JP3844921B2 - Coin inspection method and apparatus - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明はコインの真贋性および金種を検査するコイン検査方法および装置に関し、特に自動販売機、ゲーム機器等に使用されるコインの検査に好適なコイン検査方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、自動販売機、ゲーム機器等に使用されるコイン検査装置は、誘導コイル(検知コイル)を用いた電子式コイン検査装置が主流である。
【0003】
この種のコイン検査装置は、一般的にコインの自由落下を利用するもので、コイン投入口から投入されたコインを案内するコイン通路に複数組みの検知コイルを配置し、この複数組みの検知コイルをそれぞれ異なる周波数により励磁することで電磁場を形成し、コイン投入口から投入されたコインがこの電磁場内を通過することによる、該電磁場の変化を利用して該コインの真贋性および金種を検査するように構成されている。
【0004】
従来、誘導コイルを用いてコインの特徴を検出するコイン検査装置の代表的技術として特公昭56−51396号に開示されたものがある。
【0005】
図13は、上記従来のコイン検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【0006】
図13に示すコイン検査装置は、ブリッジ回路を用いて構成されるもので、被検査コイン3に近接して配置された検知コイル201、この検知コイル201を励磁する発振器(OSC)202、上記検知コイル201および可変コンデンサC1〜C3および可変抵抗R1、R3,R5および固定抵抗R2,R4,R6,R7を含むブリッジ回路200、ブリッジ回路200の出力を増幅するアンプA1〜A3、アンプA1〜A3の出力を整流する整流回路203a〜203c、整流回路203a〜203cの出力をアナログディジタル変換するAD変換回路204a〜04c、AD変換回路204a〜04cの出力を入力して被検査コイン3の真贋性および金種を判別する論理回路205を具備して構成される。
【0007】
しかし、上記従来のコイン検査装置は、ブリッジ回路200の平衡状態を保持するためのバランス調整が必要となり回路が複雑となる。また、ブリッジ回路は温度変化等に対し敏感に反応して平衡状態が崩れ易く検出感度を損なうなどの問題があった。
【0008】
ところで、この種のコイン検査装置によるコインの検査は、電磁場の中をコインが通過するとき、この電磁場とコインとの相互作用により得られる電気的変化量(周波数変化、電圧変化、位相変化)を検出して該コインの真贋性および金種を判別している。
【0009】
すなわち、この種のコイン検査装置は、コインの特徴が周波数に依存したパラメータとなることが多いことから、米国特許N0.3,870,137に開示されているように、複数の周波数を使うことでコインの材質、外径、厚さなどを検査する技術として利用されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、国際化に伴って諸外国のコインが容易に持ち込まれ、それらのコインが自動販売機等に誤って投入されたり、或いは不正を試みる者による詐欺行為などのために投入されるケースが増えている。
【0011】
それら諸外国のコインの中には材質、外径、厚さなどが本物のコインに近似するものがあったり、あるいは諸外国のコインを変造するなどして本物コインに似せたものが多量に出回っている。
【0012】
このような諸外国のコイン若しくは諸外国のコインを変造したコインは本物のコインとコイン表面のデザイン(凹凸模様)が異なったり、あるいはコイン縁部(フランジ)の形状が異なるものの、材質、外径、厚さが殆ど一致しているものがあるため、従来のコイン検査装置においては、これらのコインを本物と誤って受け入れてしまうことがあり、この場合、自動販売機等の管理者に不測の損害を与えることになる。
【0013】
また、コイン表面の僅かな形状的特徴を検出するために、この種のコイン検査装置に、画像検出素子(CCD)を用いた光学的な手法を採用する試みもあるが、このような光学的な手法は、埃などが付着してコインの真偽判定を損ねる問題があり、装置が大きくなるばかりか複雑となり、その結果、装置全体が高価となる問題があった。
【0014】
そこで、この発明は、簡単な一組のコイル構成でコイン表面の凹凸模様とを精度良く検査することができしかも安価な構成のコイン検査方法および装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1記載の発明は、複数の磁極が所定間隔で配列された第1の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第1のコイルおよび第2のコイルを含む第1の励磁コイルと前記第1の磁性体コアの前記第1の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第1の受信コイルとを有する第1の検知コイルと、複数の磁極が所定間隔で配列された第2の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第3のコイルおよび第4のコイルを含む第2の励磁コイルと前記第2の磁性体コアの前記第2の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第2の受信コイルとを有する第2の検知コイルとを対向して配置し、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルにより発生される磁界内に被検査コインを通過させ、前記被検査コインの通過に際して前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに発生する電気的特性変化に基づき前記被検査コインを判別することを特徴とする。
【0016】
また、請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルは、それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに誘起される電圧が相互に打ち消し合うように差動接続されることを特徴とする。
【0017】
また、請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1の磁性体コアおよび前記第2の磁性体コアは、前記複数の磁極の配設方向が前記検査コインの通過方向と一致し、かつ前記複数の磁極の中心が前記検査コインの略中心位置に一致するように配置されることを特徴とする。
【0018】
また、請求項4記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1の励磁コイルは、前記第1の磁性体コアの2つの磁極から発生される磁束が相互に打ち消し合うように前記第1のコイルおよび第2のコイルを巻回して双峰磁界を発生させ、前記第2の励磁コイルは、前記第2の磁性体コアの2つの磁極から発生される磁束が相互に打ち消し合うように前記第3のコイルおよび第4のコイルを巻回して双峰磁界を発生させることを特徴とする。
【0019】
また、請求項5記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1の受信コイルを共振素子として含む第1の共振回路を形成するとともに、前記第2の受信コイルを共振素子として含み前記第1の共振回路の共振周波数と共振周波数が異なる第2の共振回路を形成し、前記第1の共振回路と前記第2の共振回路の差動出力に基づき前記被検査コインを判別することを特徴とする。
【0020】
また、請求項6記載の発明は、請求項5記載の発明において、前記第1の共振回路の共振周波数および前記第2の共振回路の共振周波数は、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定されることを特徴とする。
【0021】
また、請求項7記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを差動接続するとともに、該差動接続された前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを共振素子として含む共振回路を形成し、前記共振回路の出力に基づき前記被検査コインを判別することを特徴とする。
【0022】
また、請求項8記載の発明は、請求項7記載の発明において、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定されることを特徴とする。
【0023】
また、請求項9記載の発明は、請求項7記載の発明において、前記第1の受信コイルに並列にダンプ抵抗を接続したことを特徴とする。
【0027】
また、請求項10記載の発明は、コインの物理特性を試験し、該コインの真贋性および金種を検査するコイン検査装置において、コイン投入口と、前記コイン投入口に連結されたコイン通路と、複数の磁極が所定間隔で配列された第1の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第1のコイルおよび第2のコイルを含む第1の励磁コイルと前記第1の磁性体コアの前記第1の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第1の受信コイルとを有する第1の検知コイルと、複数の磁極が所定間隔で配列された第2の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第3のコイルおよび第4のコイルを含む第2の励磁コイルと前記第2の磁性体コアの前記第2の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第2の受信コイルとを有し、前記コイン通路を挟んで前記第1の検知コイルに対向して配置される第2の検知コイルと、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルを励磁する励磁手段と、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルの電気的特性変化を検出する検出手段と、受納可能コインの基準値を記憶する記憶手段と、前記検出手段による検出出力と前記記憶手段に記憶された基準値とを比較する比較手段と、前記比較手段の比較出力に基づき前記コイン投入口から投入されたコインを判別する判別手段とを具備することを特徴とする。
【0028】
また、請求項11記載の発明は、請求項10記載の発明において、前記第1の受信コイルと前記第2の受信コイルは、それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに誘起される電圧が相互に打ち消し合うように差動接続されることを特徴とする。
【0029】
また、請求項12記載の発明は、請求項10記載の発明において、前記第1の磁性体コアおよび前記第2の磁性体コアは、それぞれ前記複数の磁極の配設方向が前記検査コインの通過方向と一致し、かつ前記複数の磁極の中心が前記検査コインの略中心位置に一致するように配置されることを特徴とする。
【0030】
また、請求項13記載の発明は、請求項10記載の発明において、前記第1の受信コイルを共振素子として含み、第1の共振周波数で共振する第1の共振回路と、前記第2の受信コイルを共振素子として含み、前記第1の共振周波数と異なる第2の共振周波数で共振する第2の共振回路とを具備し、前記検出手段は、前記第1の共振回路と前記第2の共振回路の差動出力を検出することを特徴とする。
【0031】
また、請求項14記載の発明は、請求項13記載の発明において、前記第1の共振回路の共振周波数および前記第2の共振回路の共振周波数は、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定されることを特徴とする。
【0032】
また、請求項15記載の発明は、請求項10記載の発明において、前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを差動接続するとともに、該差動接続された前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを共振素子として含む共振回路を具備し、前記検出手段は、前記共振回路の出力を検出することを特徴とする。
【0033】
また、請求項16記載の発明は、請求項15記載の発明において、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定されることを特徴とする。
【0034】
また、請求項17記載の発明は、請求項15記載の発明において、前記第1の受信コイルは、並列に接続されたダンプ抵抗を具備することを特徴とする。
【0038】
この発明においては、検知コイルの励磁コイルを所定の周波数で励磁駆動することで、励磁コイル周辺に電磁界を発生させてこの検知コイルの電磁場を作る。この電磁界は励磁コイルに隣接して配置された第1の受信コイルおよび第2の受信コイルに誘導作用し、第1の受信コイルおよび第2の受信コイルはこの誘導作用を受けて対応する誘起電圧を発生する。
【0039】
ここで、この検知コイルの電磁場内にコインが作用すると、第1の受信コイルおよび第2の受信コイルに誘起する電圧が変化する。この変化は、差動接続された第1の受信コイルに誘起される電圧と第2の受信コイルに誘起される電圧との差として検出され、その検出電圧は励磁コイルの励磁周波数に近い方に設定された共振周波数の受信コイルに偏起して発生し、またコイン表面の模様の凹凸に特徴付けられて変化する。
【0040】
このような構成によると、受信コイルからの検出電圧を一定方向に変化する信号として取り出すことが可能となり、またコイン表面の模様の凹凸に特徴付けらた信号として検出することができ、これによりコイン表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出することができる。
【0041】
【発明の実施の形態】
以下、この発明に係わるコイン検査方法および装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【0042】
図1は、この発明に係わるコイン検査方法および装置で採用される検知コイルを示す図である。また、図2は、図1に示した検知コイルの詳細説明図である。
【0043】
図1において、図1の(a)は、この発明に係わるコイン検査方法および装置で採用される検知コイル1の正面図を示し、図1の(b)は、図1の(a)に示す検知コイル1の断面図を示し、図1の(c)は、図1の(a)に示す検知コイル1のA部矢視図である。
【0044】
検知コイル1は、第1のコイル1aと第2のコイル1bで構成され、第1のコイル1aはコイン通路5の一側部の通路壁4aに配設され、第2のコイル1bは、コイン通路5を挟んで第1のコイル1aに電磁的に結合するように配設される。
【0045】
また、検知コイル1はそのコイルの長手方向がコイン通路5の底面を構成するレール2と略平行になり、かつ、コイン3の中心と検知コイル1の幅のセンタが略一致するように配置される。
【0046】
また、コイン通路5は、コイン3を案内して落下させる所定角度で傾斜し、底部に配置されたレール2と、一対の通路壁4a、4bで構成され、通路壁4a、4bは、図1の(b)に示すように、コイン3が一方の通路壁4b側に傾いて落下するように、コイン落下方向に垂直でかつ鉛直方向に対し傾いて配設されている。
【0047】
また、コイン3を載せて案内するレール2の表面も通過するコイン3が通路壁4b側に傾くように、通路壁4a、4bの傾斜方向に傾く構成となっている。
【0048】
さて、この検知コイル1は、図2に、側面図(図2(a))および平面図(図2(b))で詳細に示すように、フェライトなどの高透磁率の磁性材料からなり複数の磁極が所定間隔でほぼ直線上に配置された櫛形コア8と、その櫛形コア8の隣接する3つの磁極6a、6b、6cにそれぞれに巻回されたコイル7a、7b、7cを具備して構成される。
【0049】
また、この検知コイル1の第1のコイル1aは(図1参照)、後に詳述するように、第1のコイル1a内の2つの磁極6b、6cに巻回された両コイル7b、7cが、隣接する二つの磁極6b、6cから発生される磁束が相互に打消し合うようにして接続されている。
【0050】
同様に、第2のコイル1bは、2つの磁極6b’、6c’に巻回された両コイル7b’、7c’が、隣接する二つの磁極6b’、6c’から発生される磁束が相互に打消し合うようにして接続されている。
【0051】
さらに、第1のコイル1aおよび第2のコイル1bは、相互インダクタンスが負になるように直列逆相接続されている。
【0052】
ここで、後に詳述するように、第1のコイル1aのコイル7aおよび第2のコイル1bのコイル7a’は受信コイルを構成し、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’は、励磁コイルを構成する。
【0053】
図3は、図1に示した検知コイル1を用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の制御回路の構成を示すブロック図である。
【0054】
図3において、図1に示した検知コイル1の第1のコイル1aは、コイル7a、7b、7cから構成されており、このうち励磁コイルを構成するコイル7b、7cは、図1に示した隣接する二つの磁極6b、6cから発生される磁束が相互に打消し合うようにして接続されている。
【0055】
同様に、第2のコイル1bは、コイル7a’、7b’、7c’から構成されており、このうち励磁コイルを構成するコイル7b’、7c’は、隣接する二つの磁極6b’、6c’から発生される磁束が相互に打消し合うようにして接続されている。
【0056】
第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’は、並列にキャパシタC3およびキャパシタC4が接続され、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’とキャパシタC3およびキャパシタC4により共振回路18を構成している。
【0057】
また、共振回路18は帰還回路19と共に自励式の発振回路20を構成し、この発振回路20は共振素子18の共振周波数に基づく周波数で発振し、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’の両端には正弦波電圧が発生し、これによりコイル7b、7cおよびコイル7b’、7c’を励磁駆動する。
【0058】
この結果、検知コイル1は、その周辺に電磁界を発生せしめ、第1のコイル1aおよび第2のコイル1bは電磁的に結合するようにして電磁場を構成する。
【0059】
また、第1のコイル1aのコイル(第1の受信コイル)7aには並列にキャパシタC1が接続されて第1の共振回路10を構成し、また、第2のコイル1bのコイル(第2の受信コイル)7a’には並列にキャパシタC2が接続され、第2の共振回路11を構成する。
【0060】
ここで、第1の受信コイル7aおよび第2の受信コイル7a’は、それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、第1の受信コイル7aおよび第2の受信コイル7a’に誘起される電圧が相互に打ち消し合うように差動接続されている。
【0061】
また、第1の共振回路10の共振周波数および第2の共振回路11の共振周波数は、それぞれ異なるように設定されているとともに、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’を励磁する発振回路20の発振周波数(励磁周波数)より低く設定されている。
【0062】
この結果、この検知コイル1の電磁場内に被検査コイン3が作用すると、第1の受信コイル1aおよび第2の受信コイル1bに誘起する電圧が変化し、この変化は、第1の共振回路10に誘起される電圧と第2の共振回路11に誘起される電圧との差として検出され、その検出電圧は検出回路12に入力される。
【0063】
この検出電圧は、後に詳述するように、励磁コイル7b、7c、7b’、7c’の励磁周波数に近い方に設定された共振周波数の第1の受信コイル1aまたは第2の受信コイル1bに偏起して発生し、また被検査コイン3の表面の模様の凹凸に特徴付けられて変化する。
【0064】
検出回路12では、上記第1の受信コイル1aおよび第2の受信コイル1bによる検出電圧を増幅検波回路13で検波し、これをAD変換部14でアナログディジタル変換して比較判定部15に加える。
【0065】
比較判定部15は、検出回路12からのデジタル電圧信号と記憶部16に記憶された各種コインの基準値とを比較し、被検査コイン3が所定の特徴を備えているか否かを判定して判定の結果を出力端子17へ出力する。
【0066】
この比較判定部15の出力は後述する振り分けソレノイドや図示しないコインカウンタ等を駆動するために使用される。
【0067】
ここで、被検査コイン3が検知コイル1の電磁場内を通過するときの電磁作用について詳述する。
【0068】
図4は、図3に示した検知コイル1の特性を示す特性図である。
【0069】
図4において、40は、発振回路20による共振素子である第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’における周波数応答特性を示し、その中心周波数(発振周波数)f0は、例えば、120KHzに設定される。
【0070】
ここで、前述したように、この検知コイル1における第1の共振回路10の共振周波数および前記第2の共振回路11の共振周波数は、それぞれ異なるように設定されているとともに、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’を励磁する発振回路20の発振周波数(励磁周波数)より低く設定されている。
【0071】
すなわち、41は、第2の共振回路11における周波数応答特性を示し、その中心周波数(共振周波数)f1は、例えば、80KHzに設定される。
【0072】
また、42は、第1の共振回路10における周波数応答特性を示し、その中心周波数(共振周波数)f2は、例えば65KHzに設定される。
【0073】
ここで、周波数f0における第2の共振回路11の受信レベルV1と第1の共振回路10における受信レベルV2との間にはΔVのレベル差があり、この実施の形態のコイン検査装置においては、このレベル差を利用して、コイン表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出する。
【0074】
すなわち、この実施の形態のコイン検査装置においては、検知コイル1の電磁場内に被検査コイン3が作用すると、第1の受信コイル1aおよび第2の受信コイル1bに誘起する電圧が変化し、この変化は、第1の共振回路10に誘起される電圧と第2の共振回路11に誘起される電圧との差として検出される。ここで、第1のコイル1aのコイル7b、7cおよび第2のコイル1bのコイル7b’、7c’における励磁周波数f0における第2の共振回路11の受信レベルV1と第1の共振回路10における受信レベルV2との間にΔVのレベル差があると、上記検出電圧は、被検査コイン3の裏表の模様の凹凸の違いに応じて変化し、その結果、被検査コイン3の表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出することができる。
【0075】
図5は、図4に示した特性を有する検知コイル1を用いて代表コインにより試験を行った結果を示す特性図である。
【0076】
図5において、50は、日本国500円硬貨における検出信号波形を示し、51は、日本国500円硬貨に材質、外形、厚さが極近似し、表面模様の異なる被疑貨の一方の面側における検出信号波形を示し、52は、被疑貨の他方の面側における検出信号波形を示す。
【0077】
また、aは、上記検出信号波形で比較すべき値のサンプリングアドレスを示し、53は、被疑貨検出のための基準値(上限値)を示し、54は、被疑貨検出のための基準値(下限値)を示す。
【0078】
図5から明らかなように、サンプリングアドレスaにおいて、日本国500円硬貨(正貨)の検出信号波形は、上記基準値(上限値)53と基準値(下限値)54の間に入るが、被疑貨の一方の面側における検出信号波形51および被疑貨の他方の面側における検出信号波形52は、いずれも上記基準値(上限値)53と基準値(下限値)54の間から外れることになり、これを利用して日本国500円硬貨(正貨)と例えば、硬貨の片面だけを凹上に削った変造貨等を識別することができる。
【0079】
図6は、図1に示した検知コイル1を用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の他の制御回路の構成を示すブロック図である。
【0080】
図6に示す制御回路においては、第1のコイル1aのコイル(第1の受信コイル)7aに並列に抵抗(ダンプ抵抗)R1を接続して、この第1の受信コイル7aと第2のコイル1bのコイル(第2の受信コイル)7a’とを差動接続し、第1の受信コイル7aと第2の受信コイル7a’との間にキャパシタC1を接続して並列共振回路400を構成している。他の構成は図3に示した制御回路と同様である。
【0081】
このような構成においても、図3に示した制御回路と同様に、被検査コイン3の表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出することができる。
【0082】
図7は、図6に示した検知コイル1の特性を示す特性図である。
【0083】
図7において、500は、発振回路20の周波数応答特性の中心周波数(共振周波数)f0を示し、このf0は、例えば、120KHzに設定される。
【0084】
また、501および502は、第2の受信コイル1bの周波数応答特性およびダンプ抵抗R1が接続された第1の受信コイル1aの周波数応答特性を示し、その中心周波数(共振周波数)f1は、例えば、80KHzに設定される。
【0085】
ここで、周波数f0における第2の受信コイル1bの受信レベルV1と第1の受信コイル1aの受信レベルV2との間にはΔVのレベル差があり、この実施の形態のコイン検査装置においては、このレベル差を利用して、コイン表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出する。
【0086】
すなわち、この実施の形態のコイン検査装置においては、検知コイル1の電磁場内に被検査コイン3が作用すると、第1の受信コイル1aおよび第2の受信コイル1bに誘起する電圧が変化し、この変化は、第1の受信コイル1aに誘起される電圧と第2の受信コイル1bに誘起される電圧との差として検出される。
【0087】
ここで、周波数f0における第2の受信コイル1bの受信レベルV1と第1の受信コイル1aの受信レベルV2との間にΔVのレベル差があるので、上記検出電圧は、被検査コイン3の裏表の模様の凹凸の違いに応じて変化し、その結果、被検査コイン3の表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出することができる。
【0088】
図8は、この発明に係わるコイン検査装置を用いて構成した自動販売機等のコイン処理装置を示す図である。
【0089】
図8において、このコイン処理装置30は、コイン投入口31から投入された被検査コイン(以下、コインという)3を自然落下によって、コイン投入口31の下方に設けたレール2へ落下させる。
【0090】
レール2へ落下した被検査コイン3は、コイン通路5(図1参照)を通ってコイン投入口31から遠ざかる方向の下流に転動しながら落下する。コイン3はコイン通路5内を移動する間、外径検知コイル32、材質検知コイル33およびこの発明に係わる検知コイル1を通過する。
【0091】
このコイン処理装置30は、コイン3が上記各検知コイルを通過する間にコイン3の真贋性および金種を検査する。この検査の結果、投入されたコイン3が真正であると判定したときは、出力端子17へ出力される信号に基づき振り分けソレノイド35を駆動してゲート34を作動させ、コイン3を図示しない正貨通路へ導く。
【0092】
しかし、検査の結果コイン3が偽貨と判定されたときは、ゲート34を作動せずにコイン3を図示しない偽貨通路へ導き、図示しない排出口より排出する。
【0093】
ここではコイン3が正貨であると仮定すると、正貨通路へ導かれたコイン3は自由落下を続け、やがてレール36へ落下する。レール36へ落下したコイン3は図示しない周知の振り分け手段により金種毎に振り分けられ各金種毎に設けられた排出口A、B、C、Dの対応する排出口より排出される。
【0094】
ここで、外径検知コイル32および材質検知コイル33による検査手法としては周知の技術を用いることができる。
【0095】
図9は、図8に示した自動販売機のコイン処理動作を説明するフローチャートである。
【0096】
図9において、このコイン検査装置の電源が投入されると、ステップ100でMPU20内の入出力などの初期設定を行う。
【0097】
ステップ100を実行後、ステップ101の判断処理で検知コイル32、33からの信号を用いて装置内にコインが投入されたか否かを判断する処理を実行する。ステップ101の判断処理でコインが投入されたと判断すると、プログラムはステップ102のAD変換処理へと進む。しかし、ステップ101の判断処理でコインが投入されていないと判断するとコインの到来を待つようにして待機処理をループする。ここでは、ステップ101の判断処理でコインが投入されたものと仮定してステップ102のAD変換処理へ進むものとする。
【0098】
ステップ102のAD変換処理は、コインが検知コイル内に到来するとその信号を受けて各検知コイル毎にサンプリングを開始する。サンプリング結果は、MPU20内のRAMなどのメモリ21に一時記憶保持してステップ103の演算処理へ進む。
【0099】
ステップ103の演算処理は、メモリ21に一時記憶保持された値と予めメモリ21に記憶されている受納可能コインの値とを使って演算処理を行って、ステップ105の真偽判定へ進む。
【0100】
ステップ105の真偽判定は、ステップ103の演算処理により求めた値と予め記憶させた受納可能コインの基準値とを比較し、その値が基準値内であるとき被検査コインを真のものであると判定し、ステップ106の正貨処理へと進む。しかし、その値が基準値外と判定したときは被検査コインを偽と判定し、ステップ104の偽貨処理を実行して待機ループへ戻る。
【0101】
ここでは、ステップ105の真偽判定処理で被検査コインが真のものであると判定されたものと仮定してステップ106の正貨処理を実行するものとする。ステップ106の正貨処理は、上記判定結果に基づき正貨信号、金種信号などを出力する処理を実行し待機ループへ戻る。
【0102】
ここで、プログラムは一連の処理を終了してステップ101へ戻り待機処理をループする。
【0103】
上述したようにこの実施の形態によれば被検査コイン3の表面の模様の凹凸に特徴付けられて変化する信号を、共振周波数がそれぞれ異なるようにして差動接続された第1の受信コイル7aの第1の共振回路10に誘起される電圧と第2の受信コイル7bの第2の共振回路11に誘起される電圧との差として検出し、これによりコイン表面に施された表裏の模様の凹凸の違いを検出する。
【0104】
このように構成することにより、外国貨を変造した偽貨を精度よく検出することができる。例えば、硬貨の表面の片面だけを凹状に削った変造貨など一定の方向に変化する信号を安定して検出することができる。
【0105】
また、受信コイルをアンバランス状態に設定することで、受信コイル単体間のインダクタンスなどの特性のバラツキがあっても実用上吸収され、また、 平衡などの調整が不要となる。
【0106】
図10は、この発明に係わるコイン検査方法および装置で採用される検知コイルの他の実施の形態を示す図である。また、図11は、図10に示した検知コイルの詳細説明図である。
【0107】
図10において、この検知コイル300は、コイン通路5の片方の通路壁4bに配設される。なお、コイン通路5の構成および配置は図1に示した構成と同様である。
【0108】
さて、この実施の形態の検知コイル300は、図11に、側面図(図11(a))および平面図(図11(b))で詳細に示すように、フェライトなどの高透磁率の磁性材料からなり複数の磁極が所定間隔でほぼ直線上に配置された櫛形コア8と、その櫛形コア8の隣接する3つの磁極6a、6b、6cにそれぞれに巻回されたコイル301a、301b、301cを具備して構成される。
【0109】
ここで、この実施の形態の検知コイル300においては、コイル301aおよびコイル301cが受信コイルを構成し、コイル301bが励磁コイルを構成する。
【0110】
図12は、図10に示した検知コイル1を用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の制御回路の概略構成を示すブロック図である。
【0111】
図12において、図10に示した検知コイル300のコイル(励磁コイル)301bには、並列にキャパシタC3およびキャパシタC4が接続され、コイル301bとキャパシタC3およびキャパシタC4により共振回路18を構成している。
【0112】
また、共振回路18は帰還回路19と共に自励式の発振回路20を構成し、この発振回路20は共振素子18の共振周波数に基づく周波数で発振し、コイル301bを励磁駆動する。
【0113】
この結果、検知コイル300は、その周辺に電磁界を発生せしめ電磁場を構成する。
【0114】
また、コイル(第1の受信コイル)301aおよびコイル(第2の受信コイル)301cは、それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、第1の受信コイル301aおよび第2の受信コイル301cに誘起される電圧が相互に打ち消し合うように差動接続されている。
【0115】
検出回路12は、増幅検波回路13およびAD変換部14を有し、上記第1の受信コイル301aおよび第2の受信コイル301cによる検出電圧を増幅検波回路13で検波し、これをAD変換部14でアナログディジタル変換して比較判定部15に加える。
【0116】
比較判定部15は、検出回路12からのデジタル電圧信号と記憶部16に記憶された各種コインの基準値とを比較し、被検査コイン3が所定の特徴を備えているか否かを判定して判定の結果を出力端子17へ出力する。
【0117】
このような構成においても、被検査硬貨3の表面の模様の凹凸を精度よく検出することができる。
【0118】
なお、上記実施の形態においては、検知コイル1の櫛型コアにおける磁極間の形状をコの字形としたがUの字形などこの発明による要旨を逸脱しない範囲において適宜他の形状のものを用いてもよい。
【0119】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明によれば、簡単な一組のコイル構成でコイン表面の凹凸模様とを精度良く検査することができしかも安価な構成のコイン検査方法および装置を提供することができる。
【0120】
また、
1)例えば、硬貨の表面の片面だけを凹状に削った変造貨などの外国貨を変造した偽貨を精度よく検出することができる
2)一定の方向に変化する信号を安定して検出することができる
3)受信コイルをアンバランス状態に設定することで、受信コイル単体間のインダクタンスなどの特性のバラツキがあっても実用上吸収される
4) 平衡などの調整が不要である
等の硬貨を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わるコイン検査方法および装置で採用される検知コイルを示す図である。
【図2】図1に示した検知コイルの詳細説明図である。
【図3】図1に示した検知コイルを用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の制御回路の構成を示すブロック図である。
【図4】図3に示した検知コイルの特性を示す特性図である。
【図5】図4に示した特性を有する検知コイル1を用いて代表コインにより試験を行った結果を示す特性図である。
【図6】図1に示した検知コイルを用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の他の制御回路の構成を示すブロック図である。
【図7】図6に示した検知コイルの特性を示す特性図である。
【図8】この発明に係わるコイン検査装置を用いて構成した自動販売機等のコイン処理装置を示す図である。
【図9】図8に示した自動販売機のコイン処理動作を説明するフローチャートである。
【図10】この発明に係わるコイン検査方法および装置で採用される検知コイルの他の実施の形態を示す図である。
【図11】図10に示した検知コイルの詳細説明図である。
【図12】図10に示した検知コイル300を用いて構成したこの発明に係わるコイン検査方法および装置が適用されるコイン検査装置の制御回路の概略構成を示すブロック図である。
【図13】従来のコイン検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 検知コイル
1a 第1の検知コイル
1b 第2の検知コイル
2 レール
3 被検査コイン
4a、4b 通路壁
5 コイン通路
6a〜6d 磁極
6a'〜6b' 磁極
7a〜7c コイル
7a'〜7c' コイル
10 第1の共振回路
11 第2の共振回路
12 検出回路
13 増幅検波回路
14 AD変換部
15 比較判定部
16 記憶部
17 出力端子
18 共振回路
19 帰還回路
20 発振回路
31 コイン投入口
32 外径検知コイル
33 材質検知コイル
34 ゲート
35 振り分けソレノイド
36 レール
200 ブリッジ回路
201 誘導コイル
202 発振回路
203 整流回路
204 AD変換回路
205 論理回路
300 検知コイル
301a〜301c コイル
400 共振回路
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a coin inspection method and apparatus for inspecting the authenticity and denomination of a coin, and more particularly to a coin inspection method and apparatus suitable for inspection of coins used in vending machines, game machines and the like.
[0002]
[Prior art]
In recent years, electronic coin inspection devices using an induction coil (detection coil) are mainly used as coin inspection devices used in vending machines, game machines and the like.
[0003]
This type of coin inspection device generally uses free fall of coins, and a plurality of sets of detection coils are arranged in a coin path for guiding coins inserted from a coin insertion slot. The magnetic field is formed by exciting each with different frequencies, and the authenticity and denomination of the coin are inspected using the change of the electromagnetic field caused by the coin inserted from the coin insertion slot passing through the electromagnetic field. Is configured to do.
[0004]
Conventionally, there is a technique disclosed in Japanese Patent Publication No. 56-51396 as a representative technique of a coin inspection device that detects the characteristics of a coin using an induction coil.
[0005]
FIG. 13 is a block diagram showing a schematic configuration of the conventional coin inspection apparatus.
[0006]
The coin inspection apparatus shown in FIG. 13 is configured using a bridge circuit, and includes a detection coil 201 disposed in the vicinity of the coin 3 to be inspected, an oscillator (OSC) 202 that excites the detection coil 201, and the detection described above. A bridge circuit 200 including a coil 201, variable capacitors C1 to C3, variable resistors R1, R3 and R5 and fixed resistors R2, R4, R6 and R7, amplifiers A1 to A3 for amplifying the output of the bridge circuit 200, and amplifiers A1 to A3 The rectification circuits 203a to 203c for rectifying the output, the AD conversion circuits 204a to 04c for converting the output of the rectification circuits 203a to 203c from analog to digital, and the outputs of the AD conversion circuits 204a to 04c are input, and the authenticity and gold of the coin 3 to be inspected A logic circuit 205 for discriminating the seed is provided.
[0007]
However, the conventional coin inspection device requires a balance adjustment for maintaining the balanced state of the bridge circuit 200, and the circuit becomes complicated. In addition, the bridge circuit has a problem that it reacts sensitively to a temperature change or the like, and the equilibrium state is easily lost and the detection sensitivity is impaired.
[0008]
By the way, the coin inspection by this type of coin inspection device is performed when the amount of electrical change (frequency change, voltage change, phase change) obtained by the interaction between the electromagnetic field and the coin when the coin passes through the electromagnetic field. Detecting and determining the authenticity and denomination of the coin.
[0009]
That is, this type of coin inspection apparatus uses a plurality of frequencies as disclosed in US Pat. No. N0.3,870,137 because the characteristics of the coin are often frequency-dependent parameters. It is used as a technique for inspecting the material, outer diameter, thickness, etc. of coins.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in recent years, coins from various foreign countries are easily brought in with internationalization, and these coins are accidentally inserted into vending machines, etc., or are inserted for fraudulent acts by those who attempt fraud. Is increasing.
[0011]
Some of these foreign coins are similar to real coins in terms of material, outer diameter, thickness, etc., or a lot of those that resemble real coins by altering foreign coins. ing.
[0012]
Such foreign coins or coins modified from foreign coins are different in real coin and coin surface design (concave pattern) or coin edge (flange) shape, but the material, outer diameter Because some coinciding thicknesses are almost the same, conventional coin inspection devices may mistakenly accept these coins as genuine. In this case, it is unforeseen to an administrator such as a vending machine. It will cause damage.
[0013]
In addition, there is an attempt to adopt an optical method using an image detection element (CCD) in this type of coin inspection device in order to detect a slight shape feature on the coin surface. However, this method has a problem that dust or the like adheres and impairs the authenticity determination of the coin, and the apparatus becomes large as well as becomes complicated. As a result, the entire apparatus becomes expensive.
[0014]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a coin inspection method and apparatus that can accurately inspect the concave / convex pattern on the coin surface with a simple set of coils and that is inexpensive.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, there is provided a first coil and a second coil wound around two adjacent magnetic poles of a first magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at predetermined intervals. A first sensing coil having a first exciting coil including a coil, a first receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the first exciting coil of the first magnetic core, and a plurality of magnetic poles Are arranged at predetermined intervals, a second coil including a third coil and a fourth coil wound around two adjacent magnetic poles of the second magnetic core, and the second magnetic core. A second detection coil having a second reception coil wound around a magnetic pole adjacent to the second excitation coil is disposed oppositely, and is generated by the first excitation coil and the second excitation coil. A coin to be inspected is passed through a magnetic field to be Characterized in that to determine the inspection coin based on the electrical characteristic changes that occur in the first receiving coil and the second receiver coil during passage of the.
[0016]
According to a second aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the first receiving coil and the second receiving coil have different impedance characteristics, and the first receiving coil and the second receiving coil have different impedance characteristics. It is characterized by being differentially connected so that the voltages induced in the two receiving coils cancel each other.
[0017]
According to a third aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the first magnetic core and the second magnetic core have a plurality of magnetic poles arranged in a direction in which the inspection coin passes. And the center of the plurality of magnetic poles is arranged so as to coincide with the substantially center position of the inspection coin.
[0018]
According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the first exciting coil is configured so that magnetic fluxes generated from two magnetic poles of the first magnetic core cancel each other. The first coil and the second coil are wound to generate a bimodal magnetic field, and the second exciting coil is configured so that magnetic fluxes generated from the two magnetic poles of the second magnetic core cancel each other. And the third coil and the fourth coil are wound to generate a bimodal magnetic field.
[0019]
According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, a first resonance circuit including the first reception coil as a resonance element is formed, and the second reception coil is included as a resonance element. Forming a second resonance circuit having a resonance frequency different from the resonance frequency of the first resonance circuit, and determining the coin to be inspected based on a differential output of the first resonance circuit and the second resonance circuit; It is characterized by.
[0020]
According to a sixth aspect of the invention, in the fifth aspect of the invention, the resonance frequency of the first resonance circuit and the resonance frequency of the second resonance circuit are the first excitation coil and the second resonance frequency. The excitation frequency is set lower than the excitation frequency of the excitation coil.
[0021]
According to a seventh aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the first receiving coil and the second receiving coil are differentially connected and the first receiving coil is differentially connected. And forming a resonance circuit including the second receiving coil as a resonance element, and determining the coin to be inspected based on an output of the resonance circuit.
[0022]
The invention according to claim 8 is the invention according to claim 7, wherein a resonance frequency of the resonance circuit is set lower than excitation frequencies of the first excitation coil and the second excitation coil. And
[0023]
The invention according to claim 9 is the invention according to claim 7, characterized in that a dump resistor is connected in parallel to the first receiving coil.
[0027]
Claims 10 In the coin inspection apparatus that tests the physical characteristics of a coin and inspects the authenticity and denomination of the coin, the invention described is provided with a coin insertion slot, a coin passage connected to the coin insertion slot, and a plurality of magnetic poles. A first exciting coil including a first coil and a second coil wound around two adjacent magnetic poles of the first magnetic core arranged at a predetermined interval, and the first magnetic core including the first coil. A first detection coil having a first receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to one excitation coil, and two adjacent magnetic poles of a second magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at a predetermined interval A second receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the second exciting coil of the second magnetic body core, and a second exciting coil including a third coil and a fourth coil wound around the second coil And the first passage across the coin passage A second detection coil disposed opposite to the intelligent coil, excitation means for exciting the first excitation coil and the second excitation coil, and the first reception coil and the second reception coil. Detection means for detecting a change in electrical characteristics; storage means for storing a reference value of an acceptable coin; comparison means for comparing a detection output by the detection means with a reference value stored in the storage means; And a discriminating means for discriminating coins inserted from the coin insertion slot based on the comparison output of the comparing means.
[0028]
Claims 11 The described invention is claimed. 10 In the described invention, the first receiving coil and the second receiving coil have different impedance characteristics, respectively, and voltages induced in the first receiving coil and the second receiving coil cancel each other. It is characterized by being differentially connected to fit.
[0029]
Claims 12 The described invention is claimed. 10 In the invention described above, the first magnetic core and the second magnetic core each have an arrangement direction of the plurality of magnetic poles that coincides with a passing direction of the inspection coin, and a center of the plurality of magnetic poles is It arrange | positions so that it may correspond with the approximate center position of the said test | inspection coin.
[0030]
Claims 13 The described invention is claimed. 10 In the described invention, the first receiving coil is included as a resonance element, the first resonance circuit resonates at a first resonance frequency, the second reception coil is included as a resonance element, and the first resonance frequency is included. And a second resonance circuit that resonates at a second resonance frequency different from the first resonance circuit, wherein the detection means detects a differential output of the first resonance circuit and the second resonance circuit. .
[0031]
Claims 14 The described invention is claimed. 13 In the described invention, the resonance frequency of the first resonance circuit and the resonance frequency of the second resonance circuit are set lower than the excitation frequencies of the first excitation coil and the second excitation coil. And
[0032]
Claims 15 The described invention is claimed. 10 In the described invention, the first receiving coil and the second receiving coil are differentially connected, and the first receiving coil and the second receiving coil that are differentially connected are used as resonance elements. A circuit, wherein the detection means detects an output of the resonance circuit.
[0033]
Claims 16 The described invention is claimed. 15 In the described invention, a resonance frequency of the resonance circuit is set lower than excitation frequencies of the first excitation coil and the second excitation coil.
[0034]
Claims 17 The described invention is claimed. 15 In the described invention, the first receiving coil includes a dump resistor connected in parallel.
[0038]
In the present invention, the excitation coil of the detection coil is excited and driven at a predetermined frequency, thereby generating an electromagnetic field around the excitation coil to create an electromagnetic field of the detection coil. The electromagnetic field induces an effect on the first and second receiving coils disposed adjacent to the exciting coil, and the first and second receiving coils receive the inductive action and receive a corresponding induction. Generate voltage.
[0039]
Here, when a coin acts in the electromagnetic field of the detection coil, the voltage induced in the first receiving coil and the second receiving coil changes. This change is detected as the difference between the voltage induced in the differentially connected first receiving coil and the voltage induced in the second receiving coil, and the detected voltage is closer to the exciting frequency of the exciting coil. It is generated in a biased manner at the receiving coil of the set resonance frequency, and is characterized by the unevenness of the pattern on the coin surface.
[0040]
According to such a configuration, the detection voltage from the receiving coil can be extracted as a signal that changes in a certain direction, and can be detected as a signal characterized by the unevenness of the pattern on the coin surface. It is possible to detect the difference in the unevenness of the front and back patterns applied to the surface.
[0041]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of a coin inspection method and apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
[0042]
FIG. 1 is a view showing a detection coil employed in a coin inspection method and apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a detailed explanatory diagram of the detection coil shown in FIG.
[0043]
1, (a) of FIG. 1 shows a front view of the detection coil 1 employed in the coin inspection method and apparatus according to the present invention, and (b) of FIG. 1 shows (a) of FIG. FIG. 1C is a cross-sectional view of the detection coil 1, and FIG. 1C is a view taken in the direction of arrow A of the detection coil 1 shown in FIG.
[0044]
The detection coil 1 includes a first coil 1a and a second coil 1b. The first coil 1a is disposed on the passage wall 4a on one side of the coin passage 5, and the second coil 1b is a coin. It arrange | positions so that it may electromagnetically couple | bond with the 1st coil 1a on both sides of the channel | path 5.
[0045]
The detection coil 1 is arranged so that the longitudinal direction of the coil is substantially parallel to the rail 2 constituting the bottom surface of the coin passage 5, and the center of the coin 3 and the width center of the detection coil 1 are substantially coincident. The
[0046]
The coin passage 5 is inclined at a predetermined angle for guiding and dropping the coin 3, and is composed of a rail 2 arranged at the bottom and a pair of passage walls 4a and 4b. The passage walls 4a and 4b are shown in FIG. As shown in (b), the coin 3 is disposed so as to be tilted perpendicular to the coin dropping direction and tilted with respect to the vertical direction so that the coin 3 tilts and falls toward the one passage wall 4b.
[0047]
In addition, the coin 3 that also passes through the surface of the rail 2 on which the coin 3 is placed and guided is inclined in the inclination direction of the passage walls 4a and 4b so that the coin 3 that passes through the rail 3 is inclined toward the passage wall 4b.
[0048]
As shown in detail in FIG. 2 in a side view (FIG. 2 (a)) and a plan view (FIG. 2 (b)), the detection coil 1 is made of a high permeability magnetic material such as ferrite. Are arranged on a substantially straight line with a predetermined interval, and coils 7a, 7b, 7c wound around three adjacent magnetic poles 6a, 6b, 6c of the comb-shaped core 8, respectively. Composed.
[0049]
The first coil 1a of the detection coil 1 (see FIG. 1) includes two coils 7b and 7c wound around two magnetic poles 6b and 6c in the first coil 1a, as will be described in detail later. The magnetic fluxes generated from the two adjacent magnetic poles 6b and 6c are connected so as to cancel each other.
[0050]
Similarly, in the second coil 1b, the two coils 7b 'and 7c' wound around the two magnetic poles 6b 'and 6c' are such that the magnetic fluxes generated from the two adjacent magnetic poles 6b 'and 6c' are mutually exchanged. Connected to cancel each other.
[0051]
Furthermore, the first coil 1a and the second coil 1b are connected in series anti-phase so that the mutual inductance becomes negative.
[0052]
Here, as will be described in detail later, the coil 7a of the first coil 1a and the coil 7a ′ of the second coil 1b constitute a receiving coil, and the coils 7b and 7c and the second coil of the first coil 1a. The 1b coils 7b 'and 7c' constitute an exciting coil.
[0053]
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the control circuit of the coin inspection apparatus to which the coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil 1 shown in FIG. 1 is applied.
[0054]
In FIG. 3, the first coil 1a of the detection coil 1 shown in FIG. 1 is composed of coils 7a, 7b, and 7c. Of these, the coils 7b and 7c that constitute the exciting coil are shown in FIG. The magnetic fluxes generated from the two adjacent magnetic poles 6b and 6c are connected so as to cancel each other.
[0055]
Similarly, the second coil 1b is composed of coils 7a ′, 7b ′, and 7c ′, and among these, the coils 7b ′ and 7c ′ that constitute the exciting coil are two adjacent magnetic poles 6b ′ and 6c ′. Are connected so that magnetic fluxes generated from each other cancel each other.
[0056]
The coils 7b and 7c of the first coil 1a and the coils 7b 'and 7c' of the second coil 1b are connected in parallel with the capacitor C3 and the capacitor C4. The coils 7b and 7c and the second coil 1b of the first coil 1a The resonance circuit 18 is constituted by the coils 7b ′ and 7c ′ of the coil 1b, the capacitor C3, and the capacitor C4.
[0057]
The resonance circuit 18 forms a self-excited oscillation circuit 20 together with the feedback circuit 19, and the oscillation circuit 20 oscillates at a frequency based on the resonance frequency of the resonance element 18, and the coils 7b and 7c of the first coil 1a and the first A sine wave voltage is generated at both ends of the coils 7b 'and 7c' of the second coil 1b, thereby exciting and driving the coils 7b and 7c and the coils 7b 'and 7c'.
[0058]
As a result, the detection coil 1 generates an electromagnetic field in the vicinity thereof, and the first coil 1a and the second coil 1b are electromagnetically coupled to constitute an electromagnetic field.
[0059]
In addition, a capacitor C1 is connected in parallel to the coil (first receiving coil) 7a of the first coil 1a to form the first resonance circuit 10, and the coil (second second coil) of the second coil 1b. A capacitor C2 is connected in parallel to the receiving coil 7a ′, and the second resonance circuit 11 is configured.
[0060]
Here, the first receiving coil 7a and the second receiving coil 7a ′ have different impedance characteristics, respectively, and the voltages induced in the first receiving coil 7a and the second receiving coil 7a ′ cancel each other. It is differentially connected to fit.
[0061]
Further, the resonance frequency of the first resonance circuit 10 and the resonance frequency of the second resonance circuit 11 are set to be different from each other, and the coils 7b and 7c of the first coil 1a and the second coil 1b It is set lower than the oscillation frequency (excitation frequency) of the oscillation circuit 20 that excites the coils 7b ′ and 7c ′.
[0062]
As a result, when the coin 3 to be inspected acts in the electromagnetic field of the detection coil 1, the voltage induced in the first receiving coil 1 a and the second receiving coil 1 b changes, and this change is caused by the first resonance circuit 10. Is detected as the difference between the voltage induced in the second resonance circuit 11 and the voltage induced in the second resonance circuit 11, and the detected voltage is input to the detection circuit 12.
[0063]
As will be described in detail later, this detected voltage is applied to the first receiving coil 1a or the second receiving coil 1b having a resonance frequency set closer to the exciting frequency of the exciting coils 7b, 7c, 7b ′, 7c ′. It is generated in a biased manner and is characterized by the unevenness of the pattern on the surface of the coin 3 to be inspected.
[0064]
In the detection circuit 12, the detection voltage detected by the first reception coil 1 a and the second reception coil 1 b is detected by the amplification detection circuit 13, which is converted from analog to digital by the AD conversion unit 14 and added to the comparison determination unit 15.
[0065]
The comparison / determination unit 15 compares the digital voltage signal from the detection circuit 12 with the reference values of various coins stored in the storage unit 16 to determine whether or not the coin 3 to be inspected has a predetermined feature. The determination result is output to the output terminal 17.
[0066]
The output of the comparison / determination unit 15 is used to drive a sorting solenoid, a coin counter (not shown), etc., which will be described later.
[0067]
Here, the electromagnetic action when the coin 3 to be inspected passes through the electromagnetic field of the detection coil 1 will be described in detail.
[0068]
FIG. 4 is a characteristic diagram showing characteristics of the detection coil 1 shown in FIG.
[0069]
In FIG. 4, reference numeral 40 denotes frequency response characteristics in the coils 7b and 7c of the first coil 1a and the coils 7b 'and 7c' of the second coil 1b, which are resonance elements by the oscillation circuit 20, and the center frequency (oscillation) The frequency f0 is set to 120 KHz, for example.
[0070]
Here, as described above, the resonance frequency of the first resonance circuit 10 and the resonance frequency of the second resonance circuit 11 in the detection coil 1 are set to be different from each other, and the first coil 1a. Are set lower than the oscillation frequency (excitation frequency) of the oscillation circuit 20 that excites the coils 7b and 7c and the coils 7b ′ and 7c ′ of the second coil 1b.
[0071]
That is, 41 indicates the frequency response characteristic in the second resonance circuit 11, and the center frequency (resonance frequency) f1 is set to 80 KHz, for example.
[0072]
Reference numeral 42 denotes a frequency response characteristic in the first resonance circuit 10, and its center frequency (resonance frequency) f2 is set to 65 KHz, for example.
[0073]
Here, there is a level difference of ΔV between the reception level V1 of the second resonance circuit 11 at the frequency f0 and the reception level V2 of the first resonance circuit 10, and in the coin inspection device of this embodiment, By using this level difference, a difference in unevenness between the front and back patterns applied to the coin surface is detected.
[0074]
That is, in the coin inspection device of this embodiment, when the coin 3 to be inspected acts in the electromagnetic field of the detection coil 1, the voltage induced in the first reception coil 1a and the second reception coil 1b changes, and this The change is detected as a difference between the voltage induced in the first resonance circuit 10 and the voltage induced in the second resonance circuit 11. Here, the reception level V1 of the second resonance circuit 11 and the reception in the first resonance circuit 10 at the excitation frequency f0 in the coils 7b and 7c of the first coil 1a and the coils 7b ′ and 7c ′ of the second coil 1b. If there is a level difference of ΔV with respect to the level V2, the detection voltage changes according to the difference in the unevenness of the pattern on the back and front of the coin 3 to be inspected, and as a result, applied to the surface of the coin 3 to be inspected. It is possible to detect the difference in the unevenness between the front and back patterns.
[0075]
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a result of a test performed with a representative coin using the detection coil 1 having the characteristics shown in FIG.
[0076]
In FIG. 5, reference numeral 50 denotes a detection signal waveform in a Japanese 500 yen coin, and 51 denotes one surface side of a suspected coin having a material, an outer shape, and a thickness that are very close to those of a Japanese 500 yen coin and having a different surface pattern. , And 52 indicates a detection signal waveform on the other surface side of the suspected currency.
[0077]
Further, a represents a sampling address of a value to be compared in the detection signal waveform, 53 represents a reference value (upper limit value) for suspected currency detection, and 54 represents a reference value (suspected currency detection). Lower limit).
[0078]
As apparent from FIG. 5, at the sampling address a, the detection signal waveform of the Japanese 500 yen coin (special coin) falls between the reference value (upper limit value) 53 and the reference value (lower limit value) 54. The detection signal waveform 51 on one side of the suspected currency and the detection signal waveform 52 on the other surface side of the suspected currency are both out of the range between the reference value (upper limit value) 53 and the reference value (lower limit value) 54. By using this, it is possible to identify a Japanese 500 yen coin (genuine coin) and, for example, a modified coin or the like in which only one side of the coin is cut into a concave shape.
[0079]
FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of another control circuit of the coin inspection apparatus to which the coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil 1 shown in FIG. 1 is applied.
[0080]
In the control circuit shown in FIG. 6, a resistor (dump resistor) R1 is connected in parallel to the coil (first receiving coil) 7a of the first coil 1a, and the first receiving coil 7a and the second coil are connected. The parallel resonance circuit 400 is configured by differentially connecting the coil 1b (second receiving coil) 7a ′ and connecting the capacitor C1 between the first receiving coil 7a and the second receiving coil 7a ′. ing. Other configurations are the same as those of the control circuit shown in FIG.
[0081]
Even in such a configuration, as in the control circuit shown in FIG. 3, it is possible to detect a difference in the unevenness of the front and back patterns applied to the surface of the coin 3 to be inspected.
[0082]
FIG. 7 is a characteristic diagram showing characteristics of the detection coil 1 shown in FIG.
[0083]
In FIG. 7, 500 indicates a center frequency (resonance frequency) f0 of the frequency response characteristic of the oscillation circuit 20, and this f0 is set to 120 KHz, for example.
[0084]
Reference numerals 501 and 502 denote the frequency response characteristics of the second reception coil 1b and the frequency response characteristics of the first reception coil 1a to which the dump resistor R1 is connected. The center frequency (resonance frequency) f1 is, for example, Set to 80 KHz.
[0085]
Here, there is a level difference of ΔV between the reception level V1 of the second reception coil 1b and the reception level V2 of the first reception coil 1a at the frequency f0. In the coin inspection device of this embodiment, By using this level difference, a difference in unevenness between the front and back patterns applied to the coin surface is detected.
[0086]
That is, in the coin inspection device of this embodiment, when the coin 3 to be inspected acts in the electromagnetic field of the detection coil 1, the voltage induced in the first reception coil 1a and the second reception coil 1b changes, and this The change is detected as a difference between the voltage induced in the first receiving coil 1a and the voltage induced in the second receiving coil 1b.
[0087]
Here, since there is a level difference of ΔV between the reception level V1 of the second reception coil 1b and the reception level V2 of the first reception coil 1a at the frequency f0, the detected voltage is the back and front of the coin 3 to be inspected. As a result, it is possible to detect the difference in the unevenness of the front and back patterns applied to the surface of the coin 3 to be inspected.
[0088]
FIG. 8 is a view showing a coin processing apparatus such as a vending machine constructed using the coin inspection apparatus according to the present invention.
[0089]
In FIG. 8, the coin processing device 30 causes a coin 3 to be inspected (hereinafter referred to as a coin) 3 inserted from a coin insertion slot 31 to drop onto a rail 2 provided below the coin insertion slot 31 by natural fall.
[0090]
The to-be-inspected coin 3 that has fallen on the rail 2 falls while rolling downstream in the direction away from the coin insertion slot 31 through the coin passage 5 (see FIG. 1). While the coin 3 moves in the coin passage 5, it passes through the outer diameter detection coil 32, the material detection coil 33 and the detection coil 1 according to the present invention.
[0091]
The coin processing device 30 inspects the authenticity and denomination of the coin 3 while the coin 3 passes through the detection coils. As a result of this inspection, when it is determined that the inserted coin 3 is authentic, the sorting solenoid 35 is driven based on the signal output to the output terminal 17 to activate the gate 34, and the coin 3 is not shown in the figure. Guide to the aisle.
[0092]
However, if the coin 3 is determined to be a fake coin as a result of the inspection, the coin 3 is guided to a fake coin passage (not shown) without operating the gate 34 and discharged from a discharge port (not shown).
[0093]
Here, assuming that the coin 3 is a genuine coin, the coin 3 guided to the genuine coin passage continues to fall freely and eventually falls to the rail 36. The coins 3 that have fallen on the rail 36 are sorted for each denomination by a well-known sorting means (not shown) and are discharged from the corresponding discharge ports A, B, C, and D provided for each denomination.
[0094]
Here, a well-known technique can be used as an inspection method using the outer diameter detection coil 32 and the material detection coil 33.
[0095]
FIG. 9 is a flowchart for explaining the coin processing operation of the vending machine shown in FIG.
[0096]
In FIG. 9, when the coin inspection apparatus is powered on, initial setting such as input / output in the MPU 20 is performed in step 100.
[0097]
After executing step 100, the process of determining whether or not a coin has been inserted into the apparatus using the signals from the detection coils 32 and 33 in the determination process of step 101 is executed. If it is determined in step 101 that a coin has been inserted, the program proceeds to AD conversion processing in step 102. However, if it is determined in step 101 that no coin has been inserted, the standby process is looped so as to wait for the arrival of a coin. Here, it is assumed that a coin is inserted in the determination process in step 101, and the process proceeds to the AD conversion process in step 102.
[0098]
In the AD conversion process of step 102, when a coin arrives in the detection coil, the signal is received and sampling is started for each detection coil. The sampling result is temporarily stored in a memory 21 such as a RAM in the MPU 20, and the operation proceeds to step 103.
[0099]
The calculation process of step 103 performs the calculation process using the value temporarily stored and held in the memory 21 and the value of the acceptable coin stored in the memory 21 in advance, and proceeds to the authenticity determination of step 105.
[0100]
In step 105, the true / false judgment is made by comparing the value obtained by the arithmetic processing in step 103 with the reference value of the receivable coins stored in advance, and if the value is within the reference value, It proceeds to the true coin processing of step 106. However, when it is determined that the value is outside the reference value, it is determined that the coin to be inspected is false, the false coin process of step 104 is executed, and the process returns to the standby loop.
[0101]
Here, it is assumed that the true coin process in step 106 is executed on the assumption that the coin to be inspected is determined to be true in the true / false determination process in step 105. The true coin process of step 106 executes a process of outputting a true coin signal, a denomination signal and the like based on the determination result, and returns to the standby loop.
[0102]
Here, the program ends a series of processes, returns to step 101, and loops the standby process.
[0103]
As described above, according to this embodiment, the first receiving coil 7a differentially connected to the signal that is characterized by the unevenness of the pattern on the surface of the coin 3 to be inspected so that the resonance frequencies are different from each other. This is detected as the difference between the voltage induced in the first resonance circuit 10 and the voltage induced in the second resonance circuit 11 of the second receiving coil 7b, and thereby the front and back patterns applied to the coin surface are detected. Detect unevenness.
[0104]
By comprising in this way, the fake coin which transformed the foreign currency can be detected accurately. For example, it is possible to stably detect a signal that changes in a certain direction, such as a modified coin in which only one surface of a coin is cut into a concave shape.
[0105]
In addition, by setting the receiving coil in an unbalanced state, even if there is a variation in characteristics such as inductance between the receiving coils alone, it is practically absorbed, and adjustments such as balance become unnecessary.
[0106]
FIG. 10 is a view showing another embodiment of the detection coil employed in the coin inspection method and apparatus according to the present invention. FIG. 11 is a detailed explanatory view of the detection coil shown in FIG.
[0107]
In FIG. 10, the detection coil 300 is disposed on one passage wall 4 b of the coin passage 5. The configuration and arrangement of the coin passage 5 are the same as the configuration shown in FIG.
[0108]
As shown in detail in FIG. 11 in a side view (FIG. 11 (a)) and a plan view (FIG. 11 (b)), the detection coil 300 of this embodiment has a high magnetic permeability such as ferrite. Comb core 8 made of a material and having a plurality of magnetic poles arranged substantially linearly at predetermined intervals, and coils 301a, 301b, 301c wound around three adjacent magnetic poles 6a, 6b, 6c of comb core 8, respectively. It is comprised and comprises.
[0109]
Here, in the detection coil 300 of this embodiment, the coil 301a and the coil 301c constitute a receiving coil, and the coil 301b constitutes an exciting coil.
[0110]
FIG. 12 is a block diagram showing a schematic configuration of a control circuit of a coin inspection apparatus to which the coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil 1 shown in FIG. 10 is applied.
[0111]
In FIG. 12, a capacitor C3 and a capacitor C4 are connected in parallel to the coil (excitation coil) 301b of the detection coil 300 shown in FIG. 10, and the coil 301b, the capacitor C3, and the capacitor C4 constitute the resonance circuit 18. .
[0112]
The resonance circuit 18 forms a self-excited oscillation circuit 20 together with the feedback circuit 19, and the oscillation circuit 20 oscillates at a frequency based on the resonance frequency of the resonance element 18 to drive the coil 301b.
[0113]
As a result, the detection coil 300 generates an electromagnetic field around it and constitutes an electromagnetic field.
[0114]
In addition, the coil (first receiving coil) 301a and the coil (second receiving coil) 301c have different impedance characteristics, and the voltages induced in the first receiving coil 301a and the second receiving coil 301c are different. They are differentially connected so as to cancel each other.
[0115]
The detection circuit 12 includes an amplification detection circuit 13 and an AD conversion unit 14. The detection voltage detected by the first reception coil 301 a and the second reception coil 301 c is detected by the amplification detection circuit 13, and this is detected by the AD conversion unit 14. The analog-to-digital conversion is performed and added to the comparison / determination unit 15.
[0116]
The comparison / determination unit 15 compares the digital voltage signal from the detection circuit 12 with the reference values of various coins stored in the storage unit 16 to determine whether or not the coin 3 to be inspected has a predetermined feature. The determination result is output to the output terminal 17.
[0117]
Even in such a configuration, the unevenness of the pattern on the surface of the coin 3 to be inspected can be accurately detected.
[0118]
In the above embodiment, the shape between the magnetic poles of the comb-shaped core of the detection coil 1 is a U-shape, but a U-shape such as a U-shape is appropriately used without departing from the spirit of the present invention. Also good.
[0119]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a coin inspection method and apparatus that can accurately inspect the concavo-convex pattern on the coin surface with a simple set of coils and that is inexpensive.
[0120]
Also,
1) For example, it is possible to accurately detect fake coins that have been modified from foreign currency such as modified coins in which only one surface of a coin is cut into a concave shape.
2) A signal that changes in a certain direction can be detected stably.
3) By setting the receiving coil in an unbalanced state, even if there are variations in characteristics such as inductance between the receiving coils alone, they are practically absorbed.
4) No need to adjust balance
Play coins.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a detection coil employed in a coin inspection method and apparatus according to the present invention.
2 is a detailed explanatory diagram of the detection coil shown in FIG. 1; FIG.
3 is a block diagram showing a configuration of a control circuit of a coin inspection apparatus to which a coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil shown in FIG. 1 is applied. FIG.
4 is a characteristic diagram showing characteristics of the detection coil shown in FIG. 3; FIG.
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a result of a test performed with a representative coin using the detection coil 1 having the characteristics shown in FIG.
6 is a block diagram showing the configuration of another control circuit of a coin inspection apparatus to which the coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil shown in FIG. 1 is applied. FIG.
7 is a characteristic diagram showing characteristics of the detection coil shown in FIG. 6. FIG.
FIG. 8 is a view showing a coin processing apparatus such as a vending machine configured using the coin inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 9 is a flowchart for explaining a coin processing operation of the vending machine shown in FIG. 8;
FIG. 10 is a view showing another embodiment of a detection coil employed in the coin inspection method and apparatus according to the present invention.
FIG. 11 is a detailed explanatory diagram of the detection coil shown in FIG. 10;
12 is a block diagram showing a schematic configuration of a control circuit of a coin inspection device to which the coin inspection method and apparatus according to the present invention configured using the detection coil 300 shown in FIG. 10 is applied.
FIG. 13 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional coin inspection device.
[Explanation of symbols]
1 Detection coil
1a First detection coil
1b Second detection coil
2 rails
3 coins to be inspected
4a, 4b passage wall
5 Coin passage
6a-6d magnetic pole
6a 'to 6b' magnetic pole
7a-7c coil
7a 'to 7c' coil
10 First resonant circuit
11 Second resonant circuit
12 Detection circuit
13 Amplification detection circuit
14 AD converter
15 Comparison judgment part
16 Memory unit
17 Output terminal
18 Resonant circuit
19 Feedback circuit
20 Oscillator circuit
31 Coin slot
32 Outer diameter detection coil
33 Material detection coil
34 Gate
35 Sorting solenoid
36 rails
200 bridge circuit
201 induction coil
202 Oscillator circuit
203 Rectifier circuit
204 AD conversion circuit
205 logic circuit
300 detection coil
301a-301c coil
400 Resonant circuit

Claims (17)

複数の磁極が所定間隔で配列された第1の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第1のコイルおよび第2のコイルを含む第1の励磁コイルと前記第1の磁性体コアの前記第1の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第1の受信コイルとを有する第1の検知コイルと、
複数の磁極が所定間隔で配列された第2の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第3のコイルおよび第4のコイルを含む第2の励磁コイルと前記第2の磁性体コアの前記第2の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第2の受信コイルとを有する第2の検知コイルと
を対向して配置し、
前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルにより発生される磁界内に被検査コインを通過させ、
前記被検査コインの通過に際して前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに発生する電気的特性変化に基づき前記被検査コインを判別する
ことを特徴とするコイン検査方法。
A first exciting coil including a first coil and a second coil wound around two adjacent magnetic poles of a first magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at predetermined intervals, and the first magnetic body A first sensing coil having a first receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the first exciting coil of the core;
A second coil including a third coil and a fourth coil wound around two adjacent magnetic poles of a second magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at predetermined intervals, and the second magnetic body A second sensing coil having a second receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the second exciting coil of the core,
Passing the coin to be inspected into the magnetic field generated by the first exciting coil and the second exciting coil;
The coin inspection method, wherein the coin to be inspected is determined based on a change in electrical characteristics generated in the first receiving coil and the second receiving coil when the coin to be inspected passes.
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルは、
それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに誘起される電圧が相互に打ち消し合うように差動接続される
ことを特徴とする請求項1記載のコイン検査方法。
The first receiving coil and the second receiving coil are:
While different impedance characteristics,
2. The coin inspection method according to claim 1, wherein differential coupling is performed so that voltages induced in the first reception coil and the second reception coil cancel each other.
前記第1の磁性体コアおよび前記第2の磁性体コアは、
前記複数の磁極の配設方向が前記検査コインの通過方向と一致し、
かつ前記複数の磁極の中心が前記検査コインの略中心位置に一致する
ように配置されることを特徴とする請求項1記載のコイン検査方法。
The first magnetic core and the second magnetic core are:
The arrangement direction of the plurality of magnetic poles coincides with the passing direction of the inspection coin,
The coin inspection method according to claim 1, wherein the plurality of magnetic poles are arranged so that centers of the plurality of magnetic poles coincide with a substantially center position of the inspection coin.
前記第1の励磁コイルは、
前記第1の磁性体コアの2つの磁極から発生される磁束が相互に打ち消し合うように前記第1のコイルおよび第2のコイルを巻回して双峰磁界を発生させ、
前記第2の励磁コイルは、
前記第2の磁性体コアの2つの磁極から発生される磁束が相互に打ち消し合うように前記第3のコイルおよび第4のコイルを巻回して双峰磁界を発生させる
ことを特徴とする請求項1記載のコイン検査方法。
The first exciting coil includes:
Winding the first coil and the second coil so that magnetic fluxes generated from the two magnetic poles of the first magnetic core cancel each other to generate a bimodal magnetic field;
The second exciting coil is
The bimodal magnetic field is generated by winding the third coil and the fourth coil so that magnetic fluxes generated from two magnetic poles of the second magnetic core cancel each other. The coin inspection method according to 1.
前記第1の受信コイルを共振素子として含む第1の共振回路を形成するとともに、
前記第2の受信コイルを共振素子として含み前記第1の共振回路の共振周波数と共振周波数が異なる第2の共振回路を形成し、
前記第1の共振回路と前記第2の共振回路の差動出力に基づき前記被検査コインを判別する
ことを特徴とする請求項1記載のコイン検査方法。
Forming a first resonant circuit including the first receiving coil as a resonant element;
Forming a second resonance circuit including the second receiving coil as a resonance element and having a resonance frequency different from a resonance frequency of the first resonance circuit;
The coin inspection method according to claim 1, wherein the coin to be inspected is discriminated based on a differential output of the first resonance circuit and the second resonance circuit.
前記第1の共振回路の共振周波数および前記第2の共振回路の共振周波数は、前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定される
ことを特徴とする請求項5記載のコイン検査方法。
6. The resonance frequency of the first resonance circuit and the resonance frequency of the second resonance circuit are set lower than the excitation frequencies of the first excitation coil and the second excitation coil. The coin inspection method described.
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを差動接続するとともに、
該差動接続された前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを共振素子として含む共振回路を形成し、
前記共振回路の出力に基づき前記被検査コインを判別する
ことを特徴とする請求項1記載のコイン検査方法。
Differentially connecting the first receiving coil and the second receiving coil;
Forming a resonance circuit including the first reception coil and the second reception coil that are differentially connected as a resonance element;
The coin inspection method according to claim 1, wherein the coin to be inspected is determined based on an output of the resonance circuit.
前記共振回路の共振周波数は、
前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定される
ことを特徴とする請求項7記載のコイン検査方法。
The resonant frequency of the resonant circuit is
The coin inspection method according to claim 7, wherein the coin inspection method is set lower than an excitation frequency of the first excitation coil and the second excitation coil.
前記第1の受信コイルに並列にダンプ抵抗を接続した
ことを特徴とする請求項7記載のコイン検査方法。
The coin inspection method according to claim 7, wherein a dump resistor is connected in parallel to the first receiving coil.
コインの物理特性を試験し、該コインの真贋性および金種を検査するコイン検査装置において、
コイン投入口と、
前記コイン投入口に連結されたコイン通路と、
複数の磁極が所定間隔で配列された第1の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第1のコイルおよび第2のコイルを含む第1の励磁コイルと前記第1の磁性体コアの前記第1の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第1の受信コイルとを有する第1の検知コイルと、
複数の磁極が所定間隔で配列された第2の磁性体コアの隣接する2つの磁極に巻回された第3のコイルおよび第4のコイルを含む第2の励磁コイルと前記第2の磁性体コアの前記第2の励磁コイルに隣接する磁極に巻回された第2の受信コイルとを有し、前記コイン通路を挟んで前記第1の検知コイルに対向して配置される第2の検知コイルと、
前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルを励磁する励磁手段と、
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルの電気的特性変化を検出する検出手段と、
受納可能コインの基準値を記憶する記憶手段と、
前記検出手段による検出出力と前記記憶手段に記憶された基準値とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較出力に基づき前記コイン投入口から投入されたコインを判別する判別手段と
を具備することを特徴とするコイン検査装置。
In a coin inspection device that tests the physical characteristics of a coin and inspects the authenticity and denomination of the coin,
A coin slot,
A coin passage connected to the coin slot;
A first exciting coil including a first coil and a second coil wound around two adjacent magnetic poles of a first magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at predetermined intervals, and the first magnetic body A first sensing coil having a first receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the first exciting coil of the core;
A second coil including a third coil and a fourth coil wound around two adjacent magnetic poles of a second magnetic core in which a plurality of magnetic poles are arranged at predetermined intervals, and the second magnetic body A second receiving coil wound around a magnetic pole adjacent to the second excitation coil of the core, and a second detection disposed opposite the first detection coil across the coin passage Coils,
Excitation means for exciting the first excitation coil and the second excitation coil;
Detecting means for detecting a change in electrical characteristics of the first receiving coil and the second receiving coil;
Storage means for storing a reference value of acceptable coins;
Comparison means for comparing the detection output by the detection means with a reference value stored in the storage means;
And a discriminating means for discriminating coins inserted from the coin insertion slot based on the comparison output of the comparing means.
前記第1の受信コイルと前記第2の受信コイルは、
それぞれインピーダンス特性を異ならせるとともに、
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルに誘起される電圧が相互に打ち消し合う
ように差動接続されることを特徴とする請求項10記載のコイン検査装置。
The first receiving coil and the second receiving coil are:
While different impedance characteristics,
The coin inspection device according to claim 10 , wherein the coin inspection device is differentially connected so that voltages induced in the first reception coil and the second reception coil cancel each other.
前記第1の磁性体コアおよび前記第2の磁性体コアは、
それぞれ前記複数の磁極の配設方向が前記検査コインの通過方向と一致し、
かつ前記複数の磁極の中心が前記検査コインの略中心位置に一致する
ように配置されることを特徴とする請求項10記載のコイン検査装置。
The first magnetic core and the second magnetic core are:
The arrangement direction of each of the plurality of magnetic poles coincides with the passing direction of the inspection coin,
The coin inspection device according to claim 10, wherein the plurality of magnetic poles are arranged so that centers of the plurality of magnetic poles coincide with a substantially center position of the inspection coin.
前記第1の受信コイルを共振素子として含み、第1の共振周波数で共振する第1の共振回路と、
前記第2の受信コイルを共振素子として含み、前記第1の共振周波数と異なる第2の共振周波数で共振する第2の共振回路と
を具備し、
前記検出手段は、
前記第1の共振回路と前記第2の共振回路の差動出力を検出する
ことを特徴とする請求項10記載のコイン検査装置。
A first resonance circuit including the first reception coil as a resonance element and resonating at a first resonance frequency;
A second resonance circuit including the second receiving coil as a resonance element and resonating at a second resonance frequency different from the first resonance frequency;
The detection means includes
The coin inspection apparatus according to claim 10 , wherein a differential output between the first resonance circuit and the second resonance circuit is detected.
前記第1の共振回路の共振周波数および前記第2の共振回路の共振周波数は、
前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定される
ことを特徴とする請求項13記載のコイン検査装置。
The resonance frequency of the first resonance circuit and the resonance frequency of the second resonance circuit are:
The coin inspection device according to claim 13 , wherein the coin inspection device is set to be lower than an excitation frequency of the first excitation coil and the second excitation coil.
前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを差動接続するとともに、該差動接続された前記第1の受信コイルおよび前記第2の受信コイルを共振素子として含む共振回路
を具備し、
前記検出手段は、
前記共振回路の出力を検出することを特徴とする請求項10記載のコイン検査装置。
A differential circuit for differentially connecting the first receiver coil and the second receiver coil and including the first receiver coil and the second receiver coil that are differentially connected as a resonant element;
The detection means includes
The coin inspection device according to claim 10, wherein an output of the resonance circuit is detected.
前記共振回路の共振周波数は、
前記第1の励磁コイルおよび前記第2の励磁コイルの励磁周波数より低く設定される
ことを特徴とする請求項15記載のコイン検査装置。
The resonant frequency of the resonant circuit is
The coin inspection device according to claim 15 , wherein the coin inspection device is set lower than an excitation frequency of the first excitation coil and the second excitation coil.
前記第1の受信コイルは、
並列に接続されたダンプ抵抗
を具備することを特徴とする請求項15記載のコイン検査装置。
The first receiving coil is
The coin inspection device according to claim 15 , further comprising a dump resistor connected in parallel.
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