JP3903360B2 - エッジ検出方法及びエッジ検出装置並びに画像符号化装置 - Google Patents

エッジ検出方法及びエッジ検出装置並びに画像符号化装置 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、エッジ検出方法及びエッジ検出装置並びに当該エッジ検出装置を含む画像符号化装置の技術分野に属し、より詳細には、画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物(すなわち画像の一部として画面内に表示される表示物)と、当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジを検出するためのエッジ検出方法及びエッジ検出装置並びに当該エッジ検出装置を含む画像符号化装置の技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、上述した画像構成物のエッジを鮮明に表示すれば、その画像全体の鮮明度(いわゆるくっきり感)が向上し、当該画像自体が奇麗に見えることが知られている。
【0003】
従って、画像を高能率符号化して光ディスク等に記録しこれを再生する場合に当該エッジを鮮明に再生表示するためには、記録すべき画像内のエッジを予め検出し、当該エッジ部分を符号化するための符号量を他の部分を符号化するための符号量よりも多くして精度よく符号化する必要がある。
【0004】
これに呼応して、従来における上述した画像内のエッジ検出では、例えば圧縮記録したものを再生した画像或いは圧縮をしない画像そのものを符号化時に表現する場合に、いかにその画質を向上させて視覚的に奇麗に表示するかに主眼がおかれており、そのためにエッジの検出精度は高ければ高いほどよいとされてきた。
【0005】
より具体的には、例えば、特公平7−14211号公報に開示されている技術においては、横方向或いは縦方向の隣接する四画素同士の差分の絶対値を閾値判定することによりエッジ検出が行なわれている。また、特開平5−227431号公報に開示されている技術においては、3画素×3画素の画素ブロック(いわゆるウインドウ)内における各画素の輝度植を微分処理することによりエッジ検出が行われている。
【0006】
このように、従来では、エッジの有無の判断をする場合にはその検出精度を高めるべく、画像を構成する全ての画素毎に当該判断処理を行うことが通常であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したような全ての画素毎にエッジの有無を判断していたのでは、その判断のための処理量が膨大となり、当該判断のために処理装置に対して過大な負荷をかけるがゆえに判断処理に不要な時間がかかる場合があるという問題点があった。
【0008】
この処理時間の遅延は、例えば、動画を圧縮して記録し更にこれを再生する場合等においては、その記録処理及び再生処理全体の所要時間が長くなってしまうという問題点に繋がる。
【0009】
そこで、本発明は、上記の各問題点に鑑みて為されたもので、その課題は、最低限の精度を維持しつつ簡易且つ短時間内にエッジを検出することが可能なエッジ検出方法及びエッジ検出装置並びに当該エッジ検出装置を含む画像符号化装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成される画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出装置であって、相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査手段と、前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出手段と、いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成手段と、を備え、前記画像はインタレース方式により表示されると共に、前記画素ブロックは前記インタレース方式におけるフィールド画像毎に設けられている。
【0011】
よって、走査線上にある画素についてのみその変化を検出し、エッジの有無を検出するので、全ての画素についてその変化を検出してエッジの有無を検出する場合に比して最低限の精度を維持しつつ簡易な処理でエッジの有無を検出できる。
よって、インターレース方式におけるフィールド画像毎に画素ブロックが設けられ、当該画素ブロック毎にエッジの有無を検出するので、動きの速い画像構成物が画像に含まれている場合でも、正確にエッジを検出することができる。
【0012】
上記の課題を解決するために、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のエッジ検出装置において、前記検出手段は、前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間において当該画素の輝度の変化があるとき、前記画素の変化があると検出するように構成される。
【0013】
よって、相隣接する画素間の輝度の変化により画素間の変化を検出するので、正確にエッジの有無を検出できる。
【0014】
上記の課題を解決するために、請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載のエッジ検出装置において、前記画素ブロックは矩形であると共に、相互に異なる前記方向は当該画素ブロックの二つの対角線の方向であるように構成される。
【0015】
よって、矩形の画素ブロック内の二つの対角線の方向に走査して画素の変化を検出しエッジを検出するので、精度を維持しつつ簡易な処理で画素ブロック毎のエッジの有無を検出することができる。
【0016】
上記の課題を解決するために、請求項4に記載の発明は、請求項1又は2に記載のエッジ検出装置において、前記画素ブロックは矩形であると共に、相互に異なる前記方向は、当該画素ブロックの二つの対角線の方向と、当該画素ブロックの中心を通って当該画素ブロックの各辺に平行な方向と、であるように構成される。
【0017】
よって、矩形の画素ブロック内の二つの対角線の方向及び当該画素ブロックの中心を通って各辺に平行な方向に走査して画素の変化を検出しエッジを検出するので、精度を高く維持しつつ簡易な処理で画素ブロック毎のエッジの有無を検出することができる。
【0020】
上記の課題を解決するために、請求項6に記載の発明は、画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成される画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出装置であって、相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査手段と、前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出手段と、いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成手段と、前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックの周囲にある他の前記画素ブロックが前記エッジを含んでいるか否かを検出する周囲検出手段を更に備え、前記生成手段は、前記他の画素ブロックの全てが前記エッジを含んでいると検出されたとき、前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックについては、前記エッジが含まれている旨の前記エッジ検出信号に代えて前記エッジが含まれていない旨の前記エッジ検出信号を生成するように構成される。
【0021】
よって、エッジがあると判断することが不適切である画像構成物内の画素ブロックについてエッジが含まれていると検出された場合でも、その検出を取り消してエッジ検出信号を生成し、より適切にエッジの有無を検出することができる。
【0022】
上記の課題を解決するために、請求項7に記載の発明は、請求項1から6のいずれか一項に記載のエッジ検出装置と、前記エッジ検出信号に基づいて前記画素ブロック毎に前記画像を符号化する符号化部等の符号化手段と、を備える。
【0023】
よって、簡易な処理で精度を維持しつつエッジが検出されるので、より処理時間を短縮して画像を符号化することができる。
【0024】
上記の課題を解決するために、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の画像符号化装置において、前記符号化手段は、前記エッジ検出信号に基づいて前記画素ブロック毎に符号量を割り当てつつ前記画像を圧縮符号化するように構成される。
【0025】
よって、より符号化効率を向上させつつ画像を圧縮符号化することができる。
【0026】
上記の課題を解決するために、請求項9に記載の発明は、画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成されるマクロブロック等の画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出方法であって、相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査工程と、前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出工程と、いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成工程と、を備え、前記画像はインタレース方式により表示されると共に、前記画素ブロックは前記インタレース方式におけるフィールド画像毎に設けられている。
【0027】
よって、走査線上にある画素についてのみその変化を検出し、エッジの有無を検出するので、全ての画素についてその変化を検出してエッジの有無を検出する場合に比して最低限の精度を維持しつつ簡易な処理でエッジの有無を検出できる。
【0028】
【発明の実施の形態】
次に、本発明に好適な実施の形態について、図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いわゆるMPEG(Moving Picture Experts Group)方式に基づいて動画の画像圧縮を行い当該動画を符号化する画像符号化装置に対して本発明を適用した場合の実施の形態である。
(I)本発明の原理
先ず、具体的な実施の形態について説明する前に、本発明の原理について説明する。
【0029】
上記のMPEG方式は、いわゆる離散コサイン変換(DCT(Discrete Cosine Transform))方式を用いた符号化処理の一種であり、近年では、画像(動画像及び静止画像の双方を含む。)の高能率符号化(圧縮)方式の国際標準とされている。
【0030】
ここで、当該MPEG方式による画像の圧縮符号化においては、一般に、圧縮符号化すべき原画像を、画素ブロックとしてのマクロブロック(当該原画像を構成する画素を16画素×16画素含む。)と称されるブロックに分割し、このマクロブロック単位でいわゆる動き補償及び上記DCT或いは二値化といった処理が実行される。
【0031】
そして、本発明に係る画像内のエッジの検出は、このMPEG方式を用いて圧縮する前の原画像に対してその前処理として行うことにより、検出したエッジに対して圧縮の際に適切に符号量を割り当て、当該エッジにおける歪が少なくなるようにして圧縮符号化することを目的としている。
【0032】
ここで、上述したように、MPEG方式を用いた画像の圧縮符号化においては、上記マクロブロック単位で圧縮符号化を行うため、当該原画像におけるエッジの有無の検出もマクロブロック単位で行えばよいことになり、従って、従来の如く各画素毎にエッジの有無を検出する場合のような精度を必要とはしない。
【0033】
このとき、マクロブロック単位でエッジ検出を行う場合でも、従来技術のようにマクロブロック内の全ての画素について、隣接する画素間の輝度の差分を検出したり或いは微分処理を行うことによりエッジを検出することは可能であるが、16画素×16画素という大きなブロック単位で検出を行うには冗長度が大きく、処理時間も長くなる。また、反対に、処理時間をかけたほどの画質の改善効果が得られなかったことも実験的に確認されている。
【0034】
そこで、以下に説明するように、本発明では、マクロブロック単位で当該マクロブロック内のエッジの有無を検出するに際し、当該マクロブロック内において予め設定されている方向にのみ走査を行い、その走査線上においてエッジが検出されれば、当該走査線を含むマクロブロック内にエッジが存在すると認識して爾後の符号化処理を行うことにより、処理の簡略化による圧縮符号化処理全体としての処理の高速化を図っている。
(II)第1実施形態
次に、上記原理に基づいた本発明に係る第1実施形態について、図1乃至図4を用いて説明する。
【0035】
なお、図1は第1実施形態に係る画像符号化装置の概要構成を示すブロック図であり、図2は本発明に係るエッジ検出部の細部構成を示すブロック図であり、図3は本発明に係るエッジ検出処理を示すフローチャートであり、図4は本発明に係るエッジ検出処理の概念を説明する図である。
【0036】
始めに、第1実施形態に係る画像符号化装置の全体構成及び動作について、図1を用いて説明する。
【0037】
図1に示すように、第1実施形態に係る画像符号化装置Sは、本発明に係る後述する動作により、入力信号Sinとして入力されてくる原画像におけるマクロブロック毎のエッジの有無を検出し、エッジ検出信号Segを生成して後述するレート制御部11へ出力するエッジ検出部1と、当該エッジ検出信号Segを用いて実際に原画像の圧縮符号化を行う符号化手段としての符号化部2と、により構成されている。
【0038】
また、符号化部2は、加算器3と、DCT部4と、量子化部5と、逆量子化部6と、可変長符号化部7と、逆DCT部8と、動き検出部9と、動き補償予測部10と、上記レート制御部11と、により構成されている。
【0039】
次に、全体動作を説明する。
【0040】
エッジ検出部1は、上述したように外部から画像符号化装置Sに入力される入力信号Sin中に含まれている複数の原画像(画素毎にディジタル化されたフレーム画像として入力信号Sinに含まれているものであり、入力信号Sinとなっている段階で既に16画素×16画素のマクロブロックに分割されている。)について、そのマクロブロック毎にエッジの有無を検出し、エッジ検出信号Segを生成してマクロブロック毎にレート制御部11へ出力する。
【0041】
一方、入力信号Sinは、上記エッジ検出部1へ入力されると共に、動き検出部9及び加算器3へも入力される。
【0042】
そして、動き検出部9において、入力信号Sin内の各フレーム画像について、後述する再構成信号Sddに基づいて公知の技術によりマクロブロック毎の画像の動きを示す動きベクトルが算出され、対応するベクトル信号Svが動き補償予測部10へ出力される。
【0043】
他方、加算器3へ出力された入力信号Sinは、当該加算器3において動き補償予測部10からの補償信号Seが減算され、減算信号SaとしてDCT部4へ出力される。
【0044】
次に、DCT部4は、当該減算信号Saに対して公知の技術により情報量圧縮のためのDCT処理を施し、変換信号Sdとして量子化部5へ出力する。
【0045】
そして、量子化部5は、当該変換信号Sdを後述するレート信号Srで示されるビットレートに適合するように量子化し、量子化信号Sqを生成して可変長符号化部7及び逆量子化部6へ出力する。
【0046】
次に、逆量子化部6は、量子化信号Sqに対して逆量子化処理を施し、逆量子化信号Siqを生成して逆DCT部8へ出力する。
【0047】
そして、逆DCT部8は、逆量子化信号Siqに対して公知の技術により逆DCT(逆離散コサイン変換)処理を施し、逆変換信号Sidとして動き予測補償部10へ出力すると共に、再構成した画像を含む再構成信号Sddを生成して動き検出部9へ出力する。
【0048】
その後、動き補償予測部10は、上述したベクトル信号Sv内に含まれる動きベクトルと逆変換信号Sidとに基づいて、MPEG方式におけるいわゆるフレーム間予測を用いた動き補償処理を行い、情報量の圧縮のための上記補償信号Seを生成して加算器3に出力する。
【0049】
一方、可変長符号化部7は、上記量子化信号Sqに対して可変長符号化処理を施し、元の入力信号SinをMPEG方式で圧縮符号化した信号である出力信号Soutをレート制御部11及び外部に出力する。
【0050】
このとき、レート制御部11は、当該出力信号Soutに基づいて、量子化部5における量子化の際のビットレートを最適化するための上記レート信号Srを生成して当該量子化部5に出力する。このとき、レート制御部11は、上記エッジ検出信号Segに基づいて、エッジが含まれているマクロブロックについては、エッジが含まれていないマクロブロックよりも量子化の際の符号量が多くなるように当該符号量を割り当てるべく上記レート信号Srを生成する。
【0051】
次に、エッジ検出部1の細部構成及び動作について、図2乃至図4を用いて説明する。
【0052】
先ず、エッジ検出部1の構成について、図2を用いて説明する。
【0053】
図2に示すように、エッジ検出部1は、入力信号Sinに含まれている各原画像について、そのマクロブロック毎にエッジの有無を検出して当該有無を示すフラグを含むフラグ信号Speをマクロブロック毎に生成し後述するメモリ16へ出力する走査手段及び検出手段としてのエッジ検出回路15と、当該生成されたフラグ信号Speを各マクロブロック毎に区別して一時的に記憶するメモリ16と、各マクロブロックに対応して記憶されているフラグ信号Speの内容を一のマクロブロックの周辺にある他のマクロブロックに対応するフラグとの関係で後述するように再評価し、最終的にマクロブロック毎のエッジの有無を示すエッジ検出信号Segを生成してレート制御部11へ出力する生成手段及び周囲検出手段としての判定回路17と、により構成されている。
【0054】
次に、各構成部材の細部動作について、図3及び図4を用いて説明する。なお、図3に示すフローチャートにおいて、ステップS1乃至S5及びS7の処理は夫々エッジ検出回路15において実行される処理であり、ステップS6の処理はメモリ16において実行される処理であり、ステップS8乃至S13の処理は判定回路17において実行される処理である。
【0055】
図3に示すように、エッジ検出部1においては、先ず、入力信号Sinとして原画像が入力されると、エッジ検出回路15においてその原画像に含まれるいずれか一のマクロブロックを抽出し(ステップS1)、そのマクロブロック内におけるエッジの有無について当該抽出したマクロブロック内を走査する(ステップS2)。
【0056】
ここで、ステップS2における走査では、図4に示すように、一のマクロブロックMBにおける対角線を構成する走査線SL1及びSL2に沿って当該走査線SL1及びSL2上にある画素Gを走査し、夫々の画素の輝度を走査線SL1及びSL2上において相隣接する画素G相互に比較してその差分の絶対値を検出する処理を各マクロブロックMB毎に行う。
【0057】
すなわち、当該相隣接する画素Gの間の輝度の差分の絶対値をdとし、マクロブロックMB内の位置(x,y)(図4参照)にある画素Gの輝度をp(x,y)とし、xを「0」から「14」までの整数として、以下に示すように当該絶対値dを順次検出し、その値をエッジ検出回路15内の図示しないメモリに一時的に格納する。
【0058】
【数1】
Figure 0003903360
次に、一のマクロブロックMBについて二方向の走査が完了し、各絶対値dが蓄積されると、当該蓄積された絶対値d中に、予めエッジであることを示す当該絶対値dの閾値としての閾値Thを越えたものがあるか否かを判定し(ステップS3)、いずれの絶対値dも当該閾値Thを越えていないときは(ステップS3;no)、対応するマクロブロックMB内にはエッジは存在しなかったとしてエッジがあることを示すフラグをセットすることなく(ステップS5)フラグ信号Speを生成してステップS6へ移行し、一方、ステップS3の判定において、当該蓄積された絶対値d中に閾値Thを越えたものが一つでもあるときは(ステップS3;yes)、対応するマクロブロックMB内にはエッジが存在するとしてエッジがあることを示すフラグをセットし(ステップS4)、当該セットされたフラグを含むフラグ信号Speを生成してメモリ16内に一時的に記憶させる(ステップS6)。
【0059】
そして、一のマクロブロックMBについてフラグ信号Spe(当該マクロブロックMB内にエッジがある旨の値を有するフラグ又はエッジが無い旨の値を有するフラグのいずれか一方を含む。)の一時記憶が終了すると、原画像内の次のマクロブロックMBについてステップS1乃至S6の動作を行うべく、当該原画像内の全てのマクロブロックMBについてエッジ検出処理が終了しているか否かが確認され(ステップS7)、終了しているときは(ステップS7;yes)次のステップS8へ移行し、終了していないときは(ステップS7;no)元のステップS1へ戻って次のマクロブロックMBを抽出し、当該抽出したマクロブロックMBに対して上述したステップS2乃至S7の処理を繰り返す。
【0060】
以上のステップS1乃至S7の処理により、一の原画像を構成する全てのマクロブロックMBについてそのエッジの有無を示すフラグ信号SpeがマクロブロックMB毎にメモリ16内に記憶されることとなる。
【0061】
上述した一連の動作により一の原画像についてフラグ信号Speの蓄積が終了すると、次に、判定回路17において、そのマクロブロックMB毎に蓄積されているフラグ信号Speの中から、セットされた(ステップS4参照)値を有するいずれか一のフラグ信号Spe(以下、各フラグ信号Speに含まれているフラグの値を単にフラグ信号Speの値と称する。)を抽出し(ステップS8)、更に原画像内において当該抽出したフラグ信号Speの値によりエッジを含むことが示されるマクロブロックMBの周囲にある八個のマクロブロックMBについてそれらに対応するフラグ信号Speの値を検出する(ステップS9)。
【0062】
そして、検出した八個のフラグ信号Speの値の全てがフラグがセットされていることを示す値であるか否かを確認し(ステップS10)、フラグがセットされていない(すなわち、エッジを含んでいない(ステップS5参照))マクロブロックMBがその周囲に一つでもあるときは(ステップS10;no)、ステップS8で抽出したフラグ信号Speの値を不変としてそのままステップS12へ移行する。
【0063】
一方、ステップS10の判定において、検出した八個のフラグ信号Speの値の全てがフラグがセットされていることを示す値であるときは(ステップS10;yes)、ステップS8で抽出したフラグ信号Speの値をフラグがセットされないときの値に初期化し(ステップS11)、当該初期化したフラグの値を有するフラグ信号Speをエッジ信号SegとしてマクロブロックMB毎にレート制御部11へ出力する(ステップS12)。
【0064】
この後は、上述したようにレート制御部11において、エッジを含んでいるマクロブロックMBを圧縮符号化する際には多く符号量を割り当てるように上記レート信号Srが生成されることとなる。
【0065】
次に、フラグ信号Spe内の全てのセットされた値を有するフラグ信号SpeについてステップS8乃至S12の処理を行うべく、当該記憶されている全てのセットされた値を有するフラグ信号Speについて処理が終了しているか否かが確認され(ステップS13)、終了しているときは(ステップS13;yes)そのまま処理を終了し、終了していないときは(ステップS13;no)元のステップS8へ戻って次のセットされた値を有する一のフラグ信号Speを抽出し、当該抽出したフラグ信号Speに対して上述したステップS8乃至S13の処理を繰り返す。
【0066】
ここで、上述したステップS8乃至S13の処理は、原画像内のある特定領域内の全てのマクロブロックMBにエッジが存在するような場合(より具体的には、例えば、当該特定領域を示す原画像が野球場における満員の観客席を撮像した画像である場合等)に、その特定領域については、当該特定領域全体としてみればエッジが存在していないと見なしても画像圧縮後の画質に大差ないことが実験的に判明しているので、上述した特定領域内のマクロブロックMBにエッジが存在すると検出されることにより当該特定領域内のマクロブロックMBに対して多くの符号量が割り当てられることを防止し、本来必要なエッジを有するマクロブロックMBに対してより多くの符号量が割り当てられて符号化が為されるようにするための処理である。
【0067】
以上説明したように、第1実施形態のエッジ検出部1の動作によれば、マクロブロックMB内の走査線SL1及びSL2上にある画素Gについてその変化を検出し、エッジの有無を検出するので、全ての画素Gについてその変化を検出してエッジの有無を検出する場合に比して最低限の精度を維持しつつ簡易な処理でエッジの有無を検出できる。
【0068】
よって、簡易な処理で最低限の精度を維持しつつエッジが検出されるので、より処理時間を短縮して画像を圧縮符号化することができる。
【0069】
また、走査線SL1及びSL2上において相隣接する画素G間の輝度の変化により画素G間の変化を検出するので、正確にエッジの有無を検出できる。
【0070】
更に、矩形のマクロブロックMB内の二つの対角線の方向に走査して画素Gの変化を検出しエッジを検出するので、精度を維持しつつ簡易な処理でマクロブロックMB毎のエッジの有無を検出することができる。
【0071】
更にまた、エッジが含まれていると検出された一のマクロブロックMBの周囲にある他のマクロブロックMBの全てがエッジを含んでいると検出されたとき、当該エッジが含まれていると検出された一のマクロブロックMBについては、エッジが含まれている旨のエッジ検出信号Segに代えてエッジが含まれていない旨のエッジ検出信号Segを生成するので、エッジがあると判断することが不適切である画像構成物内のマクロブロックMBについてエッジが含まれていると検出された場合でも、その検出を取り消してエッジ検出信号Segを生成し、より適切にエッジの有無を検出することができる。
(III)第2実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態である第2実施形態について、図5及び図6を用いて説明する。なお、図5及び図6は第2実施形態におけるエッジ検出の概念を示す模式図である。
【0072】
上述した第1実施形態においては、原画像に含まれている画像構成物(すなわち、より具体的には、野球場の原画像であればそれに含まれる選手及び野球場であり、背景としての空を航空機が飛翔する原画像であれば、その航空機及び空)の内容に拘らずマクロブロックMB内におけるその対角線上を走査したが(図3ステップS2参照)、第2実施形態においては、原画像が二つのフィールド画像により構成されるいわゆるインターレース画像である場合に異なった形態で画素の走査を行う。
【0073】
なお、第2実施形態における原画像の走査以外のエッジ検出処理は第1実施形態の場合と同様であるので、細部の説明は省略する。
【0074】
原画像GZが当該インターレース画像であり更に当該原画像GZに含まれている画像構成物FTが高速で飛翔する航空機であるとき、画像構成物FTが原画像GZ内に登場した直後の当該画像構成物GZに含まれるマクロブロックMBにおいては、当該画像構成物FTの動きが高速であるが故に、図5上に示すように一のマクロブロックMB内であるにも拘らず背景としての空が第1フィールド画像として含まれ、画像構成物GZの一部が第2フィールド画像として含まれる場合がある。
【0075】
このような場合に、第1実施形態と同様な走査線SL1及びSL2を設定して走査すると(図6上参照)、当該走査線上の全ての相隣接する画素間でエッジが生じていると判定されてしまう(図3ステップS3及びS4参照)。そして、この場合に何等処理を行わないとすると、本来ならばエッジを含んでいないはずのマクロブロックMB内にエッジが含まれていると誤判定される場合があることとなる。
【0076】
このとき、上記MPEG方式では、フレーム画像をDCTした結果とフィールド画像をDCTした結果とのいずれかが一定の基準で選択されるが、図5のような場合に、仮にフレーム画像をDCTした結果が選択された場合には、エッジがあることを示すフラグはセットされていた方が圧縮後の画質としては優れたものとなるし、一方、フィールド画像をDCTした結果が選択された場合には、当該フラグがセットされていない方が当該画質としては優れることとなる。
【0077】
そこで、第2実施形態のエッジ検出処理においては、マクロブロックMB内の走査(図3ステップS2参照)において、図6下に示すように、一のマクロブロックMBをインターレース画像における第1フィールド画像のみを含む第1マクロブロックMB’と同じく第2フィールド画像のみを含む第2マクロブロックMB”に分割した上で、夫々分割されたマクロブロック上で対角線状に走査線SL1’及びSL2’並びにSL1”及びSL2”を設定し、当該設定された各走査線上を走査することにより当該各走査線上にある画素G間の輝度の変化を検出する。
【0078】
そして、マクロブロックMB’及びMB”としてエッジを検出した結果を示すフラグ信号Speと分割前のマクロブロックMBとしてエッジを検出した結果を示すフラグ信号Speとの双方をレート制御部11へ出力する構成とする。
【0079】
このように原画像GZがインターレース画像である場合に、当該原画像GZに含まれるマクロブロックMBとしての走査に加えて、これを分割したマクロブロックMB’及びMB”についても同様に走査することにより、二つのフィールド画像に跨るような高速で移動する画像構成物FTが当該原画像GZに含まれている場合でも、正しくマクロブロックMB毎のエッジの有無を検出することができるのである。
【0080】
以上説明したように、第2実施形態のエッジ検出処理によれば、上述した第1実施形態のエッジ検出部1の動作による効果に加えて、インターレース方式におけるフィールド画像毎にマクロブロックMB’及びMB”が設けられ、当該設けられたマクロブロックMB’及びMB”毎にエッジの有無を検出するので、動きの速い画像構成物FTが原画像GZに含まれている場合でも、正確にエッジの有無を検出することができる。
(IV)第3実施形態
次に、本発明に係る他の実施形態である第3実施形態について、図7を用いて説明する。なお、第3実施形態における原画像の走査以外のエッジ検出処理は第1又は第2実施形態の場合と同様であるので、細部の説明は省略する。
【0081】
上述した第1及び第2実施形態においては、一つのマクロブロックMBについては二方向のみの走査線に沿って走査(図3ステップS2参照)したが、第3実施形態では、四方向の走査線に沿ってマクロブロックMB内を走査する。
【0082】
すなわち、図7に示すように、第3実施形態におけるマクロブロックMBの走査では、図4に示したマクロブロックMBにおける対角線方向の走査線SL1及びSL2に加えて、マクロブロックMBにおける直交する二つの辺に平行で当該マクロブロックMBの中心を通る走査線SL3及びSL4を設けて画素Gの走査を行う。
【0083】
このように四方向に走査を行えば、第1又は第2実施形態の場合に比して、図7に示すように、二方向の走査線SL1及びSL2により挟まれたマクロブロックMB内に画像構成物FTがある場合でも、それほど処理を増大させることなく当該画像構成物FTによるエッジの存在を検出することができる。
【0084】
以上説明したように、第3実施形態のエッジ検出処理によれば、上記した第1又は第2実施形態のエッジ検出処理の効果に加えて、矩形のマクロブロックMB内の二つの対角線の方向及びその中心を通って二辺に平行な方向に走査して画素Gの変化を検出しエッジを検出するので、精度を高く維持しつつ簡易な処理でマクロブロックMB毎のエッジの有無を検出することができる。
(V)変形形態
上述した各実施形態では、図1に示したような、動き検出に再構成画像を使用する符号化部2に対して本発明を適用する場合について説明したが、これ以外に、図8に示すように、原画像を予め記憶するメモリ20を備え、このメモリ20から出力される当該原画像及び入力信号Sin内の原画像を用いて動き検出を行い上記ベクトル信号Svを生成する動き検出部9’を用いる符号化部2’を有する画像符号化装置S’に対しても、上記画像符号化装置S内の符号化部2と全く同様に本発明のエッジ検出部1を組み合わせることができる。
【0085】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1に記載の発明によれば、画素ブロック内の走査線上にある画素についてのみその変化を検出し、エッジの有無を検出するので、全ての画素についてその変化を検出してエッジの有無を検出する場合に比して最低限の精度を維持しつつ簡易な処理でエッジの有無を検出できる。
【0086】
従って、画像符号化の前処理としてのエッジの検出処理について、最低限の精度を維持しつつこれを簡素化し、符号化処理全体を高速化することができる。
【0087】
請求項2に記載の発明によれば、請求項1に記載の発明の効果に加えて、走査線上において相隣接する画素間の輝度の変化により画素間の変化を検出するので、正確にエッジの有無を検出できる。
【0088】
請求項3に記載の発明によれば、請求項1又は2に記載の発明の効果に加えて、矩形の画素ブロック内の二つの対角線の方向に走査して画素の変化を検出しエッジを検出するので、精度を維持しつつ簡易な処理で画素ブロック毎のエッジの有無を検出することができる。
【0089】
請求項4に記載の発明によれば、請求項1又は2に記載の発明の効果に加えて、矩形の画素ブロック内の二つの対角線の方向及び当該画素ブロックの中心を通って各辺に平行な方向に走査して画素の変化を検出しエッジを検出するので、精度を高く維持しつつ簡易な処理で画素ブロック毎のエッジの有無を検出することができる。
【0090】
請求項5に記載の発明によれば、請求項1から4のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、インターレース方式におけるフィールド画像毎に画素ブロックが設けられ、当該画素ブロック毎にエッジの有無を検出するので、動きの速い画像構成物が画像に含まれている場合でも、正確にエッジを検出することができる。
【0091】
請求項6に記載の発明によれば、請求項1から5のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、エッジが含まれていると検出された一の画素ブロックの周囲にある他の前記画素ブロックの全てがエッジを含んでいると検出されたとき、当該エッジが含まれていると検出された一の画素ブロックについては、エッジが含まれている旨のエッジ検出信号に代えてエッジが含まれていない旨のエッジ検出信号を生成するので、エッジがあると判断することが不適切である画像構成物内の画素ブロックについてエッジが含まれていると検出された場合でも、その検出を取り消してエッジ検出信号を生成し、より適切にエッジの有無を検出することができる。
【0092】
請求項7に記載の発明によれば、簡易な処理で最低限の精度を維持しつつエッジが検出されるので、より処理時間を短縮して画像を符号化することができる。
【0093】
請求項8に記載の発明によれば、請求項7に記載の発明の効果に加えて、エッジ検出信号に基づいて画素ブロック毎に符号量を割り当てつつ画像を圧縮符号化するので、より符号化効率を向上させつつ画像を圧縮符号化することができる。
【0094】
請求項9に記載の発明によれば、画素ブロック内の走査線上にある画素についてのみその変化を検出し、エッジの有無を検出するので、全ての画素についてその変化を検出してエッジの有無を検出する場合に比して最低限の精度を維持しつつ簡易な処理でエッジの有無を検出できる。
【0095】
従って、画像符号化の前処理としてのエッジの検出処理について、最低限の精度を維持しつつこれを簡素化し、符号化処理全体を高速化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の画像符号化装置の概要構成を示すブロック図である。
【図2】エッジ検出部の細部構成を示すブロック図である。
【図3】第1実施形態のエッジ検出処理を示すフローチャートである。
【図4】第1実施形態のエッジ検出処理を示す模式図である。
【図5】第2実施形態のエッジ検出処理の原理を示す説明図である。
【図6】第2実施形態のエッジ検出処理を示す模式図である。
【図7】第3実施形態のエッジ検出処理を示す模式図である。
【図8】変形形態の画像符号化装置の概要構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1…エッジ検出部
2、2’…符号化部
3…加算器
4…DCT部
5…量子化部
6…逆量子化部
7…可変長符号化部
8…逆DCT部
9、9’…動き検出部
10…動き補償予測部
11…レート制御部
15…エッジ検出回路
16、20…メモリ
17…判定回路
S、S’…画像符号化装置
G…画素
MB、MB’、MB”…マクロブロック
SL1、SL1’、SL1”、SL2、SL2’、SL2”、SL3、SL4…走査線
GZ…原画像
FT…画像構成物
Sin…入力信号
Seg…エッジ検出信号
Sdd…再構成信号
Sv…ベクトル信号
Se…補償信号
Sa…減算信号
Sd…変換信号
Sr…レート信号
Sq…量子化信号
Siq…逆量子化信号
Sid…逆変換信号
Sdd…再構成信号
Sout…出力信号
Spe…フラグ信号

Claims (9)

  1. 画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成される画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出装置であって、
    相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査手段と、
    前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出手段と、
    いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成手段と、を備え
    前記画像はインタレース方式により表示されると共に、
    前記画素ブロックは前記インタレース方式におけるフィールド画像毎に設けられていることを特徴とするエッジ検出装置。
  2. 請求項1に記載のエッジ検出装置において、
    前記検出手段は、前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間において当該画素の輝度の変化があるとき、前記画素の変化があると検出することを特徴とする
    エッジ検出装置。
  3. 請求項1又は2に記載のエッジ検出装置において、
    前記画素ブロックは矩形であると共に、
    相互に異なる前記方向は当該画素ブロックの二つの対角線の方向であることを特徴とするエッジ検出装置。
  4. 請求項1又は2に記載のエッジ検出装置において、
    前記画素ブロックは矩形であると共に、
    相互に異なる前記方向は、当該画素ブロックの二つの対角線の方向と、当該画素ブロックの中心を通って当該画素ブロックの各辺に平行な方向と、であることを特徴と
    するエッジ検出装置。
  5. 請求項1からのいずれか一項に記載のエッジ検出装置において、
    前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックの周囲にある他の前記画素ブロックが前記エッジを含んでいるか否かを検出する周囲検出手段を更に備え、
    前記生成手段は、前記他の画素ブロックの全てが前記エッジを含んでいると検出されたとき、前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックについては、前記エッジが含まれている旨の前記エッジ検出信号に代えて前記エッジが含まれていない旨の前記エッジ検出信号を生成することを特徴とするエッジ検出装置。
  6. 画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成される画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出装置であって、
    相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査手段と、
    前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出手段と、
    いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成手段と、
    前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックの周囲にある他の前記画素ブロックが前記エッジを含んでいるか否かを検出する周囲検出手段を更に備え、
    前記生成手段は、前記他の画素ブロックの全てが前記エッジを含んでいると検出されたとき、前記エッジが含まれていると検出された一の前記画素ブロックについては、前記エッジが含まれている旨の前記エッジ検出信号に代えて前記エッジが含まれていない旨の前記エッジ検出信号を生成することを特徴とするエッジ検出装置。
  7. 請求項1から6のいずれか一項に記載のエッジ検出装置と、
    前記エッジ検出信号に基づいて前記画素ブロック毎に前記画像を符号化する符号化手段と、
    を備えることを特徴とする画像符号化装置。
  8. 請求項7に記載の画像符号化装置において、
    前記符号化手段は、前記エッジ検出信号に基づいて前記画素ブロック毎に符号量を割り当てつつ前記画像を圧縮符号化することを特徴とする画像符号化装置。
  9. 画像内に含まれ当該画像を構成する一の画像構成物と当該画像内において当該一の画像構成物に隣接する他の画像構成物との境界線であるエッジであって、前記画像を構成する画素を複数個含んで構成される画素ブロック内における当該エッジの有無に基づいて当該画素ブロック単位で前記画像の符号化が行われるエッジを検出するエッジ検出方法であって、
    相互に異なる方向の複数の走査線に沿って一の前記画素ブロック内に含まれる前記画素を走査する走査工程と、
    前記走査線上において相隣接する二つの前記画素間における当該画素の変化の有無を検出する検出工程と、
    いずれかの前記走査線上において前記変化があるとき、当該走査された前記画素ブロック内に前記エッジが含まれていることを示すエッジ検出信号を生成する生成工程と、を備え
    前記画像はインタレース方式により表示されると共に、
    前記画素ブロックは前記インタレース方式におけるフィールド画像毎に設けられて
    いる特徴とするエッジ検出方法。
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