JP4142042B2 - Inspection method of liquid crystal display panel - Google Patents
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Description
本発明は、液晶表示パネルの検査方法に関し、特に、表示領域以外の部分を広げることなく、ICチップ搭載前の点灯検査が可能な液晶表示パネルの検査方法に関する。 The present invention relates to a liquid crystal display panel inspection method, and more particularly, to a liquid crystal display panel inspection method capable of performing a lighting inspection before mounting an IC chip without expanding a portion other than a display area.
液晶表示パネルを用いた機器においては、液晶表示パネルの表示領域以外の領域を極力減少させて、液晶表示パネルが搭載される機器の限られた大きさの範囲内で、可能な限り大きな表示面積を実現したいという要請がある。 In equipment using a liquid crystal display panel, the area other than the display area of the liquid crystal display panel is reduced as much as possible, and the display area is as large as possible within the limited size of the equipment on which the liquid crystal display panel is mounted. There is a request to realize.
一方、液晶表示パネルおよびそれを駆動する回路が占める容積を可能な限り小さくし、液晶表示パネルを用いた機器の薄型化や軽量化を計りたいという要請から、液晶表示パネルを構成する基板を、その縁部に駆動回路等を構成するICチップを搭載したCOG(Chip On Glass)基板とすることが広く行われている。 On the other hand, from the request to reduce the volume occupied by the liquid crystal display panel and the circuit that drives it as much as possible, and to reduce the thickness and weight of equipment using the liquid crystal display panel, the substrate constituting the liquid crystal display panel, A COG (Chip On Glass) substrate on which an IC chip constituting a drive circuit or the like is mounted on the edge is widely used.
そこで、液晶表示パネルを構成する基板を、その縁部に駆動回路等に用いられるICチップを搭載したCOG基板とし、しかも、非表示領域であるICチップが搭載される縁部領域を極力狭くするために、ICチップまわりの配線パターンを最小限の長さとすることが行われている。 Therefore, the substrate constituting the liquid crystal display panel is a COG substrate on which an IC chip used for a drive circuit or the like is mounted on the edge, and the edge region on which the IC chip that is a non-display area is mounted is made as narrow as possible. Therefore, the wiring pattern around the IC chip is made to have a minimum length.
ところが、このような液晶表示パネルは、ICチップ回りの配線パターンがあまりに短いために、ICチップ搭載前の液晶表示パネルの点灯検査に用いる検査装置の接触端を配線パターンに接触させて点灯検査をする際に、十分な電気的接触が得られず、点灯検査に困難をきたすという問題が発生している。 However, since such a liquid crystal display panel has a wiring pattern around the IC chip that is too short, a lighting test is performed by bringing the contact end of the inspection device used for the lighting inspection of the liquid crystal display panel before mounting the IC chip into contact with the wiring pattern. In this case, there is a problem in that sufficient electrical contact cannot be obtained and lighting inspection is difficult.
本発明は、上記のような問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、液晶基板上のICチップ回りの配線パターンが非常に短い場合でも、ICチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検査方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to provide a liquid crystal display panel before mounting an IC chip even when the wiring pattern around the IC chip on the liquid crystal substrate is very short. An object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel capable of performing a lighting test and an inspection method for the liquid crystal display panel.
本発明に係る液晶表示パネルの検査方法は、ICチップが縁部に搭載される第1基板と、前記ICチップが搭載される縁部を除く前記第1基板と対向して配置される第2基板と、前記縁部に配置され且つ該縁部に隣接した前記第2基板の辺と隣接する前記ICチップ用の第1のパッド列と、前記縁部に配置され且つ該縁部に隣接した前記第2基板の辺と交わる方向に配置された前記ICチップ用の第2のパッド列と、前記第1のパッド列の各パッドを通る複数の第1の配線パターンと、前記第2のパッド列の各パッドに接続された複数の第2の配線パターンとを有する液晶表示パネルの検査方法であって、前記液晶表示パネルは、前記第1の配線パターンから延在形成され、前記ICチップの実装領域の内側に形成された配線パターン直線部を有し、検査用接触コネクタを用いた全点灯検査において、前記配線パターン直線部に前記検査用接触コネクタの一部の接触端を接触させると共に、前記第2の配線パターンに前記検査用接触コネクタの他部の接触端を接触させることを特徴とする。 The liquid crystal display panel inspection method according to the present invention includes a first substrate on which an IC chip is mounted on an edge, and a second substrate disposed opposite to the first substrate excluding the edge on which the IC chip is mounted. A substrate, a first pad row for the IC chip adjacent to the edge of the second substrate adjacent to the edge and adjacent to the edge, and adjacent to the edge disposed on the edge A second pad row for the IC chip disposed in a direction intersecting with the side of the second substrate, a plurality of first wiring patterns passing through each pad of the first pad row, and the second pad A method of inspecting a liquid crystal display panel having a plurality of second wiring patterns connected to each pad of the column, wherein the liquid crystal display panel is formed extending from the first wiring pattern, The straight part of the wiring pattern formed inside the mounting area In the all lighting inspection using the inspection contact connector, the contact end part of the inspection contact connector is brought into contact with the wiring pattern straight line portion, and the inspection contact connector is in contact with the second wiring pattern. A contact end of the other part is brought into contact.
本発明によれば、液晶表示パネルの2枚の基板の一方である第1基板は、他方の基板である第2基板と対向しない縁部に、ICチップ用のパッドが形成されており、第2基板の隣接する辺と平行で第2基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通る直線状の配線パターンが、ICチップが実装された際に占める領域の内方の位置まで直線状に延在形成されて、配線パターン直線部となっている。したがって、ICチップが搭載される前に行われる液晶表示パネルの点灯試験においては、この配線パターン直線部に検査用接触コネクタを当接させて十分な電気的接触を得ることが可能となり、その検査用接触コネクタを介して液晶表示パネルの駆動信号を供給することができる。そのため、第2基板に近い方のパッド列への配線パターンで第2基板に覆われない部分の長さが非常に短い場合でも、ICチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる。 According to the present invention, the first substrate that is one of the two substrates of the liquid crystal display panel has the IC chip pad formed on the edge that does not face the second substrate that is the other substrate. The linear wiring pattern that passes through each pad of the pad row that is parallel to the adjacent side of the two substrates and is closer to the second substrate is linear to the inner position of the area occupied when the IC chip is mounted. The wiring pattern linear portion is formed so as to extend. Therefore, in the lighting test of the liquid crystal display panel performed before the IC chip is mounted, it is possible to obtain a sufficient electrical contact by bringing the contact connector for inspection into contact with the straight line portion of the wiring pattern. The driving signal for the liquid crystal display panel can be supplied through the contact connector for use. Therefore, even when the length of the portion not covered by the second substrate in the wiring pattern to the pad row closer to the second substrate is very short, the lighting test of the liquid crystal display panel before mounting the IC chip can be performed. .
本発明に係る液晶表示パネルは、ICチップが縁部に搭載される第1基板と、前記ICチップが搭載される縁部を除く前記第1基板と対向して配置される第2基板とを有する液晶表示パネルであって、前記第1基板は、前記ICチップが搭載される縁部に、該縁部に隣接する前記第2基板の辺とほぼ平行に配置された、前記ICチップ用の2列のパッドを有し、前記隣接辺側列の前記各パッドは、前記隣接辺より遠い側の列の前記各パッドがその一部として含む直線状の配線パターンより長い直線状の配線パターンである配線パターン直線部を含んで形成されることが好ましい。 The liquid crystal display panel according to the present invention includes a first substrate on which an IC chip is mounted on an edge portion, and a second substrate disposed to face the first substrate excluding the edge portion on which the IC chip is mounted. A liquid crystal display panel, wherein the first substrate is disposed at an edge portion on which the IC chip is mounted, and is substantially parallel to a side of the second substrate adjacent to the edge portion. Each of the pads in the adjacent side row has a linear wiring pattern that is longer than the linear wiring pattern included as a part of each pad in the row farther from the adjacent side. Preferably, the wiring pattern is formed so as to include a straight line portion.
この構成によれば、液晶表示パネルの2枚の基板の一方である第1基板は、他方の基板である第2基板と対向しない縁部に、ICチップ用のパッドが形成されており、第2基板の隣接する辺と平行で第2基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通る直線状の配線パターンが、対向するパッド列のそれぞれのパッドを通る直線状の配線パターンより長く延在形成されて、配線パターン直線部となっている。したがって、ICチップが搭載される前に行われる液晶表示パネルの点灯試験においては、この配線パターン直線部に検査用接触コネクタを当接させて十分な電気的接触を得ることが可能となり、その検査用接触コネクタを介して液晶表示パネルの駆動信号を供給することができる。そのため、第2基板に近い方のパッド列への配線パターンで第2基板に覆われない部分の長さが非常に短い場合でも、ICチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる。 According to this configuration, the first substrate, which is one of the two substrates of the liquid crystal display panel, has the IC chip pad formed on the edge that does not face the second substrate, which is the other substrate. The linear wiring pattern passing through each pad of the pad row closer to the second substrate parallel to the adjacent sides of the two substrates extends longer than the linear wiring pattern passing through each pad of the opposing pad row The wiring pattern linear portion is formed. Therefore, in the lighting test of the liquid crystal display panel performed before the IC chip is mounted, it is possible to obtain a sufficient electrical contact by bringing the contact connector for inspection into contact with the straight line portion of the wiring pattern. The driving signal for the liquid crystal display panel can be supplied through the contact connector for use. Therefore, even when the length of the portion not covered by the second substrate in the wiring pattern to the pad row closer to the second substrate is very short, the lighting test of the liquid crystal display panel before mounting the IC chip can be performed. .
本発明に係る液晶表示パネルは、ICチップが縁部に搭載される第1基板と、前記ICチップが搭載される縁部を除く前記第1基板と対向して配置される第2基板とを有し、ICチップが搭載される前に点灯検査が行われる液晶表示パネルであって、前記第1基板は、前記ICチップが搭載される縁部に、該縁部に隣接する前記第2基板の辺とほぼ平行に配置された、前記ICチップ用の2列のパッドを有し、前記隣接辺側列の前記各パッドを通る各配線パターンは、前記ICチップの実装領域の内方まで直線状に延在形成され、検査用接触コネクタの各接触端の長さに対応した長さの配線パターン直線部を有することが好ましい。 The liquid crystal display panel according to the present invention includes a first substrate on which an IC chip is mounted on an edge portion, and a second substrate disposed to face the first substrate excluding the edge portion on which the IC chip is mounted. A liquid crystal display panel in which a lighting test is performed before an IC chip is mounted, wherein the first substrate is adjacent to the edge on which the IC chip is mounted; Each of the wiring patterns passing through each of the pads in the adjacent side row is straight to the inside of the mounting area of the IC chip. It is preferable that the wiring pattern linear portion has a length corresponding to the length of each contact end of the contact connector for inspection.
この構成によれば、液晶表示パネルの2枚の基板の一方である第1基板は、他方の基板である第2基板と対向しない縁部に、ICチップ用のパッドが形成されており、第2基板の隣接する辺と平行で第2基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通る直線状の配線パターンが、ICチップが実装される領域の内方まで延在形成されて、配線パターン直線部となっている。しかも、この配線パターン直線部は、ICチップが搭載される前に行われる液晶表示パネルの点灯試験に用いられる検査用接触コネクタを当接させて十分な電気的接触を得ることができる長さとなっているため、その検査用接触コネクタを介して液晶表示パネルの駆動信号を供給することができる。そのため、第2基板に近い方のパッド列への配線パターンで第2基板に覆われない部分の長さが非常に短い場合でも、ICチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる。 According to this configuration, the first substrate, which is one of the two substrates of the liquid crystal display panel, has the IC chip pad formed on the edge that does not face the second substrate, which is the other substrate. A linear wiring pattern passing through each pad of the pad row closer to the second substrate and parallel to the adjacent sides of the two substrates is formed to extend to the inside of the area where the IC chip is mounted. It is a straight section. In addition, the straight line portion of the wiring pattern has such a length that sufficient electrical contact can be obtained by contacting a test contact connector used in a lighting test of a liquid crystal display panel performed before the IC chip is mounted. Therefore, a driving signal for the liquid crystal display panel can be supplied through the contact connector for inspection. Therefore, even when the length of the portion not covered by the second substrate in the wiring pattern to the pad row closer to the second substrate is very short, the lighting test of the liquid crystal display panel before mounting the IC chip can be performed. .
本発明に係る液晶表示パネルは、前記ICチップの実装領域の前記パッドの領域以外において、前記ICチップと前記第1基板とが絶縁性接着剤で接着されることが好ましい。 In the liquid crystal display panel according to the present invention, it is preferable that the IC chip and the first substrate are bonded with an insulating adhesive in a region other than the pad region of the IC chip mounting region.
この構成によれば、ICチップと第1基板とがパッドの領域以外においては、絶縁性接着剤で接着されている。したがって、ICチップを基板に確実に固定することができるとともに、ICチップの底面に対向する位置まで延在形成された配線パターン直線部と、ICチップの底面との間を確実に絶縁することができる。 According to this configuration, the IC chip and the first substrate are bonded to each other with the insulating adhesive except in the pad area. Therefore, the IC chip can be reliably fixed to the substrate, and the wiring pattern linear portion extending to the position facing the bottom surface of the IC chip and the bottom surface of the IC chip can be reliably insulated. it can.
本発明に係る液晶表示パネルの検査方法は、複数の前記配線パターン直線部に検査用接触コネクタの対応する各接触端を接触させる工程を有する。 The inspection method for a liquid crystal display panel according to the present invention includes a step of bringing each contact end corresponding to the contact connector for inspection into contact with the plurality of wiring pattern straight line portions.
この構成によれば、検査用接触コネクタと十分な電気的接触が可能な長さを有する配線パターン直線部に、検査用接触コネクタを接触させて液晶表示パネルを検査するため、液晶表示パネルの信頼性の高い検査を行うことができる。 According to this configuration, since the liquid crystal display panel is inspected by bringing the inspection contact connector into contact with the linear part of the wiring pattern having a length that allows sufficient electrical contact with the inspection contact connector, the reliability of the liquid crystal display panel can be improved. It is possible to perform a highly accurate inspection.
以下、本発明の好適な実施例について、図面を参照しながら、さらに具体的に説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described more specifically with reference to the drawings.
図1は、ICチップが搭載される前の本実施例の液晶表示パネル20の模式的な平面図である。本実施例の液晶表示パネル20は、ICチップ60が縁部31に搭載される第1基板30と、ICチップ搭載用の縁部31の大きさだけ第1基板30より小さい第2基板50とを含んで構成されるSTN形の単純マトリックス液晶表示パネル20である。第2基板50は、ICチップ60が搭載される第1基板31の縁部を除いて第1基板30と対向する。
FIG. 1 is a schematic plan view of a liquid
また、第1基板30は、第2基板50が対向しない縁部31に、ICチップのバンプ62と接続するためのパッド32と、各パッド32に続く配線パターン36,42が設けられている。これらのパッド32は、ICチップ60の縁部31に沿うように列をなしており、その内の2つの列33,34は、第2基板50の隣接する辺とほぼ平行な列となっている。これら2つの列33,34のうち、隣接する第2基板50に近い方の列33の各パッド32を通る配線パターンは、図1に示すように、ICチップ60が実装された際に基板上に占める領域であるICチップ実装領域40の内方に直線状に延びて、ICチップ実装領域40の中心線を超える位置まで届く配線パターン直線部38となっている。配線パターン直線部38は、ICチップ実装領域40の内方に直線状に延びて、図5に斜視図として示し、図6に底面図として示した、後述する検査用接触コネクタ80の配線パターン直線部38に対応する中央領域85の各接触端84とほぼ等しい長さとなっている。また、配線パターン直線部38は、対向する列34のパッド32を通る直線状の配線パターンより長く形成された直線状の配線パターンとなっている。
In addition, the
これら配線パターン直線部38は十分な長さを有するため、ICチップ60が搭載される前に行われる液晶表示パネル20の点灯試験を行う際には、これら配線パターン直線部38に当接される検査用接触コネクタ80に設けられた中央領域85の接触端84との間で十分な電気的接触を得ることができる。したがって、本実施例のように液晶表示パネル20の表示領域22と第2基板50に近い方のパッド列33との間の配線パターンの第2基板50に覆われない部分の長さが非常に短い場合でも、検査用接触コネクタ80に設けられた中央領域85の接触端84を介して液晶表示パネル20に駆動信号を供給して、ICチップ60の搭載前における液晶表示パネル20の点灯試験を行うことができる。
Since these wiring pattern
本実施例の液晶表示パネル20は、各配線パターン直線部38に当接させて電気的接触を得る検査用接触コネクタ80を用いた点灯検査が行われた後に、図2に模式的な斜視図として示すように、ICチップ60が第1基板30の縁部31のICチップ実装領域40に搭載されて完成する。
The liquid
なお、ICチップ60の搭載に先立って、図3に模式的な断面図として示したように、ICチップ60用のパッド列33,34,35の領域の第1基板30上には異方性導電材層66が設けられ、ICチップ実装領域40のパッド列33,34,35の領域以外の部分には絶縁性接着剤層68が設けられる。したがって、ICチップ60のバンプ62は異方性導電材層66を介して第1基板上30のパッド32に電気的に接続される。なお、図3においては、偏光板、反射板等は省略して描いてある。また、第1基板30の配線パターン直線部38を含むICチップ実装領域40は、パッド列33,34,35の領域を除いて、絶縁性接着剤層68を介してICチップ60の底部と接着される。
Prior to the mounting of the
したがって、ICチップ60を第1基板30に確実に固定することができるとともに、ICチップ30の底面に対向する位置まで延在形成された配線パターン直線部38と、ICチップ60の底面との間を確実に絶縁することができる。
Therefore, the
ここで、ICチップ60搭載前の液晶表示パネル20の点灯検査方法について説明する。
Here, a lighting inspection method for the liquid
まず、図4に斜視図として示すように、検査装置の一部であるアクリル板等からなる液晶パネル保持板94に形成された凹部96に、液晶表示パネル20を嵌合させる。本実施例の点灯検査は、位置決めされた液晶表示パネル20に、図4に示した検査用接触コネクタ80の一端に位置する接触端84が当接されて液晶表示パネル20の配線パターン直線部38と接触し、検査用接触コネクタ80に接続された後述する回路基板86との導通を得て検査が行われる。
First, as shown in FIG. 4 as a perspective view, the liquid
検査用接触コネクタ80は、図5に斜視図として示すように、ゴムやシリコーン等の絶縁性の弾性部材82と胴やアルミニューム等の金属部材81がゼブラ状に交互に配置されて形成されている(点線部の間の配線及び符号は省略してある)。図6は、検査用接触コネクタ80の底面図であり、検査用接触コネクタ80は底部においても金属部材81と弾性部材82の部分が交互に位置する状態となっている(点線部の間の配線及び符号は省略してある)。検査用接触コネクタ80の底部に位置する金属部材81の部分は接触端84として作用し、必要に応じて金メッキ等が施されている。
As shown in a perspective view in FIG. 5, the
図4に示したようにして、液晶パネル保持板94上に位置決めされた液晶表示パネル20は、液晶パネル保持板とともに図9に示す検査装置本体72に固定されて、検査が行われる。すなわち、液晶表示パネル20が凹部96に嵌入された液晶パネル保持板94の4隅に形成された開口部98を、検査装置本体72の4つの凸部74に嵌合させて、液晶パネル保持板94を検査装置本体72上に固定する。
As shown in FIG. 4, the liquid
図9に示した検査装置本体72には、固定された液晶表示パネル20の方向に可動に形成されたアーム76に、前述の検査用接触コネクタ80が取り付けられる検査部78が設けられている。図10は、図9に示したE−E線に沿った検査部78の断面図である。この図に示すように検査部78では、検査用接触コネクタ80の前後に補強部材88と押さえ部材90が位置して検査用接触コネクタ80を挟み込んで固定している。検査用接触コネクタ80の一端は下方に突き出し、図4に示したように液晶表示パネル20の配線パターン直線部38と接触可能となっている。検査用接触コネクタ80の他端は、検査部78の深部に配置されている回路基板86の端子部(図示せず)と接触し、回路基板86の各端子と検査用接触コネクタ80の対応する金属部材81とが電気的に接続されている。
The inspection apparatus
そして、検査装置本体72のアーム76を押し下げて、検査部78の検査用接触コネクタ80を、液晶表示パネル20の第1基板30の縁部31に若干の押圧力をもって当接させて、各配線パターン直線部38と検査用接触コネクタ80の対応する中央領域85の接触端84とを接触させる。これによって、回路基板86と液晶表示パネル20とが検査用接触コネクタ80を介して電気的に接続され、液晶表示パネル20が全点灯するようになっている。点灯検査は、この状態で液晶表示パネル20が全点灯するかどうかを、目視や画像認識等により確認することによって行われる。
Then, the
また、検査装置の検査部78には、図5及び図6に示すように、ICチップ60用の他のパッド列35のパッドと液晶表示パネル20の表示領域22とを結ぶ配線パターン42と接触するための領域86が検査用接触コネクタに設けられ、上記中央領域85と同様に接触端84を有している。これらの検査用接触コネクタ80に設けられた両端の領域86の各接触端84は中央領域85の各接触端84と同時に検査装置本体72のアーム76が降ろされた際に、上記と同様な状態で、液晶表示パネル20の所定の配線パターン42と接触する。これらの配線パターン42は、図1に示したように、配線パターン42の露出部分と検査用接触コネクタ80に設けられた両端の領域86の接触端84との接触に十分な長さの直線部を形成することができるため、配線パターン42をICチップ実装領域の内方まで延長する必要性は特にない。また、ICチップ60のパッド列35に各々接続配線される配線パターン42に同じ信号を供給して点灯検査を行なう場合、配線パターン42の露出部分の接触に対応する検査用接触コネクタ80に設けられた両端の領域86の接触端84は、図7及び図8の斜線部ようにゼブラ状でなく面状に配置されて形成されていてもよい(点線部の間の配線及び符号は省略してある)。また、本実施例の検査装置による点灯検査では、検査用接触コネクタ80に中央領域85の接触端84と両端の領域86の接触端84の両方を設けたが、それぞれ個別の検査用コネクタを設けて、同時又は個別に検査装置本体72のアーム76を降ろして接触してもよい。
Further, as shown in FIGS. 5 and 6, the
上述のようにして、本実施例の液晶表示パネル20のICチップ60搭載前の点灯検査が行われる。
As described above, the lighting inspection is performed before the
本実施例の液晶表示パネル20の検査方法によれば、検査用接触コネクタ80と十分な電気的接触が可能な長さを有する配線パターン直線部38に、検査用接触コネクタ80を接触させてICチップ60搭載前の液晶表示パネル20を検査できるため、液晶表示パネル20の信頼性の高い検査を行うことができる。
According to the inspection method of the liquid
また、液晶パネル20を液晶パネル保持板94の凹部96に嵌合させ、その液晶パネル保持板94を検査装置本体72の所定の位置に係合させた状態で、検査装置本体72のアーム76に取り付けられた検査部78に設けられた検査用接触コネクタ80が液晶表示パネル20に当接される。したがって、検査用接触コネクタ80の中央領域85に位置する各接触端84と液晶表示パネル20の対応する配線パターン直線部38とを、正確な位置関係で、確実かつ容易に接触させることができ、信頼性が高く、効率的なICチップ60搭載前の液晶パネル20の点灯検査を行うことができる。
In addition, the
以上、本発明の実施例を説明したが、本発明は前述した実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内または特許請求の範囲の均等範囲内で各種の変形実施が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention or the equivalent scope of the claims. It is.
例えば、上記実施例においては、第1基板上に搭載されるICチップは、液晶表示パネルの一辺のみに沿って配置される例を示したが、本発明はこれに限らず、第2基板に対向しない縁部を複数の辺に沿って有する第1基板を持つ液晶表示パネルとし、それらの縁部にそれぞれICチップが搭載された場合においても適用できる。なお、この場合には、ICチップの数に対応した数の検査用接触コネクタが必要となり、検査装置の検査部もそれに対応したものとする必要がある。 For example, in the above-described embodiment, the example in which the IC chip mounted on the first substrate is arranged along only one side of the liquid crystal display panel is shown, but the present invention is not limited to this, and the second substrate is not limited thereto. The present invention can also be applied to a case where a liquid crystal display panel having a first substrate having non-opposing edges along a plurality of sides and an IC chip mounted on each of the edges. In this case, the number of contact connectors for inspection corresponding to the number of IC chips is required, and the inspection unit of the inspection apparatus needs to correspond to it.
また、上記実施例では第2基板50に近い方の列33の各パッド32を通る配線パターンをICチップ実装領域40の内方まで直線状に配線パターン直線部として形成したが、これに限られるものでなく、第2基板50に近い方の列33が千鳥配列で形成されていてもよく、この場合、千鳥配列された各パッド32の列の少なくとも一方の列のパッドを通る配線パターンがICチップ実装領域40の内方まで直線状に配線パターン直線部として形成されていればよい。
Further, in the above embodiment, the wiring pattern passing through each
さらに、上記実施例では、液晶表示パネルとして、STN形の単純マトリックス駆動液晶表示パネルの例を示したが、TFTで代表される三端子スイッチング素子あるいはMIMで代表される二端子スイッチング素子を用いたアクティブマトリックス液晶表示パネルであってもよい。さらに、電気光学特性で言えば、STN形だけでなく、TN形、ゲストホスト形、高分子分散形、相転移形、強誘電形など、種々のタイプの液晶表示パネルであってもよい。 Furthermore, in the above embodiment, an example of a STN type simple matrix drive liquid crystal display panel was shown as the liquid crystal display panel, but a three-terminal switching element represented by TFT or a two-terminal switching element represented by MIM was used. An active matrix liquid crystal display panel may be used. Furthermore, in terms of electro-optical characteristics, not only the STN type but also various types of liquid crystal display panels such as a TN type, a guest host type, a polymer dispersion type, a phase transition type, and a ferroelectric type may be used.
20 液晶表示パネル
30 第1基板
31 縁部
32 パッド
33,34,35 パッド列
36,42 配線パターン
38 配線パターン直線部
40 ICチップ実装領域
50 第2基板
60 ICチップ
68 絶縁性接着剤層
80 検査用接触コネクタ
84 接触端
85 中央領域
86 両端の領域
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記液晶表示パネルは、前記第1の配線パターンから延在形成され、前記ICチップの実装領域の内側に形成された配線パターン直線部を有し、
検査用接触コネクタを用いた全点灯検査において、前記配線パターン直線部に前記検査用接触コネクタの一部の接触端を接触させると共に、前記第2の配線パターンに前記検査用接触コネクタの他部の接触端を接触させることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。 A first substrate on which an IC chip is mounted on an edge; a second substrate disposed opposite to the first substrate excluding the edge on which the IC chip is mounted; and an edge disposed on the edge A first pad row for the IC chip adjacent to the side of the second substrate adjacent to the part and a direction intersecting with the side of the second substrate adjacent to the edge and adjacent to the edge. In addition, a second pad row for the IC chip, a plurality of first wiring patterns passing through the pads of the first pad row, and a plurality of second pads connected to the pads of the second pad row. An inspection method of a liquid crystal display panel having a wiring pattern of
The liquid crystal display panel is formed to extend from the first wiring pattern, and has a wiring pattern linear portion formed inside a mounting area of the IC chip,
In the full lighting inspection using the contact connector for inspection, a contact end of a part of the contact connector for inspection is brought into contact with the linear part of the wiring pattern, and the other part of the contact connector for inspection is contacted with the second wiring pattern. A method for inspecting a liquid crystal display panel, wherein the contact ends are brought into contact with each other.
前記配線パターン直線部に接触する前記検査用接触コネクタの接触端は、絶縁性の弾性部材と金属部材とが交互に配置されて形成されていることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。 In claim 1,
An inspection method for a liquid crystal display panel, wherein the contact end of the contact connector for inspection that contacts the linear part of the wiring pattern is formed by alternately arranging insulating elastic members and metal members.
前記第2の配線パターンに接触する前記検査用接触コネクタの接触端は、金属部材が面状に配置されて形成されていることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
In claim 2,
An inspection method for a liquid crystal display panel, wherein a contact end of the contact connector for inspection that contacts the second wiring pattern is formed by arranging a metal member in a planar shape.
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