JP3970915B2 - 光学機能フィルムの製造方法 - Google Patents
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Description
た利点を有する液晶表示装置が多用されている。該液晶表示装置には、主たる構成要素で
ある液晶層以外にも、偏向、光学補償、反射防止等といった種々の光学機能を発揮する樹
脂層を備えた光学機能フィルムが用いられている。
しかし、光学機能フィルムを構成する樹脂層に厚みのムラがあると、透過光に干渉ムラ
が生じて光学機能フィルムの機能を低下させ、ひいては画像表示装置(例えば、液晶表示
装置等)の表示機能を低下させることとなる。
いた様々の塗工方式(例えば、特許文献1)により、樹脂を溶媒に溶解させてなる塗工液
を基材フィルム上に塗布し、乾燥等の工程を施すことによって製造されている。
ても薄層化と厚みの均一化が重要な要求事項となってきているが、従来の薄膜コーティン
グ技術においては、塗工液の粘度を数十mPa・sec以下の低粘度にしてレベリング効
果等を発揮させ、厚みの均一化を図っているにすぎない。
燥工程に移動するまでの間に、塗工液を塗布した基材フィルムの局所で樹脂流動が起こり
、その状態のまま樹脂が硬化してしまうと、塗布面にハジキによる輝点、局部的な樹脂層
の厚みの差による干渉ムラや位相差ムラなどが発生して外観不良を生じやすいという問題
を有している。従って、従来の塗工方法では、基材フィルム上に外観不良のない樹脂層を
形成することは困難である。
あるが、該ポリイミドを含む塗工液を従来の方法で塗工しようとする場合、単に該ポリイ
ミドを含有する塗工液の粘度を低下させるだけでは良好な外観を得ることができず、しか
も該ポリイミド特有の外観不良が発生するという問題もある。
あたり、ポリイミドを含む塗工液を薄く且つ均一な厚みを有するように塗工することによ
り、外観不良の少ない光学機能フィルムを提供することを一の課題とする。
プのうち、基材フィルムの進行方向における上流側(即ち、塗工前の基材フィルムが送ら
れてくる側)に配置されたダイリップをいい、下流側ダイリップとは、基材フィルムの進
行方向における下流側(即ち、塗工後の基材フィルムが次工程へと送られて行く側)に配
置されたダイリップをいう。
することにより、下流側ダイリップ先端にポリイミドが付着あるいは固化するのを防止し
、基材フィルム流れ方向にスジ状の塗工ムラが生じるのを有効に防止する。
さらに、一対のダイリップ先端に0<D1−D2≦200μmの段差を設けることによ
り、塗工液がダイリップ先端において基材フィルムの上流側へと膨出しつつ塗工が行われ
るため、塗工液と基材フィルムとの接触状態が良好に保たれ、しかも塗工液の脈動や基材
フィルムの速度変動による基材フィルム幅方向の塗工ムラを防止することができる。
ド層を備えた光学機能フィルムの製造方法であって、上流側ダイリップと下流側ダイリッ
プとを備えたダイコーターにより、ポリイミドを含有し粘度γが100<γ<3000m
Pa・sである塗工液を基材フィルム上に塗工して該基材フィルム上にポリイミド層を形
成する塗工工程を備え、前記上流側ダイリップの先端と前記基材フィルムとの距離をD1
、前記下流側ダイリップの先端と前記基材フィルムとの距離をD2とした場合に、D2≧
50μmであり、且つ0<D1−D2≦200μmであることを特徴とするものである。
を示したものである。
図1に示す如く、本実施形態において使用するダイコーター1は、基材フィルム2の進
行方向において上流側に配置された上流側ダイリップ11と、基材フィルム2の進行方向
において下流側に配置された下流側ダイリップ12とを備え、該上流側ダイリップ11と
該下流側ダイリップ12との隙間から吐出される塗工液4を基材フィルム2上に塗工する
ものである。
ール3の回転によって図中、右方向へと送られる。即ち、上流側ダイリップ11と下流側
ダイリップ12との隙間から吐出された塗工液4は、基材フィルム2と接触することによ
って該基材フィルム2の進行方向(下流側)へと導かれ、塗工膜を形成する。
イリップ11の先端と基材フィルム2との距離をD1とし、下流側ダイリップ12の先端
と基材フィルム2との距離をD2とした場合に、本発明において使用するダイコーター1
は、D2≧50μmであり、且つ0<D1−D2≦200μmとなるように構成される。
とすれば、塗工液4が十分な厚みを有した状態で下流側ダイリップ12の先端から基材フ
ィルム2の進行方向へと送られることとなり、該塗工液4に含まれるポリイミド量の均一
化、即ち、フィルム面内におけるポリイミドの分布状態を均一化することができる。D2
が50μm未満であれば、基材フィルム上に塗工された塗工液中に含まれるポリイミド量
が、基材フィルム面内において不均一となり、製造された光学機能フィルムに基材フィル
ムの進行方向に沿ったスジ状のムラを生じさせる結果となる。
D2の上限については特に制限されず、形成されるポリイミド膜の用途に応じて厚みを
調整することができるが、通常、300μm程度とする。
また、好ましくは、100≦D2≦250μmとし、より好ましくは150≦D2≦2
00μmとする。
1の先端と、下流側ダイリップ12の先端とが、0<D1−D2≦200μmをとなるよ
うな段差を有して構成されている。
このような段差を有することにより、ダイリップの隙間から吐出された塗工液4は、基
材フィルム2との距離が大きい上流側ダイリップ11側(即ち、基材フィルムの上流側)
へと膨らみながら基材フィルム2に塗工されるため、ダイリップの先端における塗工液4
と基材フィルム2との接触距離が長くなり、両者の接触状態が良好に保たれることとなる
。また、塗工液4が膨出することによって形成された塗工液4の液溜まりは、塗工液4が
吐出される際の脈動や、基材フィルム2の進行速度の変動による基材フィルム幅方向の塗
工ムラをなくし、外観不良を顕著に低減することができる。
上記のような段差は、好ましくは0<D1−D2≦150μmとし、より好ましくは1
0≦D1−D2≦120μm、更に好ましくは30≦D1−D2≦100μm、とする。
上流側ダイリップ11又は下流側ダイリップ12の少なくとも何れか一方の内面先端辺をR加工することにより、ダイリップ先端から吐出される塗工液が安定し、塗工膜の厚みがより一層均一化されるという効果がある。
特に、下流側ダイリップにR加工が施された場合には、塗工液の流れがより一層安定化し、塗工膜の厚みがさらに均一化されやすいという効果がある。このような効果は、塗工液の粘度γが大きい場合に発揮されやすく、該粘度γが100mPa・sを超える場合に顕著となり、該粘度γが180mPa・sを超える場合により一層顕著となる。
が、0.1〜5.0mmが好ましく、0.5〜3.0mmがより好ましい。
該ダイリップの先端幅を0.1mm以上とすれば、ダイを作製する際の加工精度の点で
好ましく、また、塗工時にダイリップ先端部分の欠けが発生する虞もない。また、該ダイ
リップの先端幅を10.0mm以下とすれば、ダイリップ先端での塗工液の流れが安定化
され、その結果、得られた光学機能フィルムの外観がより一層良好となる。
m/minであり、好ましくは10〜100m/minとし、より好ましくは10〜50
m/minとする。
基材フィルムの走行スピードを10〜300m/minの範囲内とすることにより、ダ
イリップ先端部から吐出される塗工液が基材フィルム上に良好に塗工され、ポリイミド層
の膜厚がさらに均一化されるという効果がある。
溶なポリイミドが好ましい。具体的には、例えば、特表2000−511296号公報に
開示された、9,9-ビス(アミノアリール)フルオレンと芳香族テトラカルボン酸二無水物
との縮合重合生成物を含み、下記式(1)に示す繰り返し単位を1つ以上含むポリマーを
好適に使用できる。
又は炭素数1〜10のアルキル基で置換されたフェニル基、及び炭素数1〜10のアルキ
ル基からなる群からそれぞれ独立に選択される少なくとも一種類の置換基である。好まし
くはR3〜R6は、ハロゲン、フェニル基、1〜4個のハロゲン原子又は炭素数1〜10の
アルキル基で置換されたフェニル基、及び炭素数1〜10のアルキル基からなる群からそ
れぞれ独立に選択される少なくとも一種類の置換基である。
ピロメリット基、多環式芳香族基、多環式芳香族基の誘導体、又は、下記式(2)で表さ
れる基である。
i(C2H5)2基、又は、NR8基であり、複数の場合、それぞれ同一であるか又は異なる。
また、wは、1〜10までの整数を表す。R7は、それぞれ独立に、水素又はC(R9)3であ
る。R8は、水素、炭素数1〜20のアルキル基、又は炭素数6〜20のアリール基であり
、複数の場合、それぞれ同一であるか又は異なる。R9は、それぞれ独立に、水素、フッ素
、又は塩素である。
はアントラセンから誘導される4価の基を挙げることができる。また、前記多環式芳香族
基の置換誘導体としては、例えば、炭素数1〜10のアルキル基、そのフッ素化誘導体、
及びFやCl等のハロゲンからなる群から選択される少なくとも一つの基で置換された前記
多環式芳香族基を挙げることができる。
記一般式(3)又は(4)で示されるホモポリマーや、繰り返し単位が下記一般式(5)で示さ
れるポリイミド等を挙げることができる。尚、下記式(5)のポリイミドは、下記式(3)の
ホモポリマーの好ましい態様である。
2基、C(CX3)2基(ここで、Xは、ハロゲンである。)、CO基、O原子、S原子、SO2基、Si(CH2
CH3)2基、及び、N(CH3)基からなる群から、それぞれ独立して選択される基を表し、それ
ぞれ同一でも異なってもよい。
えば、ハロゲン、炭素数1〜3のアルキル基、炭素数1〜3のハロゲン化アルキル基、フ
ェニル基、又は、置換フェニル基であり、複数の場合、それぞれ同一であるか又は異なる
。前記置換フェニル基としては、例えば、ハロゲン、炭素数1〜3のアルキル基、及び炭
素数1〜3のハロゲン化アルキル基からなる群から選択される少なくとも一種類の置換基
を有する置換フェニル基を挙げることができる。また、前記ハロゲンとしては、例えば、
フッ素、塩素、臭素又はヨウ素を挙げることができる。dは、0〜2までの整数であり、e
は、0〜3までの整数である。
水素、ハロゲン、アルキル基、置換アルキル基、ニトロ基、シアノ基、チオアルキル基、
アルコキシ基、アリール基、置換アリール基、アルキルエステル基、及び置換アルキルエ
ステル基からなる群から選択される原子又は基であって、Qが複数の場合、それぞれ同一
であるか又は異なる。前記ハロゲンとしては、例えば、フッ素、塩素、臭素及びヨウ素を
挙げることができる。前記置換アルキル基としては、例えば、ハロゲン化アルキル基を挙
げることができる。
また前記置換アリール基としては、例えば、ハロゲン化アリール基を挙げることができ
る。fは、0〜4までの整数であり、g及びhは、それぞれ0〜3及び1〜3までの整数で
ある。また、g及びhは、1より大きいことが好ましい。
ル基、及び置換アルキル基からなる群から、それぞれ独立に選択される基である。
その中でも、R10及びR11は、それぞれ独立に、ハロゲン化アルキル基であることが好ま
しい。
3のアルキル基、炭素数1〜3のハロゲン化アルキル基、フェニル基、又は、置換フェニ
ル基である。
前記ハロゲンとしては、例えば、フッ素、塩素、臭素及びヨウ素を挙げることができる
。
また、前記置換フェニル基としては、例えば、ハロゲン、炭素数1〜3のアルキル基、
及び炭素数1〜3のハロゲン化アルキル基からなる群から選択される少なくとも一種類の
置換基を有する置換フェニル基を挙げることができる。
を挙げることができる。
二無水物やジアミンを、適宜共重合させたコポリマーを挙げることができる。
きる。
前記芳香族テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、ベ
ンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、複素環
式芳香族テトラカルボン酸二無水物、2,2'−置換ビフェニルテトラカルボン酸二無水物等
を挙げることができる。
ニルピロメリット酸二無水物、3,6-ビス(トリフルオロメチル)ピロメリット酸二無水物、
3,6-ジブロモピロメリット酸二無水物、3,6-ジクロロピロメリット酸二無水物等を挙げる
ことができる。前記ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、3,3',4
,4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3',4'-ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸二無水物、2,2',3,3'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物等を挙げることがで
きる。前記ナフタレンテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、2,3,6,7-ナフタレン
-テトラカルボン酸二無水物、1,2,5,6-ナフタレン-テトラカルボン酸二無水物、2,6-ジク
ロロ-ナフタレン-1,4,5,8-テトラカルボン酸二無水物等を挙げることができる。前記複素
環式芳香族テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、チオフェン-2,3,4,5-テトラカ
ルボン酸二無水物、ピラジン-2,3,5,6-テトラカルボン酸二無水物、ピリジン-2,3,5,6-テ
トラカルボン酸二無水物等を挙げることができる。
前記2,2'-置換ビフェニルテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、2,2'-ジブロモ
-4,4',5,5'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2'-ジクロロ-4,4',5,5'-ビフェニ
ルテトラカルボン酸二無水物、2,2'-ビス(トリフルオロメチル)-4,4',5,5'-ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物等を挙げることができる。
ニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス
(2,5,6-トリフルオロ-3,4-ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、2,2-ビス(3,4-ジカル
ボキシフェニル)-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン二無水物、4,4'-(3,4-ジカルボキ
シフェニル)-2,2-ジフェニルプロパン二無水物、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)エーテ
ル二無水物、4,4'-オキシジフタル酸二無水物、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)スルホ
ン酸二無水物(3,3',4,4'-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物)、4,4'-[4,4'-
イソプロピリデン-ジ(p-フェニレンオキシ)]ビス(フタル酸無水物)、N,N-(3,4-ジカルボ
キシフェニル)-N-メチルアミン二無水物、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)ジエチルシラ
ン二無水物等を挙げることができる。
ルテトラカルボン酸二無水物が好ましく、より好ましくは、2,2'-ビス(トリハロメチル)-
4,4',5,5'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物であり、さらに好ましくは、2,2'-ビス(
トリフルオロメチル)-4,4',5,5'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物である。
、ベンゼンジアミン、ジアミノベンゾフェノン、ナフタレンジアミン、複素環式芳香族ジ
アミン、及びその他の芳香族ジアミンを挙げることができる。
ミノトルエン、1,4-ジアミノ-2-メトキシベンゼン、1,4-ジアミノ-2-フェニルベンゼン及
び1,3-ジアミノ-4-クロロベンゼンのようなベンゼンジアミンから成る群から選択される
ジアミン等を挙げることができる。前記ジアミノベンゾフェノンの例としては、2,2'-ジ
アミノベンゾフェノン、及び3,3'-ジアミノベンゾフェノン等を挙げることができる。前
記ナフタレンジアミンとしては、例えば、1,8-ジアミノナフタレン、及び1,5-ジアミノナ
フタレン等を挙げることができる。前記複素環式芳香族ジアミンの例としては、2,6-ジア
ミノピリジン、2,4-ジアミノピリジン、及び2,4-ジアミノ-S-トリアジン等を挙げること
ができる。
ジアミノジフェニルメタン、4,4'-(9-フルオレニリデン)-ジアニリン、2,2'-ビス(トリフ
ルオロメチル)-4,4'-ジアミノビフェニル、3,3'-ジクロロ-4,4'-ジアミノジフェニルメタ
ン、2,2'-ジクロロ-4,4'-ジアミノビフェニル、2,2',5,5'-テトラクロロベンジジン、2,2
-ビス(4-アミノフェノキシフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2
,2-ビス(4-アミノフェニル)-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、4,4'-ジアミノジフ
ェニルエーテル、3,4'-ジアミノジフェニルエーテル、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベ
ンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼ
ン、4,4'-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4'-ビス(3-アミノフェノキシ)ビフェ
ニル、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェ
ノキシ)フェニル)−1,1,1,3,3,3-へキサフルオロプロパン、4,4'-ジアミノジフェニルチ
オエーテル、4,4'-ジアミノジフェニルスルホン等を挙げることができる。
IBK)を添加することが好ましい。MIBKを用いることにより、塗工液中のポリイミ
ド濃度を高めた場合にも十分にこれを溶解させることができ、ダイリップ先端から塗工液
をスムーズに吐出させて基材フィルム上に均一な濃度分布でポリイミド膜を形成すること
ができる。
め、ダイリップ先端から吐出された塗工液は、ゆっくりと時間をかけて乾燥されることと
なる。これにより、下流側ダイリップ先端においてポリイミドが付着又は固化することを
防止でき、基材フィルムの流れ方向に沿ったスジ状の塗りムラが発生することを防止でき
る。
して多用されているトリアセチルセルロース(以下、「TAC」とも称する)に対しては
、殆ど溶解能を発揮することがなく、TAC製の基材フィルムを使用する場合には、基材
フィルムの侵食による外観不良を防止できるという効果もある。
とすることがより好ましく、10〜13.5重量%とすることがさらに好ましい。
ポリイミド濃度をこのような範囲内とすることにより、塗工液の粘度が好ましい値とな
り、上述のように規定されたD2(下流側ダイリップ先端と基材フィルムとの距離)の場
合において、基材フィルム2上に均一な濃度分布のポリイミド層5を形成することが可能
となる。
であり、より好ましくは100<γ<1000mPa・sであり、特に好ましくは180
<γ<850mPa・sである。
尚、塗工液の粘度は、実施例記載の方法により測定される。
しては特に限定はないが、紫外線吸収剤、劣化防止剤(例えば、酸化防止剤、過酸化物分
解剤、ラジカル禁止剤、金属不活性剤、酸捕獲剤、アミン)、可塑剤、帯電防止剤等のほ
か、基材フィルムとの密着性を確保するためなど、任意の目的を満たす添加剤を添加する
ことができる。
、ポリイミドを含有した層(本明細書において、単に「ポリイミド層」という場合もある
)となる。乾燥後のポリイミド層の厚みdは、d≦30μmであることが好ましく、d≦
10μmであることがより好ましく、d≦5μmであることが特に好ましい。
ポリイミド層の厚みdが30μmを越えると、乾燥工程において乾燥ムラや発泡による
外観不良が生じるおそれがある。
尚、ポリイミド層の厚みは、基材フィルムの走行速度や塗工液の供給速度を調整するこ
とによって調整することができる。
レート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系ポリマー、ジアセチルセルロース
、トリアセチルセルロース等のセルロース系ポリマー、ポリカーボネート系ポリマー、ポ
リメチルメタクリレート等のアクリル系ポリマー等の透明ポリマーからなるフィルムを挙
げることができる。
また、ポリスチレン、アクリロニトリル−スチレン共重合体等のスチレン系ポリマー、
ポリエチレン、ポリプロピレン、環状ないしノルボルネン構造を有するポリオレフィン、
エチレン−プロピレン共重合体等のオレフィン系ポリマー、塩化ビニル系ポリマー、ナイ
ロンや芳香族ポリアミド等のアミド系ポリマー等の透明ポリマーからなるフィルムも挙げ
ることができる。
さらにイミド系ポリマー、スルホン系ポリマー、ポリエーテルスルホン系ポリマー、ポ
リエーテルエーテルケトン系ポリマー、ポリフェニレンスルフィド系ポリマー、ビニルア
ルコール系ポリマー、塩化ビニリデン系ポリマー、ビニルブチラール系ポリマー、アリレ
ート系ポリマー、ポリオキシメチレン系ポリマー、エポキシ系ポリマーや前記ポリマーの
ブレンド物等の透明ポリマーからなるフィルムなども挙げることができる。特に光学的に
複屈折の少ないものが好適に用いられる。
ロース等のセルロース系ポリマーからなるフィルムが好ましく、特にトリアセチルセルロ
ースフィルムが好適である。
本発明では、下流側ダイリップ先端と基材フィルムとの距離D2を50μm以上とする
ことによって塗工液の厚みが増し、基材フィルムと溶媒との接触時間が長くなる傾向にあ
るが、トリアセチルセルロースフィルムを基材フィルムとして酢酸エチル等の一般的な溶
媒を使用した場合、該トリアセチルセルロースフィルムに悪影響を及ぼすことが懸念され
る。しかしながら、塗工液の溶媒としてメチルイソブチルケトンを用いた場合には、該ト
リアセチルセルロースフィルムの溶解といった悪影響も回避され、外観不良の発生を防止
することができる。
観点から10〜500μm程度が一般的であり、20〜300μmが好ましく、30〜2
00μmがより好ましい。
液を塗工することも可能である。該樹脂層としては、前記基材フィルム上にポリウレタン
系樹脂溶液(溶解液、分散液を含む)を、好ましくは直接塗布し、乾燥させることにより
形成されてなる密着層が挙げられる。
ポリウレタン系樹脂溶液が塗布されてなる密着層を形成しておくことにより、基材フィ
ルム表面上の微細な凹凸やうねりによる位相差値に与える影響を緩和することができる。
レタン、水分散系ポリエステルウレタン、溶剤系ポリエステルウレタン)、ポリエーテル
系ウレタン、ポリカーボネート系ウレタン等を挙げることができる。これらのポリウレタ
ン系樹脂は、自己乳化型又は強制乳化型のものであっても良い。これらのポリウレタンの
中でもポリエステル系ポリウレタンが好ましい。
これらのポリウレタン系樹脂は、一般的にポリオールとポリイソシアネートとから製造
される。
のポリオール等を挙げることができる。
ては、例えば、リシノール酸、オキシカプロン酸、オキシカプリン酸、オキシウンデカン
酸、オキシリノール酸、オキシステアリン酸、オキシヘキサンデセン酸のヒドロキシ含有
長鎖脂肪酸等を挙げることができる。脂肪酸と反応するポリオールとしては、エチレング
リコール、プロピレングリコール、ブチレングリコール、ヘキサメチレングリコール及び
ジエチレングリコール等のグリコール、グリセリン、トリメチロールプロパン及びトリエ
タノールアミン等の3官能ポリオール、ジグリセリン及びペンタエリスリトール等の4官
能ポリオール、ソルビトール等の6官能ポリオール、シュガー等の8官能ポリオール、こ
れらのポリオールに相当するアルキレンオキサイドと脂肪族、脂環族、芳香族アミンとの
付加重合物や、該アルキレンオキサイドとポリアミドポリアミンとの付加重合物等を挙げ
ることができる。
プロピレングリコール、ジプロピレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブ
タンジオール、4,4’−ジヒドロキシフェニルプロパン、4,4’−ジヒドロキシフェ
ニルメタン等の2価アルコ−ルあるいはグリセリン、1,1,1−トリメチロ−ルプロパ
ン、1,2,5−ヘキサントリオ−ル、ペンタエリスリト−ル等の3価以上の多価アルコ
−ルと、エチレンオキサイド、プロピレンオキサイド、ブチレンオキサイド、α−オレフ
ィンオキサイド等のアルキレンオキサイドとの付加重合物等を挙げることができる。
ポリオ−ル、ポリブタジエンポリオ−ル、ポリイソプレンポリオ−ル、水素添加ポリブタ
ジエンポリオ−ル、AN(アクリロニトリル)やSM(スチレンモノマ−)を前記した炭
素−炭素ポリオ−ルにグラフト重合したポリオ−ル、ポリカ−ボネ−トポリオ−ル、PT
MG(ポリテトラメチレングリコ−ル)等を挙げることができる。
−ト、脂環式ポリイソシアネ−ト等を挙げることができる。芳香族ポリイソシアネ−トと
しては、例えば、ジフェニルメタンジイソシアネ−ト(MDI)、ポリメチレンポリフェ
ニレンポリイソシアネ−ト(粗MDI)、トリレンジイソシアネ−ト(TDI)、ポリト
リレンポリイソシアネ−ト(粗TDI)、キシレンジイソシアネ−ト(XDI)、ナフタ
レンジイソシアネ−ト(NDI)等を挙げることができる。脂肪族ポリイソシアネ−トと
しては、ヘキサメチレンジイソシアネ−ト(HDI)等を挙げることができる。脂環式ポ
リイソシアネ−トとしては、イソホロンジイソシアネ−ト(IPDI)等を挙げることが
できる。この他に、上記ポリイソシアネ−トをカルボジイミドで変性したポリイソシアネ
−ト(カルボジイミド変性ポリイソシアネ−ト)、イソシアヌレ−ト変性ポリイソシアネ
−ト、ウレタンプレポリマ−(例えばポリオ−ルと過剰のポリイソシアネ−トとの反応生
成物であってイソシアネ−ト基を分子末端にもつもの)等を挙げることができる。これら
は単独あるいは混合物として使用してもよい。
混合溶媒が挙げられる。有機溶媒としては、メチルエチルケトン、イソプロピルアルコー
ル、トルエン、N−メチルピロリドン(NMP)、メチルイソブチルケトン等を挙げるこ
とができる。
れるが、基材への塗布性(異物混入、塗布時のムラやスジの虞)を考慮すると、通常、5
〜50重量%、好ましくは10〜40重量%が好ましい。5重量%未満であると、溶液粘
度が低すぎるため所定の膜厚まで1回で塗布することが困難となり、50重量%を越える
と溶液粘度が高すぎるために、塗布面が荒れるなどの不具合が発生する場合がある。
小さいと、十分な密着性が得られない虞があり、また、10μmよりも大きい場合には、
薄型、軽量化という点で問題がある。更に、10μmを越えると、密着層それ自体が複屈
折性を持つ虞があり、所望の複屈折性を呈する光学機能フィルムが得られないという虞が
ある。
、特に限定されず、スピンコート法、ロールコート法、ダイコート法、ブレードコート法
等の従来周知の方法を採用することができる。これらの方法により前記溶液を基材フィル
ム上に、所望の厚さとなるように塗布した後、乾燥させることにより密着層を形成するこ
とができる。
乾燥温度は、溶媒の種類等に応じて適宜決定することができるが、通常、80〜200
℃、好ましくは100〜150℃とすることができる。乾燥は一定温度下で行っても良い
し段階的に温度を上昇させて行ってもよい。
乾燥時間は、通常、5〜30分間、好ましくは10〜20分間とすることができる。5
分未満であると、溶媒が多量に残って製品の信頼性に問題を生じる場合があり、30分を
越えると工業生産性に適しない。
用途に応じて、乾燥工程、延伸工程、他の樹脂層を積層する工程、又は各種の表面処理工
程等を組み合わせることにより、目的とする光学機能フィルムを作製することができる。
のハジキによる輝点、基材フィルムの進行方向(即ち、長手方向)又は幅方向における厚
みムラが極めて少なく、外観不良が大幅に低減されたものとなる。
偏光素子としては特に制限されず、従来公知の方法により、各種フィルムに、ヨウ素や二色性染料等の二色性物質を吸着させて染色し、延伸、架橋、乾燥することによって調製したもの等が使用できる。中でも、自然光を入射させると直線偏光を透過するフィルムが好ましく、光透過率や偏光度に優れるものが好ましい。前記二色性物質を吸着させる各種フィルムとしては、例えば、ポリビニルアルコール(PVA)系フィルム、部分ホルマール化PVA系フィルム、エチレン・酢酸ビニル共重合体系部分ケン化フィルム、セルロース系フィルム等の親水性高分子フィルム等が挙げられ、これらの他にも、例えば、PVAの脱水処理物やポリ塩化ビニルを塩酸処理等したポリ塩化ビニル系配向フィルムなども使用できる。これらの中でも、好ましくはPVA系フィルムである。また、前記偏光素子の厚みは、通常、1〜80μmの範囲であるが、この範囲には限定されない。
来公知の方法によって行うことができる。一般には、粘着剤や接着剤等が使用でき、その
種類は、位相差フィルムの材質等によって適宜決定できる。前記接着剤としては、例えば
、アクリル系、ビニルアルコール系、シリコーン系、ポリエステル系、ポリウレタン系、
ポリエーテル系等のポリマー製感圧接着剤や、ゴム系感圧接着剤が挙げられる。また、グ
ルタルアルデヒド、メラミン、シュウ酸等のビニルアルコール系ポリマーの水溶性架橋剤
等から構成される接着剤等も使用できる。これらの接着剤や粘着剤としては、例えば、温
度や熱の影響によっても剥がれ難く、光透過率や偏光度にも優れるものが好ましい。具体
的には、前記偏光素子がPVA系フィルムの場合、例えば、接着処理の安定性等の点から
、PVA系接着剤が好ましい。これらの接着剤や粘着剤は、例えば、偏光素子や透明保護
フィルムの表面に塗布してもよいし、前記接着剤や粘着剤から構成されたテープやシート
のような層を前記表面に配置してもよい。
粘度は、Haake社製、レオメーターRS1を用い、液温23℃、剪断速度10[l/s]で測定した。
基材フィルムの走行スピードは、レーザードップラー方式の日本カノマックス(株)、商品名「レーザースピードシステム MODEL LS200」を用いて測定した。
(株)尾崎製作所製、ダイヤルゲージを用いて測定した。
メチルイソブチルケトンにポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=140,000)を10重量%溶解させ、粘度200mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とし、図2に示したような構成のスリットダイコーター(D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップ先端幅0.8mm)を用い、走行スピード20m/minで走行する基材フィルムとしてのポリエチレンテレフタレートフィルム(厚み75μm)上に該塗工液を塗布し、塗布後、120℃で3分間乾燥させてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図6に、参考例1で得られた試験フィルムの平面写真を示す。図6に示したように、得られた試験フィルムは、部分的には、ポリイミド層の厚みムラにより生じる緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かに確認されるのの、全体としては、目視で感知される該干渉ムラは皆無であり、とても優れた外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=30μm、ダイリップ先端幅0.8mmであるものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図7に、参考例2で得られた試験フィルムの平面写真を示す。図7に示したように、得られた試験フィルムでは、ポリイミド層の厚みムラにより生じる干渉ムラは殆ど確認されず、外観の良好なフィルムが得られていることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=60μm、D1−D2=10μm、ダイリップ先端幅0.8mmであるものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図8に、参考例3で得られた試験フィルムの平面写真を示す。図8に示したように、得られた試験フィルムは、部分的には、ポリイミド層の厚みムラにより生じる緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かに確認されるのの、全体としては、目視で感知される該干渉ムラは皆無であり、とても優れた外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=−20μm、ダイリップ先端幅0.8mmであるものを使用すること以外は参考例1と同様にして試験フィルムの作製を試みた。
しかしながら、ダイリップの先端から吐出された塗工液は、基材フィルム上に塗工膜として塗布することができなかった。
スリットダイコーターとして、D2=30μm、D1−D2=30μm、ダイリップ先端幅0.8mmであるものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図9に、比較例2で得られた試験フィルムの平面写真を示す。図9に示したように、得られた試験フィルムでは、ポリイミド層に基材フィルム幅方向(図9における縦方向)の干渉ムラが生じており、外観不良が生じていることが確認された。
基材フィルムとしてトリアセチルセルロースフィルム(厚み80μm)を用いること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図10に、参考例4で得られた試験フィルムの平面写真を示す。図10に示したように、得られた試験フィルムは、部分的に緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かに確認されるものの、他の部分では目視で感知される該干渉ムラは皆無であり、とても優れた外観であることが確認された。
溶媒として酢酸エチルを用いた塗工液を使用すること以外は参考例4と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
図11に、参考例5で得られた試験フィルムの平面写真を示す。参考例5で得られた試験フィルムでは、従来の酢酸エチルを用いたフィルムよりは外観不良が改善されたものであった。即ち、基材フィルムであるトリアセチルセルロースフィルムが酢酸エチルに溶解したことにより、図11に示すようなスジ状の干渉ムラが生じているが、実用上問題のない良好な外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を10.7重量%溶解させ、粘度110mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、部分的には基材フィルムの進行方向に沿って多少のスジ状の干渉ムラが認められたものの実用上は全く問題のない良好な外観であり、他の部分については緩やかな該干渉ムラが僅かながら確認される程度の優れた外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を12.5重量%溶解させ、粘度267mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例6と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、全く干渉ムラがなく、極めて優れた外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を15.2重量%溶解させ、粘度593mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例6と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って多少のムラが認められたものの、実用上は全く問題のない良好な外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を8.4重量%溶解させ、粘度104mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って多少のスジ状の干渉ムラが認められたものの、実用上は全く問題のない良好な外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を11.1重量%溶解させ、粘度320mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例9と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、全く干渉ムラがなく、極めて優れた外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を12.9重量%溶解させ、粘度829mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例9と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、全く干渉ムラがなく、極めて優れた外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を15.2重量%溶解させ、粘度2051mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液とすること以外は参考例9と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って多少のスジ状の干渉ムラが認められたものの、実用上は全く問題のない良好な外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=100μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かながら確認される程度の、優れた外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=210μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムの作成を試みた。
ダイリップ先端から吐出された塗工液を基材フィルム上に塗工膜として塗布することができなかった。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=0μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、実用上問題のない良好な外観の部分もあるが、所々に目立った強いスジ状の干渉ムラが生じている部分があり、あまり良好ではない外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例1の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=30μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例2と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例2の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=60μm、D1−D2=10μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例3と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、部分的に緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かに確認されるものの、他の部分では目視で感知される該干渉ムラは皆無であり、とても優れた外観であることが確認された。これは、参考例3の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=−20μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムの作成を試みた。
ダイリップ先端から吐出された塗工液を基材フィルム上に塗工膜として塗布することができなかった。
スリットダイコーターとして、D2=30μm、D1−D2=30μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、全面に細かいスジ状の干渉ムラと、所々に太いスジ状の干渉ムラがはっきりと確認されるような、極めて悪い外観であることが確認された。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用し、さらに、基材フィルムとしてトリアセチルセルロースフィルム(厚み75μm)を使用すること以外は参考例4と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例4の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
溶媒としてメチルイソブチルケトンに代えて酢酸エチルを使用し、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用し、さらに、基材フィルムとしてトリアセチルセルロースフィルム(厚み75μm)を使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、多少のスジ状の干渉ムラが確認されるものの、実用上問題のない良好な外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を10.7重量%溶解させ、粘度110mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例6と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かながら確認される程度の、優れた外観であることが確認された。これは、参考例6の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を12.5重量%溶解させ、粘度267mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例7と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例7の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=102,000)を15.2重量%溶解させ、粘度593mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例8と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、基材フィルムの進行方向に沿って緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かながら確認される程度の、優れた外観であることが確認された。これは、参考例8の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を8.4重量%溶解させ、粘度104mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例9と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、部分的には多少のスジ状の干渉ムラが確認されるが、その他の部分は緩やかな該干渉ムラが僅かながら確認される程度の良好な外観であることが確認された。これは、参考例9の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を11.1重量%溶解させ、粘度320mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例10と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例10の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を12.9重量%溶解させ、粘度829mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例11と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例11の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=145,000)を15.2重量%溶解させ、粘度2051mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例12と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、部分的には多少のスジ状の干渉ムラが確認されるが、その他の部分は緩やかな該干渉ムラが僅かながら確認される程度の良好な外観であることが確認された。これは、参考例12の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.3mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例1の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=30μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.3mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例2と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無であり、極めて優れた外観であることが確認された。これは、参考例2の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。これは、参考例2の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
スリットダイコーターとして、D2=60μm、D1−D2=10μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.3mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例3と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、部分的に緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かに確認されるものの、他の部分では目視で感知される該干渉ムラは皆無であり、とても優れた外観であることが確認された。これは、参考例3の如くR加工をしなかった場合と比較しても、さらに優れた外観であった。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=85,000)を10重量%溶解させ、粘度80mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、実用上問題のない良好な外観の部分もあるが、所々に目立った強いスジ状の干渉ムラが生じている部分があり、あまり良好ではない外観であることが確認された。
ポリイミド(前記式(6)、重量平均分子量Mw=55,000)を10重量%溶解させ、粘度20mPa・secのポリイミド溶液を調製した。該ポリイミド溶液を塗工液として使用し、また、スリットダイコーターとして、D2=100μm、D1−D2=50μm、ダイリップの間隔0.8mm、下流側ダイリップの内面先端辺に曲率半径0.5mmのR加工が施されているものを使用すること以外は参考例1と同様にしてポリイミド層の厚みが3μmの試験フィルムを得た。
得られた試験フィルムは、所々に目立った強いスジ状の干渉ムラが生じている部分があり、悪い外観であることが確認された。
評価5:目視で感知されるスジ状の干渉ムラは皆無である、極めて優れた外観
評価4:緩やかなスジ状の干渉ムラが僅かながら確認される程度の、優れた外観
評価3:多少のスジ状の干渉ムラが確認されるものの実用上問題のないような良好な外観
評価2:所々に目立つ強いスジ状の干渉ムラがあり、実用上問題のある悪い外観
評価1:全面に細かいスジ状の干渉ムラが確認され、所々に太いスジ状の干渉ムラがはっきりと確認される極めて悪い外観
尚、評価はフィルム全体として行い、部分的に異なる複数の評価(例えば評価2と評価3)が混在している場合には、それらの中間値(例えば評価2.5)として示した。
Claims (4)
- ポリイミド層を備えた光学機能フィルムの製造方法であって、
上流側ダイリップと下流側ダイリップとを備えたダイコーターにより、ポリイミドを含有し粘度γが100<γ<3000mPa・sである塗工液を基材フィルム上に塗工して該基材フィルム上にポリイミド層を形成する塗工工程を備え、
前記上流側ダイリップの先端と前記基材フィルムとの距離をD1、
前記下流側ダイリップの先端と前記基材フィルムとの距離をD2とした場合に、
D2≧50μmであり、且つ0<D1−D2≦200μmであるとともに、
前記下流側ダイリップの内面先端辺に、曲率半径0.2〜1.0mmのR加工が施されていることを特徴とする光学機能フィルムの製造方法。 - 前記塗工液がメチルイソブチルケトンを含有することを特徴とする請求項1記載の光学機能フィルムの製造方法。
- 前記塗工液のポリイミド濃度が5〜20重量%であることを特徴とする請求項1又は2記載の光学機能フィルムの製造方法。
- 前記塗工工程により形成されたポリイミド層の乾燥後の厚みが30μm以下であることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の光学機能フィルムの製造方法。
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