JP3810318B2 - アナログデジタル変換装置 - Google Patents
アナログデジタル変換装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3810318B2 JP3810318B2 JP2001400672A JP2001400672A JP3810318B2 JP 3810318 B2 JP3810318 B2 JP 3810318B2 JP 2001400672 A JP2001400672 A JP 2001400672A JP 2001400672 A JP2001400672 A JP 2001400672A JP 3810318 B2 JP3810318 B2 JP 3810318B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- analog
- processing unit
- conversion processing
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/14—Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit
- H03M1/145—Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit the steps being performed sequentially in series-connected stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/14—Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/50—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
- H03M1/56—Input signal compared with linear ramp
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、LSI技術の進歩によって、通信、計測、音声・画像信号処理、医療、地震学などの様々な分野においてアナログ信号をデジタル的に処理する手法が一般化している。アナログ信号をデジタル処理するためには、アナログ量をデジタル量に変換するA/D変換装置が必須となる。
【0003】
A/D変換装置の種類は多種多様であり、使用目的に応じてその構成や原理が異なったものが使用される。A/D変換装置は積分方式と比較方式に大別され、さらに積分方式はデュアルスロープ型と電荷並行型に、比較方式は帰還比較型(逐次比較型)と無帰還比較型(並列型又はフラッシュ型)に分類される。時間軸で精度を出す積分方式は、低速であるが、高分解能に適している。一方、素子によって精度を出す比較方式は、高速ではあるが、低分解能(8〜12ビット)に適している。
【0004】
図10に、積分方式によるA/D変換装置の構成および動作を示す。図10(a)に示す構成図において、105は積分器であり、演算増幅器108、コンデンサ109およびスイッチ110を備えている。演算増幅器108の非反転入力端子はアースに接続され、反転入力端子と出力端子との間にコンデンサ109とスイッチ110とが並列に接続されている。
【0005】
この積分器105の入力端子(演算増幅器108の反転入力端子)には、直列接続されたスイッチ101と抵抗103とを介して入力アナログ信号の電圧Vinが入力されるとともに、直列接続されたスイッチ102と抵抗104とを介して基準電圧Vrefが入力される。また、この積分器105の出力端子には、コンパレータ106の反転入力端子が接続されている。コンパレータ106の非反転入力端子はアースに接続され、出力端子はカウンタ107に接続されている。
【0006】
リセット期間は積分器105のスイッチ110がオンとなり、コンデンサ109の電荷を放電して積分器105の出力がゼロとなるようにする。スイッチ101,102は初期状態ではオフとなっており、A/D変換動作が始まるとスイッチ101が一定時間t1だけオンになる。A/D変換動作が行われている間、スイッチ110はオフである。これにより、入力アナログ電圧Vinが積分器105によって時間t1だけ積分され、その結果がコンデンサ109に蓄積される。
【0007】
次に、スイッチ101がオフ、スイッチ102がオンに切り替えられる。このとき積分器105は、コンデンサ109に蓄積された入力アナログ電圧Vinの積分結果と逆極性の基準電圧Vrefとを演算増幅器108に入力し、積分器105の出力がゼロになることをコンパレータ106で検知するまで、基準電圧Vrefで逆積分する。この基準電圧Vrefで逆積分する時間t2をカウンタ107で測定することにより、アナログ入力電圧Vinをデジタルデータに変換することができる。
【0008】
図11に、比較方式によるA/D変換装置の構成を示す。図11において、111は入力アナログ信号の電圧Vinを保持するサンプルホールド回路、112は複数のコンパレータである。各コンパレータ112の一方の入力端子にはサンプルホールド回路111の出力が接続され、他方の入力端子には電圧VDDを等しく分圧する複数の抵抗Rの出力タップがそれぞれ接続されている。
【0009】
各コンパレータ112は、サンプルホールド回路111から出力されるアナログ入力電圧Vinと、複数の抵抗Rによって等分された電圧VDDの分圧とをそれぞれ比較し、その比較結果に応じて0または1の値をエンコーダ113に出力する。このときエンコーダ113に入力されるデータは、アナログ入力電圧Vinの大きさに応じて、何れかのコンパレータ112を境としてその両側で0および1の値が連続するデータとなっている。エンコーダ113は、コンパレータ112の出力データをエンコードして所定ビットのデジタルデータとし、レジスタ114を介して出力する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術に示す積分型A/D変換装置では、上述したようにA/D変換速度が遅いという問題があった。従来、変換速度を上げるために縦続積分方式のA/D変換装置も提案されている。この縦続積分方式の基本的な動作は、基準電圧Vrefによる積分を2段階に分けて行う。すなわち、変換ビットを上位ビットと下位ビットとに分け、前半は時間を短くするために粗く急速に上位ビットの積分を行い、後半は精度を出すために緩やかに下位ビットの積分を行うことにより、精度を保ちながら全体で時間の短縮を図っている。
【0011】
しかし、従来の縦続積分方式では、基準電圧Vrefを2種類用意する必要があり、そのため回路構成が複雑になるという問題があった。また、後半の下位ビットについては緩やかに積分を行う必要があるため、変換速度の高速化が十分に図れないという問題もあった。
【0012】
また、A/D変換の分解能を向上させるためには、カウンタのクロック周波数を上げる必要があるが、クロック周波数を無限に高くすることは種々の制約からできず、容易に分解能を向上させることができないという問題もあった。例えば、オーディオでは16ビットの分解能が要求されるが、サンプリング周波数が44.1KHzのオーディオ信号をA/D変換する場合、16ビットの精度を出すのに必要なクロック周波数は約3GHzにもなる。しかし、このように非常に高いクロック周波数を実現するのは容易でない。また、クロックパルスの波形そのものが保たれなくなるため、変換精度が上がらないという問題があった。
【0013】
一方、比較型A/D変換装置では、A/D変換速度は速くできるものの、入力アナログ電圧と基準電圧とを比較するコンパレータや分圧抵抗等が変換分解能に相当する数(例えば、16ビットのA/D変換装置であれば65536個)だけ必要となる。また、そのコンパレータの数に比例してエンコーダの回路規模も膨大になり、チップサイズの大型化やコスト上昇の大きな要因となるという問題があった。
【0014】
本発明は、このような問題を解決するために成されたものであり、回路規模を大きくすることなく、A/D変換の速度向上および分解能向上の双方を達成できるようにすることを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明のアナログデジタル変換装置は、アナログ信号を所定ビット単位でデジタル信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、所定の基準電圧から一定の割合で変化するランプ電圧を発生するランプ電圧発生回路と、上記ランプ電圧とアナログ入力電圧とが一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントし、上記アナログ入力電圧に比例した所定ビット数のデジタル信号を出力するカウンタ回路と、上記ランプ電圧と上記アナログ入力電圧とが一致するまでの間に含まれる上記完全クロック以外の非完全クロックを検出し、上記非完全クロックの時間に比例した電圧を剰余電圧として出力する剰余検出回路とを備え、最初は上記ランプ電圧が上記アナログ信号の入力電圧に一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントして上記所定ビット数のデジタル信号を出力し、以降は上記ランプ電圧が上記剰余電圧に一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントして上記所定ビット数のデジタル信号を出力するようにしたことを特徴とする。
【0016】
また、本発明では、上記剰余検出回路は、分解能に応じて数倍した値の剰余電圧を出力することを特徴とする。
例えば、上記剰余検出回路は、上記ランプ電圧と上記アナログ入力電圧とが一致してから次のクロックが始まるまでの時間に比例した電圧を上記分解能に応じて数倍した電圧値を、上記ランプ電圧の最大値から引くことによって、上記分解能に応じて数倍した値の剰余電圧を求める。
【0017】
本発明のその他の態様では、アナログ信号を所定ビット単位でデジタル信号に変換する変換処理部を複数段接続し、それぞれの変換処理部が上記ランプ電圧発生回路、上記カウンタ回路および上記剰余検出回路を備え、前段の変換処理部から出力された上記剰余電圧を後段の変換処理部に上記アナログ入力電圧として入力するように成し、上記複数段の変換処理部を並列動作させるようにしたことを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本実施形態によるA/D変換装置の概略構成を示す図である。ここでは、16ビットの変換分解能を有するA/D変換装置を例に挙げて説明する。図1に示すように、本実施形態のA/D変換装置は、4ビット単位でA/D変換を行う複数の変換処理部1-1〜1-4を多段接続して構成されている。
【0019】
各変換処理部1-1〜1-4は積分型A/D変換の構成を基本としており、変換ビット数を小さくして後述する剰余計算機能を工夫することにより多段構成を可能とし、全体として大きな分解能を実現している。初段の変換処理部1-1は、A/D変換の対象となるアナログ信号の入力処理部、2段目以降の変換処理部1-2〜1-4は、前段から送られてくる剰余信号の処理部となっている。
【0020】
各変換処理部1-1〜1-4は、アナログ処理部と、タイムシェアリング動作する4層のデジタル処理部とから構成される。アナログ処理部は、所定の基準電圧Vref1から電圧Vref2まで一定の割合で上昇するランプ電圧と、サンプルホールドしたアナログ入力電圧との一致点を検出する回路を含んでいる。1段目から3段目の変換処理部1-1〜1-3が備えるアナログ処理部は、上述の剰余信号を検出して次段に出力する回路を含んでいる。
【0021】
また、デジタル処理部の各層は、上記ランプ電圧とアナログ入力電圧とが一致するまでの間に含まれるクロック数をカウントし、アナログ入力電圧に比例した4ビットのデジタル信号を出力するカウンタ2-1〜2-4と、各カウンタ2-1〜2-4より出力される4ビットのデジタル信号を保持するとともに、シフト動作によりこれらをまとめて16ビットのデジタル信号として出力するシフトレジスタ3-1〜3-4とを備えている。このデジタル処理部による並直列変換によって、各変換処理部1-1〜1-4の出力結果を高速データとして出力する。
【0022】
図2は、各変換処理部1-1〜1-4が備えるアナログ処理部の構成を示す回路図である。また、図3は、この図2に示すアナログ処理部の動作を説明するための波形図である。以下、この図2および図3を用いて説明する。
【0023】
図2において、アナログ入力電圧INPUT(初段の変換処理部1-1の場合はA/D変換の対象となるアナログ信号の電圧、2段目以降の変換処理部1-2〜1-4の場合は前段から送られてくる剰余信号の電圧)は、サンプルホールド回路11によってサンプルホールドされた後、コンパレータ13の一方の入力端子に入力される(図3の(3)、(6))。コンパレータ13の他方の入力端子には、ランプジェネレータ12により発生されるランプ電圧が入力される。
【0024】
このランプジェネレータ12は、一定の電流値Irefを出力する定電流源Irefと、この定電流源Irefと基準電圧Vref1との間に直列接続された2つのMOSスイッチQ1,Q2と、ランプジェネレータ12の出力端子と基準電圧Vref1との間に接続されたコンデンサC1とを備えて構成されている。一方のMOSスイッチQ1のゲートには、メインクロックCK1(図3の(1))の16クロック期間(4ビット分)に相当するパルス幅を持つクロックCK16(図3の(4))が入力される。また、他方のMOSスイッチQ2のゲートには、リセットパルスRST(図3の(2))が入力される。
【0025】
ランプジェネレータ12の動作は以下の通りである。まずリセットパルスRSTの印加によってMOSスイッチQ2がオンとなり、コンデンサC1が基準電圧Vref1にリセットされる。この基準電圧Vref1は、A/D変換の対象となるアナログ信号の入力電圧の最小値よりも所定のマージン分だけ小さい値である。その後、クロックCK16の印加によってMOSスイッチQ1がオンとなり、そのパルス期間中にコンデンサC1の充電が行われる。その結果、基準電圧Vref1から電圧Vref2まで一定の割合で徐々に上昇するランプ電圧(図3の(5))が得られる。
【0026】
基準電圧Vref1は内部生成されるものであるのに対して、ランプ電圧の最大値Vref2は、基準電圧Vref1と定電流源IrefとコンデンサC1の容量とによって一意に定まるものである。ランプ電圧の最大値Vref2はサンプルホールド回路14に与えられ、その内部のMOSスイッチQ3に次のリセットパルスRSTが印加されるまでコンデンサC2に保持される。そして、この電圧Vref2が後述する剰余計算の際の基準電位として利用される。
【0027】
コンパレータ13は、サンプルホールド回路11から入力されるアナログ入力電圧S/Hout(図3の(6))と、ランプジェネレータ12から入力されるランプ電圧(図3の(5))とを大小比較し、その比較結果に応じたパルスを出力する。すなわち、基準電圧Vref1から徐々に大きくなるランプ電圧がアナログ入力電圧S/Houtに一致するまでの期間中に値が1となり、ランプ電圧がアナログ入力電圧S/Houtを超えた後は値が0となるパルスCOMPout(図3の(7))を出力する。これにより、コンパレータ13の出力信号COMPoutは、アナログ入力電圧S/Houtの大きさに比例したパルス幅を持つことになる。
【0028】
コンパレータ13の出力信号COMPoutは、ANDゲート15の一方の入力端子と負出力モノマルチバイブレータ16とに入力される。ANDゲート15の他方の入力端子にはメインクロックCK1が入力される。これにより、ANDゲート15の出力信号DD1は図3の(8)のようになる。この信号DD1は、コンパレータ13の出力信号COMPoutのハイ期間中(ランプ電圧がアナログ入力電圧S/Houtに一致するまでの間)に含まれるメインクロックCK1の数を表している。したがって、このクロックCK1の数を数えれば、アナログ入力電圧S/Houtを4ビットのデジタル信号に変換することが可能である。
【0029】
ただし、図3に示すように、信号COMPoutのハイ期間中には、メインクロックCK1の1クロック幅に満たない非完全な余り部分(以下、非完全クロックと呼ぶことにする)が含まれている。この非完全クロックもカウントしてしまうと、デジタル信号の値は1だけ大きくなってしまう。したがって、このANDゲート15の出力信号DD1をそのままカウンタに出力することはできない。そこで、負出力モノマルチバイブレータ16を利用して、信号COMPoutのハイ期間中に含まれるメインクロックCK1の数を1つ削減した信号DD2(図3の(9))を生成し、これをカウンタに出力するようにしている。
【0030】
すなわち、負出力モノマルチバイブレータ16は、信号COMPoutの立ち上がり(これはメインクロックCK1の立ち上がりと同期している)に同期して出力がロウになり、そのロウ期間がメインクロックCK1の1/2クロック期間よりもやや長くなるように設定した負の単一パルスを出力する。この負出力モノマルチバイブレータ16の出力信号と、ANDゲート15の出力信号DD1とがANDゲート17に入力される。このANDゲート17によって2入力のANDをとることにより、カウンタへの出力信号DD2(図3の(9))を生成している。
【0031】
一方、非完全クロックに関しては、当該非完全クロックの時間に比例した剰余電圧を剰余検出回路18によって生成し、これを次段の変換処理部に出力する。次段の変換処理部では、前段から送られてきた剰余電圧をアナログ入力電圧INPUTとして入力し、以上と同様の変換動作を行うことによって、当該剰余電圧を前段から見て下位に当たる4ビットのデジタル信号に変換する。
【0032】
剰余検出回路18の入力段には、遅延回路としてのインバータ、ORゲート、RSフリップフロップから成る論理回路が設けられており、コンパレータ13の出力信号COMPoutとメインクロックCK1とに基づいて、図3の(11)のような信号DDoutを生成する。この信号DDoutは、コンパレータ13の出力信号COMPoutの立ち下り(アナログ入力電圧S/Houtとランプ電圧とが一致した時点)で1となり、その後のメインクロックCK1の立ち上がりで0となるパルス信号である。このパルス信号DDoutは、MOSスイッチQ4のゲートに入力される。
【0033】
MOSスイッチQ4は、そのソースとドレインがコンデンサC2および定電流源Iref*16に接続されている。定電流源Iref*16は、ランプジェネレータ12が備えている定電流源Irefの16倍の電流を出力するものであり、その一端は接地されている。上述したように、コンデンサC2には、ランプ電圧の最大値Vref2が蓄積されている。これにより、パルス信号DDoutのハイ期間中にMOSスイッチQ4がオンになると、ランプ電圧の最大値Vref2を起点として、図3の(5)に示すランプ電圧の16倍の傾斜で電圧が降下する(図3の(10))。
【0034】
非完全クロックは、メインクロックCK1の1クロック期間から図3の(11)に示すパルス信号DDoutの期間を差し引いたものである。よって、非完全クロックの時間に比例した剰余電圧とは、このメインクロックCK1の1クロック分とパルス信号DDoutとの差分に比例した電圧のことを言う。したがって、メインクロックCK1の16クロック分に相当する電圧Vref2から、パルス信号DDoutの16倍に相当する電圧を差し引くといった上述の動作を行うことにより、本来の剰余電圧を16倍した電圧がDC余りとして得られる。この計算は、定電流源Iref*16およびコンデンサC2の精度以外はメインクロックCK1が基準となるので、精度の高い結果が得られる。
【0035】
図4は、各変換処理部1-1〜1-4が備えるデジタル処理部の構成を1つにまとめて示したイメージ図である。また、図5は、図4に示すデジタル処理部の動作を説明するための波形図である。図4において、4ビットカウンタが図の横方向に4個並んでいるのは、それぞれが4つの変換処理部1-1〜1-4の内部に備えられているものであることを表す。また、4ビットカウンタが図の縦方向に4個並んでいるのは、変換処理部1-1〜1-4のそれぞれがタイムシェアリング動作の4層により構成されていることを表す。例えば、一番左側にある縦4つの4ビットカウンタは、初段の変換処理部1-1が備える4層のカウンタである。
【0036】
また、20ビットシフトレジスタは、各変換処理部1-1〜1-4のデジタル処理部が備えるシフトレジスタを全てまとめて示したものである(左端の4ビットの値は0に固定)。この20ビットシフトレジスタが図の縦方向に4個並んでいるのは、変換処理部1-1〜1-4のそれぞれがタイムシェアリング動作の4層により構成されていることを表す。
【0037】
図5に示すように、4つの変換処理部1-1〜1-4のデジタル処理部が備える4層の4ビットカウンタ(合計16個のカウンタ)および4層の20ビットシフトレジスタは、制御パルスCP1〜CP4のハイ期間中に動作する。これらの制御パルスCP1〜CP4は、44.1KHzのサンプルクロックCKsの1クロック期間に相当するパルス幅を持っている。図4および図5では、各カウンタおよび各シフトレジスタの動作タイミングをハッチングの種類で区別して示した。
【0038】
例えば制御パルスCP1のハイ期間中は、1段目の変換処理部1-1の第1層の4ビットカウンタ、2段目の変換処理部1-2の第4層の4ビットカウンタ、3段目の変換処理部1-3の第3層の4ビットカウンタ、4段目の変換処理部1-4の第2層の4ビットカウンタが動作し、第1層の20ビットシフトレジスタから4ビット分の0に続いて16ビットのデジタル信号が出力される。このように、4つの変換処理部1-1〜1-4が備える4層のデジタル処理部が並直列変換動作をすることにより、A/D変換速度の向上を図っている。
【0039】
図6〜図9は、各変換処理部1-1〜1-4の内部構成をアナログ処理部とデジタル処理部とを合わせて示した回路図である。これらの図において、図2に示した符号と同一の符号を付したものは互いに同一の機能を有するものであるので、ここでは重複する説明を省略する。また、図6〜図9はほぼ同様の構成を有しているので、これらのうち何れかを代表として説明する。
【0040】
例えば図6について説明すると、4つの4ビットカウンタ21-1〜21-4によって図1に示したカウンタ2-1が構成され、4つの8ビットシフトレジスタ(MSBから4ビットは0に固定)22-1〜22-4によって図1に示したシフトレジスタ3-1が構成される。CLR1〜CLR4は4ビットカウンタ21-1〜21-4をクリアするためのタイミングクロック、LD1〜LD4は4ビットカウンタ21-1〜21-4から8ビットシフトレジスタ22-1〜22-4へのデータロードを制御するためのタイミングクロック、CK0は8ビットシフトレジスタ22-1〜22-4のシフト動作を制御するためのタイミングクロックである。
【0041】
1組のANDゲート23-1〜23-4は、メインクロックCK1と、ANDゲート17の出力信号DD2と、制御パルスCP1〜CP4とのANDを演算する。4ビットカウンタ21-1〜21-4は、ANDゲート23-1〜23-4より出力されるクロック数をカウントする。もう1組のANDゲート24-1〜24-4は、シフトクロックCK0と、ANDゲート17の出力信号DD2と、制御パルスCP1〜CP4とのANDを演算する。8ビットシフトレジスタ22-1〜22-4は、これらのANDゲート24-1〜24-4より出力されるクロックに同期してシフト動作を実行する。
【0042】
すなわち、ロードクロックLD1〜LD4によって8ビットシフトレジスタ22-1〜22-4に保持されたカウント値(4ビットのデジタル信号)は、シフトクロックCK0の印加に応じて、2段目の変換処理部1-2が備える4ビットシフトレジスタ32-1〜32-4(図7)に送られる。このとき、2段目の4ビットシフトレジスタ32-1〜32-4に保持されていた4ビットのデジタル信号は、同じシフトクロックCK0の印加タイミングで3段目の4ビットシフトレジスタ42-1〜42-4(図8)に送られ、3段目の4ビットシフトレジスタ42-1〜42-4に保持されていた4ビットのデジタル信号は4段目の4ビットシフトレジスタ52-1〜52-4(図9)に送られる。
【0043】
最終段の変換処理部1-4では、図9に示すように、4ビットシフトレジスタ52-1〜52-4の出力側に接続された出力バッファ回路55-1〜55-4を介してデジタル信号が出力される。すなわち、各変換処理部1-1〜1-4のシフトレジスタ22-1〜22-4,32-1〜32-4,42-1〜42-4,52-1〜52-4(図1のシフトレジスタ3-1〜3-4に相当)により構成される20ビットシフトレジスタに保持されている16ビットのデジタル信号が、シフトクロックCK0が印加されている期間中に出力バッファ回路55-1〜55-4を介して全て出力される。なお、最終段の変換処理部1-4には、アナログ処理部において剰余電圧を検出するための回路は不要であり、実際そのような回路は備えられていない。
【0044】
以上詳しく説明したように、本実施形態によれば、4ビット単位の変換処理部を多段接続し、各変換処理部においてアナログ入力電圧に応じたクロック数をカウントして4ビットのデジタル信号を求めるとともに、前段の変換処理部で求めた剰余電圧を次段の変換処理部に送ってA/D変換を行うようにしたので、全体として16ビットの高分解能を実現することができる。また、個々の変換処理部では4ビットの分解能を達成すれば良く、カウンタのクロック周波数を高くしなくても済む。これにより、クロックパルスの波形歪みなどの誤差原因となる要素を少なくすることができ、高分解能を達成しつつもA/D変換精度を向上させることができる。
【0045】
また、本実施形態によれば、ある変換処理部で求めた剰余電圧を16倍(変換処理部の分解能に応じた倍率で、今の例の場合は24倍)して次段の変換処理部に送るようにしたので、小さい剰余電圧そのものを用いてクロック数をカウント可能とするためにクロック周波数を上げる必要がなく、次段の変換処理部でも前段と同じクロック周波数に基づいて動作することが可能となる。しかも、DCで16倍しているので、S/Nが劣化することもなく、高いA/D変換精度を保つことができる。
【0046】
また、本実施形態によれば、ランプ電圧の最大値Vref2を利用して剰余電圧の検出のし方を工夫したことにより、ある変換処理部で求めたDC余りを次段の変換処理部にダイレクトに送ることができる。上位ビットの変換処理部でA/D変換をした結果をD/A変換することによってアナログ量に戻し、これと入力アナログ信号との差分をとってその差信号を下位ビットの変換処理部に送るといった方式も考えられるが、これに比べて処理を大幅に簡素化することができる。
【0047】
しかも、上述したように本実施形態では、ある変換処理部で求めた剰余電圧を16倍して次段の変換処理部に送るようにしているので、2段目以降の変換処理部においても、1段目と全く同じクロック周波数のタイミングでA/D変換を行うことができ、精度を出すために緩やかに積分を行う必要もない。したがって、A/D変換の精度を保ちながら変換速度の高速化を十分に図ることができる。
【0048】
さらに、本実施形態では、複数の変換処理部が備えるデジタル処理部をそれぞれ4層の構成とし、これらによってA/D変換を並直列動作させるようにしたので、A/D変換の速度を更に高速化することができる。
【0049】
また、積分(ランプ電圧の生成)を行うために必要な基準電圧Vrefは1種類で良いため、そのための回路構成が複雑になることがない。また、上述した差信号を得るためにD/A変換装置を設けたり、A/D変換速度を速くするためにコンパレータを数多く設けたりする必要などもないので、回路規模の大型化やコスト上昇等の問題も回避することができる。さらに、多段接続される複数の変換処理部はほぼ共通の構成なので、半導体チップへの集積化が非常に容易である。
【0050】
なお、上記実施形態では、16ビット分解能のA/D変換装置を4ビット単位の変換処理部に4分割して構成する例について説明したが、この分解能および分割数は単なる例であって、これに限定されるものではない。
【0051】
また、上記実施形態では、全ての変換処理部がアナログ処理部とデジタル処理部とをそれぞれ備える例について説明したが、回路規模の縮小を重視する場合等には、例えばアナログ処理部については全体で1つのみ設け、これを各変換処理部が共通に使用するようにしても良い。この場合、アナログ処理部の信号入力段にスイッチ回路を設け、そのスイッチ回路に、A/D変換の対象となるアナログ信号と、アナログ処理部から出力されるDC余りとを入力し、何れかを選択して処理するようにすれば良い(最初はアナログ信号を選択し、それ以降はDC余りを選択する)。
【0052】
また、上記実施形態では、各変換処理部で4ビットのカウント値を得る際に、メインクロックCK1の数を1つ減らした信号DD2を得るために負出力モノマルチバイブレータ16を用いる例について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、パルス信号CK16よりもメインクロックCK1の1クロック分だけ遅く立ち上がってパルスCK16と同じタイミングで立ち下がるパルス信号CK15を生成し、これを更にANDゲート15の入力に加えるようにしても良い。この場合、負出力モノマルチバイブレータ16とANDゲート17は不要となり、ANDゲート15の出力信号がそのままDD2となる。
【0053】
また、上記実施形態では、基準電圧Vref1(A/D変換対象となるアナログ電圧の最小値よりもやや小さい値)から徐々に上昇するランプ電圧を用いてクロック数のカウントを行うようにしたが、逆に、A/D変換対象となるアナログ電圧の最大値よりもやや大きい基準電圧から徐々に下降する電圧を用いてクロック数のカウントを行うようにしても良い。
【0054】
その他、以上に説明した実施形態は、本発明を実施するにあたっての具体化の一例を示したものに過ぎず、これによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその精神、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【0055】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、回路規模を大きくすることなく、A/D変換の速度向上および分解能向上の双方を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本実施形態によるA/D変換装置の概略構成を示す図である。
【図2】 各変換処理部が備えるアナログ処理部の構成を示す回路図である。
【図3】 図2に示したアナログ処理部の動作を説明するための波形図である。
【図4】 各変換処理部が備えるデジタル処理部の構成を1つにまとめて示すイメージ図である。
【図5】 図4に示したデジタル処理部の動作を説明するための波形図である。
【図6】 1段目の変換処理部の内部構成をアナログ処理部とデジタル処理部とを合わせて示した回路図である。
【図7】 2段目の変換処理部の内部構成をアナログ処理部とデジタル処理部とを合わせて示した回路図である。
【図8】 3段目の変換処理部の内部構成をアナログ処理部とデジタル処理部とを合わせて示した回路図である。
【図9】 4段目の変換処理部の内部構成をアナログ処理部とデジタル処理部とを合わせて示した回路図である。
【図10】 従来の積分型A/D変換装置の構成および動作を示す図である。
【図11】 従来の比較型A/D変換装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
1-1〜1-4 変換処理部
2-1〜2-4 カウンタ
3-1〜3-4 シフトレジスタ
11 サンプルホールド回路
12 ランプジェネレータ
13 コンパレータ
14 サンプルホールド回路
15 ANDゲート
16 負出力モノマルチバイブレータ
17 ANDゲート
18 剰余検出回路
Claims (2)
- アナログ信号を所定ビット単位でデジタル信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、
所定の基準電圧から一定の割合で変化するランプ電圧を発生するランプ電圧発生回路と、
上記ランプ電圧とアナログ入力電圧とが一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントし、上記アナログ入力電圧に比例した所定ビット数のデジタル信号を出力するカウンタ回路と、
上記ランプ電圧が上記アナログ入力電圧に一致してから次のクロックが始まるまでの時間に比例した電圧を分解能に応じて数倍した電圧値を、上記ランプ電圧の最大値から引くことによって、上記ランプ電圧と上記アナログ入力電圧とが一致するまでの間に含まれる上記完全クロック以外の非完全クロックの時間に比例し、かつ、上記分解能に応じて数倍した値の剰余電圧を求めて出力する剰余検出回路とを備え、
最初は上記ランプ電圧が上記アナログ信号の入力電圧に一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントして上記所定ビット数のデジタル信号を出力し、以降は上記ランプ電圧が上記剰余電圧に一致するまでの間に含まれる完全クロック数をカウントして上記所定ビット数のデジタル信号を出力するようにしたことを特徴とするアナログデジタル変換装置。 - アナログ信号を所定ビット単位でデジタル信号に変換する変換処理部を複数段接続し、それぞれの変換処理部が上記ランプ電圧発生回路、上記カウンタ回路および上記剰余検出回路を備え、前段の変換処理部から出力された上記剰余電圧を後段の変換処理部に上記アナログ入力電圧として入力するように成し、上記複数段の変換処理部を並列動作させるようにしたことを特徴とする請求項1に記載のアナログデジタル変換装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001400672A JP3810318B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | アナログデジタル変換装置 |
CNA028263693A CN1628419A (zh) | 2001-12-28 | 2002-12-25 | 模拟数字转换装置 |
KR10-2004-7010193A KR20040069207A (ko) | 2001-12-28 | 2002-12-25 | 아날로그 디지탈 변환 장치 |
PCT/JP2002/013481 WO2003058821A1 (fr) | 2001-12-28 | 2002-12-25 | Appareil de conversion analogique-numerique |
EP02790856A EP1460763A4 (en) | 2001-12-28 | 2002-12-25 | ANALOG-DIGITAL CONVERSION APPARATUS |
TW091137531A TW200301995A (en) | 2001-12-28 | 2002-12-26 | Analog-digital conversion apparatus |
US10/710,180 US20040217895A1 (en) | 2001-12-28 | 2004-06-24 | Analog-digital conversion apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001400672A JP3810318B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | アナログデジタル変換装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003198372A JP2003198372A (ja) | 2003-07-11 |
JP2003198372A5 JP2003198372A5 (ja) | 2005-08-04 |
JP3810318B2 true JP3810318B2 (ja) | 2006-08-16 |
Family
ID=19189653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001400672A Expired - Fee Related JP3810318B2 (ja) | 2001-12-28 | 2001-12-28 | アナログデジタル変換装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040217895A1 (ja) |
EP (1) | EP1460763A4 (ja) |
JP (1) | JP3810318B2 (ja) |
KR (1) | KR20040069207A (ja) |
CN (1) | CN1628419A (ja) |
TW (1) | TW200301995A (ja) |
WO (1) | WO2003058821A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4802767B2 (ja) | 2006-03-06 | 2011-10-26 | ソニー株式会社 | アナログ−デジタル変換装置と、それを用いた固体撮像装置とその駆動方法 |
JP4744343B2 (ja) | 2006-04-10 | 2011-08-10 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法 |
KR20080046484A (ko) * | 2006-11-22 | 2008-05-27 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 디지털 변환방법 |
JP4341678B2 (ja) | 2007-01-16 | 2009-10-07 | ソニー株式会社 | Ad変換装置および固体撮像装置並びに撮像装置 |
JP4353281B2 (ja) * | 2007-06-06 | 2009-10-28 | ソニー株式会社 | A/d変換回路、a/d変換回路の制御方法、固体撮像装置および撮像装置 |
JP2009272858A (ja) | 2008-05-07 | 2009-11-19 | Olympus Corp | A/d変換回路 |
US8158923B2 (en) * | 2009-01-16 | 2012-04-17 | Raytheon Company | Time-frequency fusion digital pixel sensor |
JP5835942B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2015-12-24 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、その制御方法及びプログラム |
JP5425156B2 (ja) | 2011-10-07 | 2014-02-26 | キヤノン株式会社 | Ad変換器、光電変換装置、および撮像システム |
TWI483555B (zh) * | 2011-12-15 | 2015-05-01 | Silicon Motion Inc | 測試裝置以及類比至數位轉換器之測試方法 |
JP6782018B2 (ja) * | 2015-08-19 | 2020-11-11 | 国立大学法人 鹿児島大学 | アナログデジタル変換器 |
US10084468B1 (en) | 2017-03-22 | 2018-09-25 | Raytheon Company | Low power analog-to-digital converter |
KR101877672B1 (ko) * | 2017-04-03 | 2018-07-11 | 엘에스산전 주식회사 | Ad컨버터 |
CN108494407A (zh) * | 2018-05-24 | 2018-09-04 | 佛山科学技术学院 | 一种电压到时间的转换电路 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3148366A (en) * | 1962-12-24 | 1964-09-08 | Ibm | Analog to digital converter |
JPS53120248A (en) * | 1977-03-29 | 1978-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | Analog-digital conversion circuit |
US4144525A (en) * | 1977-10-21 | 1979-03-13 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Cascadable analog to digital converter |
JPS568922A (en) * | 1979-07-05 | 1981-01-29 | Nec Corp | A-d converting circuit |
JPS57106225A (en) * | 1980-12-23 | 1982-07-02 | Nakamichi Corp | Analogue-digital and digital-analogue conversion system |
JPS6089132A (ja) * | 1983-10-21 | 1985-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | アナログ−デイジタル変換器 |
JPS60112326A (ja) * | 1983-11-24 | 1985-06-18 | Hitachi Ltd | アナログデイジタル変換器 |
JPS60206326A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-17 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 帰還形パルス幅変調方式a/d変換器 |
US4804939A (en) * | 1986-08-28 | 1989-02-14 | Lecroy Corporation | Coarse/fine A-D converter using ramp waveform to generate fine digital signal |
US4982350A (en) * | 1987-06-10 | 1991-01-01 | Odetics, Inc. | System for precise measurement of time intervals |
-
2001
- 2001-12-28 JP JP2001400672A patent/JP3810318B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-12-25 EP EP02790856A patent/EP1460763A4/en not_active Withdrawn
- 2002-12-25 WO PCT/JP2002/013481 patent/WO2003058821A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2002-12-25 CN CNA028263693A patent/CN1628419A/zh active Pending
- 2002-12-25 KR KR10-2004-7010193A patent/KR20040069207A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-12-26 TW TW091137531A patent/TW200301995A/zh unknown
-
2004
- 2004-06-24 US US10/710,180 patent/US20040217895A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200301995A (en) | 2003-07-16 |
CN1628419A (zh) | 2005-06-15 |
KR20040069207A (ko) | 2004-08-04 |
EP1460763A1 (en) | 2004-09-22 |
US20040217895A1 (en) | 2004-11-04 |
EP1460763A4 (en) | 2005-04-20 |
WO2003058821A1 (fr) | 2003-07-17 |
JP2003198372A (ja) | 2003-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3810318B2 (ja) | アナログデジタル変換装置 | |
US7576677B2 (en) | Pipeline A/D converter converting analog signal to digital signal | |
CN110199482A (zh) | 一种多级混合模数转换器 | |
US8004435B2 (en) | Discrete-time circuit | |
US9432046B1 (en) | Successive approximation analog-to-digital converter | |
JP5869965B2 (ja) | Ad変換回路およびad変換方法 | |
US20150077280A1 (en) | Pipelined successive approximation analog-to-digital converter | |
US6229472B1 (en) | A/D converter | |
US6867723B1 (en) | AD converter with reduced current consumption | |
SE520277C2 (sv) | Införande av kalibreringssekvens hos en A/D-omvandlare | |
JP4684028B2 (ja) | パイプラインa/d変換器 | |
KR0139835B1 (ko) | D/a 변환 장치 및 a/d 변환 장치 | |
US20040041722A1 (en) | Analog-digital conversion circuit | |
CN114285414B (zh) | 缩放式增量型模数转换方法及转换器 | |
JP2011120001A (ja) | アナログ−デジタル変換器 | |
US20140035767A1 (en) | Successive-Approximation-Register Analog-to-Digital Converter and Method Thereof | |
JP3572809B2 (ja) | A/d変換器 | |
JP3792363B2 (ja) | A/d変換器 | |
KR0167227B1 (ko) | 아날로그/디지탈 변환회로 | |
JP3549910B2 (ja) | D/a変換装置 | |
JPH0225295B2 (ja) | ||
CN117713826A (zh) | 逐次逼近型模数转换器及其转换方法 | |
CN115276653A (zh) | 用于流水线型模数转换电路的校准装置、方法及激光雷达 | |
JPS59224917A (ja) | デイジタル・アナログ変換器 | |
IT9021863A1 (it) | Convertitore analogico/digitale a due passi di conversione. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041206 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041206 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060516 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060523 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602 Year of fee payment: 3 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees | ||
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |