JP3559228B2 - Rotary substrate processing equipment - Google Patents
Rotary substrate processing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP3559228B2 JP3559228B2 JP2000238578A JP2000238578A JP3559228B2 JP 3559228 B2 JP3559228 B2 JP 3559228B2 JP 2000238578 A JP2000238578 A JP 2000238578A JP 2000238578 A JP2000238578 A JP 2000238578A JP 3559228 B2 JP3559228 B2 JP 3559228B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- rotor
- cleaning
- back surface
- liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Weting (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶用ガラス基板や半導体ウエーハにウエット処理を行う回転式基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶用ガラス基板の製造においては、素材であるガラス基板の表面にレジスト塗布、エッチング、レジスト剥離等の処理が繰り返される。このようなガラス基板の処理に使用される基板処理装置の一つとして回転式のものがある。
【0003】
回転式の基板処理装置は、基板をロータ上で回転させながら、スプレーユニットにより上方から基板の表面にエッチング液、剥離液等の薬液を供給する。薬液による処理が終わると、別のスプレーユニットにより上方から基板の表面に洗浄用の純水を吹き付ける。洗浄が終わると、基板を高速で回転させて乾燥する。
【0004】
洗浄については、基板の裏面の薬液による汚れを除去するために、裏面にも洗浄液を吹き付ける場合が多い。また、乾燥に関しては、遠心力が作用しない回転中心部の乾燥を促進するために、その中心部に表面側及び裏面側から窒素ガスを吹き付ける場合が多い。
【0005】
一方、ロータについては、使用後の液体を回収するために、その外径を基板の回転円の最大径より大きくし、使用後の液体を基板上から外周側へ排出する際の液ガイドを兼ねる構造が通常採用されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の回転式基板処理装置においては、基板の裏面を洗浄する場合にあっても、乾燥後の基板の裏面、特に中央部裏面に薬液のミストが付着残存する問題のあることが判明した。この現象は、乾燥時に基板の回転中心部裏面に窒素ガスを吹き付ける場合に特に顕著であり、基板の裏面へ吹き付ける洗浄液を増量しても一向に解消されないことも明らかになった。
【0007】
本発明の目的は、洗浄液の増量によっても除去されない基板裏面の汚れを確実に除去できる回転式基板処理装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明者らは洗浄・乾燥後の基板の中央部裏面に薬液のミストが付着残存する現象の原因を子細に調査した。その結果、基板を回転させるロータの裏面、とりわけ外周縁部の裏面に付着残存する薬液によるものであることが判明した。
【0009】
即ち、ロータは、前述したように、使用後の液体を基板上から外周側へ排出する際の液ガイドを兼ねることもあって、薬液による処理中に薬液による汚れを生じる。ロータの表面に付着する汚れは、洗浄中に基板の裏面に吹き付けられ純水により除去されるが、この汚れは、ロータの裏面、とりわけ外周縁部の裏面に及んでおり、このロータ裏面の汚れは、洗浄中に基板の裏面に吹き付けられる純水によっては除去されない。その結果、洗浄後もロータ裏面に薬液が残存し、洗浄に続く回転乾燥時にミストとなって拡散し、基板の回転中心部裏面に窒素ガスを吹き付ける場合に、その中央部裏面に特に顕著に薬液ミストが再付着する。
【0010】
本発明の回転式基板処理装置は、かかる知見に基づいて開発されたものであり、基板を処理槽内でほぼ水平に支持して回転させ、前記基板の回転円の最大径より大きい外径の円板であるロータと、基板の表面に薬液を供給する薬液供給手段と、基板の少なくとも表面に洗浄液を吹き付ける基板洗浄手段と、洗浄工程において前記ロータの裏面に洗浄液を吹き付けるロータ洗浄手段とを具備しており、これにより、洗浄液の増量によっても解消されない基板裏面の汚れを確実に除去し得る。
【0011】
ロータ洗浄手段は、ロータの少なくとも外周縁部を含む裏面に洗浄液を散布する構成が好ましい。これにより基板裏面の汚れが特に効果的に除去され得る。
【0012】
ロータは、基板に散布された薬液及び洗浄液を外周側へ排出する際の液ガイドを兼ねる構成が好ましい。この場合にあっても、基板裏面の汚れが確実に除去され得る。
【0013】
基板洗浄手段は、基板の表面及び裏面に洗浄液を散布する構成が好ましい。また、基板の回転中心部裏面にガスを吹き付けるガスパージ手段と組み合わせるのが好ましい。この場合にあっても、基板裏面の汚れが確実に除去され得る。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明の1実施形態を示す回転式基板処理装置の主要部の側面図である。
【0015】
本実施形態の回転式基板処理装置は、液晶用ガラス基板10のエッチング処理又はレジスト剥離処理に使用される。この回転式基板処理装置は、図示されない処理槽の中心部に配置されたロータ20及びその回転駆動機構30を備えている。
【0016】
ロータ20は、水平な円板であって、その上に複数のピン21により基板10を水平に支持する。このロータ20は、基板10に供給された薬液及び洗浄液を回収する際の液ガイドを兼ねており、その外径は、基板10の回転円の最大径(対角寸法)より若干大きくされている。
【0017】
回転駆動機構30は、円筒状の回転軸31の内側に固定軸32を組み合わせた2重構造になっている。外側の回転軸31は、そのヘッド部に同心状に取り付けられた前記ロータ20を回転させる。固定軸32のヘッド部には、ガスパージ手段としての窒素ガスノズル40と、基板洗浄手段を構成する複数の純水ノズル50とが取り付けられている。
【0018】
窒素ガスノズル40は、ヘッド部の中心位置に真上を向いて設けられており、乾燥工程において基板10の回転中心部裏面に窒素ガスを吹き付ける。複数の純水ノズル50は、窒素ガスノズル40の周囲に外周側へ傾斜して設けられており、洗浄工程において基板10の裏面に純水を洗浄液として吹き付ける。
【0019】
回転駆動機構30には又、ロータ洗浄手段としての純水ノズル60が取り付けられている。純水ノズル60は、ロータ20の外周部裏面に下方から対向するように、回転駆動機構30の固定部に支持部材61により取り付けられている。この純水ノズル60は、洗浄工程においてロータ20の外周部裏面に純水を洗浄液として吹き付ける。
【0020】
ロータ20及び回転駆動機構30の外側には、液回収カップ70が設けられている。液回収カップ70は、外カップ71と内カップ72を組み合わせた2重構造である。内カップ72は昇降式で、ロータ20の外径より僅かに大きい開口部を有し、薬液処理時は、基板10上に供給された薬液を外カップ71内に導くために、開口部をロータ20の僅か下方に位置させる。洗浄時は、その廃液を内カップ72内に導くために上昇する。
【0021】
図示されない処理槽には更に、第1のスプレーユニット80と、図示されない第2のスプレーユニットとが設けられている。第1のスプレーユニット80は、複数の純水ノズル50と共に基板洗浄手段を構成する。このスプレーユニット80は、水平なヘッド81と、ヘッド81を支持する支持機構82とを備えている。ヘッド81は、基板10の回転円の半径方向に並ぶ複数の純水ノズル83から基板10の表面に純水を吹き付ける。支持機構82は、ヘッド81を基板10の表面に対向するカップ内の使用位置とカップ外の退避位置に移動させる。
【0022】
図示されない第2のスプレーユニットは、薬液供給手段であって、第1のスプレーユニット80とほぼ同じ構成であり、カップ内の使用位置でヘッドを基板10の表面に対向させて、その表面に薬液としてエッチング液又は剥離液を散布供給する。
【0023】
次に、本実施形態の回転式基板処理装置の機能について説明する。
【0024】
処理すべき基板10がロータ20上にセットされると、図示されない第2のスプレーユニットのヘッドを基板10の表面に対向させる。ロータ20を駆動して基板10を回転させながら、基板10の表面にヘッドから薬液を供給する。基板10の表面に供給された薬液は、基板10の回転に伴う遠心力により外周側へ移動し、ロータ20の表面を介して外カップ71内に回収される。このとき、薬液の一部がロータ20の裏面側へ回りこみ、その外周縁部に付着する。
【0025】
薬液による処理が終わると、図示されない第2のスプレーユニットのヘッドを基板10の表面上から退避させ、代わりに、第1のスプレーユニット80のヘッド81を基板10の表面に対向させ、そのヘッド81から、回転中の基板10の表面に純水を吹き付ける。また、複数の純水ノズル50から、その基板10の裏面に純水を吹き付ける。更に、純水ノズル60から、ロータ20の外周部裏面にも純水を吹き付ける。
【0026】
基板10の表面及び裏面に純水が吹き付けられることにより、その両面が洗浄される。洗浄により生じる廃液は、ロータ20の表面を介して内カップ72内に回収される。このとき、ロータ20の表面に付着する薬液も除去される。特に、基板10の裏面から反射する純水によってその表面が洗浄される。ロータ20の外周縁部裏面に付着する薬液は、基板10の表面及び裏面に吹き付けられる純水によっては殆ど除去されないが、その除去のための専用の純水ノズル60から噴出される純水により、ほぼ完全に除去される。
【0027】
洗浄が終わると、ロータ20を高速で回転させることにより、基板10の表面及び裏面から残存水を除去する。また、遠心力が作用しない基板10の中心部裏面に窒素ガスノズル70から窒素ガスを吹き付ける。また、図示されない同様の窒素ガスノズルから、基板10の中心部表面に窒素ガスを吹き付ける。このとき、ロータ20の外周縁部裏面に薬液が残存していると、その薬液がミストになって拡散し、基板10の中心部裏面に再付着するが、その薬液が事前に除去されているので、このミスト付着の懸念がない。
【0028】
【発明の効果】
以上に説明したとおり、本発明の回転式基板処理装置は、洗浄工程においてロータの裏面に洗浄液を吹き付けるロータ洗浄手段を装備することにより、洗浄液の増量によっても除去されない基板裏面の汚れを確実に除去できる。特に、ガスパージによって回転中心部の乾燥効果を高める場合に、その汚れを確実に除去できるので、処理品質の向上に大きな効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施形態を示す回転式基板処理装置の主要部の側面図である。
【符号の説明】
10 基板
20 ロータ
30 回転駆動機構
40 窒素ガスノズル
50 純水ノズル(基板洗浄手段)
60 純水ノズル(ロータ洗浄手段)
70 液回収カップ
80 スプレーノズル(基板洗浄手段)[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a rotary substrate processing apparatus for performing a wet process on a liquid crystal glass substrate or a semiconductor wafer.
[0002]
[Prior art]
In the production of a glass substrate for liquid crystal, processes such as resist application, etching, and resist peeling are repeated on the surface of a glass substrate as a material. One of the substrate processing apparatuses used for processing such a glass substrate is a rotary type.
[0003]
The rotary type substrate processing apparatus supplies a chemical such as an etchant or a stripper to the surface of the substrate from above by a spray unit while rotating the substrate on a rotor. After the treatment with the chemical solution, pure water for cleaning is sprayed from above onto the surface of the substrate by another spray unit. When the cleaning is completed, the substrate is rotated at a high speed and dried.
[0004]
In cleaning, a cleaning liquid is often sprayed on the back surface of the substrate in order to remove stains caused by the chemical liquid on the back surface of the substrate. Regarding the drying, in order to promote the drying of the center of rotation where the centrifugal force does not act, the center is often blown with nitrogen gas from the front side and the back side.
[0005]
On the other hand, the rotor has an outer diameter larger than the maximum diameter of the rotating circle of the substrate in order to collect the used liquid, and also serves as a liquid guide when the used liquid is discharged from the substrate to the outer peripheral side. Structures are usually employed.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in such a conventional rotary substrate processing apparatus, even when cleaning the back surface of the substrate, there is a problem that the mist of the chemical liquid adheres and remains on the back surface of the dried substrate, particularly on the back surface of the central portion. There was found. This phenomenon is particularly remarkable when nitrogen gas is blown onto the back surface of the center of rotation of the substrate during drying, and it has been clarified that even if the amount of cleaning liquid sprayed on the back surface of the substrate is increased, it is not eliminated at all.
[0007]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a rotary substrate processing apparatus capable of reliably removing dirt on the back surface of a substrate that is not removed even by increasing the amount of a cleaning liquid.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present inventors have closely investigated the cause of a phenomenon in which a mist of a chemical solution adheres and remains on the back surface of the central part of the substrate after cleaning and drying. As a result, it was found that the liquid was due to the chemical liquid remaining on the back surface of the rotor for rotating the substrate, especially on the back surface of the outer peripheral portion.
[0009]
That is, as described above, the rotor may also serve as a liquid guide when the used liquid is discharged from the substrate to the outer peripheral side, so that contamination with the chemical liquid occurs during the processing with the chemical liquid. Dirt adhering to the surface of the rotor is sprayed on the back surface of the substrate during cleaning and removed by pure water, but the dirt spreads on the back surface of the rotor, especially on the back surface of the outer peripheral portion. Is not removed by pure water sprayed on the back surface of the substrate during cleaning. As a result, the chemical solution remains on the back surface of the rotor even after cleaning, and becomes a mist during rotation drying after cleaning, and when the nitrogen gas is blown on the back surface of the rotational center portion of the substrate, the chemical solution is particularly prominent on the back surface of the central portion. Mist is re-adhered.
[0010]
The rotary substrate processing apparatus of the present invention has been developed based on such knowledge, and supports and rotates a substrate substantially horizontally in a processing tank, and has an outer diameter larger than the maximum diameter of the rotating circle of the substrate. and Ru disc der rotor, a chemical supply means for supplying a chemical solution to the surface of the substrate, and the substrate cleaning means for spraying a cleaning liquid to at least the surface of the substrate, and a rotor cleaning unit for spraying a cleaning liquid to the rear surface of the rotor in the cleaning process As a result, dirt on the back surface of the substrate, which is not eliminated even by increasing the amount of the cleaning liquid, can be reliably removed.
[0011]
The rotor cleaning means preferably has a configuration in which the cleaning liquid is sprayed on the back surface including at least the outer peripheral edge of the rotor. Thereby, the stain on the back surface of the substrate can be particularly effectively removed.
[0012]
It is preferable that the rotor also serves as a liquid guide when discharging the chemical liquid and the cleaning liquid sprayed on the substrate to the outer peripheral side. Even in this case, the stain on the back surface of the substrate can be reliably removed.
[0013]
Preferably, the substrate cleaning means is configured to spray a cleaning liquid on the front and back surfaces of the substrate. Further, it is preferable to combine with a gas purging means for blowing gas to the back surface of the rotation center of the substrate. Even in this case, the stain on the back surface of the substrate can be reliably removed.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a side view of a main part of a rotary substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
[0015]
The rotary substrate processing apparatus of the present embodiment is used for etching or resist stripping of the
[0016]
The
[0017]
The
[0018]
The
[0019]
The
[0020]
A
[0021]
The processing tank (not shown) is further provided with a
[0022]
The second spray unit (not shown) is a chemical liquid supply means and has substantially the same configuration as the
[0023]
Next, the function of the rotary substrate processing apparatus of the present embodiment will be described.
[0024]
When the
[0025]
When the treatment with the chemical solution is completed, the head of the second spray unit (not shown) is retracted from the surface of the
[0026]
By spraying pure water on the front and back surfaces of the
[0027]
After the cleaning, the remaining water is removed from the front and back surfaces of the
[0028]
【The invention's effect】
As described above, the rotary substrate processing apparatus of the present invention is provided with the rotor cleaning means for spraying the cleaning liquid on the back surface of the rotor in the cleaning step, thereby reliably removing the dirt on the back surface of the substrate which is not removed even by increasing the cleaning liquid. it can. In particular, in the case where the drying effect of the rotation center portion is enhanced by gas purging, the stain can be surely removed, so that a great effect is achieved in improving the processing quality.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side view of a main part of a rotary substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
60 Pure water nozzle (rotor cleaning means)
70
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000238578A JP3559228B2 (en) | 2000-08-07 | 2000-08-07 | Rotary substrate processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000238578A JP3559228B2 (en) | 2000-08-07 | 2000-08-07 | Rotary substrate processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002057138A JP2002057138A (en) | 2002-02-22 |
JP3559228B2 true JP3559228B2 (en) | 2004-08-25 |
Family
ID=18730263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000238578A Expired - Fee Related JP3559228B2 (en) | 2000-08-07 | 2000-08-07 | Rotary substrate processing equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3559228B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105552007A (en) * | 2016-02-24 | 2016-05-04 | 北京七星华创电子股份有限公司 | Device and method for improving corrosion uniformity of chip |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3874261B2 (en) * | 2002-04-10 | 2007-01-31 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing equipment |
JP2004207454A (en) * | 2002-12-25 | 2004-07-22 | Renesas Technology Corp | Method for manufacturing semiconductor device |
JP4796902B2 (en) * | 2005-07-11 | 2011-10-19 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | Substrate spin processing equipment |
KR100949090B1 (en) * | 2007-09-19 | 2010-03-22 | 세메스 주식회사 | Spin unit and apparatus of processing a substrate having the same |
CN102140669B (en) * | 2011-03-17 | 2016-06-01 | 上海集成电路研发中心有限公司 | Cleaning method after silicon chip electroplating copper |
JP5864355B2 (en) * | 2012-05-11 | 2016-02-17 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP6789038B2 (en) * | 2016-08-29 | 2020-11-25 | 株式会社Screenホールディングス | Board processing equipment |
KR102139606B1 (en) * | 2018-12-21 | 2020-07-30 | 세메스 주식회사 | Apparatus and method for processing substrate |
CN111112186B (en) * | 2019-12-27 | 2022-08-09 | 上海至纯洁净***科技股份有限公司 | Wafer cleaning equipment |
CN111001606B (en) * | 2019-12-27 | 2022-03-11 | 上海至纯洁净***科技股份有限公司 | Semiconductor cleaning equipment |
CN112736019B (en) * | 2020-12-30 | 2023-03-24 | 上海至纯洁净***科技股份有限公司 | Device for improving cleanliness of back of single wafer |
CN112736017B (en) * | 2020-12-30 | 2023-03-24 | 上海至纯洁净***科技股份有限公司 | Mechanism for cleaning back of single wafer and using method thereof |
CN112652560B (en) * | 2020-12-30 | 2023-03-14 | 上海至纯洁净***科技股份有限公司 | Wafer cleaning system |
CN112750688B (en) * | 2020-12-31 | 2022-12-20 | 至微半导体(上海)有限公司 | Wafer cleaning method |
CN112786493B (en) * | 2020-12-31 | 2022-12-20 | 至微半导体(上海)有限公司 | Air flow control module for effectively preventing wafer cross contamination |
CN112735986B (en) * | 2020-12-31 | 2022-12-20 | 至微半导体(上海)有限公司 | Wafer composite cleaning method |
CN112735985B (en) * | 2020-12-31 | 2022-12-20 | 至微半导体(上海)有限公司 | Single-chip wet cleaning equipment |
CN112735989B (en) * | 2020-12-31 | 2022-12-20 | 至微半导体(上海)有限公司 | High-cleanness wet process equipment suitable for acid supply system |
-
2000
- 2000-08-07 JP JP2000238578A patent/JP3559228B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105552007A (en) * | 2016-02-24 | 2016-05-04 | 北京七星华创电子股份有限公司 | Device and method for improving corrosion uniformity of chip |
CN105552007B (en) * | 2016-02-24 | 2019-05-10 | 北京七星华创电子股份有限公司 | A kind of device and method improving etching uniformity |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002057138A (en) | 2002-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3559228B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP3322853B2 (en) | Substrate drying device and cleaning device, and drying method and cleaning method | |
JP3351082B2 (en) | Substrate drying method, substrate drying tank, wafer cleaning apparatus, and method of manufacturing semiconductor device | |
JP2001319908A (en) | Wet processing method and device | |
JPH10242110A (en) | Method and device for rotational treatment | |
JP4502854B2 (en) | Substrate processing apparatus and processing method | |
JP2004335671A (en) | Washing method of single wafer processing two-fluid washing station and semiconductor device | |
JP2000114219A (en) | Substrate-processing device | |
JP3425895B2 (en) | Rotary substrate drying apparatus and drying method | |
JP2002143749A (en) | Rotary coater | |
JPH10199852A (en) | Rotary substrate treatment device | |
JP3330002B2 (en) | Rotary substrate drying method and rotary substrate drying device | |
JP2002016031A (en) | Substrate treatment method | |
JP2004207407A (en) | Spin cleaner | |
JP3321658B2 (en) | Manufacturing method of liquid crystal display | |
WO2020095582A1 (en) | Processing cup unit and substrate processing device | |
JP3903879B2 (en) | Method for etching semiconductor substrate | |
JP2978806B2 (en) | Substrate processing method | |
JP2002124508A (en) | Spin treating apparatus for substrates | |
JP2624426B2 (en) | Cleaning equipment for rectangular substrates | |
JPS6292316A (en) | Applicator for photo-resist | |
JP3532837B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP2001334220A (en) | Method for cleaning substrate | |
JP3113167B2 (en) | Spin cleaning device | |
JPH0471232A (en) | Washing equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20040202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040520 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |