JP3593094B2 - 電子回路ユニットの測定装置およびその測定方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波回路等が設けられている小形の電子回路ユニットの端面電極に金属ピンを押し当てて電気信号を測定するための測定装置と、その測定方法とに関する。
【0002】
【従来の技術】
高周波回路が設けられている電子回路ユニットを製造する工程では、高周波回路の調整や特性確認のために電気信号を測定する作業が必要となる。従来、このような電気信号測定作業を小形の電子回路ユニットに対して行う場合、図6に示すような測定装置が採用されていた。
【0003】
図6において、電子回路ユニット1の周縁部には複数個所に電極2が設けられており、各電極2は電子回路ユニット1の図示右側の端面1aまたは図示左側の端面1bに延出形成されている。また、図示はしていないが、この電子回路ユニット1の表面には、回路パターンが形成されていると共に、チップ部品等の各種電子部品が実装されている。そして、かかる電子回路ユニット1の電気信号を測定するための装置には、各電極2に対応させて複数本の金属ピン(プローブ)3が2列並べて配設してあり、これらの金属ピン3は電気的な性能を測定する図示せぬ測定機器に適宜手段により接続されている。また、各金属ピン3は保持部材4内に収納されている図示せぬコイルばねによって突出方向へ常時付勢されているので、各金属ピン3の先端を対応する電極2に押し当てると、該コイルばねが収縮して金属ピン3にばね力が付与され、それゆえ金属ピン3を対応する電極2に確実に弾接させられるようになっている。なお、金属ピン3群は列ごとに移動できるよう適宜可動手段に支持されているので、2列の金属ピン3群の間隔は変更可能である。また、この従来例において、電子回路ユニット1は例えば長さ5mm、幅4mm、厚さ2mmの大きさのものが使用され、金属ピン3としては直径0.5mm程度のピンが使用されている。
【0004】
上述した測定装置による測定方法は、まず、2列の金属ピン3群の間に電子回路ユニット1を配置させて、これら2列の金属ピン3群の間隔を狭めていくことにより、電子回路ユニット1の一方の端面1aに露出している各電極2に図示右側の列の各金属ピン3を押し当てると共に、他方の端面1bに露出している各電極2に図示左側の列の各金属ピン3を押し当てる。こうして2列の金属ピン3群で電子回路ユニット1を挟み込み、各金属ピン3を対応する電極2に接触させた状態で、電子回路ユニット1からの種々の電気信号を各金属ピン3を介して前記測定機器へ入力させていくことにより、所望の測定が行える。このように、各金属ピン3を前記コイルばねのばね力によって電極2に弾接させる構成にしてあれば、電子回路ユニット1が若干傾いた姿勢で挟み込まれたり、両端面1a,1bの平坦度に多少の難があったとしても、各金属ピン3を対応する電極2に確実に接触させることができるので、信頼性の高い測定が可能となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の測定装置は、コイルばねに付勢される金属ピン3を電極2に弾接させるというものなので、該コイルばねを収納する保持部材4を極端に小径にすることはできず、それゆえ各列の金属ピン3を2mm以上のピッチで並設する必要がある。しかしながら、各列の金属ピン3のピッチが2mm以上であると、測定可能な電子回路ユニット1の端面1a,1b側の長さ(長手寸法)は最低でも5mm以上必要なので、電子回路ユニット1の小型化が促進されて電極2間のピッチが狭まると、各電極2に金属ピン3を当接させることが次第に困難になるという問題があった。
【0006】
本発明は、このような従来技術の実情に鑑みてなされたもので、その第1の目的は、電子回路ユニットの小型化が促進されても電気信号の測定に支障をきたさない電子回路ユニットの測定装置を提供することにある。また、本発明の第2の目的は、電子回路ユニットの小型化が促進されても電気信号の測定に支障をきたさない電子回路ユニットの測定方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述した第1の目的を達成する解決手段として、本発明による測定装置は、測定用プリント基板上に複数本ずつ2列並べて突設された直線状の線材からなる弾性金属ピンと、これら弾性金属ピン群の基端部に当接して一方の列と他方の列との間隔を前記測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定する絶縁部材と、前記弾性金属ピン群の一方の列と他方の列の各自由端部を内向きに押圧可能な一対の押圧可動部材とを備え、前記弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを配置させた状態で、一対の前記押圧可動部材を近接する向きに移動して該電子回路ユニットを前記弾性金属ピン群にて挟み込むことにより、この電子回路ユニットの端面に露出している複数の電極にそれぞれ前記弾性金属ピンを弾接させるようにした。
【0008】
このように構成された測定装置は、弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを挿入して各弾性金属ピンを押し撓めることにより、この電子回路ユニットの端面に露出している複数の電極にそれぞれ弾性金属ピンを弾接させることができるので、各列に並設されている弾性金属ピンの狭ピッチ化が容易となる。すなわち、弾性金属ピン自身の弾性で電極に対する接触圧が生起されるので、コイルばね等の弾性部材を別途組み込む必要がなくなって、小径な弾性金属ピンを狭ピッチの配置で並べることが可能となり、それゆえ電子回路ユニットの小型化に伴う電極の狭ピッチ化にも容易に対応させることができる。
【0009】
また、弾性金属ピン群が測定用プリント基板上に突設された直線状の線材からなり、これら弾性金属ピン群の基端部を絶縁部材に当接させて自由端部が広がるようにしたので、測定時に電子回路ユニットを容易に挿入できると共に、各弾性金属ピンを所望の姿勢に傾倒させる機構を簡素化できる。さらに、弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを配置させた状態で、これら弾性金属ピン群の自由端部を押圧可動部材にて電子回路ユニットの端面へ向けて押圧するようにしたので、測定時に電子回路ユニットを包み込むような姿勢に弾性金属ピン群を弾性変形させることができる。したがって、電子回路ユニットに過大な挟持力を加えなくてもその電極と弾性金属ピンとを確実に接触させることが可能となって、信頼性の向上が図れる。
【0010】
上記の構成において、複数個の電子回路ユニットが列状に連続形成されたユニット連続体を保持可能な枠状治具を備えていれば、ユニット連続体の長手方向両端部を枠状治具で保持し、この枠状治具の開口部にユニット連続体を位置させた状態で各電子回路ユニットの電極にそれぞれ弾性金属ピンを弾接させることができるので、例えば、ユニット連続体内の1個の電子回路ユニットの電気信号を測定した後、枠状治具を測定用プリント基板に対してスライド移動させて、該ユニット連続体内の別の電子回路ユニットの電気信号を測定するという手順で、効率よく測定作業が行える。このほか、前記枠状治具を備えた構成において、1個の電子回路ユニットの測定を行うための弾性金属ピン群がユニット連続体に対応させて複数群列設してあれば、枠状治具の開口部にユニット連続体を位置させた状態で、このユニット連続体内の複数個の電子回路ユニットの電気信号を一括して測定することができるので、作業効率の一層の向上が図れる。
【0011】
一方、上述した第2の目的を達成する解決手段として、本発明による測定方法は、直線状の線材からなる弾性金属ピンを測定用プリント基板上に複数本ずつ2列並べて突設すると共に、この測定用プリント基板上に設けた絶縁部材に前記弾性金属ピン群の基端部を当接させることにより、これら弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間隔を前記測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定し、この自由端側から端面に複数の電極を露出させている電子回路ユニットを挿入した後、前記弾性金属ピン群の自由端部を該電子回路ユニットの端面へ向けて押圧することにより、この電子回路ユニットの前記複数の電極にそれぞれ前記弾性金属ピンを弾接させて、前記プリント基板に形成されている導電パターンを介して前記電子回路ユニットの電気信号を測定するようにした。
【0012】
このようにして電子回路ユニットの電気信号を測定すれば、弾性金属ピン自身の弾性で電極に対する接触圧を生起させることができるので、コイルばね等の弾性部材を別途組み込む必要がなくなって、小径な弾性金属ピンを狭ピッチの配置で並べることが可能となり、それゆえ電子回路ユニットの小型化に伴う電極の狭ピッチ化にも容易に対応させることができる。
【0013】
その際、直線状の線材からなる弾性金属ピン群の基端部を絶縁部材に当接させることにより、これら弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間隔を測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定し、この自由端側から電子回路ユニットを挿入して弾性金属ピン群にて挟み込むようにしてあるので、測定時に電子回路ユニットを容易に挿入できると共に、電子回路ユニットを包み込むような姿勢に弾性金属ピン群を弾性変形させることができる。したがって、電子回路ユニットに過大な挟持力を加えなくてもその電極と弾性金属ピンとを確実に接触させることができる。
【0014】
また、かかる測定方法において、複数個の電子回路ユニットが列状に連続形成されたユニット連続体の長手方向両端部を枠状治具で保持し、この枠状治具の開口部にユニット連続体を位置させた状態で、各電子回路ユニットの複数の電極にそれぞれ弾性金属ピンを弾接させるようにすれば、例えば、枠状治具の開口部に位置させたユニット連続体内の1個の電子回路ユニットの電気信号を測定した後、枠状治具を測定用プリント基板に対してスライド移動させて、該ユニット連続体内の別の電子回路ユニットの電気信号を測定するという手順で、効率よく測定作業が行える。あるいは、ユニット連続体に対応させて弾性金属ピン群を複数群列設しておくことにより、枠状治具の開口部に位置させたユニット連続体内の複数個の電子回路ユニットの電気信号を一括して測定することができるので、作業効率の一層の向上が図れる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、発明の実施の形態を図面を参照して説明すると、図1は実施形態例に係る測定装置の測定開始直前の状態を示す説明図、図2は該測定装置の測定中の状態を示す説明図、図3は枠状治具に保持された電子回路ユニットを該測定装置に位置合わせした状態を示す平面図、図4は図3の要部拡大図、図5は図3のA−A線に沿う断面図である。
【0016】
これらの図に示す測定装置は、高周波回路が設けられている電子回路ユニット1の電気信号を測定して、該高周波回路の調整や特性確認を行うためのものである。この測定装置には、図示せぬ測定機器に接続される導電パターンが形成されている測定用プリント基板11と、このプリント基板11上に複数本ずつ2列並べて突設されている弾性金属ピン12群と、弾性金属ピン12群の一方の列と他方の列との間でプリント基板11上に固設されている絶縁部材13と、互いに近接離反する向きにスライド移動可能な絶縁材料からなる一対の押圧可動部材14と、開口部15aを有する枠状治具15とが備えられている。なお、前述したように、電子回路ユニット1の周縁部には複数個所に電極2が設けられており、各電極2は電子回路ユニット1の相対向する両端面1a,1bにそれぞれ延出形成されている。
【0017】
本実施形態例に係る測定装置の構成について詳しく説明すると、弾性金属ピン12は直径が0.1mm、長さが10mmの線材からなり、各列に0.67mmのピッチで並設されている。各弾性金属ピン12の基端部は、プリント基板11の前記導電パターンに半田付けされていると共に、プリント基板11上で絶縁部材13に当接して外向きに押し撓められており、そのため弾性金属ピン12群の一方の列と他方の列との間隔は、図1に示すように、プリント基板11から離れる自由端側ほど広くなっている。一対の押圧可動部材14は弾性金属ピン12群の各自由端部を内向きに押し撓めるためのもので、図1,2に示すように、プリント基板11の上方で一対の押圧可動部材14を近接する向きにスライド移動させることにより、絶縁部材13の上方に配置させた電子回路ユニット1の端面1a,1bに各弾性金属ピン12の自由端部を弾接させることができる。図4に示すように、これらの押圧可動部材14には各弾性金属ピン12の自由端部を挿入して位置決めするための溝14aが複数設けられている。
【0018】
また、図3に示すように、枠状治具15は複数個の電子回路ユニット1を列状に連続して形成してなるユニット連続体10を保持するためのものであり、その開口部15a内に弾性金属ピン12群を挿通させることにより、ユニット連続体10内の任意の電子回路ユニット1を所望の測定位置に配置させることが可能となる。すなわち、電子回路ユニット1は短冊状のユニット連続体10を分割して形成される製品であるが、分割後の小さな電子回路ユニット1をプリント基板11上の所定位置に配置させて測定を行うよりも、分割前のユニット連続体10をプリント基板11上で移動させながら各電子回路ユニット1の測定を行っていくほうが、作業効率および信頼性が大幅に向上するので、ユニット連続体10の長手方向両端部を保持した枠状治具15をプリント基板11上で適宜移動させることによって、開口部15a内の電子回路ユニット1を弾性金属ピン12群に対して位置合わせするという方法を採用している。
【0019】
上述した測定装置による測定方法は、まず、ユニット連続体10を保持した枠状治具15をプリント基板11上に移送することによって、測定しようとする電子回路ユニット1を2列の弾性金属ピン12群の間に配置させる。次いで、プリント基板11の上方で一対の押圧可動部材14を近接する向きにスライド移動させ、これら2列の弾性金属ピン12群の間隔を狭めていくことにより、絶縁部材13の上方に配置させた電子回路ユニット1の端面1a,1bに各弾性金属ピン12の自由端部を押し当てる。こうして2列の弾性金属ピン12群で電子回路ユニット1を挟み込み、各弾性金属ピン12を対応する電極2に接触させた状態で、電子回路ユニット1からの種々の電気信号を各弾性金属ピン12を介して前記測定機器へ入力させていくことにより、所望の測定を行うことができる。
【0020】
このように本実施形態例においては、弾性金属ピン12群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニット1を挿入して各弾性金属ピン12を内向きに押し撓めることにより、この電子回路ユニット1の端面1a,1bに露出している複数の電極2にそれぞれ弾性金属ピン12を弾接させることができるので、各列に並設されている弾性金属ピン12を狭ピッチの配置で並べることができる。すなわち、弾性金属ピン12自身の弾性で電極2に対する接触圧を生起させることができるので、コイルばね等の弾性部材を別途組み込む必要がなくなって、小径(直径0.1mm)な弾性金属ピン12を狭ピッチ(ピッチ0.67mm)の配置で並べることができ、それゆえ電子回路ユニット1の小型化に伴い電極2が狭ピッチ化されても、弾性金属ピン12を対応する電極2に確実に弾接させることができる。ちなみに、本実施形態例で使用している電子回路ユニット1は、長さ3.2mm、幅2mm、厚さ0.4mmという極めて小さなものである。
【0021】
また、本実施形態例では、プリント基板11上に絶縁部材13を設けることにより、弾性金属ピン12群が電子回路ユニット1を挟み込んでいない状態で、これら弾性金属ピン12群の一方の列と他方の列との間隔が自由端側で広がるように設定してあるので、測定時に電子回路ユニット1を容易に挿入でき、測定作業の円滑化が図れる。しかも、こうして弾性金属ピン12群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニット1を挿入した状態で、一対の押圧可動部材14が各弾性金属ピン12の自由端部を電子回路ユニット1の端面1a.1bへ向けて押圧して電極2に弾接させるので、電子回路ユニット1を包み込むような姿勢に弾性金属ピン12群を弾性変形させることができ、それゆえ電子回路ユニット1に過大な挟持力を加えなくてもその電極2と弾性金属ピン12とを確実に接触させることができ、信頼性の向上が図れる。
【0022】
また、本実施形態例では、複数個の電子回路ユニット1が列状に連続形成された短冊状のユニット連続体10を保持可能な枠状治具15を備えているので、ユニット連続体10の長手方向両端部を枠状治具15で保持して、この枠状治具15の開口部15aにユニット連続体10を位置させた状態で、各電子回路ユニット1の電極2にそれぞれ弾性金属ピン12を弾接させることができる。それゆえ、ユニット連続体10内の1個の電子回路ユニット1の電気信号を測定した後、枠状治具15をプリント基板11に対してスライド移動させて、ユニット連続体10内の別の電子回路ユニット1の電気信号を測定するという手順で効率よく測定作業が行える。
【0023】
なお、図示はしていないが、1個の電子回路ユニット1の測定を行うための弾性金属ピン12群をユニット連続体10に対応させて複数群列設しておけば、枠状治具15の開口部15aにユニット連続体10を位置させた状態で、このユニット連続体10内の複数個の電子回路ユニット1の電気信号を一括して測定することができるので、作業効率の一層の向上が図れる。
【0024】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したような形態で実施され、以下に記載されるような効果を奏する。
【0025】
弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを挟み込んで、この電子回路ユニットの端面に露出している複数の電極にそれぞれ弾性金属ピンを弾接させるようにした本発明の測定装置は、各列に並設される弾性金属ピンを狭ピッチ化できるので、電子回路ユニットの小型化に伴う電極の狭ピッチ化に容易に対応させることができる。また、この測定装置は、弾性金属ピン群が測定用プリント基板上に突設された直線状の線材からなり、これら弾性金属ピン群の基端部を絶縁部材に当接させて自由端部が広がるようにしてあるので、測定時に電子回路ユニットを容易に挿入できると共に、各弾性金属ピンを所望の姿勢に傾倒させる機構を簡素化できる。さらに、この測定装置は、弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを配置させた状態で、これら弾性金属ピン群の自由端部を押圧可動部材にて電子回路ユニットの端面へ向けて押圧するようにしてあるので、測定時に電子回路ユニットを包み込むような姿勢に弾性金属ピン群を弾性変形させることができる。したがって、電子回路ユニットに過大な挟持力を加えなくてもその電極と弾性金属ピンとを確実に接触させることが可能となるので、信頼性の向上が図れる。
【0026】
また、端面に複数の電極を露出させている電子回路ユニットを、測定用プリント基板上に複数本ずつ2列並べて突設された弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に挟み込んで、この電子回路ユニットの各電極に弾性金属ピンを弾接させることにより、測定用プリント基板に形成されている導電パターンを介して電子回路ユニットの電気信号を測定するようにした本発明の測定方法は、弾性金属ピン自身の弾性で電極に対する接触圧を生起させることができるので、コイルばね等の弾性部材を別途組み込む必要がなくなって、小径な弾性金属ピンを狭ピッチの配置で並べることが可能となり、それゆえ電子回路ユニットの小型化に伴う電極の狭ピッチ化に容易に対応させることができる。その際、直線状の線材からなる弾性金属ピン群の基端部を絶縁部材に当接させることにより、これら弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間隔を測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定しておき、この自由端側から電子回路ユニットを挿入して弾性金属ピン群にて挟み込むようにしてあるので、測定時に電子回路ユニットを容易に挿入できると共に、電子回路ユニットを包み込むような姿勢に弾性金属ピン群を弾性変形させることができる。したがって、電子回路ユニットに過大な挟持力を加えなくてもその電極と弾性金属ピンとを確実に接触させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例に係る測定装置の測定開始直前の状態を示す説明図である。
【図2】該測定装置の測定中の状態を示す説明図である。
【図3】枠状治具に保持された電子回路ユニットを該測定装置に位置合わせした状態を示す平面図である。
【図4】図3の要部拡大図である。
【図5】図3のA−A線に沿う断面図である。
【図6】従来例に係る測定装置の測定中の状態を示す説明図である。
【符号の説明】
1 電子回路ユニット
1a,1b 端面
2 電極
10 ユニット連続体
11 測定用プリント基板
12 弾性金属ピン
13 絶縁部材
14 押圧可動部材
15 枠状治具
15a 開口部
Claims (7)
- 測定用プリント基板上に複数本ずつ2列並べて突設された直線状の線材からなる弾性金属ピンと、これら弾性金属ピン群の基端部に当接して一方の列と他方の列との間隔を前記測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定する絶縁部材と、前記弾性金属ピン群の一方の列と他方の列の各自由端部を内向きに押圧可能な一対の押圧可動部材とを備え、
前記弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間に電子回路ユニットを配置させた状態で、一対の前記押圧可動部材を近接する向きに移動して該電子回路ユニットを前記弾性金属ピン群にて挟み込むことにより、この電子回路ユニットの端面に露出している複数の電極にそれぞれ前記弾性金属ピンを弾接させるようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定装置。 - 請求項1の記載において、複数個の前記電子回路ユニットが列状に連続形成されたユニット連続体を保持可能な枠状治具を備えていることを特徴とする電子回路ユニットの測定装置。
- 請求項2の記載において、1個の前記電子回路ユニットの測定を行うための前記弾性金属ピン群が前記ユニット連続体に対応させて複数群列設してあることを特徴とする電子回路ユニットの測定装置。
- 直線状の線材からなる弾性金属ピンを測定用プリント基板上に複数本ずつ2列並べて突設すると共に、この測定用プリント基板上に設けた絶縁部材に前記弾性金属ピン群の基端部を当接させることにより、これら弾性金属ピン群の一方の列と他方の列との間隔を前記測定用プリント基板から離れる自由端側で広がるように設定し、この自由端側から端面に複数の電極を露出させている電子回路ユニットを挿入した後、前記弾性金属ピン群の自由端部を該電子回路ユニットの端面へ向けて押圧することにより、この電子回路ユニットの前記複数の電極にそれぞれ前記弾性金属ピンを弾接させて、前記プリント基板に形成されている導電パターンを介して前記電子回路ユニットの電気信号を測定するようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定方法。
- 請求項4の記載において、複数個の前記電子回路ユニットが列状に連続形成されたユニット連続体の長手方向両端部を枠状治具で保持し、この枠状治具の開口部に前記ユニット連続体を位置させた状態で、各電子回路ユニットの前記複数の電極にそれぞれ前記弾性金属ピンを弾接させるようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定方法。
- 請求項5の記載において、前記枠状治具の開口部に前記ユニット連続体を位置させて該ユニット連続体内の1個の前記電子回路ユニットの電気信号を測定した後、前記枠状治具を前記測定用プリント基板に対してスライド移動させることにより、該ユニット連続体内の別の電子回路ユニットの電気信号を測定するようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定方法。
- 請求項5の記載において、前記ユニット連続体に対応させて前記弾性金属ピン群を複数群列設しておき、前記枠状治具の開口部に前記ユニット連続体を位置させた状態で、このユニット連続体内の複数個の前記電子回路ユニットの電気信号を一括して測定するようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定方法。
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