JPH09289535A - Information communication device - Google Patents
Information communication deviceInfo
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- JPH09289535A JPH09289535A JP8102797A JP10279796A JPH09289535A JP H09289535 A JPH09289535 A JP H09289535A JP 8102797 A JP8102797 A JP 8102797A JP 10279796 A JP10279796 A JP 10279796A JP H09289535 A JPH09289535 A JP H09289535A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、通信継電装置単体
の通信試験機能と、通信リレー保護システム全体の総合
通信試験機能とを兼ね備えた通信リレー保護システムに
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a communication relay protection system having both a communication test function for a single communication relay device and a comprehensive communication test function for the entire communication relay protection system.
【０００２】[0002]
【従来の技術】一般に、通信リレー保護システム(以
下、リレー保護システムと呼ぶ)に配置された通信継電
装置(以下、継電装置と呼ぶ)の通信試験は、電力系統か
ら継電装置単体を一旦取り外してから、これに通信機能
を模擬した試験装置に接続することによって行われる。
尚、ここでいう通信機能を模擬した試験装置（以下、通
信模擬送と呼ぶ）とは、故障の種類や故障発生の時間間
隔等の試験条件が任意に設定された故障シーケンスに従
って継電装置単体の通信試験を実行することが可能な
(即ち、実際の継電装置からの出力データと等価な模擬
通信データを出力することが可能な)装置のことであ
る。このような機能を有する通信模擬送を採用すれば、
通信不良状態における継電装置の通信機能を、より信頼
性高く評価検証することができる。2. Description of the Related Art Generally, a communication test of a communication relay device (hereinafter, referred to as a relay device) arranged in a communication relay protection system (hereinafter, referred to as a relay protection system) is conducted from a power system to a single relay device. It is carried out by removing it once and then connecting it to a test device simulating a communication function.
The test device simulating the communication function (hereinafter, referred to as simulated communication) means a relay device alone in accordance with a failure sequence in which test conditions such as failure type and time interval of failure occurrence are arbitrarily set. It is possible to perform the communication test of
(That is, it is possible to output simulated communication data equivalent to output data from an actual relay device). If you use simulated communication with such functions,
The communication function of the relay device in the communication failure state can be evaluated and verified with higher reliability.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記通信模
擬送による通信継電装置の通信試験には、以下に示すよ
うな欠点がある。However, the communication test of the communication relay device by the above-mentioned simulated communication has the following drawbacks.
【０００４】（１）試験対称である通信継電器を一旦リ
レー保護システムから取り外す必要があるため、通信試
験の前処理や後処理に手間がかかる。(1) Since it is necessary to remove the communication relay having the test symmetry from the relay protection system once, it takes a lot of time to perform the pre-processing and post-processing of the communication test.
【０００５】（２）実際の通信継電器と等価な通信機能
を有する通信模擬送を必要とするため、これの作成に多
大な時間と多大なコストが費やされる。(2) Since a simulated communication having a communication function equivalent to that of an actual communication relay is required, it takes a lot of time and a lot of cost to create the simulated communication.
【０００６】（３）通信継電器の通信試験を行う際に、
その都度、作業者が膨大なデータを入力して、故障の種
類や故障発生の時間間隔等の試験条件を設定し直す必要
がある。そして、こうした煩雑な作業が、リレー保護シ
ステムに従事する作業者の大きな負担となっている。(3) When conducting a communication test of the communication relay,
Each time, the operator needs to input a huge amount of data and reset the test conditions such as the type of failure and the time interval of failure occurrence. And such complicated work puts a heavy burden on the worker who engages in the relay protection system.
【０００７】（４）通信継電器単体の通信試験を行うこ
とはできるが、リレー保護システム全体の総合試験を行
うことはできない。(4) It is possible to perform a communication test of the communication relay alone, but it is not possible to perform a comprehensive test of the entire relay protection system.
【０００８】そこで、本発明は、既存のリレー保護シス
テムに、通信継電装置単体の通信試験機能と、リレー保
護システム全体の総合通信試験機能とを付加することを
一つの目的とする。また、リレー保護システムの現場試
験に従事する作業者の負担を軽減することを一つの目的
とする。Therefore, it is an object of the present invention to add a communication test function for a single communication relay device and a comprehensive communication test function for the entire relay protection system to an existing relay protection system. Another purpose is to reduce the burden on workers engaged in field tests of relay protection systems.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、複数の情報通信装置を備え、前記複数の
情報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを
有する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間
で順次伝送する伝送システムに用いられる情報通信装置
であって、前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験
用情報を記憶する記憶手段と、他の情報通信装置から伝
送される前記伝送フレームを受信する受信手段と、前記
受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報通信
装置が検出したデータを格納する格納手段と、前記記憶
手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送フレーム
中の領域に、前記格納手段が格納するデータの値を変更
する変更手段と、前記格納手段により前記変更手段が変
更したデータが格納された前記伝送フレームを、他の情
報通信装置に伝送する伝送手段とを備えることを特徴と
する情報通信装置を提供する。In order to solve the above problems, the present invention comprises a plurality of information communication devices, and uses a transmission frame having a predetermined format for the data detected by the plurality of information communication devices. An information communication device used in a transmission system for sequentially transmitting between the plurality of information communication devices, comprising: storage means for storing test information indicating a specific area in the transmission frame; and transmission from another information communication device. Receiving means for receiving the transmission frame, storage means for storing data detected by the information communication device in the transmission frame received by the receiving means, and the position information stored in the storage means In the area in the transmission frame, there is a case where the changing means for changing the value of the data stored in the storing means and the data changed by the changing means by the storing means are stored. The transmission frames, to provide an information communication apparatus, characterized in that it comprises a transmitting means for transmitting to another information communication device.
【００１０】また、こうした情報通信装置を複数備えた
処理伝送システムであって、前記複数の情報通信装置
は、それぞれ、互いに異なる前記伝送フレーム中の領域
を表す試験用情報を複数記憶する前記記憶手段と、前記
記憶手段が記憶する前記複数の試験情報の内の任意の試
験用情報の選択を受け付ける受付手段とを備え、前記変
更手段は、前記受付手段が受け付けた選択により選択さ
れた試験用情報が表す前記伝送フレーム中の領域に、前
記格納手段が格納するデータの値を変更することを特徴
とする伝送システムを提供する。Further, in the processing and transmission system provided with a plurality of such information communication devices, the plurality of information communication devices respectively store a plurality of test information representing different areas in the transmission frame. And a reception unit that receives a selection of arbitrary test information from the plurality of pieces of test information stored by the storage unit, wherein the changing unit is the test information selected by the selection received by the reception unit. The transmission system is characterized in that the value of the data stored in the storage means is changed to the area in the transmission frame represented by.
【００１１】[0011]
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照しなが
ら、本発明に係る実施の形態について、ＰＣＭ伝送系を
利用した、電力系統のリレー保護システムに適用した場
合を一例に挙げて説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings, taking as an example the case of being applied to a relay protection system for a power system using a PCM transmission system. .
【００１２】最初に、図１により、本実施の形態に係る
リレー保護システムの基本構成について説明する。First, the basic configuration of the relay protection system according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
【００１３】本システムは、２つの光伝送ルート１００
０，１００１を利用して電気系統の各端子から収集した
系統電気量データ（系統電圧及び系統電流）を用いて作
動保護演算を行う、３つのリレー装置１０ａ，１０ｂ，
１０ｃを備える。そして、後述の共通フレームが伝送さ
れるループ伝送路が形成されるように、予め、３つのリ
レー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃは、それぞれ、後述の
他局１０ｂ，１０ｃに共通フレームを発行する親局１０
ａ、伝送された共通フレームを次局１０ｃに中継する子
局１０ｂ、共通フレームを折り返す折返し局１０ｃの内
のいずれかに設定されている。その結果、親局１０ａか
ら発行された共通フレームは、一方の光伝送ルート（以
下、下りルートと呼ぶ）１０００を通過中に、途中の局
１０ｂ，１０ｃの系統電気量データを収集した後、折り
返し局１０ｃを経由して、他方の光伝送ルート（以下、
上りルートと呼ぶ）１００１を通過中に、下りルート１
０００で収集した全端子の系統電気量データを途中の各
局１０ｃ，１０ｂへと伝送する。尚、ここでいう共通フ
レームとは、図２に示すような形式を有するパケットの
ことである。即ち、共通フレームは、図２（ａ）に示す
ように、ｍ個（本実施の形態では、１２個）のマルチフ
レーム２０ａ，．．，２０ｍから構成されており、各マ
ルチフレーム２０ａ，．．，２０ｍは、図２（ｂ）に示
すように、それぞれ、受信した信号と同期をとるために
必要なプリアンブルＦ０と、電力系統の各端子毎のデー
タを格納するｎ個（本実施の形態では、１２個）の端子
用データフレームＦ１，．．，Ｆｎから構成されてい
る。そして、各端子用フレームＦ１，．．，Ｆｎは、図
２（ｃ）に示すように、所定のデータ（本実施例では、
０）を格納したフレームヘッダｗ０と、既定のデータを
格納するためのワードｗ１，．．．，ｗ２１から構成さ
れており、各ワード２２ａ，．．．，２２ｗは、図２
（ｄ）に示すように、それぞれ、固定ビットデータＢ０
（本実施例では、１）と、８ビットのデータ領域Ｂ
１，．．．，Ｂ８とから構成されている。ここでいうワ
ードに格納される既定のデータとは、例えば、ワードｗ
２０，ｗ２１に格納されるＣＲＣデータや、ワードｗ１
に格納される当該フレームに割り当てられたフレーム番
号や、ワードｗ２に格納される当該フレームを格納する
マルチフレームに割り当てられたマルチフレーム番号等
のことであり、本実施の形態では、これらのデータを利
用して、目的とするリレー保護システムの伝送系の試験
（後述）を実行する。尚、各局間の共通フレームの伝送
においては、左側のフィールドから右側のフィールドへ
順番に、各フィールドに格納されたデータが、最下位ビ
ットを先頭として順次送信される。This system uses two optical transmission routes 100.
Three relay devices 10a, 10b, which perform operation protection calculation using the system electricity quantity data (system voltage and system current) collected from each terminal of the electric system using 0, 1001.
10c is provided. Then, the three relay devices 10a, 10b, and 10c are, in advance, parent stations that issue common frames to other stations 10b and 10c, respectively, which will be described later, so that a loop transmission path for transmitting a common frame described later is formed. 10
a, a slave station 10b that relays the transmitted common frame to the next station 10c, and a return station 10c that returns the common frame. As a result, the common frame issued from the master station 10a is returned while collecting the system electricity amount data of the stations 10b and 10c on the way while passing through one optical transmission route (hereinafter, referred to as a downstream route) 1000. The other optical transmission route (hereinafter,
Calling an up route) 1001 while passing through a down route 1
Then, the system electricity quantity data of all terminals collected at 000 is transmitted to each station 10c, 10b on the way. The common frame mentioned here is a packet having a format as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 2A, the common frames are m (in this embodiment, 12) multi-frames 20a ,. . , 20 m, and each multi-frame 20 a ,. . , 20 m, as shown in FIG. 2B, n preambles F0 necessary for synchronizing with the received signal and n pieces of data for each terminal of the power system (in the present embodiment, , 12) data frames F1 ,. . , Fn. Then, each terminal frame F1 ,. . , Fn are predetermined data (in this embodiment, as shown in FIG.
0) for storing the frame header w0, and words w1 ,. . . , W21, and each word 22a ,. . . , 22w is shown in FIG.
As shown in (d), fixed bit data B0
(1 in this embodiment) and an 8-bit data area B
1,. . . , B8. The default data stored in the word here is, for example, the word w
CRC data stored in 20, 20 and word w1
Is the frame number assigned to the relevant frame stored in, and the multiframe number assigned to the multiframe storing the relevant frame stored in word w2. In the present embodiment, these data are Use it to perform a test of the transmission system of the target relay protection system (described later). In the transmission of the common frame between the stations, the data stored in each field is sequentially transmitted from the left field to the right field, with the least significant bit as the head.
【００１４】さて、３つのリレー装置１０ａ，１０ｂ，
１０ｃは、それぞれ、内蔵するサンプリング信号発生回
路が発生するサンプリング信号に同期して電力系統の端
子から取り込んだ系統電気量データＡ1，Ａ2，Ａ3をデ
ジタル変換するアナログ入力部１１ａと、下りルート１
０００側から伝送された共通フレームを処理する第一伝
送制御部１２ａと、上りルート１００１側から伝送され
た共通フレームを処理する第二伝送制御部１２ｂと、電
力系統の保護のために周知のリレー動作判定を実行する
リレー演算部１３と、下りルート１０００及び上りルー
ト１００１との入出力インターフェースである電気／光
変換器１５及び光／電気変換器１４と、リレー演算部１
３のリレー動作判定に応じて電力系統の遮断器にトリッ
プ指令を出力するトリップ回路（不図示）とから構成さ
れている。尚、本実施の形態では、下りルート１０００
及び上りルート１００１との入出力インターフェースの
仕様は、各リレー装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃ間の結合
形態に応じて定まるものであるので、必ずしも、本実施
の形態のように電気／光変換器と光／電気変換器とが使
用される訳ではない。Now, the three relay devices 10a, 10b,
Reference numeral 10c denotes an analog input section 11a for digitally converting the system electricity quantity data A 1 , A 2 , A 3 fetched from the terminals of the power system in synchronization with a sampling signal generated by a built-in sampling signal generation circuit, and a downlink. Route 1
000 side, a first transmission control unit 12a that processes a common frame transmitted from the 000 side, a second transmission control unit 12b that processes a common frame transmitted from the upstream route 1001 side, and a well-known relay for protecting the power system. The relay operation unit 13 that performs the operation determination, the electric / optical converter 15 and the optical / electrical converter 14 that are the input / output interfaces of the down route 1000 and the up route 1001, and the relay operation unit 1
3 and a trip circuit (not shown) that outputs a trip command to the circuit breaker of the power system according to the relay operation determination. In this embodiment, the down route 1000
Since the specifications of the input / output interface with the upstream route 1001 are determined according to the coupling mode between the relay devices 10a, 10b, 10c, the electrical / optical converter and the optical converter are not necessarily used as in the present embodiment. / No electrical converter is used.
【００１５】以下、上記リレー装置１０ａ，１０ｂ，１
０ｃの構成の内の主要部について説明する。Hereinafter, the relay devices 10a, 10b, 1 will be described.
The main part of the configuration of 0c will be described.
【００１６】まず、アナログ入力部１１について簡単に
説明する。First, the analog input section 11 will be briefly described.
【００１７】アナログ入力部１１は、電力系統の端子か
ら取り込まれた系統電気量データＡ1，Ａ2，Ａ3の高周
波成分を減衰させる折返し誤差防止用アナログフィルタ
１１０と、折返し誤差防止用アナログフィルタ１１０か
ら出力される信号を所定の周波数でサンプリングするサ
ンプルホールド回路（不図示）と、サンプルホールド回
路から出力される複数チャネルの信号を順次を切り換え
るマルチプレクサ１１１と、マルチプレクサ１１１から
出力される信号をデジタル変換するＡＤ変換器１１２
と、ＡＤ変換器１１２から出力される信号の高調波成分
を除去するデジタルフィルタ１１３とから構成されてい
る。尚、本リレー保護システムでは、電力系統の全端子
から系統電力データを同時刻に取り込むことができるよ
うに、親局１０ａ側からループ伝送路へと定期的にサン
プリング同期フラグを送信させて、親局１０ａ以外の他
局１０ｂ，１０ｃのサンプリング信号発生回路のサンプ
リング信号の発生周期を、親局１０ａのサンプリング信
号発生回路のサンプリング信号の発生周期に合わせるサ
ンプリング同期制御を行っている。The analog input unit 11 includes a folding error prevention analog filter 110 for attenuating high frequency components of the system electricity quantity data A 1 , A 2 , A 3 fetched from the terminals of the power system, and a folding error prevention analog filter. A sample and hold circuit (not shown) that samples the signal output from 110 at a predetermined frequency, a multiplexer 111 that sequentially switches the signals of a plurality of channels that are output from the sample hold circuit, and a signal output from the multiplexer 111 that is digital. AD converter 112 for conversion
And a digital filter 113 for removing harmonic components of the signal output from the AD converter 112. In the relay protection system, the master station 10a periodically transmits the sampling synchronization flag to the loop transmission line so that the system power data can be fetched from all terminals of the power system at the same time. Sampling synchronization control is performed so that the generation cycle of the sampling signals of the sampling signal generation circuits of the other stations 10b and 10c other than the station 10a is matched with the generation cycle of the sampling signals of the sampling signal generation circuit of the master station 10a.
【００１８】本システムでは、各局１０ａ，１０ｂ，１
０ｃのアナログ入力部の上記構成によって、電力系統の
全端子から系統電気量データＡ1，Ａ2，Ａ3が同時刻に
取り込まれ、更に、以下に説明する第一伝送制御部１２
ａ及び第二伝送制御部１２ｂ等において処理可能なデジ
タルデータに変換される。In this system, each station 10a, 10b, 1
With the above-described configuration of the analog input unit of 0c, the system electricity amount data A 1 , A 2 , and A 3 are fetched from all terminals of the power system at the same time, and further, the first transmission control unit 12 described below.
a and digital data that can be processed by the second transmission control unit 12b and the like.
【００１９】次に、リレー演算部１３とトリップ回路
（不図示）とについて、簡単に説明する。Next, the relay calculator 13 and the trip circuit (not shown) will be briefly described.
【００２０】リレー演算部１３は、第一伝送制御部のシ
リアル／パラレル変換器１２３から出力されるリレー演
算データ（即ち、各端子から取り込まれた系統電気量の
サンプリングデータ）に、位相演算処理等の前処理を必
要に応じて施した後、これを用いて周知のリレー動作判
定式による動作判定を行い、その結果に応じて、トリッ
プ回路に対する制御信号を出力する。そして、トリップ
回路（不図示）は、リレー演算部１３からの制御信号に
応じて、電力系統の遮断器にトリップ指令を出力する。The relay operation unit 13 uses the relay operation data output from the serial / parallel converter 123 of the first transmission control unit (that is, the sampling data of the system electricity quantity fetched from each terminal), the phase operation processing, etc. After performing the pre-processing as required, the operation determination is performed using the well-known relay operation determination formula, and the control signal to the trip circuit is output according to the result. Then, the trip circuit (not shown) outputs a trip command to the circuit breaker of the electric power system according to the control signal from the relay calculation unit 13.
【００２１】次に、図３により、下りルート１０００側
から伝送されてくる共通フレームを処理する第一伝送制
御部１２ａ、及び、上りルート１００１側から伝送され
てくる共通フレームを処理する第二伝送制御部１２ｂに
ついて説明する。Next, referring to FIG. 3, a first transmission control unit 12a for processing a common frame transmitted from the down route 1000 side and a second transmission for processing a common frame transmitted from the up route 1001 side. The control unit 12b will be described.
【００２２】第一伝送制御部１２ａ及び第一伝送制御部
１２ｂは、伝送されてくる共通フレームの受信クロック
信号に同期した送信クロック信号をカウントするカウン
タ１２０と、伝送されてくる共通フレームに含まれる自
局の端子用フレームの所定のワードに自局の系統電気量
データを付加するパラレル／シリアル変換器１２１と、
後述の試験用情報テーブルが格納されたＲＡＭ１２６
と、試験実行時にＲＡＭ１２６に格納された試験情報テ
ーブルを基に伝送誤りを含んだ試験用伝送データを作成
する試験用伝送データ作成部と、伝送系の不良を検出す
る検出回路１２２と、検出回路１２２が伝送系の不良を
検出した場合に後述のループバック制御を実行するルー
プバック制御回路１２５とを備える。以下、主要部につ
いて、それぞれ説明する。The first transmission control unit 12a and the first transmission control unit 12b are included in the counter 120 which counts the transmission clock signal synchronized with the reception clock signal of the transmission common frame and the transmission common frame. A parallel / serial converter 121 for adding systematic electricity amount data of the own station to a predetermined word of the terminal frame of the own station,
RAM 126 in which a test information table described later is stored
A test transmission data creation unit that creates test transmission data including a transmission error based on the test information table stored in the RAM 126 during the test execution; a detection circuit 122 that detects a defect in the transmission system; and a detection circuit. A loopback control circuit 125 that executes a loopback control to be described later when 122 detects a defect in the transmission system. The main parts will be described below.
【００２３】まず、試験用情報テーブルと、これらを格
納するＲＡＭ１２６について説明する。First, the test information table and the RAM 126 for storing these will be described.
【００２４】語長３２ビットのＲＡＭ１２６に格納され
た試験用情報テーブルには、図４に示すように、各試験
項目毎に、それぞれ、試験を実行するか否かを表すＣＲ
ＬＴデータと、伝送されてくる共通フレームを基に所定
の伝送誤りを含む試験用伝送データを作成するために必
要な試験情報が設定されている。即ち、各試験項目の試
験情報には、試験実行時に誤データを生じさせるべきデ
ータを含むマルチフレームの番号ＭＦと、当該データを
含む自局の端子用フレームのフレーム番号Ｆと、当該デ
ータを含むワードのワード番号Ｗと、当該データのビッ
ト番号Ｂとが予め設定されており、実行すべき試験項目
のＣＲＬＴデータには、所定のデータ（本実施の形態で
は、１）が設定されている。尚、本実施の形態では、作
業者が、必要に応じて、当該ＲＡＭ１２６にアクセス可
能な外部端末１６ａを用いて各試験項目のＣＲＬＴデー
タを任意に変更することができるようになっている。In the test information table stored in the RAM 126 having a word length of 32 bits, as shown in FIG. 4, a CR indicating whether or not the test is executed for each test item.
The test information necessary to create test transmission data including a predetermined transmission error based on the LT data and the transmitted common frame is set. That is, the test information of each test item includes a multi-frame number MF including data that should cause erroneous data at the time of test execution, a frame number F of a terminal frame of its own station including the data, and the data. A word number W of a word and a bit number B of the data are set in advance, and predetermined data (1 in the present embodiment) is set in the CRLT data of the test item to be executed. In the present embodiment, the operator can arbitrarily change the CRLT data of each test item by using the external terminal 16a that can access the RAM 126, if necessary.
【００２５】次に、カウンタ１２０について説明する。Next, the counter 120 will be described.
【００２６】カウンタ１２０は、伝送されてくる共通フ
レームの受信クロック信号に同期した送信クロック信号
をカウントする９進カウンタ１２０ａ（以下、第一カウ
ンタと呼ぶ）と、第一カウンタのキャリア信号をカウン
トする２２進カウンタ１２０ｂ（以下、第二カウンタと
呼ぶ）と、第二カウンタのキャリア信号をカウントする
１３進カウンタ１２０ｃ（以下、第三カウンタと呼ぶ）
と、第三カウンタのキャリア信号をカウントする１２進
カウンタ１２０ｂ（以下、第四カウンタと呼ぶ）とから
構成されており、各カウンタ１２０ａ，１２０ｂ，１２
０ｃ，１２０ｄが、それぞれ、リセット時点からカウン
トした信号数を、４ビットのビット管理情報、５ビット
のワード管理情報、４ビットのフレーム管理情報、４ビ
ットのマルチフレーム管理情報として出力するようにな
っている。即ち、パラレル／シリアル変換器１２１及び
ＣＲＣ演算回路１２４は、カウンタ１２０から出力され
る各管理情報を監視することにより、伝送されてくるデ
ータのアドレスを検出するようになっている。The counter 120 counts a 9-ary counter 120a (hereinafter, referred to as a first counter) that counts a transmission clock signal synchronized with a reception clock signal of a transmitted common frame, and a carrier signal of the first counter. A binary counter 120b (hereinafter referred to as the second counter) and a 13-ary counter 120c (hereinafter referred to as the third counter) that counts the carrier signal of the second counter.
And a binary counter 120b (hereinafter referred to as a fourth counter) that counts the carrier signal of the third counter, and each counter 120a, 120b, 12
0c and 120d respectively output the number of signals counted from the reset time as 4-bit bit management information, 5-bit word management information, 4-bit frame management information, 4-bit multi-frame management information. ing. That is, the parallel / serial converter 121 and the CRC calculation circuit 124 detect the address of the transmitted data by monitoring each management information output from the counter 120.
【００２７】次に、パラレル／シリアル変換器１２１に
ついて説明する。Next, the parallel / serial converter 121 will be described.
【００２８】パラレル／シリアル変換器１２１は、アナ
ログ入力部１１でデジタル変換された系統電気量データ
をシリアル変換した後、これを用いて、伝送されてくる
共通フレームの自局の端子用フレームの所定のワードに
格納されているデータを更新する。その結果、次局に伝
送すべき共通フレームには、自局の系統電気量データが
付加される。The parallel / serial converter 121 serial-converts the system electricity quantity data digitally converted by the analog input section 11 and then uses this data to determine a predetermined terminal frame for the terminal of the transmitted common frame. Update the data stored in the word. As a result, the systematic electricity amount data of the own station is added to the common frame to be transmitted to the next station.
【００２９】次に、試験用伝送データ作成部について説
明する。Next, the test transmission data creating section will be described.
【００３０】試験用伝送データ作成部では、比較回路１
２７が、ＲＡＭ１２６の試験情報テーブルに設定された
各試験項目の試験情報とカウンタ１２０から出力された
各管理情報とを順次比較し、その結果に応じて、２つの
変更回路１２８，１２９が、伝送誤りを含む試験用送信
データを生成する。In the test transmission data creation section, the comparison circuit 1
27 sequentially compares the test information of each test item set in the test information table of the RAM 126 with each management information output from the counter 120, and the two change circuits 128, 129 transmit the change information 128, 129 according to the result. Generate test transmission data that contains errors.
【００３１】具体的には、比較回路１２７は、カウンタ
１２０から出力されるビット管理情報とＲＡＭ１６０の
試験用情報テーブルに設定された各試験項目のビット番
号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベル
の信号を出力する第一比較器１２７０ａと、カウンタ１
２０から出力されるワード管理情報とＲＡＭ１６０の試
験用情報テーブルに設定された各試験項目のワード番号
とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベルの
信号を出力する第二比較器１２７０ｂと、カウンタ１２
０から出力される各試験項目のフレーム管理情報とＲＡ
Ｍ１６０の試験用情報テーブルに設定されたフレーム番
号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベル
の信号を出力する第三比較器１２７０ｃと、カウンタ１
２０から出力されるマルチフレーム管理情報とＲＡＭ１
６０の試験用情報テーブルに設定されたマルチフレーム
番号とを比較して両者が一致した時点でアクティブレベ
ルの信号を出力する第四比較器１２７０ｄと、上記４つ
の比較器１２７０ａ，１２７０ｂ，１２７０ｃ，１２７
０ｄから出力される信号が全てアクティブレベルの場合
にのみアクティブレベルの信号を出力する第一ＡＮＤゲ
ート１２７１と、カウンタ１２０から出力されるワード
管理情報の値が２０又は２１の何れか一方の値である場
合にアクティブレベルの信号を出力するデコード回路１
２７４と、デコード回路１２７４から出力された信号を
反転するインバータ１２７５とを備えており、後段の第
二ＡＮＤゲート１２７２は、ＲＡＭ１２０の試験用情報
テーブルにＣＴＲＬデータに所定の値（本実施の形態で
は、１）が設定されており、且つ、第一ＡＮＤゲート１
２７１とインバータ１２７５とから共にアクティブレベ
ルの信号が出力されている場合に、一方の変更回路１２
８にデータ変更指令を出力するようになっている。一
方、後段の第三ＡＮＤゲート１２７３は、ＲＡＭ１２０
の試験用情報テーブルにＣＴＲＬデータに所定の値（本
実施の形態では、１）が設定されており、且つ、第一Ａ
ＮＤゲート１２７１とデコード回路１２７４とから共に
アクティブレベルの信号が出力されている場合に、他方
の変更回路１２９にＣＲＣ変更指令を出力するようにな
っている。Specifically, the comparison circuit 127 compares the bit management information output from the counter 120 with the bit number of each test item set in the test information table of the RAM 160, and when they match each other. A first comparator 1270a which outputs an active level signal, and a counter 1
A second comparator 1270b which compares the word management information output from the memory 20 with the word number of each test item set in the test information table of the RAM 160 and outputs an active level signal when the two match. Counter 12
Frame management information and RA of each test item output from 0
A third comparator 1270c that outputs a signal of an active level when the frame numbers set in the test information table of M160 are compared with each other and the counter 1
Multi-frame management information output from 20 and RAM1
A fourth comparator 1270d that compares the multi-frame numbers set in the test information table of 60 and outputs an active level signal when the two match, and the four comparators 1270a, 1270b, 1270c, 127.
The first AND gate 1271 which outputs an active level signal only when all the signals output from 0d are active levels, and the value of the word management information output from the counter 120 is either 20 or 21. Decoding circuit 1 that outputs an active level signal when there is
274 and an inverter 1275 that inverts the signal output from the decoding circuit 1274. The second AND gate 1272 in the subsequent stage has a predetermined value (in the present embodiment, a predetermined value for the CTRL data in the test information table of the RAM 120). 1) is set and the first AND gate 1
When the active level signal is output from both 271 and the inverter 1275, one of the change circuits 12
A data change command is output to 8. On the other hand, the third AND gate 1273 in the subsequent stage is
A predetermined value (1 in the present embodiment) is set in the CTRL data in the test information table of No. 1 and the first A
When both the ND gate 1271 and the decoding circuit 1274 output an active level signal, a CRC change command is output to the other change circuit 129.
【００３２】さて、一方の変更回路１２８は、次局へと
伝送すべき共通フレームと第二ＡＮＤゲート１２７２か
ら出力されるデータ変更指令とを入力とする排他的論理
和回路１２８０により構成されており、第二ＡＮＤゲー
ト１２７２からデータ変更指令が出力された時点で、伝
送されてくる共通フレームの自局の端子用フレームの所
定のワードに格納されているデータを反転するようなっ
ている。つまり、一方の変更回路１２８は、実行すべき
各試験項目の試験情報が示す位置に誤データを持った試
験用伝送データを生成する。また、他方の変更回路１２
９は、第三ＡＮＤゲート１２７３から出力されたＣＲＣ
データ変更指令と、ＣＲＣ演算回路１２４が試験用伝送
データから抽出した自局の系統電気量データを用いて作
成したＣＲＣコードとを入力とする排他的論理和回路１
２９０から構成されており、第三ＡＮＤゲート１２７３
からＣＲＣデータ変更指令が出力された場合にのみ、Ｃ
ＲＣ演算回路１２４が作成したＣＲＣコードを変更する
ようになっている。つまり、他方の変更回路１２９は、
試験用情報テーブルの試験項目「ＣＲＣチェックエラ
ー」のＣＴＲＬデータに所定に値（本実施の形態では、
１）が設定されている場合のみ、誤りを持つＣＲＣコー
ドを生成する。The one change circuit 128 is composed of an exclusive OR circuit 1280 which receives the common frame to be transmitted to the next station and the data change command output from the second AND gate 1272. When the data change command is output from the second AND gate 1272, the data stored in the predetermined word of the terminal frame of the own station of the transmitted common frame is inverted. That is, the one change circuit 128 generates test transmission data having erroneous data at the position indicated by the test information of each test item to be executed. The other change circuit 12
9 is the CRC output from the third AND gate 1273
An exclusive OR circuit 1 that inputs a data change command and a CRC code created by the CRC calculation circuit 124 using the system electricity quantity data of the own station extracted from the test transmission data.
The second AND gate 1273, which is composed of 290
Only when the CRC data change command is output from
The CRC code created by the RC operation circuit 124 is changed. That is, the other change circuit 129 is
A predetermined value is set in the CTRL data of the test item “CRC check error” in the test information table (in the present embodiment,
Only when 1) is set, a CRC code having an error is generated.
【００３３】例えば、図４に示したような試験用情報テ
ーブルを用いた場合には、以上の試験用伝送データ作成
部の各部は、以下のように動作する。即ち、図５（ａ）
に示すように第一カウンタ１２０ａからビット管理情報
「０」が出力されている場合に、図５（ｆ）に示すよう
に第一比較器１２７０ａがアクティブレベルの信号を出
力し、図５（ｂ）に示すように第二カウンタ１２０ｂか
らワード管理情報「５」が出力されている場合に、図５
（ｇ）に示すように第二比較器１２７０ｂがアクティブ
レベルの信号を出力し、図５（ｃ）に示すように第三カ
ウンタ１２０ｃからフレーム管理情報「３」が出力され
ている場合に、図５（ｈ）に示すように第三比較器１２
７０ｃがアクティブレベルの信号を出力し、図５（ｄ）
に示すように第四カウンタ１２０ｄからマルチフレーム
管理情報「１」が出力されている場合に、図５（ｉ）に
示すように第四比較器１２７０ｄがアクティブレベルの
信号を出力する。そして、上記４つの比較器１２７０
ａ，１２７０ｂ，１２７０ｃ，１２７０ｄから共にアク
ティブレベルの信号が出力されている場合に、図５
（ｊ）に示すように第一ＡＮＤゲート１２７１がアクテ
ィブレベルの信号を出力する。一方、図５（ｂ）に示す
ように第二カウンタ１２０ｂからワード管理情報「２
１」が出力されている場合に、図５（ｋ）に示すよう
に、デコード回路１２７４がアクティブレベルの信号を
出力し、後段のインバータ１２７５が、その信号を反転
する。そして、図５（ａ）のＣＴＲＬデータ信号がアク
ティブレベルであり、且つ、第一ＡＮＤゲート１２７１
とインバータ１２７５とから共にアクティブレベルの信
号が出力されている場合に、図５（ｌ）に示すように第
二ＡＮＤゲート１２７２が、一方の変更回路１２８にデ
ータ変更指令を出力する。また、図５（ａ）のＣＴＲＬ
データ信号がアクティブレベルであり、且つ、第一ＡＮ
Ｄゲート１２７１とデコード回路１２７４とから共にア
クティブレベルの信号が出力されている場合に、図５
（ｍ）に示すように第三ＡＮＤゲート１２７３が、他方
の変更回路１２９にＣＲＴ変更指令を出力する。For example, when the test information table as shown in FIG. 4 is used, each unit of the test transmission data creation unit described above operates as follows. That is, FIG. 5 (a)
5B, when the bit management information “0” is output from the first counter 120a, the first comparator 1270a outputs an active level signal as shown in FIG. 5) when the word management information “5” is output from the second counter 120b as shown in FIG.
When the second comparator 1270b outputs an active level signal as shown in (g) and the frame management information "3" is output from the third counter 120c as shown in FIG. 5 (c), As shown in FIG. 5 (h), the third comparator 12
70c outputs an active level signal, and FIG.
When the multi-frame management information "1" is output from the fourth counter 120d as shown in Fig. 5, the fourth comparator 1270d outputs an active level signal as shown in Fig. 5 (i). Then, the above four comparators 1270
When a signal of active level is output from all of a, 1270b, 1270c, and 1270d, FIG.
As shown in (j), the first AND gate 1271 outputs an active level signal. On the other hand, as shown in FIG. 5B, the word management information “2
When "1" is output, as shown in FIG. 5 (k), the decoding circuit 1274 outputs an active level signal, and the inverter 1275 in the subsequent stage inverts the signal. Then, the CTRL data signal of FIG. 5A is at the active level, and the first AND gate 1271
When an active level signal is output from both the inverter 1275 and the inverter 1275, the second AND gate 1272 outputs a data change command to the one change circuit 128 as shown in FIG. In addition, the CTRL of FIG.
The data signal is at the active level and the first AN
When both the D gate 1271 and the decoding circuit 1274 output an active level signal,
As shown in (m), the third AND gate 1273 outputs a CRT change command to the other change circuit 129.
【００３４】その結果、例えば、図５（ｎ）に示すよう
な共通フレームが入力されると、試験用伝送データ作成
部は、図５（ｏ）に示すような信号を出力する。As a result, for example, when a common frame as shown in FIG. 5 (n) is input, the test transmission data creating section outputs a signal as shown in FIG. 5 (o).
【００３５】次に、検定回路１２２について説明する。Next, the verification circuit 122 will be described.
【００３６】検定回路１２２では、伝送されてくる試験
用伝送データのフォーマットが適正であるか否かの検査
と、伝送されてくる試験用伝送データにループ伝送路の
障害を表す伝送誤りが含まれるか否かの検査を行い、そ
の結果に応じて、ループバック制御回路１２５に対し
て、ループバック指令３０２８と、リレーロック指令３
０２７を出力する。尚、ここでいうループ伝送路の障害
とは、具体的には、いずれかのリレー装置１０ａ，１０
ｂ，１０ｃの第一伝送制御部１２ａ又は第二伝送制御部
１２ｂに発生した障害や、上りルート１０００又は下り
ルート１００１自体に発生した障害等のことである。In the verification circuit 122, it is checked whether the format of the transmitted test transmission data is proper, and the transmitted test transmission data includes a transmission error indicating a failure of the loop transmission line. It is inspected whether or not the loopback command 3028 and the relay lock command 3 are issued to the loopback control circuit 125.
027 is output. It should be noted that the failure of the loop transmission path mentioned here is specifically one of the relay devices 10a and 10
b and 10c, a failure that has occurred in the first transmission control unit 12a or the second transmission control unit 12b, a failure that has occurred in the up route 1000 or the down route 1001 itself, and the like.
【００３７】ここで、本実施の形態で行う試験の一例を
挙げておく。Here, an example of the test performed in the present embodiment will be given.
【００３８】（１）ＣＲＣチェック：伝送されてくる試
験用伝送データに適正なＣＲＣデータが格納されている
か否かを検査する。(1) CRC check: It is inspected whether proper CRC data is stored in the transmitted test transmission data.
【００３９】尚、本チェックを行うためには、図４に示
すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブル
の試験項目「ＣＲＣビットエラー」のＣＴＲＬデータに
所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結
果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフ
レーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフ
レーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号
「２０」のワードｗ２０に格納されたＣＲＣデータＢ７
に伝送誤りが与えられる。In order to perform this check, as shown in FIG. 4, the CTRL data of the test item "CRC bit error" in the test information table stored in the RAM 160 has a predetermined value (in the present embodiment, Set 1). As a result, the CRC stored in the word w20 of the word number “20” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi-frame MF1 of the multi-frame number “1” in the test transmission data creation unit described above. Data B7
Is given a transmission error.
【００４０】（２）固定ビットチェック：伝送されてく
る試験用伝送データに適正な固定ビットが含まれている
か否かを検査する。(2) Fixed bit check: It is checked whether or not the transmitted test transmission data includes proper fixed bits.
【００４１】尚、本チェックを行うためには、図４に示
すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブル
の試験項目「固定ビットエラー」のＣＴＲＬデータに所
定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結
果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフ
レーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフ
レーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号
「３」のワードｗ２に格納された固定ビットデータＢ０
に伝送誤りが与えられる。In order to perform this check, as shown in FIG. 4, the CTRL data of the test item "fixed bit error" in the test information table stored in the RAM 160 has a predetermined value (in the present embodiment, Set 1). As a result, the fixed data stored in the word w2 of the word number “3” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi-frame MF1 of the multi-frame number “1” in the test transmission data creation unit described above. Bit data B0
Is given a transmission error.
【００４２】（３）フレームヘッダチェック：伝送され
てくる試験用伝送データに適正なフレームヘッダが含ま
れているか否かを検査する。(3) Frame header check: It is checked whether or not the transmitted test transmission data includes a proper frame header.
【００４３】尚、本チェックを行うためには、図４に示
すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブル
の試験項目「フレームヘッダエラー」のＣＴＲＬデータ
に所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その
結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチ
フレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれる
フレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号
「０」のワードｗ０に格納されたフレームヘッダＢ７に
伝送誤りが与えられる。In order to perform this check, as shown in FIG. 4, the CTRL data of the test item “frame header error” in the test information table stored in the RAM 160 has a predetermined value (in the present embodiment, Set 1). As a result, the frame stored in the word w0 of the word number “0” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi-frame MF1 of the multi-frame number “1” in the test transmission data creation unit described above. A transmission error is given to the header B7.
【００４４】（４）フレーム同期チェック：伝送されて
くる試験用伝送データに順番通りのフレーム番号が含ま
れているか否かを検査する。(4) Frame synchronization check: It is inspected whether or not the transmitted test transmission data includes the frame numbers in order.
【００４５】尚、本チェックを行うためには、図４に示
すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブル
の試験項目「フレーム番号エラー」のＣＴＲＬデータに
所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。その結
果、前述の試験用伝送データ作成部において、マルチフ
レーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含まれるフ
レーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード番号
「１」のワードｗ１に格納されたフレーム番号データＢ
７に伝送誤りが与えられる。In order to perform this check, as shown in FIG. 4, the CTRL data of the test item "frame number error" in the test information table stored in the RAM 160 has a predetermined value (in the present embodiment, Set 1). As a result, the frame stored in the word w1 of the word number “1” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi-frame MF1 of the multi-frame number “1” in the test transmission data creation unit described above. Number data B
7 is given a transmission error.
【００４６】（５）マルチフレーム同期チェック：伝送
されてくる試験用伝送データに順番通りのマルチフレー
ム番号が含まれているか否かを検査する。(5) Multi-frame synchronization check: It is checked whether or not the transmitted test transmission data includes multi-frame numbers in order.
【００４７】尚、本チェックを行うためには、図４に示
すように、ＲＡＭ１６０に格納された試験情報テーブル
の試験項目「マルチフレーム番号エラー」のＣＴＲＬデ
ータに所定の値（本実施の形態では、１）を設定する。
その結果、前述の試験用伝送データ作成部において、マ
ルチフレーム番号「１」のマルチフレームＭＦ１に含ま
れるフレーム番号「３」の端子用フレームＦ３のワード
番号「２」のワードｗ２に格納されたマルチフレーム番
号データＢ７に伝送誤りが与えられる。In order to perform this check, as shown in FIG. 4, the CTRL data of the test item "multi-frame number error" in the test information table stored in the RAM 160 has a predetermined value (in the present embodiment, a predetermined value). 1) is set.
As a result, in the test transmission data creation unit described above, the multi stored in the word w2 of the word number “2” of the terminal frame F3 of the frame number “3” included in the multi frame MF1 of the multi frame number “1”. A transmission error is given to the frame number data B7.
【００４８】次に、ループバック制御回路１２５につい
て簡単に説明する。Next, the loopback control circuit 125 will be briefly described.
【００４９】検出回路１２２からループバック指令３０
２８とリレーロック指令３０２７とが出力されると、ル
ープバック制御回路１２５は、接点回路をロックした
後、主局、子局、折返し局の設定を切り替えるループバ
ック制御を開始して、伝送不可能となった区間を迂回す
る新たなループ伝送路を形成する。そして、その後、障
害の復旧が確認されたら、再度ループバック制御を開始
して、当初のループ伝送路を再形成するようになってい
る。Loopback command 30 from detection circuit 122
When 28 and the relay lock command 3027 are output, the loopback control circuit 125 locks the contact circuit and then starts the loopback control for switching the settings of the main station, the slave station, and the return station, and transmission is impossible. A new loop transmission line that bypasses the section that becomes is formed. Then, after that, when the recovery of the fault is confirmed, the loopback control is started again to re-form the original loop transmission line.
【００５０】以上で、本実施の形態に係るリレー保護シ
ステムの基本構成についての説明を終る。尚、本実施の
形態では、ＲＡＭ１２６に格納された試験用情報テーブ
ルには、試験実行時に誤データを生じさせるべきデータ
の位置を設定しているが、必ずしもこのようにする必要
はない。例えば、伝送されてくる共通フレームの自局の
端子用フレームに格納する系統電気量データ等の数値を
直接設定しても構わない。尚、このようにする場合に
は、上記設定されたデータを２ビットに換算する演算回
路を追加して、変更回路が、演算回路から出力されるデ
ータを、伝送されてくる共通データにのせるようにすれ
ばよい。This completes the description of the basic configuration of the relay protection system according to the present embodiment. In the present embodiment, the test information table stored in the RAM 126 is set with the position of data that should cause erroneous data during test execution, but this need not always be the case. For example, the numerical value of the system electricity quantity data or the like stored in the terminal frame of the local station of the transmitted common frame may be directly set. In this case, an arithmetic circuit for converting the set data into 2 bits is added, and the change circuit puts the data output from the arithmetic circuit on the transmitted common data. You can do it like this.
【００５１】ここで、こうした基本構成を備えたリレー
保護システムを採用することにより得られる効果につい
て纏めておく。Here, the effects obtained by adopting the relay protection system having such a basic structure will be summarized.
【００５２】（１）伝送系の不良を検出する検出回路を
リレー装置自体に搭載しているため、試験対称であるリ
レー装置を一旦電力系統から取り外す必要がないので、
電力系統の現場試験を、手際よく行うことができる。ま
た、現場試験のために予め定期的に停電日を設定してお
く必要もなくなる。(1) Since a detection circuit for detecting a defect in the transmission system is mounted on the relay device itself, it is not necessary to temporarily remove the test symmetric relay device from the power system.
The field test of the electric power system can be performed effectively. Further, it is not necessary to set a power failure date in advance for the field test.
【００５３】（２）実際の電力系統を試験環境とするこ
とが可能なので、実系統を模擬した模擬送が必要ない。
従って、試験環境を作成するために、多大な時間と多大
なコストが費やされることはない。また、実際の電力系
統を試験環境とすることにより、継電器単体の動作試験
のみならず、リレー保護システムの制御ループ全体の総
合試験を行うことができる。従って、リレー保護システ
ムの制御ループにおけるデータの伝送不良等も検出する
ことができる。(2) Since an actual power system can be used as a test environment, it is not necessary to carry out simulated transmission that simulates the actual system.
Therefore, a great deal of time and a great amount of money is not spent to create the test environment. Further, by using the actual power system as the test environment, not only the operation test of the relay alone but also the comprehensive test of the entire control loop of the relay protection system can be performed. Therefore, it is possible to detect a data transmission failure or the like in the control loop of the relay protection system.
【００５４】（３）試験用情報テーブルから所望の試験
情報を選択すれば、故障の種類や故障発生の時間間隔等
の試験条件を設定することができるので、膨大なデータ
の入力をその都度必要とする模擬送による動作試験に比
べて、電力系統の現場試験に従事する作業者の負担が大
幅に軽減される。(3) If desired test information is selected from the test information table, test conditions such as the type of failure and the time interval of failure occurrence can be set, so enormous data input is required each time. Compared with the operation test by simulated transmission, the burden on the worker engaged in the field test of the power system is significantly reduced.
【００５５】ところで、サンプリング同期制御の試験
（系統電気量データのサンプリングタイミングのずれの
チェック）においては、各リレー装置間の距離条件を任
意に設定する必要がある。そのためには、図６に示した
ように、各リレー装置のループバック制御回路１２５の
前段に、伝送すべき試験用伝送データを任意に設定され
た遅延時間だけ遅延させる遅延回路６０１を搭載すれば
よい。具体的は、遅延回路６０１は、２のｎ乗ビットの
シフトレジスタ６０１０と、設定された遅延時間Ｔに応
じてシフトレジスタ６０１０の出力を切り替えるマルチ
プレクサ６０１１とから構成されている。即ち、シフト
レジスタ６０１０の各フリッップフロップ６０１０
ａ，．．．，６０１０ｐは、送信クロックに応じて、現
在前段から入力されている信号を自身の出力信号とし、
マルチプレクサ６０１１は、シフトレジスタ６０１０の
出力を、上記設定された遅延時間Ｔだけ前に１段目のフ
リップフロップ６０１０ａに入力された信号を現在出力
しているｍ段目のフリップフロップに切り替える（尚、
ｍは、送信クロック周期ｔに対する遅延時間Ｔの比（Ｔ
／ｔ）である）。その結果、伝送すべき試験用伝送デー
タは、設定された遅延時間だけ遅延することができる。
尚、本実施の形態では、ＲＡＭ６００に予め遅延時間の
デフォルト値が格納されており、作業者が外部端末１６
０ａを用いて、これを任意に変更することができるよう
になっている。By the way, in the test of sampling synchronization control (check of deviation of sampling timing of system electricity quantity data), it is necessary to arbitrarily set the distance condition between the relay devices. For that purpose, as shown in FIG. 6, if a delay circuit 601 that delays the test transmission data to be transmitted by an arbitrarily set delay time is installed in the preceding stage of the loopback control circuit 125 of each relay device. Good. Specifically, the delay circuit 601 includes a shift register 6010 having 2 to the n-th power bit and a multiplexer 6011 that switches the output of the shift register 6010 according to the set delay time T. That is, each flip-flop 6010 of the shift register 6010
a,. . . , 6010p uses the signal currently input from the previous stage as its own output signal according to the transmission clock,
The multiplexer 6011 switches the output of the shift register 6010 to the m-th stage flip-flop that is currently outputting the signal input to the first-stage flip-flop 6010a before the set delay time T (note that
m is the ratio of the delay time T to the transmission clock cycle t (T
/ T)). As a result, the test transmission data to be transmitted can be delayed by the set delay time.
In the present embodiment, the default value of the delay time is stored in advance in the RAM 600, so that the worker can use the external terminal 16
This can be arbitrarily changed by using 0a.
【００５６】また、間欠的に発生する障害に対する動作
試験を行う場合には、所定のサイクルまたはランダムに
試験用伝送データを伝送する必要がある。そのために
は、図７に示すように、試験用伝送データ部の起動回数
情報と起動サイクル情報（所定値またはランダム値）と
ＯＮ／ＯＦＦパラメータとを格納したＲＡＭ７００と、
試験用伝送データ部を起動するタイマ７０２と、試験用
伝送データ部を停止する制御部７０１とを搭載する必要
がある。より具体的には、タイマ７０１は、起動サイク
ル情報により定まる時間間隔で試験用伝送データ部を起
動すると共に、試験用伝送データ部を起動する毎にＯＮ
／ＯＦＦパラメータをインクリメントするようになって
いる。そして、制御部７０１は、ＯＮ／ＯＦＦパラメー
タが起動回数情報と等しくなった時点で、試験用伝送デ
ータ部を停止するようになっている。その結果、所定の
サイクルまたはランダムなサイクルで試験用伝送データ
を伝送することが可能となる。Further, when performing an operation test for an intermittently occurring failure, it is necessary to transmit the test transmission data in a predetermined cycle or randomly. To this end, as shown in FIG. 7, a RAM 700 that stores information on the number of times of activation of the test transmission data section, activation cycle information (a predetermined value or a random value), and ON / OFF parameters,
It is necessary to mount a timer 702 for starting the test transmission data section and a control section 701 for stopping the test transmission data section. More specifically, the timer 701 activates the test transmission data section at a time interval determined by the activation cycle information, and is turned on each time the test transmission data section is activated.
The / OFF parameter is incremented. Then, the control unit 701 stops the test transmission data unit when the ON / OFF parameter becomes equal to the activation count information. As a result, it becomes possible to transmit the test transmission data in a predetermined cycle or a random cycle.
【００５７】尚、本実施の形態では、作業者が、外部端
末１６０ａを用いて、ＲＡＭ７００に格納された試験用
伝送データ部の起動回数と起動サイクルをそれぞれ任意
に変更することができるようになっている。In this embodiment, the worker can arbitrarily change the number of times of activation and the number of activation cycles of the test transmission data section stored in the RAM 700 by using the external terminal 160a. ing.
【００５８】以上で、本発明に係る実施の形態について
の説明を終る。尚、ここで説明した機能を組み合わせた
総合試験によれば、複数の通信不良に対するリレー保護
システムの通信機能を、所定のサイクル又はランダムに
試験用送信データ作成部を起動する回数と、タイマ７０
２と、設定されたタイマ情報に応じてタイマ７０２を制
御する制御部７０１とを搭載する必要がある。尚、ここ
でいうタイマ情報とは、ＲＡＭ１６５に格納された、試
験用伝送データを伝送するサイクル値を設定した情報の
ことであり、本実施の形態では、作業者が外部端末１６
０ａを用いて、これを任意に変更することができるよう
になっている。This is the end of the description of the embodiment according to the present invention. According to the comprehensive test combining the functions described here, the communication function of the relay protection system against a plurality of communication failures is determined by the number of times the test transmission data creation unit is activated in a predetermined cycle or randomly, and the timer 70.
2 and a control unit 701 that controls the timer 702 according to the set timer information. The timer information referred to here is the information stored in the RAM 165 in which the cycle value for transmitting the test transmission data is set, and in the present embodiment, the worker uses the external terminal 16
This can be arbitrarily changed by using 0a.
【００５９】以上で、本発明に係る実施の形態について
の説明を終る。尚、ここで説明した機能を組み合わせた
総合試験によれば、複数の通信不良に対するリレー保護
システムの通信機能を、より信頼性高く評価することが
できる。また、一連の動作試験を実行するシーケンシャ
ルプログラムを組んでおけば、上記総合試験の自動化を
図ることもできる。This is the end of the description of the embodiment according to the present invention. According to a comprehensive test combining the functions described here, the communication function of the relay protection system against a plurality of communication failures can be evaluated with higher reliability. In addition, if a sequential program for executing a series of operation tests is created, the comprehensive test can be automated.
【００６０】[0060]
【発明の効果】本発明に係るリレー保護システムによれ
ば、継電装置単体の通信試験と共に、リレー保護システ
ムの制御ループ全体の総合試験を行うことができる。ま
た、電力系統の現場試験に従事する作業者の負担を軽減
することができる。加えて、リレー保護システムにかか
る費用と時間を削減することができるという経済的な効
果もあげることができる。According to the relay protection system of the present invention, a comprehensive test of the entire control loop of the relay protection system can be performed together with the communication test of the relay device alone. Further, it is possible to reduce the burden on the worker who is engaged in the field test of the power system. In addition, the cost and time required for the relay protection system can be reduced, which is economically effective.
【図１】本発明の一実施の形態に係るリレー保護システ
ムの基本構成を示した図である。FIG. 1 is a diagram showing a basic configuration of a relay protection system according to an embodiment of the present invention.
【図２】共通フレームのフォーマット形式を説明するた
めの図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a format format of a common frame.
【図３】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の
基本的な回路構成を示した図である。3 is a diagram showing a basic circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit of FIG.
【図４】試験用情報テーブルのデータ構造を説明するた
めの図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the data structure of a test information table.
【図５】試験用伝送データ作成部の処理を説明するため
の図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a process of a test transmission data creation unit.
【図６】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の
回路構成の一例を示した図である。6 is a diagram showing an example of a circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit of FIG.
【図７】図１の第一伝送制御部及び第二の伝送制御部の
回路構成の一例を示した図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of a circuit configuration of a first transmission control unit and a second transmission control unit of FIG.
１０００，１００１…光伝送ルート １０ａ，１０ｂ，１０ｃ…リレー装置 １１…アナログ入力部 １２ａ…第一伝送制御部 １２ｂ…第二伝送制御部 １３…リレー演算部 １４…光／電気変換器 １５…電気／光変換器 １６…外部端末 １１０…折返し誤差防止用アナログフィルタ １１１…マルチプレクサ １１２…ＡＤ変換器 １１３…デジタルフィルタ １２０…カウンタ １２１…パラレル／シリアル変換器 １２２…検出回路 １２３…シリアル／パラレル変換器 １２４…ＣＲＣ演算回路 １２５…ループバック制御回路 １２６…ＲＡＭ １２７…比較回路 １２８，１２９…変更回路 1000, 1001 ... Optical transmission route 10a, 10b, 10c ... Relay device 11 ... Analog input section 12a ... First transmission control section 12b ... Second transmission control section 13 ... Relay computing section 14 ... Optical / electrical converter 15 ... Electricity / Optical converter 16 ... External terminal 110 ... Folding error prevention analog filter 111 ... Multiplexer 112 ... AD converter 113 ... Digital filter 120 ... Counter 121 ... Parallel / serial converter 122 ... Detection circuit 123 ... Serial / parallel converter 124 ... CRC arithmetic circuit 125 ... Loopback control circuit 126 ... RAM 127 ... Comparison circuit 128, 129 ... Change circuit
Claims (8)
報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを有
する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間で
順次伝送する伝送システムに用いられる情報通信装置で
あって、 前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験用情報を記
憶する記憶手段と、 他の情報通信装置から伝送される前記伝送フレームを受
信する受信手段と、 前記受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報
通信装置が検出したデータを格納する格納手段と、 前記記憶手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送
フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの
値を変更する変更手段と、 前記格納手段により前記変更手段が変更したデータが格
納された前記伝送フレームを、他の情報通信装置に伝送
する伝送手段とを備えることを特徴とする情報通信装
置。1. A transmission system comprising a plurality of information communication devices, wherein the data detected by the plurality of information communication devices are sequentially transmitted between the plurality of information communication devices using a transmission frame having a predetermined format. An information communication device, comprising: storage means for storing test information representing a specific area in the transmission frame; receiving means for receiving the transmission frame transmitted from another information communication device; and the receiving means. In the received transmission frame, storage means for storing the data detected by the information communication device, and in the area in the transmission frame represented by the position information stored in the storage means, the data stored in the storage means The changing unit for changing the value and the transmission frame storing the data changed by the changing unit by the storing unit are transmitted to another information communication device. Information communication apparatus characterized by comprising a transmitting means for.
報通信装置が検出したデータを所定のフォーマットを有
する伝送フレームを用いて前記複数の情報通信装置間で
順次伝送する伝送システムであって、 前記複数の情報通信装置は、それぞれ、 前記伝送フレーム中の特定の領域を表す試験用情報を記
憶する記憶手段と、 他の情報通信装置から伝送される伝送フレームを受信す
る受信手段と、 前記受信手段が受信した前記伝送フレームに、当該情報
通信装置が検出したデータを格納する格納手段と、 前記記憶手段に記憶された前記位置情報が表す前記伝送
フレーム中の領域に、前記格納手段が格納するデータの
値を変更する変更手段と、 前記格納手段により前記変更手段が変更したデータが格
納された前記伝送フレームを、他の情報通信装置に伝送
する伝送手段とを備えることを特徴とする伝送システ
ム。2. A transmission system comprising a plurality of information communication devices, wherein the data detected by the plurality of information communication devices are sequentially transmitted among the plurality of information communication devices by using a transmission frame having a predetermined format. A plurality of information communication devices, storage means for storing test information representing a specific area in the transmission frame, receiving means for receiving a transmission frame transmitted from another information communication device, The storage means stores the data detected by the information communication device in the transmission frame received by the reception means, and the storage means stores the area in the transmission frame represented by the position information stored in the storage means. Changing means for changing the value of the data to be transmitted, and the transmission frame storing the data changed by the changing means by the storing means, to another information communication Transmission system characterized by comprising a transmitting means for transmitting the location.
報を複数記憶する前記記憶手段と、 前記記憶手段が記憶する前記複数の試験情報の内の任意
の試験用情報の選択を受け付ける受付手段とを備え、 前記変更手段は、前記受付手段が受け付けた選択により
選択された試験用情報が表す前記伝送フレーム中の領域
に、前記格納手段が格納するデータの値を変更すること
を特徴とする伝送システム。3. The transmission system according to claim 2, wherein each of the plurality of information communication devices stores a plurality of pieces of test information representing different areas in the transmission frame, and the storage means. A reception unit that receives a selection of any test information from the plurality of pieces of test information stored by the unit, wherein the changing unit represents the transmission represented by the test information selected by the selection received by the reception unit. A transmission system characterized in that a value of data stored in the storage means is changed to an area in a frame.
って、 前記複数の情報通信装置は、それぞれ、 前記記憶手段が記憶する前記試験用情報の内容を、入力
されたデータを用いて更新する更新手段を備えることを
特徴とする伝送システム。4. The transmission system according to claim 2 or 3, wherein each of the plurality of information communication devices updates the content of the test information stored in the storage unit by using input data. A transmission system, comprising:
であって、 前記伝送手段が伝送する伝送フレームに格納されたデー
タの値を検定することにより伝送系の不良を検出する検
出手段を備えることを特徴とする伝送システム。5. The transmission system according to claim 2, 3 or 4, further comprising a detection means for detecting a defect in a transmission system by examining a value of data stored in a transmission frame transmitted by the transmission means. A transmission system comprising:
テムであって、 遅延時間を記憶する記憶手段と、 前記伝送手段が伝送する前記伝送フレームを、前記記憶
手段が記憶する遅延時間だけ遅延させる遅延手段を備え
ることを特徴とする伝送システム。6. The transmission system according to claim 2, 3, 4, or 5, wherein: storage means for storing delay time; and delay time for the transmission frame transmitted by the transmission means to be stored in the storage means. A transmission system comprising a delay means for delaying only.
を用いて更新する遅延時間更新手段を備えることを特徴
とする伝送システム。7. The transmission system according to claim 6, further comprising delay time updating means for updating the delay time stored in said storage means using input data.
システムであって、 前記変更手段が前記伝送フレームのデータを変更する動
作を制御する制御手段を備えることを特徴とする伝送シ
ステム。8. The transmission system according to claim 2, 3, 4, 6 or 7, wherein said changing means comprises control means for controlling an operation of changing the data of said transmission frame. system.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP10279796A JP3583860B2 (en) | 1996-04-24 | 1996-04-24 | Information communication equipment |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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- 1996-04-24 JP JP10279796A patent/JP3583860B2/en not_active Expired - Lifetime
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