JP4083100B2 - 周縁部露光装置 - Google Patents
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Description
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板の周縁部に光を照射して周縁部露光を行う周縁部露光装置であって、光を照射する第1および第2の光照射手段と、光照射手段を制御する制御手段と、光照射手段の性能低下を検出する性能低下検出手段と、光照射手段が周縁部露光を行うことができる状態である準備状態になったことを検出する準備状態検出手段とを備え、周縁部露光を第1の光照射手段からの光の照射により行う場合において、前記性能低下検出手段が第1の光照射手段の性能低下を検出したことに基づいて、制御手段は次の過程を各照射手段に対して実行する、(A)第1の光照射手段による基板の周縁部露光を続行するとともに、第2の光照射手段を起動し、(B)前記準備状態検出手段が第2の光照射手段の準備状態を検出したら、第1の光照射手段による周縁部露光を終了し、第2の光照射手段による後続の基板の周縁部露光を行うことを特徴とするものである。
図1は、実施例1に係る周縁部露光装置の概略構成を示す斜視図であり、図2(a)は、処理機構の概略構成を示す図であり、図2(b)は、図2(a)の石英ロッド付近の拡大図であり、図3は、制御系の構成を示すブロック図である。
光源ユニット211 (図4では第1の光源ユニット)での周縁部露光中に、点灯時間計測回路63は点灯(起動)の開始からの点灯時間(照射時間や経過時間)を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否かを点灯時間計測回路63は監視する。具体的には、光源ユニット212 のランプ21Aが破壊寿命(例えば3000時間)に達したかどうかを監視する。これは、後述する実施例2でのステップT1や実施例3でのステップU1や実施例4でのステップV1の場合も同様である。点灯時間が設定値未満であれば次のステップS2に移行し、点灯時間が設定値以上であれば、点灯時間が長くなるに伴って積算光量が増えて光源ユニット211 の性能が低下したと判断して、ステップS3に跳ぶ。なお、光源ユニット211 の性能が低下する点灯時間の設定値は経験則(上述した300時間)によって求めることができ、周縁部露光を行う前に点灯時間に関するサンプルデータを予め求めることで設定値を決定すればよい。
ステップS1で点灯時間が設定値以上になった後、受光器40は光源ユニット211 (第1の光源ユニット)から照射された光の強度を検出する。そして、光強度が設定値未満であるか否かを受光器40は検出する。光強度が設定値未満であれば、光強度が低下して光源ユニット211 の性能が低下したと判断して、次のステップS3に移行し、光強度が設定値以上であればステップS1に戻る。なお、光源ユニット211 の性能が低下する光強度の設定値も経験則によって求めることができる。
ステップS1で点灯時間が設定値以上になった場合、またはステップS2で光強度が設定値未満の場合、すなわち、光源ユニット211 の性能低下を検出した場合、もう一台の光源ユニット212 (図4では第2の光源ユニット)を起動して光源ユニット212 のランプ21Aの光の点灯を開始する。具体的には、コントローラ61はスイッチ62を操作して光源ユニット212 の光源21aをOFFからONに切り換える。このとき、光源ユニット211 (第1の光源ユニット)による周縁部露光を続行する。このステップS3から後述するステップS7の第2の光源ユニットによる周縁部露光の開始までは光源ユニット212 は周縁部露光を行わないので、光源ユニット212 から照射された光がランプハウス21Bの外部に出射して基板Wに照射されないようにシャッタ22を閉鎖状態にする。具体的には、閉鎖していない場合には、コントローラ61はシャッタモータ22Bを操作してシャッタ22の遮蔽板22Aを降下させて閉鎖状態にし、既に閉鎖している場合には、コントローラ61はシャッタモータ22Bを操作しない。
点灯時間計測回路63は、光源ユニット212 (第2の光源ユニット)の起動からの点灯時間(経過時間)を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否かを点灯時間計測回路63は監視する。これは、後述する実施例2でのステップT8,T14や実施例3でのステップU8,U14や実施例4でのステップV8,V14の場合も同様である。点灯時間が設定値未満であれば設定値以上になるまでこのステップS4で待機し、点灯時間が設定値以上であれば、起動から時間が経過するのに伴って光源ユニット212 が周縁部露光を行うことができる状態である準備状態になった(すなわち光強度が安定した)と判断して、ステップS5に移行する。なお、準備状態となる点灯時間の設定値も経験則によって求めることができる(例えば点灯して7分経過したかどうか?)。なお、光源ユニット21は、まず、準備状態になったら、次に、その性能が低下するので、ステップS2における光源ユニット211 の性能が低下する点灯時間の設定値(3000時間)よりも、ステップS4における準備状態となる点灯時間の設定値(7分)の方が時間は短い。
ステップS4で点灯時間が設定値以上になった場合、すなわち、光源ユニット212 が準備状態になったことを検出した場合、光源ユニット211 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。すなわち、後続の基板Wがきていなければその基板Wを受け取るまでこのステップS5で待機しつつ周縁部露光を続行し、後続の基板Wがきたらその基板Wを受け取ったとして、ステップS6に移行する。
そして、光源ユニット211 (第1の光源ユニット)からの光の照射を停止、すなわち光源ユニット211 のランプ21Aを消灯する。具体的には、コントローラ61はスイッチ62を操作して光源ユニット211 の光源21aをONからOFFに切り換える。この消灯によって、光源ユニット211 による周縁部露光が終了する。本実施例1では、周縁部露光の終了を、光の照射の停止(消灯)によって行ったが、シャッタ22による閉鎖で行ってもよい。また、シャッタ22による閉鎖と消灯とを同時に行ってもよい。
また、ステップS6とほぼ同時に、光源ユニット212 (第2の光源ユニット)による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。具体的には、周縁部露光の開始を、シャッタ22による開放で行う。コントローラ61はシャッタモータ22Bを操作してシャッタ22の遮蔽板22Aを上昇させて開放状態にする。この周縁部露光の開始の直前に、照射時間を計測するために光源ユニット212 から照射された光の強度を受光器40によって検出する。
図6および図7は、実施例2に係る周縁部露光のフローチャートであり、図8および図9は、実施例2に係る周縁部露光のタイミングチャートである。なお、本実施例2での装置は、実施例1での装置と同様の構成をしているのでその説明を省略する。
2台の光源ユニット211 ,212 での周縁部露光中に、点灯時間計測回路63は点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否かを点灯時間計測回路63は監視する。点灯時間が設定値未満であれば次のステップT2に移行し、点灯時間が設定値以上であれば、点灯時間が長くなるに伴って積算光量が増えて光源ユニット211 ,212 の性能が低下したと判断して、ステップT3に跳ぶ。
ステップT1で点灯時間が設定値以上になった後、受光器40は光源ユニット211 ,212 から照射された光の強度を検出する。そして、光強度が設定値未満であるか否かを受光器40は検出する。光強度が設定値未満であれば、光強度が低下して光源ユニット211 ,212 の性能が低下したと判断して、次のステップT3に移行し、光強度が設定値以上であればステップT1に戻る。
ステップT1で点灯時間が設定値以上になった場合、またはステップT2で光強度が設定値未満の場合、すなわち、光源ユニット211 ,212 の性能低下を検出した場合、光源ユニット211 ,212 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。すなわち、後続の基板Wがきていなければその基板Wを受け取るまでこのステップT3で待機しつつ周縁部露光を続行し、後続の基板Wがきたらその基板Wを受け取ったとして、ステップT4に移行する。
そして、光源ユニット211 ,212 のうち、交換すべき光源ユニット211 のランプ21Aを消灯する。
また、ステップT4とほぼ同時に、残りの光源ユニット212 による周縁部露光を後続Wの基板に対して開始する。この周縁部露光の開始の直前に、照射時間を計測するために光源ユニット212 から照射された光の強度を受光器40によって検出する。
周縁部露光を終了した光源ユニット211 (図6では交換すべき光源ユニット)を交換する。具体的には、性能が低下した光源ユニット211 のランプ21Aを新しいランプに交換する。
そして、次の周縁部露光の準備に備えるために、交換した新たな光源ユニット211 を起動して点灯を開始する。本実施例2では、次の周縁部露光の準備に備えるために光源ユニット211 のランプを新しく交換して、それを交換した新たな光源ユニット211 としたが、3台以上の光源ユニット21を周縁部露光に用いた場合には、光源ユニット211 ,212 以外にもう1台の光源ユニット21が少なくとも存在するので、その光源ユニット21を交換した新たな光源ユニット211 としてもよい。このステップT7から後述するステップT11の新たな光源ユニットによる周縁部露光の開始までは光源ユニット211 は周縁部露光を行わないので、実施例1と同様に、光源ユニット211 から照射された光がランプハウス21Bの外部に出射して基板Wに照射されないようにシャッタ22を閉鎖状態にする。
点灯時間計測回路63は、新たな光源ユニット211 の起動からの点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否か(すなわち光強度が安定したか否か)を点灯時間計測回路63は監視する。点灯時間が設定値未満であれば設定値以上になるまでこのステップT8で待機し、点灯時間が設定値以上であれば、起動から時間が経過するのに伴って光源ユニット211が準備状態になったと判断して、ステップT9に移行する。
ステップT8で点灯時間が設定値以上になった場合、すなわち、光源ユニット211 が準備状態になったことを検出した場合、光源ユニット212 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。すなわち、後続の基板Wがきていなければその基板Wを受け取るまでこのステップT9で待機しつつ周縁部露光を続行し、後続の基板Wがきたらその基板Wを受け取ったとして、ステップT10に移行する。
そして、性能が低下した光源ユニット212 (図7では交換すべき光源ユニット)のランプ21Aを消灯する。
また、ステップT10とほぼ同時に、新たな光源ユニット211 による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。この周縁部露光の開始の直前に、照射時間を計測するために光源ユニット211 から照射された光の強度を受光器40によって検出する。
周縁部露光を終了した光源ユニット212 (図7では交換すべき光源ユニット)のランプ21Aを新しいランプに交換する。
そして、次の周縁部露光の準備に備えるために、交換した新たな光源ユニット212 を起動して点灯を開始する。ステップT7でも述べたように、3台以上の光源ユニット21を周縁部露光に用いた場合には、光源ユニット211 ,212 以外にもう1台の光源ユニット21が少なくとも存在するので、その光源ユニット21を交換した新たな光源ユニット212 としてもよい。ステップT7と同様に、光源ユニット212 から照射された光がランプハウス21Bの外部に出射して基板Wに照射されないようにシャッタ22を閉鎖状態にする。
点灯時間計測回路63は、光源ユニット212 の起動からの点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否か(すなわち光強度が安定したか否か)を点灯時間計測回路63は監視する。点灯時間が設定値未満であれば設定値以上になるまでこのステップT14で待機し、点灯時間が設定値以上であれば、起動から時間が経過するのに伴って光源ユニット212 が準備状態になったと判断して、ステップT15に移行する。ここでの手順は、ステップT8と同じである。
ステップT14で点灯時間が設定値以上になった場合、すなわち、光源ユニット212 が準備状態になったことを検出した場合、光源ユニット211 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。すなわち、後続の基板Wがきていなければその基板Wを受け取るまでこのステップT15で待機しつつ周縁部露光を続行し、後続の基板Wがきたらその基板Wを受け取ったとして、ステップT16に移行する。
新たな光源ユニット212 を残りの光源ユニット211 に加えて、それらの光源ユニット21による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。この周縁部露光の開始の直前に、照射時間を計測するために光源ユニット212 から照射された光の強度を受光器40によって検出する。
図10および図11は、実施例3に係る周縁部露光のフローチャートであり、図12は、実施例3に係る周縁部露光のタイミングチャートである。なお、本実施例3での装置は、実施例1,2での装置と同様の構成をしているのでその説明を省略する。
2台の光源ユニット211 ,212 での周縁部露光中に、点灯時間計測回路63は点灯(照射)の開始からの点灯時間(照射時間)を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否かを点灯時間計測回路63は監視する。ここでの手順は、実施例2でのステップT1と同じである。
ステップU1で点灯時間が設定値以上になった後、受光器40は光源ユニット211 ,212 から照射された光の強度を検出する。そして、光強度が設定値未満であるか否かを受光器40は検出する。ここでの手順は、実施例2でのステップT2と同じである。
ステップU1で点灯時間が設定値以上になった場合、またはステップU2で光強度が設定値未満の場合、光源ユニット211 ,212 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。ここでの手順は、実施例2でのステップT3と同じである。
そして、光源ユニット211 ,212 のうち、交換すべき光源ユニット21のランプ21Aを消灯する。本実施例3では、ステップU1で光源ユニット211 の点灯時間が設定値以上であって、光源ユニット211 の性能が低下し、ステップU1で光源ユニット212 の点灯時間が設定値未満であって、光源ユニット212 の性能は低下しないとして説明する。したがって、光源ユニット211 のランプ21Aを消灯する。
また、ステップU4とほぼ同時に、残りの光源ユニット212 による周縁部露光を後続Wの基板に対して開始する。ここでの手順は、実施例2でのステップT5と同じである。
周縁部露光を終了した光源ユニット211 を交換する。ここでの手順は、実施例2でのステップT6と同じである。
そして、次の周縁部露光の準備に備えるために、交換した新たな光源ユニット211 を起動して点灯を開始する。ここでの手順は、実施例2でのステップT7と同じである。
点灯時間計測回路63は、光源ユニット211 の起動からの点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否か(すなわち光強度が安定したか否か)を点灯時間計測回路63は監視する。ここでの手順は、実施例2でのステップT8と同じである。
ステップU8で点灯時間が設定値以上になった場合、光源ユニット212 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。ここでの手順は、ステップT9と同じである。
本実施例3では光源ユニット212 の性能は低下しないとして説明しているので、実施例2のように光源ユニット212 からの光の照射を停止する必要はない。光源ユニット211 を残りの光源ユニット212 に加えて、それらの光源ユニット21による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。
図13および図14は、実施例4に係る周縁部露光のフローチャートであり、図15および図16は、実施例4に係る周縁部露光のタイミングチャートである。
N台の光源ユニット211 ,212 ,213 ,…,21N での周縁部露光中に、点灯時間計測回路63は点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否かを点灯時間計測回路63は監視する。ここでの手順は、光源ユニット21の台数を除けば、実施例2でのステップT1と同じである。
ステップV1で点灯時間が設定値以上になった後、受光器40は光源ユニット211 ,212 ,…,21N から照射された光の強度を検出する。そして、光強度が設定値未満であるか否かを受光器40は検出する。ここでの手順は、光源ユニット21の台数を除けば、実施例2でのステップT2と同じである。
ステップV1で点灯時間が設定値以上になった場合、またはステップV2で光強度が設定値未満の場合、光源ユニット211 ,212 ,…,21N による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。ここでの手順は、光源ユニット21の台数を除けば、実施例2でのステップT3と同じである。
そして、光源ユニット211 ,212 ,…,21N のうち、交換すべき光源ユニット211 のランプ21Aを消灯する。
また、ステップV4とほぼ同時に、残りの一群の光源ユニット212 ,…,21N による周縁部露光を後続Wの基板に対して開始する。
周縁部露光を終了した光源ユニット211 を交換する。ここでの手順は、実施例2でのステップT6と同じである。
そして、次の周縁部露光の準備に備えるために、交換した新たな光源ユニット211 を起動して点灯を開始する。ここでの手順は、実施例2でのステップT7と同じである。
点灯時間計測回路63は、光源ユニット211 の起動からの点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否か(すなわち光強度が安定したか否か)を点灯時間計測回路63は監視する。ここでの手順は、実施例2でのステップT8と同じである。
ステップV8で点灯時間が設定値以上になった場合、光源ユニット212 ,…,21N による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。ここでの手順は、ステップT9と同じである。
そして、光源ユニット212 ,…,21N のうち、性能が低下した光源ユニット212 (図14では交換すべき光源ユニット)のランプ21Aを消灯する。
また、ステップV10とほぼ同時に、光源ユニット211 を残りの一群の光源ユニット213 ,…,21N に加えて、それらの光源ユニット211 ,213 ,…,21N による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。
周縁部露光を終了した光源ユニット212 を交換する。ここでの手順は、ステップT12と同じである。
ステップV7からステップV12,ステップV12´までの手順を複数回繰り返す。具体的には、交換すべき光源ユニット21による周縁部露光を消灯により停止して(ステップV10)、残りの一群の光源ユニット21による周縁部露光処理を続行し(ステップV11)、ステップV12で交換した新たな光源ユニット21を起動して点灯を開始し(ステップV7)、新たな光源ユニット21の準備状態を検出した(ステップV8)ら、この光源ユニット21を前記一群の光源ユニット21に加えて、それらの光源ユニット21による周縁部露光を行う(ステップV9,V11)一連のステップを、交換すべき光源ユニット21がなくなるまで繰り返す。本実施例4では、上述したように、光源ユニット21N を新しいのに交換するまで、ステップV7からステップV12,ステップV12´を繰り返す。
そして、次の周縁部露光の準備に備えるために、最後に交換した光源ユニット21N からの光の点灯を開始する。
点灯時間計測回路63は、光源ユニット21N の起動からの点灯時間を計測する。そして、点灯時間が設定値以上になったか否か(すなわち光強度が安定したか否か)を点灯時間計測回路63は監視する。
ステップV14で点灯時間が設定値以上になった場合、光源ユニット211 ,212 ,213 ,…,21N-1 による周縁部露光を、後続の基板Wを受け取るまで続行する。
光源ユニット21N を残りの一群の光源ユニット211 ,212 ,213 ,…,21N-1 に加えて、それらの光源ユニット21による周縁部露光を後続の基板Wに対して開始する。
22 … シャッタ
23 … ライトガイド
24A … 光混合光学素子
40 … 受光器
61 … コントローラ
63 … 点灯時間計測回路
W … 基板
Claims (8)
- 基板の周縁部に光を照射して周縁部露光を行う周縁部露光装置であって、
光を照射する第1および第2の光照射手段と、
光照射手段を制御する制御手段と、
光照射手段の性能低下を検出する性能低下検出手段と、
光照射手段が周縁部露光を行うことができる状態である準備状態になったことを検出する準備状態検出手段とを備え、
周縁部露光を第1の光照射手段からの光の照射により行う場合において、
前記性能低下検出手段が第1の光照射手段の性能低下を検出したことに基づいて、制御手段は次の過程を各照射手段に対して実行する、
(A)第1の光照射手段による基板の周縁部露光を続行するとともに、第2の光照射手段を起動し、
(B)前記準備状態検出手段が第2の光照射手段の準備状態を検出したら、第1の光照射手段による周縁部露光を終了し、第2の光照射手段による後続の基板の周縁部露光を行う
ことを特徴とする周縁部露光装置。 - 基板の周縁部に光を照射して周縁部露光を行う周縁部露光装置であって、
光を照射する複数の光照射手段と、
光照射手段を制御する制御手段と、
光照射手段の性能低下を検出する性能低下検出手段と、
光照射手段が周縁部露光を行うことができる状態である準備状態になったことを検出する準備状態検出手段とを備え、
周縁部露光を全ての光照射手段からの光の照射により行う場合において、
前記性能低下検出手段が光照射手段の性能低下を検出したことに基づいて、いずれか1つの光照射手段を交換する場合に、制御手段は、次の過程を各照射手段に対して実行する、
(a)交換すべき光照射手段による周縁部露光を停止して、残りの一群の光照射手段による基板の周縁部露光処理を続行し、
(b)交換した新たな光照射手段を起動し、前記準備状態検出手段が新たな光照射手段の準備状態を検出したら、この光照射手段を前記一群の光照射手段に加えて、それらの光照射手段による後続の基板の周縁部露光を行う
ことを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項2に記載の周縁部露光装置において、
前記(a),(b)の過程を複数回繰り返して実行して、必要個数の光照射手段を新たな光照射手段に順次に交換する
ことを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の周縁部露光装置において、
前記性能低下検出手段は、周縁部露光に必要な光量を得るための、光照射手段の照射時間を計測する時間計測手段であって、
計測された照射時間が所定値以上になったときに、光照射手段の性能低下を検出することを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の周縁部露光装置において、
前記性能低下検出手段は、周縁部露光が行われた基板の枚数を計数する基板計数手段であって、
計数された基板の枚数が所定値以上になったときに、光照射手段の性能低下を検出することを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の周縁部露光装置において、
前記性能低下検出手段は、光照射手段の光強度を検出する光強度検出手段であって、
検出された光強度が所定値未満になったときに、光照射手段の性能低下を検出することを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項1から請求項6のいずれかに記載の周縁部露光装置において、
前記準備状態検出手段は、光照射手段の起動からの経過時間を計測する時間計測手段であって、
計測された経過時間が所定値以上になったときに、光照射手段の準備状態を検出することを特徴とする周縁部露光装置。 - 請求項1から請求項6のいずれかに記載の周縁部露光装置において、
前記準備状態検出手段は、光照射手段の光強度を検出する光強度検出手段であって、
検出された光強度が所定値以上になったときに、光照射手段の準備状態を検出することを特徴とする周縁部露光装置。
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