JP3819620B2 - 材料試験機用制御装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、材料試験機等をPI(比例積分)制御する材料試験機用制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
材料試験機をフィードバック制御する材料試験機用制御装置が知られている。このような材料試験機用制御装置において、セラミックス、岩石等のように、試験試料(T.P:テストピース)の剛性が高く、かつ、材料試験機のピストン断面が小さい場合に、比例制御(P)項のゲインKpを上げると、一巡周波数伝達関数の位相角が180度となる周波数におけるゲイン余裕度が少なくなり、不安定な状態となったり発振を起こすことが知られている。
そのため、比例(P)制御のゲインKpを大きくすることができない。その結果、フィードバック系における誤差を零にする能力が小さく、定常偏差が大きい状態で制御を行うことになる。
このように、定常偏差が大きい状態で制御を行う場合の問題について一例を説明する。
【0003】
図3は、従来の材料試験機用制御装置のブロック構成図である。図中、1は試験波発生部、2は比較部、4は材料試験機の一例としての繰り返し荷重試験機、5はサーボバルブ、6は油圧アクチュエータ、6aはシリンダ、6bはピストン、7はロードセル、8は接触子、9はテストピース、10は差動トランス、11は変位センサ用アンプ、12はP(比例)制御器、19は荷重センサ用アンプである。
【0004】
試験波発生部1は、変位Ec(t)の目標値Ei(t)を出力する波形発生器である。この目標値Ei(t)は、比較部2において、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)と比較されて、その差信号が誤差Ee(t)としてP(比例)制御器12に入力される。入力信号がゲインkpで増幅されたP制御器12の出力は、繰り返し荷重試験機4のサーボバルブ5に入力され、サーボバルブ5は、油圧アクチュエータ6を駆動する。油圧アクチュエータ6は、シリンダ6aおよびピストン6bを有し、ピストン6bは、ロードセル7および接触子8を介してテストピース9に荷重を加える。
【0005】
差動トランス10は、ピストン6bに連結されており、ピストン6bの変位量を計測する。接触子8がテストピース9を押圧している状態では、ピストン6bの変位量はテストピース9の変位量に等しい。荷重センサ用アンプ19の出力による繰り返し荷重試験時の制御態様について、この図では省略している。繰り返し荷重試験時においては、試験波発生部1から、加重Loadの振動波形を目標値として出力し、荷重センサ用アンプ19の出力と比較器2において比較して、荷重フィードバック制御を行う。ここでは、接触子8をテストピース9に接触させて所定の圧力をかけるまでの間に行う変位速度一定制御について説明する。なお、変位センサ用アンプ11および荷重センサ用アンプ19の出力は、図示しないA/D変換器によりディジタルデータに変換されている。
【0006】
図4は、図3に示した従来の材料試験機用制御装置におけるピストン6bとテストピース9との位置関係を示す説明図である。図4(a)は接触子8がテストピース9から離れている状態の説明図、図4(b)は接触子8がテストピース9に接触している状態の説明図である。図中、図3と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。
【0007】
テストピース9を繰り返し荷重試験機4に取り付ける際には、図4(a)に示すように、接触子8はテストピース9から離された状態にある。試験波発生部1から変位速度を一定とした目標値Ei(t)となる波形を出力し、P制御器12により増幅し、油圧アクチュエータ6を駆動し、ピストン6bを下方向(図3においては、上方向)に変位させることにより、図4(b)に示すように、接触子8をテストピース9に接触させ、以後、荷重Loadが初期目標値になるまで変位の目標値Ei(t)を定速度で増加させて変位フィードバックを行い、繰り返し荷重試験の初期状態としている。
【0008】
図5は、図3に示した従来の材料試験機用制御装置の動作を説明するための線図である。図5(a)は目標値Ei(t)を示す線図、図5(b)は変位Ec(t)を示す線図、図5(c)は荷重Load(t)を示す線図である。
【0009】
上述したように、従来は、P制御のゲインKpが大きくないので、定常偏差が大きい状態で制御が行われている。したがって、図5(a)に示すように、目標値Ei(t)に対して、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)がわずかに小さくなっている。接触子8がテストピース9に接触する以前では、誤差Ee(t)に表れる定常偏差は、さほど大きくない。しかし、接触子8がテストピース9に接触すると、P制御のゲインKpが不足しているので、テストピース9の高剛性により誤差Ee(t)が大きくなってしまう。その結果、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)の勾配が接触時点で急に小さくなってしまうという問題があった。そのため、変位速度一定で制御することができなかった。
【0010】
一般に、このようなP制御のゲインKpを補償するために、積分(I)制御を加えたPI制御を行うことが知られている。なお、付加的な補償用に微分制御を加えたPID制御を行うことも知られているが、このPID制御は、実質的にPI制御である。PI制御においては、I制御により誤差Ee(t)を積分してフィードバックさせることにより、誤差Ee(t)を零にする。言い換えれば、定常偏差のような、直流ないし直流近傍の低周波信号のゲインを大きくしてフィードバック制御することにより、定常偏差をなくそうとするものである。
【0011】
ところが、コンピュータが直接に制御装置として機能するDDC(Direct Digital Control)など、ソフトウエアによるサーボにおいては、アナログ方式とは異なり、積分制御要素は、直流または直流近傍の周波数信号に対してゲインが無限大になるという理想的な特性を示す。そのために、定常偏差を零に集束させることが容易である。その反面、油圧サーボループ系が確立していない運転開始時の初期状態では、収束すべき目標値がないため、積分制御要素の出力が正または負の無限大に発散する方向に変化して出力が飽和してしまうという問題がある。したがって、上述したような繰り返し荷重試験装置において、単純にPI制御を行うことができず、図5(a),図5(b)を参照して説明したような定常偏差の影響をなくすことができなかった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたもので、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる材料試験機用制御装置を提供することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明においては、材料試験機のセンサから出力されるフィードバック値と目標値との誤差に基づいて制御要素が前記材料試験機のアクチュエータの操作量を出力する材料試験機用制御装置において、前記制御要素の機能を切り換える機能切替手段を有し、前記機能切替手段は、前記制御要素を比例制御要素とした状態でフィードバック制御を行なわせ、フィードバック系が確立した後に、前記制御要素に積分制御要素を挿入すると同時に、前記制御要素に積分制御要素を挿入する直前の誤差の値だけ前記目標値を低下させたものを新たな目標値にするとともに、前記積分制御要素を挿入する直前の前記制御要素の出力値を前記制御要素の出力に加算した値を前記制御要素の新たな出力とさせるものである。
したがって、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる。
【0014】
請求項2に記載の発明においては、請求項1に記載の材料試験機用制御装置において、第1および第2の記憶手段を有し、前記制御要素を比例制御要素とした状態においては、前記第1の記憶手段が前記誤差の値を、前記第2の記憶手段が前記制御要素の出力の値を記憶しており、前記機能切替手段により前記制御要素に積分要素が挿入されるときには、前記第1の記憶手段から読み出された値だけ前記目標値を低下させた値を新たな目標値にするとともに、前記第2の記憶手段から読み出された値を前記制御要素の出力に加算して前記制御要素の新たな出力とするものである。
したがって、前記積分制御要素を挿入する際に、制御要素の出力が大きく変化しないようにするための、補償値を容易に得ることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態のブロック構成図である。図中、図3と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。3は制御要素、13は切替器、14はI(積分)制御器、15は切替器、16は加算器、17,18はメモリである。
【0016】
比較部2から出力される誤差Ee(t)は、制御要素3に入力される。制御要素3においては、P(比例)制御器12の出力が切替器13の入力となる。切替器13の一方の出力は切替器15の一方の入力になり、切替器13の他方の出力は、I制御器14の入力となる。I制御器14の出力は、切替器15の他方の入力となる。切替器15の出力は加算器16に供給され、ここで、後述するメモリ17の出力と加算されて制御要素3の出力となり、繰り返し荷重試験機4のサーボバルブ5に入力される。
【0017】
メモリ17は、切替器13,15の切り替え前においては、制御要素3の出力Es(t)を、逐次書き込んで記憶し、切り替え後には、最後に記憶した値を読み出して加算器16に出力する。変位センサ用アンプ11の出力は、比較器2に出力される。メモリ18は、切替器13,15の切り替え前においては、比較器2の出力である誤差Ee(t)を、逐次書き込んで記憶し、切り替え後には、最後に記憶した値を読み出して試験波発生部1に出力することにより、目標値Ei(t)を制御する。切替器13,15の各切替およびメモリ17,18の書込および読出の機能切替は、連動して短時間に行われる。
【0018】
油圧投入時には、P制御を行うため、切替器13を切替器15に直結させ、P制御器12の出力を制御要素3の出力とし、I制御器14は外しておく。メモリ17は制御要素3の出力Es(t)、すなわち、P制御器12の出力を書き込む動作を行い、メモリ18は比較器2の出力、すなわち、誤差Ee(t)の出力を書き込む動作を行う。各メモリ17,18の書込動作は、所定の処理タイミングごとに行われ、書き込みがなされるごとに前の書き込みデータが消去される。すなわち、最新の値に更新される。なお、各メモリ17,18からは、何も読み出されないか、あるいは、零値が読み出される。
【0019】
時刻t0において、切替器13,15を切替制御したときには、切替器13の出力をI制御器14に出力し、I制御器14の出力を切替器15を介して加算器16に出力して、制御要素3の出力とする。メモリ17は、切り替え直前の制御要素3の最新の出力データEs(t0)を読み出して加算器16に出力する。また、メモリ18は、切り替え直前の比較器2の誤差Ee(t0)を読み出して試験波発生部1に出力する。各メモリ17,18の読み出し出力は、切り替え後においてもそのまま保持される。
【0020】
上述したように、油圧が投入された後に、油圧サーボ系が構成されるに十分な所定時間が経過してサーボ系が構成された後の時刻t0において、切替器13,15を切り換えてI制御器14を挿入する。このようにして、制御要素3の出力が発散しないようにする。しかし、単純にI制御器14を挿入するだけでは、挿入時に、アクチュエータ6のピストン6bが急に移動するという、材料試験機として好まくない挙動をするという問題がある。
【0021】
図2は、本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態の動作を説明するための線図である。図2(a)は目標値Ei(t)を示す線図、図2(b)は制御要素の出力Es(t)を示す線図、図2(c)は変位Ec(t)を示す線図、図2(d)は荷重Load(t)を示す線図である。
図2(a)に示すように、油圧投入開始時(t=0)以降、変位の目標値Ei(t)を直線的に増加させることにより、変位速度一定のP制御を行う。この間、変位センサ用アンプ11から出力される現在の変位量Ec(t)は、理想的にはこの目標値よりもわずかに下回った値で増加する。P制御であるため、目標値Ei(t)との定常偏差は小さいが無視できない量である。油圧投入後、ゲインKpが小さなP制御が行われて閉ループが構成されている。この間、ループ全体が比例制御系として平衡がとれていても、誤差Ee(t)として零でない偏差が存在している。
【0022】
この状態で、時間t0において、切替器13,15を切り換えることにより、P制御器12の後段にI制御器14を挿入すると、零でない誤差Ee(t0)が積分される。その結果、変位センサ用アンプ11の出力Ec(t)を大きくする方向に制御される。そして、平衡がとれた時点になって誤差Ee(t)=0となる。これは、I制御器14を挿入したときに、誤差Ee(t0)に応じてアクチュエータ6のピストン6bが急に移動することを意味する。
【0023】
そのために、切替器13,15の切り替え時に、I制御器14の入力を零にする。誤差Ee(t)=0にしてやれば、P制御器12が零をKp倍してもI制御器14の入力は零であり、I制御器14の出力も変化しない。誤差Ee(t)=0にするために、変位センサ用アンプ11の出力Ec(t)をそのままにしておき、目標値Ei(t)を制御する。すなわち、Ee(t)=Ei(t)−Ec(t)であるから、Ee(t)を零とするには、試験波発生部1において、目標値Ei(t)(次式左辺のEi(t))を、切り替え前のEi(t)(次式右辺のEi(t))に対し、
Ei(t)=Ei(t)−Ee(t0)
として、比較器2に出力すればよい。すなわち、これまでの目標値Ei(t)を直流分Ee(t0)だけ、直流シフトしてやればよい。
図1においては、この動作を実現するために、メモリ18が、切り替え前において、誤差Ee(t)の値を逐次書き込み、切り替え時にこれを読み出して、切り替え直前の誤差Ee(t0)の値を試験波発生部1に出力して、試験波発生部1から直流シフトさせた目標値Ei(t)を出力している。
これに代えて、試験波発生部1はそのままに、試験波発生部1の出力を、図示しない減算器を通して目標値Ei(t)とし、これを比較部2に出力してもよい。この減算器は、切り替え前においては試験波発生部1の出力をそのまま出力するが、切り替え後においては、メモリ18の出力Ee(to)を減算して出力する。
【0024】
I制御器14の入力側の問題点については、上述した処理により解決する。しかし、図2(b)に示すように、制御要素の出力Es(t)についてみると、I制御器14の出力の初期値は零である。そのため、I制御器14を挿入する直前に制御要素3の出力Es(t0)に存在していた、Es(t0)=Kp・Ee(t0)については、I制御器14を挿入することにより零になってしまう。
制御要素の出力Es(t)がサーボバルブ5に加わることにより、フィードバックループ系のバランスがとれていたのであるから、切替器13,15の切り替え後においてもこの値を維持しなければ、油圧アクチュエータ6のピストン6bが急に大きく動いてしまう。
そのため、切替器13,15の切り替え前において、メモリ17は、P制御器の出力でもある、制御要素3の出力Es(t)=Kp・Ee(t)を逐次書き込み、切り替え時にこれを読み出して、切り替え直前のEs(t0)=Kp・Ee(t0)を、加算器16に出力している。その結果、制御要素3の出力は、切替器13,15の切り替え時点t0においても、大きく変化しないようにすることができる。その結果、I制御器14がショックなくスムーズに挿入できることとなる。
【0025】
なお、I制御器14内において、積分定数項の設定を行う場合には、加算器16に代えて、メモリ17の出力値をI制御器14の積分定数項とするように制御してもよい。また、上述した説明では、油圧投入開始時から目標値を一定勾配で増加させたが、最初は、目標値を0にしておいて油圧を投入してサーボ系が構成されるまで目標値を0にしておいてもよい。
【0026】
上述したように、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系にI制御器14を挿入できるようになった結果、接触子8がテストピース9に接触した時点の前後においても、変位速度が一定に保たれ、繰り返し試験の初期状態になるまで、理想的にピストン6bおよび接触子7を定速で移動させることができるようになる。
上述した説明では、繰り返し試験の初期状態になるまでの変位速度を一定に制御するときについて説明した。しかし、その後に行われる、繰り返し試験時に試験波発生部1から周期波形を出力して荷重の目標値とし、荷重フィードバック制御を行う際にも、I制御器14が挿入されているため、目標値との誤差を零にすることが可能となり、制御の精度が向上する。
また、一般に、フィードバックループ系を構成して材料試験機を制御する材料試験機用制御装置において、異常動作を起こすことなく定常偏差を零にすることができる。その結果、定常偏差が零とならないことに由来する、制御精度の低下の他、種々の問題を解決することができる。
【0027】
【発明の効果】
本発明は、上述した説明から明らかなように、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態のブロック構成図である。
【図2】本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態の動作を説明するための線図である。
【図3】従来の材料試験機用制御装置のブロック構成図である。
【図4】図3に示した従来の材料試験機用制御装置におけるピストン6bとテストピース9との位置関係を示す説明図である。
【図5】図3に示した従来の材料試験機用制御装置の動作を説明するための線図である。
【符号の説明】
1 試験波発生部、2 比較部、3 制御要素、4 繰り返し荷重試験機、5サーボバルブ、6 油圧アクチュエータ、7 ロードセル、8 接触子、9 テストピース、10 差動トランス、11 変位センサ用アンプ、12 P制御器、13,15 切替器、14 I制御器、16 加算器、17,18 メモリ、19 荷重センサ用アンプ
【発明の属する技術分野】
本発明は、材料試験機等をPI(比例積分)制御する材料試験機用制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
材料試験機をフィードバック制御する材料試験機用制御装置が知られている。このような材料試験機用制御装置において、セラミックス、岩石等のように、試験試料(T.P:テストピース)の剛性が高く、かつ、材料試験機のピストン断面が小さい場合に、比例制御(P)項のゲインKpを上げると、一巡周波数伝達関数の位相角が180度となる周波数におけるゲイン余裕度が少なくなり、不安定な状態となったり発振を起こすことが知られている。
そのため、比例(P)制御のゲインKpを大きくすることができない。その結果、フィードバック系における誤差を零にする能力が小さく、定常偏差が大きい状態で制御を行うことになる。
このように、定常偏差が大きい状態で制御を行う場合の問題について一例を説明する。
【0003】
図3は、従来の材料試験機用制御装置のブロック構成図である。図中、1は試験波発生部、2は比較部、4は材料試験機の一例としての繰り返し荷重試験機、5はサーボバルブ、6は油圧アクチュエータ、6aはシリンダ、6bはピストン、7はロードセル、8は接触子、9はテストピース、10は差動トランス、11は変位センサ用アンプ、12はP(比例)制御器、19は荷重センサ用アンプである。
【0004】
試験波発生部1は、変位Ec(t)の目標値Ei(t)を出力する波形発生器である。この目標値Ei(t)は、比較部2において、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)と比較されて、その差信号が誤差Ee(t)としてP(比例)制御器12に入力される。入力信号がゲインkpで増幅されたP制御器12の出力は、繰り返し荷重試験機4のサーボバルブ5に入力され、サーボバルブ5は、油圧アクチュエータ6を駆動する。油圧アクチュエータ6は、シリンダ6aおよびピストン6bを有し、ピストン6bは、ロードセル7および接触子8を介してテストピース9に荷重を加える。
【0005】
差動トランス10は、ピストン6bに連結されており、ピストン6bの変位量を計測する。接触子8がテストピース9を押圧している状態では、ピストン6bの変位量はテストピース9の変位量に等しい。荷重センサ用アンプ19の出力による繰り返し荷重試験時の制御態様について、この図では省略している。繰り返し荷重試験時においては、試験波発生部1から、加重Loadの振動波形を目標値として出力し、荷重センサ用アンプ19の出力と比較器2において比較して、荷重フィードバック制御を行う。ここでは、接触子8をテストピース9に接触させて所定の圧力をかけるまでの間に行う変位速度一定制御について説明する。なお、変位センサ用アンプ11および荷重センサ用アンプ19の出力は、図示しないA/D変換器によりディジタルデータに変換されている。
【0006】
図4は、図3に示した従来の材料試験機用制御装置におけるピストン6bとテストピース9との位置関係を示す説明図である。図4(a)は接触子8がテストピース9から離れている状態の説明図、図4(b)は接触子8がテストピース9に接触している状態の説明図である。図中、図3と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。
【0007】
テストピース9を繰り返し荷重試験機4に取り付ける際には、図4(a)に示すように、接触子8はテストピース9から離された状態にある。試験波発生部1から変位速度を一定とした目標値Ei(t)となる波形を出力し、P制御器12により増幅し、油圧アクチュエータ6を駆動し、ピストン6bを下方向(図3においては、上方向)に変位させることにより、図4(b)に示すように、接触子8をテストピース9に接触させ、以後、荷重Loadが初期目標値になるまで変位の目標値Ei(t)を定速度で増加させて変位フィードバックを行い、繰り返し荷重試験の初期状態としている。
【0008】
図5は、図3に示した従来の材料試験機用制御装置の動作を説明するための線図である。図5(a)は目標値Ei(t)を示す線図、図5(b)は変位Ec(t)を示す線図、図5(c)は荷重Load(t)を示す線図である。
【0009】
上述したように、従来は、P制御のゲインKpが大きくないので、定常偏差が大きい状態で制御が行われている。したがって、図5(a)に示すように、目標値Ei(t)に対して、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)がわずかに小さくなっている。接触子8がテストピース9に接触する以前では、誤差Ee(t)に表れる定常偏差は、さほど大きくない。しかし、接触子8がテストピース9に接触すると、P制御のゲインKpが不足しているので、テストピース9の高剛性により誤差Ee(t)が大きくなってしまう。その結果、変位センサ用アンプ11から出力される変位Ec(t)の勾配が接触時点で急に小さくなってしまうという問題があった。そのため、変位速度一定で制御することができなかった。
【0010】
一般に、このようなP制御のゲインKpを補償するために、積分(I)制御を加えたPI制御を行うことが知られている。なお、付加的な補償用に微分制御を加えたPID制御を行うことも知られているが、このPID制御は、実質的にPI制御である。PI制御においては、I制御により誤差Ee(t)を積分してフィードバックさせることにより、誤差Ee(t)を零にする。言い換えれば、定常偏差のような、直流ないし直流近傍の低周波信号のゲインを大きくしてフィードバック制御することにより、定常偏差をなくそうとするものである。
【0011】
ところが、コンピュータが直接に制御装置として機能するDDC(Direct Digital Control)など、ソフトウエアによるサーボにおいては、アナログ方式とは異なり、積分制御要素は、直流または直流近傍の周波数信号に対してゲインが無限大になるという理想的な特性を示す。そのために、定常偏差を零に集束させることが容易である。その反面、油圧サーボループ系が確立していない運転開始時の初期状態では、収束すべき目標値がないため、積分制御要素の出力が正または負の無限大に発散する方向に変化して出力が飽和してしまうという問題がある。したがって、上述したような繰り返し荷重試験装置において、単純にPI制御を行うことができず、図5(a),図5(b)を参照して説明したような定常偏差の影響をなくすことができなかった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたもので、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる材料試験機用制御装置を提供することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明においては、材料試験機のセンサから出力されるフィードバック値と目標値との誤差に基づいて制御要素が前記材料試験機のアクチュエータの操作量を出力する材料試験機用制御装置において、前記制御要素の機能を切り換える機能切替手段を有し、前記機能切替手段は、前記制御要素を比例制御要素とした状態でフィードバック制御を行なわせ、フィードバック系が確立した後に、前記制御要素に積分制御要素を挿入すると同時に、前記制御要素に積分制御要素を挿入する直前の誤差の値だけ前記目標値を低下させたものを新たな目標値にするとともに、前記積分制御要素を挿入する直前の前記制御要素の出力値を前記制御要素の出力に加算した値を前記制御要素の新たな出力とさせるものである。
したがって、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる。
【0014】
請求項2に記載の発明においては、請求項1に記載の材料試験機用制御装置において、第1および第2の記憶手段を有し、前記制御要素を比例制御要素とした状態においては、前記第1の記憶手段が前記誤差の値を、前記第2の記憶手段が前記制御要素の出力の値を記憶しており、前記機能切替手段により前記制御要素に積分要素が挿入されるときには、前記第1の記憶手段から読み出された値だけ前記目標値を低下させた値を新たな目標値にするとともに、前記第2の記憶手段から読み出された値を前記制御要素の出力に加算して前記制御要素の新たな出力とするものである。
したがって、前記積分制御要素を挿入する際に、制御要素の出力が大きく変化しないようにするための、補償値を容易に得ることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態のブロック構成図である。図中、図3と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略する。3は制御要素、13は切替器、14はI(積分)制御器、15は切替器、16は加算器、17,18はメモリである。
【0016】
比較部2から出力される誤差Ee(t)は、制御要素3に入力される。制御要素3においては、P(比例)制御器12の出力が切替器13の入力となる。切替器13の一方の出力は切替器15の一方の入力になり、切替器13の他方の出力は、I制御器14の入力となる。I制御器14の出力は、切替器15の他方の入力となる。切替器15の出力は加算器16に供給され、ここで、後述するメモリ17の出力と加算されて制御要素3の出力となり、繰り返し荷重試験機4のサーボバルブ5に入力される。
【0017】
メモリ17は、切替器13,15の切り替え前においては、制御要素3の出力Es(t)を、逐次書き込んで記憶し、切り替え後には、最後に記憶した値を読み出して加算器16に出力する。変位センサ用アンプ11の出力は、比較器2に出力される。メモリ18は、切替器13,15の切り替え前においては、比較器2の出力である誤差Ee(t)を、逐次書き込んで記憶し、切り替え後には、最後に記憶した値を読み出して試験波発生部1に出力することにより、目標値Ei(t)を制御する。切替器13,15の各切替およびメモリ17,18の書込および読出の機能切替は、連動して短時間に行われる。
【0018】
油圧投入時には、P制御を行うため、切替器13を切替器15に直結させ、P制御器12の出力を制御要素3の出力とし、I制御器14は外しておく。メモリ17は制御要素3の出力Es(t)、すなわち、P制御器12の出力を書き込む動作を行い、メモリ18は比較器2の出力、すなわち、誤差Ee(t)の出力を書き込む動作を行う。各メモリ17,18の書込動作は、所定の処理タイミングごとに行われ、書き込みがなされるごとに前の書き込みデータが消去される。すなわち、最新の値に更新される。なお、各メモリ17,18からは、何も読み出されないか、あるいは、零値が読み出される。
【0019】
時刻t0において、切替器13,15を切替制御したときには、切替器13の出力をI制御器14に出力し、I制御器14の出力を切替器15を介して加算器16に出力して、制御要素3の出力とする。メモリ17は、切り替え直前の制御要素3の最新の出力データEs(t0)を読み出して加算器16に出力する。また、メモリ18は、切り替え直前の比較器2の誤差Ee(t0)を読み出して試験波発生部1に出力する。各メモリ17,18の読み出し出力は、切り替え後においてもそのまま保持される。
【0020】
上述したように、油圧が投入された後に、油圧サーボ系が構成されるに十分な所定時間が経過してサーボ系が構成された後の時刻t0において、切替器13,15を切り換えてI制御器14を挿入する。このようにして、制御要素3の出力が発散しないようにする。しかし、単純にI制御器14を挿入するだけでは、挿入時に、アクチュエータ6のピストン6bが急に移動するという、材料試験機として好まくない挙動をするという問題がある。
【0021】
図2は、本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態の動作を説明するための線図である。図2(a)は目標値Ei(t)を示す線図、図2(b)は制御要素の出力Es(t)を示す線図、図2(c)は変位Ec(t)を示す線図、図2(d)は荷重Load(t)を示す線図である。
図2(a)に示すように、油圧投入開始時(t=0)以降、変位の目標値Ei(t)を直線的に増加させることにより、変位速度一定のP制御を行う。この間、変位センサ用アンプ11から出力される現在の変位量Ec(t)は、理想的にはこの目標値よりもわずかに下回った値で増加する。P制御であるため、目標値Ei(t)との定常偏差は小さいが無視できない量である。油圧投入後、ゲインKpが小さなP制御が行われて閉ループが構成されている。この間、ループ全体が比例制御系として平衡がとれていても、誤差Ee(t)として零でない偏差が存在している。
【0022】
この状態で、時間t0において、切替器13,15を切り換えることにより、P制御器12の後段にI制御器14を挿入すると、零でない誤差Ee(t0)が積分される。その結果、変位センサ用アンプ11の出力Ec(t)を大きくする方向に制御される。そして、平衡がとれた時点になって誤差Ee(t)=0となる。これは、I制御器14を挿入したときに、誤差Ee(t0)に応じてアクチュエータ6のピストン6bが急に移動することを意味する。
【0023】
そのために、切替器13,15の切り替え時に、I制御器14の入力を零にする。誤差Ee(t)=0にしてやれば、P制御器12が零をKp倍してもI制御器14の入力は零であり、I制御器14の出力も変化しない。誤差Ee(t)=0にするために、変位センサ用アンプ11の出力Ec(t)をそのままにしておき、目標値Ei(t)を制御する。すなわち、Ee(t)=Ei(t)−Ec(t)であるから、Ee(t)を零とするには、試験波発生部1において、目標値Ei(t)(次式左辺のEi(t))を、切り替え前のEi(t)(次式右辺のEi(t))に対し、
Ei(t)=Ei(t)−Ee(t0)
として、比較器2に出力すればよい。すなわち、これまでの目標値Ei(t)を直流分Ee(t0)だけ、直流シフトしてやればよい。
図1においては、この動作を実現するために、メモリ18が、切り替え前において、誤差Ee(t)の値を逐次書き込み、切り替え時にこれを読み出して、切り替え直前の誤差Ee(t0)の値を試験波発生部1に出力して、試験波発生部1から直流シフトさせた目標値Ei(t)を出力している。
これに代えて、試験波発生部1はそのままに、試験波発生部1の出力を、図示しない減算器を通して目標値Ei(t)とし、これを比較部2に出力してもよい。この減算器は、切り替え前においては試験波発生部1の出力をそのまま出力するが、切り替え後においては、メモリ18の出力Ee(to)を減算して出力する。
【0024】
I制御器14の入力側の問題点については、上述した処理により解決する。しかし、図2(b)に示すように、制御要素の出力Es(t)についてみると、I制御器14の出力の初期値は零である。そのため、I制御器14を挿入する直前に制御要素3の出力Es(t0)に存在していた、Es(t0)=Kp・Ee(t0)については、I制御器14を挿入することにより零になってしまう。
制御要素の出力Es(t)がサーボバルブ5に加わることにより、フィードバックループ系のバランスがとれていたのであるから、切替器13,15の切り替え後においてもこの値を維持しなければ、油圧アクチュエータ6のピストン6bが急に大きく動いてしまう。
そのため、切替器13,15の切り替え前において、メモリ17は、P制御器の出力でもある、制御要素3の出力Es(t)=Kp・Ee(t)を逐次書き込み、切り替え時にこれを読み出して、切り替え直前のEs(t0)=Kp・Ee(t0)を、加算器16に出力している。その結果、制御要素3の出力は、切替器13,15の切り替え時点t0においても、大きく変化しないようにすることができる。その結果、I制御器14がショックなくスムーズに挿入できることとなる。
【0025】
なお、I制御器14内において、積分定数項の設定を行う場合には、加算器16に代えて、メモリ17の出力値をI制御器14の積分定数項とするように制御してもよい。また、上述した説明では、油圧投入開始時から目標値を一定勾配で増加させたが、最初は、目標値を0にしておいて油圧を投入してサーボ系が構成されるまで目標値を0にしておいてもよい。
【0026】
上述したように、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系にI制御器14を挿入できるようになった結果、接触子8がテストピース9に接触した時点の前後においても、変位速度が一定に保たれ、繰り返し試験の初期状態になるまで、理想的にピストン6bおよび接触子7を定速で移動させることができるようになる。
上述した説明では、繰り返し試験の初期状態になるまでの変位速度を一定に制御するときについて説明した。しかし、その後に行われる、繰り返し試験時に試験波発生部1から周期波形を出力して荷重の目標値とし、荷重フィードバック制御を行う際にも、I制御器14が挿入されているため、目標値との誤差を零にすることが可能となり、制御の精度が向上する。
また、一般に、フィードバックループ系を構成して材料試験機を制御する材料試験機用制御装置において、異常動作を起こすことなく定常偏差を零にすることができる。その結果、定常偏差が零とならないことに由来する、制御精度の低下の他、種々の問題を解決することができる。
【0027】
【発明の効果】
本発明は、上述した説明から明らかなように、異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態のブロック構成図である。
【図2】本発明の材料試験機用制御装置の実施の一形態の動作を説明するための線図である。
【図3】従来の材料試験機用制御装置のブロック構成図である。
【図4】図3に示した従来の材料試験機用制御装置におけるピストン6bとテストピース9との位置関係を示す説明図である。
【図5】図3に示した従来の材料試験機用制御装置の動作を説明するための線図である。
【符号の説明】
1 試験波発生部、2 比較部、3 制御要素、4 繰り返し荷重試験機、5サーボバルブ、6 油圧アクチュエータ、7 ロードセル、8 接触子、9 テストピース、10 差動トランス、11 変位センサ用アンプ、12 P制御器、13,15 切替器、14 I制御器、16 加算器、17,18 メモリ、19 荷重センサ用アンプ
Claims (2)
- 材料試験機のセンサから出力されるフィードバック値と目標値との誤差に基づいて制御要素が前記材料試験機のアクチュエータの操作量を出力する材料試験機用制御装置において、
前記制御要素の機能を切り換える機能切替手段を有し、
前記機能切替手段は、前記制御要素を比例制御要素とした状態でフィードバック制御を行なわせ、
フィードバック系が確立した後に、前記制御要素に積分制御要素を挿入すると同時に、
前記制御要素に積分制御要素を挿入する直前の誤差の値だけ前記目標値を低下させたものを新たな目標値にするとともに、
前記積分制御要素を挿入する直前の前記制御要素の出力値を前記制御要素の出力に加算した値を前記制御要素の新たな出力とさせる、
ことを特徴とする材料試験機用制御装置。 - 第1および第2の記憶手段を有し、
前記制御要素を比例制御要素とした状態においては、前記第1の記憶手段が前記誤差の値を、前記第2の記憶手段が前記制御要素の出力の値を記憶しており、前記機能切替手段により前記制御要素に積分要素が挿入されるときには、前記第1の記憶手段から読み出された値だけ前記目標値を低下させた値を新たな目標値にするとともに、前記第2の記憶手段から読み出された値を前記制御要素の出力に加算して前記制御要素の新たな出力とすることを特徴とする請求項1に記載の材料試験機用制御装置。
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JP34498698A JP3819620B2 (ja) | 1998-12-04 | 1998-12-04 | 材料試験機用制御装置 |
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1998
- 1998-12-04 JP JP34498698A patent/JP3819620B2/ja not_active Expired - Fee Related
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