JP4042466B2 - メモリ診断装置及び制御装置 - Google Patents

メモリ診断装置及び制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4042466B2
JP4042466B2 JP2002129827A JP2002129827A JP4042466B2 JP 4042466 B2 JP4042466 B2 JP 4042466B2 JP 2002129827 A JP2002129827 A JP 2002129827A JP 2002129827 A JP2002129827 A JP 2002129827A JP 4042466 B2 JP4042466 B2 JP 4042466B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
abnormality
divided
vehicle
diagnosis
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002129827A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003323353A (ja
Inventor
浩 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2002129827A priority Critical patent/JP4042466B2/ja
Publication of JP2003323353A publication Critical patent/JP2003323353A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4042466B2 publication Critical patent/JP4042466B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、車両又は車両の一部を制御するための処理を行うコンピュータのメモリを診断する技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、例えば、車両のエンジンを制御する電子制御装置においては、そのエンジン制御のための処理をマイクロコンピュータ(以下、マイコンという)が行うようになっている。そして、このマイコンでは、RAMやROM等のメモリが正常であるか否かの診断を定期的に行い、正常でないと判断すると適切なフェイルセーフ処理を行うようになっている。
【0003】
例えば、特開2000−66963号公報には、RAMの記憶領域を複数に分割した各領域毎に順番に診断を行い、異常を検出した場合には、その異常に対処するための処理を行う技術が開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年の制御処理の複雑化等により、メモリに記憶されるデータ量が大きくなってきており、RAMの全領域を一通り診断するだけでもある程度の時間を要する。このため、上記公報の技術では、例えば、ある領域についての診断が完了した直後にその領域で異常が発生したとすると、他の全ての領域を診断して再びその領域が診断されるまでのしばらくの間は、その異常が検出されないこととなる。このため、異常の発生した領域に記憶されているデータが、異常となった際の対処に緊急性を要するものである場合には、その対処が遅れてしまうことが考えられる。
【0005】
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、メモリで発生した異常に対処するための処理の遅れを防止することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】
上記目的を達成するためになされた請求項1に記載のメモリ診断装置は、車両又は車両の一部を制御するための処理を行うコンピュータがその処理に用いるメモリの記憶領域の全部又は一部を診断対象として、この診断対象の領域を複数に分割した各分割領域毎に診断するものである。そして特に、本装置において、上記各分割領域を診断する頻度は、同じ頻度ではなく、その分割領域に記憶されるデータの異常が車両の安全性に与える影響の度合に応じて、その度合が大きいほど高くなるように設定されている。
【0009】
の構成によれば、車両の安全性に与える影響の度合が大きいデータ(即ち、車両の安全性の上でより早急な対処が要求されるデータ)であるほど、その異常の発生を早く検出することができるため、異常に対処するための処理の遅れを防止して車両の安全性を向上させることができる。
また、請求項2に記載のメモリ診断装置は、請求項1に記載のメモリ診断装置において、分割領域を更に複数に分割した各領域を、同じ頻度でかつ異なるタイミングで診断する。この構成によれば、1回の診断処理に要する時間を短くして、本来の制御のための処理への影響を小さくすることができる。
【0010】
一方、請求項に記載の制御装置は、車両又は車両の一部を制御するための処理を行うコンピュータを有したものであり、このコンピュータが処理に用いるメモリの記憶領域の全部又は一部を診断対象として、その診断対象の領域を複数に分割した各分割領域毎に診断する診断手段を備えている。そして、本装置では、診断手段が各分割領域を診断する頻度が、その分割領域に記憶されるデータの異常が車両の安全性に与える影響の度合に応じて、その度合が大きいほど高くなるように設定されている。この制御装置によれば、上記請求項の装置について述べた効果と同様に、車両の安全性を向上させることができる。
また、請求項4に記載の制御装置は、請求項3に記載の制御装置において、診断手段が、分割領域を更に複数に分割した各領域を、同じ頻度でかつ異なるタイミングで診断する。この構成によれば、1回の診断処理に要する時間を短くして、本来の制御のための処理への影響を小さくすることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明が適用された実施形態について、図面を用いて説明する。
まず図1は、実施形態の電子制御装置(以下、ECUという)1の構成を表すブロック図である。
【0012】
本実施形態のECU1は、自動車のエンジンを制御するものであり、マイコン3を備えている。そして、マイコン3は、プログラムを実行するCPU5と、CPU5により実行されるプログラム及びそのプログラムの実行時に参照される固定データ等が格納されたROM7と、CPU5によって演算されるデータが格納されるRAM9と、外部との入出力を行うためのI/Oインタフェース11と、それらを接続するバス13とを有している。
【0013】
また、ECU1には、各種センサ(スロットルポジションセンサ、吸気温センサ等)や各種スイッチからの信号をマイコン3に入力させる入力回路15と、マイコン3からの指令に応じてインジェクタやスロットル開度調節用モータ等の各種アクチュエータに駆動信号を出力する出力回路17と、自動車のバッテリ19からの電力を受けて、マイコン3、入力回路15及び出力回路17に一定の電源電圧Vddを供給する電源IC(以下、監視用ICともいう)21とが備えられている。
【0014】
尚、電源IC21は、マイコン3から所定時間以内毎にウォッチドッグパルスWDPが出力されない場合にそのマイコン3へリセット信号RSTを出力する、いわゆるウォッチドッグタイマ機能(暴走監視機能)を備えている。
次に、RAM9の記憶領域について説明する。
【0015】
図2に示すように、RAM9の記憶領域は、高ブロック、中ブロック及び低ブロックの3つのブロック(分割領域に相当)に分けられている。そして、RAM9に記憶されるべきデータも、当該データが異常となった際の車両の安全性に及ぶ影響の度合(以下、影響度という)に応じて3種類のグループに分類されており、影響度の高いグループから順に、高ブロック、中ブロック、低ブロックにそれぞれ記憶されるようになっている。以下、各ブロックに記憶されるデータについて説明する。
【0016】
高ブロックには、例えば、ROMチェック異常フラグや、監視用IC異常フラグ等のデータが記憶される。
ここで、ROMチェック異常フラグは、ROM7に記憶されているデータを診断した結果を、ROM7が正常であれば「0」、異常であれば「1」という値で表すものである。そして、CPU5は、このROMチェック異常フラグの値が「1」になったことを検出すると、その異常に対処するための処理を実行するようになっている。そのため、RAM9におけるROMチェック異常フラグの記憶領域に異常が生じた場合には、ROM7に異常が発生したにもかかわらず、ROMチェック異常フラグの記憶値が「0」のまま変わらず、その異常に対処するための処理が行われないといったことが起こり得る。そして、この場合には、マイコン3自体の動作が保証されなくなることから、自動車の安全性に与える影響度が極めて大きい。
【0017】
また、監視用IC異常フラグは、監視用IC21が正常であるか否かを、正常であれば「0」、異常であれば「1」という値で表すものである。ここで、監視用IC21が正常であるか否かは、例えば、監視用IC21からマイコン3へ定期的に信号が送られてくるようになっていれば、その信号が検出されているか否かにより判断することができる。そして、CPU5は、この監視用IC異常フラグの値が「1」になったことを検出すると、その異常に対処するための処理を実行するようになっている。そのため、RAM9における監視用IC異常フラグの記憶領域に異常が生じた場合には、監視用IC21に異常が発生したにもかかわらず、監視用IC異常フラグの記憶値が「0」のまま変わらず、その異常に対処するための処理が行われないといったことが起こり得る。そして、この場合にも、マイコン3自体の動作が保証されなくなることから、自動車の安全性に与える影響度が極めて大きい。
【0018】
一方、中ブロックには、例えば、スロットル全閉学習記憶値や、オーバラン判定フラグ等のデータが記憶される。
ここで、スロットル全閉学習記憶値は、スロットルバルブが全閉となっている状態でのスロットルポジションセンサの検出値を記憶したものである。そして、CPU5は、このスロットル全閉学習記憶値を用いて、スロットルポジションセンサの検出値を補正するようになっている。そのため、RAM9におけるスロットル全閉学習記憶値の記憶領域に異常が生じた場合には、スロットルポジションセンサの検出値が適正に補正されなくなり、例えば、スロットルバルブが全閉であるにもかかわらず開いていると判定されて燃料噴射量が最適値からずれてしまうといったことが起こり得る。この場合には、自動車の走行性能に影響することから、自動車の安全性に与える影響度が大きい。
【0019】
また、オーバラン判定フラグは、エンジンが許容回転数を超えて回転する異常が発生したか否かを、異常が発生していなければ「0」、異常が発生した場合には「1」という値で表すものである。そして、CPU5は、このオーバラン判定フラグの値が「1」になったことを検出すると、その異常に対処するための処理を実行するようになっている。そのため、RAM9におけるオーバラン判定フラグの記憶領域に異常が生じた場合には、エンジンが許容回転数を超えて回転する異常が発生しているにもかかわらず、オーバラン判定フラグの記憶値が「0」のまま変わらず、その異常に対処するための処理が行われないといったことが起こり得る。そして、この場合には、エンジンの故障を招くおそれがあることから、自動車の安全性に与える影響度が大きい。
【0020】
一方また、低ブロックには、例えば、吸気温センサ異常フラグや、始動時ISC(Idle Speed Control)補正量等のデータが記憶される。
ここで、吸気温センサ異常フラグは、吸気温センサが正常であるか否かを、正常であれば「0」、異常であれば「1」という値で表すものである。そして、CPU5は、この吸気温センサ異常フラグの値が「1」になったことを検出すると、その異常に対処するための処理を実行するようになっている。そのため、RAM9における吸気温センサ異常フラグの記憶領域に異常が生じた場合には、吸気温センサに異常が発生したにもかかわらず、吸気温センサ異常フラグの記憶値が「0」のまま変わらず、その異常に対処するための処理が行われないといったことが起こり得る。しかしながら、吸気温センサの検出値自体が燃料噴射量にそれほど影響しないため、この場合には、自動車の走行性能にあまり影響せず、自動車の安全性に与える影響度が小さい。
【0021】
また、始動時ISC補正量は、エンジン始動直後のアイドル回転数を補正するためのものである。そして、CPU5は、この始動時ISC補正量を用いて、アイドル回転数を補正するようになっている。そのため、RAM9における始動時ISC補正量の記憶領域に異常が生じた場合には、アイドル回転数が適正に補正されなくなるといったことが起こり得るが、自動車の走行性能にはあまり影響せず、自動車の安全性に与える影響度も小さい。
【0022】
次に、CPU5が行う処理について説明する。
CPU5は、4.1ms毎に、8ビットのカウンタをインクリメントする処理を行うようになっており、このカウンタの値に基づき、エンジン制御のための様々な時間同期処理を実行する。例えば、カウンタの値が「*******0」(「」内は2進数表示の値であり、*は0又は1の何れか)となる毎に実行する処理と、カウンタの値が「*******1」となる毎に実行する処理とは、4.1msずれたタイミングで、それぞれ8.2ms毎に実行されることとなる。
【0023】
また、CPU5は、こうした時間同期処理として、エンジン制御のための処理の他に、RAM9の記憶領域を診断するための診断処理を行う。具体的には、RAM9の高ブロックを診断する高ブロック診断処理と、中ブロックを診断する中ブロック診断処理と、低ブロックを診断する低ブロック診断処理とを、それぞれ異なる頻度で実行する。以下、各処理について説明する。
【0024】
まず、高ブロック診断処理について、図3のフローチャートを用いて説明する。尚、本高ブロック診断処理は、上述したカウンタの値が「*****111」となる毎(32.8ms毎)に実行される。
この高ブロック診断処理が開始されると、まずS100にて、RAM9の記憶領域のうち、高ブロックのミラーチェックを行う。ここで、ミラーチェックには、周知の手法が用いられる。例えば、次のような手順で行われる。
【0025】
即ち、まず、高ブロックを単位データ量の領域毎に区切り、その1つの領域(以下、単位領域という)に記憶されているデータを、一旦、別の記憶領域(例えば、CPU5内のレジスタ)へ待避させる。そして、この単位領域に、予め決められた診断用のデータを書き込んで、そのデータを読み出すことにより、データの書込み/読出しが正常に行えるか否かを判断する。その後、この単位領域に、待避させたデータを戻す。こうした処理を単位領域毎に行い、高ブロック全域を診断する。
【0026】
こうして、S100でのミラーチェックが終了すると、S110へ移行し、S100でのミラーチェックの結果、高ブロックにて異常が検出されたか否かを判定する。
そして、S110で異常が検出されなかったと判定した場合には、そのまま本高ブロック診断処理を終了する。
【0027】
一方、S110で異常が検出されたと判定した場合には、S120へ移行し、フェイルセーフ処理を実施した後、本高ブロック診断処理を終了する。ここで、フェイルセーフ処理としては、例えば、図示しないメータパネルに設けられる異常警告ランプを点灯させる処理等が挙げられる。
【0028】
尚、フェイルセーフ処理としてマイコン3をリセットするような構成であっても良い。即ち、本ECU1に、マイコン3をリセットするためのリセット回路を予め設けておき、マイコン3は、RAM9に異常が検出された際のフェイルセーフ処理として、上記リセット回路に自分をリセットしてもらうための依頼信号を出力する。このようにすれば、RAM9のデータが一時的に異常となっただけの場合に、そのまま復帰させることができる。一方、リセットしても再び同じ異常が検出されるようであれば、異常警告ランプを点灯させるようにしてもよい。
【0029】
次に、中ブロック診断処理について、図4のフローチャートを用いて説明する。尚、本中ブロック診断処理は、上述したカウンタの値が「****1011」となる毎に実行される。つまり、65.6ms毎に、前述した高ブロック診断処理(図3)とは異なるタイミングで実行されるようになっている。
【0030】
この中ブロック診断処理が開始されると、まずS200にて、RAM9の記憶領域のうち、中ブロックのミラーチェックを、前述したS100の処理と同様に行う。
続いて、S210では、S200でのミラーチェックの結果、中ブロックにて異常が検出されたか否かを判定する。
【0031】
そして、S210で異常が検出されなかったと判定した場合には、そのまま本中ブロック診断処理を終了する。
一方、S210で異常が検出されたと判定した場合には、S220へ移行し、前述したS120の処理と同様にフェイルセーフ処理を実施した後、本中ブロック診断処理を終了する。
【0032】
次に、低ブロック診断処理について、図5のフローチャートを用いて説明する。尚、本低ブロック診断処理は、上述したカウンタの値が「***10011」となる毎に実行される。つまり、131.2ms毎に、前述した高ブロック診断処理(図3)や中ブロック診断処理(図4)とは異なるタイミングで実行されるようになっている。
【0033】
この低ブロック診断処理が開始されると、まずS300にて、RAM9の記憶領域のうち、低ブロックのミラーチェックを、前述したS100の処理と同様に行う。
続いて、S310では、S300のミラーチェックの結果、低ブロックにて異常が検出されたか否かを判定する。
【0034】
そして、S310で異常が検出されなかったと判定した場合には、そのまま本低ブロック診断処理を終了する。
一方、S310で異常が検出されたと判定した場合には、S320へ移行し、前述したS120の処理と同様にフェイルセーフ処理を実施した後、本低ブロック診断処理を終了する。
【0035】
尚、本実施形態のECU1では、図3におけるS100の処理と、図4におけるS200の処理と、図5におけるS300の処理とが、診断手段に相当している。
以上のように、本実施形態のECU1では、RAM9の記憶領域を、記憶されるデータの異常が自動車の安全性に与える影響の大きいブロックほど高い頻度で診断する。よって、異常となった場合に早急なフェイルセーフ処理が要求されるデータであるほど、異常の発生を早く検出することができ、フェイルセーフ処理の遅れを防止して自動車の安全性を向上させることができる。
【0036】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、種々の形態を採り得ることは言うまでもない。
例えば、上記実施形態のECU1では、RAM9の診断を、高ブロック、中ブロック、低ブロックといった診断頻度の異なるブロック単位で行うようになっているが、これに限ったものではない。例えば、各ブロックを更に複数の領域に分割し、同一ブロックの各領域を、同じ頻度ではあるが異なるタイミングで診断することもできる。具体例を挙げると、高ブロックを第1領域、第2領域…というように複数の領域に分割し、上述したカウンタの値が「*****111」となる毎に第1領域を診断する診断処理を開始し、カウンタの値が「*****101」となる毎に第2領域を診断する診断処理を開始する、といった具合に行う。このようにすれば、1回の診断処理に要する時間を短くして、本来のエンジン制御のための処理への影響を小さくすることができる。
【0037】
また、上記実施形態のECU1では、RAM9の全領域を診断対象として診断を行うようになっているが、これに限ったものではない。例えば、RAM9に記憶されるべきデータのうち、重要度の高いデータのみを集めた領域(以下、クリティカル領域という)を設け、このクリティカル領域内のデータのみを診断するようにしても良い。そして、この場合にも、クリティカル領域を複数のブロックに分割して異なる頻度で診断するようにすれば、より重要度の高いデータが異常となった際の対処を即座に行うことができる。
【0038】
また更に、上記実施形態のECU1では、RAM9の診断について説明したが、例えば、ROM7についても同様の手法で診断することができる。即ち、ROM7の記憶領域を複数のブロックに分割して、各ブロックを異なる頻度で診断するのである。このようにすれば、RAM9の場合と同様に、重要なデータの異常を早急に検出して対処することができる。尚、ROM7については、サムチェック等によって診断すれば良い。
【0039】
一方、上記実施形態では、自動車のエンジンを制御するECU1に設けられるマイコン3のRAM9を診断する構成について説明したが、これに限ったものではなく、例えば、自動車に搭載される他のECUに適用できることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施形態のECUの構成を表すブロック図である。
【図2】 RAMの記憶領域を説明するための説明図である。
【図3】 高ブロック診断処理を表すフローチャートである。
【図4】 中ブロック診断処理を表すフローチャートである。
【図5】 低ブロック診断処理を表すフローチャートである。
【符号の説明】
1…ECU、3…マイコン、5…CPU、7…ROM、9…RAM、11…I/Oインタフェース、13…バス、15…入力回路、17…出力回路、19…バッテリ、21…電源IC(監視用IC)

Claims (4)

  1. 車両又は車両の一部を制御するための処理を行うコンピュータがその処理に用いるメモリの記憶領域の全部又は一部を診断対象として、該診断対象の領域を複数に分割した各分割領域毎に診断するメモリ診断装置であって、
    前記各分割領域を診断する頻度は、その分割領域に記憶されるデータの異常が前記車両の安全性に与える影響の度合に応じて、その度合が大きいほど高くなるように設定されていること、
    を特徴とするメモリ診断装置。
  2. 請求項1に記載のメモリ診断装置において、
    前記分割領域を更に複数に分割した各領域を、同じ頻度でかつ異なるタイミングで診断すること
    を特徴とするメモリ診断装置。
  3. 車両又は車両の一部を制御するための処理を行うコンピュータを有した制御装置であって、
    前記コンピュータが前記処理に用いるメモリの記憶領域の全部又は一部を診断対象として、該診断対象の領域を複数に分割した各分割領域毎に診断する診断手段を備え、
    前記診断手段が前記各分割領域を診断する頻度は、その分割領域に記憶されるデータの異常が前記車両の安全性に与える影響の度合に応じて、その度合が大きいほど高くなるように設定されていること、
    を特徴とする制御装置。
  4. 請求項3に記載の制御装置において、
    前記診断手段は、前記分割領域を更に複数に分割した各領域を、同じ頻度でかつ異なるタイミングで診断すること
    を特徴とする制御装置。
JP2002129827A 2002-05-01 2002-05-01 メモリ診断装置及び制御装置 Expired - Fee Related JP4042466B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002129827A JP4042466B2 (ja) 2002-05-01 2002-05-01 メモリ診断装置及び制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002129827A JP4042466B2 (ja) 2002-05-01 2002-05-01 メモリ診断装置及び制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003323353A JP2003323353A (ja) 2003-11-14
JP4042466B2 true JP4042466B2 (ja) 2008-02-06

Family

ID=29543120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002129827A Expired - Fee Related JP4042466B2 (ja) 2002-05-01 2002-05-01 メモリ診断装置及び制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4042466B2 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4220916B2 (ja) * 2004-02-24 2009-02-04 株式会社デンソー 半導体スイッチ
JP4736828B2 (ja) 2006-02-03 2011-07-27 株式会社デンソー 電子制御装置
JP5181713B2 (ja) * 2008-02-15 2013-04-10 日本精工株式会社 電動パワーステアリング装置
JP5504604B2 (ja) * 2008-10-16 2014-05-28 富士電機株式会社 Ram診断装置
JP2010155598A (ja) * 2008-12-05 2010-07-15 Nsk Ltd 電動パワーステアリング装置
JP5345412B2 (ja) * 2009-02-16 2013-11-20 日立オートモティブシステムズ株式会社 車両搭載機器の制御装置のメモリ診断装置
JP5397273B2 (ja) * 2010-03-01 2014-01-22 日本精工株式会社 電動パワーステアリング装置
JP5472199B2 (ja) * 2011-04-28 2014-04-16 日本精工株式会社 電動パワーステアリング装置
JP5874445B2 (ja) * 2012-03-01 2016-03-02 株式会社デンソー 異常診断装置
KR101470162B1 (ko) 2013-05-30 2014-12-05 현대자동차주식회사 메모리 스택 사이즈 모니터링 방법
JP6295928B2 (ja) * 2014-11-21 2018-03-20 株式会社デンソー 制御装置
WO2018079163A1 (ja) * 2016-10-26 2018-05-03 日立オートモティブシステムズ株式会社 車載制御装置
JP6838403B2 (ja) 2017-01-12 2021-03-03 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 処理装置
JP7024582B2 (ja) * 2017-11-22 2022-02-24 株式会社デンソー 車載制御装置
JP6943218B2 (ja) * 2018-04-20 2021-09-29 横河電機株式会社 故障検出装置、故障検出方法及び故障検出プログラム
JP2021120234A (ja) * 2018-04-26 2021-08-19 日立Astemo株式会社 車載制御装置
CN112053737B (zh) * 2020-08-21 2022-08-26 国电南瑞科技股份有限公司 一种在线并行处理的软错误实时检错与恢复方法及***

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003323353A (ja) 2003-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4042466B2 (ja) メモリ診断装置及び制御装置
JP4065790B2 (ja) 車載電子制御装置
JP4420944B2 (ja) 車載エンジン制御装置
JP3255693B2 (ja) 自動車のマルチコンピュータシステム
US8311700B2 (en) Control apparatus for vehicle
JP5967059B2 (ja) 車両用電子制御装置
US7013241B2 (en) Electronic control unit
WO2009090978A1 (ja) 車両用制御装置
JP4348950B2 (ja) 電子制御装置
EP2149691B1 (en) Method for learning a full closed position and vehicle operation controller
JP2000066963A (ja) マイコン用メモリの診断装置
EP2482149B1 (en) Electronic control unit
CN110872998A (zh) 用于验证cvvd位置学习结果的方法以及用于验证cvvd位置学习结果的cvvd***
JP3923810B2 (ja) 車両用電子制御装置
US7386714B2 (en) Transmitting data from a single storage unit between multiple processors during booting
JP3649452B2 (ja) 電子機器の制御装置
JP2002227662A (ja) 電子制御装置
US20030151490A1 (en) Method for monitoring the functioning of a control unit
JPH116461A (ja) エンジン制御装置およびその記録媒体
JPH1131011A (ja) 電子制御システムの故障検出装置
JPH03221808A (ja) エンジン用回転角センサの故障診断装置
JPH06305376A (ja) 車輌用制御装置
JPH1082340A (ja) スロットル制御一体型エンジン制御装置、及びエンジン制御プログラムを記録した媒体
JP3632498B2 (ja) 内燃機関のスロットル制御装置
JPH01134602A (ja) エンジン制御定数の学習制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040916

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070502

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070515

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070703

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071023

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4042466

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121122

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131122

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees