JP4096766B2 - 回転精度測定方法及び回転精度測定装置 - Google Patents

回転精度測定方法及び回転精度測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4096766B2
JP4096766B2 JP2003066946A JP2003066946A JP4096766B2 JP 4096766 B2 JP4096766 B2 JP 4096766B2 JP 2003066946 A JP2003066946 A JP 2003066946A JP 2003066946 A JP2003066946 A JP 2003066946A JP 4096766 B2 JP4096766 B2 JP 4096766B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
data block
deviation
rotation
rotating body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003066946A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004279051A (ja
Inventor
繁一 奥村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JTEKT Corp
Original Assignee
JTEKT Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JTEKT Corp filed Critical JTEKT Corp
Priority to JP2003066946A priority Critical patent/JP4096766B2/ja
Publication of JP2004279051A publication Critical patent/JP2004279051A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4096766B2 publication Critical patent/JP4096766B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、軸を中心として回転する回転体の回転精度を測定する回転精度測定方法及び回転精度測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
転がり軸受又は流体軸受等に支持されて回転する回転体(例えばモータによって回転するスピンドル等)の回転精度を測定する回転精度測定装置では、従来、回転体の変位を示す時系列データを、回転体の回転とは無関係に採取して大量の変位データを収集し、その大量の変位データに対して一括してデータ処理を行っていた。このデータ処理では、例えば、時系列的に得られた変位データ(以下「採取データ」と記述)に対して高速フーリエ変換(以下「FFT」と記述)を施すことにより、周波数スペクトルを示すデータ(以下「スペクトルデータ」と記述)を算出する。次に、そのスペクトルデータにおいて同期振れ誤差(RRO;Repeatable Run Out)を除去することにより、1回転毎に繰り返されない回転体の変位に相当する非同期振れ誤差(NRRO;Non Repeatable Run Out)を求めている。
【0003】
特許文献1には、簡単な操作により玉軸受単品のNRROが測定できる玉軸受の回転精度検査方法及び検査装置が開示されている。また、特許文献2には、ラジアル転がり軸受の回転非同期振れと動トルクとを、互いに関連付けて、正確に測定自在とするラジアル転がり軸受用回転精度及び動トルク測定装置が開示されている。また、特許文献3には、転がり軸受のラジアル、アキシアル両方向の回転非同期振れと動トルクとを、互いに関連付けて、正確に測定自在とする転がり軸受用回転精度及び動トルク測定装置が開示されている。
【0004】
【特許文献1】
特開平11−311588号公報
【特許文献2】
特開2000−155073号公報
【特許文献3】
特開2001−194270号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の回転精度測定装置では、回転体を回転させるモータ等の回転ムラが測定に大きな影響を与えていた。また、上記の採取データは、回転体の回転とは無関係に採取された時系列データであるので、上記データ処理においてFFTが施される際には、採取データが所定区間外で滑らかに0になるように、予め窓関数によって採取データに対して適当な重み付けがなされていた。一般に窓関数が使用されると、FFTによって得られるスペクトルが拡散するので、この関数の使用も、従来の回転精度測定装置による測定に大きな影響を与えることになる。このように、従来の測定装置では、モータの回転ムラや窓関数の影響が大きい為、回転精度についての高度な測定、即ちRRO,NRRO及び真円度等の正確な算出は困難であった。
【0006】
本願出願人は、上述したような事情に鑑みて、上記の時系列データを回転体の回転周期毎に分割してブロック化することにより、複数のデータブロックからなるブロック化データを作成し、作成したブロック化データに基づき、回転体の回転精度を示す指標を算出し、モータの回転ムラ等の影響及び上記窓関数の影響を小さく出来る回転精度測定装置を、特願2002−018402、特願2002−036777において提案している。
【0007】
この回転精度測定装置では、モータの回転ムラによる1回転毎の位相ズレの補正は可能であるが、1回転内の位相ズレの補正が出来ないという問題がある。
本発明は、上述したような事情に鑑みてなされたものであり、1回転内の位相ズレの補正が出来る回転精度測定方法及び回転精度測定装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
第1発明に係る回転精度測定方法は、軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成し、作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正し、該位相のズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する回転精度測定方法であって、前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出し、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出し、検出した前記注目データブロックの前記ズレを、算出した前記差の平均に応じて増減し、増減したズレを、前記注目データブロックの各標本化値に配分し、配分したズレに基づき、前記標本化値毎の位相のズレを補正することを特徴とする。
【0009】
この回転精度測定方法では、データブロックの回転体の回転周期内の位相のズレを検出し、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出する。次いで、検出した注目データブロックの回転周期内の位相のズレを、算出した標本化値の個数の差の平均に応じて増減し、増減したズレを、注目データブロックの各標本化値に配分し、配分したズレに基づき、標本化値毎の位相のズレを補正する。
これにより、1回転内の位相ズレの補正が出来る回転精度測定方法を実現することが出来る。
【0010】
第2発明に係る回転精度測定装置は、軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを取得する手段と、該手段が取得した時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成する手段と、該手段が作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正する手段と、該手段がズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する手段とを備える回転精度測定装置であって、前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出するズレ検出手段と、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出する算出手段と、前記ズレ検出手段が検出した前記注目データブロックの前記ズレを、前記算出手段が算出した差の平均に応じて増減する手段と、該手段が増減したズレを、前記注目データブロックの標本化値の個数で除算する手段と、該手段が除算した商に基づき、前記標本化値毎の位相のズレを補正する手段とを備えることを特徴とする。
【0011】
この回転精度測定装置では、ズレ検出手段が、データブロックの回転体の回転周期内の位相のズレを検出し、算出手段が、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出する。増減する手段が、ズレ検出手段が検出した注目データブロックの回転周期内の位相のズレを、算出手段が算出した差の平均に応じて増減し、除算する手段が、その増減したズレを、注目データブロックの標本化値の個数で除算し、補正する手段が、その除算した商に基づき、標本化値毎の位相のズレを補正する。
これにより、1回転内の位相ズレの補正が出来る回転精度測定装置を実現することが出来る。
【0012】
第3発明に係る回転精度測定装置は、軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを取得する手段と、該手段が取得した時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成する手段と、該手段が作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正する手段と、該手段がズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する手段とを備える回転精度測定装置であって、前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出するズレ検出手段と、注目データブロックと前後のデータブロックとの前記標本化値の個数の差をそれぞれ算出する算出手段と、前記ズレ検出手段が検出した前記注目データブロックの前記ズレを、前記算出手段が算出した差の平均に応じて増減する増減手段と、該増減手段が増減したズレを、前記算出手段が算出した各差に応じて、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する比例配分手段と、該比例配分手段が比例配分した値に基づき、前記各標本化値の位相のズレを補正する手段とを備えることを特徴とする。
【0013】
この回転精度測定装置では、ズレ検出手段が、データブロックの回転体の回転周期内の位相のズレを検出し、算出手段が、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出する。増減手段が、ズレ検出手段が検出した注目データブロックのズレを、算出手段が算出した差の平均に応じて増減し、比例配分手段が、増減手段が増減したズレを、算出手段が算出した各差に応じて、注目データブロックの各標本化値に比例配分する。補正する手段は、比例配分手段が比例配分した値に基づき、各標本化値の位相のズレを補正する。
これにより、1回転内の位相ズレの補正が出来る回転精度測定装置を実現することが出来る。
【0014】
第4発明に係る回転精度測定装置は、前記比例配分手段は、前記増減手段が増減したズレを、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の係数列を、前記算出手段が算出した各差の組毎に参照する為のテーブル、又は前記増減手段が増減したズレを、前記算出手段が算出した各差に応じて、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の演算式を演算する手段を備えることを特徴とする。
【0015】
この回転精度測定装置では、比例配分手段は、増減手段が増減したズレを、注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の係数列を、算出手段が算出した各差の組毎に参照する為のテーブル、又は増減手段が増減したズレを、算出手段が算出した各差に応じて、注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の演算式を演算する手段を備えている。
これにより、1回転内の位相ズレの補正が出来る回転精度測定装置を実現することが出来る。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明を、その実施の形態を示す図面を参照しながら説明する。
実施の形態1.
図1は、本発明に係る回転精度測定装置の実施の形態1の構成を模式的に示す説明図であり、図2は、この回転精度測定装置が回転体を測定するときの状態を示す平面図である。回転精度測定装置は、軸受により支持され、所定の回転軸11を中心としてモータ(図示せず)により回転する回転体10の回転精度を測定する測定装置であり、回転体10の半径方向の変位を検出する非接触式の変位センサ20と、変位センサ20の検出信号Sdに基づき回転体10の半径方向の変位を示す標本化値からなる時系列データを収集し、その時系列データである採取データを処理するデータ収集処理装置30とを備えている。
【0017】
変位センサ20は、回転体10の外周面近傍に配置され、その外周面と変位センサ20との距離を検出し、その検出結果を回転体10の半径方向の変位を示す検出信号Sdとして出力する。尚、回転体10の軸方向の変位を検出し、軸方向の変位についての回転精度を測定する場合には、図1において破線で示すように、回転体10の上面近傍に回転体10の軸方向の変位を検出する非接触式の変位センサ21を配置し、その変位センサ21から出力される信号、即ち回転体10の上面と変位センサ21との距離を示す信号を検出信号Sdとして使用すれば良い。
【0018】
データ収集処理装置30は、中央処理装置としてのCPU31、入力インタフェース部32、メモリ33及び表示制御部34をバスで接続した構成となっており、表示制御部34には表示部36が接続されている。変位センサ20からの検出信号Sdは、入力インタフェース部32に入力される。入力インタフェース部32はA/D変換器を有し、検出信号Sdは、これにより標本化されたディジタルデータとしてメモリ33に一時的に格納される(以下、このディジタルデータを「原データ」と記述)。入力インタフェース部32は、変位センサ20と共に、回転体10の変位を表す時系列データを取得する手段を構成する。
【0019】
CPU31は、予めメモリ33に格納された所定プログラムを実行することにより、原データに対し、後述するDCカット処理、周期分割処理、位相補正、レート変換及びFFT等のデータ処理を順次施す。これにより、データ収集処理装置30は、図3に示すような、DCカット部111(時系列データを取得する手段)、周期分割部112(複数のデータブロックを作成する手段)、位相補正部113(位相のズレを補正する手段)、レート変換部114及び信号処理部115(指標を算出する手段)を備える装置として作動する。
【0020】
DCカット部111は、変位センサ20から出力された検出信号Sdから直流成分を除去するものであり、具体的には、検出信号Sdを表すディジタルデータである原データに対する信号処理により、検出信号Sdから直流成分を除去した信号を表すディジタルデータを採取データDaとして作成する(この信号処理を「DCカット処理」という)。尚、DCカット部111は、ソフトウェア的に実現されているが、入力インタフェース部32に直流成分遮断回路を設け、これにより検出信号Sdから直流成分を除去した後に、A/D変換器により採取データDaを作成するようにしても良い、この場合、DCカット部111は、ハードウェアとして実現されることになり、入力インタフェース部32の一部を構成する。
【0021】
周期分割部112は、DCカット部111により作成された採取データDaを回転体10の回転周期毎に分割してブロック化することにより、複数のデータブロックからなるブロック化データDbを作成する(この処理を「周期分割処理」という)。具体的には、検出信号Sdを表すディジタルデータである採取データDaから、Sd=0に相当する時点であるゼロ点を求め、このゼロ点に基づき、採取データDaを回転周期毎に分割してブロック化データDbを得る。例えば、検出信号Sdの内、図4に示すような区間に相当する採取データDaがDCカット部111から得られた場合には、この採取データDaから検出されたゼロ点に基づき、図5に示すような4個のデータブロックDb1,Db2,Db3,Db4からなるブロック化データDbを得る。
【0022】
これら4個のデータブロックDb1,Db2,Db3,Db4のそれぞれを構成するディジタル信号値(回転体10の変位を示す標本化値)の個数(以下「データ数」と記述、1回転周期のサンプリング点数に相当)は、モータの回転ムラ等の為、通常、全て等しくはならず、例えば、図6に示すように、データブロックDb1,Db2,Db3,Db4のデータ数は、それぞれn1個、n2個、n3個、n4個となる。尚、回転体10を回転させるモータを含む駆動部(図示せず)から回転周期に同期した信号(例えば1回転毎に1個パルスが現れる信号)がインデックスパルスSipとして出力される場合には、上述したゼロ点検出に代えて、そのインデックスパルスSipに基づき周期分割処理を行うようにしても良い。
【0023】
位相補正部113は、周期分割部112により分割されてブロック化されたブロック化データDbの各データブロックDb1,Db2,Db3,Db4毎の位相のずれを補正すると共に、各データブロックDb1,Db2,Db3,Db4内の位相のズレ(サンプリング点毎の位相のズレ)を補正し、補正したブロック化データDcを出力する。サンプリング点毎の位相のズレの補正の詳細については後述する。
【0024】
レート変換部114は、上述したようにデータ数がばらつく複数のデータブロックからなるブロック化データDcに対して補間処理を行うことにより、各データブロックのデータ数を同一にする。即ち、レート変換により各データブロックのサンプリング点数を同一にする。
このとき、信号処理部115で実行されるFFT(高速フーリエ変換)を考慮して、各データブロックのデータ数を2のべき乗とする。例えば、図6に示すようなブロック化データDb(Dc)に対してレート変換を施すことにより、データ数が全て2m であるデータブロックからなるブロック化データDdが得られる。
【0025】
信号処理部115は、回転精度を示す指標を算出する手段であって、レート変換後のブロック化データDdに対して、窓関数を使用することなくFFTを施すことにより、スペクトルデータを算出する。そして、算出したスペクトルデータに基づき、従来と同様の手法により、RRO,NRRO及び真円度等を求める。このようにして得られたRRO,NRRO及び真円度等、回転体10の回転精度を示す指標は、測定結果としてメモリ33に格納されると共に、他の所定プログラムに基づき、表示制御部34に送られ、表示制御部34により表示部36に表示される。
【0026】
以下に、このような回転精度測定装置の位相補正部113におけるデータブロック内(回転体10の回転周期内)の位相のズレ(サンプリング点毎の位相のズレ)を補正する動作を、それを示す図7のフローチャートを参照しながら説明する。
位相補正部113は、先ず、各データブロック内のゼロクロス点を検出し、図8に例示するような各データブロック内の先頭からゼロクロス点迄のサンプリング点数C1,C2,C3,C4を求めて(S2)、その平均値を算出し、これにより各ゼロクロス点の平均位相を算出する(S4)。
【0027】
位相補正部113は、次に、注目するデータブロック内のゼロクロス点と平均位相(S4)との位相のズレを算出し(S6)、次いで、注目するデータブロックの前後のデータブロックのサンプリング点数の差Dを算出する(S8)。
位相補正部113は、次に、(算出したズレ量(S6))+0.5×D×(算出したズレ量(S6))を演算して、算出したズレ量を微調整(増減)する(S10)。尚、0.5×Dは、注目するデータブロックとその前後のデータブロックとのサンプリング点数の各差の平均に相当する。
【0028】
位相補正部113は、次に、(微調整後の位相のズレ)/(注目するデータブロックのサンプリング点数)を演算して、各サンプリング点に微調整後の位相のズレを等配分し(S12)、次いで、等配分した位相のズレを、各サンプリング点の位相から差し引いて、各サンプリング点の位相を補正する(S14)。
位相補正部113は、各サンプリング点の位相を補正する際(S14)、補正量が+(ズレ量は−)の場合、図9(a)に示すように、当該サンプリング点mとその次のサンプリング点m+1と結ぶ直線を、補正量e(0∠e)だけ移動した(進めた)ときのm点の値を求め、補正後の変位量とする。補正量が−(ズレ量は+)の場合、図9(b)に示すように、当該サンプリング点mとその前のサンプリング点m−1と結ぶ直線を、補正量e(e∠0)だけ移動した(遅らせた)ときのm点の値を求め、補正後の変位量とする。
【0029】
次いで、位相補正部113は、次に各サンプリング点の位相を補正すべきデータブロックが有れば(S16)、そのデータブロック内のゼロクロス点と平均位相(S4)との位相のズレを算出する(S6)。位相を補正すべきデータブロックが無ければ(S16)リターンする。
【0030】
実施の形態2.
図10は、本発明に係る回転精度測定装置の実施の形態2の、位相補正部におけるデータブロック内の位相のズレを補正する動作を示すフローチャートである。この回転精度測定装置の位相補正部における動作以外の構成及び動作は、実施の形態1で説明した構成及び動作と同様であるので、説明を省略する。
この回転精度測定装置の位相補正部113(図3)は、先ず、各データブロック内のゼロクロス点を検出し、図8に例示するような各データブロック内の先頭からゼロクロス点迄のサンプル点数C1,C2,C3,C4を求めて(S20)、その平均値を算出し、これにより各ゼロクロス点の平均位相を算出する(S22)。
【0031】
位相補正部113は、次に、注目するデータブロック内のゼロクロス点と平均位相(S22)との位相のズレを算出し(S24)、次いで、注目するデータブロックの前後のデータブロックのサンプリング点数の差Dを算出する(S26)。
位相補正部113は、次に、(算出したズレ量(S24))+0.5×D×(算出したズレ量(S24))を演算して、算出したズレ量を微調整(増減)する(S28)。尚、0.5×Dは、注目するデータブロックとその前後のデータブロックとのサンプリング点数の各差の平均に相当する。
【0032】
位相補正部113は、次に、注目するデータブロックと前後のデータブロックとのサンプリング点数の各差D1,D2を算出する(S30)。次いで、各サンプリング点に位相のズレを、算出した各差D1,D2に応じて比例配分し(S32)し、次いで、比例配分した位相のズレを、各サンプリング点の位相から差し引いて、各サンプリング点の位相を補正する(S34)。
【0033】
ここで、例えば、注目するデータブロックのサンプリング点数をSp、サンプリング点の先頭からの順番をN(1,2‥‥Sp)、位相のズレの平均Z=(微調整後の位相のズレ)/(サンプリング点数)とし、データブロックの中点における位相のズレをZとすると、N=1における位相のズレZ1は、
(D1+D2)/2:Z=D1:Z1 より
Z1=2ZD1/(D1+D2)
同様に、N=Spにおける位相のズレZsは、
Zs=2ZD2/(D1+D2)
【0034】
以上から、サンプリング点Nにおける位相のズレZNは、
Figure 0004096766
により求めることが出来る。
尚、差D1,D2の組毎及びサンプリング点数Sp毎に、サンプリング点Nに関する係数[D1/(D1+D2)+(N/Sp)×(D2−D1)/(D1+D2)]の参照テーブル33aをメモリ33(図1)に設けておくと、計算処理時間を短縮することが出来る。
【0035】
位相補正部113は、各サンプリング点の位相を補正する際(S34)は、実施の形態1の場合(図9)と同様に行う。
次いで、位相補正部113は、次に各サンプリング点の位相を補正すべきデータブロックが有れば(S36)、そのデータブロック内のゼロクロス点と平均位相(S22)との位相のズレを算出する(S24)。位相を補正すべきデータブロックが無ければ(S36)リターンする。
【0036】
【発明の効果】
第1発明に係る回転精度測定方法によれば、1回転内の位相ズレの補正が出来、1回転内でのサンプル点毎の位相差の違いが小さくなり、計測したい信号である非同期振れの算出精度が向上する回転精度測定方法を実現することが出来る。
【0037】
第2発明に係る回転精度測定装置によれば、1回転内の位相ズレの補正が出来、1回転内でのサンプル点毎の位相差の違いが小さくなり、計測したい信号である非同期振れの算出精度が向上する回転精度測定装置を実現することが出来る。
【0038】
第3,4発明に係る回転精度測定装置によれば、1回転内の位相ズレの補正が出来、1回転内でのサンプル点毎の位相差の違いがより小さくなり、計測したい信号である非同期振れの算出精度が向上する回転精度測定装置を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る回転精度測定装置の実施の形態の構成を模式的に示す説明図である。
【図2】本発明に係る回転精度測定装置が回転体を測定するときの状態を示す平面図である。
【図3】本発明に係る回転精度測定装置のデータ収集処理装置の構成例を示すブロック図である。
【図4】本発明に係る回転精度測定装置の採取データの例を示す説明図である。
【図5】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示す説明図である。
【図6】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示す説明図である。
【図7】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図8】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示す説明図である。
【図9】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示す説明図である。
【図10】本発明に係る回転精度測定装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 回転体
11 回転軸
20,21 変位センサ
30 データ収集処理装置
31 CPU
32 入力インタフェース部
33 メモリ
33a 参照テーブル(テーブル)
36 表示部
111 DCカット部(時系列データを取得する手段)
112 周期分割部
113 位相補正部(位相のズレを補正する手段)
114 レート変換部
115 信号処理部(指標を算出する手段)

Claims (4)

  1. 軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成し、作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正し、該位相のズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する回転精度測定方法であって、
    前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出し、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出し、検出した前記注目データブロックの前記ズレを、算出した前記差の平均に応じて増減し、増減したズレを、前記注目データブロックの各標本化値に配分し、配分したズレに基づき、前記標本化値毎の位相のズレを補正することを特徴とする回転精度測定方法。
  2. 軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを取得する手段と、該手段が取得した時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成する手段と、該手段が作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正する手段と、該手段がズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する手段とを備える回転精度測定装置であって、
    前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出するズレ検出手段と、注目データブロックと前後のデータブロックとの標本化値の個数の差をそれぞれ算出する算出手段と、前記ズレ検出手段が検出した前記注目データブロックの前記ズレを、前記算出手段が算出した差の平均に応じて増減する手段と、該手段が増減したズレを、前記注目データブロックの標本化値の個数で除算する手段と、該手段が除算した商に基づき、前記標本化値毎の位相のズレを補正する手段とを備えることを特徴とする回転精度測定装置。
  3. 軸を中心として回転する回転体の半径方向又は軸方向の変位を示す所定周期の標本化値からなる時系列データを取得する手段と、該手段が取得した時系列データを、前記回転体の回転周期毎に分割してブロック化し、複数のデータブロックを作成する手段と、該手段が作成した複数のデータブロックの前記回転周期毎の位相のズレを補正する手段と、該手段がズレを補正した複数のデータブロックに基づき、前記回転体の回転精度を示す指標を算出する手段とを備える回転精度測定装置であって、
    前記データブロックの前記回転体の回転周期内の位相のズレを検出するズレ検出手段と、注目データブロックと前後のデータブロックとの前記標本化値の個数の差をそれぞれ算出する算出手段と、前記ズレ検出手段が検出した前記注目データブロックの前記ズレを、前記算出手段が算出した差の平均に応じて増減する増減手段と、該増減手段が増減したズレを、前記算出手段が算出した各差に応じて、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する比例配分手段と、該比例配分手段が比例配分した値に基づき、前記各標本化値の位相のズレを補正する手段とを備えることを特徴とする回転精度測定装置。
  4. 前記比例配分手段は、前記増減手段が増減したズレを、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の係数列を、前記算出手段が算出した各差の組毎に参照する為のテーブル、又は前記増減手段が増減したズレを、前記算出手段が算出した各差に応じて、前記注目データブロックの各標本化値に比例配分する為の演算式を演算する手段を備える請求項3記載の回転精度測定装置。
JP2003066946A 2003-03-12 2003-03-12 回転精度測定方法及び回転精度測定装置 Expired - Fee Related JP4096766B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003066946A JP4096766B2 (ja) 2003-03-12 2003-03-12 回転精度測定方法及び回転精度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003066946A JP4096766B2 (ja) 2003-03-12 2003-03-12 回転精度測定方法及び回転精度測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004279051A JP2004279051A (ja) 2004-10-07
JP4096766B2 true JP4096766B2 (ja) 2008-06-04

Family

ID=33284707

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003066946A Expired - Fee Related JP4096766B2 (ja) 2003-03-12 2003-03-12 回転精度測定方法及び回転精度測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4096766B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4667186B2 (ja) * 2005-09-26 2011-04-06 学校法人慶應義塾 回転精度測定方法
JP2007101244A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Omron Corp 検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004279051A (ja) 2004-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10895243B2 (en) Condition monitoring device
US8712720B2 (en) Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements
Li et al. Time-frequency ridge estimation: An effective tool for gear and bearing fault diagnosis at time-varying speeds
US20080177485A1 (en) System and method for providing vibration detection in turbomachinery
JPH03500577A (ja) 回転物体の均一性測定改善装置及び方法
JP2004177154A (ja) 回転角度検出装置
JPH05284689A (ja) 回転体連結部の調整支援装置
JPH1026580A (ja) 変速型回転機械設備の診断方法および装置
JP2007086034A (ja) 回転精度測定方法
US10539588B2 (en) Method for reducing error in rotor speed measurements
JP4732304B2 (ja) 回転計及び回転計用プログラム
JP5529666B2 (ja) 位置検出装置
JP4096766B2 (ja) 回転精度測定方法及び回転精度測定装置
JP2020003363A (ja) 転がり軸受の異常診断方法及び異常診断装置、異常診断プログラム
JPH06230047A (ja) 周波数スペクトル分析装置
JP2017194368A (ja) 制御装置および異常診断装置
JP3997936B2 (ja) 回転精度測定方法及び回転精度測定装置
JP2007003507A (ja) 歯車検査装置
JP4096768B2 (ja) 回転精度測定方法及び回転精度測定装置
JP3997935B2 (ja) 回転精度測定方法及び回転精度測定装置
JP6405504B2 (ja) レゾルバ誤差補正構造、レゾルバおよびレゾルバ誤差補正方法
JP3379170B2 (ja) 非繰返し回転精度測定装置
JP3765480B2 (ja) 回転精度測定装置
JP3824546B2 (ja) 回転精度測定装置
JP6663610B2 (ja) 慣性モーメントを測定する方法およびその装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080303

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110321

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120321

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120321

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130321

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140321

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees