置(IC1,IC2)の左側の端子は制御端子である。半導体装置(IC1)と半導体装置(IC2)を縦続接続させるために、制御端子のうちの幾本かを、より高電圧側の半導体装置もしくはより低電圧側の半導体装置との信号の授受に使用する。高電圧側の半導体装置と接続するこれらの端子は、半導体装置内で高電圧側のキャパシタと接続する端子を配置した方向に集め、低電圧側の半導体装置と接続する端子は、低電圧側のキャパシタと接続する端子を配置した方向に集めている。
最も低電圧側のキャパシタを充電する半導体装置(IC2)の、低電圧側の半導体装置と接続する端子は、図2のように制御回路に接続される。
高電圧側の半導体装置(IC1)と、低電圧側の半導体装置(IC2)を接続する制御端子は、半導体装置(IC1)の端子(CON15)と半導体装置(IC2)の端子(CON2)が接続され、次に、半導体装置(IC1)の端子(CON14)と半導体装置(IC2)の端子(CON3)が接続されるように、最も近くに位置する端子同士を順に接続するように配置しているので、配線が交差せず、配線スペースが小さくできるように考慮してある。なお、左側から右側に移された半導体装置(IC1)の端子(CON1)は高電圧側ICに接続され、半導体装置(IC2)の端子(CON1)は半導体装置(IC1)の制御端子(CON16)に接続されている。
(第3の実施例)
図6は、本発明の第3の実施例を示す半導体装置(第3群)の接続端子の配置図である。
第3の実施例(第3群)は、左側の制御端子の一部を垂直側面に移した構成の配置である(四面接続)。
この場合、半導体装置の大部分の端子は左右に分かれて配置されているが(右側の端子はキャパシタとバイパス用トランジスタに接続するための端子、左側の端子は充電制御および半導体装置自体を制御するための端子)、高電圧側2端子と低電圧側2端子のみを垂直側面に移している。すなわち、第3群の構成では、左側の制御端子が多く配置しているため、その一部を垂直側に移している。具体的には、制御端子(CON1,CON2)を上辺側に配置し、制御端子(CON15,CON16)を下辺側に配置している。それ以外の制御端子(CON2〜CON14)は、左側の面に配置されている。
右側の端子の一番上は電源端子(Vdd)であり、最も高電圧側に接続されるキャパシタ1の正側の端子でもある。端子(OUT1)はキャパシタ1のバイパス用トランジスタのベースに接続するための端子である。端子(Cell1)はキャパシタ1の負側の端子であると共に、キャパシタ1に直列接続されているキャパシタ2の正側の端子でもある。このように、バイパス用トランジスタのベースに接続するための端子は、キャパシタの正負の端子の間に配置している。以下同様にキャパシタ5まで接続できるようになっている。最後の端子(Cell5)は、キャパシタ5の負側の端子であると共に、電源の負側の端子(Vss)を兼ねている。図6ではNc端子は最下段にしか配置されていない。
(制御端子の接続方法)
図7は、本発明の制御側の回路の4種類の一例を示す図であり、図8は本発明の端子接続方法を示す図である。
図7において、出力端子は半導体装置の状態をマイコンに報告する信号を出力する端子であり、入力端子は半導体装置をマイコンから制御する信号を入力する端子である。ここでは、出力信号と入力信号が一対となって半導体装置(IC)間を伝達される。
半導体装置(ICn+1)と半導体装置(ICn)との間には、図7に示すように4種類の制御端子が接続される。ただし、IC1個当りの制御端子数は、図7の内容と一致するとは限らない。また、上り信号と下り信号とは、図8に示すように制御端子と接続されている。なお、上り信号と下り信号のセットの数は、図8と一致する必要はない。
本システムでは、一番電圧の低い0VにVss端子を接続するICには殆んどの場合、コントロール用マイコンとの接続がなされている。一番低電圧側のICをIC1、その次に低い電圧側のICをIC2、n番目に低いICをICnとする。マイコンが接続された場合には、本キャパシタ直列システム中の電圧検出アラームや負電圧検出アラーム等の検出信号をICからマイコンへ出力する必要がある。
この際に、ICnからのアラーム信号はIC1まで信号を伝えて、マイコンへ信号を送ることになる。ICnは高電圧側にICn+1とのコントロール端子が接続され、低電圧側にICn−1とのコントロール端子が接続されている。
アラーム信号はICn−1への信号伝達が必要であるため(以降、低電圧側ICへの信号を下り信号とし、高電圧側ICへの信号を上り信号と表現する)、ICnの低電圧側IC接続端子から下り信号が出力され、ICn−1の高電圧側IC接続端子へ下り信号が入力される。ICn−1に入力した下り信号は、内部回路で信号変換を施し、さらにICn−1の低電圧側IC接続端子から下り信号が出力され、ICn−2の高電圧側IC接続端子へ下り信号が入力される。これを繰り返してIC1の高電圧側IC接続端子へ下り信号が入力される。IC1に入力した下り信号は、内部回路で信号変換を施し、低電圧側IC接続端子からマイコンへ下り信号を出力する。このような順序でアラーム信号は伝達して行く。
次に、マイコンからのコントロール信号は上り信号になる。マイコンからのコントロール信号が、IC1の低電圧側IC接続端子へ入力される。IC1に入力した上り信号は、内部回路で信号変換を施し、高電圧側IC接続端子からIC2の低電圧側IC接続端子へ入力される。これを繰り返して一番電圧の高いICまでコントロール信号を伝達する。
ここで、制御端子を整理すると、下り信号の低電圧側IC接続端子は一つ低電圧側ICへ信号を出力し、対応する下り信号の高電圧側IC接続端子へ入力される。上り信号の高電圧側IC接続端子は一つ高電圧側ICへ信号を出力し、対応する上り信号の低電圧側IC接続端子へ入力される。図7に示すように、制御端子は4種類存在し、高電圧側IC接続出力端子、高電圧側IC接続入力端子、低電圧側IC接続出力端子、低電圧側IC接続入力端子となる。
一実施例として、図8(a)(b)に示すように、それぞれ高電圧側IC接続出力端子はNchオープンドレイン、高電圧側IC接続入力端子はICのVssに接続された高抵抗素の逆端子側で、かつインバータ入力端子、低電圧側IC接続出力端子はPchオープンドレイン、低電圧側IC接続入力端子はICのVddに接続された高抵抗素子の逆端子側で、かつインバータ入力端子となる。
ICnの高電圧側IC接続出力端子のNchオープンドレインがONの場合、ICnの高電圧虚IC接続出力端子はICnのVss電圧となる。対応する受け手のICn+1の低電圧側IC接続入力端子は、ICnのICのLOW信号を受けてICn+1のVddに接続された高抵抗素子には若干の電流が流れるが、インバータ入力にはLOW信号が入力される。ICn+1内部には信号が伝わり、更にICn+1の高電圧側IC接続出力端子のNchオープンドレインがONになり、ICn+2へ伝達されていく。
ICnの高電圧側IC接続出力端子のNchオープンドレインがOFFの場合、ICnの高電圧側IC接続出力端子は単独ではフローティングであるが、対応する受け手のICn+1の低電圧側IC接続入力端子に接続されたVddに接続された高抵抗素子に引っ張られることにより、ICn+1のVdd電圧になり、ICn+1の低電圧側IC接続入力端子のインバータ入力にはHIGH信号が入力される。ICn+1内部には信号が伝わり、更にICn+1の高電圧側IC接続出力端子のNchオープンドレインがOFFになり、ICn+2へ伝達されていく。
ICnの低電圧側IC接続出力端子のPchオープンドレインがONの場合、ICの低電圧側IC接続出力端子はICnのVdd電圧になる。対応する受け手のICn−1の高電圧側IC接続入力端子は、ICnのICのHIGH信号を受けて、ICn−1のVssに接続された高抵抗素子には若干の電流が流れるが、インバータ入力にはHIGH信号が入力される。ICn−1内部には信号が伝わり、更にICn−1の低電圧側IC接続出力端子のPchオープンドレインがONになり、ICn−2に伝達されていく。
ICnの低電圧側IC接続出力端子のPchオープンドレインがOFFの場合、ICnの低電圧側IC接続出力端子は単独ではフローティングであるが、対応する受け手のICn−1の高電圧側IC接続入力端子に接続されたVssに接続された高抵抗素子に引っ張られることにより、ICn−1のVss電圧になる。ICn−1の高電圧側IC接続入力端子のインバータ入力にはLOW信号が入力される。ICn−1内部には信号が伝わり、更にICn−1の低電圧側IC接続出力端子のPchオープンドレインがOFFになり、ICn−2へ伝達されていく。ただし、制御端子の構成は、上記内容の方式およびシステムに限定されるものではなく、その他種々の方式に対応するものである。
なお、本発明で用いられる端子の種類は、ピン挿入型も面実装型も問わない。また、面実装型のうちボールグリッド、ガルウイングリード、Jリードの3タイプの端子の種類も問わない。
パッケージについては、DIP・PGA・SOP・QFP・BGA・CSP等の対向するリードの辺を持つ種々のパッケージに対応する。
本発明の第1の実施例を示す半導体装置の端子配置図である。 本発明の第1の実施例を示す2つの半導体装置を接続した場合の端子接続図である。 図1の各端子の具体的な対応を示す半導体装置の接続図の一例である。 本発明の第2の実施例を示す半導体装置の端子配置図である。 本発明の第2の実施例を示す2つの半導体装置を接続した場合の端子接続図である。 本発明の第3の実施例を示す半導体装置の端子配置図である。 本発明の制御端子の種類を示す接続方法の図である。 本発明の制御端子の具体的接続方法の図である。
符号の説明
Vdd…電源端子、Nc…無接続端子、
OUT1〜OUT5…バイパス用トランジスタ接続用端子、
Cell1〜Cell5…キャパシタの負側の端子、CON1〜CON16…制御端子、
Vr1〜Vr2…標準電圧、C1〜C25…キャパシタ、
CMP1〜CMP2…コンパレータ、Tr1〜Tr2…バイパス用トランジスタ、
D1,D2…ツェナーダイオード。

Claims (17)

  1. 直流電源を直列接続された複数のキャパシタに印加して、前記キャパシタを充電するために、前記キャパシタの各々の電圧があらかじめ設定された基準電圧を超えると、前記キャパシタの各々に接続されている充電電流をバイパスする、バイパス用トランジスタを制御する並列モニタ回路を複数内蔵した半導体装置において、
    前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を前記半導体装置の四角形状のうちの一辺側に配置し、
    該半導体装置に、充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、
    該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置すると共に、該制御端子の一部を直交する側面に対向するように、対で配置したことを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、
    充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
    前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項2に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上記半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続できるように配置したことを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1に記載の半導体装置において、
    前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を前記半導体装置の一方の側面を中心に連続した配置で集めたことを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項4に記載の半導体装置において、
    前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子の並び方は、
    前記直流電源の高電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子から、より低電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子になるように、順番に配置したことを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項5に記載の半導体装置において、
    前記キャパシタの両端に接続する端子の間に、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を配置したことを特徴とする半導体装置。
  7. 請求項4に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、
    該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側を中心に連続して配置したことを特徴とする半導体装置。
  8. 請求項7に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することによって縦続接続し、
    充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
    前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことを特徴とする半導体装置。
  9. 請求項8に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続するように配置したことを特徴とする半導体装置。
  10. 請求項1に記載の半導体装置において、
    前記キャパシタと、前記バイパス用トランジスタに接続する端子の並び方は、
    前記直流電源の高電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子から、より低電圧側に接続されているキャパシタに接続する端子になるように、順番に配置したことを特徴とする半導体装置。
  11. 請求項10に記載の半導体装置において、
    前記キャパシタの両端に接続する端子の間に、前記バイパス用トランジスタに接続する端子を配置したことを特徴とする半導体装置。
  12. 請求項1に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、
    該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置したことを特徴とする半導体装置。
  13. 請求項12に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は、複数の上位および下位半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、
    充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
    前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことを特徴とする半導体装置。
  14. 請求項13に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続できるように配置したことを特徴とする半導体装置。
  15. 請求項1に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は充電制御および前記半導体装置自体の動作を制御するための複数の制御端子を備え、
    該制御端子を、前記キャパシタおよび前記バイパス用トランジスタに接続する端子を集めた前記一辺側と向かい合った辺側に配置し、入りきらなかった端子を対でバイパス用トランジスタ側に該バイパス用トランジスタを挟むように配置したことを特徴とする半導体装置。
  16. 請求項15に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置は、複数の上位および下位の半導体装置間において、前記制御端子のうちの幾つかの制御端子を相互接続することで縦続接続し、
    充電可能なキャパシタの数の増加を可能にするために、前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、高電圧側のキャパシタを充電する上位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、高電圧側のキャパシタに接続する端子の方向に配置し、
    前記半導体装置が充電するキャパシタの電圧より、低電圧側のキャパシタを充電する下位半導体装置と接続する制御端子を、前記半導体装置で充電を行うキャパシタの中の、低電圧側のキャパシタに接続する端子方向に配置したことを特徴とする半導体装置。
  17. 請求項16に記載の半導体装置において、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を接続する前記制御端子の並びは、
    前記半導体装置と、前記高電圧側の上位半導体装置または前記低電圧側の下位半導体装置を縦に並べたとき、最も近い端子同士から順に接続するように配置したことを特徴とする半導体装置。
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