JP4104446B2 - タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 - Google Patents
タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4104446B2 JP4104446B2 JP2002361818A JP2002361818A JP4104446B2 JP 4104446 B2 JP4104446 B2 JP 4104446B2 JP 2002361818 A JP2002361818 A JP 2002361818A JP 2002361818 A JP2002361818 A JP 2002361818A JP 4104446 B2 JP4104446 B2 JP 4104446B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tire
- test
- rotating drum
- rolling
- natural number
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Tires In General (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、タイヤを回転ドラム上で転動させてタイヤの試験を行うタイヤ試験装置あるいはタイヤ試験方法に関し、特に、タイヤ軸力や回転ドラムの軸力を計測することによってタイヤの振動特性を評価するタイヤ振動試験装置およびタイヤ振動試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
タイヤの振動乗り心地性能を試験装置にて評価する方法として、従来より、図7に示すようなタイヤ振動試験装置100を用いて行うタイヤ振動試験が知られている。
タイヤ振動試験装置100は、試験タイヤTを転動、すなわち、所定の荷重を掛けて回転ドラム102に接地させて回転させる(転動させる)装置である。
【0003】
タイヤ振動試験装置100には、回転ドラム102の表面に、回転ドラムの幅方向に延在する突起104が設けられ、この突起104を試験タイヤTが乗り越す度に振動を励起させ、この振動をタイヤ回転軸に設けられたロードセル106で計測する。ロードセル106で得られた計測信号はデータ処理部108で信号処理されて、例えば、計測信号をサンプリングして図8に示すような振動データを得、この振動データを用いて励起したタイヤ軸力の振動の最大ピーク値と最小ピーク値の差(P−P値)を求める。このP−P値の大小によって、試験タイヤの振動特性の良し悪しを評価する。P−P値が小さい方が振動特性はよいと評価される。
データ処理部108では、ロードセル104で得られる計測信号に対して施す信号処理として、計測信号を回転ドラム102の回転に同期してサンプリングして一定の平均回数で平均化処理を行うが、精度の高い安定したタイヤ振動特性の評価結果を得るには、平均化処理における平均回数を多くしなければならない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、精度の高い安定した評価結果を得るために上記平均回数を多くしても評価結果が安定せず、必ずしも評価結果が車両に装着してドライバが官能評価した評価結果と必ずしも対応しない場合があった。
例えば、官能評価結果において、略同等の振動乗り心地性能を有するにもかかわらず、タイヤ振動試験装置100による評価結果では有意差のある評価結果を得る場合があった。また、タイヤ振動試験装置100によるタイヤの振動特性の評価結果と振動乗り心地性能の官能評価結果が異なる場合もあった。このような評価結果の違いは、例えば、タイヤそれぞれが有する製造時の固有の不均一性を原因とし、接地面と接するタイヤの周方向の各部位に依存した振動成分(ユニフォミティ振動成分)が発生し、この振動成分がタイヤ振動試験装置100の突起104で励起される振動成分と重なって評価結果が変動することが要因として挙げられる。すなわち、データ処理部108では、突起104で励起される振動成分にタイヤの不均一性によるタイヤの周方向の各部位に依存した振動成分が重畳されてサンプリングされるため、平均回数を重ねても上記P−P値が安定しない。図9は、データ処理部108で得られたP−P値がサンプリングの平均回数に伴って変動する2種類の試験タイヤA,Bの例を示している(試験タイヤ205/65R15)。このようにサンプリング回数に伴ってP−P値が変動するため平均化処理しても平均回数の設定によって平均化したP−P値が変化し試験タイヤの振動特性の評価を安定して正確に行うことはできない。
【0005】
変動するP−P値の平均値を求めようとしても、データ処理部108においてサンプリングするたびにP−P値を求める必要がある他、試験タイヤによってP−P値の変動周期も変わることから、平均回数を予め設定して信号処理を行うことはできず、サンプリング毎に得られるP−P値の変動周期を確かめながらP−P値を求めなければならない。このため、タイヤ振動試験の評価結果を求めるための処理が煩雑化し、タイヤ振動試験装置100としての試験処理速度も著しく低下するといった問題があった。
【0006】
そこで、本発明は、上記問題を解決するために、タイヤ振動試験等のタイヤ試験をタイヤを回転ドラム上で転動させて行う際に、煩雑な処理を行うことなく効率よく安定した精度の高い結果を得ることができるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、タイヤを回転ドラム上で転動させてタイヤの試験を行うタイヤ試験装置であって、タイヤを転動させる回転ドラムと、転動中のタイヤの特性を計測する計測部と、この計測部から出力される計測信号を前記回転ドラムの回転に同期してサンプリングして得られるデータに平均化処理を施すデータ処理部と、を有し、前記データ処理部は、前記平均化処理の際の平均回数を、試験するタイヤの転がり半径を用いて設定して前記平均化処理を行うことを特徴とするタイヤ試験装置を提供する。
【0008】
ここで、前記計測部は、例えば、前記回転ドラムがタイヤの回転軸に作用するタイヤ軸力あるいはタイヤが前記回転ドラムの回転軸に作用するドラム軸力を計測する力検出センサである。
また、前記データ処理部は、タイヤ負荷荷重、タイヤ内圧およびタイヤ転動速度のいずれか1つを変える度に前記平均回数を設定するのが好ましい。
また、前記データ処理部は、前記回転ドラムが1回転する度に定められた基準位置に来るタイヤの周上の対応部位が、前記回転ドラムが1回転する度にタイヤの周上で一方向に移動して変わるときの移動量をタイヤの前記転がり半径と前記回転ドラムの回転半径とを用いて求め、この求められた移動量を用いて前記平均回数を設定するのが好ましい。その際、前記データ処理部は、前記転がり半径を半径とする円周の周長を求め、前記移動量に自然数を乗算した第1の積が前記円周の周長に自然数を乗算した第2の積以上であり、かつ、前記第1の積と前記第2の積との差が所定値以下となるような前記移動量に乗算する自然数を求め、この自然数から1差しい引いた自然数を前記平均回数として設定するのが好ましい。
あるいは、前記データ処理部は、試験タイヤの転がり半径をRt 、前記回転ドラムの回転半径をRd としたとき、下記式(1)で値Dp を求め、この求められた値Dp から下記式(2)または(3)で表される基本周期Nb を定め、この定められた基本周期Nb から下記式(4)を満たす最小の自然数nを求め、この自然数nと前記基本周期Nb との積を超えない最大の自然数を前記平均回数として設定するのも、同様に好ましい。
Dp = (Rd /Rt )− Int[Rd /Rt ] (1)
Nb = 1/Dp (Dp <0.5の場合) (2)
Nb = 1/(1−Dp ) (Dp ≧0.5の場合) (3)
(n・Nb )− Int[n・Nb ] <0.5 (4)
(nは自然数)
ここで、Int[n・Nb ]は、n・Nb を越えない最大の自然数をいう。
【0009】
さらに、本発明は、タイヤを回転ドラム上で転動させ、転動中のタイヤの特性を計測して得られる計測信号を前記回転ドラムに同期してサンプリングし、サンプリングして得られるデータに平均化処理を施してタイヤの試験を行う際、タイヤの転がり半径を求め、求められたタイヤの転がり半径を用いて前記平均化処理を行う際の平均回数を設定して前記平均化処理を行うことを特徴とするタイヤ試験方法を提供する。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法について、添付の図面に示される好適実施例を基に詳細に説明する。
【0011】
図1は、本発明のタイヤ試験装置の一例であるタイヤ振動試験装置10の概略の構成を示す概略構成図である。
タイヤ振動試験装置10は、ドラム面の幅方向に延材した突起11を備え、このドラム面の上で試験タイヤTを転動させる回転ドラム12と、試験タイヤTを回転可能に軸支するとともに、回転ドラム12のドラム面に接地させて所定のタイヤ負荷荷重を与えるために、回転ドラム12に対する遠近方向に自在に移動するタイヤ移動スタンド13と、転動中の試験タイヤTのタイヤ回転軸に作用するタイヤ軸力を計測するとともに、試験タイヤTに負荷されるタイヤ負荷荷重を計測する、タイヤ移動スタンド13に設けられたロードセル16と、このロードセル16からの計測信号を回転ドラム12の回転に同期してサンプリングし、得られたデータを平均化処理するデータ処理部18と、回転ドラム12の回転速度を制御し、さらにタイヤ移動スタンド13の移動を制御して試験タイヤTに与えるタイヤ負荷荷重を制御する制御ユニット20と、回転ドラム12の回転軸と接続した駆動モータ22と、を有して構成される。
【0012】
回転ドラム12には、突起11がドラム面に1つ設けられている。突起11の形状は、例えば、直径が10mmの円形状を断面形状とする円柱の半分である半円柱である。したがって、回転ドラム12のドラム面上を転動する試験タイヤTが突起11を通過する場合、試験タイヤTに振動が励起される。
ロードセル16は、タイヤ移動スタンド13の試験タイヤTを取り付ける取り付けハブ近傍に設けられた、振動特性を計測する力検出センサであって、タイヤ負荷荷重とともに試験タイヤTの回転軸にタイヤ軸力として作用する励起された振動成分をタイヤ振動特性として計測し、計測信号として出力する。
なお、回転ドラム12の周上の1箇所には、後述するようにデータ処理部18において試験タイヤTが突起11を通過するタイミングに合わせて同期して計測信号をサンプリングできるように、サンプリングの開始を制御するトリガー信号をデータ処理部18に送る位置検出センサ32が設けられている。
【0013】
データ処理部18は、信号処理ユニット24と、試験条件参照部26と、タイヤ転がり半径設定部28と、平均回数算出部30と、を有し、例えば、コンピュータ等によるプログラム処理によって機能するものである。あるいは、データ処理装置等の専用装置によって構成されてもよい。
信号処理ユニット24は、ロードセル16から供給される計測信号を、位置検出センサ32から送られてくるトリガー信号に従ってサンプリングし、さらに、サンプリングして得られた振動データを後述する方法で設定された平均回数分、振動データの平均化処理を行い、平均化処理された振動データからP−P値を求めて試験タイヤTの評価を行う部分である。
【0014】
試験条件参照部26は、現在設定されている試験条件、すなわち、タイヤ負荷荷重およびタイヤ転動速度のほか試験タイヤTのタイヤ内圧の情報を得る部分であり、制御ユニット20からタイヤ転動速度の情報とロードセル16からタイヤ負荷荷重の情報を得る。あるいは、ロードセル16からタイヤ負荷荷重の情報を得る替わりに制御ユニット20から目標とするタイヤ負荷荷重の情報を得てもよい。タイヤ内圧は、試験条件として制御ユニット20で予め設定されたものが制御ユニット20から供給されてもよいし、本試験装置がタイヤ内圧を常時モニタして制御しながら試験を行うものであれば、モニタしたタイヤ内圧の情報が制御ユニット20から供給されてもよい。
このように試験条件を参照するのは、試験タイヤTの正確な転がり半径を求め設定するためである。
【0015】
タイヤ転がり半径設定部28は、タイヤサイズおよびタイヤ仕様毎に試験条件(タイヤ負荷荷重、タイヤ転動速度およびタイヤ内圧)とタイヤの転がり半径との関係を表す参照テーブルを記録保持しており、試験条件参照部26で得られたタイヤ負荷荷重、タイヤ転動速度およびタイヤ内圧の試験条件の情報から、記録保持されている参照テーブルを用いて試験タイヤTの転がり半径を算出し設定する部分である。
この転がり半径の設定は、試験条件が変わる度に、すなわち、タイヤ負荷荷重、タイヤ内圧およびタイヤ転動速度のいずれか1つが変わる度に行われる。
【0016】
平均回数算出部30は、タイヤ転がり半径設定部28で設定された試験タイヤTの転がり半径と回転ドラム12の既知の回転半径とを用いて、信号処理ユニット24で行う平均化処理の際の平均回数を算出し設定する部分である。
具体的には、回転ドラム12が1回転する度に、試験タイヤTの接地中心位置にくる試験タイヤTの対応部位が逐次試験タイヤTの周上で一定の間隔で移動するが、このときの回転ドラム12の1回転毎の移動量を、試験タイヤTの転がり半径と回転ドラム12の回転半径とを用いて求め、この求められた移動量を用いて上記平均回数を設定する。この平均回数の設定方法については後述する。
【0017】
こうして設定された平均回数を用いて、ロードセル16から供給される計測信号を信号処理ユニット24でサンプリングして平均化処理が行われ、タイヤ振動特性の評価としてP−P値が求められる。
タイヤ振動試験装置10は以上のように構成される。
なお、タイヤ振動試験装置10では、タイヤ移動スタンド13に設けられたロードセル16で試験タイヤTの軸力として作用する振動成分を計測するが、回転ドラム12の回転軸に設けられ、試験タイヤTが回転ドラム12に対して作用するドラム軸力の振動成分をタイヤの振動特性として計測するロードセルを用いてもよい。さらに、本発明は、タイヤ回転軸に作用するタイヤ軸力や回転ドラムに作用するドラム軸力の振動成分を計測する力検出センサの他、試験タイヤから発生する騒音を騒音特性として計測する騒音計や、タイヤ回転軸が軸可動状態に懸下装置に軸支された試験タイヤの軸加速度を計測する加速度センサ等であってもよい。
【0018】
次に、タイヤ振動試験装置10で行われるタイヤ振動試験方法について説明する。
まず、試験条件参照部26において試験条件が参照されて、この試験条件からタイヤ転がり半径設定部28において試験タイヤTの転がり半径が求められて設定され、平均回数算出部30において求められた試験タイヤTの転がり半径Rt と回転ドラム12の回転半径Rd とを用いて、平均化処理を行う際の平均回数が算出されて設定され、この設定された平均回数を用いてロードセル16から供給される計測信号を突起11の通過のタイミングに合わせてサンプリングして平均化処理を行う。
ここで、平均化処理を行う際の平均回数の設定方法について図2(a)を用いてわかり易く説明する。
【0019】
図2(a)は、回転ドラム12のドラム面を水平に延びる接地面で表し、回転ドラム12が1回転する間に試験タイヤTが概略2回転する場合を示している。
試験タイヤTの周上の特定の基準対応部位Q0 が接地面と接する接地中心位置を相対基準位置とする。このとき、接地中心位置にある時点から転動して回転ドラム12の周長分転がった時の基準対応部位Q0 の位置は、上記接地中心位置からずれている。このずれ量は、タイヤ転がり半径設定部28で求められた試験タイヤTの転がり半径と回転ドラム12の回転半径とによって求めることができる。
【0020】
このずれ量を移動量Xとすると、回転ドラム12が1回転する度に接地中心位置に来る試験タイヤTの対応部位は回転ドラム12が1回転する前に接地中心位置にあった対応部位から一方向に移動量X分ずれた位置にある。図2(a)では、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から回転ドラム12が1回転して次に接地中心位置に来る対応部位を対応部位Q1 としている。対応部位Q1 が接地中心位置にある時点からさらに回転ドラム12が1回転して接地中心位置に来る対応部位は、対応部位Q1 から移動量Xずれた位置にある。
このようにして、回転ドラム12が1回転する度に試験タイヤTの周上で移動量X分一方向にずれた対応部位が接地中心位置となる。
【0021】
図2(b)には、接地中心位置に基準対応部位Q0 がある場合接地中心位置にくる対応部位を対応部位Q1 ,Q2 ,・・・, Qi-1 ,Qi , ・・・・として、対応部位Q1 ,Q2 ,・・・, Qi-1 ,Qi , ・・・・の試験タイヤTの周上の位置を示している。図2(b)に示すように、接地中心位置となる対応部位は、回転ドラム12の1回転の度に移動量X分一方向に移動する。
【0022】
このとき、基準対応部位Q0 が試験タイヤTが突起11を通過するときの中心対応部位となる場合、対応部位Q1 ,Q2 ,・・・, Qi-1 ,Qi ,・・・・も突起11を通過するときの中心対応部位となる。したがって、基準対応部位Q0 が接地中心位置に位置する時点から、接地中心位置に来る対応部位が対応部位Qi-1 から対応部位Qi に移動して基準対応部位Q0 を横切る時点までの間、通過する突起11のタイミングに同期してロードセル16から出力される計測信号をサンプリングして平均化処理すると、計測信号をサンプリングし平均化処理する時の試験タイヤTの接地中心位置に来る対応部位が試験タイヤTの周上で分散されるので、試験タイヤTの振動成分とともに重畳されるタイヤの不均一性による振動成分を取り除くことができる。すなわち、基準対応部位Q0 が接地中心位置に位置する時点から、接地中心位置に来る対応部位が対応部位Qi-1 から対応部位Qi に移動して基準対応部位Q0 を横切る時点までの回転ドラム12の周回数から1差し引いた自然数を平均化処理における平均回数とすることで、基準対応部位Q0 ,対応部位Q1 〜対応部位Qi-1 が接地中心位置に来た時に励起される各対応部位に依存した振動成分を平均化することができる。したがって、図9に示したようなP−P値が変動する時の略1周期のP−P値の変動を平均化することができる。
【0023】
しかし、対応部位Qi が基準対応部位Q0 の近傍にない場合、すなわち、P−P値の変動を1周期を越えて無視できない程度のP−P値の変動が平均化処理に含まれる場合、基準対応部位Q0 を横切った対応部位が基準対応部位Q0 の近傍に来るまで、接地中心位置に来る対応部位が試験タイヤTの周上をさらに少なくとも1周以上移動するようにして、平均化処理を続けるのが好ましい。
なお、対応部位Qi が基準対応部位Q0 の近傍に来るとは、図2(c)に示すように、例えば、基準対応部位Q0 の位置を中心としてα・X(αは定数)の範囲内に対応部位Qi が入ることを意味する。ここで、定数αを小さくするほど基準対応部位Q0 の近傍の範囲が狭くなり平均回数は増えるが、この場合、平均回数が増えた割りに平均化処理されたP−P値の精度は上がらないため、振動試験の処理効率は低下する。好ましくは、定数αは0.5〜2の範囲内の値に設定するとよい。
【0024】
また、図2(a)に示す例は、回転ドラム12が1周した時の基準対応部位Q0 の位置が移動量Xだけ接地中心位置から通りすぎた位置にある例であるが、図3(a)に示すように、回転ドラム12が1周した時の基準対応部位Q0 が所定の移動量分だけ接地中心位置の直前の位置にある場合もある。この場合、接地中心位置にくる対応部位(対応部位Q1 ,Q2 ,・・・)は、図3(b)に示すように、図2(b)に示す接地中心位置に来る対応部位(対応部位Q1 ,Q2 ,・・・の)の移動方向と異なる方向に移動するが、一定の移動量(この移動量を、移動量Yとする)で移動する。したがって、この場合においても、基準対応部位Q0 が接地中心位置に位置する時点から、接地中心位置に来る対応部位が対応部位Qj-1 から基準対応部位Q0 を横切って対応部位Qj に移動する時点までに通過する突起11のタイミングに合わせてロードセル16から出力される計測信号をサンプリングして平均化処理することで、試験タイヤTの振動成分とともに重畳されるタイヤの不均一性による振動成分を取り除くことができる。すなわち、基準対応部位Q0 が接地中心位置に位置する時点から、接地中心位置に来る対応部位が対応部位Qj-1 から対応部位Qj に移動して基準対応部位Q0 を横切る時点までの回転ドラム12の周回数から1差し引いた自然数を平均化処理における平均回数として平均化処理をすることで、突起11で励起された試験タイヤTの振動成分のみを平均化することができる。したがって、図9に示したようなP−P値が変動する時の略1周期のP−P値の変動を平均化することができる。
【0025】
また、図3(c)に示すように、対応部位Qj が基準対応部位Q0 の近傍に来るまで、例えば、基準対応部位Q0 の位置を中心としてα・Y(αは定数)の範囲内に対応部位Qj が入るまで、平均回数を増やしてもよい。この場合においても、定数αを小さくするほど平均回数は増えるが、平均回数が増えた割りには平均化処理されたP−P値の精度は上がらないため、振動試験の処理効率は低下する。好ましくは、定数αは0.5〜2の範囲内の値に設定するとよい。
【0026】
このような平均回数の設定は、例えば、試験タイヤTの転がり半径を半径とする円周の周長(周長L1 とする)を求め、この周長L1 と回転ドラム12の1周分の周長とを用いて求められた移動量X(あるいはY)に自然数を乗算して得られた積(積V1 とする)が周長L1 に自然数を乗算して得られた積(積V2 とする)以上となり、かつ、積V1 と積V2 との差が所定値以下となるような移動量X(あるいはY)に乗算する自然数を求め、この自然数から1差し引いた自然数を平均回数として設定するとよい。
【0027】
あるいは、試験タイヤTの転がり半径をRt 、回転ドラム12の回転半径をRd としたとき、上記式(1)で移動量X(あるいはY)を2πRt で除した移動成分の値として値Dp (移動成分値)を求め、この求められた移動成分の値Dp から上記式(2)または(3)で表される基本周期Nb を定め、この定められた基本周期Nb から上記式(4)を満たす最小の自然数nを求め、この自然数nと基本周期Nb との積を超えない最大の自然数を平均回数として設定してもよい。
【0028】
ここで、式(1)を用いて移動成分の値Dp を算出する処理は、図2(a)あるいは図3(a)に示す例における移動量X(あるいはY)を求める部分に対応する。式(2)を用いた基本周期Nb の設定は、図2(b)に示すように接地中心位置にくる対応部位が回転ドラム12の回転に伴って左周りに移動する場合に、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から対応部位Qi が接地中心位置となる時点までの回転ドラム12の周回数を求める部分に対応し、式(3)を用いた基本周期Nb の設定は、図3(b)に示すように接地中心位置にくる対応部位が回転ドラム12の回転に伴って右周りに移動する場合に、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から対応部位Qj が接地中心位置となる時点までの回転ドラム12の周回数を求める部分に対応する。
一方、基本周期Nb から式(4)を満たす最小の自然数nを求め、この自然数nと基本周期Nb との積を超えない最大の自然数を求める処理は、図2(b)または図3(b)に示す例では、基準対応部位Q0 が接地中心位置に位置する時点から、接地中心位置に来る対応部位が対応部位Qi-1 (あるいはQj-1 )から対応部位Qi (あるいはQj )に移動して基準対応部位Q0 を横切る時点までの回転ドラム12の周回数から1差し引いた自然数を求める部分に対応する。ここで、式(4)では対応部位Qj が基準対応部位Q0 の近傍に来るか否かの判定に用いられる定数αは1としている。
【0029】
図5は、上記式(1)〜(4)を用いて平均回数を設定する設定方法の一例の流れを示すフローチャートである。このような平均回数の設定は、データ処理部18等を構成するコンピュータや専用装置に内蔵されているCPU等によって行われる。
【0030】
まず、試験タイヤTの転がり半径Rt が算出される(ステップS10)。
転がり半径Rt は、上述したように、予め試験条件と転がり半径との関係が記録保持されている参照テーブルを用いて試験タイヤTの試験条件から求められる。また、突起のない回転ドラム上で同一の試験条件で試験タイヤを別途測定して求めてもよい。
次に、求められた転がり半径Rt と既知の回転ドラムの回転半径Rd とを用いて、移動成分の値Dp が上記式(1)に従って算出される(ステップS20)。
次に、値Dp が0.5以下であるかが判定され(ステップS14)、肯定された場合、上記式(2)に従って基本周期Nb が設定される(ステップS16)。ステップS14で否定される場合、上記式(3)に従って基本周期Nb が設定される(ステップS18)。
この後、自然数nを1として、値n・Nb (=Nr )を算出し(ステップS20)、この値n・Nb が上記式(4)を満たすか否かが判定される(ステップS22)。肯定された場合、値n・Nb を越えない範囲の中で最大の自然数Int[n・Nb ]を求め、この自然数を平均回数として設定する(ステップS24)。一方、ステップS22で否定された場合、自然数nを1増加して、ステップS20〜S22をステップS20で肯定されるまで繰り返す。
このようにして平均回数は設定される。
【0031】
より具体的に、図5に示されるP−P値がサンプリングの度に変動する試験タイヤAおよび試験タイヤB(図9に示す試験タイヤと同様)を例として説明する。
試験タイヤAおよび試験タイヤBは、いずれもタイヤサイズ205/65R15の乗用車用タイヤであり、所定の試験条件における転がり半径Rt が試験タイヤAは320mm(=Rta)、試験タイヤBは323mm(=Rtb)である。回転ドラム12の回転半径Rd は1250mmである。
例えば、図2(a)〜(c)あるいは図3(a)〜(c)に示す処理方法では、試験タイヤAの接地中心位置にくる対応部位は回転ドラム12が1回転する度に図3(b)に示すように移動し、このときの移動量をYa とするとYa =188.4mm(4×2πRta−2πRd )となる。試験タイヤBも接地中心位置にくる対応部位は回転ドラム12が1回転する度に図3(b)に示すように移動し、このときの移動量をYb とするとYb =263.76mm(4×2πRtb−2πRd )となる。
【0032】
ここで、試験タイヤAの場合、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から接地中心位置にくる対応部位が1周移動して基準対応部位Q0 を横切る時点までの試験ドラム12の周回数は、11回(Int[2πRta/Ya ]+1)である。しかし、2πRta/Ya が10.667であるため、基準対応部位Q0 を横切る対応部位Qj の位置は、基準対応部位Q0 から0.667・Ya 離れている。したがって、図3(c)に示す定数αを1とすると対応部位Qj は基準対応部位Q0 の近傍に位置しないと判定される。このため、さらに接地中心位置に来る対応部位が試験タイヤAの周上を周回するようにする。この場合、2周目における基準対応部位Q0 を横切るときの回転ドラム12の周回数は、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から数えて、22回(Int[2・2πRta/Ya ]+1)である。この時の2・2πRta/Ya は21.333であるため、基準対応部位Q0 を横切る対応部位Qj の位置は、基準対応部位Q0 から0.333・Ya 離れている。したがって、図3(c)に示す定数αを1とすると対応部位Q1 は基準対応部位Q0 近傍に位置すると判定される。
こうして平均化処理における平均回数は21回(=22−1)と設定される。
【0033】
同様に、試験タイヤBの場合、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から接地中心位置にくる対応部位が1周移動して基準対応部位Q0 を横切る時点の試験ドラム12の周回数は、8回(Int[2πRtb/Yb ]+1)である。しかし、2πRtb/Yb が7.69であるため、基準対応部位Q0 を横切る対応部位Qj の位置は、基準対応部位Q0 から0.69・Yb 離れている。したがって、図3(c)に示す定数αを1とすると対応部位Qj は基準対応部位Q0 近傍に位置しないと判定される。このため、さらに接地中心位置に来る対応部位が試験タイヤBの周上を周回するようにする。この場合、2周目における基準対応部位Q0 を横切る回転ドラム12の周回数は、接地中心位置に基準対応部位Q0 が位置する時点から数えて、16回(Int[2・2πRb /Yb ]+1)である。この時の2・2πRtb/Yb は15.381であるため、基準対応部位Q0 を横切る対応部位Qj の位置は、基準対応部位Q0 から0.381・Yb 離れている。したがって、図3(c)に示す定数αを1とすると対応部位Qj は基準対応部位Q0 近傍に位置すると判定される。
こうして平均化処理における平均回数は15回(=16−1)と設定される。
【0034】
以上、試験タイヤAは平均回数を21回、試験タイヤBは平均回数を15回に設定して平均化処理を行うことで,それぞれP−P値の変動周期を均した安定したP−P値を求めることができる。
【0035】
さらに、上述した式(1)〜(4)を用いた場合の例を、試験タイヤAおよび試験タイヤBを用いて説明すると、下記表1のようにまとめることができる。
表1から、上述した方法と同様の結果を得ることができる。
【0036】
【表1】
【0037】
したがって、従来タイヤの種類や試験条件に係わらず一律に平均回数を固定して振動試験を行った場合、図6(a)や(b)に示すように、試験タイヤAのP−P値が試験タイヤBのP−P値に比べて大きいといった評価結果が得られる場合があるが、上述の平均回数の設定により、図6(c)に示すように、試験タイヤAのP−P値が試験タイヤBのP−P値に比べて小さくなるといった従来の結果と異なる評価結果が得られる。この結果は、車両に装着してドライバが官能評価した評価結果と対応するものである。
【0038】
このような平均回数の設定は、試験タイヤTが変わる度にさらには試験条件が変わる度に行うのが好ましい。試験条件が変わることで試験タイヤTの転がり半径も変化するからである。
このように、予め計測信号を回転ドラムの周期に合わせてサンプリングし上述の方法で設定された平均回数で平均化処理を行うので、従来のように、P−P値の変動によって結果が変動することがなく、また、P−P値の変動周期を調べて平均回数を設定する必要がなく、したがって、煩雑な処理を行うことなく効率よく安定した精度の高い振動特性の評価結果を得ることができる。
なお、本発明のタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法は、突起を用いた振動試験に用いられるばかりでなく、回転ドラムの回転に同期させて計測信号をサンプリングするタイヤの試験であればいずれであってもよい。
【0039】
以上、本発明のタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良および変更を行ってもよいのはもちろんである。
【0040】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明は、タイヤの転がり半径を求め、このタイヤの転がり半径を用いて平均化処理を行う際の平均回数を算出して設定して平均化処理を行うので、従来のようにP−P値のような評価結果が変動することがなく、また、P−P値のような評価結果の変動周期を調べて平均回数を設定する必要もなく、したがって、煩雑な処理を行うことなく効率よく安定した精度の高い評価結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のタイヤ試験装置の一例であるタイヤ振動試験装置の概略の構成を示す概略構成図である。
【図2】 (a)〜(c)は、回転ドラムが1回転する度に転動する試験タイヤの接地中心位置にくる対応部位が移動する一例を説明する図である。
【図3】 (a)〜(c)は、回転ドラムが1回転する度に転動する試験タイヤの接地中心位置にくる対応部位が移動する他の例を説明する図である。
【図4】 本発明のタイヤ試験方法に用いる平均回数の設定の一例の流れを示すフローチャートである。
【図5】 タイヤ振動試験装置で得られるP−P値の変動の一例を示す図である。
【図6】 (a)および(b)は、従来のタイヤ振動試験装置で得られる結果の一例を示す図であり、(c)は、図1に示すタイヤ振動試験装置で得られる結果の一例を示す図である。
【図7】 従来のタイヤ振動試験装置の概略の構成を示す概略構成図である。
【図8】 タイヤ振動試験装置で得られる振動波形の一例を示す図である。
【図9】 タイヤ振動試験装置で得られるP−P値の変動の他の例を示す図である。
【符号の説明】
10,100 タイヤ振動試験装置
11,104 突起
12,102 回転ドラム
13 タイヤ移動スタンド
16,106 ロードセル
18,108 データ処理部
20 制御ユニット
22 駆動モータ
24 信号処理ユニット
26 試験条件参照部
28 タイヤ転がり半径設定部
30 平均回数算出部
32 位置検出センサ
Claims (7)
- タイヤを回転ドラム上で転動させてタイヤの試験を行うタイヤ試験装置であって、
タイヤを転動させる回転ドラムと、転動中のタイヤの特性を計測する計測部と、この計測部から出力される計測信号を前記回転ドラムの回転に同期してサンプリングして得られるデータに平均化処理を施すデータ処理部と、を有し、
前記データ処理部は、前記平均化処理の際の平均回数を、試験するタイヤの転がり半径を用いて設定して前記平均化処理を行うことを特徴とするタイヤ試験装置。 - 前記計測部は、前記回転ドラムがタイヤの回転軸に作用するタイヤ軸力あるいはタイヤが前記回転ドラムの回転軸に作用するドラム軸力を計測する力検出センサである請求項1に記載のタイヤ試験装置。
- 前記データ処理部は、タイヤ負荷荷重、タイヤ内圧およびタイヤ転動速度のいずれか1つを変える度に前記平均回数を設定する請求項1または2に記載のタイヤ試験装置。
- 前記データ処理部は、前記回転ドラムが1回転する度に定められた基準位置に来るタイヤの周上の対応部位が、前記回転ドラムが1回転する度にタイヤの周上で一方向に移動して変わるときの移動量をタイヤの前記転がり半径と前記回転ドラムの回転半径とを用いて求め、この求められた移動量を用いて前記平均回数を設定する請求項1〜3のいずれか1項に記載のタイヤ試験装置。
- 前記データ処理部は、前記転がり半径を半径とする円周の周長を求め、前記移動量に自然数を乗算した第1の積が前記円周の周長に自然数を乗算した第2の積以上であり、かつ、前記第1の積と前記第2の積との差が所定値以下となるような前記移動量に乗算する自然数を求め、この自然数から1差しい引いた自然数を前記平均回数として設定する請求項4に記載のタイヤ試験装置。
- 前記データ処理部は、試験タイヤの転がり半径をRt 、前記回転ドラムの回転半径をRd としたとき、下記式(1)で値Dp を求め、この求められた値Dp から下記式(2)または(3)で表される基本周期Nb を定め、この定められた基本周期Nb から下記式(4)を満たす最小の自然数nを求め、この自然数nと前記基本周期Nb との積を超えない最大の自然数を前記平均回数として設定する請求項1〜3のいずれか1項に記載のタイヤ試験装置。
Dp = (Rd /Rt )− Int[Rd /Rt ] (1)
Nb = 1/Dp (Dp <0.5の場合) (2)
Nb = 1/(1−Dp ) (Dp ≧0.5の場合) (3)
(n・Nb )− Int[n・Nb ] <0.5 (4)
(nは自然数) - タイヤを回転ドラム上で転動させ、転動中のタイヤの特性を計測して得られる計測信号を前記回転ドラムに同期してサンプリングし、サンプリングして得られるデータに平均化処理を施してタイヤの試験を行う際、
タイヤの転がり半径を求め、
求められたタイヤの転がり半径を用いて前記平均化処理を行う際の平均回数を設定して前記平均化処理を行うことを特徴とするタイヤ試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002361818A JP4104446B2 (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002361818A JP4104446B2 (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004191278A JP2004191278A (ja) | 2004-07-08 |
JP4104446B2 true JP4104446B2 (ja) | 2008-06-18 |
Family
ID=32760431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002361818A Expired - Fee Related JP4104446B2 (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4104446B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4431023B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2010-03-10 | 株式会社ブリヂストン | タイヤ振動特性測定方法 |
JP4845681B2 (ja) * | 2006-11-09 | 2011-12-28 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤの振動評価方法 |
JP5525422B2 (ja) * | 2010-11-24 | 2014-06-18 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 |
JP5745574B2 (ja) * | 2013-05-29 | 2015-07-08 | 株式会社ブリヂストン | タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 |
-
2002
- 2002-12-13 JP JP2002361818A patent/JP4104446B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004191278A (ja) | 2004-07-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4917805B2 (ja) | タイヤ転がり面の粗さを決定する方法及び装置 | |
US7469578B2 (en) | Method and apparatus for evaluating a cornering stability of a wheel | |
EP1542035B1 (en) | Doppler radar for detecting tire anomalies | |
US7881879B2 (en) | Methods and systems for wheel balancer matching and flat spot correction | |
US5396438A (en) | Tire manufacturing method | |
EP2012106B1 (en) | Deflection calculating method at tire wheeling time, data storing method at tire wheeling time, and grounding length calculating method at tire wheeling time | |
JP4235107B2 (ja) | ラジアルフォースバリエーションの予測方法 | |
CN101144757A (zh) | 轮胎均匀性测量方法 | |
US7963158B2 (en) | Tire driving stiffness measuring apparatus, tire driving stiffness measuring method and predictive fuel consumption | |
JP2005214983A (ja) | タイヤ空気圧ロス検出方法 | |
JP2017116528A (ja) | タイヤユニフォミティマシンの特性化システムおよび方法 | |
JP4104446B2 (ja) | タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法 | |
US8943881B2 (en) | System for characterizing tire uniformity machines and methods of using the characterizations | |
CN100562733C (zh) | 去除轮胎均匀性试验装置***偏心的测量方法 | |
CN114786967B (zh) | 用于获得滚动轮胎行驶的距离的方法 | |
JP6430162B2 (ja) | タイヤ均一性装置を評価するためのシステム、及び、評価の使用方法 | |
KR100784277B1 (ko) | 하중 작용시 타이어의 반경 변동량과 회전반경의 계측방법 | |
JP2007064877A (ja) | タイヤの故障発生検知方法およびタイヤの故障発生検知装置 | |
JP2004198219A (ja) | タイヤ振動特性試験装置 | |
JP2004085297A (ja) | タイヤ特性測定方法およびタイヤ特性測定装置 | |
JP7225489B2 (ja) | 振動特性評価方法及び振動特性評価装置 | |
JP4431023B2 (ja) | タイヤ振動特性測定方法 | |
JP4946174B2 (ja) | タイヤの接地長算出方法及びタイヤの接地長算出装置 | |
US20240003780A1 (en) | Method and system for monitoring a status of a tyre | |
JP4097006B2 (ja) | タイヤ摩耗の測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050415 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060828 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080318 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080325 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110404 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |