JP3955559B2 - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3955559B2
JP3955559B2 JP2003340634A JP2003340634A JP3955559B2 JP 3955559 B2 JP3955559 B2 JP 3955559B2 JP 2003340634 A JP2003340634 A JP 2003340634A JP 2003340634 A JP2003340634 A JP 2003340634A JP 3955559 B2 JP3955559 B2 JP 3955559B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
inspection object
ray
dimension
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003340634A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005106640A (ja
Inventor
将博 八木
Original Assignee
アンリツ産機システム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アンリツ産機システム株式会社 filed Critical アンリツ産機システム株式会社
Priority to JP2003340634A priority Critical patent/JP3955559B2/ja
Publication of JP2005106640A publication Critical patent/JP2005106640A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3955559B2 publication Critical patent/JP3955559B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、X線を曝射したときのX線透過量から被検査物中の異物混入の有無、シール不良の有無、欠品の有無などを検査するX線検査装置に関し、特に、被検査物の寸法測定の機能を備えたX線検査装置に関するものである。
製品ラインで搬送される被検査物中の異物の混入の有無を検査する装置として、例えば特許文献1に開示されるようなX線を用いたX線検査装置が知られている。X線検査装置は、搬送路上を順次搬送されてくる各品種の被検査物(例えば、生肉、魚、加工食品、医薬など)にX線を曝射し、この曝射したX線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検査している。
また、この種のX線検査装置では、例えば湿布薬のように、内容物が包装体に収容されてシールされた被検査物の場合、異物混入の有無の検査に加え、シール部への内容物の噛み込みなどによるシール不良の有無の検査も行われる。この場合、被検査物のシール部の幅を予め設定しておき、被検査物にX線を曝射したときのX線透過データからシール部の領域内に内容物と同等の濃淡レベルを示すX線透過データが存在するか否かに基づいてシール不良の有無を検査している。
さらに、この種のX線検査装置では、トレイや箱などの収容体に内容物が収容された被検査物の場合、本来内容物が存在すべき位置以外の領域がマスクされたマスク領域を予め設定しておき、被検査物にX線を曝射したときのX線透過データからマスク領域内に内容物と同等の濃淡レベルを示すX線透過データが存在するか否かに基づいて内容物の欠品の有無を検査している。
特開2003−139723号公報
ところで、上述した製品ラインで搬送される被検査物の検査には、内容物の大きさ、形状、配置など寸法測定を必要とする検査がある。このため、従来の一つの手法として、X線検査装置とは別体の寸法測定装置を用いて被検査物の寸法単体の検査を行っていた。しかし、この種の寸法測定装置では、内容物が非透明の包装体に収容された被検査物の場合、包装体内の内容物が外部から見えないため、内容物の寸法を測定することができないという問題があった。
また、別の手法として、寸法測定装置とX線検査装置を複合させて被検査物の寸法検査を行うものが考えられる。しかし、この寸法測定装置とX線検査装置による複合検査においては、搬送路上に並設される寸法測定装置からX線検査装置へ被検査物が搬送する間に被検査物が傾いたりして寸法測定装置で測定した寸法情報がX線検査装置に正確に反映されないという問題があった。
さらに、複数の内容物(例えばコロッケ、餃子、焼売など)がトレイの上に配置されてフィルム状の非透明の包装体に包装されたレトルト食品を被検査物とした場合、図5(a)に示すように、良品は内容物Waの縦横のサイズ(L1,H1)がある程度決まっている。しかし、図5(b)に示すように、良品と同じくらの面積であっても、内容物Waの形が崩れていたりすると、内容物Waの縦横のサイズ(L1,H1)が変化するため、この被検査物を不良品として選別する必要がある。ところが、上記特許文献1を含めて従来のX線検査装置では、内容物Waを含めて被検査物Wの寸法測定を行う機能がないため、図5(a),(b)に示すように、被検査物WにX線を曝射したときの内容物Waを示す濃淡レベルのX線透過データの面積が同程度であっても、内容物Waの形が崩れて寸法が変化した場合には良品か不良品かの区別を付けることができないという問題もあった。
そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、被検査物の寸法を測定して被検査物がある程度決まった寸法のものか否かを検査することができるX線検査装置を提供することを目的としている。
上記目的を達成するため、本発明の請求項1に記載されたX線検査装置は、内容物Waが包装体に収容された状態で搬送路上を搬送してくる被検査物WにX線を曝射するX線発生器9と、
前記被検査物の搬送方向Xの平面上で直交する搬送幅方向Yに直線状に配置された複数の素子によって前記被検査物を透過するX線を検出し、その検出結果の濃度データを素子毎に前記複数の素子数まで順次出力し、前記被検査物の搬送速度に対応して前記順次出力を繰り返すX線検出器10とを備え、
該X線検出器から出力される濃度データに基づいて前記被検査物の検査を行うX線検査装置において、
前記被検査物の高さを含む寸法情報と前記被検査物の検査を行う検査領域の寸法情報とを設定する設定入力手段15と、
前記X線検出器から出力される濃度データ、前記X線検出器の素子間の距離、前記被検査物の搬送速度、前記濃度データの順次出力の繰り返し速度、前記X線発生器から前記搬送路の搬送面までの距離から前記設定入力手段で設定された前記被検査物の高さを差し引いて求められる前記被検査物までの距離Y1、前記X線発生器から前記X線検出器までの距離Y2に基づいて、前記被検査物の前記搬送方向及び前記搬送幅方向の寸法を算出する寸法算出手段19と
前記X線検出器から出力される濃度データに基づいて前記被検査物の外形を示す外形領域を抽出する外形領域抽出手段17とを備え、
前記寸法算出手段は、前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、前記設定入力手段で設定された検査領域の寸法情報に基づいて検査領域を算出することを特徴とする。
請求項に記載されたX線検査装置は、請求項のX線検査装置において、
前記寸法算出手段19により算出された検査領域において、前記濃度データの濃淡レベルが他と違う部分があるか否かにより異物の混入の有無を判別する判別手段20を備えたことを特徴とする。
請求項に記載されたX線検査装置は、請求項のX線検査装置において、
前記寸法算出手段19により算出された検査領域の中に前記被検査物の内容物の濃淡レベルと同等以上の濃淡レベルが存在するか否かによりシール不良の有無を判別する判別手段20を備えたことを特徴とする。
請求項に記載されたX線検査装置は、請求項のX線検査装置において、
前記寸法算出手段19により算出された検査領域内の濃淡レベルと、予め設定される欠品検出リミット値との比較により欠品の有無を判別する判別手段20を備えたことを特徴とする。
本発明によれば、例えば従来の寸法測定装置のようなサイズチェックの機械を特別必要とせず、内容物やシール部領域などを含む被検査物の各種寸法を測定でき、被検査物の寸法不良や形状不良の有無を検査することができる。しかも、被検査物に関する寸法測定結果に基づいて被検査物の異物混入検査、シール部不良検査、欠品検査などの各種検査を行い、被検査物を多角的に検査して良品と不良品とに選別することができる。また、搬送幅方向Yの単位寸法に搬送方向Xの単位寸法がほぼ一致するように繰り返し速度を決めて搬送方向Xの寸法を算出すれば、被検査物Wの画像の上下比率が略等しくなり、表示画像をより忠実に再現することができる。
図1は本発明に係るX線検査装置の概略構成図、図2は本発明に係るX線検査装置のブロック構成図、図3はX線検査装置における搬送部のベルト面上を搬送される被検査物の平面図、図4はX線検査装置において被検査物にX線を曝射する時のX線発生器と被検査物と搬送部のベルト面の位置関係を示す正面図である。
本例のX線検査装置1は、製品ラインの搬送路の一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Wの寸法検査、形状検査、被検査物W中の異物混入の有無、内容物の噛み込みによるシール部不良の有無、内容物の欠落による欠品の有無などの各種検査を行うものである。
図1に示すX線検査装置1は、搬送部2と異物検出部3とが装置本体4内部に設けられ、表示器5が装置本体4の前面上部に設けられている。
搬送部2は、同一品種の被検査物(例えば非透明の包装体内に内容物が収容されて少なくとも一部がシールされたもの)Wを、所定間隔をおいて順次搬送している。この搬送部2は、例えば装置本体4に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成することができる。搬送部2は、図1に示す駆動モータ6の駆動により予め設定された一定の搬送速度で搬入口7から搬入された被検査物Wを搬出口8側(図中搬送方向X)に向けて搬送面としてのベルト面2a上を搬送させる。
検出部3は、順次搬送される被検査物Wに対し、搬送路途中においてX線を曝射して被検査物Wを透過してくるX線を検出するもので、搬送部2の上方に所定高さ離れて設けられるX線発生器9と、搬送部2内にX線発生器9と対向して設けられるX線検出器10を備えて構成される。
X線発生源としてのX線発生器9は、金属製の箱体11内部に設けられる円筒状のX線管12を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、X線管12の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてX線を生成している。X線管12は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向Xと直交する方向(Y方向)に設けられている。X線管12により生成されたX線は、下方のX線検出器10に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
X線検出器10は、搬送される被検査物Wの搬送方向Xの平面上で搬送方向Xと直交するY方向に複数の素子が一直線上に配置されたものであり、ライン状に整列して配設された複数のフォトダイオードと、ライン状のフォトダイオード上に設けられたシンチレータとからなる複数の素子で構成される。このX線検出器10では、被検査物Wの搬送方向Xの平面上で直交する方向Yに直線状に配置された複数の素子によって被検査物Wを透過するX線を検出し、この検出結果による濃度データを素子毎に複数の素子数を1ラインとして素子数まで順次出力し、被検査物Wの搬送に伴って1ラインからの順次出力を繰り返している。
図2に示すように、搬送部2の搬入口7側には、被検査物Wの通過を検出するための位置検出手段13が設けられている。この位置検出手段13は、搬送部2としてのベルトコンベアの入口側に設けられる一対の投受光器からなるフォトセンサで構成される。この構成により、被検査物Wがフォトセンサの前を通過している間では位置検出手段13からオン信号が信号処理手段14にタイミング信号として入力される。
このような構成によるX線検出器10では、搬送部2上を搬送される被検査物Wに対してX線発生器9からX線が曝射される。そして、この被検査物WへのX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくるX線をシンチレータで受けて光に変換する。このシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このX線検出器10は、受けたX線の強さに対応したレベルを有した電気信号を信号処理手段14に出力する。
図2において、信号処理手段14は、CPUやメモリなどを備えて構成され、位置検出手段13が被検査物Wを検出したときのオン信号をタイミング信号とする所定時間後に、X線検出器10からの電気信号を取り込んで各種信号処理を行っている。
図2に示すように、信号処理手段14は、設定入力手段15、記憶手段(データメモリ)16、外形領域抽出手段17、面積算出手段18、寸法算出手段19、判別手段20を備えている。
設定入力手段15は、被検査物Wの寸法検査、形状検査、異物検査、シール不良検査、欠品検査や表示に関する各種設定や指示を与えるためのユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成される。さらに説明すると、設定入力手段15は、予め良品サンプルを見て、良品サンプルによる許容範囲を含む被検査物Wの内容物Waの外形寸法や面積、被検査物Wのシール部の幅寸法(例えば外形が矩形状であれば、外形の4辺から内側に向かう寸法)、被検査物Wの検査を行う検査領域の寸法情報などを適宜数値入力することができる。また、設定入力手段15は、シール部を有する箇所の数を入力したり、被検査物Wの品種を指定することにより予め記憶された被検査物Wの品種に対応したシール部の幅寸法を設定するなど、シール部に関する各種寸法情報も入力することができる。
さらに、設定入力手段15からは、上記設定の他、搬送部2の搬送速度、被検査物Wの高さ、X線発生器9から被検査物Wの搬送面までの距離、X線発生器9からX線検出器10までの距離Y2の設定、被検査物W中の異物の混入の有無を判定するための基準となる検出リミット値、内容物Waを判定するための基準となる検出リミット値、被検査物Wのシール部におけるシール不良の有無を判定するための基準となる検出リミット値などを設定することができる。加えて、設定入力手段15では、複数の検査を行う際に、被検査物W中の異物の混入の有無や内容物の欠品の有無を判定するための基準となる検出リミット値が設定可能となっている。これら検出リミット値は、被検査物Wの品種や検出対象となる異物の種類などに応じて適宜設定される。
記憶手段16には、各被検査物W毎のX線透過データが格納される。このX線透過データは、X線検出器10からの電気信号を不図示のA/D変換器によりA/D変換して得られる。さらに説明すると、この記憶手段16には、1つの被検査物Wの検査を行う毎に、X線検出器10の1ライン(Y方向)あたり例えば640個のX線透過データが、少なくとも搬送される被検査物Wの搬送方向の長さ(前端から後端までの検出期間に相当)に対応した所定ライン数(480ライン)だけ格納される。
外形領域抽出手段17は、記憶手段16に格納されたX線透過データ(濃度データ)から全体の濃淡画像(搬送部2のベルト面2aを含む被検査物W毎の全体画像)による濃度データを作成し、この作成された全体画像の濃度データにおける被検査物Wの輪郭から内側の面積を示す外形領域S1を抽出している。さらに説明すると、外形領域抽出手段17は、記憶手段16に格納されたX線透過データの濃淡レベルから全体のヒストグラムを求める。そして、求めた全体のヒストグラムから被検査物Wの濃度データD1と、被検査物W以外(実際には搬送部2のベルト面)の濃度データD2とに切り分けて2値化する。例えば被検査物の濃度データD1を255とし、被検査物以外の濃度データD2を0とする。そして、2値化された被検査物の濃度データD1を外形領域として抽出している。
面積算出手段18は、予め設定入力手段15から入力された内容物Waを判定するための検出リミット値に基づき、X線検出器10により検出されて記憶手段16に格納されたX線透過データ(濃度データ)から被検査物Wの内容物Waに相当する部分の面積を算出し、その結果を判別手段20に入力している。すなわち、面積算出手段18では、一つの濃度データによる単位面積が予め設定されており、記憶手段16に格納された濃度データのうち、検出リミット値を越えた濃度データの合計値を内容物Waの面積として算出している。
なお、一つの濃度データの単位面積は、搬送方向Xの単位寸法と搬送幅方向Yの単位寸法とを乗算した値であり、これら搬送方向Xの単位寸法と搬送幅方向Yの単位寸法とが等しくなるように予めスキャン速度(繰り返し速度)を調整しておくのが好ましい。これにより、搬送方向Xの単位寸法のピッチと搬送幅方向Yの単位寸法のピッチとが一致し、濃度データの単位面積が正方形となる。
寸法算出手段19は、X線検出器10から出力されて記憶手段16に格納される濃度データ、X線検出器10の素子間の距離、被検査物Wの搬送速度、X線検出器10から出力される濃度データの順次出力の繰り返し速度、X線発生器9から被検査物Wの表面までの距離Y1、X線発生器9からX線検出器10までの距離Y2に基づき、被検査物Wの搬送方向X及び搬送幅方向Yの各種寸法(被検査物Wの外形寸法、内容物Waの外形寸法、シール部領域寸法)を算出している。また、寸法算出手段19は、外形領域抽出手段17が抽出した外形領域を基準として、予め設定入力手段15から設定された検査領域の寸法情報に基づいて寸法補正された検査領域を算出している。
この寸法算出手段19は、幅算出手段19aと長さ算出手段19bを備えている。幅算出手段19aは、X線検出器10の素子間の距離に対し、X線発生器9から被検査物Wの表面までの距離Y1とX線発生器9からX線検出器10までの距離Y2との比率を乗じた値を濃度データに対する搬送幅方向Yの単位寸法とし、この搬送幅方向Yの単位寸法を基に被検査物Wの搬送幅方向Yの各種幅寸法を算出している。具体的には、X線発生器9から被検査物Wの表面までの距離Y1=480mm、X線発生器9からX線検出器(検出素子)10までの距離Y2=500mm、X線検出器10の素子ピッチを0.4mmとすると、0.4×480/500=0.384mmが搬送幅方向Yの単位寸法として算出される。そして、この搬送幅方向Yの単位寸法0.384mmを基に、外形領域抽出手段17により抽出された被検査物Wの外形の搬送幅方向Yの幅寸法(図3〜図5における幅H1)、面積算出手段18により算出された内容物Waの搬送幅方向Yの幅寸法、設定入力手段15から設定されたシール部領域の搬送幅方向Yの幅寸法を各々算出することができる。なお、X線発生器9とX線検出器10は位置が固定されているので、X線発生器9からX線検出器10までの距離Y2は既知の値であり、予め設定入力手段15から入力することができる。また、X線発生器9から被検査物Wの表面までの距離Y1は、被検査物Wの高さによって変化するため、X線発生器9から被検査物Wの搬送面までの距離(既知の値)と、被検査物Wの高さが設定入力手段15から入力し、X線発生器9から被検査物Wの搬送面までの距離から被検査物Wの高さを差し引くことにより算出される。
長さ算出手段19bは、搬送速度をスキャン速度(繰り返し速度:単位時間あたりの走査回数)で除算した値を濃度データに対する搬送方向Xの単位寸法とし、この搬送方向Xの単位寸法を基に被検査物Wの搬送方向Xの各種長さ寸法を算出している。具体的に、搬送速度400mm/秒に設定されると、幅算出手段19aで算出された搬送幅方向Yの単位寸法0.384mmからスキャン速度(繰り返し速度)が400/0.384=1041回/秒となり、搬送速度400mm/秒をスキャン速度(繰り返し速度)1041回/秒で除算した400/1041=0.384mmが搬送方向Xの単位寸法として算出される。そして、この搬送方向Xの単位寸法0.384mmを基に外形領域抽出手段17により抽出された被検査物Wの外形の搬送方向Xの長さ寸法(図3及び図5における長さL1)、面積算出手段18により算出された内容物Waの搬送方向Xの長さ寸法、設定入力手段15から設定されたシール部領域の搬送方向Xの長さ寸法を各々算出することができる。
なお、本例において、搬送方向Xの単位寸法は、搬送速度を決めた後、幅算出手段19aから算出された搬送幅方向の単位寸法に等しくなるようにスキャン速度(繰り返し速度)を最適値に調整して求める。これにより、搬送方向Xの単位寸法のピッチと搬送幅方向Yの単位寸法のピッチとが一致する。
判別手段20は、寸法判別手段20a、形状判別手段20b、異物判別手段20c、シール部不良判別手段20d、欠品判別手段20eを備え、これらの判別結果(寸法不良の有無、形状不良の有無、異物混入の有無、シール部不良の有無、欠品の有無の組合せによる判別結果)に応じて被検査物Wを良品又は不良品として選別するための選別信号を外部出力している。
寸法判別手段20aは、寸法算出手段19により算出された各種寸法情報に基づいて被検査物Wの外形寸法が予め設定入力手段15から設定された良品サンプルによる外形寸法と比較して許容範囲内に無いとき、その被検査物Wが寸法異常を起こしていると判断し、寸法不良を示す選別信号を出力している。
形状判別手段20bは、面積算出手段18によって算出された被検査物Wの内容物Waの面積や寸法算出手段19によって算出された被検査物Wの内容物Waの外形寸法と、設定入力手段15から設定された面積や被検査物Wの内容物Waの外形寸法(許容範囲を含む)とを比較し、その比較結果に基づいて被検査物Wが形状不良か否かを判別している。すなわち、形状判別手段20bでは、面積算出手段18によって算出された被検査物Wの内容物Waの面積が設定入力手段15から設定された面積の許容範囲外であるときに、その被検査物Wを形状不良と判別している。また、寸法算出手段19によって算出された被検査物Wの内容物Waの外形寸法が設定入力手段15から設定された外形寸法の許容範囲外であるときにも、その被検査物Wを形状不良と判別している。
異物判別手段20cは、寸法算出手段19により算出された被検査物Wの検査領域(内容物有効領域)において、検査領域内で濃淡レベルが他と違う部分が存在するか否かにより異物混入の有無を判別している。すなわち、検査領域内に他の部分より濃淡レベルの高い部分が存在するとき、その濃淡レベルの高い部分を異物として判断している。さらに説明すると、異物判別手段20cは、寸法算出手段19によって算出された被検査物Wの検査領域のX線透過データの濃淡レベルと、設定入力手段15により予め設定された異物検出リミット値とを比較し、X線透過データが異物検出リミット値を超えたときに、その被検査物Wに異物が混入していると判断し、異物有りを示す選別信号を出力している。なお、異物検出リミット値は、被検査物W毎にその内容物に応じて適宜設定入力手段15から設定可能とされている。
シール部不良判別手段20dは、寸法算出手段19により算出された被検査物Wの検査領域(シール部領域)の画像の濃淡レベルと、被検査物Wの内容物の画像の濃淡レベルとの比較によりシール不良の有無を判別し、この判別結果からシール正常又はシール不良を示す選別信号を出力している。すなわち、このシール部不良判別手段20dでは、検査領域(シール部領域)の中に被検査物Wの内容物の画像の濃淡レベルと同等以上の濃淡レベルが存在するときに、その被検査物Wにシール不良ありと判別し、シール不良を示す選別信号を出力している。なお、シール部不良の検出リミット値は、被検査物W毎にその内容物に応じて適宜設定入力手段15から設定可能とされている。
欠品判別手段20eは、寸法算出手段19により算出された被検査物Wの検査領域(内容物領域)において、濃淡レベルが予め設定される欠品検出リミット値より低い(X線透過量が大きい)ときに、非透明の包装体中にある例えば湿布薬の枚数が少なくなっていると判別し、欠品有りを示す選別信号を出力している。また、欠品判別手段20eは、予め設定された欠品用検出マスク領域を用い、この欠品用検出マスク領域の各検査領域(内容物領域)毎に内容物と同等の濃淡レベルが存在する面積に応じて内容物の有無を判別している。なお、欠品検出リミット値や欠品用検出マスク領域は、被検査物W毎にその内容物に応じて適宜設定入力手段15から設定入力可能とされている。
なお、図示はしないが、信号処理手段14はフィルタ手段を備えており、被検査物Wとして、例えば湿布薬のような極めて薄い非透明によるフィルム状の包装体に内容物が収容されている場合、記憶手段16に格納された被検査物WのX線透過データに対して所定のフィルタ処理を施している。このフィルタ処理の際には、例えば微分フィルタ(Robertsフィルタ、Prewittフィルタ、Sobelフィルタ)やラプラシアンフィルタなどの特徴抽出フィルタが用いられる。これにより、全体画像を強調してエッジ検出し易くするとともに、検出対象の異物情報や噛み込み情報をより強調して抽出し易くしている。そのため、異物判別手段20cは、濃淡画像のレベルと異物検出リミット値との比較に限らず、フィルタ処理後の異物情報が強調された画像に対し、設定された異物検出リミット値と比較して異物の有無を判断してもよい。また、シール部不良判別手段20dは、フィルタ処理後のシール部領域内におけるエッジ成分の有無でシール不良を判断してもよい。
表示器5の表示画面には、全体の濃淡画像(搬送部2のベルト面2aを含む被検査物W毎の全体画像)、被検査物Wの外形領域の画像、内容物Waの外形領域の画像、シール部領域の画像、判別手段20の判別結果に基づいて被検査物Wを平面視したX線透過画像、「OK」や「NG」の良否判定結果、総検査数、良品数、NG総数などの検査結果が設定入力手段15からの所定のキー操作に基づいて表示される。
上記構成によるX線検査装置1では、各種検査を行うにあたって、被検査物WへのX線曝射時にX線検出器10から出力されるX線透過画像(濃度データ)と各パラメータ(X線検出器10の素子間の距離、被検査物Wの搬送速度、濃度データの順次出力の繰り返し速度(走査速度)、X線発生器9から被検査物Wまでの距離Y1、X線発生器9からX線検出器10までの距離Y2)に基づいて被検査物Wの検査領域を含め、被検査物Wの外形寸法、内容物Waの外形寸法、シール部領域寸法などを寸法算出手段19により算出している。
その際、搬送方向Xと直交する搬送幅方向Yの寸法(幅寸法)に関しては、実際の長さに対して誤差が生じてしまう。通常、この種のX線検査装置では、図4に示すように、実際に被検査物Wが搬送される搬送面(ベルト面)2aとX線検出器10とが同一平面上になく、X線検出器10が搬送面2aから所定高さ離れて下方に配置される。このため、被検査物Wの搬送幅方向Yの幅H1とすると、被検査物WへのX線曝射時のX線透過画像(濃度データ)における搬送幅方向Yの幅H2が実際の被検査物Wの幅H1と異なる。図4の例では、被検査物WへのX線曝射時の幅H2が実際の被検査物Wの幅H1よりも2×H3(被検査物Wの両側に幅H3)だけ大きくなる。本例では、この問題を解消するため、X線検出器10の素子間の距離にX線発生器9から被検査物Wの表面までの距離Y1とX線発生器9からX線検出器10までの距離Y2との比率を乗じた値を濃度データに対する搬送幅方向Yの単位寸法とし、この搬送幅方向Yの単位寸法を基に被検査物Wの搬送幅方向Yの各種寸法(幅寸法)を算出している。また、搬送方向Xの単位寸法が搬送幅方向Yの単位寸法と等しくなるようにスキャン速度(繰り返し速度)を最適値に調整して求め、予め設定された搬送速度をスキャン速度(繰り返し速度)で除算した値を搬送方向Xの単位寸法とし、この搬送方向Xの単位寸法を基に被検査物Wの搬送方向Xの各種寸法(長さ寸法)を算出している。
そして、上記寸法算出手段19で算出された被検査物Wの検査領域を含め、被検査物Wの外形寸法、内容物Waの外形寸法、シール部領域寸法の各寸法情報が判別手段20に入力される。また、判別手段20には、面積算出手段18で算出された被検査物Wの内容物Waの面積を示す情報が入力される。そして、被検査物Wの各種寸法情報及び面積情報が入力される判別手段20では、以下に説明する被検査物Wの各種判別が行われる。まず、被検査物Wの内容物Waの寸法に関しては、予め被検査物Wの良品サンプルによる許容範囲を含む内容物の外形寸法が設定入力手段15から入力される。寸法判別手段20aは、寸法算出手段19で算出された被検査物Wの内容物Waの外形寸法が設定入力手段15から設定された外形寸法の許容範囲外であるときに、その被検査物Wを寸法不良と判別する。例えば図5(a)に示す外形寸法の内容物Waを良品とすると、図5(b)に示す内容物Waを含む被検査物Wが搬送されてきた場合には、内容物Waの外形寸法(L1,H1)が許容範囲外となり、その被検査物Wを寸法不良と判別する。
被検査物Wの内容物Waの形状に関しては、予め被検査物Wの良品サンプルによる許容範囲を含む内容物の面積及び外形寸法が設定入力手段15から入力される。形状判別手段20bは、面積算出手段18で算出された面積、寸法算出手段19で算出された被検査物Wの内容物Waの外形寸法、設定入力手段15から設定された面積および外形寸法の比較に基づいて被検査物Wの形状不良を判別する。すなわち、形状判別手段20bは、面積算出手段18で算出された面積が設定入力手段15から設定された面積の許容範囲外であるときに、その被検査物Wを形状不良と判別する。また、寸法算出手段19で算出された被検査物Wの内容物Waの外形寸法が設定入力手段15から設定された外形寸法の許容範囲外であるときにも、その被検査物Wを形状不良と判別する。例えば図5(a)に示す形状の内容物Waを良品とすると、図5(b)に示す内容物Waを含む被検査物Wが搬送されてきた場合には、面積が略同一でも、内容物Waの外形寸法(L1,H1)が許容範囲外となり、その被検査物Wを形状不良と判別する。また、例えば図5(a)に示す形状の内容物Waを良品とすると、図5(c)に示す内容物Waを含む被検査物Wが搬送されてきた場合には、内容物Waの外形寸法(L1,H1)が許容範囲内であっても、面積が許容範囲外となり、その被検査物Wを形状不良と判別する。
なお、形状判別手段20bは、面積算出手段18で算出された被検査物Wの面積と寸法算出手段19で算出された寸法の比率と、予め設定入力手段15から設定される形状不良を判別するための検出リミット値との比較に基づいて形状不良の有無を判別するようにしてもよい。この場合、形状不良を判別するための検出リミット値が1つの被検査物Wに対して1つで済むので、設定の手間を省くことができる。
被検査物Wの異物混入検査に関して、異物判別手段20cは、寸法算出手段19により算出された検査領域(内容物有効領域)において、濃度データの濃淡レベルが他と違う部分があるか否かにより異物の混入の有無を判別する。
被検査物Wのシール部不良検査に関して、シール部不良判別手段20dは、寸法算出手段19により算出された検査領域(シール部領域)の中に被検査物Wの内容物Waの濃淡レベルと同等以上の濃淡レベルが存在するか否かにより被検査物Wのシール不良の有無を判別する。
被検査物Wの欠品検査に関して、欠品判別手段20eは、寸法算出手段19により算出された検査領域(内容物有効領域)内の濃淡レベルと、予め設定される欠品検出リミット値との比較により欠品の有無を判別する。
このように、本例のX線検査装置によれば、例えば従来の寸法測定装置のようなサイズチェックの機械を特別必要とせずに、被検査物の各種寸法(外形寸法、内容物の外形寸法、シール部領域寸法など)を測定することができる。特に、本例では、非透明の包装体を用いた被検査物の内容物の寸法を測定することができ、これにより被検査物の内容物の寸法不良や形状不良の有無などを判別することができる。しかも、寸法算出手段19は、X線曝射時に生じる搬送幅方向Yの寸法誤差を補正して搬送幅方向Yの寸法を算出するので、より正確な被検査物Wの各種寸法の測定を行うことができる。
また、被検査物Wの寸法測定の際、搬送速度が設定され、幅算出手段19aにより搬送幅方向Yの寸法が算出されると、この幅算出手段19aから求められた搬送幅方向Yの単位寸法と搬送方向Xの単位寸法とがほぼ一致するようにスキャン速度(繰り返し速度)を求めて搬送方向Xの寸法が長さ算出手段19bにより算出されるので、被検査物Wの画像の上下比率が略等しくなり、表示画像をより忠実に再現することができる。
さらに、被検査物Wのシール部領域に関しては、被検査物Wの外形から算出するので、複雑な画像処理を用いることなく、簡単にシール部領域と内容物有効領域とを分離でき、判別時間を短縮して検査能力の向上を図ることができる。
また、X線曝射時に生じる搬送方向Xに直交する搬送幅方向Yの寸法誤差の影響を取り除いた被検査物の寸法測定結果に基づいて被検査物の異物混入検査、シール部不良検査、欠品検査などの各種検査を行うので、被検査物の多角的な検査を行って良品と不良品とに選別することができる。例えば被検査物WにX線を曝射したときの非透明の包装体内に収容された内容物Waを示す濃淡レベルのX線透過データの面積が同程度であって、内容物Waの形が崩れて寸法が変化した場合には、この被検査物Wを誤って良品とせず不良品として選別することができる。
本発明に係るX線検査装置の概略構成図である。 本発明に係るX線検査装置のブロック構成図である。 X線検査装置における搬送部のベルト面上を搬送される被検査物の平面図である。 X線検査装置において被検査物にX線を曝射する時のX線発生器と被検査物と搬送部のベルト面の位置関係を示す正面図である。 (a),(b),(c)被検査物の内容物の各種形状例を示す図である。
符号の説明
1 X線検査装置
9 X線発生器
10 X線検出器
15 設定入力手段
17 外形領域抽出手段
18 面積算出手段
19 寸法算出手段
19a 幅算出手段
19b 長さ算出手段
20 判別手段
W 被検査物
Wa 内容物

Claims (4)

  1. 内容物(Wa)が包装体に収容された状態で搬送路上を搬送してくる被検査物(W)にX線を曝射するX線発生器(9)と、
    前記被検査物の搬送方向(X)の平面上で直交する搬送幅方向(Y)に直線状に配置された複数の素子によって前記被検査物を透過するX線を検出し、その検出結果の濃度データを素子毎に前記複数の素子数まで順次出力し、前記被検査物の搬送速度に対応して前記順次出力を繰り返すX線検出器(10)とを備え、
    該X線検出器から出力される濃度データに基づいて前記被検査物の検査を行うX線検査装置において、
    前記被検査物の高さを含む寸法情報と前記被検査物の検査を行う検査領域の寸法情報とを設定する設定入力手段(15)と、
    前記X線検出器から出力される濃度データ、前記X線検出器の素子間の距離、前記被検査物の搬送速度、前記濃度データの順次出力の繰り返し速度、前記X線発生器から前記搬送路の搬送面までの距離から前記設定入力手段で設定された前記被検査物の高さを差し引いて求められる前記被検査物までの距離(Y1)、前記X線発生器から前記X線検出器までの距離(Y2)に基づいて、前記被検査物の前記搬送方向及び前記搬送幅方向の寸法を算出する寸法算出手段(19)と
    前記X線検出器から出力される濃度データに基づいて前記被検査物の外形を示す外形領域を抽出する外形領域抽出手段(17)とを備え、
    前記寸法算出手段は、前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、前記設定入力手段で設定された検査領域の寸法情報に基づいて検査領域を算出することを特徴とするX線検査装置。
  2. 前記寸法算出手段(19)により算出された検査領域において、前記濃度データの濃淡レベルが他と違う部分があるか否かにより異物の混入の有無を判別する判別手段(20)を備えたことを特徴とする請求項記載のX線検査装置。
  3. 前記寸法算出手段(19)により算出された検査領域の中に前記被検査物の内容物の濃淡レベルと同等以上の濃淡レベルが存在するか否かによりシール不良の有無を判別する判別手段(20)を備えたことを特徴とする請求項記載のX線検査装置。
  4. 前記寸法算出手段(19)により算出された検査領域内の濃淡レベルと、予め設定される欠品検出リミット値との比較により欠品の有無を判別する判別手段(20)を備えたことを特徴とする請求項記載のX線検査装置。
JP2003340634A 2003-09-30 2003-09-30 X線検査装置 Expired - Lifetime JP3955559B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340634A JP3955559B2 (ja) 2003-09-30 2003-09-30 X線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003340634A JP3955559B2 (ja) 2003-09-30 2003-09-30 X線検査装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007068687A Division JP4170366B2 (ja) 2007-03-16 2007-03-16 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005106640A JP2005106640A (ja) 2005-04-21
JP3955559B2 true JP3955559B2 (ja) 2007-08-08

Family

ID=34535469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003340634A Expired - Lifetime JP3955559B2 (ja) 2003-09-30 2003-09-30 X線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3955559B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009156620A (ja) * 2007-12-25 2009-07-16 Kanto Auto Works Ltd 非破壊測定装置
JP5324328B2 (ja) * 2009-06-15 2013-10-23 株式会社イシダ 物品検査装置
JP5477853B2 (ja) * 2010-01-19 2014-04-23 株式会社庄内クリエート工業 ラインセンサーカメラを用いたx線検査装置
JP5623197B2 (ja) * 2010-09-03 2014-11-12 アンリツ産機システム株式会社 計量装置
DE102013010882A1 (de) * 2013-07-01 2015-01-08 Ims Messsysteme Gmbh Vorrichtung zur Bestimmung der Position eines Werkstücks, insbesondere der Längskante eines Metallbands in einem Warmwalzwerk

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63236989A (ja) * 1987-03-26 1988-10-03 Toshiba Corp 異物検出装置
JPH01197608A (ja) * 1988-02-03 1989-08-09 Toshiba Corp 測定装置
JP3308629B2 (ja) * 1993-03-11 2002-07-29 東芝アイティー・コントロールシステム株式会社 X線ラインセンサ透視装置
JPH09133521A (ja) * 1995-11-09 1997-05-20 Toshiba Corp X線寸法測定装置
JPH09178454A (ja) * 1995-12-27 1997-07-11 Marcom:Kk 基板用3次元x線検査装置
JP3630812B2 (ja) * 1996-01-12 2005-03-23 株式会社東芝 X線画像診断装置
JPH1199142A (ja) * 1997-09-30 1999-04-13 Shimadzu Corp X線診断装置
JPH11211677A (ja) * 1998-01-23 1999-08-06 Sumitomo Metal Mining Co Ltd X線透過式内部判定装置
JP2000135268A (ja) * 1998-08-26 2000-05-16 Yuyama Seisakusho:Kk 錠剤検査装置
JP2000249664A (ja) * 1999-03-01 2000-09-14 Mac Science Co Ltd X線透過検査方法及び装置
JP2001033230A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 板部材の孔への充填物の充填量検出方法と装置
JP4460139B2 (ja) * 2000-10-25 2010-05-12 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置
JP2002148214A (ja) * 2000-11-14 2002-05-22 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2002202120A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Murata Mfg Co Ltd セラミックグリーンシートの膜厚測定装置及び膜厚測定方法
JP3875842B2 (ja) * 2001-02-02 2007-01-31 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP3737950B2 (ja) * 2001-02-09 2006-01-25 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP4659994B2 (ja) * 2001-03-15 2011-03-30 泰一郎 目黒 放射線画像撮影装置、画像上のピクセルサイズを求める方法および距離計測装置
JP2003028633A (ja) * 2001-07-16 2003-01-29 Shimadzu Corp 形状検査装置
JP3618701B2 (ja) * 2001-08-29 2005-02-09 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置
JP3828781B2 (ja) * 2001-10-31 2006-10-04 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005106640A (ja) 2005-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111630519B (zh) 检查装置
JP3943099B2 (ja) X線検査装置
JP6537008B1 (ja) 検査装置
JP2012242289A (ja) X線検査装置
JP3875842B2 (ja) X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP3828781B2 (ja) X線異物検出装置
JP3860154B2 (ja) X線検査装置
JP5864404B2 (ja) X線検査装置
JP3618701B2 (ja) X線異物検出装置
JP3943072B2 (ja) X線検査装置
JP3917129B2 (ja) X線検査装置
JP4170366B2 (ja) X線検査装置
JP3955559B2 (ja) X線検査装置
JP3737950B2 (ja) X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
JP3756751B2 (ja) X線異物検出装置
JP3955558B2 (ja) X線検査装置
JP2005031069A (ja) X線検査装置
US20230366838A1 (en) X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method
JPWO2019235022A1 (ja) 検査装置
JP2009080030A (ja) X線検査装置
JP3860144B2 (ja) X線検査装置
JP6556671B2 (ja) X線検査装置
JP2018059845A (ja) X線検査装置及びx線検査方法
JP6306352B2 (ja) X線検査装置
JP4020711B2 (ja) X線異物検出装置及びx線異物検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070314

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070417

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070502

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3955559

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140511

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term