JP3583860B2

JP3583860B2 - Information communication equipment

Info

Publication number: JP3583860B2
Application number: JP10279796A
Authority: JP
Inventors: 謙治小川; 三安城戸
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1996-04-24
Filing date: 1996-04-24
Publication date: 2004-11-04
Anticipated expiration: 2016-04-24
Also published as: JPH09289535A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、通信継電装置単体の通信試験機能と、通信リレー保護システム全体の総合通信試験機能とを兼ね備えた通信リレー保護システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、通信リレー保護システム（以下、リレー保護システムと呼ぶ）に配置された通信継電装置（以下、継電装置と呼ぶ）の通信試験は、電力系統から継電装置単体を一旦取り外してから、これに通信機能を模擬した試験装置に接続することによって行われる。尚、ここでいう通信機能を模擬した試験装置（以下、通信模擬送と呼ぶ）とは、故障の種類や故障発生の時間間隔等の試験条件が任意に設定された故障シーケンスに従って継電装置単体の通信試験を実行することが可能な（即ち、実際の継電装置からの出力データと等価な模擬通信データを出力することが可能な）装置のことである。このような機能を有する通信模擬送を採用すれば、通信不良状態における継電装置の通信機能を、より信頼性高く評価検証することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記通信模擬送による通信継電装置の通信試験には、以下に示すような欠点がある。
【０００４】
（１）試験対称である通信継電器を一旦リレー保護システムから取り外す必要があるため、通信試験の前処理や後処理に手間がかかる。
【０００５】
（２）実際の通信継電器と等価な通信機能を有する通信模擬送を必要とするため、これの作成に多大な時間と多大なコストが費やされる。
【０００６】
（３）通信継電器の通信試験を行う際に、その都度、作業者が膨大なデータを入力して、故障の種類や故障発生の時間間隔等の試験条件を設定し直す必要がある。そして、こうした煩雑な作業が、リレー保護システムに従事する作業者の大きな負担となっている。
【０００７】
（４）通信継電器単体の通信試験を行うことはできるが、リレー保護システム全体の総合試験を行うことはできない。
【０００８】
そこで、本発明は、既存のリレー保護システムに、通信継電装置単体の通信試験機能と、リレー保護システム全体の総合通信試験機能とを付加することを一つの目的とする。また、リレー保護システムの現場試験に従事する作業者の負担を軽減することを一つの目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は、
複数の情報通信装置を備え、前記複数の情報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを有する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間で順次伝送する伝送システムに用いられる情報通信装置であって、
前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験用情報を記憶する記憶手段と、
他の情報通信装置から伝送される前記伝送フレームを受信する受信手段と、
前記受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報通信装置が検出したデータを格納する格納手段と、
前記記憶手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更する変更手段と、
前記格納手段により前記変更手段が変更したデータが格納された前記伝送フレームを、他の情報通信装置に伝送する伝送手段とを備えることを特徴とする情報通信装置を提供する。
【００１０】
また、こうした情報通信装置を複数備えた処理伝送システムであって、
前記複数の情報通信装置は、それぞれ、
互いに異なる前記伝送フレーム中の領域を表す試験用情報を複数記憶する前記記憶手段と、
前記記憶手段が記憶する前記複数の試験情報の内の任意の試験用情報の選択を受け付ける受付手段とを備え、
前記変更手段は、前記受付手段が受け付けた選択により選択された試験用情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更することを特徴とする伝送システムを提供する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照しながら、本発明に係る実施の形態について、ＰＣＭ伝送系を利用した、電力系統のリレー保護システムに適用した場合を一例に挙げて説明する。
【００１２】
最初に、図１により、本実施の形態に係るリレー保護システムの基本構成について説明する。
【００１３】
本システムは、２つの光伝送ルート１０００，１００１を利用して電気系統の各端子から収集した系統電気量データ（系統電圧及び系統電流）を用いて作動保護演算を行う、３つのリレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃを備える。そして、後述の共通フレームが伝送されるループ伝送路が形成されるように、予め、３つのリレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃは、それぞれ、後述の他局１０ｂ，１０ｃに共通フレームを発行する親局１０ａ、伝送された共通フレームを次局１０ｃに中継する子局１０ｂ、共通フレームを折り返す折返し局１０ｃの内のいずれかに設定されている。その結果、親局１０ａから発行された共通フレームは、一方の光伝送ルート（以下、下りルートと呼ぶ）１０００を通過中に、途中の局１０ｂ，１０ｃの系統電気量データを収集した後、折り返し局１０ｃを経由して、他方の光伝送ルート（以下、上りルートと呼ぶ）１００１を通過中に、下りルート１０００で収集した全端子の系統電気量データを途中の各局１０ｃ，１０ｂへと伝送する。尚、ここでいう共通フレームとは、図２に示すような形式を有するパケットのことである。即ち、共通フレームは、図２（ａ）に示すように、ｍ個（本実施の形態では、１２個）のマルチフレーム２０ａ，．．，２０ｍから構成されており、各マルチフレーム２０ａ，．．，２０ｍは、図２（ｂ）に示すように、それぞれ、受信した信号と同期をとるために必要なプリアンブルＦ０と、電力系統の各端子毎のデータを格納するｎ個（本実施の形態では、１２個）の端子用データフレームＦ１，．．，Ｆｎから構成されている。そして、各端子用フレームＦ１，．．，Ｆｎは、図２（ｃ）に示すように、所定のデータ（本実施例では、０）を格納したフレームヘッダｗ０と、既定のデータを格納するためのワードｗ１，．．．，ｗ２１から構成されており、各ワード２２ａ，．．．，２２ｗは、図２（ｄ）に示すように、それぞれ、固定ビットデータＢ０（本実施例では、１）と、８ビットのデータ領域Ｂ１，．．．，Ｂ８とから構成されている。ここでいうワードに格納される既定のデータとは、例えば、ワードｗ２０，ｗ２１に格納されるＣＲＣデータや、ワードｗ１に格納される当該フレームに割り当てられたフレーム番号や、ワードｗ２に格納される当該フレームを格納するマルチフレームに割り当てられたマルチフレーム番号等のことであり、本実施の形態では、これらのデータを利用して、目的とするリレー保護システムの伝送系の試験（後述）を実行する。尚、各局間の共通フレームの伝送においては、左側のフィールドから右側のフィールドへ順番に、各フィールドに格納されたデータが、最下位ビットを先頭として順次送信される。
【００１４】
さて、３つのリレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃは、それぞれ、内蔵するサンプリング信号発生回路が発生するサンプリング信号に同期して電力系統の端子から取り込んだ系統電気量データＡ_１，Ａ_２，Ａ_３をデジタル変換するアナログ入力部１１ａと、下りルート１０００側から伝送された共通フレームを処理する第一伝送制御部１２ａと、上りルート１００１側から伝送された共通フレームを処理する第二伝送制御部１２ｂと、電力系統の保護のために周知のリレー動作判定を実行するリレー演算部１３と、下りルート１０００及び上りルート１００１との入出力インターフェースである電気／光変換器１５及び光／電気変換器１４と、リレー演算部１３のリレー動作判定に応じて電力系統の遮断器にトリップ指令を出力するトリップ回路（不図示）とから構成されている。尚、本実施の形態では、下りルート１０００及び上りルート１００１との入出力インターフェースの仕様は、各リレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃ間の結合形態に応じて定まるものであるので、必ずしも、本実施の形態のように電気／光変換器と光／電気変換器とが使用される訳ではない。
【００１５】
以下、上記リレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃの構成の内の主要部について説明する。
【００１６】
まず、アナログ入力部１１について簡単に説明する。
【００１７】
アナログ入力部１１は、電力系統の端子から取り込まれた系統電気量データＡ_１，Ａ_２，Ａ_３の高周波成分を減衰させる折返し誤差防止用アナログフィルタ１１０と、折返し誤差防止用アナログフィルタ１１０から出力される信号を所定の周波数でサンプリングするサンプルホールド回路（不図示）と、サンプルホールド回路から出力される複数チャネルの信号を順次を切り換えるマルチプレクサ１１１と、マルチプレクサ１１１から出力される信号をデジタル変換するＡＤ変換器１１２と、ＡＤ変換器１１２から出力される信号の高調波成分を除去するデジタルフィルタ１１３とから構成されている。尚、本リレー保護システムでは、電力系統の全端子から系統電力データを同時刻に取り込むことができるように、親局１０ａ側からループ伝送路へと定期的にサンプリング同期フラグを送信させて、親局１０ａ以外の他局１０ｂ，１０ｃのサンプリング信号発生回路のサンプリング信号の発生周期を、親局１０ａのサンプリング信号発生回路のサンプリング信号の発生周期に合わせるサンプリング同期制御を行っている。
【００１８】
本システムでは、各局１０ａ，１０ｂ，１０ｃのアナログ入力部の上記構成によって、電力系統の全端子から系統電気量データＡ_１，Ａ_２，Ａ_３が同時刻に取り込まれ、更に、以下に説明する第一伝送制御部１２ａ及び第二伝送制御部１２ｂ等において処理可能なデジタルデータに変換される。
【００１９】
次に、リレー演算部１３とトリップ回路（不図示）とについて、簡単に説明する。
【００２０】
リレー演算部１３は、第一伝送制御部のシリアル／パラレル変換器１２３から出力されるリレー演算データ（即ち、各端子から取り込まれた系統電気量のサンプリングデータ）に、位相演算処理等の前処理を必要に応じて施した後、これを用いて周知のリレー動作判定式による動作判定を行い、その結果に応じて、トリップ回路に対する制御信号を出力する。そして、トリップ回路（不図示）は、リレー演算部１３からの制御信号に応じて、電力系統の遮断器にトリップ指令を出力する。
【００２１】
次に、図３により、下りルート１０００側から伝送されてくる共通フレームを処理する第一伝送制御部１２ａ、及び、上りルート１００１側から伝送されてくる共通フレームを処理する第二伝送制御部１２ｂについて説明する。
【００２２】
第一伝送制御部１２ａ及び第一伝送制御部１２ｂは、伝送されてくる共通フレームの受信クロック信号に同期した送信クロック信号をカウントするカウンタ１２０と、伝送されてくる共通フレームに含まれる自局の端子用フレームの所定のワードに自局の系統電気量データを付加するパラレル／シリアル変換器１２１と、後述の試験用情報テーブルが格納されたＲＡＭ１２６と、試験実行時にＲＡＭ１２６に格納された試験情報テーブルを基に伝送誤りを含んだ試験用伝送データを作成する試験用伝送データ作成部と、伝送系の不良を検出する検出回路１２２と、検出回路１２２が伝送系の不良を検出した場合に後述のループバック制御を実行するループバック制御回路１２５とを備える。以下、主要部について、それぞれ説明する。
【００２３】
まず、試験用情報テーブルと、これらを格納するＲＡＭ１２６について説明する。
【００２４】
語長３２ビットのＲＡＭ１２６に格納された試験用情報テーブルには、図４に示すように、各試験項目毎に、それぞれ、試験を実行するか否かを表すＣＲＬＴデータと、伝送されてくる共通フレームを基に所定の伝送誤りを含む試験用伝送データを作成するために必要な試験情報が設定されている。即ち、各試験項目の試験情報には、試験実行時に誤データを生じさせるべきデータを含むマルチフレームの番号ＭＦと、当該データを含む自局の端子用フレームのフレーム番号Ｆと、当該データを含むワードのワード番号Ｗと、当該データのビット番号Ｂとが予め設定されており、実行すべき試験項目のＣＲＬＴデータには、所定のデータ（本実施の形態では、１）が設定されている。尚、本実施の形態では、作業者が、必要に応じて、当該ＲＡＭ１２６にアクセス可能な外部端末１６ａを用いて各試験項目のＣＲＬＴデータを任意に変更することができるようになっている。
【００２５】
次に、カウンタ１２０について説明する。
【００２６】
カウンタ１２０は、伝送されてくる共通フレームの受信クロック信号に同期した送信クロック信号をカウントする９進カウンタ１２０ａ（以下、第一カウンタと呼ぶ）と、第一カウンタのキャリア信号をカウントする２２進カウンタ１２０ｂ（以下、第二カウンタと呼ぶ）と、第二カウンタのキャリア信号をカウントする１３進カウンタ１２０ｃ（以下、第三カウンタと呼ぶ）と、第三カウンタのキャリア信号をカウントする１２進カウンタ１２０ｂ（以下、第四カウンタと呼ぶ）とから構成されており、各カウンタ１２０ａ，１２０ｂ，１２０ｃ，１２０ｄが、それぞれ、リセット時点からカウントした信号数を、４ビットのビット管理情報、５ビットのワード管理情報、４ビットのフレーム管理情報、４ビットのマルチフレーム管理情報として出力するようになっている。即ち、パラレル／シリアル変換器１２１及びＣＲＣ演算回路１２４は、カウンタ１２０から出力される各管理情報を監視することにより、伝送されてくるデータのアドレスを検出するようになっている。
【００２７】
次に、パラレル／シリアル変換器１２１について説明する。
【００２８】
パラレル／シリアル変換器１２１は、アナログ入力部１１でデジタル変換された系統電気量データをシリアル変換した後、これを用いて、伝送されてくる共通フレームの自局の端子用フレームの所定のワードに格納されているデータを更新する。その結果、次局に伝送すべき共通フレームには、自局の系統電気量データが付加される。
【００２９】
次に、試験用伝送データ作成部について説明する。
【００３０】
試験用伝送データ作成部では、比較回路１２７が、ＲＡＭ１２６の試験情報テーブルに設定された各試験項目の試験情報とカウンタ１２０から出力された各管理情報とを順次比較し、その結果に応じて、２つの変更回路１２８，１２９が、伝送誤りを含む試験用送信データを生成する。
【００３１】
具体的には、比較回路１２７は、カウンタ１２０から出力されるビット管理情報とＲＡＭ１６０の試験用情報テーブルに設定された各試験項目のビット番号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベルの信号を出力する第一比較器１２７０ａと、カウンタ１２０から出力されるワード管理情報とＲＡＭ１６０の試験用情報テーブルに設定された各試験項目のワード番号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベルの信号を出力する第二比較器１２７０ｂと、カウンタ１２０から出力される各試験項目のフレーム管理情報とＲＡＭ１６０の試験用情報テーブルに設定されたフレーム番号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベルの信号を出力する第三比較器１２７０ｃと、カウンタ１２０から出力されるマルチフレーム管理情報とＲＡＭ１６０の試験用情報テーブルに設定されたマルチフレーム番号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベルの信号を出力する第四比較器１２７０ｄと、上記４つの比較器１２７０ａ，１２７０ｂ，１２７０ｃ，１２７０ｄから出力される信号が全てアクティブレベルの場合にのみアクティブレベルの信号を出力する第一ＡＮＤゲート１２７１と、カウンタ１２０から出力されるワード管理情報の値が２０又は２１の何れか一方の値である場合にアクティブレベルの信号を出力するデコード回路１２７４と、デコード回路１２７４から出力された信号を反転するインバータ１２７５とを備えており、後段の第二ＡＮＤゲート１２７２は、ＲＡＭ１２０の試験用情報テーブルにＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）が設定されており、且つ、第一ＡＮＤゲート１２７１とインバータ１２７５とから共にアクティブレベルの信号が出力されている場合に、一方の変更回路１２８にデータ変更指令を出力するようになっている。一方、後段の第三ＡＮＤゲート１２７３は、ＲＡＭ１２０の試験用情報テーブルにＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）が設定されており、且つ、第一ＡＮＤゲート１２７１とデコード回路１２７４とから共にアクティブレベルの信号が出力されている場合に、他方の変更回路１２９にＣＲＣ変更指令を出力するようになっている。
【００３２】
さて、一方の変更回路１２８は、次局へと伝送すべき共通フレームと第二ＡＮＤゲート１２７２から出力されるデータ変更指令とを入力とする排他的論理和回路１２８０により構成されており、第二ＡＮＤゲート１２７２からデータ変更指令が出力された時点で、伝送されてくる共通フレームの自局の端子用フレームの所定のワードに格納されているデータを反転するようなっている。つまり、一方の変更回路１２８は、実行すべき各試験項目の試験情報が示す位置に誤データを持った試験用伝送データを生成する。また、他方の変更回路１２９は、第三ＡＮＤゲート１２７３から出力されたＣＲＣデータ変更指令と、ＣＲＣ演算回路１２４が試験用伝送データから抽出した自局の系統電気量データを用いて作成したＣＲＣコードとを入力とする排他的論理和回路１２９０から構成されており、第三ＡＮＤゲート１２７３からＣＲＣデータ変更指令が出力された場合にのみ、ＣＲＣ演算回路１２４が作成したＣＲＣコードを変更するようになっている。つまり、他方の変更回路１２９は、試験用情報テーブルの試験項目「ＣＲＣチェックエラー」のＣＴＲＬデータに所定に値（本実施の形態では、１）が設定されている場合のみ、誤りを持つＣＲＣコードを生成する。
【００３３】
例えば、図４に示したような試験用情報テーブルを用いた場合には、以上の試験用伝送データ作成部の各部は、以下のように動作する。即ち、図５（ａ）に示すように第一カウンタ１２０ａからビット管理情報「０」が出力されている場合に、図５（ｆ）に示すように第一比較器１２７０ａがアクティブレベルの信号を出力し、図５（ｂ）に示すように第二カウンタ１２０ｂからワード管理情報「５」が出力されている場合に、図５（ｇ）に示すように第二比較器１２７０ｂがアクティブレベルの信号を出力し、図５（ｃ）に示すように第三カウンタ１２０ｃからフレーム管理情報「３」が出力されている場合に、図５（ｈ）に示すように第三比較器１２７０ｃがアクティブレベルの信号を出力し、図５（ｄ）に示すように第四カウンタ１２０ｄからマルチフレーム管理情報「１」が出力されている場合に、図５（ｉ）に示すように第四比較器１２７０ｄがアクティブレベルの信号を出力する。そして、上記４つの比較器１２７０ａ，１２７０ｂ，１２７０ｃ，１２７０ｄから共にアクティブレベルの信号が出力されている場合に、図５（ｊ）に示すように第一ＡＮＤゲート１２７１がアクティブレベルの信号を出力する。一方、図５（ｂ）に示すように第二カウンタ１２０ｂからワード管理情報「２１」が出力されている場合に、図５（ｋ）に示すように、デコード回路１２７４がアクティブレベルの信号を出力し、後段のインバータ１２７５が、その信号を反転する。そして、図５（ａ）のＣＴＲＬデータ信号がアクティブレベルであり、且つ、第一ＡＮＤゲート１２７１とインバータ１２７５とから共にアクティブレベルの信号が出力されている場合に、図５（ｌ）に示すように第二ＡＮＤゲート１２７２が、一方の変更回路１２８にデータ変更指令を出力する。また、図５（ａ）のＣＴＲＬデータ信号がアクティブレベルであり、且つ、第一ＡＮＤゲート１２７１とデコード回路１２７４とから共にアクティブレベルの信号が出力されている場合に、図５（ｍ）に示すように第三ＡＮＤゲート１２７３が、他方の変更回路１２９にＣＲＴ変更指令を出力する。
【００３４】
その結果、例えば、図５（ｎ）に示すような共通フレームが入力されると、試験用伝送データ作成部は、図５（ｏ）に示すような信号を出力する。
【００３５】
次に、検定回路１２２について説明する。
【００３６】
検定回路１２２では、伝送されてくる試験用伝送データのフォーマットが適正であるか否かの検査と、伝送されてくる試験用伝送データにループ伝送路の障害を表す伝送誤りが含まれるか否かの検査を行い、その結果に応じて、ループバック制御回路１２５に対して、ループバック指令３０２８と、リレーロック指令３０２７を出力する。尚、ここでいうループ伝送路の障害とは、具体的には、いずれかのリレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃの第一伝送制御部１２ａ又は第二伝送制御部１２ｂに発生した障害や、上りルート１０００又は下りルート１００１自体に発生した障害等のことである。
【００３７】
ここで、本実施の形態で行う試験の一例を挙げておく。
【００３８】
（１）ＣＲＣチェック：伝送されてくる試験用伝送データに適正なＣＲＣデータが格納されているか否かを検査する。
【００３９】
尚、本チェックを行うためには、図４に示すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブルの試験項目「ＣＲＣビットエラー」のＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号「２０」のワードｗ２０に格納されたＣＲＣデータＢ７に伝送誤りが与えられる。
【００４０】
（２）固定ビットチェック：伝送されてくる試験用伝送データに適正な固定ビットが含まれているか否かを検査する。
【００４１】
尚、本チェックを行うためには、図４に示すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブルの試験項目「固定ビットエラー」のＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号「３」のワードｗ２に格納された固定ビットデータＢ０に伝送誤りが与えられる。
【００４２】
（３）フレームヘッダチェック：伝送されてくる試験用伝送データに適正なフレームヘッダが含まれているか否かを検査する。
【００４３】
尚、本チェックを行うためには、図４に示すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブルの試験項目「フレームヘッダエラー」のＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号「０」のワードｗ０に格納されたフレームヘッダＢ７に伝送誤りが与えられる。
【００４４】
（４）フレーム同期チェック：伝送されてくる試験用伝送データに順番通りのフレーム番号が含まれているか否かを検査する。
【００４５】
尚、本チェックを行うためには、図４に示すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブルの試験項目「フレーム番号エラー」のＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号「１」のワードｗ１に格納されたフレーム番号データＢ７に伝送誤りが与えられる。
【００４６】
（５）マルチフレーム同期チェック：伝送されてくる試験用伝送データに順番通りのマルチフレーム番号が含まれているか否かを検査する。
【００４７】
尚、本チェックを行うためには、図４に示すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブルの試験項目「マルチフレーム番号エラー」のＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号「２」のワードｗ２に格納されたマルチフレーム番号データＢ７に伝送誤りが与えられる。
【００４８】
次に、ループバック制御回路１２５について簡単に説明する。
【００４９】
検出回路１２２からループバック指令３０２８とリレーロック指令３０２７とが出力されると、ループバック制御回路１２５は、接点回路をロックした後、主局、子局、折返し局の設定を切り替えるループバック制御を開始して、伝送不可能となった区間を迂回する新たなループ伝送路を形成する。そして、その後、障害の復旧が確認されたら、再度ループバック制御を開始して、当初のループ伝送路を再形成するようになっている。
【００５０】
以上で、本実施の形態に係るリレー保護システムの基本構成についての説明を終る。尚、本実施の形態では、ＲＡＭ１２６に格納された試験用情報テーブルには、試験実行時に誤データを生じさせるべきデータの位置を設定しているが、必ずしもこのようにする必要はない。例えば、伝送されてくる共通フレームの自局の端子用フレームに格納する系統電気量データ等の数値を直接設定しても構わない。尚、このようにする場合には、上記設定されたデータを２ビットに換算する演算回路を追加して、変更回路が、演算回路から出力されるデータを、伝送されてくる共通データにのせるようにすればよい。
【００５１】
ここで、こうした基本構成を備えたリレー保護システムを採用することにより得られる効果について纏めておく。
【００５２】
（１）伝送系の不良を検出する検出回路をリレー装置自体に搭載しているため、試験対称であるリレー装置を一旦電力系統から取り外す必要がないので、電力系統の現場試験を、手際よく行うことができる。また、現場試験のために予め定期的に停電日を設定しておく必要もなくなる。
【００５３】
（２）実際の電力系統を試験環境とすることが可能なので、実系統を模擬した模擬送が必要ない。従って、試験環境を作成するために、多大な時間と多大なコストが費やされることはない。また、実際の電力系統を試験環境とすることにより、継電器単体の動作試験のみならず、リレー保護システムの制御ループ全体の総合試験を行うことができる。従って、リレー保護システムの制御ループにおけるデータの伝送不良等も検出することができる。
【００５４】
（３）試験用情報テーブルから所望の試験情報を選択すれば、故障の種類や故障発生の時間間隔等の試験条件を設定することができるので、膨大なデータの入力をその都度必要とする模擬送による動作試験に比べて、電力系統の現場試験に従事する作業者の負担が大幅に軽減される。
【００５５】
ところで、サンプリング同期制御の試験（系統電気量データのサンプリングタイミングのずれのチェック）においては、各リレー装置間の距離条件を任意に設定する必要がある。そのためには、図６に示したように、各リレー装置のループバック制御回路１２５の前段に、伝送すべき試験用伝送データを任意に設定された遅延時間だけ遅延させる遅延回路６０１を搭載すればよい。具体的は、遅延回路６０１は、２のｎ乗ビットのシフトレジスタ６０１０と、設定された遅延時間Ｔに応じてシフトレジスタ６０１０の出力を切り替えるマルチプレクサ６０１１とから構成されている。即ち、シフトレジスタ６０１０の各フリッップフロップ６０１０ａ，．．．，６０１０ｐは、送信クロックに応じて、現在前段から入力されている信号を自身の出力信号とし、マルチプレクサ６０１１は、シフトレジスタ６０１０の出力を、上記設定された遅延時間Ｔだけ前に１段目のフリップフロップ６０１０ａに入力された信号を現在出力しているｍ段目のフリップフロップに切り替える（尚、ｍは、送信クロック周期ｔに対する遅延時間Ｔの比（Ｔ／ｔ）である）。その結果、伝送すべき試験用伝送データは、設定された遅延時間だけ遅延することができる。尚、本実施の形態では、ＲＡＭ６００に予め遅延時間のデフォルト値が格納されており、作業者が外部端末１６０ａを用いて、これを任意に変更することができるようになっている。
【００５６】
また、間欠的に発生する障害に対する動作試験を行う場合には、所定のサイクルまたはランダムに試験用伝送データを伝送する必要がある。そのためには、図７に示すように、試験用伝送データ部の起動回数情報と起動サイクル情報（所定値またはランダム値）とＯＮ／ＯＦＦパラメータとを格納したＲＡＭ７００と、試験用伝送データ部を起動するタイマ７０２と、試験用伝送データ部を停止する制御部７０１とを搭載する必要がある。より具体的には、タイマ７０１は、起動サイクル情報により定まる時間間隔で試験用伝送データ部を起動すると共に、試験用伝送データ部を起動する毎にＯＮ／ＯＦＦパラメータをインクリメントするようになっている。そして、制御部７０１は、ＯＮ／ＯＦＦパラメータが起動回数情報と等しくなった時点で、試験用伝送データ部を停止するようになっている。その結果、所定のサイクルまたはランダムなサイクルで試験用伝送データを伝送することが可能となる。
【００５７】
尚、本実施の形態では、作業者が、外部端末１６０ａを用いて、ＲＡＭ７００に格納された試験用伝送データ部の起動回数と起動サイクルをそれぞれ任意に変更することができるようになっている。
【００５８】
以上で、本発明に係る実施の形態についての説明を終る。尚、ここで説明した機能を組み合わせた総合試験によれば、複数の通信不良に対するリレー保護システムの通信機能を、所定のサイクル又はランダムに試験用送信データ作成部を起動する回数と、タイマ７０２と、設定されたタイマ情報に応じてタイマ７０２を制御する制御部７０１とを搭載する必要がある。尚、ここでいうタイマ情報とは、ＲＡＭ１６５に格納された、試験用伝送データを伝送するサイクル値を設定した情報のことであり、本実施の形態では、作業者が外部端末１６０ａを用いて、これを任意に変更することができるようになっている。
【００５９】
以上で、本発明に係る実施の形態についての説明を終る。尚、ここで説明した機能を組み合わせた総合試験によれば、複数の通信不良に対するリレー保護システムの通信機能を、より信頼性高く評価することができる。また、一連の動作試験を実行するシーケンシャルプログラムを組んでおけば、上記総合試験の自動化を図ることもできる。
【００６０】
【発明の効果】
本発明に係るリレー保護システムによれば、継電装置単体の通信試験と共に、リレー保護システムの制御ループ全体の総合試験を行うことができる。また、電力系統の現場試験に従事する作業者の負担を軽減することができる。加えて、リレー保護システムにかかる費用と時間を削減することができるという経済的な効果もあげることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係るリレー保護システムの基本構成を示した図である。
【図２】共通フレームのフォーマット形式を説明するための図である。
【図３】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の基本的な回路構成を示した図である。
【図４】試験用情報テーブルのデータ構造を説明するための図である。
【図５】試験用伝送データ作成部の処理を説明するための図である。
【図６】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の回路構成の一例を示した図である。
【図７】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の回路構成の一例を示した図である。
【符号の説明】
１０００，１００１…光伝送ルート
１０ａ，１０ｂ，１０ｃ…リレー装置
１１…アナログ入力部
１２ａ…第一伝送制御部
１２ｂ…第二伝送制御部
１３…リレー演算部
１４…光／電気変換器
１５…電気／光変換器
１６…外部端末
１１０…折返し誤差防止用アナログフィルタ
１１１…マルチプレクサ
１１２…ＡＤ変換器
１１３…デジタルフィルタ
１２０…カウンタ
１２１…パラレル／シリアル変換器
１２２…検出回路
１２３…シリアル／パラレル変換器
１２４…ＣＲＣ演算回路
１２５…ループバック制御回路
１２６…ＲＡＭ
１２７…比較回路
１２８，１２９…変更回路[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a communication relay protection system having both a communication test function of a communication relay device alone and a comprehensive communication test function of the entire communication relay protection system.
[0002]
[Prior art]
Generally, a communication test of a communication relay device (hereinafter, referred to as a relay device) arranged in a communication relay protection system (hereinafter, referred to as a relay protection system) is performed by first removing a single relay device from the power system. This is performed by connecting to a test device simulating the communication function. The test device simulating the communication function (hereinafter referred to as communication simulated transmission) is a single relay device according to a failure sequence in which test conditions such as a type of a failure and a time interval of occurrence of the failure are arbitrarily set. (Ie, capable of outputting simulated communication data equivalent to output data from an actual relay device). If the communication simulated transmission having such a function is employed, the communication function of the relay device in the communication failure state can be evaluated and verified more reliably.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, the communication test of the communication relay device using the communication simulated transmission has the following disadvantages.
[0004]
(1) Since it is necessary to temporarily remove the communication relay, which is the test symmetry, from the relay protection system, it takes time and effort to perform pre-processing and post-processing of the communication test.
[0005]
(2) Since a communication simulated transmission having a communication function equivalent to that of an actual communication relay is required, it takes a lot of time and a lot of costs to create it.
[0006]
(3) Each time a communication test of a communication relay is performed, it is necessary for an operator to input a huge amount of data and reset test conditions such as a type of a failure and a time interval of occurrence of the failure. And such a complicated work puts a heavy burden on the worker engaged in the relay protection system.
[0007]
(4) A communication test of a single communication relay can be performed, but a comprehensive test of the entire relay protection system cannot be performed.
[0008]
Therefore, an object of the present invention is to add a communication test function of a communication relay device alone and a comprehensive communication test function of the entire relay protection system to an existing relay protection system. Another object of the present invention is to reduce the burden on workers engaged in on-site testing of a relay protection system.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the present invention provides
An information communication device used in a transmission system including a plurality of information communication devices and sequentially transmitting data detected by the plurality of information communication devices among the plurality of information communication devices using a transmission frame having a predetermined format. hand,
Storage means for storing test information representing a specific area in the transmission frame,
Receiving means for receiving the transmission frame transmitted from another information communication device,
Storage means for storing the data detected by the information communication device in the transmission frame received by the receiving means,
Changing means for changing a value of data stored in the storage means in an area in the transmission frame represented by the position information stored in the storage means;
A transmission unit for transmitting the transmission frame, in which the data changed by the change unit is stored by the storage unit, to another information communication device, is provided.
[0010]
In addition, a processing transmission system including a plurality of such information communication devices,
The plurality of information communication devices, respectively,
The storage unit that stores a plurality of pieces of test information representing regions in the transmission frame different from each other,
Receiving means for receiving selection of any test information from the plurality of test information stored in the storage means,
The transmission system, wherein the change unit changes a value of data stored in the storage unit to an area in the transmission frame represented by the test information selected by the selection received by the reception unit. I do.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, taking as an example a case where the present invention is applied to a relay protection system for a power system using a PCM transmission system.
[0012]
First, the basic configuration of the relay protection system according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
[0013]
This system uses three optical transmission routes 1000 and 1001 to perform operation protection calculation using system electric quantity data (system voltage and system current) collected from each terminal of the electric system. 10b and 10c are provided. Then, the three relay devices 10a, 10b, and 10c previously issue a common frame to the other stations 10b and 10c, respectively, so that a loop transmission path for transmitting a common frame described later is formed. 10a, the slave station 10b that relays the transmitted common frame to the next station 10c, and the return station 10c that returns the common frame. As a result, while the common frame issued from the master station 10a is passing through one optical transmission route (hereinafter referred to as a down route) 1000, the system electricity amount data of the stations 10b and 10c on the way is collected and then returned. While passing through the other optical transmission route (hereinafter, referred to as an up route) 1001 via the station 10c, the system electric quantity data of all terminals collected by the down route 1000 is transmitted to the stations 10c and 10b on the way. . Here, the common frame is a packet having a format as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 2A, m (12 in this embodiment) multi-frames 20a,. . , 20m, and each multi-frame 20a,. . , 20m each include a preamble F0 necessary for synchronizing with a received signal and n data for storing data for each terminal of the power system (in the present embodiment, as shown in FIG. 2B). , 12) terminal data frames F1,. . , Fn. Then, each terminal frame F1,. . , Fn, as shown in FIG. 2C, a frame header w0 storing predetermined data (0 in this embodiment) and words w1,. . . , W21, each word 22a,. . . , 22w include fixed bit data B0 (1 in this embodiment) and 8-bit data areas B1,. . . , B8. The predetermined data stored in the word here is, for example, CRC data stored in the words w20 and w21, a frame number allocated to the frame stored in the word w1, and stored in the word w2. A multi-frame number or the like assigned to a multi-frame that stores the frame. In the present embodiment, a test (described later) of a transmission system of a target relay protection system is performed using these data. I do. In transmitting a common frame between the stations, data stored in each field is sequentially transmitted from the left field to the right field, starting from the least significant bit.
[0014]
Now, the three relay devices 10a, 10b, and 10c respectively provide system electric quantity data A taken from terminals of the power system in synchronization with a sampling signal generated by a built-in sampling signal generation circuit. ₁ , A ₂ , A ₃ , A first transmission control unit 12a for processing a common frame transmitted from the downstream route 1000, and a second transmission control unit 12b for processing a common frame transmitted from the upstream route 1001 And a relay operation unit 13 for executing a known relay operation determination for protecting the power system, and an electric / optical converter 15 and an optical / electric converter 14 which are input / output interfaces with the down route 1000 and the up route 1001. And a trip circuit (not shown) that outputs a trip command to a circuit breaker of the power system according to the relay operation determination of the relay operation unit 13. In the present embodiment, the specifications of the input / output interface with the down route 1000 and the up route 1001 are determined according to the coupling mode between the relay devices 10a, 10b, and 10c. An electric / optical converter and an optical / electric converter are not used as in the embodiment.
[0015]
Hereinafter, the main part of the configuration of the relay devices 10a, 10b, and 10c will be described.
[0016]
First, the analog input unit 11 will be briefly described.
[0017]
The analog input unit 11 receives the system electric quantity data A taken from the power system terminal. ₁ , A ₂ , A ₃ Analog filter 110 for attenuating the high-frequency component of the analog signal, a sample-and-hold circuit (not shown) for sampling a signal output from the analog filter 110 for an aliasing error at a predetermined frequency, and an output from the sample-and-hold circuit. A multiplexer 111 for sequentially switching signals of a plurality of channels, an AD converter 112 for digitally converting a signal output from the multiplexer 111, and a digital filter 113 for removing harmonic components of the signal output from the AD converter 112 It is configured. In this relay protection system, the master station 10a periodically sends a sampling synchronization flag to the loop transmission line so that system power data can be taken in from all terminals of the power system at the same time. Sampling synchronization control is performed so that the generation cycle of the sampling signal of the sampling signal generation circuits of the other stations 10b and 10c other than the station 10a is adjusted to the generation cycle of the sampling signal of the sampling signal generation circuit of the master station 10a.
[0018]
In this system, with the above-described configuration of the analog input sections of the stations 10a, 10b, and 10c, the system electric quantity data A ₁ , A ₂ , A ₃ At the same time, and further converted into digital data that can be processed by the first transmission control unit 12a, the second transmission control unit 12b, and the like described below.
[0019]
Next, the relay operation unit 13 and a trip circuit (not shown) will be briefly described.
[0020]
The relay operation unit 13 applies pre-processing such as phase operation processing to the relay operation data output from the serial / parallel converter 123 of the first transmission control unit (that is, sampling data of the system electric quantity taken in from each terminal). Is performed as necessary, and using this, an operation is determined by a well-known relay operation determination formula, and a control signal for the trip circuit is output according to the result. Then, a trip circuit (not shown) outputs a trip command to a circuit breaker of the power system according to a control signal from the relay operation unit 13.
[0021]
Next, according to FIG. 3, a first transmission control unit 12a that processes a common frame transmitted from the downstream route 1000 side, and a second transmission control unit 12b that processes a common frame transmitted from the upstream route 1001 side Will be described.
[0022]
The first transmission control unit 12a and the first transmission control unit 12b each include a counter 120 that counts a transmission clock signal synchronized with the reception clock signal of the transmitted common frame, and a local station included in the transmitted common frame. A parallel / serial converter 121 for adding the local system electric quantity data to a predetermined word of the terminal frame, a RAM 126 storing a test information table described later, and a test information table stored in the RAM 126 when the test is executed. A test transmission data creation unit for creating test transmission data containing a transmission error based on the data, a detection circuit 122 for detecting a transmission system failure, and a detection circuit 122 for detecting a transmission system failure when the detection circuit 122 detects a transmission system failure. A loopback control circuit 125 for executing loopback control. The main parts will be described below.
[0023]
First, the test information tables and the RAM 126 for storing them will be described.
[0024]
In the test information table stored in the RAM 126 having a word length of 32 bits, as shown in FIG. 4, for each test item, CRLT data indicating whether or not a test is to be executed is transmitted together with the transmitted common CRLT data. Test information necessary for creating test transmission data including a predetermined transmission error based on the frame is set. That is, the test information of each test item includes a multi-frame number MF including data that should cause erroneous data at the time of test execution, a frame number F of a terminal-use frame including the data, and the data. A word number W of a word and a bit number B of the data are set in advance, and predetermined data (1 in the present embodiment) is set in CRLT data of a test item to be executed. In the present embodiment, the worker can arbitrarily change the CRLT data of each test item using the external terminal 16a that can access the RAM 126 as needed.
[0025]
Next, the counter 120 will be described.
[0026]
The counter 120 includes a ninth counter 120a (hereinafter, referred to as a first counter) that counts a transmission clock signal synchronized with a reception clock signal of a transmitted common frame, and a 22-decimal counter that counts a carrier signal of the first counter. 120b (hereinafter, referred to as a second counter), a 13-decimal counter 120c (hereinafter, referred to as a third counter) for counting the carrier signal of the second counter, and a 12-decimal counter 120b (for counting the carrier signal of the third counter) Each of the counters 120a, 120b, 120c, and 120d respectively counts the number of signals counted from the time of resetting as 4-bit bit management information and 5-bit word management information. 4, 4-bit frame management information, 4-bit multi-frame management information To and outputs. That is, the parallel / serial converter 121 and the CRC calculation circuit 124 detect the address of the transmitted data by monitoring each management information output from the counter 120.
[0027]
Next, the parallel / serial converter 121 will be described.
[0028]
The parallel / serial converter 121 converts the system electric quantity data digitally converted by the analog input unit 11 into serial data, and uses the data to convert the data into a predetermined word of the terminal frame of its own station of the transmitted common frame. Update stored data. As a result, the system electric quantity data of the own station is added to the common frame to be transmitted to the next station.
[0029]
Next, the test transmission data creation unit will be described.
[0030]
In the test transmission data creation unit, the comparison circuit 127 sequentially compares the test information of each test item set in the test information table of the RAM 126 with the management information output from the counter 120, and according to the result, The two change circuits 128 and 129 generate test transmission data including a transmission error.
[0031]
Specifically, the comparison circuit 127 compares the bit management information output from the counter 120 with the bit number of each test item set in the test information table of the RAM 160, and when the bit numbers match, the active level of the test item is determined. The first comparator 1270a for outputting a signal, the word management information output from the counter 120, and the word number of each test item set in the test information table of the RAM 160 are compared. And the frame management information of each test item output from the counter 120 is compared with the frame number set in the test information table of the RAM 160, and when they match, the second comparator 1270b is activated. A third comparator 1270c that outputs a signal of the level and a multi-frame output from the counter 120. A fourth comparator 1270d that compares the system management information with the multi-frame number set in the test information table of the RAM 160 and outputs an active level signal when they match, and the four comparators 1270a and 1270b. , 1270c, and 1270d output the active level signal only when all the signals output from the counter are active levels, and the value of the word management information output from the counter 120 is either 20 or 21. And an inverter 1275 for inverting the signal output from the decode circuit 1274. The second AND gate 1272 at the subsequent stage is used for testing the RAM 120. In the information table, the CTRL data has a predetermined value (this embodiment). In the state, when 1) is set and both the first AND gate 1271 and the inverter 1275 output an active level signal, a data change command is output to one of the change circuits 128. Has become. On the other hand, the third AND gate 1273 at the subsequent stage has a predetermined value (1 in the present embodiment) set in the CTRL data in the test information table of the RAM 120, and the first AND gate 1271 and the decode circuit 1274 When a signal of an active level is output from both, a CRC change command is output to the other change circuit 129.
[0032]
The one change circuit 128 is constituted by an exclusive OR circuit 1280 which receives a common frame to be transmitted to the next station and a data change command output from the second AND gate 1272 as inputs. When the data change command is output from the AND gate 1272, the data stored in a predetermined word of the terminal terminal frame of the transmitted common frame is inverted. That is, the one change circuit 128 generates test transmission data having erroneous data at the position indicated by the test information of each test item to be executed. Further, the other change circuit 129 outputs a CRC data change command output from the third AND gate 1273 and a CRC code generated using the local system electric quantity data extracted from the test transmission data by the CRC operation circuit 124. And an exclusive OR circuit 1290 having the input as the input. The CRC code generated by the CRC operation circuit 124 is changed only when a CRC data change command is output from the third AND gate 1273. ing. That is, the other change circuit 129 sets the CRC code having an error only when the CTRL data of the test item “CRC check error” in the test information table is set to a predetermined value (1 in the present embodiment). Generate
[0033]
For example, when the test information table as shown in FIG. 4 is used, each unit of the test transmission data creating unit operates as follows. That is, when bit management information “0” is output from the first counter 120a as shown in FIG. 5A, the first comparator 1270a outputs an active level signal as shown in FIG. When the word management information “5” is output from the second counter 120b as shown in FIG. 5B, the second comparator 1270b outputs an active level signal as shown in FIG. 5G. When the frame management information “3” is output from the third counter 120c as shown in FIG. 5C, the third comparator 1270c outputs the active level as shown in FIG. 5H. When the multi-frame management information "1" is output from the fourth counter 120d as shown in FIG. 5D, the fourth comparator 1270d is activated as shown in FIG. 5I. Of level And outputs the issue. When the four comparators 1270a, 1270b, 1270c, and 1270d output the active level signals, the first AND gate 1271 outputs the active level signals as shown in FIG. 5 (j). . On the other hand, when the word management information "21" is output from the second counter 120b as shown in FIG. 5B, the decoding circuit 1274 outputs an active level signal as shown in FIG. Then, a subsequent inverter 1275 inverts the signal. Then, when the CTRL data signal in FIG. 5A is at the active level, and both the first AND gate 1271 and the inverter 1275 output an active level signal, as shown in FIG. Then, the second AND gate 1272 outputs a data change command to one of the change circuits 128. Also, when the CTRL data signal in FIG. 5A is at the active level and both the first AND gate 1271 and the decode circuit 1274 output an active level signal, the signal shown in FIG. As described above, the third AND gate 1273 outputs a CRT change command to the other change circuit 129.
[0034]
As a result, for example, when a common frame as shown in FIG. 5 (n) is input, the test transmission data generator outputs a signal as shown in FIG. 5 (o).
[0035]
Next, the test circuit 122 will be described.
[0036]
The test circuit 122 checks whether the format of the transmitted test transmission data is appropriate, and checks whether the transmitted test transmission data includes a transmission error indicating a failure in the loop transmission path. And outputs a loopback command 3028 and a relay lock command 3027 to the loopback control circuit 125 according to the result. Note that the failure in the loop transmission path mentioned here specifically refers to a failure that has occurred in the first transmission control unit 12a or the second transmission control unit 12b of any one of the relay devices 10a, 10b, and 10c, and an upstream route. 1000 or a fault that has occurred in the down route 1001 itself.
[0037]
Here, an example of a test performed in the present embodiment will be described.
[0038]
(1) CRC check: It is checked whether proper CRC data is stored in the transmitted test transmission data.
[0039]
In order to perform this check, as shown in FIG. 4, a predetermined value (1 in the present embodiment) is added to the CTRL data of the test item “CRC bit error” in the test information table stored in the RAM 160. Set. As a result, in the test transmission data creating unit, the CRC stored in the word w20 of the word number “20” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multiframe MF1 of the multiframe number “1” A transmission error is given to data B7.
[0040]
(2) Fixed bit check: Checks whether transmitted test transmission data contains appropriate fixed bits.
[0041]
In order to perform this check, as shown in FIG. 4, a predetermined value (1 in the present embodiment) is added to the CTRL data of the test item "fixed bit error" in the test information table stored in the RAM 160. Set. As a result, in the test transmission data creation unit described above, the fixed frame stored in the word w2 of the word number “3” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multiframe MF1 of the multiframe number “1”. A transmission error is given to bit data B0.
[0042]
(3) Frame header check: It is checked whether the transmitted test transmission data contains an appropriate frame header.
[0043]
To perform this check, as shown in FIG. 4, a predetermined value (1 in the present embodiment) is added to the CTRL data of the test item "frame header error" in the test information table stored in the RAM 160. Set. As a result, the frame stored in the word w0 of the word number “0” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multiframe MF1 of the multiframe number “1” in the test transmission data creating unit described above. A transmission error is given to the header B7.
[0044]
(4) Frame synchronization check: It is checked whether or not the transmitted test transmission data includes frame numbers in the order.
[0045]
In order to perform this check, as shown in FIG. 4, a predetermined value (1 in the present embodiment) is added to the CTRL data of the test item “frame number error” in the test information table stored in the RAM 160. Set. As a result, the frame stored in the word w1 of the word number “1” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multiframe MF1 of the multiframe number “1” in the test transmission data creating unit described above. A transmission error is given to the number data B7.
[0046]
(5) Multi-frame synchronization check: It is checked whether or not the transmitted test transmission data includes a multi-frame number in order.
[0047]
In order to perform this check, as shown in FIG. 4, a predetermined value (1 in the present embodiment) is added to the CTRL data of the test item "multi-frame number error" in the test information table stored in the RAM 160. Set. As a result, in the test transmission data creation unit described above, the multi-frame stored in the word w2 of the word number “2” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi-frame MF1 of the multi-frame number “1”. A transmission error is given to the frame number data B7.
[0048]
Next, the loopback control circuit 125 will be briefly described.
[0049]
When the loopback command 3028 and the relay lock command 3027 are output from the detection circuit 122, the loopback control circuit 125 performs a loopback control for switching the setting of the master station, the slave station, and the return station after locking the contact circuit. After starting, a new loop transmission line is formed to bypass the section where transmission becomes impossible. After that, when the recovery from the failure is confirmed, the loop-back control is started again to re-form the original loop transmission path.
[0050]
This concludes the description of the basic configuration of the relay protection system according to the present embodiment. In the present embodiment, the position of data at which erroneous data is to be generated when a test is executed is set in the test information table stored in the RAM 126, but this is not always necessary. For example, a numerical value such as system electric quantity data stored in the terminal frame of the own station of the transmitted common frame may be directly set. In this case, an arithmetic circuit for converting the set data into 2 bits is added, and the change circuit places the data output from the arithmetic circuit on the transmitted common data. What should I do?
[0051]
Here, the effects obtained by adopting the relay protection system having such a basic configuration will be summarized.
[0052]
(1) Since a detection circuit for detecting a failure in the transmission system is mounted on the relay device itself, it is not necessary to temporarily remove the relay device, which is a test symmetrical device, from the power system. be able to. Further, it is not necessary to set a power outage date regularly in advance for a field test.
[0053]
(2) Since an actual power system can be used as a test environment, a simulated transmission simulating an actual system is not required. Therefore, a great deal of time and a lot of costs are not spent on creating a test environment. Further, by using the actual power system as the test environment, not only the operation test of the relay alone but also the comprehensive test of the entire control loop of the relay protection system can be performed. Therefore, a data transmission failure or the like in the control loop of the relay protection system can be detected.
[0054]
(3) By selecting desired test information from the test information table, it is possible to set test conditions such as the type of fault and the time interval between occurrences of the fault, so that a large amount of data must be input each time. As compared with the operation test by transmission, the burden on the worker engaged in the field test of the power system is greatly reduced.
[0055]
By the way, in the test of the sampling synchronization control (check of the deviation of the sampling timing of the system electric quantity data), it is necessary to arbitrarily set the distance condition between the relay devices. To this end, as shown in FIG. 6, a delay circuit 601 for delaying test transmission data to be transmitted by an arbitrarily set delay time may be mounted in a stage preceding the loopback control circuit 125 of each relay device. Good. Specifically, the delay circuit 601 includes a shift register 6010 of 2 n bits and a multiplexer 6011 that switches the output of the shift register 6010 according to the set delay time T. That is, each flip-flop 6010a,. . . , 6010p use the signal currently input from the previous stage as its own output signal according to the transmission clock, and the multiplexer 6011 outputs the output of the shift register 6010 to the first stage before the set delay time T. The signal input to the flip-flop 6010a is switched to the currently output m-th flip-flop (m is the ratio (T / t) of the delay time T to the transmission clock cycle t). As a result, the test transmission data to be transmitted can be delayed by the set delay time. In this embodiment, a default value of the delay time is stored in the RAM 600 in advance, and the operator can arbitrarily change the delay time using the external terminal 160a.
[0056]
Further, when performing an operation test for an intermittent failure, it is necessary to transmit test transmission data in a predetermined cycle or randomly. To do so, as shown in FIG. 7, the RAM 700 storing the number of times of activation of the test transmission data section, the activation cycle information (predetermined value or random value), and the ON / OFF parameter, and the test transmission data section are activated. And a control unit 701 for stopping the test transmission data unit. More specifically, the timer 701 starts the test transmission data section at a time interval determined by the start cycle information, and increments the ON / OFF parameter every time the test transmission data section is started. . The control unit 701 stops the test transmission data unit when the ON / OFF parameter becomes equal to the activation count information. As a result, it becomes possible to transmit the test transmission data in a predetermined cycle or a random cycle.
[0057]
In the present embodiment, the operator can arbitrarily change the number of activations and the activation cycle of the test transmission data section stored in the RAM 700 using the external terminal 160a.
[0058]
This concludes the description of the embodiment of the present invention. According to the comprehensive test combining the functions described above, the communication function of the relay protection system for a plurality of communication failures is determined by a predetermined cycle or a random number of times of starting the test transmission data creation unit, a timer 702, And a control unit 701 for controlling the timer 702 according to the set timer information. Note that the timer information referred to here is information that sets a cycle value for transmitting the test transmission data stored in the RAM 165. In the present embodiment, the worker uses the external terminal 160a to This can be changed arbitrarily.
[0059]
This concludes the description of the embodiment of the present invention. According to the comprehensive test combining the functions described here, the communication function of the relay protection system against a plurality of communication failures can be evaluated with higher reliability. If a sequential program for executing a series of operation tests is set up, the above-mentioned comprehensive test can be automated.
[0060]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the relay protection system which concerns on this invention, the comprehensive test of the whole control loop of a relay protection system can be performed with the communication test of a relay device alone. In addition, it is possible to reduce the burden on the workers engaged in the on-site test of the power system. In addition, there is an economic effect that the cost and time required for the relay protection system can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a basic configuration of a relay protection system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram for explaining a format format of a common frame.
FIG. 3 is a diagram showing a basic circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit of FIG. 1;
FIG. 4 is a diagram for explaining a data structure of a test information table.
FIG. 5 is a diagram for explaining a process of a test transmission data creation unit;
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit in FIG. 1;
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit in FIG. 1;
[Explanation of symbols]
1000,1001 ... Optical transmission route
10a, 10b, 10c ... relay device
11 Analog input section
12a: first transmission control unit
12b: second transmission control unit
13 Relay operation unit
14 ... Optical / electrical converter
15 Electric / optical converter
16 ... External terminal
110 ... Analog filter to prevent aliasing error
111 ... Multiplexer
112 ... AD converter
113 ... Digital filter
120 ... Counter
121 ... Parallel / serial converter
122 ... Detection circuit
123 ... Serial / parallel converter
124 ... CRC arithmetic circuit
125 ... Loop back control circuit
126 ... RAM
127: Comparison circuit
128, 129 ... change circuit

Claims

複数の情報通信装置を備え、前記複数の情報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを有する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間で順次伝送する伝送システムに用いられる情報通信装置であって、
前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験用情報を記憶する記憶手段と、
他の情報通信装置から伝送される前記伝送フレームを受信する受信手段と、
前記受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報通信装置が検出したデータを格納する格納手段と、
前記記憶手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更する変更手段と、
前記格納手段により前記変更手段が変更したデータが格納された前記伝送フレームを、他の情報通信装置に伝送する伝送手段とを備えることを特徴とする情報通信装置。An information communication device used in a transmission system including a plurality of information communication devices and sequentially transmitting data detected by the plurality of information communication devices among the plurality of information communication devices using a transmission frame having a predetermined format. hand,
Storage means for storing test information representing a specific area in the transmission frame,
Receiving means for receiving the transmission frame transmitted from another information communication device,
Storage means for storing the data detected by the information communication device in the transmission frame received by the receiving means,
Changing means for changing a value of data stored in the storage means in an area in the transmission frame represented by the position information stored in the storage means;
An information communication device comprising: a transmission unit that transmits the transmission frame, in which the data changed by the change unit is stored by the storage unit, to another information communication device.

複数の情報通信装置を備え、前記複数の情報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを有する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間で順次伝送する伝送システムであって、
前記複数の情報通信装置は、それぞれ、
前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験用情報を記憶する記憶手段と、
他の情報通信装置から伝送される伝送フレームを受信する受信手段と、
前記受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報通信装置が検出したデータを格納する格納手段と、
前記記憶手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更する変更手段と、
前記格納手段により前記変更手段が変更したデータが格納された前記伝送フレームを、他の情報通信装置に伝送する伝送手段とを備えることを特徴とする伝送システム。A transmission system comprising a plurality of information communication devices, a transmission system for sequentially transmitting data detected by the plurality of information communication devices between the plurality of information communication devices using a transmission frame having a predetermined format,
The plurality of information communication devices, respectively,
Storage means for storing test information representing a specific area in the transmission frame,
Receiving means for receiving a transmission frame transmitted from another information communication device,
Storage means for storing the data detected by the information communication device in the transmission frame received by the receiving means,
Changing means for changing a value of data stored in the storage means in an area in the transmission frame represented by the position information stored in the storage means;
A transmission unit for transmitting the transmission frame, in which the data changed by the change unit is stored by the storage unit, to another information communication device.

請求項２記載の伝送システムであって、
前記複数の情報通信装置は、それぞれ、
互いに異なる前記伝送フレーム中の領域を表す試験用情報を複数記憶する前記記憶手段と、
前記記憶手段が記憶する前記複数の試験情報の内の任意の試験用情報の選択を受け付ける受付手段とを備え、
前記変更手段は、前記受付手段が受け付けた選択により選択された試験用情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更することを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 2, wherein
The plurality of information communication devices, respectively,
The storage unit that stores a plurality of pieces of test information representing regions in the transmission frame different from each other,
Receiving means for receiving selection of any test information from the plurality of test information stored in the storage means,
The transmission system, wherein the change unit changes a value of data stored in the storage unit to an area in the transmission frame represented by the test information selected by the selection received by the reception unit.

請求項２または３記載の伝送システムであって、
前記複数の情報通信装置は、それぞれ、
前記記憶手段が記憶する前記試験用情報の内容を、入力されたデータを用いて更新する更新手段を備えることを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 2 or 3,
The plurality of information communication devices, respectively,
A transmission system, comprising: updating means for updating the contents of the test information stored in the storage means using input data.

請求項２、３または４記載の伝送システムであって、
前記伝送手段が伝送する伝送フレームに格納されたデータの値を検定することにより伝送系の不良を検出する検出手段を備えることを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 2, 3, or 4,
A transmission system comprising: a detection unit that detects a transmission system failure by examining a value of data stored in a transmission frame transmitted by the transmission unit.

請求項２、３、４または５記載の伝送システムであって、
遅延時間を記憶する記憶手段と、
前記伝送手段が伝送する前記伝送フレームを、前記記憶手段が記憶する遅延時間だけ遅延させる遅延手段を備えることを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 2, 3, 4, or 5,
Storage means for storing the delay time;
A transmission system comprising a delay unit that delays the transmission frame transmitted by the transmission unit by a delay time stored in the storage unit.

請求項６記載の伝送システムであって、
前記記憶手段が記憶する遅延時間を、入力されたデータを用いて更新する遅延時間更新手段を備えることを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 6, wherein
A transmission system comprising: a delay time updating unit that updates a delay time stored in the storage unit using input data.

請求項２、３、４、６または７記載の伝送システムであって、
前記変更手段が前記伝送フレームのデータを変更する動作を制御する制御手段を備えることを特徴とする伝送システム。The transmission system according to claim 2, 3, 4, 6, or 7,
A transmission system comprising: a control unit that controls an operation of the change unit to change data of the transmission frame.