JP3553114B2 - 眼レンズを自動的に検査する方法およびシステム - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は一般に、コンタクトレンズのような眼レンズを検査する方法およびシステム、さらに詳しくは照明ビームがレンズを通して直射されてその像を形成するタイプのレンズ検査法およびシステムに関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
コンタクトレンズは典型的に高度の精密度および正確度を伴って製造される。にも関わらず、まれに特定のレンズが欠陥を含むことがあり、このためコンタクトレンズは消費者に販売される前に確実にそのレンズが消費者の使用に適格であるかどうか検査される。
【0003】
あるタイプの従来のレンズ検査システムにおいては、多数のレンズは照明ビームが各レンズに透過されるレンズ検査位置を通って各レンズを一度に動かして運ぶレンズキャリヤーに配置される。この照明ビームは次にスクリーン上に焦点を合せられ、その上にレンズの像を形成し、そしてオペレーターがその像を観察してレンズが欠陥を含んでいるかどうか判定する。消費者の使用に不適当なレンズをもたらす欠陥または傷がある場合、レンズは検査システムから取り除かれるか、またはそれがその後使用者に販売されないように識別される。
【0004】
この従来の検査システムは非常に有効で信頼性がある。それでも、このシステムは改良できるものと考えられる。例えば、このシステムは比較的速度が遅く、また高価である。これは、人間のオペレーターがスクリーン上に形成されるレンズ像の焦点を合せ、欠陥がないかどうか像の全体をチェックしなければならないためである。したがって、レンズが欠陥を含むかどうか判定するためレンズの形成像を分析する画像処理装置を使用することにより、レンズ検査のコストを下げ、検査のスピードを増加することができると考えられる。
【0005】
さらに、上記の従来のシステムの場合、レンズを合格または不合格とするオペレーターの決定には幾らか主観的な考察が含まれ、それはオペレーターごとに異なり、また同一のオペレーターでも時々異なることがある。典型的には、オペレーターが誤って不合格とすると、それにより良好なレンズが時々消費者の使用に不適当であると識別される。したがって、検査システムはレンズが合格かどうかを均一に決定するよう適合することのできる、より一定した手順を付与することにより改良できる。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は眼レンズを検査する方法およびシステムを改良することである。
【0007】
本発明の別の目的はレンズが欠陥を含むかどうかを判定するため、レンズの像を形成し、次いで画像処理装置を使用してその像を分析することである。
【0008】
さらに、本発明の目的はレンズが消費者の使用に適格であるかどうかを判定するために、画像処理装置を使用し、そしてはっきりした標準的で均一な手順に従って処理することである。
【0009】
これらのおよび他の目的は、光線をレンズを通して画素アレー上に直射し、そして画素上の光線の強度に従ったデータ値を各画素に割当てる工程を含む、自動的に眼レンズを検査する方法を用いて達成される。本法はさらに、所定のプログラムに従ってこれらのデータ値を処理してレンズが複数の所定の状態を含むかどうかを判定する工程を含む。
【0010】
例えば、本法はレンズの外縁に沿ってギャップ(gap)またはその上に余分な部分(extra pieces)があるかどうかレンズを検査するのに使用できる。これを行なうために、外縁の像を画素アレー上に形成し、次いでギャップまたは余分な部分について外縁を調べることができる。このようなギャップまたは余分な部分がある場合、ギャップおよび余分な部分の画素は高いデータ値が割当てられ、またギャップおよび余分な部分を強調するためギャップおよび余分な部分に隣接する追加の画素にも高いデータ値が割当てられる。次に、レンズの縁上の画素そのものは低いデータ値が割当てられ、それによりギャップおよび余分な部分の中の、またはこれらに隣接する画素のみが高いデータ値を有する。高いデータ値を有する連続した画素の各グループの面積を計算し、所定の標準規格と比較して、画素グループが消費者の使用に不適当なレンズをもたらす欠陥を示すかどうかを判定できる。
【0011】
さらに、本発明の利点および長所は、本発明の好ましい態様を特定し、示す添付図面を参照して、次の詳細な説明を考察することにより明らかである。
【0012】
図1はレンズ検査システム10を示すブロック図であり、一般にシステム10は輸送サブシステム12、照明システム14、画像化サブシステム16および画像処理サブシステム20からなる。システム10の好ましい態様において、輸送サブシステム12はレンズキャリヤー22およびサポートアセンブリー24(図4に示す)を含み、そして照明サブシステム14はハウジング26、光源30並びにミラー32および34を含む。また、この好ましいシステム10において、画像化サブシステム16はカメラ36、ストップ40およびレンズアセンブリー42を含む。さらに詳しくは、図8を参照すると、カメラはハウジング44、画素アレー46およびシャッター50を含み、そしてレンズアセンブリーはハウジング52、一対のレンズ54および56、並びに複数のバッフル60を含む。図1に示されるように、画像処理サブシステム20はプレプロセッサ62、メインプロセッサ64、およびキーボード66のような入力手段を含み、そしてさらに好ましくはサブシステム20はメモリユニット70、ビデオモニタ72、キーボード端末74およびプリンタ76を含む。
【0013】
一般に、輸送サブシステム12は各レンズを一度にレンズ検査位置に動かすため所定の経路に沿って多数の眼レンズを動かすべく備えられており、また図1はこのようなレンズ80がこのレンズ検査位置にあることを示している。照明サブシステム14は連続光パルスを発生し、そしてそれぞれの光パルスを光路82上に、またレンズ検査位置を通過して移動する各眼レンズに直射するため備えられている。サブシステム16は眼レンズを透過した光パルスの所定の部分を示す一連の信号を発生し、次いでこれらの信号を処理サブシステム20に送信する。画像処理サブシステムはこれらの信号をサブシステム16から受信し、これらの信号を所定のプログラムに従って処理して検査対象の各レンズの少なくとも1つの状態を判定する。下記で詳しく説明されるサブシステム20の好ましい態様において、そのサブシステムは検査されたレンズがそれぞれ消費者の使用に適格であるかどうかを決定する。
【0014】
システム10は様々なタイプおよびサイズの眼レンズを検査するために使用できる。本システムは特にコンタクトレンズを検査するのに適しており、図2および3は例えばシステム10で検査されうるコンタクトレンズ84を示している。レンズ84は一般に前面86および後面90を含む半球形であり、そしてレンズは中央の光学的領域84aおよび外側の領域84bを形成する。レンズは実質的に均一な厚みを持つが、図3aに示されるように、レンズの厚みはレンズの外縁に直に接する環84c上を徐々に減少する。
【0015】
図4は輸送サブシステム12をより詳しく説明するものである。上記したように、このサブシステムは好ましくはレンズキャリヤー22およびサポートアセンブリー24を含む。さらに詳しくは、このサポートアセンブリーは並進テーブル92、第1のステッピングモーター94および第2のステッピングモーター96を含み、また並進テーブルはベース部材100およびフレーム102,104を含む。
【0016】
一般に、レンズキャリヤー22は多数の眼レンズを保持するために備えられており、図5および6はレンズキャリヤーを詳細に示している。そこに図示されているように、レンズキャリヤーは長方形のベース部材106およびベース部材に連結された多数のレンズ検査用カップ110を含む。好ましくは、各カップは円錐台の側面110a、およびカップの側面に一体となって連結しており、またその下方から伸びている半球形状の底部からなる。さらに、各カップの底部は好ましくはカップ中に置かれた眼レンズ84の曲率半径よりも約10%大きい一定の曲率半径を有し、そして底部110bの直径は眼レンズの直径よりも大きい。また、各カップの側面はカップの軸に関して約20°の傾きで伸びており、そして各側面の厚さは好ましくは約0.010インチ以下である。
【0017】
図5および6に示される特定のレンズキャリヤー22において、各カップ110の上部の直径は約22mmであり、そして各カップの深さは好ましくは検査対象のレンズの直径よりも大きく、例えばコンタクトレンズの場合、典型的には20mmである。図5および6に示されるように、レンズキャリヤーは3×4列の検査用カップを含む。検査用カップは他の配置で配列することができる;例えばカップは3×3列、3×8列、4×8列、3×10列または4×10列に配列することができることは当業者ならば容易に理解できよう。
【0018】
カップ110、および好ましくはベース部材106はポリ塩化ビニルプラスチックのような実質的に透明な材料で作られたものである。さらに、好ましくはカップ110およびベース部材106は互いに一体となって成形されており、また比較的薄く、それによりコストが減少され、そして実際問題としてキャリヤーは1回の使用で捨てることが可能になる。
【0019】
1回使用しただけでキャリヤーを捨てることは、レンズ検査用カップを再使用する時にしばしば起こるカップの掻き傷の形成を実質的に減少または除去する。
【0020】
下記で説明されるように、カップの掻き傷はカップの中のレンズの傷または欠陥として判断されるため、容易に使い捨てのできるレンズキャリヤーを使用することはレンズ検査プロセスの正確度を改善する。
【0021】
使用時に、各カップ110は例えば塩水のような流動液112で部分的に満たされ、そして各々の眼レンズは各カップの底に置かれ、完全に溶液の中に浸される。レンズがカップの中に置かれると、カップはカップの上記の形状およびパラメーターによりレンズを自動的にカップの底部の中心に置くようにする。
【0022】
再び、図4に言及すると、サポートアセンブリー24はレンズキャリヤーを支え、そしてその中の各レンズを一度にレンズ検査位置に動かすためレンズキャリヤーを動かすべく備えられている。好ましくは、サポートアセンブリー24はレンズキャリヤー22を連続的に所定の経路に沿って動かしてレンズ84を平滑にそのレンズ検査位置に進ませ、通過させる。例えば、サポートアセンブリーはレンズキャリヤーを、そのキャリヤーのカップ110が一度にカップ1列ずつレンズ検査位置を通過し、そして各列のカップがレンズ検査位置を通過した後、サポートアセンブリー24がキャリヤー22を動かして他の列のカップをレンズ検査位置と一直線に合わせるように設計することができる。
【0023】
図4に示される好ましいサポートアセンブリー24において、並進テーブル92のフレーム102は図4に見られるようにその上で左右へと横方向に動くためベース100により支えられ;フレーム104は図4に見られるようにその上で上下に動くためフレーム102により支えられ;そしてレンズキャリヤー22はそれらと一緒に動くためフレーム104上で支えられる。ステッピングモーター94はベース100上に取り付けられ、フレームがベース部材を横切るようにフレーム102に連結され、そしてステッピングモーター96はフレーム102上に取り付けられ、フレーム104を動かすようにこのフレームに連結される。
【0024】
適当なフレーム102,104およびステッピングモーター94,96をサポートアセンブリー24に使用することができる。さらに、他の適当なサポートアセンブリーが知られており、これらを所望の様式でレンズキャリヤー24を動かすのに使用できることは当業者ならば容易に理解できよう。
【0025】
再び、図1に言及すると、サブシステム14および16は一緒になって、暗視野照明と呼ばれる効果を発生かつ利用してレンズ検査位置を通過する眼レンズを検査する。この方法において、像はレンズを透過した光を散乱または反射する眼レンズの特徴として画素アレー46上に形成される。本当に非常に有効な方法である暗視野照明法は、眼レンズの幾つかの通常の特徴と同様にすべての欠陥は本質的に光を散乱するため眼レンズの傷または欠陥を検出するのに使用でき、そしてたまり(Puddle)と呼ばれるもののような非常に薄く浅い欠陥でさえ、暗視野照明法を使用して容易に検出できる。
【0026】
暗視野照明法の原理は図7を参照して理解することができ、それには眼レンズ114、平行光線116、一対のレンズ120および122、不透明ストップ124、並びに画素アレー126が示されている。光線116は眼レンズ114を透過し、次いで結像レンズ120に入射する。照明ビーム116がレンズ114に入射した時に完全に平行化されると、そのビームはレンズ120の後側焦点に収束される。たとえ照明ビーム116が眼レンズ114により全く影響を受けなくても、そのビームはレンズ120に入射した時に完全に平行化されず、またビーム116はレンズ120の後側焦点あたりに最小混同の円と呼ばれる小さな円を形成する。ストップ124は結像レンズ120のもう一方の側、すなわちその後側焦点に位置し、そのストップのサイズはレンズ120の後側焦点で照明ビーム116により形成される円状の像よりも僅かに大きいものであるように選択される。
【0027】
したがって、レンズ114による照明ビーム116の散乱または屈折が何れも存在しないと、光線はストップ124を透過せず、画素アレー126は完全に暗くなる。しかし、ストップ124を捕え損うのに十分な程光を屈折するレンズ114の特徴は何れも、光を幾らか画素アレー上に入射させる。眼レンズ114は画素アレー126の位置に対して光学的に共役している位置にあり、したがって光線がストップ124を透過すると、その光線はその光を散乱した眼レンズ114の存在物として画素アレー上に像を形成する。
【0028】
図8はシステム10においてこの暗視野照明効果を発生かつ利用するための好ましい装置を示す。特に、この図は好ましい照明サブシステムおよび画像化サブシステムをより詳しく説明する。この国に示されるように、サブシステム14はハウジングまたはケーシング26、光源30、ミラー32および34、絞り130、電源132、制御回路134、第1および第2の調整可能なサポート手段136および140、並びに出射窓142を含む。また、サブシステム16はカメラ36、ストップ40およびレンズアセンブリー42を含む。さらに詳しくは、カメラ36はハウジング44、画素アレー46およびシャッター50を含み、そしてレンズアセンブリー42はハウジング52、レンズ54および56、並びにバッフル60を含む。
【0029】
サブシステム14のハウジング26はこのサブシステムの他の構成要素のための保護用囲いであり、そして光源30、ミラー32および34、並びに絞り130はすべてそのハウジングの中で固定される。さらに詳しくは、ハウジング26は垂直な主脚26a、上部および下部の水平な脚26bおよび26cを含み、また光源30はハウジングの主脚の内部に位置する。ミラー32は脚26aおよび脚26cの交点に固定されており、ミラー34は脚26cの遠端部に隣接しており、そして絞り130はミラー32とミラー34の間の脚26cの内部に位置する。ハウジング26はまたミラー34のすぐ上にある開口部26dを形成し、窓142はその開口部に固定される。使用時に、光源30は多数の光フラッシュまたはパルスを発生し、これらの各パルスを光路82上に直射する。ミラー32はこの光路上に位置し、光パルスを絞り130を通ってミラー34上に直射し、次いでこれは図8の144を参照して光パルスを窓142、レンズ検査位置を通って上方に、また画像化サブシステム16に向けてまたはその上に直射する。
【0030】
好ましくは、光源30はその光源から発する光の特定の方向を調整することのできる調整可能なサポート手段136上に取り付けられ、そしてミラー34はそのミラーから反射する光の特定の方向および特定の位置を調整することのできる他の調整可能なサポート手段140上に取り付けられる。さらに詳しくは、図8に示されるサブシステム14の好ましい態様において、サポート手段136はハウジング26に固定され、2つの相互に垂直な水平軸の廻りを旋回する可傾式台を含む。また、サブシステム14のこの態様において、ミラーサポート手段140は可傾式台140aおよび並進台140bを含み、そしてミラー34は前者の台に取り付けられ、次いでこれは後者の台に取り付けられる。台140bは図8に見られるように左右へと横方向に移動可能であり、それによりミラー34の横方向の位置を調整することができ、また台140aは2つの相互に垂直な水平軸の廻りを旋回し、それによりミラー34の特定の角度を調整することができる。
【0031】
画像化サブシステム16はレンズ検査位置144に位置する眼レンズを透過した光パルスを受け取り、そしてこれらの眼レンズを透過した光の所定の部分を示す一連の信号を発生する。さらに詳しくは、画素アレー46はシャッター50のすぐ後ろのカメラハウジング44の内部に配置され、そして画素アレーは好ましくはそれぞれがそのセンサーに入射する光の強度に比例する大きさを有する、またはその強度を示す電流を発生することのできる多数の光センサーからなる。
【0032】
図9は画素アレー46の小部分の拡大図であり、特に画素アレーの多数の個々の光センサーを示す。この図によれば、好ましくはこれらの光センサーまたは画素は所定の数の行および列の均一な格子に配列され、例えばその格子は1000列、1000行に配列された100万画素からなる。好ましくは、その格子において、画素は多数の均一に間隔の置かれた行および多数の均一に間隔の置かれた列を形成し、そしてアレーの最端部にある画素を除けば、各画素は隣接した8画素を有する。例えば、画素146aは隣接した8画素、すなわちすぐ上にある画素146b、すぐ下にある画素146c、それぞれすぐ左および右にある画素146dおよび146e、並びにそれぞれ右上、左上、右下および左下にある画素146f,146g,146hおよび146iを有する。
【0033】
再び、図8に言及すると、ストップ40およびレンズ54,56はシャッター50の前方にあり、互いに画素アレーおよびカメラシャッターと同軸に揃えられる。ストップ40はレンズ54および56の間、実質的にレンズ54の後側焦点面に位置し、そしてレンズ56は画素アレーがこのレンズ56の後側焦点面にあるように位置する。好ましくは、レンズ54,56およびストップ40はハウジング52の内部に取り付けられ、またこれはカメラ36の前端に取り付けられる。さらに、一連の環状部材で構成されうるバックル60は好ましくはそれを通って走行する光を平行化するのに役立つようにハウジング52の長さに沿って間隔を置いて取り付けられる。
【0034】
レンズ54,56およびストップ40のこの特定の位置において、検査対象の特定の眼レンズを透過した光線の殆んどまたは全てはレンズ54によりストップ40上に焦点を合せられ、それにより画素アレー46上に入射しない。しかしながら、眼レンズの正常な特徴を通過する光と同様に、眼レンズの異常な特徴を通過する光の幾らかはこの光がレンズ54によってはストップ40上に焦点を合せられずに、その代りストップを透過し、画素アレー46上に入射するように十分屈折されうる。さらに、レンズ検査位置は画素アレー46の位置と光学的に共役する位置に配置され、それによりストップ40を透過する光はその光を散乱した眼レンズの存在物として画素アレー上に像を形成する。
【0035】
この暗視野照明技術は眼レンズの欠陥を照明するための非常に有効な方法であり、そして図10は眼レンズ、特に図2および3に示されるコンタクトレンズ84を透過した光線により画素アレー46上に形成された像を示す。レンズを透過した光の殆んどはストップ40により画素アレーからブロックされる。しかしながら、レンズの環84cの不均一な厚さにより、レンズのこの部分を透過した光はストップ40を屈折し、画素アレー46上に入射し、そのアレー上に環の画像を形成する。レンズ84の他の欠陥もまた画素アレー上に照明領域を生成する。例えば、たまりのような薄く浅い欠陥でさえ画素アレー上に見い出すことができる。特に、たまりがレンズの内部に存在する場合、そのたまりは画素アレー上に暗視野における明るい輪郭として容易に現われ、そしてたまりがレンズの周囲の領域に存在する場合、そのたまりは画素アレー上に明視野における暗い線として容易に現われる。また、コンタクトレンズの周囲の領域はくさび形の断面を有するため、その周囲領域はストップ40を通過した光を十分に屈折し、それにより全体の領域が画素アレー46上に暗視野における明白色の環150として現われる。
【0036】
適当な光源、レンズおよびカメラは何れもサブシステム14および16に使用できることは当業者ならば容易に理解できよう。例えば、光源30はハママツ(Hamamatsu)社製の短アークキセノンフラッシュランプであってよい。この特定のフラッシュランプはアーク安定性および寿命の独特な組合せを有し、そしてこのフラッシュランプの出力は±2%定格であり、その寿命は109 フラッシュである。
【0037】
さらに、実際に実行するように変形された態様のサブシステム16において、第1結像レンズ54は物体に対してレンズの光軸の2.5°以内に回折の制限された、焦点距離が100mmの無彩レンズであり、そしてレンズ54は黒色アルマイト管に取り付けられ、内部のバッフル60は管の内壁からの光の反射によるコントラストの低下を防止する。第2レンズ56は焦点距離が50mmの標準的なF−1.8ニコン(Nikon)レンズである。第1レンズ54のためのバレルの端部は50mmレンズのハウジング中に入れられた紫外線くもりフィルター上に接合される。
【0038】
不透明なストップ40は直径が0.100インチの小さなプラスチック製の円であり、ストップを所定の場所に固定するため接着剤を含む。適当なストップは商業的に入手することができ、プリント回路板用の手仕事の配置作業においてはんだパッドマスクとして使用され、そしてこれらのストップは種々のサイズで入手できる。ストップ40の好ましいサイズはシステム10の他のパラメーターに応じて変化し、そしてストップの所定のサイズは好ましくはコントラスト、整合の容易さおよび振動に対する感度が最良に歩み寄るように選択される。
【0039】
実際に構成されたサブシステム16で使用されたカメラはビデック(Videk)社により販売されている高解像度のカメラであり、これは標準ニコンマウントレンズを取り付けできる。F−1.8 50mmニコンレンズ56が初めにカメラ36上に取り付けられ、次いでレンズ54のハウジングがレンズ56上に組み込まれる。このビデックカメラの有効視野は13.8×13.8mmであり、これは例えばコンタクトレンズの最大サイズよりも約10〜15%大きい。検査の正確度を最適なものにするため、検査対象の眼レンズができるだけ多くカメラ36の視野を占めることが望ましい。したがって、自動的に検査対象のレンズの中心が出るように調節することにより、レンズキャリヤー22の検査用カップ110はそのカメラで得られる解像度を最大に利用できる。
【0040】
サブシステム14および16の好ましい配置は幾つかの利点を有する。第1に、光路82は折り曲げられるため、フラッシュランプ30はレンズ検査位置144にある眼レンズからかなり遠い所に配置することができ、これにより眼レンズにおいて非常に平行化された光線が得られる。第2に、ストップ40上の弧形像のサイズは実質的に、弧の物理的サイズに(i)ランプ30からレンズ54までの距離と(ii)レンズ54からストップ40までの距離との比を掛けたものに等しい。図8に示される好ましい配置はまた、弧形像のサイズを最小限にし、そのためより小さなストップの使用が可能になり、結果としてより大きな感度が得られる。第3に、虹彩絞り130は光線82の断面積、すなわちその光線により照明される領域を制限する。好ましくは、絞り130はその光線が検査対象の眼レンズの直径よりも約10〜15%大きい円形部を照明するように光線82の断面積またはサイズを調整するため使用される。照明ビーム82のサイズを制限することにより、画素アレー上に形成される像とそのアレーの残りとの間のコントラストが改善され、特に、レンズ検査用カップの加工物から散乱する光の量を排除または実質的に減少する。この散乱した光は画素アレー46上にバックグラウンド光として現われ、画素アレー上の問題の画像とそのアレーの残りとの間のコントラストを減少する。
【0041】
さらに、サブシステム14および16の好ましい配置において、システムの倍率、すなわち画素アレー46上の眼レンズの画像サイズとその眼レンズの実際のサイズとの比は、第2レンズ56の焦点距離と第1レンズ54の焦点距離との比にほぼ等しい。実際の倍率はまた、レンズ54および56間の距離、並びに検査対象の眼レンズの第1結像レンズ54からの距離に依存する。さらに、可傾式台140aおよび並進台140bによりミラー34の反射した光線の中心を調整して画像化光学的サブシステム16の軸と整合することができる。
【0042】
上記したように、画像化サブシステム16は大体第1レンズ54の焦点距離だけ離れた2つのレンズ54および56を含む。2つのレンズを使用する必要はないが、2つのレンズを使用することはサブシステム14および16の種々のパラメーターをよりコントロールするため好ましく、例えばそれはサブシステムの倍率からの後側焦点面および画像面間の分離を切り離す。
【0043】
図11a,11bおよび11cはそれぞれ一般に152,154および156と番号付けた別の光学配置を示す。これらはシステム10において光線82をレンズ検査位置およびその位置に保持された眼レンズを通って、ストップ40および画素アレー46上に直射するため使用することができる。
【0044】
配置152は同時に光線82をストップ40上に結像し、検査対象のレンズを画素アレー46上に結像する唯一のレンズ160を含む。さらに詳しくは、図11aに示される光学配置はミラー162、結像レンズ160およびストップ40を含み、そしてこの図はまた164に図示されているレンズホルダー、検査対象の眼レンズ166および画素アレー46を示す。この配置において、光線82または光源30からのパルスはミラー162に直射され、次いでこれはその光をレンズ166を通って結像レンズ160に直射する。それにより、レンズ160に直射された光の殆んどは焦点がストップ40上に合わせられるが、レンズ166のある種の特徴は光を十分に屈折し、その結果この屈折した光はストップ40を透過し、画素アレー46上に焦点が合わせられ、その上にストップ40を透過する光の原因となったレンズ166の特徴の像を形成する。図11aの配置はカメラ36のCCDスクリーンが上記の高解像度のVidekカメラのCCDスクリーンよりも大きい場合好ましい配置となりうる。
【0045】
図11bの配置154において、光源をストップ40上に結像する機能と検査対象の眼レンズを画素アレー46上に結像する機能とは分離されている。詳しくは、この配置はミラー170、レンズ172,174およびストップ40を含み、そして図11bはまたレンズホルダー164、眼レンズ166および画素アレー46を示す。この配置において、光源30からの光線82はミラー170上に直射され、そしてこのミラーはその光線をレンズ172に直射する。レンズ172はその光を眼レンズ166全体に直射し、そしてレンズ166を透過した光の殆んどはストップ40上に焦点が合わせられる。レンズ166のある種の特徴はストップ40から光を屈折するが、この屈折した光はレンズ174に入射し、これはその光の焦点を画素アレー46上に合わせ、その上にストップ40を通過した光を屈折する原因となったレンズ174の特徴の像を形成する。図11bのレンズ配置の利点は2つのレンズ172および174の作用が完全に独立していることである。
【0046】
図11cに示される光学配置156は図8に示される光学配置と非常に似ているが、配置156はミラー32または絞り130を含まない。さらに詳しくは、配置156はミラー176、レンズ180,182およびストップ40を含み、そして図11cはまたレンズホルダー164、眼レンズ166および画素アレー46を示す。図11cの配置において、光源30からの光線82はミラー176上に直射され、これはその光をレンズ166を通って第1レンズ180上に直射する。レンズ180に直射された光の殆んどは焦点がストップ40上に合わせられるが、レンズ166のある種の特徴は十分に光を屈折し、その結果この光はストップ40を通って第2レンズ182上に透過され、そしてこのレンズ182はこの光の焦点を画素アレー46上に合わせる。この配置において、レンズ180はレンズ182とは別に光源をストップ上に結像する。しかしながら、レンズ180および182は共にレンズ166の欠陥を画素アレー46上に結像するのに含まれる。
【0047】
上記の他に、システム10はまた好ましくは照明サブシステム14および画像化サブシステム16の操作を輸送サブシステム12の操作と同期させるため、特に光源30を作動して光パルスを発生させたり、レンズがレンズ検査位置144にある時カメラシャッター50を開いたりするための、制御サブシステムを含む。好ましい制御サブシステムは図12aに詳しく示されている。この好ましい制御サブシステムにおいて、輸送サブシステム12はそれぞれレンズ検査用カップが1個づつレンズ検査位置に配置される度毎に電気信号を発生する。この信号は例えばステッピングモーター94、または並進テーブル92のための他の駆動装置により、あるいはそれぞれレンズ検査用カップが1個づつレンズ検査位置に到達する度毎に動作するリミットスイッチにより発生しうる。好ましくは、この信号はカメラシャッター50に伝達されてそのシャッターを開き、また短い間電気信号を送らせる遅延回路184に伝達されてカメラシャッターを完全に開き、そしてこの短い遅れの後、この電気信号はランプ駆動装置134に伝達されて光源30を作動させる。
【0048】
例えば、構成されたシステム10の態様において、図12bを参照すると、眼レンズがレンズ検査位置にある時に輸送サブシステムはカメラ36および遅延回路184の両方に24ボルトのパルスを発生し、伝達する。カメラのシャッターはこのパルスの前縁に応答して開き、そして完全に開くまで約9ミリ秒かかる。遅延回路は信号のランプ駆動装置134への伝達を約15ミリ秒送らせ、そしてこの遅れの後、このトリガーパルスはランプ駆動装置に伝達される。このトリガーパルスの前縁はSCRを作動してフラッシュランプ30を点火する。この点火時に、ランプは導電性になり、そして予め充電されたコンデンサーがランプを通して放電される。容量およびそれに充電された電圧はランプにより放出された光エネルギーの総量および光パルスの持続時間を決定する。一方、インターフェース回路はカメラシャッターを約30ミリ秒間、開放してからシャッターを閉じる。
【0049】
上記のようにカメラシャッターを使用することにより、レンズ検査中における画素アレー46の周囲の光の積分が回避または実質的に減少される。また、好ましくは高電圧の電源、ランプ駆動回路および充電用コンデンサーが照明光学系を含むハウジング構造26に取り付けられる。
【0050】
ランプ30からの光は検査対象の眼レンズを停止する必要がないような短い時間で画素アレー46上の像を捕らえることができる程十分である。したがって、輸送サブシステム12は好ましくは画像化サブシステム16の下で連続的に眼レンズの配列を動かすように設計される。この眼レンズ配列の連続的で平滑な動きは画像化プロセスに干渉しうるカップ110中の溶液112の上面の波しわまたは他の障害の発生を減少または排除するため有利である。
【0051】
輸送サブシステム12、照明サブシステム14および画像化サブシステム16の所望の同期または配置を他のやり方で行なうことができることは当業者ならば容易に理解できよう。例えば、光源30を作動させ、シャッター50をレンズ検査位置144へのレンズの配置と一致するように選択される所定の時間間隔で開くことができる。
【0052】
照明および画像化プロセスにおける飛塵の作用を最小限にするため、照明,画像化および輸送サブシステムをハウジング(図示せず)中に密閉してもよい。そのハウジングは透明な表戸、または近づいてハウジングの内部を観察できる透明な窓を有する表戸を備えていてもよく、そしてそれらの表戸の透明な部分は照明および画像化プロセスにおける周囲の部屋の明かりの作用を最小限にするために着色してもよい。
【0053】
図13は画像処理サブシステム20を示すブロック図である。このサブシステムにおいて、画素アレーからの電気信号は直列および並列形式を組合わせてプレプロセッサ62に伝達される。プレプロセッサ62に伝達されるこれらの電気信号はその信号を発生した特定の画素を用いて適当なやり方で識別することができる。例えば、カメラ36の画素からの信号は所定の定期シーケンスでプレプロセッサ62に伝達することができ、そしてクロック信号もまたカメラからプレプロセッサに伝達してそのシーケンスの開始または所定の区間を識別することができる。あるいは、プロセッサ62に伝達された各信号はその信号を発生した特定の画素を識別するヘッダまたは他のデータタブを備えていてもよい。
【0054】
ユニット62は、アレー46の各画素からの各電流信号をそれぞれディジタルデータ値I0 に変換し、そしてそのデータ値をその電気信号を発生した画素のアドレスと関連したアドレスを有するメモリロケーションに記憶させる。これらのデータ値はプロセッサ64に利用でき、バスライン186を介してそれに伝達することができる。好ましくは、下記で詳しく説明されるように、各データセットはそれぞれアレー46の各画素と関連したデータ値を有する多数の追加のセットのデータ値I1 ……In が発生し、そしてプレプロセッサ62は多数のメモリセクションまたはボードを含み、これらはそれぞれこれらのデータ値の各セットを記憶させるために使用される。
【0055】
プロセッサ64はバスライン186を介してプレプロセッサ62に連結され、そのプレプロセッサからデータ値を入手し、またデータ値をそれに伝達する。下記でより詳しく説明されるように、プロセッサ64はプレプロセッサに記憶されたデータ値を処理、解析してシステム10により検査された各レンズの少なくとも1つの状態またはパラメーターを識別するように、例えば各レンズが消費者の使用に適格であるかどうかを判定するようにプログラミングされる。
【0056】
メモリディスク70はプロセッサ64に連結され、データ値を受け取り、永久にまたは半永久に保持する。例えば、メモリディスク70はプロセッサ64により使用される種々のルックアップテーブルを備えていてもよく、またメモリディスクは、レンズ検査プロセスに関係する、またはそれにより得られたデータを記憶させるために使用してもよい。例えば、メモリディスク70は所定の日数または期間中に検査されたレンズの総数、あるいは所定のサンプルまたはグループのレンズで見い出された欠陥の総数、タイプおよびサイズの記録を取るため使用してもよい。
【0057】
キーボード66はプロセッサ64に連結され、オペレーターがそれに入力し、そしてキーボード端末74はそのプロセッサ中に入力されるデータまたはメッセージを視覚的に表示するために使用される。モニタ72はプレプロセッサ62に連結され、プレプロセッサに記憶されたデータ値からビデオ画像を形成するために備えられている。例えば、I0 データ値はモニタ72に伝達され、画素アレー46上に形成された実像の画像をそれに形成することができる。他のセットのデータ値I1 ……In はモニタ72に伝達され、その実像の厳密なまたは処理された画像を形成することができる。プリンタ76は直列/並列コンバータ190を介してプロセッサ64に連結され、プロセッサ64からプリンタに伝達された所定のデータ値の目に見える永久的な記録を与える。サブシステム20が他のまたは追加的な入力および出力装置を備えていてもよく、それによりオペレーターまたはアナリストがプロセッサ64、プレプロセッサ62およびメモリユニット70を相互作用させることができることは当業者ならば容易に理解できよう。
【0058】
サブシステム20の個々の要素は従来のものであり、当業者に良く知られている。好ましくは、プロセッサ64は高速ディジタルコンピューターであり、そしてモニタ72は高解像度のカラーモニタである。また、例えばプレプロセッサ62はデータキューブ(Datacube)信号処理ボードの組立品であってよく、そしてプロセッサ64はサン 3/140 ワーク ステーション(Sun
3/140 work station)であってよい。
【0059】
上記したように、眼レンズがカメラ36のすぐ下を通過する度毎に、光は眼レンズを通って伝達され、焦点が画素アレー46上に合わせられ、そしてアレー46の各画素はそれぞれその画素に入射した光の強度を示す大きさを有する出力電流を発生する。各画素のこの電流はディジタルデータ値に変換され、その画素と関連したプレプロセッサメモリのアドレスに記憶される。これらのディジタルデータ値(I0 値と呼ばれる)は下記のように処理され、カメラ36の下を通過するレンズが所定の特徴群の1つ以上を含むかどうかを、特にそのレンズが消費者の使用に不適格なものにする傷または欠陥とみなされる特徴の何れかを含むかどうかを判定する。
【0060】
図14は図2および3に示されるレンズ84のタイプの欠陥を識別するための好ましい画像処理プロセスの主要な構成を示す。画素アレー上でレンズ画像を得た後、その画像を偏心(decentration)と呼ばれる操作で試験して、そのレンズの環84cの内側および外側の円周方向の縁が正確に互いに中心が一致しているかどうかを判定し、そしてこの偏心試験は第1および第2の円を画素アレー上に形成された環の内側および外側の縁に適合することを含む。この後、環の実際の縁が見つけられるか、または抜き出される。次に、レンズ検査用カップの周囲により屈折した光に関連するデータを減少または排除するために第1マスキング手続が使用され、そして縁の欠陥はラバーバンドアルゴリズムと呼ばれる手続により際立たされる。次に、欠陥はさらにフィルイン(fill−in)およびクリーンアップ(clean−up)と呼ばれる手続により、また環の画像の中心近くにある特定の画素に関連したデータを排除する第2マスキング手続により強調される。
【0061】
ありうる欠陥が強調または際立たされた後、実際に欠陥が存在するかどうかを判定するため調査される。特に、アレー46の画素、またはより正確にはこれらの画素と関連するデータ値が調査され、欠陥の一部となりうる画素の線分(line segment)またはランレングス(runlengths)が識別され、次いでこれらのランレングスは集められ、欠陥になりそうなものが識別される。次に、これらの欠陥になりそうなものの大きさおよび場所が分析され、これらがそのレンズを消費者の使用に不適格なものにする本当の欠陥であるかどうかが判定される。
【0062】
上記したように、偏心試験はカメラの下を通過するレンズの環84cの内側および外側の円周方向の縁が同心性であるかどうかを判定するために使用される。図15を参照して、一般にこれは画素アレー46を横切って多数のスキャン202を行なうことにより、またはさらに正確にはアレー46上の所定の線分における画素のアドレスに相当するプレプロセッサメモリのアドレスのデータ値を調査することにより実施され、環150の外側の縁150aおよび内側の縁150bが同心性であるかどうかが判定される。
【0063】
図16および17は偏心試験またはルーチンR1 を示す。このルーチンの最初のステップ204は閾サブルーチンと呼ばれ、そしてこのルーチンの目的は各画素を画素の元の照度I0 が所定の閾値Tt より上か下かに応じてそれぞれ最大照度Tmax または最小照度Tmin に相当する新しい強度I1 と関係づけることである。したがって、例えば元の照度I0 が127より大きい各画素は255の新しい照度I1 を有してもよく、また元の照度が127以下である各画素は0の新しい照度I1 を有してもよい。
【0064】
偏心試験の次のステップ206はこの試験で使用されるスキャン202の数、場所およびサイズを設定することであり、そしてこれはプロセッサ64に初期の画素のアドレス、および各スキャンの長さと方向を与えることにより行なわれる。これらのパラメーターはレンズが大きく中心からはずれていなければ、多数のスキャンがそれぞれ環150の両方の縁と横切るように選択される。好ましくは、プロセッサ64またはメモリディスク70はこれらの初期アドレス、方向およびスキャンの長さの半永久的な記録が与えられる。この記録は所定の表示タイプまたはサイズの各レンズの検査中に使用され、またこの半永久的な記録は異なる表示タイプまたはサイズのレンズを検査する場合に変えることができる。
【0065】
次に、ステップ210において、所定のスキャンが画素アレーまたはディスプレイ46を横切って行なわれる。レンズが大きく中心からはずれていなければ、これらのスキャンの殆んどはそのディスプレイの照らされた部分を横切る。スキャンがディスプレイの照らされた部分を横切る場合、その照らされた部分を横切る線分の最初と最後の画素のアドレス、およびランレングスと呼ばれるその線分の長さがファイルf1 に記録される。ランレングスの最初と最後の画素を検出するための、それらの画素のアドレスを得るための、およびそれぞれのランレングスの長さを測定するためのサブルーチンは当業者に良く知られており、そしてこのような適当なルーチンは偏心試験に使用することができる。
【0066】
次に、ステップ212において、これらのランレングスのそれぞれの長さは所定の値と比較され、そして所定の値よりも小さいランレングスと関係のあるデーター、すなわちランレングスの最初と最後の画素のアドレスおよびランレングスの長さは捨てられる。この放棄は画素アレー46上のノイズ、すなわち画素アレーに入射した望ましくない光により生じたデータを排除するため、または少なくともその量を減少させるため行なわれる。詳しくは、バックグラウンド光による、またはほこりや他の粒子により所望の光路を屈折した光によるノイズは画素アレー上に照らされた領域を形成しうる。大抵の場合、これらの照らされた領域はそれぞれ1個のまたは小グループの隣接した画素からなる。ステップ210の間に行なわれた上記のスキャンの1つがこのような照らされた領域を横切ると、プロセッサはその照らされた領域を横切るランレングスの最初と最後の画素のアドレスおよび長さを記録する。しかしながら、この照らされた領域およびその関連した領域は環162またはその縁に関係がないため、ステップ212はこのデータを捨てる。
【0067】
偏心試験の次のステップ214は残りの画素アドレスをそれぞれ環の外側または内側の縁上のものであると識別することであり、これを行なうために適当なサブルーチンを使用できる。例えば、各ランレングスの最初および最後の画素のアドレスを互いに比較することができ、そして全体の画素アレー46の中心により近い画素は環162の内側の縁上のものであるとみなすことができ、他方、画素アレーの中心からかなり離れた画素は環の外側の縁上のものであるとみなすことができる。別法として、スキャンを2つのグループに分けて、第1グループの各スキャンについては照らされたランレングスがスキャン中に見い出された場合、ランレングスの最初および最後の画素はそれぞれ環の外側および内側の縁上のものとし、そして第2グループの各スキャンについては照らされたランレングスがスキャン中に見い出された場合、ランレングスの最初および最後の画素はそれぞれ環の内側および外側の縁上のものとする。
【0068】
各画素が環162の内側または外側の縁上のものと識別された後、ステップ216においてそれぞれの縁上で見い出された画素の数がカウントされる。これらの数の何れかが3より小さい場合、ステップ220においてレンズが大きく中心からはずれているという理由でそのレンズは不合格にされる。もし、少なくとも3個の画素がそれぞれの縁上で見い出されると、ステップ222において第1に環の外側の縁上で見い出された画素上に第1の円を適合し、第2に環の内側の縁上で見い出された画素上に第2の円を適合し、そして第3にこれらの2つの円の中心および半径を算出するサブルーチンが行なわれる。円を3個以上の点に適合し、その円の中心および半径を計算するためのサブルーチンは多数知られており、そしてこのようなサブルーチンは何れもステップ222における偏心試験に使用することができる。
【0069】
これらの2つの適合された円の中心が計算された後、これらの2つの中心の間の距離dがステップ224において決定される。この距離はステップ226において最初の値d1 と比較され、そしてその距離がd1 より大きい場合、そのレンズはステップ230において大きく中心からはずれているものとして不合格にされる。距離dがd1 より小さい場合、ステップ232においてその距離dは環150の内側および外側の縁の最大許容中心間距離であるd2 と比較される。適合された円の中心間距離dがd2 より大きい場合、そのレンズはステップ234において中心からはずれているものとして不合格にされるが、他方、距離dがd2 に等しいか、またはそれより小さい場合、そのレンズはステップ236で指示されるように偏心試験に合格する。
【0070】
レンズが偏心試験に合格すると、プロセッサ64は縁検出と呼ばれるプロセスまたはルーチンR2 を開始して、環150の縁上の画素を識別するために使用される一連の照度を生成する。典型的には、これらの縁は完全な円ではないため、偏心試験の間の適合された円とは異なる。この新しい一連の照度はアレー46の各画素に割り当てられたまたは関連した元の強度における一連の形態学的操作または変化により得られる。これらの形態学的変化は図17a〜17iに図示されており、また図19にフローチャートの形で示されている。さらに詳しくは、図18aは画素アレー46上の環150の像を示しており、そして図18bはその環の一部の拡大図であり、画素アレーの環部分およびその隣接した領域を横切る短い線分240、すなわちスキャンを示している。図18cはスキャン240における画素の強度I1 を示しており、また図から明らかなように図18bの暗い領域の画素のI1 値はより低いか、または0であり、そして図18bの明るい領域の画素はより高いI1 値、例えばTmax を有する。
【0071】
図19および図18c,18dを参照して、縁検出プロセスの最初のステップ242において、新しいI2 値が各画素について計算され、また詳しくは各画素についてのI2 値はその画素およびそれと直に隣接する8個の画素のI1 値の平均と等しくなるように設定される。アレー46の画素についてのI1 値とI2 値との違いは、I2 値が最低のI2 値を有する画素(一般に画素アレーの暗い領域にある画素)と最高のI2 値を有する画素(一般にアレー46の明るい領域にある画素)との間をより徐々に変動するという点である。この違いは図18cと図18dを比較することにより良く理解されよう。
【0072】
次に、ステップ244において、さらにI3 値が各画素について決定され、詳しくは各画素についてのI3 値はその画素およびそれと直に隣接する8個の画素のI2 値のうち最小のものと等しくなるように設定される。図18dおよび18eを参照して、I3 値はI2 値がその画素のスキャンに沿って変動するのと非常に似た形でスキャン240に沿って変動する。画素のI2 値およびI3 値が画素アレーに沿って変動する際のその変動のしかたの根本的な違いは最高のI3 値を有する画素の幅が最高のI2 値を有する画素の幅よりも僅かに狭いという点である。
【0073】
縁検出プロセスにおける次のステップ246は、式I4 =I2 −I3 に従って各画素についてのI4 値を決定することである。図18fを参照して、スキャン240の画素の殆んどは0のI4 値を有するが、環162の2つの縁上とその内側の半径方向にある画素は正のI4 値を有する。次に、ステップ250において、I5 値が各画素について決定され、詳しくは各画素のI5 値はその画素およびそれと直に隣接する8個の画素のI2 値のうち最大のものと等しくなるように設定される。画素アレー46上の画素の殆んどについて、画素のI5 値は画素のI2 値と同じである。しかしながら、環150の縁の所定の距離内の画素については、画素のI5 値は画素のI2 値より大きく、また最高のI5 値を有する画素の幅は最高のI2 値を有する画素の幅よりも僅かに幅広い。
【0074】
縁検出プロセスにおける次のステップ252は、式I6 =I5 −I2 に従って各画素についてのI6 値をさらに決定することである。図18hを参照して、画素アレー上の画素の殆んどは0のI6 値を有するが、環150の2つの縁上とその外側の半径方向にある画素は正のI6 値を有する。次に、ステップ254において、I7 値が各画素に割り当てられ、詳しくは各画素のI7 値はその画素のI4 値およびI6 値のうちより小さいものと等しくなるように設定される。図17iを参照して、画素アレー上の画素の殆んどは0のI7 値を有するが、環150の2つの縁上のおよびそれに直に隣接する画素は正のI7 値を有する。このようにして、画素のI7 値は環の縁上にある画素を識別する。
【0075】
次に、ステップ256において閾サブルーチンを行なって、ディスプレイ46における環150の縁上の画素と他の画素との区別をはっきりさせる。特に、各画素はその画素のI7 値がTt のような所定の閾値より大きいまたは小さいかに応じてそれぞれ最大照度Tmax または最小照度Tmin に等しいI8 値が割り当てられる。したがって、例えば32より大きいI7 値を有する各画素は255のI8 値が与えられ、そして32以下のI7 値を有する各画素は0のI8 値が与えられる。
【0076】
図18jはそのI8 値に等しい強度で照らされたアレー46の各画素を示すものである。
【0077】
I1 〜I8 値の計算および処理の間、好ましくは画素の各セットの値はそれぞれプレプロセッサ62のメモリレジスタに記憶される。すなわち例えばI0 値はすべて第1レジスタに記憶され、I1 値はすべて第2レジスタに記憶され、そしてI2 値はすべて第3レジスタに記憶される。しかしながら、各レンズについて全処理期間中、すべてのI1 〜I8 値を記憶する必要はなく、例えば各処理期間中、I4 値を計算した後にI3 値を捨ててもよく、またI6 値が決定された後にI5 値を捨ててもよい。
【0078】
さらに、アレー46のすべての画素についてI2 〜I8 値を計算する必要はない。所定のタイプの眼レンズにおいて、レンズの環は画素アレー46の比較的はっきりした領域に現われるため、その領域の画素についてI2 〜I8 値を決定する必要があるだけである。しかしながら、実際のところ、その特定の領域の画素を識別するための処理段階をさらに加えるよりもむしろ、アレー46のすべての画素についてI2 〜I8 値を計算した方がより簡単であることがよくある。
【0079】
縁検出ルーチンの終了後、レンズ検査システムはレンズを保持するために使用されるレンズ検査用カップの縁により生じる効果のない一連の画素の照度を得るためのマスキングルーチンを行なう。詳しくは、環レンズがフラッシュランプ30からのせん光により照らされると、そのレンズを保持しているカップにもまた光が伝達される。カップの縁はその光がストップ40を通って画素アレー46上に透過し、その上に図20aの260に示されるようなカップの縁の像またはその一部の像を形成するのに十分な程この光を回折する。この縁の像はレンズそのものには関係がないため、そのカップの縁の像に関連したデータは何れも、レンズ像そのものに関連したデータの処理において不必要であり、望ましくない。マスキングルーチンはカップの縁の像を画素アレー46から排除するために、またはより正確には上記のカップの縁の像260に関連した画素データを含まない一連の画素の照度を得るために行なわれる。
【0080】
図21は好ましいマスキングルーチンR3 を示すフローチャートである。このルーチンの最初のステップ262は偏心試験のステップ216または226において少なくとも3個の画素が環162の外縁上で見い出されたかどうかを、または眼レンズが大きく中心からはずれていたかどうかを調べることである。レンズが偏心試験のこれらの2つのステップの何れかにおいて大きく中心からはずれていることがわかった場合、マスキングルーチンR3 はステップ262で終了する。
【0081】
ルーチンR3 がステップ262で終了しない場合、そのルーチンはステップ264まで進み、そこで偏心試験中に環150の外縁150aに適合された円の中心の座標を得る。これらの座標は偏心試験中に決定された後、プロセッサ64のメモリまたはメモリディスク70に記憶されるため、これらの座標をそのメモリから検索することにより容易に得ることができる。これらの中心座標が得られると、マスキングサブルーチンがステップ266で行なわれる。図20bを参照して、このサブルーチンは実際のところ、上記の中心座標に中心があり、環150の外縁に適合された円の直径よりも僅かに大きい直径を有する円形のマスク270を画素アレー46上にスーパーインポーズする。次に、マスキングサブルーチンはその画素がこのマスクの内側にあるかまたは外側にあるかでI9 値を各画素に割り当てる。特に、そのマスクの外側にある各画素について、マスキングサブルーチンは0のI9 値を割り当て、そしてそのマスクの内側にある各画素について、マスキングサブルーチンはその画素のI8 値に等しいI9 値を割り当てる。
【0082】
より正確には、ステップ266において、上記の中心点の座標(x0 ,y0 )、および環150の外縁に適合された円の半径よりも僅かに大きくなるように選択される半径値r1 がマスキングサブルーチンに伝達される。次に、このサブルーチンはその中心点(x0 ,y0 )から距離r1 内にあるアレー46のすべての画素のアドレスのファイルf2 を作成する。次に、ステップ272において、アレー46の各画素のアドレスはそのファイルの中に入っているかどうかについてチェックされる。画素のアドレスがそのファイルに入っている場合、ステップ274においてその画素のI9 値はその画素のI8 値と等しくなるように設定され、他方、画素のアドレスがそのファイルに入っていない場合、ステップ276においてその画素のI9 値は0に設定される。
【0083】
多数のマスキングサブルーチンが当該技術分野において良く知られており、ルーチンR3 のステップ266で使用することができる。
【0084】
図20cはそれぞれのI9 値と等しい強度で照らされたアレー46の画素を示す。
【0085】
図21に示されるマスキング手続が終了した後、プロセッサ64はラバーバントアルゴリズムと呼ばれる次の操作を開始する。このアルゴリズムは一般に、環の縁150aにある画素およびそれと直に隣接している画素のデータ値またはこれらの画素に関連したデータ値を解析し、処理することを包含しており、そして図22aおよび22bは一般にラバーバンドアルゴリズムを説明するフローチャートである。これらの図を参照して、このアルゴリズムの最初のステップ280は偏心試験においてレンズの外縁150aに適合された円の中心座標および半径を得ることである。上記したように、これらの値は偏心試験中に決定され、メモリに記憶されたものであって、そしてそのメモリから探索することによりこれらの値を得ることができる。
【0086】
ラバーバンドアルゴリズムの次のステップ282は照らされた画素が見つかるまで画素アレー46の左端から内側へ探索することにより環150の外縁150a上の画素を突き止めることである。所定の探索の間に見つけられる最初の照らされた画素はレンズ画像の縁上のものではなく、バックグラウンドのノイズにより照らされた他の場所のものかもしれない。したがって、好ましくは、ステップ282において多数の照らされた画素を見つけるために多数のスキャンまたは探索が行なわれ、次いでこれらの画素の位置は解析され、または互いに比較されて、画素がレンズ画像の縁上にあることを確認する手助けになる。
【0087】
最初の画素をレンズ画像の縁上に見つけると、ラバーバンドアルゴリズムはステップ284まで進み、そして、このステップにおいてこのアルゴリズムは実際上、この最初の画素から開始してレンズ画像の縁の周りのすべてを探索して、結局その最初の画素に戻る。この最初の探索の間、アルゴリズムはレンズ画像の外縁上の殆んどまたはすべての画素のアドレスをファイルf3 に記録し、またアルゴリズムはレンズの縁にあるより大きなギャップ、これらのギャップの長さおよびレンズの縁上のより大きな余分な部分を識別する。ステップ286において、アルゴリズムは実際のところレンズの縁にあるより大きなギャップを横切り、そしてその縁上のより大きな余分な部分の何れかの側を横切って引かれる、下記で詳しく説明する所定の線の終点である画素のアドレスをファイルf4 に記録する。
【0088】
この第1パス、すなわちレンズ画像の周囲の探索が終了すると、ラバーバンドアルゴリズムはステップ290において、見つかったギャップがそのレンズを取り除く必要がある程大きいかどうかを判定する。そのようなギャップが見つかった場合、そのレンズは不合格にされ、そしてステップ292においてプリンタ76がそのレンズの縁は不良であるというメッセージをプリントする。
【0089】
レンズがステップ290においてこのギャップ試験に合格すると、ラバーバンドアルゴリズムは進行して、第2パスすなわちレンズ画像の縁のあたりの探索が行なわれる。
【0090】
図22bの294に示されるように、この第2パスにおいてアルゴリズムはレンズの外縁に沿って内側または外側へ半径方向に伸びるより小さなギャップおよびより小さな余分な部分のような浅い特徴を識別し、そしてこのような検出された特徴についてそれぞれそのレンズを不合格にする必要があるかどうかを判定する。一般に、これはレンズの外縁上の少なくとも所定の画素のそれぞれについて、その画素を通る半径方向ベクトルおよび縁ベクトルである2つのベクトルのドット積を計算することにより行なわれる。画素を通る半径方向ベクトルは環150の外縁150aに適合された円の中心点を通って伸びるベクトルである。画素を通る縁ベクトルはその画素と環150の外縁上の第2画素、環150の外縁150aに沿って前面の画素から所定数の後方、すなわち反時計回りにある画素を通って伸びるベクトルである。
【0091】
ギャップまたは余分な部分のような欠陥を全く含まないレンズの縁の一定の円形部分上の画素について、その画素を通る半径方向ベクトルおよび縁ベクトルは実質的に垂直なため、これらの2つのベクトルのドット積は実質的に0である。しかしながら、レンズの縁上のギャップまたは余分な部分にある殆んどのまたはすべての画素については、その画素を通る縁ベクトルおよび半径方向ベクトルが垂直でないため、これらの2つのベクトルのドット積は0ではない。計算されたドット積が所定の値よりも大きい場合、そのレンズは消費者の使用に不適格であるとみなされ、不合格にされる。
【0092】
レンズがその縁について第2パスの間に与えられた試験に合格すると、ラバーバンドアルゴリズムは図23のステップ296に示されるように、レンズ画像の縁について第3パスを行なう。この第3パスはそのレンズを不合格にするかどうかを判定するための試験を含まないが、代わりに次の試験のためのデータを処理または作成することを含む。特に、この第3パスは環150の外縁150aの内側にあるレンズの欠陥に関連したデータを含まない一連のデータ値を作成するため行なわれる。この一連のデータ値は実質的にそれらの欠陥に関連したデータを含む一連のデータ値から引かれ、それによりそれらの傷に関連したデータだけを有する一連のデータ値が得られる。
【0093】
一般に、レンズの縁についてのこの第3パスにおいて、ラバーバンドアルゴリズムは環150の外縁150aの半径方向の平均厚さを決定し、そして環の外縁の内側にあるすべての画素のI9 値を0に設定する。例えば、環の外縁が6個の画素の平均厚さを有する場合、ラバーバンドアルゴリズムは環の外縁の内側の半径方向の7〜27個の画素にあるすべての画素のI9 値を0に設定することができる。
【0094】
図24〜34はラバーバンドアルゴリズムを詳細に説明するものである。より詳しくは、図22は環150の外縁150a上に最初の画素P(x,y)を置くのに適したサブルーチンS1 を示す。ステップ300において、(x0 ,y0 )は偏心試験中に環の外縁に適合された円の中心座標に等しくなるように設定され、そしてステップ302において、r0 はその適合された外円の半径に等しくなるように設定される。次に、ステップ304に示されるように、アレーの左端の中心またはその周囲から開始して、画素アレー46を横切って水平方向のスキャンが行なわれる。より正確には、プロセッサ64は画素アレー上の所定の水平方向の線分にある画素のアドレスに相当するプレプロセッサメモリ中のアドレスにおけるデータ値I9 を解析する。これらのスキャンの間、プロセッサ64は画素の所定の水平方向の列にある各画素のI9 値をチェックして所定の値より大きいI9 値を有するその列の最初の画素を識別し、そして好ましくは多数の識別された画素を得るため多数のこのようなスキャンが行なわれる。
【0095】
典型的には、これらの識別された画素はすべて環150の外縁150a上にある。しかし、アレー上およびその縁の左側のどこかにある画素はバックグラウンドのノイズまたはそのレンズ検査プロセス中に画素上に入射した迷走光により高いI9 値を有することがあり、またこのような画素は上記のスキャンにおいて照らされた画素として識別されうる。このような画素が縁の画素として識別されないように、ステップ306において、サブルーチンS1 はこのような画素のアドレスを識別し、捨てる。より詳しくは、サブルーチンは最初にそのスキャンにおいて識別された各画素と偏心試験中にレンズ画像の外縁に適合された外縁の中心(x0 ,y0 )との間の距離を決定し、次に得られたそれぞれの距離をその適合された外円の半径と等しくなるように設定されたr0 と比較する。特定の画素とその適合された円の中心との間の距離がr0 を所定の距離d3 以上越える場合、その画素は環150の縁上にあるものまたはそれと直に隣接したものとはみなされず、そしてその画素のアドレスは捨てられる。スキャン中に見つけられたすべての画素のアドレスがチェックされて、これらがレンズの縁上にあるかまたはそれと直に隣接しているかどうか決定され、そしてそこにないものが捨てられた後、ステップ310に示されるように残りの画素のアドレスは画素P(x,y)として選択され、次にレンズ画像の縁についての第1パスが開始される。
【0096】
図25はこの第1パスがどのように行なわれるかを詳細に説明するものであり、このパスを行なうためのルーチンR4 を示す。ステップ312において、アルゴリズムはステップ314および320に示されているように、画素P(x,y)から開始して環150の外縁に沿って前方、すなわち時計回りに、その縁にある大きなギャップまたは大きな余分な部分の何れかを探索する。縁に沿って探索するために適当なサブルーチンまたは手続を使用することができる。例えば、その縁上の所定の画素から画素P(x,y)を用いて開始して、プロセッサはレンズの縁上の次の画素を識別するために、所定の画素が位置するディスプレイ46の四分円または扇形に応じて、所定の画素の上下の行または左右の列にある最も接近した3個または5個の画素をチェックする。この次の画素から、プロセッサはこれと同じ手続を使用してレンズの縁上のさらに次の画素を識別することができる。
【0097】
また、レンズの縁上で見つけられた各画素について、プロセッサはその画素とレンズの外縁に適合された円の中心点(x0 ,y0 )との間の距離rを決定することができる。プロセッサはレンズの縁上の所定数の連続画素のそれぞれについて、rがr0 より所定量のdg よりも多く小さい(すなわち、r0 −r>dg )場合、大きなギャップが見つかったと結論できる。
【0098】
逆に、プロセッサはレンズの縁上の所定数の連続画素のそれぞれについて、rがr0 より所定量のdepよりも多く大きい(すなわち、r−r0 >dep)場合、大きな余分な部分が見つかったと結論できる。
【0099】
ギャップまたは余分な部分が見つかった場合、その両方が下記で詳細に説明されているサブルーチンS2 またはS3 がそれぞれステップ316および322において行なわれる。ギャップまたは余分な部分が何れも見つからない場合、ルーチンR4 はステップ324まで進む。
【0100】
ステップ324において、ルーチンR4 は環150の縁についての第1パスが終了したかどうかを決定するための試験をし、これを行なうために適当な手続またはサブルーチンを使用することができる。例えば、上記したように、レンズの縁の画像について探索して、その縁上で見つけられた画素のアドレスのファイルf3 が作られる。ステップ324において、そのファイルはチェックされ、調査対象の縁の画素のアドレスがすでにそのファイルにあるかどうか決定される。その画素のアドレスがすでにファイルにある場合、レンズの縁の画像についての第1パスは終了しているとみなされ、他方、この画素のアドレスがまだファイルf3 にない場合、第1パスは終了していないとみなされる。第1パスが終了している場合、ラバーバンドアルゴリズムはルーチンR5 に進み、他方、そのレンズについての第1パスが終了していない場合、アルゴリズムはステップ326に進み、そしてこの調査対象の縁の画素のアドレスはファイルf3 に加えられる。次に、ステップ330において、レンズの縁上の次の画素が見つけられ、そしてP(x,y)はその画素のアドレスと等しくなるように設定され、次にルーチンR4 はステップ312に戻る。
【0101】
図26は環150の外縁上でギャップが見つかる度毎に行なわれるサブルーチンS2 を説明するフローチャートである。このサブルーチンの最初のステップ332はギャップの初めと終わりにある画素のアドレスおよびこれらの2つの画素の間の距離を識別し、ファイルf4 に記録することである。これらの2つの画素はそれぞれ図27aのP1 およびP2 に示されている。ギャップが見つかると、すなわちレンズの縁上の所定数の連続画素のそれぞれについてrがr0 よりdg よりも多く小さい場合、その所定数の連続画素の前にあるレンズの縁上の最後の画素はギャップの初めの画素とみなすことができる。
【0102】
また、ギャップが見つかると、そのギャップの終わりは偏心試験においてレンズの外縁に適合された円上の画素に沿ってギャップを探索し、そしてそのレンズの縁が見つかるまで、すなわち照らされた画素、またはより正確には高いI9 値を有する画素が見つかるまで、適合された円のその部分から所定数の画素について内側および外側へ半径方向に探索することにより見つけられる。レンズの縁が見つかると、そのギャップは一連の連続画素が適合された円の所定の距離の中にすべてあるようになると、特にその一連の各画素についてr0 −rがdg より小さい場合、終わったものとみなされる。その一連の連続画素の前にあるレンズの縁上の最後の画素はギャップの終わりの画素とみなすことができる。
【0103】
サブルーチンS2 のステップ340において、画素P1 とP2 との間の線上(図25bの線分L1 )にある画素のI9 値は最大照度と等しくなるように設定され、次にサブルーチンはルーチンR4 に戻る。
【0104】
図28は環150の縁上に余分な部分350が見つかった場合にルーチンR4 のステップ322において行なわれるサブルーチンS3 を説明するフローチャートである。ルーチンS3 の初めの幾つかのステップは実際上、その余分な部分に関する種々のブリッジ線を引くために行なわれる。特に、ステップ352において、サブルーチンは図27bに示されるような余分な部分350の初めと終わりにある環150の縁上の画素P3 およびP4 を識別し、次にステップ354において、図27cに示されるような画素P3 およびP4 の線分L2 上の各画素のI9 の値はTmax に設定される。次に、ステップ356において、サブルーチンは余分な部分350の初めの画素の所定の画素数だけ後方、すなわち反時計回りにある環150の縁上の画素P5 のアドレスを識別し、そしてステップ360において、画素P5 から所定の距離d4 にある余分な部分の縁上の画素P6 が見つけられる。次に、ステップ362において、図27dに示されるような画素P5 およびP6 間の線分L3 上の各画素のI9 値はTmax に設定される。
【0105】
次に、ステップ364において、サブルーチンは余分な部分の終わりの画素の所定の画素数だけ前方、すなわち時計回りにある環150の縁上の他の画素P7 のアドレスを識別し、そしてステップ366において、サブルーチンは画素P7 から所定の距離d5 にある余分な部分の縁上の画素P8 を識別する。ステップ370において、図27eに示されるような画素P7 およびP8 間の線分L4 上の各画素のI9 値もまたTmax に設定される。適当なブリッジ線が引かれた後、サブルーチンはR4 に戻る。
【0106】
レンズの縁の画像についての第1パスが終了した後、サブルーチンR5 が行なわれる。図29に示されるこのルーチンは、レンズの縁の画像についての第1パスの間に見つかったギャップが消費者の使用に不適当なレンズをもたらすに十分な程幅広いかどうかを判定するため使用される。ルーチンR5 の最初のステップ376はレンズの縁についての第1パスの間に実際にギャップが見つかったかどうかを決定することである。ギャップが見つからなかった場合、ルーチンR5 はそこで終了し、そしてラバーバンドアルゴリズムはルーチンR6 まで進む。しかしながら、レンズの縁についての第1パスの間にギャップが見つかった場合、ルーチンR5 はステップ380に進む。このステップにおいて、各ギャップの幅は一度に所定の値d5 と比較され、そしてギャップの幅がそのd5 値より大きい場合、そのレンズは消費者の使用に不適格であるとみなされ、ステップ382において不合格にされる。しかしながら、すべてのギャップの幅がd5 より小さい場合、ルーチンR5 は終了し、そしてラバーバンドアルゴリズムはルーチンR6 まで進み、レンズの縁の画像についての第2パスまたは検索が行なわれる。
【0107】
ルーチンR6 は図30に示されている。上記したように、このルーチンは主に、レンズの縁についての第1パスであるルーチンR4 においてギャップまたは余分な部分として識別されなかったレンズの縁の浅いギャップおよび小さな余分な部分を探索する。特に、ステップ384において、画素P(x,y)のアドレスはファイルf3 の最初の画素のアドレスと等しくなるように設定される。次に、ステップ386,390および392において、それぞれ縁ベクトルおよび半径方向ベクトルと呼ばれる2つのベクトルV1 およびV2 が識別され、そしてこれらの2つのベクトルのドット積が計算される。さらに詳しくは、第1ベクトルV1 は画素P(x,y)とレンズの縁に沿って画素P(x,y)の所定の画素数だけ後方、すなわち反時計回りにあるレンズの縁上の第2画素を通るベクトルであり、そして第2ベクトルV2 は画素P(x,y)を通って伸びる環150の半径方向ベクトルである。これらの2つのベクトルの勾配およびこれらのドット積はそれを通ってベクトルが伸びる画素のアドレスから容易に決定することができる。
【0108】
図31を参照して、画素P(x,y)がレンズの縁の正規の円形部分に沿っている場合、図31の394に示されているようにその画素を通る縁ベクトルV1 は実質的にレンズの縁と接している。また、このベクトルV1 は実質的に、その画素を通る半径方向ベクトルV2 と垂直であり、そしてこれらの2つのベクトルV1 およびV2 のドット積は実質的に0である。しかしながら、画素P(x,y)が図31の396および400に示されているレンズのギャップまたは余分な部分の縁上のようなレンズの縁の欠陥部分上にある場合、画素P(x,y)を通る縁ベクトルV1 および半径方向ベクトルV2 は通常垂直ではなく、またこれらの2つのベクトルのドット積は通常0ではない。
【0109】
これらの2つのベクトルV1 およびV2 のドット積はステップ402において、所定の値d7 と比較される。そのドット積が所定の値と等しい、またはそれより大きい(このことは明らかにギャップまたは余分な部分が画素P(x,y)の領域に存在することを示唆している)場合、そのレンズは消費者の使用に不適格であるとみなされ、ステップ404において不合格にされ、そしてルーチンR6 はすべて終了する。ステップ402において、計算されたドット積がd7 より小さい(このことは画素P(x,y)の領域におけるレンズの縁の真円からの逸脱は許容範囲内にあることを示唆している)場合、ルーチンR6 はステップ406に進む。このステップにおいて、ルーチンはレンズの縁の画像についての第2パスまたは探索が終了しているかどうか決定するため試験する。さらに詳しくは、これは画素P(x,y)がファイルf3 の最後の画素であるかどうかチェックすることにより行なわれる。もしそうならば、第2パスは終了し、そしてラバーバンドアルゴリズムはルーチンR7 に進む。しかし、ステップ406において、レンズの縁の画像についての第2パスが終了していないと決定された場合、画素P(x,y)のアドレスはステップ408においてファイルf3 の次の画素のアドレスと等しくなるように設定され、次にルーチンはステップ386に戻る。ステップ386〜408はそのレンズが不合格にされるか、またはファイルf3 の各画素についてその画素を通る2つのベクトルV1 およびV2 のドット積が計算され、d7 より小さいことがわかるまで繰り返され、その度ラバーバンドアルゴリズムはルーチンR7 に進み、レンズの縁についての第3パスまたは探索が行なわれる。
【0110】
好ましくは、上記のドット積はレンズの縁上のすべての画素について計算されず、特にその積はレンズの縁についての最初の探索の間に見つかったギャップまたは余分な部分の縁上にある画素について計算されない。これらの画素はギャップまたは余分な部分の何れかにあることがすでにわかっているため、これらのギャップおよび余分な部分の画素についてドット積を計算する必要はなく、そしてこれらの画素を通るV1 およびV2 ベクトル、並びにこれらの2つのベクトルのドット積を決定しないことにより、かなりの量の処理時間を節約することができる。
【0111】
ルーチンR6 が終了した後、ラバーバンドアルゴリズムはルーチンR7 に進み、レンズの縁についての第3パスまたは探索が行なわれる。上記したように、この第3パスの目的は実際に、レンズの外縁の内側にあるレンズの傷に関連したデータを含まない新しい一連のデータ値I10を生成することである。図32はルーチンR7 を詳細に説明しており、そしてこのルーチンは一般に3部分からなる。第1部分において、各画素のI10値はその画素のI9 値と等しくなるように設定され;第2部分において、環162の外縁164の平均厚さNが計算され;そして第3部分において、その平均的な厚さの縁のさらに内側の所定の範囲内にある画素のI10値は0に設定される。
【0112】
さらに詳しくは、ルーチンR7 のステップ410において、各画素のI10値はその画素のI9 値と等しくなるように設定される。次に、図32および31を参照して、ステップ412において、図33の414a〜eに示されるように環150の最も外側の縁150a上にある所定数の画素が選択される。次に、ステップ416において、ルーチンR7 は画素414a〜eを通過するレンズ画像の、図33の420a〜eに示される各半径上の照らされた画素の数をカウントする。例えば、ルーチンは環の最も外側の縁上の画素を最初の画素としてカウントし、次にその画素から内側へ半径方向に探索し、そしてその半径上の照らされた画素のそれぞれについて1だけカウント値を増やす。ステップ422において、半径あたりの照らされた画素の平均数が計算され、そしてこれは例えば照らされた画素の総カウント数を行なった半径方向スキャンの回数で割ることにより容易に行なわれる。典型的には、この平均値は整数ではなく、したがって好ましくはその平均値は次に最大の整数まで増加される。
【0113】
ルーチンR7 の次の部分において、環150の外縁150aについての第3パスが行なわれる。このパスを開始するために、図34のステップ424に示されるようにその縁上の何れかの画素が開始画素P(x,y)として選択される。次に、ステップ426および430に示されるように、平均的な縁の厚さの内側の半径方向にある選択された画素のI10値は0に設定される。より詳しくは、環162の外縁上の各画素において、ルーチンはそのレンズの半径に沿って内側の半径方向にある画素のN数をカウントする。次に、その半径に沿って内側のさらに半径方向にある所定数の画素について、その画素のI10値は0に設定される。図32を参照して、ルーチンのこれらのステップは実際のところ、斜線領域432の画素のI10値を0に設定する。
【0114】
ルーチンR7 のステップ434において、レンズの縁の画像についてのこの第3パスが終了したかどうかを決定するためチェックが行なわれ、そして適当なサブルーチンを使用してこれを行なうことができる。例えば、このパスを開始するための画素として選択された画素がファイルf3 の最初の画素である場合、そのパスはそのファイルの最後の画素についてルーチンのステップ426および430が行なわれた後に終了したものとみなすことができる。あるいは、ルーチンR7 のステップ426および430において使用される画素のアドレスの別のリストを作成することができ、そして画素のアドレスがそのリストに加えられる度毎に、加えられる新しいアドレスがすでにそのリストにあるかどうかをチェックすることができる。リストに加えられるアドレス値がすでにそのリストにある場合、レンズの縁の画像についての第3パスは終了したものとみなされる。
【0115】
ステップ434において、レンズ画像についてのこの第3パスが終了していない場合、ステップ436において、画素P(x,y)のアドレスは環150の外縁150aに沿ってその画素P(x,y)の右隣りにある画素のアドレスと等しくなるように設定される。例えば、このアドレスはファイルf3 から選ぶことができ、そしてステップ436において、画素P(x,y)のアドレスをその画素のアドレスの隣りにあるそのファイルのアドレスと等しくなるように設定できる。次に、ルーチンR7 はステップ426に戻り、そしてステップ426,430および434が次の画素のアドレスP(x,y)について繰り返される。
【0116】
レンズの縁の画像についての第3パスが終了した後、プロセッサ64はルーチンR7 を終了し、そしてラバーバンドアルゴリズムもまた終了する。
【0117】
ラバーバンドアルゴリズムが終了した後、幾つかの次の操作が行なわれるが、その一般的な目的は検査対象のレンズの欠陥を強調し、それによりこれらの欠陥をより識別しやすくするためである。
【0118】
フィルイン手続と呼ばれるこれらの手続のうち最初の手続は、アレー46の画素についてさらに一連のデータ値I11を確立することであり、これは環150の外縁の中、その上またはその隣りにある欠陥の画素を識別するために使用できる。さらに詳しくは、図33を参照して、これらのデータ値は(i)436に示されるようなレンズの縁中のギャップ、(ii)440に示されるようなレンズの縁の内側の欠陥、(iii)442に示されるようなレンズの縁上の余分な部分、並びに(iv) 余分な部分とサブルーチンS3 のステップ362および370で形成されたその隣りの線分L3 およびL4 との間にある画素を識別するために使用される。
【0119】
このフィルイン手続はMAX,PMAX,MINおよびPMINと呼ばれる幾つかのより特異的な操作からなり、画素に関する一連の基本データ値を処理することを含む。MAX操作では、所定の画素についてその画素に直に隣接する8個の画素の基本データ値のうち最大のものに等しい新しいデータ値が確立され、そしてPMAX操作では、所定の画素についてその画素の左右および上下にある4個の画素の基本データ値のうち最大のものに等しい新しいデータ値が確立される。MIN操作では、所定の画素についてその画素に直に隣接する8個の画素の基本データ値のうち最小のものに等しい新しいデータ値が確立され、そしてPMIN操作では、所定の画素についてその画素の左右および上下にある4個の画素の基本データ値のうち最小のものに等しい新しいデータ値が確立される。
【0120】
図36a〜36eはMAX,PMAX,MINおよびPMIN操作を説明するものである。さらに詳しくは、図36aは7×7列の数を示し、そしてそれぞれの数字は配列中の画素のアドレスに対応する数の位置と関連する画素についてのデータ値を表わす。したがって、例えばアドレス(1,1)における画素のデータ値は7であり、アドレス(4,1)における画素のデータ値は0であり、そしてアドレス(4,2),(4,7)および(5,2)における画素のデータ値はそれぞれ7,0および0である。
【0121】
図36bは図36aに示される全配列の数についてMAX操作を行なった後に生成した値を示す。したがって、例えば図36bのアドレス(2,6)におけるデータ値は、図36aにおいてその画素アドレスに隣接する8個の画素の1つが7の値を有するため7である。同様に、図36bのアドレス(6,2)におけるデータ値は、図36aのデータセットにおいてその画素アドレスに隣接する8個の画素の1つが7の値を有するため7である。図36cは図36aの全データセットについてPMAX操作を行なった後に生成した値を示し、そして例えば図36cのアドレス(6,3)および(6,4)における値は、図36aにおいてこれらの2つの画素アドレスがそれぞれ7の値を有する画素の右隣りにあるため7である。
【0122】
図36dおよび36eはそれぞれ、図36aに示されるデータ値の列についてMINおよびPMIN操作を行なった後に生成した値を示す。例えば、図36dのアドレス(4,3)における値は、図36aにおいてアドレス(4,3)に隣接する8個の画素の1つが0の値を有するため0であり、そして図36eのアドレス(4,2)における値は、図36aにおいてその画素アドレスの右隣りにある画素が0の値を有するため0である。
【0123】
図37は好ましいフィルイン手続R8 を示す。これを参照して、手続は画素アレー46のデータ値について行なわれる14個の別々の操作を含み、そしてこれらの操作はそれぞれ、全部の画素アレーについて一度に行なわれる。これらの操作はMAX,PMAX,PMAX,MAX,MAX,PMAX,PMAX,MIN,PMIN,PMIN,MIN,MIN,PMINおよびPMINの順で行なわれる。これらの操作は画素のI9 値を用いて開始され、そして14個の操作がすべて終了した後に得られるデータ値はI11値と呼ばれる。
【0124】
これらの操作の目的は実際に、環150の外縁の中、その上またはその隣りにあるギャップ436、余分な部分442および欠陥440をフィルインすることである。さらに詳しくは、図35および38は環150の一部を示すものであり、図35はそれらのI9 値で照らされた画素を示し、そして図38はそれらのI11値で照らされた画素を示す。これらの2つの図の違いは図37のフィルイン操作の効果である。詳しくは、この違いはギャップ436、余分な部分442,欠陥440、並びに余分な部分と線分L3 およびL4 との間の領域にある画素について、これらの画素のI11値はTmax であるが、これらの画素のI9 値は0であるという点である。
【0125】
他の特定の手続も知られており、これらを上記の画素について所望のI11値を生成するために使用できることは当業者ならば容易に理解できよう。
【0126】
フィルイン操作R8 が終了した後、プロセッサ64は偏心試験中に環150の内縁150bに適合された円の中心点の所定の半径内にある画素アレー46に入射した光の効果のない一連の画素照度I12を生成するため、第2のマスキング手続R9 を行なう。下記で詳細に説明されるように、この一連の画素照度I12は引き続いてレンズの内部、すなわち環150の内縁の内側の半径方向の領域にある欠陥を識別するために使用される。
【0127】
レンズ検査プロセスのこのステージにおいて使用されるマスキング手続R9 は図20a〜20cおよび20に示されるマスキングルーチンR3 と非常に似ている。これらの2つのマスキング手続の根本的な違いは、手続R9 で使用されるマスクの半径は環150の内縁に適合された円の半径より僅かに小さいが、手続R3 で使用されるマスクの半径は環150の外縁に適合された円の半径よりも僅かに大きいという点である。
【0128】
図39は好ましいマスキングルーチンR9 を示すフローチャートである。このルーチンの最初のステップ446は、偏心試験のステップ216または226において環150の内縁上に少なくとも3個の画素が見つかったかどうか、あるいはその眼レンズは大きく中心からはずれていることがわかったかどうかを決定することである。偏心試験のこれらの2つのステップの何れかにおいてレンズが大きく中心からはずれていることがわかった場合、マスキングルーチンR9 はステップ450で終了する。
【0129】
ルーチンR9 がステップ450で終了しない場合、そのルーチンはステップ452まで進み、偏心試験中に環150の内縁150bに適合された円の中心座標を得る。これらの座標は偏心試験の間に決定され、プロセッサメモリに記憶されたものであり、そしてこれらの座標はそのプロセッサメモリから検索することにより容易に得ることができる。これらの中心座標が得られると、マスクサブルーチンがステップ454で行なわれる。図40a〜40cを参照して、このサブルーチンは実際のところ、上記の中心座標に中心があり、環150の内縁150bに適合された円の直径よりも僅かに小さい直径を有する円形のマスク456を画素アレー46上にスーパーインポーズする。次に、そのマスキングサブルーチンはI12値を各画素に割り当てる。特に、そのマスクの外側にある各画素について、マスキングサブルーチンはその画素のI8 値に等しいI12を割り当て、そしてそのマスクの内側にある各画素について、マスキングサブルーチンは0のI12値を割り当てる。
【0130】
より正確には、ステップ452において、上記の中心点の座標(xi ,yi )、および環150の内縁に適合された円の半径よりも僅かに小さくなるように選択される半径値r2 がマスキングサブルーチンに伝達される。次に、ステップ454において、このサブルーチンはその中心点(xi ,yi )から距離r2 内にあるアレー46のすべての画素のアドレスのファイルf5 を作成する。次に、ステップ460において、アレー46の各画素のアドレスはそのファイルの中に入っているかどうかについてチェックされる。画素のアドレスがそのファイルに入っている場合、ステップ462においてその画素のI12値は0に設定され、他方、画素のアドレスがそのリストに入っていない場合、ステップ464においてその画素のI12値はその画素のI8 値と等しくなるように設定される。
【0131】
上記の目的を達成するための多数のマスキングサブルーチンが当該技術分野において良く知られており、ルーチンR9 のステップ454で使用することができる。
【0132】
図40cはそれぞれのI12値と等しい強度で照らされたアレー46の画素を示す。
【0133】
この第2のマスキング手続が終了した後、一連の操作からなるルーチンR10が行なわれ、検査対象のレンズの欠陥部分の画素をはっきりと識別する一連の画素の照度を得る。さらに詳しくは、これらの操作の目的はバックグラウンドのノイズまたは光によりアレー46に生じた効果、並びに環150の通常または正規の縁150aおよび150bによりアレー46に生じた効果のない一連の画素の照度を与えることである。これらの操作は図41のフローチャートに示される。
【0134】
ステップ466において、各画素の次のI値、I13が得られる。詳しくは、各画素のI13値はその画素のI10値からその画素のI12値を引くことにより得られる。図42a,42bおよび42cはそれぞれ、それらのI10,I12およびI13値に等しい強度で照らされた環162部分の画素を示し、そして見てわかるように、ステップ466は実際のところ、図42aの画像から図42bの画像を引いて図42cの画像を生成することである。
【0135】
次に、ステップ470において、不要な照らされた画素を除去するためクリーンアップ操作と呼ばれる操作が行なわれる。さらに詳しくは、画素のI13値を用いて開始して、すべての画素アレー46についてMAX,MIN,PMINおよびPMAXの操作がその順で行なわれ、I14値と呼ばれる一連の画素の値が得られる。図42dはそれぞれのI14値に等しい強度で照らされた環46の画素を示し、そして図42cおよび42dを比較してわかるように、クリーンアップ操作は図42cにおける何らかの理由で照らされた種々の独立した画素を簡単に除去する。
【0136】
装置10が上記のルーチンR1 〜R10によるデータを処理した後、傷または欠陥の分析が行なわれ、そして図43および44は好ましい欠陥探知または分析ルーチンR11を説明するフローチャートである。この分析は、それぞれI14値に等しい強度で照らされた環150部分の画素を示す図45を参照することにより、最も良く理解できる。
【0137】
図43,44および42を参照して、この欠陥分析の最初の部分における図43のステップ472および474で、ランレングスと呼ばれる連続的な照らされた画素の各行の最初と最後の画素のアドレスのリストが作成される。さらに詳しくはプロセッサ64はアレー46の各行の画素をスキャンし、そして各スキャンにおいて、一連の照らされた画素に出会う度毎に、その一連の画素の最初と最後の画素のアドレスがファイルf6 に記録される。照らされた画素が単独である。すなわちこの照らされた画素の左右にある画素そのものは照らされていない場合、この照らされた画素のアドレスはその照らされた画素により形成されるランレングスの最初と最後の画素の両方のアドレスとして記録される。
【0138】
より正確には、プロセッサは実際に画素アレーの画像とスキャンしないが、代わりにアレー46の画素についてそのプロセッサメモリに記憶されたI14値をチェックすることにより上記のアドレスのリストを編集する。
【0139】
ファイルf6 が作成された後、ルーチンR11はステップ476でクラスタ化(clustering)サブルーチンを行ない、各領域またはグループの連続的な照らされた画素より正確には各領域またはグループの高いI14値を有する連続画素について、各個のファイルf6a〜f6nを作成する。このクラスタ化を行なうために、適当なクラスタ化サブルーチンを使用することができる。これらの各個のファイルf6a〜f6nが作成された後、ステップ480において、図45の482および484に示されるような互いに近くにある照らされた領域についてのファイルがマージされる。これは、例えばある照らされた領域の画素が別の照らされた領域の画素の2個または3個のような所定の画素数以内かをチェックすることにより行なうことができる。これらの接近する照らされた領域は実際に1つの照らされた領域を形成すると考えられる。
【0140】
ステップ480が終了した後、ステップ486において照らされた画素の各領域の面積および重心、並びにこれらのためのバウンディングボックス(bounding box)を計算するためのサブルーチンが行なわれる。これらの計算を達成するための多数のサブルーチンが当該技術分野においてよく知られている。このような適当なサブルーチンをルーチンR11で使用することができ、またこれらのサブルーチンをここで詳しく説明する必要はない。
【0141】
次に、ルーチンR11は照らされた領域のそれぞれについて一般的な位置を決定する。さらに詳しくは、ステップ490において、環150の外縁150aおよび内縁150bに適合された2つの円の中心および半径のアドレスが得られる。これらのデータは偏心試験の間に決定され、次にプロセッサメモリに記憶されたものであり、そしてこれらのデータはそのプロセッサメモリからそのデータを検索することにより容易に得ることができる。次に、ステップ492において、プロセッサ64は照らされた画素の各領域の重心が(i)レンズの中央部分の内側(環の内縁に適合された円の内側の半径方向の領域)または(ii)レンズの周辺部分(環の内縁および外縁に適合された2つの円の間のレンズの領域)に位置するかどうかを決定する。
【0142】
ある領域の重心が第1円の中、または2つの大体同心性の円の間にあるかどうかを決定するための多数のサブルーチンがよく知られており、またこれらのサブルーチンをここで詳しく説明する必要はない。
【0143】
最も広い意味では、ステップ490および492はシステム10の操作に必要ではない。しかし、好ましくはこれらのステップは行なわれ、特に考えられる不規則性または欠陥がレンズのどこにあるか識別するという分析目的のために関連データが集められる。これらのデータはレンズは製造するため使用される手順または材料を調整または改善するのに役立つ。
【0144】
ステップ490および492が終了した後、プロセッサは照らされた画素の各領域のサイズが検査対象のレンズの傷または欠陥としてみなされるのに十分な程大きいかどうかを決定する。さらに詳しくは、ステップ494において、照らされた画素の各領域のサイズは所定のサイズと比較される。その照らされた領域が所定のサイズよりも小さい場合、その照らされた領域はそのレンズを不合格にある程大きくない。他方、照らされた画素の領域が所定のサイズよりも大きい場合、その照らされた領域はそのレンズを消費者の使用に不適当なものにする傷または欠陥としてみなされる。この所定のサイズは例えばメモリユニット70に記憶させることができる。
【0145】
また、好ましくはステップ496において、各レンズで見つけられた欠陥の数のカウントが継続される。このカウントはレンズを製造するために使用されるプロセスおよび材料を検討するのにも有用である。
【0146】
ステップ500において、モニタ72で照らされた画素の領域を示すディスプレイが行なわれ、そして上記の閾サイズよりも大きな領域はバウンディングボックスの中に示される。次に、ステップ502において、プロセッサ64はレンズに何れかの欠陥が実際に見つかったかどうかをチェックする。欠陥が見つかった場合、ステップ504において、不合格レンズの信号が発生し、モニタ72およびプリンタ76に伝達され、そしてそのレンズはシステム10から取り除かれる。しかしながら、もしレンズに欠陥が見つからなかった場合、ルーチンR11は単に終了する。その後、システム10は他のレンズを照明されたサブシステム14を通して移動させ、そして別のパルスの光がそのレンズに透過される。この透過した光は画素アレー46上に焦点を合わせられ、そしてこのレンズが消費者の使用に適当かどうかを判定するため上記の処理手続が繰り返される。
【0147】
本明細書で開示された発明が前述の目的を達成することを意図するものであることは明らかであるが、当業者ならば容易に数多くの変形および態様を考案することができよう。また、特許請求の範囲に記載の発明は、本発明の精神および範囲の中に入るようなすべての変形および態様を包含する。
【0148】
つぎに、この発明の実施態様について説明する。
【0150】
(1)第1の円の中心点および半径を識別する工程は
i)第1の円板の外縁の像上の少なくとも3個の第1の画素を識別し、そして
ii)前記3個の第1の画素を通過する円周を有する円の中心点および半径を識別する工程を含み、また
第2の円の中心点および半径を識別する工程は
i)第2の円板の外縁の像上の少なくとも3個の第2の画素を識別し、そして
ii)前記3個の第2の画素を通過する円周を有する円の中心点および半径を識別する工程を含む請求項1記載の方法。
【0151】
(2)3個の第1の画素と3個の第2の画素を識別する工程は、各画素が線分を形成する多数の連続した画素を識別し、そして所定の強度レベル以上および以下で照らされた画素間の変化に対して前記連続した画素のそれぞれをチェックする工程を含む上記実施態様(1)記載の方法。
【0152】
(3)多数の連続した画素を識別する工程は、前記連続した画素のそれぞれについて、連続した画素の開始点を識別し、連続した画素の方向を識別し、そして連続した画素の長さを識別する工程を含む上記実施態様(2)記載の方法。
【0153】
(4)線分は外縁を有し、直射工程は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成する工程を含み、そして処理工程は
i)レンズの外縁の像上にある画素の少なくとも選択されたものを識別し、
ii)レンズの外縁の像上にギャップおよび余分な部分を識別し、
iii)識別されたそれぞれのギャップについて、ギャップの幅を決定し、前記幅を所定の値と比較し、そして前記幅が所定の値より大きい場合、レンズに傷があるとして識別し、
iv)レンズの外縁の像上の識別されたそれぞれの余分な部分について、余分な部分の面積を決定し、前記面積を所定の値と比較し、そして前記面積が所定の値より大きい場合、レンズに傷があるとして識別する工程を含む請求項1記載の方法。
【0154】
(5)レンズの外縁の像上のギャップおよび余分な部分を識別する工程は、レンズの外縁の像に大体比例した円周を有する第1の円の画素アレー上の中心点および半径を識別し、選択された画素のそれぞれについて、前記画素と前記円周の間の距離を決定し、レンズ像の外縁上の所定数の連続画素のそれぞれについて、画素が前記円周の半径方向内部にあり、そして画素と前記円周の間の距離が所定の距離より大きい場合、レンズはギャップを有すると識別し、またレンズ像の外縁上の所定数の連続画素のそれぞれについて、画素が前記円周の半径方向外部にあり、そして画素と前記円周の間の距離が所定の距離より大きい場合、レンズは余分な部分を有すると識別する工程を含む上記実施態様(4)記載の方法。
【0155】
(6)ギャップの幅を決定する工程は、ギャップが識別されると第1の円の前記円周に沿ってギャップを探索し、そして前記円周から内側および外側へ半径方向に、レンズ像の外縁上の画素の1個を捜すことによりギャップの端を捜す工程を含む上記実施態様(5)記載の方法。
【0156】
(7)レンズは外縁を有し、直射工程は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成する工程を含み、そして処理工程は
i)レンズの外縁の像上にある画素の少なくとも選択されたものを識別し、
ii)レンズの外縁の像上のギャップを識別し、
iii)ギャップの中またはそれに隣接する選択された画素に高いデータ値を割り当てることにより、識別されたそれぞれのギャップを強調する工程を含む請求項1記載の方法。
【0157】
(8)強調する工程は識別されたそれぞれのギャップについて、第1の画素をギャップの始めとして識別し、第2の画素をギャップの終わりとして識別し、そして第1および第2の画素間の線分上の画素に高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(7)記載の方法。
【0158】
(9)強調する工程はさらに、レンズの外縁の像のギャップの中にある画素に高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(7)記載の方法。
【0159】
(10)レンズは大体円周の外縁を有し、直射工程は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成する工程を含み、そして処理工程は
i)レンズの外縁の像に大体比例した円周を有する円の画素アレー上の中心点を識別し、
ii)レンズの外縁の像上にある画素の少なくとも選択されたものを識別し、
iii)選択された画素のそれぞれについて、選択された画素から所定の距離にあるレンズの像の外縁上の別の画素を識別し、選択された画素および別の画素を通って伸びる第1ベクトルを識別し、選択された画素および中心点を通って伸びる第2ベクトルを識別し、前記第1および第2ベクトルのドット積を計算し、そのドット積を所定の値と比較し、そしてそのドット積が前記所定の値より大きい場合、そのレンズに傷があるとして識別する工程を含む請求項1記載の方法。
【0160】
(11)レンズは外縁を有し、直射工程は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成する工程を含み、そして処理工程は
i)レンズの外縁の像上にある画素の少なくとも選択されたものを識別し、
ii)レンズの像の外縁上の余分な部分を識別し、
iii)余分な部分に隣接する選択された画素に高いデータ値を割り当てることにより、識別されたそれぞれの余分な部分を強調する工程を含む請求項1記載の方法。
【0161】
(12)強調する工程は識別されたそれぞれの余分な部分について、第1の画素を余分な部分の始めとして識別し、第2の画素を余分な部分の終わりとして識別し、そして第1および第2の画素間の線分上の画素に高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(11)記載の方法。
【0162】
(13)強調する工程はさらに、余分な部分上の画素に高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(12)記載の方法。
【0163】
(14)強調する工程は識別されたそれぞれの余分な部分について、余分な部分の前部上の第1の画素を識別し、余分な部分の前方にあり、かつ前記第1の画素から所定の距離にあるレンズ像の縁上の第2の画素を識別し、余分な部分の後部上の第3の画素を識別し、余分な部分の後方にあり、かつ第3の画素から所定の距離にあるレンズ像の縁上の第4の画素を識別し、前記第1および第2の画素間の第1の線分上の画素に高いデータ値を割り当て、そして第3および第4画素間の第2の線分上の画素に高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(11)記載の方法。
【0164】
(15)レンズの像の外縁および第1の線分にある余分な部分は第1の画素グループを含有する第1の領域をバウンドさせ、レンズの像の外縁および第2の線分にある余分な部分は第2の画素グループを含有する第2の領域をバウンドさせ、そして強調する工程はさらに第1および第2の画素グループに高いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(14)記載の方法。
【0165】
(16)処理工程は、高いデータ値を有する画素を含有する画素アレーの選択された領域を識別し、そして前記選択された領域に隣接する画素に高いデータ値を割り当てることにより、前記選択された領域を強調する工程を含む請求項1記載の方法。
【0166】
(17)レンズは外縁を有し、直射工程は画素アレー上にその外縁を示すレンズの像を形成する工程を含み、そして処理工程はさらに
i)レンズの像の外縁上の画素を識別し、そして
ii)レンズの像の外縁上の画素に低いデータ値を割り当てる工程を含む上記実施態様(16)記載の方法。
【0167】
(18)処理工程はさらに高いデータ値を有する連続した画素のグループを探索する工程を含む上記実施態様(17)記載の方法。
【0169】
(19)レンズは外縁を有し、光線を直射するための手段は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成するための手段を含み、そして処理手段は
i)レンズの外縁の像上のギャップおよび余分な部分を識別するための手段、
ii)識別されたそれぞれのギャップの幅を決定し、前記幅が所定の値より大きい場合、レンズに傷があるとして識別するための手段、そして
iii)識別されたそれぞれの余分な部分のサイズを決定し、前記サイズが所定の値より大きい場合、レンズに傷があるとして識別するための手段を含む請求項2記載のシステム。
【0170】
(20)処理手段はギャップおよび余分な部分に隣接する画素に高いデータ値を割り当てることによりそれぞれのギャップおよびそれぞれの余分な部分を強調するための手段を含む上記実施態様(19)記載のシステム。
【0171】
(21)レンズは大体円周の外縁を有し、光線を直射するための手段は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成するための手段を含み、そして処理手段は
i)レンズの外縁の像に大体比例した円周を有する円の画素アレー上の中心点を識別するための手段、
ii)レンズの外縁の像上にある画素の少なくとも選択されたものを識別するための手段、
iii)選択された画素のそれぞれについて、選択された画素から所定の距離にあるレンズの像の外縁上の別の画素を識別し、選択された画素および別の画素を通って伸びる第1ベクトルを識別し、選択された画素および中心点を通って伸びる第2ベクトルを識別するための手段、
iv)前記第1および第2ベクトルのドット積が所定の値より大きい場合、そのレンズに傷があるとして識別するための手段を含む請求項2記載のシステム。
【0172】
(22)処理手段は高いデータ値を有する画素を含有する画素アレーの選択された領域を識別するための手段、および前記選択された領域に隣接する画素に高いデータ値を割り当てることにより前記選択された領域を強調するための手段を含む請求項2記載のシステム。
【0173】
(23)レンズは外縁を有し、光線を直射するための手段は画素アレー上にレンズの外縁の像を形成するための手段を含み、そして処理手段はさらに
i)レンズの像の外縁上の画素を識別するための手段、および
ii)レンズの像の外縁上の画素に低いデータ値を割り当てるための手段を含む上記実施態様(22)記載のシステム。
【0174】
(24)処理手段はさらに、高いデータ値を有する連続した画素のグループを探索するための手段を含む上記実施態様(23)記載のシステム。
【0175】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によればコンタクトレンズのような眼レンズを自動的に検査する方法およびシステムが提供される。本発明の検査法およびシステムは、レンズが欠陥を含むかどうか判定するためレンズの形成像を分析する画像処理装置を使用しており、それによりレンズ検査のコストを下げ、検査のスピードを増加する。
【図面の簡単な説明】
【図1】眼レンズの自動検査システムの略図。
【図2】図1のシステムで検査されうる一形態の眼レンズの平面図。
【図3】(a)は図2のレンズの側面図。
(b)は図2および図3(a)のレンズの周辺部分の拡大図。
【図4】図1のレンズ検査システムにおいて使用される輸送サブシステムのより詳細な図。
【図5】図1のシステムにおいて使用されるレンズキャリヤーの平面図。
【図6】図5のレンズキャリヤーの側面図。
【図7】暗視野照明と呼ばれる照明技術の原理を示す略図。
【図8】図1のレンズ検査システムの照明および画像化サブシステムのより詳細な図。
【図9】画像化サブシステムの画素アレーの一部を示す図。
【図10】図2および図3(a)に示される形式の眼レンズが図1のレンズ検査システムで検査される時に画素アレー上に形成される像を示す図。
【図11】それぞれ、照明および画像化サブシステムにおいて使用されうる光学配置を示す図。
【図12】(a)はレンズ検査システムの制御サブシステムの操作を示す図。
(b)は輸送、照明および画像化サブシステムの操作における種々の動作の順序を示す時間的流れ図。
【図13】レンズ検査システムのデータ処理サブシステムの略図。
【図14】レンズ検査システムにおいて使用される好ましいデータ処理手続の主要な構成を示す図。
【図15】レンズ検査システムの画素アレー上に形成された眼レンズの像を示す図。
【図16】偏心試験と呼ばれるレンズ検査手続を示すフローチャート。
【図17】偏心試験と呼ばれるレンズ検査手続を示すフローチャート。
【図18】(a)は図15と同様に、画素アレー上に形成された眼レンズの像を示す図。
(b)は図18(a)に示される環の一部の拡大図。
(c)は図18(b)の線分上の特定の画素における照度を示すグラフ図。
(d)〜(i)は図18(a)の環の縁を識別する画素について処理された値を誘導するための特定の画素の照度において行なわれた種々のプロセスの結果を示すグラフ図。
(j)はそれらの処理された照度において照らされた画素アレーの画素を示す図。
【図19】画素アレーの画素について決定された最初の照度を処理するための好ましい手続を示すフローチャート。
【図20】画素アレーの画素についてのデータ値におけるマスキング手続の効果を示す図。
【図21】好ましいマスキング手続を示すフローチャート。
【図22】ラバーバンドアルゴリズムと呼ばれるデータ処理手続を示す図。
【図23】ラバーバンドアルゴリズムと呼ばれるデータ処理手続を示す図。
【図24】線画像の縁上の最初の画素を識別するために使用されるサブルーチンを示す図。
【図25】ラバーバンドアルゴリズムの第1の主要なセクションをより詳細に示すフローチャート。
【図26】レンズの画像の外縁にギャップが見つかった時に行なわれるサブルーチンを示すフローチャート。
【図27】レンズの画像の外縁の一部を示し、その縁上の問題の種々の画素を識別する図。
【図28】レンズの画像の外縁上に余分な部分が見つかった時に行なわれるサブルーチンを示すフローチャート。
【図29】図25に示される手続の後に行なわれるルーチンが終了したことを示す図。
【図30】ラバーバンドアルゴリズムの第2の主要なセクションをより詳細に示すフローチャート。
【図31】レンズの画像の一部の外縁、およびラバーバンドアルゴリズムの第2セクションで使用される幾つかのベクトルを示す図。
【図32】ラバーバンドアルゴリズムの第3の主要なセクションをより詳細に示すフローチャート。
【図33】図32に示される手続の2つのステップの効果を示す図。
【図34】図32に示される手続の2つのステップの効果を示す図。
【図35】その縁に特定の線が加えられた環の外縁の一部を示す図。
【図36】MAX,PMAX,MINおよびPMINと呼ばれる種々の操作の結果を一般的に示す図。
【図37】レンズの縁の欠陥となりうるものを強調するまたは際立たせるため画素のデータ値に応用される好ましい手続を示す図。
【図38】図37に示される手続の結果を示す図。
【図39】画素のデータを処理する際に使用される第2マスキング手続を示すフローチャート。
【図40】第2マスキング手続およびその結果を示す図。
【図41】検査対象のレンズの欠陥を強調するため画素のデータに応用される別の手続を示すフローチャート。
【図42】図39に示される手続の操作および結果を示す図。
【図43】検査対象のレンズの傷または欠陥を識別するため使用される手続を示すフローチャート。
【図44】検査対象のレンズの傷または欠陥を識別するため使用される手続を示すフローチャート。
【図45】レンズの各種の欠陥となりうるものを示す図。
Claims (2)
- 大体円形の内縁および外縁を有する環状縁部を含む眼レンズを自動的に検査する方法であって、
前記眼レンズを通して画素アレー上に光線を直射し、前記画素アレー上に前記環状縁部の前記内縁および外縁の像を形成する工程と、
各画素に該画素上の光線強度を示すデータ値を割り当てる工程と、
前記眼レンズが複数の所定の状態の何れか一以上を含むかどうかを決定するため所定のプログラムに従って前記データ値を処理する処理工程とを含み、
前記処理工程が、
i)前記環状縁部の前記外縁の像に大体比例した円周を有する第1の円の前記画素アレー上の中心点および半径を識別する工程と、
ii)前記環状縁部の前記内縁の像に大体比例した円周を有する第2の円の前記画素アレー上の中心点および半径を識別する工程と、
iii)前記第1および第2の円の中心点間距離を決定する工程と、
iv)前記距離を所定の距離値と比較する工程と、
v)前記距離が前記所定の距離値より大きい場合、前記眼レンズは中心からはずれていると識別する工程と
を含む方法。 - 大体円形の内縁および外縁を有する環状縁部を含む眼レンズを自動的に検査するシステムであって、
画素アレーと、
前記眼レンズを通して前記画素アレー上に光線を直射するための手段であって、前記画素アレー上に前記環状縁部の前記内縁および外縁の像を形成するための手段を含む手段と、
各画素に該画素上の光線強度を示すデータ値を割り当てるための手段と、
前記眼レンズが複数の所定の状態の何れか一以上を含むかどうかを決定するため所定のプログラムに従って前記データ値を処理するための処理手段とを含み、
前記処理手段が、
i)前記環状縁部の前記外縁の像に大体比例した円周を有する第1の円の前記画素アレー上の中心点を識別するための手段と、
ii)前記環状縁部の前記内縁の像に大体比例した円周を有する第2の円の前記画素アレー上の中心点を識別するための手段と、
iii)前記第1および第2の円の中心点間距離を決定するための手段と、
iv)前記距離が所定の値より大きい場合、前記眼レンズは中心からはずれていると識別するための手段と
を含むシステム。
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ZA (1) | ZA939537B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012052991A (ja) * | 2010-09-03 | 2012-03-15 | Topcon Corp | 検査装置 |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NZ250042A (en) | 1992-12-21 | 1997-01-29 | Johnson & Johnson Vision Prod | Robotic inspection of ophthalmic lenses |
TW325744U (en) * | 1993-07-21 | 1998-01-21 | Ciba Geigy Ag | Two-sided contact lens mold |
AU7473894A (en) | 1993-07-29 | 1995-02-28 | Wesley-Jessen Corporation | Inspection system for optical components |
US5818573A (en) * | 1997-02-06 | 1998-10-06 | Pbh, Inc. | Opthalmic lens inspection system |
US5801822A (en) * | 1997-02-06 | 1998-09-01 | Pbh, Inc. | Ophthalmic lens inspection system |
US6047082A (en) * | 1997-11-14 | 2000-04-04 | Wesley Jessen Corporation | Automatic lens inspection system |
DE29901791U1 (de) * | 1999-02-02 | 2000-07-06 | Novartis Ag, Basel | Linsenmesseinrichtung |
US6577387B2 (en) | 2000-12-29 | 2003-06-10 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Inspection of ophthalmic lenses using absorption |
US6765661B2 (en) | 2001-03-09 | 2004-07-20 | Novartis Ag | Lens inspection |
US7256881B2 (en) * | 2002-02-15 | 2007-08-14 | Coopervision, Inc. | Systems and methods for inspection of ophthalmic lenses |
US7330579B2 (en) * | 2002-11-13 | 2008-02-12 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Automated inspection of tinted ophthalmic parts |
US20060232766A1 (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Watterson Robert J Jr | Methods of inspecting ophthalmic lenses |
TWI449893B (zh) * | 2006-12-21 | 2014-08-21 | Johnson & Johnson Vision Care | 透鏡之干涉測試之方法及用於透鏡之干涉測試之系統與設備 |
US7990531B2 (en) * | 2008-06-05 | 2011-08-02 | Coopervision International Holding Company, Lp | Multi-imaging automated inspection methods and systems for wet ophthalmic lenses |
PL2461767T3 (pl) | 2010-07-30 | 2013-09-30 | Novartis Ag | Soczewki silikonowo-hydrożelowe z powierzchniami bogatymi w wodę |
MY166303A (en) | 2011-06-03 | 2018-06-25 | Johnson & Johnson Vision Care | Multiple radiation inspection of ophthalmic lenses |
US8634068B2 (en) | 2011-06-16 | 2014-01-21 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Method of determining the optimal wavelength for inspecting ophthalmic lenses |
US20120320374A1 (en) | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Sites Peter W | Method of imaging and inspecting the edge of an ophthalmic lens |
EP2766750B1 (en) | 2011-10-12 | 2016-02-03 | Novartis AG | Method for making uv-absorbing ophthalmic lenses by coating |
CN102768214B (zh) * | 2012-05-28 | 2014-09-03 | 明基材料有限公司 | 隐形眼镜检测***与方法 |
WO2014095690A1 (en) | 2012-12-17 | 2014-06-26 | Novartis Ag | Method for making improved uv-absorbing ophthalmic lenses |
WO2015053712A1 (en) * | 2013-10-08 | 2015-04-16 | Emage Vision Pte. Ltd. | System and method for inspection of wet ophthalmic lens |
CN105829081B (zh) | 2013-12-17 | 2017-12-19 | 诺华股份有限公司 | 具有交联的亲水性涂层的硅水凝胶镜片 |
KR102226634B1 (ko) | 2014-05-15 | 2021-03-10 | 이미지 비전 피티이. 리미티드 | 안과 렌즈 검사 시스템 및 방법 |
US11002884B2 (en) | 2014-08-26 | 2021-05-11 | Alcon Inc. | Method for applying stable coating on silicone hydrogel contact lenses |
US10109045B2 (en) * | 2015-07-10 | 2018-10-23 | Ricoh Company, Ltd. | Defect inspection apparatus for inspecting sheet-like inspection object, computer-implemented method for inspecting sheet-like inspection object, and defect inspection system for inspecting sheet-like inspection object |
CN105057227A (zh) * | 2015-08-18 | 2015-11-18 | 丹阳市雷腾智能科技有限公司 | 镜片自动测量、分拣*** |
CN108369291B (zh) | 2015-12-15 | 2021-07-20 | 爱尔康公司 | 用于将稳定的涂层施加在硅酮水凝胶接触镜片上的方法 |
US10184916B2 (en) * | 2016-01-15 | 2019-01-22 | The Boeing Company | Systems, methods, and devices for probe assemblies for variable curvature and variable angle configurations |
JP3213909U (ja) * | 2017-09-27 | 2017-12-07 | 欣柏 ▲黄▼ | コンタクトレンズのレンズ検出装置 |
KR20200098540A (ko) | 2017-12-13 | 2020-08-20 | 알콘 인코포레이티드 | 한 주 및 한 달 착용용 워터 그래디언트 콘택트 렌즈 |
CN108490002B (zh) * | 2018-03-06 | 2021-02-26 | 浙江工业大学 | 一种微结构棱镜镜片质量检测方法 |
US11692906B2 (en) | 2020-07-30 | 2023-07-04 | Alcon Inc. | Method for determining geometrical parameters of a soft contact lens |
US11861823B2 (en) * | 2021-04-27 | 2024-01-02 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Microfluidic device and method for quantifying contact lens deposition |
EP4231001A1 (en) | 2022-02-16 | 2023-08-23 | Carl Zeiss Vision International GmbH | Testing device and testing method |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3988068A (en) * | 1974-05-09 | 1976-10-26 | Itek Corporation | Method and apparatus for detecting cosmetic defects in opthalmic lenses |
DD138110A1 (de) * | 1978-07-27 | 1979-10-10 | Horst Riesenberg | Auflicht-beleuchtungseinrichtung fuer mikroskope |
US4275964A (en) * | 1979-05-18 | 1981-06-30 | Rodenstock Instruments Corporation | Apparatus and method for determining the refractive characteristics of a test lens |
DD145805B1 (de) * | 1979-08-27 | 1982-06-30 | Johannes Grosser | Beleuchtungsanordnung fuer mikroskope |
DE3115634A1 (de) * | 1981-04-18 | 1982-11-04 | Feldmühle AG, 4000 Düsseldorf | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von durch kreislinien begrenzten flaechen |
US4733360A (en) * | 1984-06-14 | 1988-03-22 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Device and method for inspecting card-like articles |
DE3432002A1 (de) * | 1984-08-31 | 1986-03-06 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Verfahren und vorrichtung zur optischen untersuchung von kontaktlinsen |
GB2171812B (en) * | 1984-11-20 | 1988-08-17 | Michael Roy Killpartrick | Wet cell inspection of contact lenses |
US4817166A (en) * | 1986-05-05 | 1989-03-28 | Perceptics Corporation | Apparatus for reading a license plate |
DE3620129A1 (de) * | 1986-06-14 | 1987-12-17 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zum pruefen von bauteilen aus transparentem material auf oberflaechenfehler und einschluesse |
JPS6348431A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-01 | Canon Inc | レンズ検査装置 |
JPH0711494B2 (ja) * | 1988-06-16 | 1995-02-08 | 松下電工株式会社 | 透光性容器の検査方法 |
US4924107A (en) * | 1988-10-07 | 1990-05-08 | Ball Corporation | System for inspecting the inside surfaces of a container for defects and method therefor |
US5081685A (en) * | 1988-11-29 | 1992-01-14 | Westinghouse Electric Corp. | Apparatus and method for reading a license plate |
JPH02257007A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-17 | Seiko Epson Corp | コンタクトレンズ外周欠け検査装置 |
FR2647912B1 (fr) * | 1989-06-05 | 1991-09-13 | Essilor Int | Dispositif optique a reseau pour le controle, en transmission, par detection de phase, d'un quelconque systeme optique, en particulier d'une lentille ophtalmique |
US5080839A (en) * | 1990-04-17 | 1992-01-14 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Process for hydrating soft contact lenses |
US5094609A (en) * | 1990-04-17 | 1992-03-10 | Vistakon, Inc. | Chamber for hydrating contact lenses |
AU649291B2 (en) * | 1990-12-19 | 1994-05-19 | Bodenseewerk Geratetechnik Gmbh | Process and apparatus for examining optical components, especially optical components for the eye and device for illuminating clear-transparent test-objects |
US5301004A (en) * | 1992-03-13 | 1994-04-05 | Leica Inc. | Method and apparatus for determining the optical properties of a lens |
GR1002789B (el) | 1992-12-21 | 1997-10-17 | Johnson & Johnson Vision Products Inc. | Μια συσκευη για την μεταφορα οφθαλμικων φακων. |
IL107605A (en) | 1992-12-21 | 1998-01-04 | Johnson & Johnson Vision Prod | Lens test system |
IL107601A (en) | 1992-12-21 | 1997-09-30 | Johnson & Johnson Vision Prod | Illumination and imaging subsystems for a lens inspection system |
NZ250042A (en) | 1992-12-21 | 1997-01-29 | Johnson & Johnson Vision Prod | Robotic inspection of ophthalmic lenses |
-
1993
- 1993-10-22 NZ NZ250042A patent/NZ250042A/en unknown
- 1993-11-04 GR GR930100433A patent/GR1002500B/el unknown
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-
1994
- 1994-01-03 MX MX9400048A patent/MX9400048A/es not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-09-12 US US08/712,245 patent/US5748300A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-03-06 HK HK98101867A patent/HK1002689A1/xx not_active IP Right Cessation
- 1998-03-06 HK HK98101871A patent/HK1002690A1/xx not_active IP Right Cessation
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- 1998-03-23 HK HK98102452A patent/HK1003307A1/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012052991A (ja) * | 2010-09-03 | 2012-03-15 | Topcon Corp | 検査装置 |
Also Published As
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---|---|---|
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US5805276A (en) | Lens inspection system | |
EP0607692B2 (en) | A method and system of inspecting ophthalmic lenses | |
EP0605990B1 (en) | Illumination and imaging subsystems for a lens inspection system | |
US5443152A (en) | Apparatus for carrying ophthalmic lenses | |
US5995213A (en) | Lens inspection system | |
KR100249962B1 (ko) | 안과용렌즈검사방법 | |
CA2111749C (en) | Apparatus for carrying ophthalmic lenses |
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