JP4082314B2 - 電子部品の試験方法および試験装置 - Google Patents
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Description
本発明に係る電子部品の試験装置は、好ましくは、前記電子部品に定電流を流す前に、前記電子部品の温度を常温から所定の温度まで昇温する昇温機構を有する。この場合、常温から電子部品に定電流を流していくよりも早めにバーンイン温度に達するので、試験にかかるタクト時間を短くでき、効率的な試験を行うことができる。
ここで、Tmは補正バーンイン時間、Vmは実印加電圧、Vbは規定バーンイン電圧、Tbは規定バーンイン時間である。
2 加熱・恒温部(昇温機構)
5 定電流源部
6 バーンイン制御部
W 試料(電子部品)
Claims (8)
- バーンイン温度、バーンイン電圧およびバーンイン時間によって決定される所定の負荷量を設定し、前記負荷量と同量の負荷をかけるように電子部品に対してバーンインを行う電子部品の試験方法であって、
負の抵抗温度特性を有する電子部品をバーンイン温度より低い所定の温度下に置いて、前記電子部品の温度を前記所定の温度とする第1ステップと、
電子部品に定電流を流して電子部品の温度を前記所定の温度から前記バーンイン温度に上昇制御する第2ステップと、
前記バーンイン温度において電子部品に印加されている実印加電圧を前記バーンイン電圧と比較し、その比較から前記バーンイン時間を補正して補正バーンイン時間を求め、該補正バーンイン時間に基づき電子部品に定電流を流す第3ステップと、
を含む、ことを特徴とする電子部品の試験方法。 - 請求項1に記載の電子部品の試験方法であって、
前記第2ステップで前記電子部品に定電流が流されている状態での該電子部品への印加電圧を監視し、該監視結果に基づいてバーンイン時間を決定することを特徴とする電子部品の試験方法。 - 請求項1または2に記載の電子部品の試験方法であって、
前記第1ステップは、予め前記電子部品の温度を前記所定の温度まで昇温機構によって昇温する工程が含まれることを特徴とする電子部品の試験方法。 - バーンイン温度、バーンイン電圧およびバーンイン時間によって決定される所定の負荷量を設定し、前記負荷量と同量の負荷をかけるように電子部品に対してバーンインを行う電子部品の試験装置であって、
前記電子部品に定電流を流す定電流源部と、
前記定電流源部の動作を制御するバーンイン制御部と、
を有し、
前記バーンイン制御部は、少なくとも、前記定電流源部を駆動して定電流を前記電子部品に流すことにより電子部品の温度を所定の温度からバーンイン温度にまで昇温させる昇温制御ステップと、バーンイン温度において電子部品に印加されている実印加電圧とバーンイン電圧とを比較し、その比較結果に基づいてバーンイン時間の補正演算を行い、その補正バーンイン時間に従い前記電子部品に対して前記バーンイン温度においてバーンインを行うバーンイン制御ステップとを実行するものである、ことを特徴とする電子部品の試験装置。 - 請求項4に記載の電子部品の試験装置であって、
前記定電流源部は、前記電子部品に流れている実電流値と設定電流値とを比較して、その両値の差を縮める負帰還制御部を有することを特徴とする電子部品の試験装置。 - バーンイン温度、バーンイン電圧およびバーンイン時間によって決定される所定の負荷量を設定し、前記負荷量と同量の負荷をかけるように電子部品に対してバーンインを行う電子部品の試験装置であって、
前記電子部品に印加する出力電圧を制御できる電源装置と、
前記電子部品に流れる電流値の測定を行う測定器と、
前記電源装置の動作を制御するバーンイン制御部と、
を有し、
前記バーンイン制御部は、前記電子部品に所定の電圧を印加するように前記電源装置を制御し、さらに、前記測定器で測定された前記電子部品に流れる電流値が所定の電流値より大きい場合は印加電圧を低く、小さい場合は印加電圧を高くするように前記電源装置を制御して前記電子部品を流れる電流値が一定となるようにしながら前記電子部品の温度を所定の温度からバーンイン温度にまで昇温させる昇温制御ステップと、バーンイン温度において前記電子部品に印加されている実印加電圧とバーンイン電圧とを比較し、その比較結果に基づいてバーンイン時間の補正演算を行い、その補正バーンイン時間に従い前記電子部品に対して前記バーンイン温度においてバーンインを行うバーンイン制御ステップとを実行するものである、ことを特徴とする電子部品の試験装置。 - 請求項4から6のいずれかに記載の電子部品の試験装置であって、
前記電子部品に定電流を流す前に、前記電子部品の温度を常温から所定の温度まで昇温する昇温機構を有することを特徴とする電子部品の試験装置。 - 請求項4から7のいずれかに記載の電子部品の試験装置であって、
複数の電子部品のそれぞれに定電流を同時に流すことができることを特徴とする電子部品の試験装置。
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