JP2004039729A - プリント配線基板の検査治具 - Google Patents
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Abstract
【課題】上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、異なる検査装置による様々な配線パターンの高密度プリント配線基板の検査に適用可能とし、検査治具のユニバーサル化を図る。
【解決手段】上プレート１６と下プレート１８との間隔内に上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを設け、これらのピン挿通孔に、ケーブル４０で配線されたコイルバネ４１、４２を収納し、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成する。
【選択図】 図１
【解決手段】上プレート１６と下プレート１８との間隔内に上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを設け、これらのピン挿通孔に、ケーブル４０で配線されたコイルバネ４１、４２を収納し、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成する。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、プリント配線基板の電気的接続を検査するために用いるプリント配線基板の検査治具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高密度実装技術の進展により高密度化したプリント配線基板の配線パターンの電気的接続を検査する方法として、プリント配線基板の検査接点にプローブピン（ロングピン）を当接させ、検査装置において所定検査接点間の配線の導通状態を検査する手段が採られている。こうした検査装置において、多数のロングピンの先端を突設した検査ヘッドを備えた検査治具が用いられている。
【０００３】
図７、８に、従来の検査治具を用いた検査方法の概要を示す。検査治具は矩形薄型に形成され、プリント配線基板の両面を検査するために略同一構成の上治具Ａ、下治具Ｂの一対が用いられ、多数のロングピン１０を植設して先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えている。複数の支柱１４でヘッドプレート１２を取り付ける上プレート１６に、外周縁に沿った複数の弾性リング体１７を用いて下プレート１８が取り付けられている。３枚のピン保持プレート２０、２１、２２が複数の支柱２３で上プレート１６に取り付けられ、上プレート１６と下プレート１８の間に層状の間隔が形成されている。各プレート１２、１６、１８、２０、２１、２２に所定レイアウトでピン挿通孔が開孔され、各ピン挿通孔に多数のロングピン１０を挿通して植設し、検査治具が組み付けられる。
【０００４】
このようにして組み付けられた検査治具を一対用い、上治具Ａと下治具Ｂとを検査ヘッドを対向させて検査装置にセットし、上治具Ａと下治具Ｂの間にプリント配線基板３０をセットする。検査装置において上方から押圧してロングピン１０の先端をプリント配線基板３０の検査接点に当接させ、検査装置で電気的スイッチング操作して検査接点間の導通状態を検査する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
こうした検査装置及び検査治具による検査手段において、検査装置側の電極３２が２．５４ｍｍの間隔で格子状に配列した、図９に示すＡ、Ｂの２種類のものが一般に使用されている。これらの異なる検査装置で高密度プリント配線基板を検査するために、ロングピン１０を傾斜させ、電極接点側を電極３２に接触させて検査治具をセットした場合、検査時の検査装置の押圧で弾性リング体１７が扁平されて上プレート１６と下プレート１８の間隔が収縮し、下端のピン保持プレート２２が下降してピン保持プレート２２と下プレート１８の間隔が収縮する（図７中、下降したピン保持プレート２２ａを示す）。このため、ロングピン１０が屈曲して電極３２から離脱する現象が発生し（図７中、電極３２から離脱したロングピン１０ａを示す）、ロングピン１０の取り付け傾斜角度に制限があるとともに、傾斜角度が大きくなるとロングピン１０の長さが不足し、動きも硬くなるなどの課題があった。したがって、検査装置毎に専用の検査治具が必要とされ、プリント配線基板の適用範囲にも限界があり、また、一種類の検査治具で検査しようとすると検査装置の大幅な改造を要するなど、極めてコストが高価となる。
【０００６】
この発明は、新規構成の検査治具を提供してこれらの課題を解決することを目的とするもので、異なる検査装置による様々な配線パターンの高密度プリント配線基板の検査に適用可能とし、検査治具のユニバーサル化を図ることでプリント配線基板の検査コストを大幅に低廉することを目的とするものである。また、短尺なプローブピンを用いてこれを垂直に植設し、検査時の押圧に応じて上下方向にストローク可動とし、安定した動作で正確な検査が行える検査治具を提供することを目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
こうした目的を達成するため、請求項１に記載したプリント配線基板の検査治具は、図１に示すように構成され、上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを設け、これらのピン挿通孔に、ケーブル４０で配線されたコイルバネ４１、４２を収納する。そして、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成するものである。
【０００８】
請求項２に記載したプリント配線基板の検査治具は、図４に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを変換基板４７を挟持して設け、これらのピン挿通孔に、変換基板４７で配線されたコイルバネ４１、４２を収納する。そして、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成するものである。
【０００９】
請求項３に記載したプリント配線基板の検査治具は、図５に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８にケーブル４０で配線されたコイルバネ４３を収納する。そして、ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成するものである。
【００１０】
請求項４に記載したプリント配線基板の検査治具は、図６に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、ピン保持プレート２７の下面に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８を取り付けた変換基板４７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、変換基板４７でコネクタ４８に配線されたコイルバネ４３を収納する。そして、ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下にこの発明の実施の形態を、図面を用いて具体的に説明する。
図１は、請求項１に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図で、図中、前例と同一の符号は同一部材であるので説明を省略するが、この検査治具は、それぞれ矩形形状のヘッドプレート１２、上プレート１６、下プレート１８を組み付けて矩形薄型に形成される。図に示すように、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とが支柱２３で上プレート１６に取り付けられ、両ピン保持プレート２５、２６の間で比較的大きな層状の間隔を形成している。これらの各プレート１２、１６、１８、２５、２６には、所定レイアウトで開孔したピン挿通孔が形成されている。
【００１２】
ケーブル４０の両端にコイルバネ４１、４２を予めハンダ付けし、このケーブル４０を多数用いて所定の配置に従い、上側ピン保持プレート２５のピン挿通孔に一端のコイルバネ４１、下側ピン保持プレート２６のピン挿通孔に他端のコイルバネ４２が収納される。このようにして所定配置のピン挿通孔に収納したコイルバネ４１、４２は、ケーブル４０で導通状態に配線され、隣接するケーブル４０との短絡を防ぐため、ハンダ付け箇所をひしチューブ４５で絶縁している。
【００１３】
上側ピン保持プレート２５の下面、及び下側ピン保持プレート２６の上面にスライド板２８が設けられ、このスライド板２８は、ピン挿通孔を各ピン保持プレート２５、２６のピン挿通孔と若干ズレた状態（スライドした状態）で両ピン保持プレート２５、２６に取り付けらる（図２参照）。コイルバネ４１、４２を各ピン挿通孔に挿入した後にスライド板２８を取り付けることで、コイルバネ４１、４２の脱落を防止している。なお、図３の上側ピン保持プレート２５に示すように、スライド板２８を用いることなく、ピン挿通孔にスロート部２５ａを形成することでコイルバネ４１の脱落を防止するようにしてもよい。
【００１４】
上方から上側ピン保持プレート２５に短尺のプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４１に当接し、下方から下側ピン保持プレート２６に短尺のプローブピン５１が植設され、上端をコイルバネ４２に当接している。両プローブピン５０、５１はそれぞれ垂直の状態で植設され、プローブピン５０の上端をヘッドプレート１２から突設して検査ヘッド側を構成し、プローブピン５１の下端を下プレート１８から突設して電極側を構成している。
【００１５】
このようにして組み付けられた検査治具を用い、上治具と下治具の一対を検査ヘッドを対向させて検査装置にセットし、上治具と下治具の間にプリント配線基板をセットする。そして、検査装置で上方から押圧してプローブピン５０の先端をプリント配線基板の検査接点に当接させ、検査接点間の導通状態を検査する。検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４１、４２が収縮し、プローブピン５０、５１は各ピン挿通孔内に進入する。このように、押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされている。
【００１６】
図４は、請求項２に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。図に示すように、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とが設けられ、両ピン保持プレート２５、２６で変換基板４７を挟持している。ピン保持プレート２５、２６の各ピン挿通孔にコイルバネ４１、４２が収納され、コイルバネ４１、４２は変換基板４７で配線されている。上方から上側ピン保持プレート２５に短尺のプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４１に当接し、下方から下側ピン保持プレート２６に短尺のプローブピン５１が植設され、上端をコイルバネ４２に当接している。
【００１７】
この検査治具は、前例と同様に検査装置にセットして検査接点間の導通状態を検査し、検査装置の押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされている。また、この検査治具は、検査装置やプリント配線基板に応じて変換基板４７を取り替えることで、コイルバネ４１、４２の配線を変換可能としている。
【００１８】
図５は、請求項３に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。この検査治具は、検査装置の測定器にコネクタを介して接続するタイプで、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７が設けられ、このピン保持プレート２７のピン挿通孔にコイルバネ４３を収納している。測定器側コネクタを接続するコネクタ４８が検査治具の側面に金具４９で固定され、コイルバネ４３はケーブル４０でコネクタ４８に配線されている。上方からピン保持プレート２７にプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４３に当接している。
【００１９】
この検査治具は、検査装置にセットして測定器側コネクタをコネクタ４８に接続し、プリント配線基板の検査接点間の導通状態を検査する。検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４３が収縮し、プローブピン５０はピン挿通孔内に進入し、プローブピン５０が上下方向にストローク可動とされている。
【００２０】
図６は、請求項４に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。この検査治具も、前例と同様に検査装置の測定器にコネクタを介して接続するタイプで、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７が設けられ、ピン保持プレート２７の下面に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８を取り付けた変換基板４７を設けている。このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、変換基板４７でコネクタ４８に配線されたコイルバネ４３が収納され、ピン保持プレート２７にプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４３に当接している。
【００２１】
この検査治具は、前例と同様に検査装置にセットして測定器側コネクタをコネクタ４８に接続し、プリント配線基板の検査接点間の導通状態を検査し、検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４３が収縮し、プローブピン５０が上下方向にストローク可動とされている。また、この検査治具は、検査装置やプリント配線基板に応じて変換基板４７を取り替えることで、コイルバネ４３の配線を変換可能としている。
【００２２】
【発明の効果】
この発明のプリント配線基板の検査治具は以上のように構成され、従来のロングピン１０に代わって短尺のプローブピン５０、５１を用い、検査ヘッド側のプローブピン５０と電極側のプローブピン５１とに分割し、ケーブル４０又は変換基板４７で配線されたコイルバネ４１、４２を介して両プローブピン５０、５１を導通させることで、検査装置やプリント配線基板の検査接点に応じてプローブピン５０、５１を自由に配置することができるとともに、配線の変更も可能である。したがって、異なる検査装置による様々な配線パターンの高密度プリント配線基板の検査に適用可能であり、検査治具のユニバーサル化が図られ、プリント配線基板の検査コストを大幅に低廉することができる。
【００２３】
また、プローブピン５０、５１は傾斜させる必要がないので各ピン保持プレート２５、２６、２７に垂直に植設され、検査時の押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２、４３が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされるとともに、電極側のプローブピン５１は垂直に保持されて電極３２からの離脱もなく、極めて安定した動作による正確な検査を可能とするものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】請求項１に記載の検査治具の説明図。
【図２】要部の拡大断面図。
【図３】コイルバネの他の脱落防止手段を示す拡大断面図。
【図４】請求項２に記載の検査治具の説明図。
【図５】請求項３に記載の検査治具の説明図。
【図６】請求項４に記載の検査治具の説明図。
【図７】従来の検査治具の説明図。
【図８】従来の検査治具の正面図。
【図９】検査装置の電極配置図。
【符号の説明】
１２ ヘッドプレート
１６ 上プレート
１８ 下プレート
２５ 上側ピン保持プレート
２６ 下側ピン保持プレート
２７ ピン保持プレート
４０ ケーブル
４１、４２、４３ コイルバネ
４７ 変換基板
４８ コネクタ
５０、５１ プローブピン
【発明の属する技術分野】
この発明は、プリント配線基板の電気的接続を検査するために用いるプリント配線基板の検査治具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高密度実装技術の進展により高密度化したプリント配線基板の配線パターンの電気的接続を検査する方法として、プリント配線基板の検査接点にプローブピン（ロングピン）を当接させ、検査装置において所定検査接点間の配線の導通状態を検査する手段が採られている。こうした検査装置において、多数のロングピンの先端を突設した検査ヘッドを備えた検査治具が用いられている。
【０００３】
図７、８に、従来の検査治具を用いた検査方法の概要を示す。検査治具は矩形薄型に形成され、プリント配線基板の両面を検査するために略同一構成の上治具Ａ、下治具Ｂの一対が用いられ、多数のロングピン１０を植設して先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えている。複数の支柱１４でヘッドプレート１２を取り付ける上プレート１６に、外周縁に沿った複数の弾性リング体１７を用いて下プレート１８が取り付けられている。３枚のピン保持プレート２０、２１、２２が複数の支柱２３で上プレート１６に取り付けられ、上プレート１６と下プレート１８の間に層状の間隔が形成されている。各プレート１２、１６、１８、２０、２１、２２に所定レイアウトでピン挿通孔が開孔され、各ピン挿通孔に多数のロングピン１０を挿通して植設し、検査治具が組み付けられる。
【０００４】
このようにして組み付けられた検査治具を一対用い、上治具Ａと下治具Ｂとを検査ヘッドを対向させて検査装置にセットし、上治具Ａと下治具Ｂの間にプリント配線基板３０をセットする。検査装置において上方から押圧してロングピン１０の先端をプリント配線基板３０の検査接点に当接させ、検査装置で電気的スイッチング操作して検査接点間の導通状態を検査する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
こうした検査装置及び検査治具による検査手段において、検査装置側の電極３２が２．５４ｍｍの間隔で格子状に配列した、図９に示すＡ、Ｂの２種類のものが一般に使用されている。これらの異なる検査装置で高密度プリント配線基板を検査するために、ロングピン１０を傾斜させ、電極接点側を電極３２に接触させて検査治具をセットした場合、検査時の検査装置の押圧で弾性リング体１７が扁平されて上プレート１６と下プレート１８の間隔が収縮し、下端のピン保持プレート２２が下降してピン保持プレート２２と下プレート１８の間隔が収縮する（図７中、下降したピン保持プレート２２ａを示す）。このため、ロングピン１０が屈曲して電極３２から離脱する現象が発生し（図７中、電極３２から離脱したロングピン１０ａを示す）、ロングピン１０の取り付け傾斜角度に制限があるとともに、傾斜角度が大きくなるとロングピン１０の長さが不足し、動きも硬くなるなどの課題があった。したがって、検査装置毎に専用の検査治具が必要とされ、プリント配線基板の適用範囲にも限界があり、また、一種類の検査治具で検査しようとすると検査装置の大幅な改造を要するなど、極めてコストが高価となる。
【０００６】
この発明は、新規構成の検査治具を提供してこれらの課題を解決することを目的とするもので、異なる検査装置による様々な配線パターンの高密度プリント配線基板の検査に適用可能とし、検査治具のユニバーサル化を図ることでプリント配線基板の検査コストを大幅に低廉することを目的とするものである。また、短尺なプローブピンを用いてこれを垂直に植設し、検査時の押圧に応じて上下方向にストローク可動とし、安定した動作で正確な検査が行える検査治具を提供することを目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
こうした目的を達成するため、請求項１に記載したプリント配線基板の検査治具は、図１に示すように構成され、上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを設け、これらのピン挿通孔に、ケーブル４０で配線されたコイルバネ４１、４２を収納する。そして、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成するものである。
【０００８】
請求項２に記載したプリント配線基板の検査治具は、図４に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを変換基板４７を挟持して設け、これらのピン挿通孔に、変換基板４７で配線されたコイルバネ４１、４２を収納する。そして、上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成するものである。
【０００９】
請求項３に記載したプリント配線基板の検査治具は、図５に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８にケーブル４０で配線されたコイルバネ４３を収納する。そして、ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成するものである。
【００１０】
請求項４に記載したプリント配線基板の検査治具は、図６に示すように構成され、同じく多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、ピン保持プレート２７の下面に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８を取り付けた変換基板４７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、変換基板４７でコネクタ４８に配線されたコイルバネ４３を収納する。そして、ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下にこの発明の実施の形態を、図面を用いて具体的に説明する。
図１は、請求項１に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図で、図中、前例と同一の符号は同一部材であるので説明を省略するが、この検査治具は、それぞれ矩形形状のヘッドプレート１２、上プレート１６、下プレート１８を組み付けて矩形薄型に形成される。図に示すように、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とが支柱２３で上プレート１６に取り付けられ、両ピン保持プレート２５、２６の間で比較的大きな層状の間隔を形成している。これらの各プレート１２、１６、１８、２５、２６には、所定レイアウトで開孔したピン挿通孔が形成されている。
【００１２】
ケーブル４０の両端にコイルバネ４１、４２を予めハンダ付けし、このケーブル４０を多数用いて所定の配置に従い、上側ピン保持プレート２５のピン挿通孔に一端のコイルバネ４１、下側ピン保持プレート２６のピン挿通孔に他端のコイルバネ４２が収納される。このようにして所定配置のピン挿通孔に収納したコイルバネ４１、４２は、ケーブル４０で導通状態に配線され、隣接するケーブル４０との短絡を防ぐため、ハンダ付け箇所をひしチューブ４５で絶縁している。
【００１３】
上側ピン保持プレート２５の下面、及び下側ピン保持プレート２６の上面にスライド板２８が設けられ、このスライド板２８は、ピン挿通孔を各ピン保持プレート２５、２６のピン挿通孔と若干ズレた状態（スライドした状態）で両ピン保持プレート２５、２６に取り付けらる（図２参照）。コイルバネ４１、４２を各ピン挿通孔に挿入した後にスライド板２８を取り付けることで、コイルバネ４１、４２の脱落を防止している。なお、図３の上側ピン保持プレート２５に示すように、スライド板２８を用いることなく、ピン挿通孔にスロート部２５ａを形成することでコイルバネ４１の脱落を防止するようにしてもよい。
【００１４】
上方から上側ピン保持プレート２５に短尺のプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４１に当接し、下方から下側ピン保持プレート２６に短尺のプローブピン５１が植設され、上端をコイルバネ４２に当接している。両プローブピン５０、５１はそれぞれ垂直の状態で植設され、プローブピン５０の上端をヘッドプレート１２から突設して検査ヘッド側を構成し、プローブピン５１の下端を下プレート１８から突設して電極側を構成している。
【００１５】
このようにして組み付けられた検査治具を用い、上治具と下治具の一対を検査ヘッドを対向させて検査装置にセットし、上治具と下治具の間にプリント配線基板をセットする。そして、検査装置で上方から押圧してプローブピン５０の先端をプリント配線基板の検査接点に当接させ、検査接点間の導通状態を検査する。検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４１、４２が収縮し、プローブピン５０、５１は各ピン挿通孔内に進入する。このように、押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされている。
【００１６】
図４は、請求項２に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。図に示すように、上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とが設けられ、両ピン保持プレート２５、２６で変換基板４７を挟持している。ピン保持プレート２５、２６の各ピン挿通孔にコイルバネ４１、４２が収納され、コイルバネ４１、４２は変換基板４７で配線されている。上方から上側ピン保持プレート２５に短尺のプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４１に当接し、下方から下側ピン保持プレート２６に短尺のプローブピン５１が植設され、上端をコイルバネ４２に当接している。
【００１７】
この検査治具は、前例と同様に検査装置にセットして検査接点間の導通状態を検査し、検査装置の押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされている。また、この検査治具は、検査装置やプリント配線基板に応じて変換基板４７を取り替えることで、コイルバネ４１、４２の配線を変換可能としている。
【００１８】
図５は、請求項３に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。この検査治具は、検査装置の測定器にコネクタを介して接続するタイプで、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７が設けられ、このピン保持プレート２７のピン挿通孔にコイルバネ４３を収納している。測定器側コネクタを接続するコネクタ４８が検査治具の側面に金具４９で固定され、コイルバネ４３はケーブル４０でコネクタ４８に配線されている。上方からピン保持プレート２７にプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４３に当接している。
【００１９】
この検査治具は、検査装置にセットして測定器側コネクタをコネクタ４８に接続し、プリント配線基板の検査接点間の導通状態を検査する。検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４３が収縮し、プローブピン５０はピン挿通孔内に進入し、プローブピン５０が上下方向にストローク可動とされている。
【００２０】
図６は、請求項４に記載した検査治具の要部の構成を示した説明図である。この検査治具も、前例と同様に検査装置の測定器にコネクタを介して接続するタイプで、上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７が設けられ、ピン保持プレート２７の下面に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８を取り付けた変換基板４７を設けている。このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、変換基板４７でコネクタ４８に配線されたコイルバネ４３が収納され、ピン保持プレート２７にプローブピン５０が植設され、下端をコイルバネ４３に当接している。
【００２１】
この検査治具は、前例と同様に検査装置にセットして測定器側コネクタをコネクタ４８に接続し、プリント配線基板の検査接点間の導通状態を検査し、検査時の検査装置の押圧でコイルバネ４３が収縮し、プローブピン５０が上下方向にストローク可動とされている。また、この検査治具は、検査装置やプリント配線基板に応じて変換基板４７を取り替えることで、コイルバネ４３の配線を変換可能としている。
【００２２】
【発明の効果】
この発明のプリント配線基板の検査治具は以上のように構成され、従来のロングピン１０に代わって短尺のプローブピン５０、５１を用い、検査ヘッド側のプローブピン５０と電極側のプローブピン５１とに分割し、ケーブル４０又は変換基板４７で配線されたコイルバネ４１、４２を介して両プローブピン５０、５１を導通させることで、検査装置やプリント配線基板の検査接点に応じてプローブピン５０、５１を自由に配置することができるとともに、配線の変更も可能である。したがって、異なる検査装置による様々な配線パターンの高密度プリント配線基板の検査に適用可能であり、検査治具のユニバーサル化が図られ、プリント配線基板の検査コストを大幅に低廉することができる。
【００２３】
また、プローブピン５０、５１は傾斜させる必要がないので各ピン保持プレート２５、２６、２７に垂直に植設され、検査時の押圧の大きさに応じてコイルバネ４１、４２、４３が伸縮し、プローブピン５０、５１が上下方向にストローク可動とされるとともに、電極側のプローブピン５１は垂直に保持されて電極３２からの離脱もなく、極めて安定した動作による正確な検査を可能とするものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】請求項１に記載の検査治具の説明図。
【図２】要部の拡大断面図。
【図３】コイルバネの他の脱落防止手段を示す拡大断面図。
【図４】請求項２に記載の検査治具の説明図。
【図５】請求項３に記載の検査治具の説明図。
【図６】請求項４に記載の検査治具の説明図。
【図７】従来の検査治具の説明図。
【図８】従来の検査治具の正面図。
【図９】検査装置の電極配置図。
【符号の説明】
１２ ヘッドプレート
１６ 上プレート
１８ 下プレート
２５ 上側ピン保持プレート
２６ 下側ピン保持プレート
２７ ピン保持プレート
４０ ケーブル
４１、４２、４３ コイルバネ
４７ 変換基板
４８ コネクタ
５０、５１ プローブピン
Claims (4)
- 上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、
上プレート１６と下プレート１８との間隔内に上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを設け、これらのピン挿通孔に、ケーブル４０で配線されたコイルバネ４１、４２を収納し、
上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成したプリント配線基板の検査治具。 - 上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、
上プレート１６と下プレート１８との間隔内に、上側ピン保持プレート２５と下側ピン保持プレート２６とを変換基板４７を挟持して設け、これらのピン挿通孔に、変換基板４７で配線されたコイルバネ４１、４２を収納し、
上側ピン保持プレート２５にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４１に当接させ、下側ピン保持プレート２６にプローブピン５１を植設し、上端をコイルバネ４２に当接させて構成したプリント配線基板の検査治具。 - 上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、
上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８にケーブル４０で配線されたコイルバネ４３を収納し、
ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成したプリント配線基板の検査治具。 - 上プレート１６にヘッドプレート１２を取り付け、多数のプローブピンの先端をヘッドプレート１２から突設した検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、
上プレート１６と下プレート１８との間隔内にピン保持プレート２７を設け、ピン保持プレート２７の下面に、測定器側コネクタを接続するコネクタ４８を取り付けた変換基板４７を設け、このピン保持プレート２７のピン挿通孔に、変換基板４７でコネクタ４８に配線されたコイルバネ４３を収納し、
ピン保持プレート２７にプローブピン５０を植設し、下端をコイルバネ４３に当接させて構成したプリント配線基板の検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002192023A JP2004039729A (ja) | 2002-07-01 | 2002-07-01 | プリント配線基板の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002192023A JP2004039729A (ja) | 2002-07-01 | 2002-07-01 | プリント配線基板の検査治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004039729A true JP2004039729A (ja) | 2004-02-05 |
Family
ID=31701434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002192023A Pending JP2004039729A (ja) | 2002-07-01 | 2002-07-01 | プリント配線基板の検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2004039729A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100720740B1 (ko) * | 2005-12-12 | 2007-05-22 | (주) 현대테크 | 인쇄회로기판 검사장치 |
| JP2007304008A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Nidec-Read Corp | 基板検査用接触子、基板検査用治具及び基板検査装置 |
-
2002
- 2002-07-01 JP JP2002192023A patent/JP2004039729A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100720740B1 (ko) * | 2005-12-12 | 2007-05-22 | (주) 현대테크 | 인쇄회로기판 검사장치 |
| JP2007304008A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Nidec-Read Corp | 基板検査用接触子、基板検査用治具及び基板検査装置 |
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