JP3794987B2 - 半導体発光装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体発光装置に関し、より詳細には半導体発光素子(以下、「発光素子」と記すことがる)が電極上に半田で固着された半導体発光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体レーザなどの発光素子に電流を流すと発熱し、その発熱により発光素子の発光性能が低下することがある。そこで発光素子の温度上昇を抑えて発光性能を維持するために一般に、AlNやSiなどの熱伝導性の高い放熱部材(基材)に発光素子を固着している。
【0003】
に、従来の半導体発光装置の概説図を示す。従来の半導体発光装置では、放熱部材(基材)1の表面に形成された電極13上に接着層としての半田層11が蒸着されている。そして半田層11を加熱により溶解した後、発光素子2が押し当てるように取り付けられ、半田を冷却固化させて発光素子2を電極13上に固着させている。このような構造の半導体発光装置では、溶融した半田層11に発光素子2を押し当てた時に、発光素子2の下面からはみ出た溶融半田が発光素子2の下面外周で盛り上がり、P−N接合分岐点に接触しショート不良やリーク不良を起こすことがあった。特に、放熱性を高めるためにP−N接合分岐点が基材に近くなるように発光素子を基材に固着する、いわゆるジャンクションダウンマウントを行っている装置では、P−N接合分岐点は基材からレーザダイオード素子で1〜3μm、青色発光ダイオード素子で2〜4μmと至近距離にあるので前記不良が起こりやすい。また、近年の発光素子の大型化に伴い、接着強度を高くするために半田層を厚くした場合にも前記不良は起こりやすくなる。
【0004】
このような不具合を防止するため、例えば発光素子の側面を絶縁層で被覆する、あるいは半田の蒸着量や溶融温度、発光素子の押し当て強度などを最適制御することが考えられる。しかし、前者の方法では被覆工程が新たに必要となり製造工程が複雑化する。また後者の方法では最適な固着条件とするのに多くの時間と労力を要するとともに、固着面積不足による固着強度低下および放熱性低下も懸念される。
【0005】
また特開平6−326210号公報及び特開平6−350202号公報では、半田層としてのAuSn層をAu層上に形成し、AuSnとAuとの濡れ性のよいことを利用して、溶融したAuSn層に発光素子を押し付けたときに、発光素子下面からはみ出たAuSnが発光素子の下面外周で盛り上がらないようにする技術が提案されている。この提案技術によれば発光素子の下面外周での盛り上がりは抑えられるものの、AuSnとAuとは濡れ性がよいためAuSn層を溶融させるために加熱したときにAu層の一部AuがAuSn層に侵入することがる。AuSn層にAuが侵入するとAuSnの組成比が変化するため、AuSnの融点が変動し充分な固着強度が得られないおそれがある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
本発明はこのような従来の問題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、半田によって基材に固着された発光素子の下面外周に、不具合を生じさせるような半田の盛り上がりがなく、しかも加熱によっても半田層の組成が変化せず発光素子が基材にしっかりと固着した半導体発光装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、基材の表面に形成された電極に半導体発光素子を固着した半導体発光装置において、前記電極と前記半導体発光素子との間に、前記半導体発光素子側から順に、半田層、半田との濡れ性の悪い、Ptからなる第1の金属層を形成するとともに、半導体発光素子を固着していない状態の基材の平面視において、半田との濡れ性の良い、Au,Sn,Ag,Pb,Zn,Al,Cd,In,Biからなる群より選択される少なくとも1つの金属からなる第2の金属層を前記第1の金属層の周縁に露出するように、且つ第1の金属層と第2の金属層の上面が同一平面内となるように形成し、前記半田層を加熱溶融して前記電極上に前記半導体発光素子を固着したことを特徴とする半導体発光装置が提供される。
【0008】
ここで、装置構造を簡略化し生産性を上げる観点などから、前記電極の最上層を第2の金属層として用いることが推奨される。
【0009】
【発明の実施の形態】
本発明者等は、半田と他金属との濡れ性を利用して発光素子の下面外周の半田の盛り上がりを抑えると同時に、半田の加熱溶融時の組成変化を防止できないか鋭意検討を重ねた。その結果、半田との濡れ性の悪い第1の金属層の上に半田層を形成することにより、第1の金属層が壁となって半田が溶融してもその組成に変化が生じることがないこと、また溶融した半田は第1の金属層に弾かれて第1の金属層の中央部、すなわち発光素子の下面の中央部に集まろうとするので、発光素子の下面外周付近での溶融半田の盛り上がりが抑えられることを見出し本発明をなすに至った。
【0010】
図1に、本発明に係る半導体発光装置の一例を示す構成図を示す。放熱部材(基材)1の上面に、電極を兼ねる、半田との濡れ性の良い第2の金属層14が蒸着により形成されている。そして、第2の金属層14上に形成された凹部に、半田との濡れ性の悪い第1の金属層12が、その上面が第2の金属層14の上面と同一平面内となるように蒸着されている。これを平面視で見ると、第1の金属層12の周縁に第2の金属層14が露出している状態となっている。第1の金属層12の上にさらに半田層11が形成されている。同図(b)に示すように、このような構成の装置を加熱し、半田層11を溶融させてその上に発光素子2を載置し押圧すると、発光素子2の下面外周から溶融半田がはみ出そうとする。一方、溶融半田は第1の金属層12に弾かれる結果、第1の金属層の中央部すなわち発光素子2の下面中央部に集まろうとする。この結果、半田層11の半田量を好適範囲とすることにより、溶融半田に対する、発光素子2の押圧による発光素子2の下面外周への押しだし力よりも、第1の金属層12によって弾かれる力の方が強くなり、発光素子2の下面外周での溶融半田の盛り上がりが抑えられる。もちろん半田層11の半田量は、溶融半田の盛り上がり抑制の他、発光素子2の確実な固着という観点からも決定されるべきものであり、その量(層厚など)は第1の金属層12の種類や発光素子の底面積などから適宜決定される。さらに、この図の装置では、たとえ発光素子2の下面外周部分に溶融半田が多量に押し出されたとしても、半田との濡れ性のよい第2の金属層14が、その上面が第 1の金属層12の上面と同一平面内となるように第1の金属層12の周縁に形成されているので、はみ出た溶融半田は第1の金属層12の側面を流下することなく第2の金属層14の表面上を滑らかに流動する。このため、発光素子2の下面外周で半田が盛り上がりを形成することは完全に防止される。また第2の金属層14と半田層11とは第1の金属層12により隔離されているので、第2の金属層14の成分が半田層11に加熱時に侵入することはない。
【0011】
ここで本発明で使用できる半田としては特に限定はなく、従来公知のものが使用でき、AuSn,AgSn,PbSn,ZnAl,SnZn,ZnSn,ZnCd,SnPbBiIn,SnBiからなる群より選択されるものが好ましい。中でもAuSnが好ましい。また半田層は従来公知の方法により形成でき、例えば蒸着やスパッタリング、スクリーン印刷などにより形成する。半田層の好適な層厚としては1〜5μmの範囲である。また、第1の金属層としては半田の種類を問わずPtを用いる。
【0012】
本発明で使用する基材としては特に限定はなく、発光素子がレーザダイオード素子である場合には放熱部材やサブマウントが、また発光素子が発光ダイオード素子である場合にはチップ基板がそれぞれ本発明における基材に該当する。
【0013】
本発明で使用する第2の金属層としては、Au,Sn,Ag,Pb,Zn,Al,Cd,In,Biからなる群より選択される少なくとも1つの金属からなるものを用いる。
【0014】
もちろん、第1の金属層および第2の金属層の種類は、使用する半田の種類から適宜決定される。表1に好適な組み合わせ例を示す。前記の通り、第1の金属層としては半田の種類を問わずPtを用いる。またこれらの組み合わせの中でも、基材上に形成する電極を第2の金属層として使用でき、また汎用性のあることから、半田層:AuSn、第1の金属層:Pt、第2の金属層:Auの組み合わせが特に好ましい。これらの金属層は蒸着やスパッタリングなど従来公知の薄膜形成方法により形成される。また第1の金属層の層厚は、電極や第2の金属層の成分が半田層へ侵入するのを防止する役割も果たすので、Ptを用いる場合には少なくとも0.1〜0.5μm程度の層厚が必要である。第2の金属層の層厚についても特に限定はなく通常数μm程度で足りる。
【0015】
【表1】
Figure 0003794987
【0016】
【発明の効果】
本発明の半導体発光装置では、基材の表面に形成された電極と半導体発光素子との間に、半導体発光素子側から順に、半田層、半田との濡れ性の悪い第1の金属層を形成するとともに、半導体発光素子を固着していない状態の基材の平面視において、半田との濡れ性の良い第2の金属層を第1の金属層の周縁に露出するように、且つ第1の金属層と第2の金属層の上面が同一平面内となるように形成したので、溶融した半田は第1の金属層から第2の金属層へと円滑に流動するこれにより、半田層の層厚などを厳密に調整することなく、発光素子を基材に押圧したときの溶融半田の盛り上がりを確実に抑えられる。
【0017】
さらに電極の最上層を第2の金属層として用いると、積層構造を簡略化でき生産性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
図1】 本発明の半導体発光装置の一例を示す断面図である。
図2】 従来の半導体発光装置の例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 放熱部材(基材)
2 発光素子
3 サブマウント(基材)
4 発光素子
11 半田層
12 第1の金属層
13 電極
14 第2の金属層

Claims (2)

  1. 基材の表面に形成された電極に半導体発光素子を固着した半導体発光装置において、
    前記電極と前記半導体発光素子との間に、前記半導体発光素子側から順に、半田層、半田との濡れ性の悪い、Ptからなる第1の金属層を形成するとともに、半導体発光素子を固着していない状態の基材の平面視において、半田との濡れ性の良い、Au,Sn,Ag,Pb,Zn,Al,Cd,In,Biからなる群より選択される少なくとも1つの金属からなる第2の金属層を前記第1の金属層の周縁に露出するように、且つ第1の金属層と第2の金属層の上面が同一平面内となるように形成し、前記半田層を加熱溶融して前記電極上に前記半導体発光素子を固着したことを特徴とする半導体発光装置。
  2. 前記電極の最上層を前記第2の金属層として用いる請求項1記載の半導体発光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100593536B1 (ko) 2004-03-08 2006-06-28 엘지전자 주식회사 발광 다이오드의 제조 방법
JP4549103B2 (ja) * 2004-05-26 2010-09-22 京セラ株式会社 発光装置の製造方法
JP2008085272A (ja) * 2006-09-29 2008-04-10 Sanyo Electric Co Ltd サブマウント、および、これを用いた半導体装置
JP5082613B2 (ja) * 2007-06-13 2012-11-28 ウシオ電機株式会社 Led素子およびその製造方法
US8664674B2 (en) 2007-08-28 2014-03-04 Panasonic Corporation Light emitting diode device preventing short circuiting between adjacent light emitting diode chips
JP4915670B2 (ja) * 2007-08-28 2012-04-11 パナソニック株式会社 発光装置
KR102123039B1 (ko) 2013-07-19 2020-06-15 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 발광 장치 및 그 제조 방법
US9673364B2 (en) 2013-07-19 2017-06-06 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the same
JP6277860B2 (ja) * 2013-07-19 2018-02-14 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2019114624A (ja) * 2017-12-22 2019-07-11 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及びその製造方法
WO2019180773A1 (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 三菱電機株式会社 半導体装置の製造方法
JP7221647B2 (ja) * 2018-10-24 2023-02-14 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及び半導体発光装置の製造方法
JP6644921B1 (ja) * 2019-01-15 2020-02-12 キヤノンマシナリー株式会社 半田平坦化装置、ダイボンダ、半田平坦化方法、及びボンディング方法
JP7324665B2 (ja) * 2019-09-13 2023-08-10 シチズンファインデバイス株式会社 サブマウント
WO2021261253A1 (ja) * 2020-06-22 2021-12-30 ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 半導体レーザ装置および半導体レーザ装置の製造方法

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