JP3552882B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体記憶装置に関し、特にSDRAM(Synchronized Dynamic Randum Access Memory )のバーストモードにおける2ビット・プリフェッチ回路、または複数ビット・プリフェッチ回路に適用される冗長回路の新規な構成に関する。
【0002】
【従来の技術】
シンクロナスDRAM(以下簡単にSDRAMと称する。)は、システム側から供給されるクロックに同期して内部動作を行うDRAMであり、通常のDRAMよりも高速動作を可能にする。このSDRAMは、システム側から更に動作モードを指定するコマンド信号を与えられる。その与えられたコマンド信号を内部でデコードすることにより、SDRAM側は、システム側が要求している動作モードを判別し、指定された動作モードに従って例えば読み出しデータを出力する。
【0003】
上記の動作モードの一つにバーストモードがある。このバーストモードは、クロックの高速化に伴いメモリの内部動作を1クロックで行うことが困難になってくることから、複数のアドレスを同時に読み書きすることができるモードであり、外部から与えられたアドレスに対して、そのアドレスを起点にして連続するアドレスの記憶データを出力または書き込むモードである。そして、連続する出力ビットの数は、2ビット、4ビット、8ビットと指定される。
【0004】
かかるバーストモードでは、外部アドレスをもとに、内部でそれに連続するアドレスを生成し、そのアドレスをデコードして記憶データを出力する。2ビットバーストモードでは、1つの内部アドレスを生成する。4ビットバーストモードでは、1つの内部アドレスを生成しその後のサイクルで2つの内部アドレスを生成する。更に、8ビットバーストモードでは、1つの内部アドレスを生成し、その後の3サイクルで2つの内部アドレスをそれぞれ生成する。
【0005】
その場合、SDRAMは、内部のメモリセルアレイを奇数アドレス側のメモリセルアレイと偶数アドレス側のメモリアレイとに分割し、バーストモードでは、外部から与えられた或いは内部で生成したアドレスに対して、最下位ビットを除いたアドレスを、奇数アドレス側メモリセルアレイと偶数アドレス側メモリセルアレイのコラムデコーダに与える。かかる構成にして、必ず2ビットの記憶データを連続して出力することができる様にする。この構成は、2ビット・プリフェッチ回路と呼ばれる。同様に、4ビットの記憶データを同時に読み書きすることができる4ビットプリフェッチ回路も考えられる。その場合は、4つのメモリセルアレイに最下位2ビットを除いたアドレスがそれぞれのコラムデコーダに与えられる。
【0006】
図1は、従来のSDRAMの2ビット・プリフェッチ回路の例を示す図である。この例では、メモリセルアレイが、奇数アドレス側のメモリセルアレイ10と偶数アドレス側のメモリセルアレイ20との分割される。そして、それぞれのメモリセルアレイ10,20に対して、アドレス・プリデコーダ11,21とアドレス・メインデコーダ12,22とが設けられる。更に、それぞれのメモリセルアレイ10,20の出力が、データバスアンプ13,14で増幅される。
【0007】
SDRAMは、システム側から与えられるクロックCLKに同期して動作する。従って、そのクロックCLKを取り込むクロックバッファ30から出力されるクロック31のタイミングにより、コマンド信号2(comm)がコマンドラッチ・デコーダ32にラッチされ、アドレス信号3(Add)(この例ではa0−a7の8ビット)がアドレスバッファ33にラッチされる。そして、アドレスバッファ33からのアドレス信号a3−a7が、コマンドラッチ・デコーダ32の生成するアドレスラッチクロック35のタイミングでアドレスラッチ38にラッチされる。また、同じクロック35によりアドレス信号a1,a2がアドレスラッチ・カウンタ39にラッチされる。
【0008】
アドレス信号a3−a7は、そのまま奇数側と偶数側のアドレスプリデコーダ11,21に与えられる。一方、アドレスa1,a2は、奇数側のアドレスプリデコーダ11にそのまま与えられる。また、偶数側のアドレスプリデコーダ21には、アドレスa1,a2そのままのラッチアドレス44或いはアドレス演算回路46でアドレスを1つ増加した新たなシフトアドレス48が、最下位アドレスa0の値に応じて、即ち、偶数か奇数かに応じて、与えられる。
【0009】
そして、外部アドレスが偶数の場合は、偶数側のデータバスアンプ23で増幅された偶数側記憶データ24が、出力データラッチ回路16にクロック56のタイミングでラッチされ、そして、奇数側のデータバスアンプ13で増幅された奇数側記憶データ14が、出力データラッチ回路26にクロック57のタイミングでラッチされ、偶数、奇数の順番に連続して出力される。
【0010】
また、外部アドレスが奇数の場合は、奇数側記憶データ14が出力データラッチ回路16に、偶数側記憶データ24が出力データラッチ回路26にそれぞれクロック56,57のタイミングでラッチされ、奇数、偶数の順番に連続して出力される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
メモリの容量の増大に伴い、メモリセルアレイに冗長セルアレイを追加してメモリの歩留まり低下を防止することが行われる。かかる冗長セルアレイを追加するに伴い、冗長セルアレイに置き換えられた不良セルのアドレスを記憶する冗長アドレスROMと、その冗長アドレスと現在アクセス中のアドレスとが一致するか否かを判定する冗長アドレス比較回路、若しくはEOR回路とを設ける必要がある。
【0012】
しかしながら、上記した2ビット・プリフェッチ回路構成のメモリに冗長セルアレイ構成を適用する場合は、内部に奇数アドレス側のセルアレイ10と偶数アドレス側のセルアレイ20とを有するので、それぞれのセルアレイに冗長セルアレイを設け、それぞれに冗長アドレスROMと冗長アドレス比較回路を設ける必要がある。これでは、第一に、冗長アドレスROMと冗長アドレス比較回路とを重複して設ける為に、回路構成が増大する。また、第二に、冗長セルアレイを奇数側と偶数側のそれぞれのセルアレイに設けた場合に、それぞれが冗長アドレスROMを有すると、その冗長アドレスROMが効率的に使用されない。即ち、不良セルの発生の確率から、奇数アドレス側のセルアレイと偶数アドレス側のセルアレイの両方が全てに冗長セルアレイを使用する確率は低い。従って、両方のセルアレイに対する両方の冗長アドレスROMが、その容量の100%を冗長アドレスの記憶に使用する確率は極めて低い。上記の課題は、4ビットプリフェッチ回路構成においても同様であり、広く複数ビットプリフェッチ回路構成においても同様である。
【0013】
そこで、本発明の目的は、複数ビット・プリフェッチ回路構成の冗長セルアレイに対する冗長回路を効率的な構成にした半導体記憶装置を提供することにある。
【0014】
更に、本発明の目的は、2ビットまたはそれ以上の複数ビット・プリフェッチ回路構成の冗長セルアレイに対する冗長回路の冗長アドレスを記憶した冗長ROMを効率的な構成にした半導体記憶装置を提供することにある。
【0015】
更に、本発明の目的は、冗長アドレスROMからの冗長アドレス比較回路への冗長アドレス配線を効率的に構成した半導体記憶装置を提供することにある。
【0016】
更に、本発明の目的は、2ビットまたはそれ以上の複数ビット・プリフェッチ回路構成の冗長セルアレイに対する冗長回路の冗長アドレス比較回路を効率的な構成にした半導体記憶装置を提供することにある。
【0017】
更に、本発明の目的は、冗長回路の冗長アドレス比較回路を効率的な構成にした半導体記憶装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成する為に、本発明は、第一に、奇数アドレス側セルアレイに奇数アドレス側冗長セルアレイが、偶数アドレス側セルアレイに偶数アドレス側冗長セルアレイがそれぞれ設けられるメモリにおいて、奇数側冗長アドレスと偶数側冗長アドレスとを奇数・偶数の選択データと共に記憶する冗長メモリを有する。冗長メモリは、奇数側と偶数側とでフレキシブルに使用されるので、冗長メモリの容量を少なくしても、救済確率を高く保つことができる。
【0019】
本発明は、4ビット以上の複数ビット・プリフェッチ回路構成にも適用できる。例えば、4ビットプリフェッチ構成の場合は、内部に第一のアドレス群のメモリセルアレイと冗長セルアレイ、第二のアドレス群のメモリセルアレイと冗長セルアレイ、第三のアドレス群のメモリセルアレイと冗長セルアレイ、第四のアドレス群のメモリセルアレイと冗長セルアレイとを有するが、その場合は、冗長メモリは、第一乃至第四のアドレス群の冗長アドレスを第一乃至第四のアドレス群の選択データと共に記憶する。8ビット以上の場合も同様である。従って、発明としては、少なくとも第一のアドレス群と第二のアドレス群のメモリセルアレイと冗長セルアレイを少なくとも有する半導体記憶装置に適用される。
【0020】
上記の第一の発明は、第一のアドレス群に対応する第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群に対応する第二のアドレス群側セルアレイとを有する半導体記憶装置において、
前記第一のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第一のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記第二のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第二のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記不良セルに対応する第一のアドレス群側の冗長アドレスまたは第二のアドレス群側の冗長アドレスをそれぞれ対応する第一・第二のアドレス群選択データと共に記憶する冗長メモリと、
前記冗長メモリから供給される前記第一のアドレス群側の冗長アドレスと、アクセスされる第一のアドレス群のアドレスとを比較し、一致する時に前記第一のアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第一のアドレス群側冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記第二のアドレス群側の冗長アドレスと、アクセスされる第二のアドレス群のアドレスとを比較し、一致する時に前記第二のアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第二のアドレス群側冗長アドレス比較回路とを有することを特徴とする。
【0021】
第二の発明は、第一の発明の冗長メモリ内の奇数側冗長アドレスと偶数側冗長アドレスとを別々の冗長アドレス配線を介して、奇数側冗長アドレス比較回路と偶数側アドレス比較回路とに供給する。
【0022】
更に、第三の発明は、第二の発明の変形例であり、第一の発明の冗長メモリ内の奇数側冗長アドレスと偶数側冗長アドレスとを、共通の冗長アドレス配線を介して、奇数側冗長アドレス比較回路と偶数側アドレス比較回路とに時分割で供給する。上記の第二及び第三の本発明も、4ビット以上の複数ビット・プリフェッチ回路構成にも適用できる。
【0023】
第四の発明は、奇数アドレス側セルアレイと偶数アドレス側セルアレイとを有する2ビット・プリフェッチ構成の半導体記憶装置において、それぞれのセルアレイに冗長セルアレイを設け、それぞれの冗長セルアレイに対応する冗長アドレス比較回路を、共通の上位アドレスについての冗長アドレス比較回路と、別々の下位アドレスについての奇数側冗長アドレス比較回路と、偶数側冗長アドレス比較回路とで構成する。これにより、冗長アドレス比較回路が簡略化される。本発明も、4ビット以上の複数ビット・プリフェッチ回路構成にも適用できる。
【0024】
上記の第四の発明は、第一のアドレス群に対応する第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群に対応する第二のアドレス群側セルアレイとを有する半導体記憶装置において、
前記第一のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第一のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記第二のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第二のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記不良セルに対応する冗長アドレスを記憶する冗長メモリと、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの下位アドレスと、アクセスされる第一のアドレス群の下位アドレスとを比較する第一のアドレス群側下位冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの下位アドレスと、アクセスされる第二のアドレス群の下位アドレスとを比較する第二のアドレス群側下位冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの上位アドレスと、アクセスされる第一のアドレス群及び第二のアドレス群の共通上位アドレスとを比較する共通上位冗長アドレス比較回路とを有することを特徴とする。
【0025】
更に、第五の発明は、奇数・偶数にかかわらず、セルアレイの不良セルを救済する冗長セルアレイを複数有する場合に、冗長メモリにそれらの冗長アドレスを複数の冗長セルアレイの選択データと共に記憶し、複数の冗長セルアレイに対応する冗長アドレス比較回路に対して、冗長アドレスを時分割で供給する。その結果、冗長メモリからの冗長アドレスの配線を簡略化することができる。
【0026】
上記の第五の発明は、セルアレイと該セルアレイの不良セルに置き換えられる複数の冗長セルアレイとを有する半導体記憶装置において、
前記不良セルに対応する冗長アドレスを、前記複数の冗長セルアレイの選択データと共に記憶する冗長メモリと、
前記複数の冗長セルアレイ毎に設けられ、前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスと、アクセスされるアドレスとを比較し、一致する時に対応する前記冗長セルアレイの選択を有効にする冗長アドレス比較回路とを有し、
前記冗長メモリは、前記選択データに応じて記憶された複数の前記冗長アドレスを時分割で前記複数の冗長アドレス比較回路に供給することを特徴とする。
【0027】
尚、N(N=2M 、Mは1以上の整数)ビット・プリフェッチ構成において、アドレス群の数とメモリセルアレイの数は共にN個になる。
【0028】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態の例について図面に従って説明する。しかしながら、かかる実施の形態例が本発明の技術的範囲を限定するものではない。尚、図中、ゲートに丸印が付されたトランジスタはP型トランジスタでそれ以外のトランジスタはN型トランジスタを意味する。また、信号の引用符号の末尾にZが付される場合は、Lレベルが活性レベルであり、Xが付される場合は、Hレベルが活性レベルである。
【0029】
本発明の半導体記憶装置は、DRAM、SRAM等の冗長セルを必要とするメモリに適用できる。以下に示される実施の形態例は、シンクロナスDRAMに適用した例である。更に、本発明は複数ビット・プリフェッチ回路構成に広く適用できるが、以下の実施の形態例は2ビット・プリフェッチ回路に適用した例である。
【0030】
図2は、本発明の第一の実施の形態例の構成図である。この図では、図1に対応する部分には同じ引用番号が与えられている。即ち、奇数アドレス側のセルアレ10と偶数アドレス側のセルアレ20に分けられ、それぞれにアドレスプリデコーダ11,21と、アドレスメインデコーダ12,22と、データバスアンプ13,23が設けられる。データバスアンプ13,23の奇数側データ14,偶数側データ24が、アクセスされるアドレスが奇数か偶数かにより、上記した通り出力データラッチ回路16,26にラッチされる。外部からのクロック1は、クロック入力バッファ30で増幅され、クロック発生回路52、遅延回路53,クロック発生回路54を介してデータバスアンプ13,23のラッチ信号55と、出力データラッチ回路16、26の出力クロック56,57とが生成される。
【0031】
図2の第一の実施の形態例では、奇数側アドレスセルアレイ10に冗長セルアレイ17が、偶数側アドレスセルアレイ20に冗長セルアレイ27がそれぞれ設けられる。また、それぞれの冗長セルアレイ17,27に対して冗長アドレス比較回路(EOR回路)62,65と冗長コラム選択回路63,65とが設けられる。冗長コラム選択回路63,65の冗長コラム選択信号64,67は、それぞれ冗長セルアレイ17,27に与えられると同時に、アドレスメインデコーダ12,22に選択禁止信号として与えられる。
【0032】
そして、図2の第一の実施の形態例で特徴的なことは、両冗長セルアレイ17,27に置き換えられる不良セルアレイのコラムアドレスを記憶する冗長ROM59が、共通に設けられることである。即ち、冗長ROM59は、奇数アドレス側セルアレイの不良セルアレイの冗長コラムアドレスと、偶数アドレス側セルアレイの不良セルアレイの冗長コラムアドレスとを奇数側か偶数側かの情報と共に記憶する。更に、冗長ROM59には、メモリセルアレイを分割した複数のメモリブロックのアドレスも記憶される。その結果、冗長ROM59の記憶領域は、複数のメモリブロックにおいて、奇数側冗長アドレスと奇数側冗長アドレスとにフレキシブルに割り当てられる。本実施の形態例は、4ビット以上のプリフェッチ構成のメモリ装置にも適用できる。
【0033】
図3は、上記の冗長ROMと冗長セルアレイとの関係を示す図である。この例では、メモリセルアレイが、6つのブロックに分割されている。即ち、通常の奇数アドレス側セルアレイ10−1〜10−6とそれぞれの冗長セルアレイ17−1〜17−6が奇数側に、通常の偶数アドレス側セルアレイ20−1〜20−6とそれぞれの冗長セルアレイ27−1〜27−6が偶数側に設けられる。それに対して、冗長ROM59が8セットの冗長コラムアドレスを記憶するだけの容量を有する。
【0034】
そして、図3の例では、ブロック1の奇数側セルアレイ10−1に不良セルfs1が、ブロック1の偶数側セルアレイ20−1に不良セルfs2が、ブロック2の偶数側セルアレイ20−2に不良セルfs3が、ブロック3の奇数側セルアレイ10−3に不良セルfs4が、ブロック3の偶数側セルアレイ20−3に不良セルfs5が、ブロック4の奇数側セルアレイ10−4に不良セルfs6が、ブロック5の偶数側セルアレイ20−5に不良セルfs7が、ブロック6の奇数側セルアレイ10−6に不良セルfs8が、それぞれ存在するとする。
【0035】
かかる不良セルfs1〜fs8は、8セットの冗長コラムアドレスを記憶する容量を持つ冗長ROM59により記憶される。そして、図3の状態から更に、奇数側のセルアレイ10−2,10−5でも不良セルが発生し、偶数側のセルアレイ20−4,20−6でも不良セルが発生する確率は、かなり低い。従って、冗長ROM59が、複数のメモリブロックについて、奇数側と偶数側の冗長アドレスをフレキシブルのその記憶領域を割り当てることで、冗長ROM59の記憶容量を全ての冗長セルアレイを使用する場合に必要な容量よりも小さくしても、合理的に高い確率で、不良セルを冗長セルアレイに置き換えることが可能である。
【0036】
従って、冗長ROM59には、冗長コラムアドレス以外に、その冗長アドレスが属するブロックのアドレスと奇数側か偶数側かの情報とが記憶される。奇数側冗長セルアレイ17と偶数側冗長セルアレイ27とが全て不良セルアレイと置き換えられる確率は、不良セルアレイの発生確率からきわめて低いので、冗長ROM59の記憶容量を上記の様に小さくしても、実用上はほとんど不都合は発生しない。
【0037】
尚、第一の実施の形態例では、各冗長セルアレイが複数組選択可能にするには、図3に示された冗長回路の構成を複数組設ける必要がある。
【0038】
奇数側の冗長アドレス比較回路62には、コラムアドレス(a3−a7)42とコラムアドレス(a1,a2)44とがアクセスされているコラムアドレスとして与えられ、更に冗長ROM59に記憶されたコラムアドレス(a1−a7)61Oが冗長アドレスとして与えられ、両アドレスが比較される。また、偶数側の冗長アドレス比較回路65には、コラムアドレス(a3−a7)42とコラムアドレス(a1,a2)44またはシフトアドレス(a1’,a2’)48のいずれかのアドレス49とがアクセスされているコラムアドレスとして与えられ、更に冗長ROM59に記憶されたコラムアドレス(a1−a7)61Eが冗長アドレスとして与えられ、両アドレスが比較される。2ビットプリプリフェッチ回路構成であるので、コラムアドレスの最下位ビットa0は、冗長アドレス比較回路62,65には与えられないし、冗長ROM59にも記憶されない。
【0039】
第一の実施の形態例で特徴的なことは、冗長ROM59には、同じブロックの奇数アドレス側冗長セルアレイ17ー1〜17−6と偶数アドレス側冗長セルアレイ27ー1〜27−6との冗長アドレスが記憶される可能性がある。従って、冗長ROM59から冗長アドレス比較回路62,65への冗長アドレス配線を奇数側の配線61Oと61Eとが別々に設けられる。
【0040】
尚、第一の実施の形態例が4ビット・プリフェッチ構成のメモリ装置に適用される場合は、アドレス演算回路が、+1の回路に加えて、+2の回路と+3の回路が追加され、+2の回路と+3の回路にそれぞれプリデコーダ、メインデコーダ、メモリセルアレイ、冗長アドレス比較回路等が設けられる。
【0041】
図4は、第一の実施の形態例の冗長回路の全体構成図である。図4には詳細な回路構成も示されているが、回路が微小でわかりにくいので、ここではその概略的な構成について説明し、それぞれの回路の構成は後で説明する。図5は、図4の各ブロックだけで全体の構成を示したブロック図である。図4の説明において適宜図5を参照することにより、以下の説明を容易に理解できるであろう。
【0042】
冗長ROM59内には、不良セルのコラムアドレスが冗長アドレスとして冗長アドレスROM81に記憶される。冗長ROM59は奇数側セルアレイと偶数側セルアレイに共通に設けられるので、冗長アドレスROM81に記憶された冗長アドレスが奇数側の冗長アドレスか偶数側の冗長アドレスかの情報を記憶する奇数・偶数アレイ選択回路82が設けられる。更に、図4,5の例では、セルアレイが複数ブロックに分割されている場合に、冗長アドレスROM81に記憶された冗長アドレスがどのブロックの冗長アドレスかを記憶するブロック選択回路80が設けられる。ブロック選択回路80には、ローアドレス信号87が供給されて、記憶されているブロックのアドレスに一致するか否かの判定が行われる。一致した場合は、ブロック選択信号80Bが活性状態になり、冗長アドレスROM81に記憶された冗長アドレスを出力させる。
【0043】
奇数・偶数アレイ選択回路82は、活性化信号drszに応答して、奇数側選択信号82Oと偶数側選択信号82Eとの一方をHレベルにする。その選択信号82O,82Eに応答して、トランスファー回路83,84は、冗長アドレスROM81に記憶された冗長アドレスを、奇数側冗長アドレス61Oまたは偶数側冗長アドレス61Eとして別々に出力する。
【0044】
冗長ROM59は、複数(図4の例では8個)の冗長アドレスROM81を有し、そこに記憶された冗長アドレスの属するブロックのアドレスがブロック選択回路80に記憶され、奇数か偶数かの情報が奇数・偶数アレイ選択回路82に記憶される。従って、複数の冗長アドレスROM81からの冗長アドレス61の内、奇数側にはただ一つの冗長アドレス61Oが、偶数側にはただ一つの冗長アドレス61Eがそれぞれ有効な冗長アドレスとして出力される。従って、奇数側冗長アドレス61Oは、例えばワイヤードオア回路により奇数側リセット回路85を介して冗長アドレス比較回路62に与えられ、偶数側冗長アドレス61Eも、ワイヤードオア回路により偶数側リセット回路86を介して冗長アドレス比較回路65に与えられる。これらのリセット回路85,86は、上記した活性化信号drszがそれぞれ与えられ、非活性時に冗長アドレス61O,61Eをそれぞれ強制的にHレベルのリセット状態にする。これは、ワイヤードオア構成の回路に必要なリセットである。
【0045】
リセット回路85,86を介して冗長アドレス61O,61Eは、それぞれの冗長アドレス比較回路(EOR回路)62,65に供給される。更に、冗長アドレス比較回路62,65には、供給されている冗長アドレス61O,61Eが有効か否かを示す冗長アドレス有効信号CFJOXとCFJEXがそれぞれ与えられる。そして、冗長アドレス比較回路62,65には、アクセスされるコラムアドレス42,44及び42,49がそれぞれ供給される。従って、冗長アドレス比較回路62,65では、冗長アドレス有効信号が与えられる時に、冗長アドレス61O,61Eとアクセスされているコラムアドレスとを比較する。冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXは、ブロック選択信号80Bと、奇数側選択信号82Oまたは偶数側選択信号82EをNOR回路87,89とインバータ88,90からなる回路により生成される。ここでも、ブロック選択信号80Bと、奇数側選択信号82Oまたは偶数側選択信号82Eは、例えばワイヤードオア接続される。
【0046】
更に、冗長アドレス比較回路62,65の出力は、冗長コラム選択回路63,66にそれぞれ与えられ、そこで、冗長コラム選択信号64,67が生成される。
【0047】
図6は、冗長ROM59の具体的回路図である。ブロック選択回路80は、記憶されている冗長アドレスに対応するブロックのローアドレスをフューズF10〜F17に記憶する。そして、それらのフューズF10〜F17と直列に接続されるN型トランジスタ100〜107には、アクセスされたローアドレス信号87が供給される。制御信号frazのLレベルにより、P型トランジスタ109を介してノードn10がHレベルにリセットされる。その時N型トランジスタ108は非導通である。そこで、アクセスされたローアドレス87が供給されて、制御信号frazがHレベルに変化して活性化状態になると、トランジスタ108が導通し、全てのローアドレスが一致するとノードn10のHレベルが維持されて、ブロック選択信号80BをLレベルにする。また、1つのアドレスでも不一致の場合は、ノードn10はLレベルに引き下げられる。その結果、ブロック選択信号80BはHレベルになる。インバータ111とP型トランジスタ110とは、ノードn10がHレベルを維持した時に、ノードn10がフローティング状態になるのを防止する回路である。
【0048】
また、奇数・偶数選択回路82はブロック選択回路80に類似する構成である。即ち、フューズF18に、コラムアドレスROM81に記憶される冗長アドレスが奇数側か偶数側かの情報が記憶される。この回路の例では、フューズF18が導通状態では奇数側の冗長アドレスが記憶され、フューズF18が切断されて非導通の状態では偶数側の冗長アドレスが記憶されていることを示す。この奇数・偶数選択回路82も、制御信号frazのLレベルにより、N型トランジスタ122が非導通、P型トランジスタ120が導通して、ノードn11をHレベルにリセットされる。そして、制御信号frazが活性化状態のHレベルになると、トランジスタ122を導通状態にし、フューズF18の導通、非導通状態に応じて、ノードn11がLレベル、Hレベルになる。そして、活性化信号drszのHレベルに応答して、NANDゲート125が奇数選択信号82OをHレベル(奇数側選択)またはインバータ126を介して偶数選択信号82EをHレベル(偶数側選択)にする。
【0049】
この奇数選択信号82O、偶数選択信号82E及びブロック選択信号80Bが、NORゲート87,89にそれぞれ与えられ、N型トランジスタ88,90のインバータ回路により、冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXが生成される。奇数側が選択される場合は、ブロック選択信号80BのLレベルと、偶数選択信号82EのLレベルとにより、NORゲート87の出力がHレベルとなり、奇数側の冗長アドレス有効信号CFJOXがLレベルとなる。一方、偶数側が選択される場合は、ブロック選択信号80BのLレベルと、奇数選択信号82OのLレベルとにより、NORゲート89の出力がHレベルとなり、偶数側の冗長アドレス有効信号CFJEXがLレベルとなる。
【0050】
冗長コラムアドレスROM81は、冗長コラムアドレスa1〜a7が記憶される。この冗長コラムアドレスa1〜a7は、8ビットのコラムアドレスのうち、最下位ビットを除いたコラムアドレスの本数である。図6には、その7ビットのコラムアドレスが記憶されるROM81(01)〜81(07)が記載される。それらの回路は全て同じであるので、代表としてコラムアドレスa2を記憶するROM81(02)を例にしてその回路を説明する。
【0051】
コラムアドレスa2を記憶するROM81(02)には、コラムアドレスa2を記憶するフューズF20が、P型トランジスタ130とN型トランジスタ131との間に設けられる。フューズF21は、単にフューズF20に対抗して設けてそのインバータの出力レベルを調節するものである。このトランジスタ130,131のゲートには、ブロック選択信号80Bが与えられる。ブロック選択信号80BのHレベルにより、ノードn12はLレベルにリセットされる。その後、ローアドレスが一致すると、ブロック選択信号80BのLレベルにより、P型トランジスタ130が導通し、フューズF20の記憶状態(導通または非導通)に応じて、ノードn12がLレベルのまままたはHレベルになる。このノードn12の信号が、トランジスタ回路83,84を構成するN型トランジスタ134,135及びN型トランジスタ136,137により偶数側の冗長アドレス比較回路または奇数側の冗長アドレス比較回路に別々に分配される。
【0052】
トランスファ回路83,84には、そのグランド側に接続されたN型トランジスタ135,137に偶数選択信号82Eと奇数選択信号82Oとが与えられる。即ち、選択信号82E,82OのHレベルにより、トランジスタ135,137が導通するので、それに対応するノードn12のレベルに応じて制御されるN型トランジスタ134,136により、記憶されていた冗長アドレスがCFE02Z(61E)またはCFO02Z(61O)として、出力される。
【0053】
他の冗長コラムアドレスROM81も同じ構成であり、それぞれにトランスファー回路が設けられ、それぞれの冗長アドレスCFO01Z〜CFO07Z(61O)、または冗長アドレスCFE01Z〜CFE07Z(61E)が出力される。
【0054】
上記した冗長アドレスCFO01Z〜CFO07Z(61O)、CFE01Z〜CFE07Z(61E)は、複数の冗長ROM59から出力され、ワイヤードオア構成で接続されてリセット回路85,86に供給される。上記のトランスファ回路83,84がワイヤードオア接続であるので、Hレベルに上昇することができないので、このリセット回路85,86が設けられ、リセット時に全ての冗長アドレスCFO01Z〜CFO07Z(61O)、CFE01Z〜CFE07Z(61E)をHレベルにリセットする。或いは、リセット回路85,86は、アクティブ時に有効な冗長アドレスのHレベル状態をフローティングにしない様に制御する。更に、リセット回路85,86では、冗長アドレス有効信号CFJOX、CFJEXにより、有効な冗長アドレスの場合のみ、リセット状態が解除される。
【0055】
図7は、リセット回路85,86の詳細回路図である。図4,5に示される通り、第一の実施の形態例では、このリセット回路85,86が、奇数側と偶数側の冗長アドレス61O,61Eにそれぞれ設けられる。このリセット回路は、冗長ROM59からの冗長アドレス信号61O,61Eを、リセット時に強制的にHレベルにリセットする機能と、冗長アドレス信号が有効な時にリセット状態を解除する機能と、アクティブ時のHレベルの冗長アドレス信号61O,61Eをフローティング状態にしない機能とを有する。
【0056】
P型のトランジスタ141〜147がリセット用のトランジスタである。活性化信号drszがLレベルの時にリセット状態となるが、活性化信号drszのLレベルに応答して、インバータ172〜176及びNANDゲート177とから一時的にLレベルになる信号がノードn15に生成され、その信号によりP型トランジスタ178が導通し、ノードn16を一時的にHレベルにする。そのノードn16の信号は、インバータ171により反転され、一時的にLレベルになるリセット信号RSTが生成される。リセット信号RSTの一時的なLレベルにより、リセットトランジスタ141〜147が一斉に導通し、ノードn21〜n27を強制的にHレベルにする。この結果、ワイヤードオア接続された冗長アドレス信号61O,61Eは全てHレベルにリセットされる。
【0057】
ノードn21〜n27は、複数の冗長ROM59からの冗長アドレス信号61E,61Oとワイヤードオア接続により接続されるノードである。従って、上記のリセットトランジスタ141〜147の導通により、その共通接続ノードn21〜n27がHレベルにリセットされる。また、同様にワイヤードオア接続されている奇数・偶数側の冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXに対しても、ノードn16がHレベルにリセットされることで、全ての冗長ROM59からの冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXがHレベルにリセットされる。
【0058】
次に、リセット回路の別の機能の為に、ノードn21〜n27がHレベルのフローティング状態になるのを防止するトランジスタ151〜157とインバータ161〜167とが、それぞれの冗長アドレスに対して設けられる。冗長ROM59から冗長アドレス61E,61Oがインバータ161〜167に与えられる。そして、奇数・偶数側の冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXが有効状態のLレベルになると、リセットが解除され、リセット信号RSTはHレベルになり、リセットトランジスタ141〜147を一斉に非導通とする。その結果、Hレベルのフローティング状態にある冗長アドレス信号61E,61Oの印加されるノードn21〜n27は、P型トランジスタ151〜157の導通により確実に電源Vccに接続されて、フローティング状態が回避される。
【0059】
冗長アドレス61E,61OのCFE01Z/CFO01Z〜CFE07Z/CFO07Zは、インバータ161〜167により反転されてHアクティブの冗長アドレスCFE01X/CFO01Xとして、冗長アドレス比較回路65,62に供給される。
【0060】
図8は、第一の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の回路図である。第一の実施の形態例では、冗長ROM59だけを奇数側と偶数側で共通に設けられ、冗長アドレス比較回路62,65は、奇数側と偶数側にそれぞれ設けられ、それぞれ全てのコラムアドレスa1−a7の比較が行われる。従って、冗長アドレス比較回路62,65は、図示される通り、コラムアドレスa1〜a7に対応して並列に設けられる。
【0061】
図8には、コラムアドレスa1に対する冗長アドレス比較回路の回路構成が示される。冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXが無効レベルのHレベルの時は、冗長アドレス61O,61Eが無効であるので、トランジスタ187の導通により冗長アドレス比較回路62,65の出力cajnzは全てLレベルとなる。従って、冗長コラム選択回路63,66の入力は全てLレベルとなり、出力64,67は非選択のHレベルとなる。
【0062】
一方、冗長アドレス有効信号CFJOX,CFJEXが有効レベルのLレベルでは、トランジスタ187は非導通となり、NORゲート180,182はスルー状態となる。従って、冗長アドレス61O,61EのHレベルまたはLレベルに応じて、CMOSスイッチ183,184または185,186が導通する。従って、それに応じて、アクセスされているコラムアドレス42,44または42,49が、NORゲート182を介してまたは介さずに、その反転信号または非反転信号が出力される。
【0063】
図9は、冗長アドレス61O,61Eとアクセスされたアドレス42,44,42,49との関係を示す図表である。これに示される通り、両アドレスが論理的に排他的関係にある時に一致、論理的に同じの時に不一致であるとすると、冗長アドレス比較回路62,65により、一致した時は出力がHレベル、不一致の時はLレベルとなる。従って、冗長コラム選択回路63,66は、全てのコラムアドレスa1〜a7に対して一致した場合に、その出力caj01z〜caj07zが全てHレベルとなり、NANDゲート190と191の出力はLレベルとなる。その結果、NORゲート192の出力はHレベル、インバータ193の出力はLレベルとなる。冗長コラム選択信号64,67は、Lレベルで選択状態となる。尚、NANDゲート190,191及びNORゲート192は、1つのNANDゲートで構成しても良い。
【0064】
[第二の実施の形態例]
上記の第一の実施の形態例では、冗長ROM59内にブロックアドレスを記憶するブロック選択回路80、偶数と奇数の情報を記憶する奇数・偶数選択回路82を冗長アドレスROM81と共に設けた。そして、その冗長アドレスを、トランスファー回路83,84により、奇数側の冗長アドレス比較回路への冗長アドレス信号61Oの配線と、偶数側の冗長アドレス比較回路への冗長アドレス信号61Eの配線とに分配する。
【0065】
しかしながら、冗長アドレス信号を奇数側の配線と偶数側の配線にそれぞれ分配することで、その配線の本数が膨大になり、集積化の弊害となる。更に、冗長アドレス信号を奇数側の配線と偶数側の配線に分配することで、それぞれの配線にリセット回路85,86を設ける必要があり、この点も集積化の弊害になる。
【0066】
一方、冗長ROM59内のブロック選択回路80は、ローアドレスとの比較を行うが、ローアドレスはRAS期間に入力され、その後、例えば20nsec後に、コラムアドレスがCAS期間に入力される。
【0067】
そこで、第二の実施の形態例では、冗長ROMからの冗長アドレスを出力する端子を、奇数側と偶数側で共通にし、ローアドレスが入力されてから時分割で奇数側の冗長アドレスと偶数側の冗長アドレスとを、それぞれの冗長アドレス比較回路に供給する。先に供給される奇数側の冗長アドレス比較回路には、その奇数側の冗長アドレスを記憶するラッチ回路が設けられる。本実施の形態例は、4ビット以上のプリフェッチ構成のメモリ装置にも適用できる。
【0068】
図10は、第二の実施の形態例の構成図である。図2と同じ部分には、同じ引用番号が付しされている。この例でも、複数のメモリブロックについて、奇数側の冗長アドレスと偶数側の冗長アドレスとが共通の冗長ROM59にフレキシブルに記憶される。冗長ROM59からの冗長アドレス信号61の端子は、奇数用と偶数用に共通である。そして、この冗長アドレス信号61を奇数側の冗長アドレス比較回路62と偶数側の冗長アドレス比較回路65とに時分割に供給する為に、奇数側の冗長アドレス比較回路62に隣接して冗長アドレスを記憶するラッチ回路200が設けられる。それ以外の構成は、図2の場合と同等である。
【0069】
図11は、第二の実施の形態例の冗長回路の全体構成を示す図である。図11では、冗長回路の全体構成を示し、それぞれの回路構成が微細になっているので、それらの回路構成については後に別途説明する。
【0070】
図11に示される通り、冗長ROM59内には、第一の実施の形態例と同様に、冗長アドレスを記憶する冗長アドレスROM81と、その冗長アドレスが属するメモリブロックのアドレスを記憶するブロック選択回路80と、その冗長アドレスが奇数側が偶数側かの情報を記憶する奇数・偶数選択回路82が設けられる。そして、ブロック選択回路80によりブロック選択アドレスが一致すると、冗長アドレスROM81からの冗長アドレスが共通の冗長アドレス信号配線61から出力される。尚、複数の冗長ROM59からの冗長アドレス信号配線61と冗長アドレス有効信号CFJXの配線とは、ワイヤードオア接続される。
【0071】
この冗長回路では、タイミング信号TS3がLレベルの間は、奇数・偶数選択回路82により選択される奇数側の冗長アドレスが、冗長アドレス信号配線61に有効に出力され、その後、タイミング信号TS3がHレベルに切り替わった後は、奇数・偶数選択回路82により選択される偶数側の冗長アドレスが、冗長アドレス信号配線61に有効に出力される。最初に冗長アドレス信号配線61に出力された奇数側の冗長アドレス信号は、冗長アドレス有効信号CFJXと共に、ラッチ回路200のそれぞれのラッチ回路203,204にラッチされ、奇数側の冗長アドレス比較回路62に与えられる。一方、後で冗長アドレス信号配線61に出力された偶数側の冗長アドレス信号は、冗長アドレス有効信号CFJXと共に偶数側の冗長アドレス比較回路65に与えられる。冗長アドレス有効信号をラッチする回路201は、1ビット分ラッチするのに対して、奇数側の冗長アドレスをラッチする回路202は、7ビット分のラッチ回路を有する。
【0072】
更に、この冗長回路では、冗長アドレス信号配線61を共通化したのに伴い、リセット回路86も共通化される。従って、リセット回路86は、タイミング信号TS3がLレベルからHレベルに切り替わる時に、奇数側冗長アドレス信号を信号配線からリセットするために、一旦リセット動作を行う。そのために、図11に示される通り、プリチャージ信号Precharge により、冗長アドレス信号配線61がHレベルにプリチャージされる。
【0073】
図12は、図11の冗長ROM59の詳細回路図である。また、図13は、図11の冗長アドレス比較回路65,62、ラッチ回路200、冗長コラム選択回路66,63の詳細回路図である。そして、図14は、それらの冗長回路の動作タイミングチャート図である。
【0074】
図12に示された冗長ROMの構成は、ブロック選択回路80、奇数・偶数選択回路82、冗長アドレスROM81を有する点で、図6に示した第一の実施の形態例の冗長ROMと同じである。ブロック選択回路80には、アクセス中のローアドレス信号がトランジスタ10〜107のゲート87に与えられる。また、フューズF10〜F17に記憶されている冗長コラムアドレスに対応するブロックのローアドレスが記憶される。この回路構成は、図6の例とほぼ同じである。奇数・偶数選択回路82は、フューズF18に冗長アドレスに対応する奇数か偶数かの情報が記憶される。この例では、フューズF18が導通状態の場合は奇数アドレス側の冗長アドレスを記憶していることを示し、切断状態の場合は偶数アドレス側の冗長アドレスを記憶していることを示す。この奇数か偶数かの情報は、タイミング信号TS3のLレベルとHレベルの時に時分割にノードn21に読み出される。
【0075】
ブロック選択回路80でブロックのアドレスが一致し、タイミング信号TS3がLレベルの時に奇数・偶数選択回路82が奇数の情報を記憶している場合に、若しくは、タイミング信号TS3がHレベルの時に奇数・偶数選択回路82が偶数の情報を記憶している場合に、NANDゲート112の出力80BがLレベルとなる。その結果、冗長アドレスROM81内の冗長アドレス信号を各出力端子61−1〜61−7に出力する。同時に、冗長アドレス有効信号CFJXもインバータ220、トランジスタ221により、Lレベルと有効状態のレベルになる。本実施の形態例では、冗長アドレスROM81の出力は、奇数側または偶数側に対して共通の出力端子61−1〜61−7に生成される。従って、図6の如きトランスファー回路は設けられない。
【0076】
図14のタイミングチャートに従って説明すると、クロックCLK1のタイミングでアクティブコマンドが与えられ、アドレス端子にローアドレスが供給される。その時に、タイミング信号TS1により冗長ROM59が活性化され、且つリセット回路によりリセットされる。制御信号frazがLレベルの間にノードn10がHレベルにリセットされていたが、ローアドレスの入力により制御信号frazがHレベルに変わり、トランジスタ108が導通すると共に、フューズF10〜F17とローアドレスとが比較される。それらが一致する時は、ノードn10がHレベルを維持し、不一致の時はノードn10がLレベルに低下する。そこで、タイミング信号TS2の立ち上がりにより、ブロックアドレスが一致した冗長ROMでは、NANDゲート209の出力がLレベルとなり、トランジスタ210を導通させる。従って、フューズF18の導通(奇数)または切断(偶数)により、ノードn20はHレベルまたはLレベルとなる。
【0077】
その後、タイミング信号TS3がLレベルの間に、フューズF18が導通して奇数の情報を記憶していた冗長ROMにおいて、トランスファーゲート218を介してノードn21にHレベルが出力される。その結果、その冗長ROMのイネーブル信号80BがLレベルとなる。冗長コラムアドレスROM81では、冗長アドレス端子61−2を出力する部分について説明すると、冗長アドレスがフューズF20の切断または導通により記憶される。イネーブル信号80BのLレベルにより、ノードn12がHレベルに変化する(フューズF20が導通)かLレベルのまま(フューズF20が切断)となり、それによりN型トランジスタ134が導通または非導通となり、冗長アドレス端子61−2がLレベルまたはHレベルとなる。この信号が、タイミング信号TS4のHレベルパルスにより、奇数側の冗長アドレス信号として、奇数側の冗長アドレス比較回路62の手前に設けられたラッチ回路201,202に、冗長アドレス有効信号CFJXと奇数側の冗長アドレスがラッチされる。即ち、タイミング信号TS4により、トランスファーゲート234が導通して冗長アドレス有効信号CFJXがラッチ回路203にラッチされ、更にトランスファーゲート237が導通して冗長アドレス61がラッチ回路204にラッチされる。
【0078】
その後、プリチャージ回路86でプリチャージ動作が行われると共に、タイミング信号TS3がHレベルに切り替わる。それに伴い、冗長ROM59内の奇数・偶数選択回路82のトランスファーゲート219が導通し、ノードn20の反転信号がノードn21に出力される。従って、フューズF18が切断されて偶数の情報を記憶している冗長ROM59において、ノードn21がHレベルとなる。従って、ブロックアドレスが一致していて偶数の情報を記憶している冗長ROMにおいて、イネーブル信号80BがLレベルとなり、冗長アドレスROM81に記憶されている冗長アドレスが冗長アドレス端子61−1〜61−7に出力される。
【0079】
この時点では、タイミング信号TS4はLレベルであるので、ラッチ回路200内のトランスファーゲートは閉じている。従って、その冗長アドレス61は、偶数側の冗長アドレス比較回路65にのみ供給される。かくして、奇数側の有効な冗長アドレスは奇数側の冗長アドレス比較回路62に、偶数側の有効な冗長アドレスは偶数側の冗長アドレス比較回路65にそれぞれ与えられる。
【0080】
図13に示された冗長アドレス比較回路62,65は、図8で示した回路と同じである。図13には、冗長アドレス有効信号CFJXをラッチするラッチ回路201と冗長アドレス61をラッチするラッチ回路202とが、奇数側の冗長アドレス比較回路62の手前に設けられる。
【0081】
以上の通り、本実施の形態例では、複数のブロックに対して、奇数側と偶数側の冗長アドレスを冗長ROMにフレキシブルに記憶させるので、冗長ROMの容量を少なくして且つ合理的な確率で不良セルを救済することができる。しかも、冗長ROMからの冗長アドレスの出力端子は、奇数側と偶数側とで共通化して、両冗長アドレス信号を時分割に与えることができるので、冗長ROMの回路構成が簡素化し、冗長アドレスの出力端子を減らすことができる。本実施の形態例も、4ビット以上のプリフェッチ構成のメモリ装置にも適用できる。
【0082】
[第三の実施の形態例]
図15は、本発明の第三の実施の形態例の構成図である。図2と同じ部分には同じ引用番号を付している。この例では、上記した第一、第二の実施の形態例と同様に、奇数アドレス側セルアレイ10に冗長セルアレイ17が設けられ、偶数アドレス側セルアレイ20に冗長セルアレイ27が設けられる。そして、共通の冗長ROM59が両方のセルアレイ10,20の不良セルアレイのコラムアドレスをフレキシブルに記憶する。
【0083】
本第三の実施の形態例では、更に、冗長アドレス比較回路は、上位のコラムアドレスa3−a7についてアクセスされているアドレス42と冗長アドレス61とを比較する上位冗長アドレス比較回路70と、下位のコラムアドレスa1,a2についての、奇数側下位冗長アドレス比較回路62Bと偶数側下位冗長アドレス比較回路65Bとを有する。上位冗長アドレス比較回路70は、奇数側と偶数側に共通に設けられ、その出力の比較信号71は奇数側冗長コラム選択回路63と偶数側冗長コラム選択回路66とに与えられる。奇数側下位冗長アドレス比較回路62Bには、アクセスされている下位のコラムアドレス(a1,a2)44と冗長アドレス61とが比較され、その出力の比較信号72は奇数側冗長コラム選択回路63に与えられる。更に、偶数側下位冗長アドレス比較回路65Bには、下位のコラムアドレス(a1,a2)44またはシフトアドレス(a1’,a2’)49と冗長アドレス61とが比較され、その出力の比較信号73は偶数側冗長コラム選択回路66に与えられる。
【0084】
2ビット・プリプリフェッチ回路構成では、奇数アドレス側セルアレイと偶数アドレス側セルアレイとで構成されるが、上位アドレスa3−a7は常に両セルアレイに対して同じであるので、その上位アドレスa3−a7と冗長アドレス61との比較は、両セルアレイに共通の上位冗長アドレス比較回路70で行われる。従来の場合に比べて、本第三の実施の形態例では、上位のコラムアドレスa3−a7の5ビット分の比較回路を節約できる。更にメモリの容量が大きくコラムアドレスの本数が増えると、その効果は大きくなる。
【0085】
図16は、第三の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の回路図である。図15のブロック図には、共通の冗長ROM59、共通の上位冗長アドレス比較回路70、それぞれの下位冗長アドレス比較回路62B、65B及びそれぞれの冗長コラム選択回路63,66が示されるが、図16では、共通の上位冗長アドレス比較回路70と、奇数側の下位冗長アドレス比較回路62Bと、奇数側の冗長コラム選択回路63とだけが示される。
【0086】
先ず、共通化された上位の冗長アドレス比較回路70は、アドレス信号a3−a7の5ビットのアドレスの比較を行う。従って、その回路構成は、図8に示された冗長アドレス比較回路と同じである。上位冗長アドレス比較回路70の5本の出力71は、奇数側の冗長コラム選択回路63内のNANDゲート190と191とに供給される。
【0087】
奇数側の冗長コラム選択回路63の構成は、図8の回路と同じである。即ち、NANDゲート190,191,NORゲート192及びインバータ193で構成される。
【0088】
別々に設けられた下位の冗長コラム選択回路62Bも、その回路構成は上位の冗長アドレス比較回路70と同じである。奇数側の下位の冗長コラム選択回路62Bは、冗長アドレス有効信号CFJOXにより冗長アドレス61Oを通過させるNORゲート250とその出力のインバータ251、アクセスされるコラムアドレスa1,a2(44)を通過させるNORゲート252と、CMOSスイッチトランジスタ253〜256及びリセットトランジスタ257で構成される。そして、その出力72は、奇数側の冗長コラム選択回路63のNANDゲート190に与えられる。上位の冗長アドレス比較回路70の出力71が全てHレベル、下位の冗長アドレス比較回路62Bの出力72が全てHレベルの時に、NANDゲート190,191の出力が共にLレベルとなり、NORゲート192の出力はHレベル、インバータ193の出力はLレベルとなる。従って、冗長コラム選択信号64のLレベルにより、冗長セルアレイが選択され、不良セルの選択が禁止される。
【0089】
偶数側の下位の冗長アドレス比較回路65Bの構成は、図16に示された奇数側の下位の冗長アドレス比較回路62Bの構成と同じである。但し、アクセスされるコラムアドレスは、アドレスa1,a2(44)または桁上げされたアドレスa1’,a2’(48)が、最下位アドレスa0が0か1かで切り換えられる。
【0090】
上記の通り、第三の実施の形態例では、上位の冗長アドレス比較回路70を共通化することができるので、図示された冗長アドレス比較回路70の分だけ従来例よりも回路構成を少なくすることができる。本実施の形態例も、4ビット以上のプリフェッチ構成のメモリ装置にも適用できる。
【0091】
[第四の実施の形態例]
図17は、第四の実施の形態例の冗長回路の全体構成図である。この例は、上記の第三の実施の形態例の変形例である。この例では、冗長ROM59は、奇数・偶数選択回路は設けられていない。従って、冗長アドレスの出力端子の奇数側と偶数側に共通である。即ち、この例では、奇数アドレス側のセルアレイまたは偶数アドレス側のセルアレイのいずれかに不良セルが存在すると、両方のセルアレイにおいて、冗長セルアレイに同時に置き換えられる。即ち、奇数側と偶数側の区別なく冗長アドレスが、冗長アドレスROM81に記憶される。そして、冗長ROM59には、冗長アドレスが複数のメモリセルブロックに対してのみフレキシブルに記憶される。
【0092】
第四の実施の形態例では、冗長アドレス比較回路を上位のアドレスa3〜a7を冗長アドレス61と比較する共通の上位冗長アドレス比較回路70と、奇数側及び偶数側の下位のアドレスa1,a2を冗長アドレス61とそれぞれ比較する下位冗長アドレス比較回路62B、65Bとで構成される。この点は、上記の第三の実施の形態例と同じである。
【0093】
但し、第四の実施の形態例では、冗長ROM59から奇数側と偶数側に共通の冗長アドレス有効信号CFJXと同じく共通の冗長アドレス61が出力されるので、下位冗長アドレス比較回路62B、65Bは、一体型で構成することができる。
【0094】
図18は、第四の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の具体的回路図である。この例は、下位側の冗長アドレス比較回路62B、65Bが一体型で構成される。上位側の冗長アドレス比較回路70は、図16の回路と同じ構成である。下位側の冗長アドレス比較回路62B、65Bでは、冗長アドレス有効信号CFJXのLレベルにより、NORゲート250,252,262がスルー状態になる。そこで、冗長アドレス61の論理により、ゲート253,254またはゲート255,256のいずれかが導通して、奇数側のアドレス44の反転または非反転信号が出力72として出力される。また、同様に、冗長アドレス61の論理により、ゲート258,259またはゲート260,261のいずれかが導通して、偶数側のアドレス49の反転または非反転信号が出力73として出力される。
【0095】
上位側の冗長アドレス比較回路70の出力71と下位側の冗長アドレス比較信号62B、65Bの奇数側出力72とが、NANDゲート190,191でまとめられ、出力71,72が全てHレベルの時に、それぞれLレベルを出力して、NORゲート192によりHレベルが出力される。その結果、奇数側の冗長コラム選択信号64がLレベル(選択状態)となる。
【0096】
同様に、上位側の冗長アドレス比較回路70の出力71と下位側の冗長アドレス比較信号62B、65Bの偶数側出力73とが、NANDゲート265,191でまとめられ、出力71,72が全てHレベルの時に、それぞれLレベルを出力して、NORゲート266によりHレベルが出力される。その結果、偶数側の冗長コラム選択信号67がLレベル(選択状態)となる。
【0097】
この様に、論理的には、図18に示された第四の実施の形態例の回路構成は、図15に示された第三の実施の形態例の回路構成と同じである。但し、冗長ROM59をシンプルな構成として冗長アドレス有効信号CFJXと冗長アドレス61とを奇数側と偶数側とで共通化したことにより、下位側の冗長アドレス比較回路は奇数側と偶数側とで一部共通化することができる。
【0098】
[第五の実施の形態例]
図19は、第五の実施の形態例の全体回路図である。この実施の形態例は、第二の実施の形態例と同様に、異なる冗長アドレス61を時分割で異なる冗長アドレス比較回路300、302に与える。即ち、図19には、奇数側のセルアレイ10しか示されていない。この例では、セルアレイ10に対して2つの冗長セルアレイ17A、17Bが設けられる。その為に、それぞれの冗長セルアレイ17A,17Bには、冗長アドレス比較回路300,302と冗長コラム選択回路63A,63Bが設けられる。そして、共通に設けられた冗長ROM59には、2つの冗長セルアレイ17A,17Bに対応する冗長アドレスが、複数の冗長セルアレイ17A,17Bの選択データと共に記憶される。
【0099】
そして、共通の冗長アドレス端子61から、最初に冗長セルアレイ17Aに対応する冗長アドレスが出力されて、ラッチ回路200にラッチされ、冗長アドレス比較回路300に与えられる。その後、共通の冗長アドレス端子61から、冗長セルアレイ17Bに対応する冗長アドレスが出力されて、冗長アドレス比較回路302に与えられる。即ち、時分割で共通の冗長アドレス端子61から、異なる冗長アドレスが異なる冗長アドレス比較回路に与えられる。従って、この実施の形態例では、複数ビットプリフェッチの構成に限定されない。
【0100】
上記の時分割に冗長アドレスを出力する為の冗長ROM59内の回路構成は、図11,12,13で示した回路構成に類似する。奇数・偶数選択回路の代わりに、複数の冗長セルアレイを選択するデータが記憶された選択回路が設けられる。そして、時分割に冗長アドレスが出力される回路構成は同じである。また、先に出力される冗長アドレスをラッチするラッチ回路200も、図13に示された回路と同等である。
【0101】
上記で示した回路構成は一例であり、他の回路構成によっても本発明が実現できることは、当業者であれば理解される。特に、冗長アドレスの記憶状態、フューズの使い方については、当業者により適宜変更できる。
【0102】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によれば、複数ビット・プリフェッチ回路構成において、第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群側セルアレイにそれぞれ冗長セルアレイを設けた場合に、冗長アドレスを記憶する冗長ROMを第一のアドレス群側と第二のアドレス群側に共通に設け、フレキシブルに第一のアドレス群側と第二のアドレス群側のアドレスを記憶させる。従って、第一のアドレス群側と第二のアドレス群側に別々に専用の冗長ROMを設ける場合よりも、冗長ROMの容量を小さくすることができる。
【0103】
更に、本発明によれば、複数ビット・プリフェッチ回路構成において、第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群側セルアレイにそれぞれ冗長セルアレイを設けた場合に、コラムアドレスの内、第一のアドレス群側と第二のアドレス群側で同じになる上位のコラムアドレスに対する冗長アドレス比較回路を共通化し、奇数側と偶数側で異なる下位のコラムアドレスa1,a2... に対する冗長アドレス比較回路を別々に設ける。従って、上位の冗長アドレス比較回路の構成を小規模にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のSDRAMの2ビット・プリフェッチ回路の例を示す図である。
【図2】本発明の第一の実施の形態例の構成図である。
【図3】第一の実施の形態例の冗長ROMと冗長セルアレイとの関係を示す図である。
【図4】第一の実施の形態例の冗長回路の全体構成図である。
【図5】図4の各ブロックだけで全体の構成を示したブロック図である。
【図6】冗長ROM59の具体的回路図である。
【図7】リセット回路85,86の詳細回路図である。
【図8】第一の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の回路図である。
【図9】冗長アドレスとアクセスされたアドレスとの関係を示す図表である。
【図10】第二の実施の形態例の構成図である。
【図11】第二の実施の形態例の冗長回路の全体構成を示す図である。
【図12】図11の冗長ROMの詳細回路図である。
【図13】図11の冗長アドレス比較回路、ラッチ回路、冗長コラム選択回路の詳細回路図である。
【図14】第二の実施の形態例の冗長回路の動作タイミングチャート図である。
【図15】第三の実施の形態例の構成図である。
【図16】第三の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の回路図である。
【図17】第四の実施の形態例の冗長回路の全体構成図である。
【図18】第四の実施の形態例の冗長アドレス比較回路と冗長コラム選択回路の具体的回路図である。
【図19】第五の実施の形態例の全体回路図である。
【符号の説明】
10 奇数アドレス(第一のアドレス群)側セルアレイ
17 奇数アドレス(第一のアドレス群)側冗長セルアレイ
20 偶数アドレス(第二のアドレス群)側セルアレイ
27 偶数アドレス(第二のアドレス群)側冗長セルアレイ
59 冗長メモリ、冗長ROM
62 奇数(第一のアドレス群)側冗長アドレス比較回路
65 偶数(第二のアドレス群)側冗長アドレス比較回路
80 ブロック選択回路
81 冗長アドレスメモリ、冗長アドレスROM
82 奇数・偶数(第一・第二のアドレス群)選択回路
70 上位冗長アドレス比較回路
62B 奇数(第一のアドレス群)側下位冗長アドレス比較回路
65B 偶数(第二のアドレス群)側下位冗長アドレス比較回路
200 ラッチ回路
Claims (13)
- 第一のアドレス群に対応する第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群に対応する第二のアドレス群側セルアレイとを有し、前記第一及び第二のアドレス群側セルアレイが同時にアクセスされて複数ビットがプリフェッチされる半導体記憶装置において、
外部アドレスから第一または第二のアドレス群のアドレスを生成し、アクセスされる第一及び第二のアドレス群のアドレスを出力するアドレス生成回路と、
前記第一のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第一のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記第二のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第二のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記不良セルに対応する第一のアドレス群側の冗長アドレスまたは第二のアドレス群側の冗長アドレスをそれぞれ対応する第一・第二のアドレス群選択データと共に記憶する共通の冗長メモリと、
前記冗長メモリから供給される前記第一のアドレス群側の冗長アドレスと、前記アクセスされる第一のアドレス群のアドレスとを比較し、一致する時に前記第一のアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第一のアドレス群側冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記第二のアドレス群側の冗長アドレスと、前記アクセスされる第二のアドレス群のアドレスとを比較し、一致する時に前記第二のアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第二のアドレス群側冗長アドレス比較回路とを有することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項1において、
前記第一のアドレス群側セルアレイと、第一のアドレス群側冗長セルアレイと、第二のアドレス群側セルアレイと、第二のアドレス群側冗長セルアレイとは、複数のブロックに分割され、
前記冗長メモリには、更に、記憶される冗長アドレスに対応するブロックのアドレスが記憶され、
前記冗長セルアレイに記憶されたブロックのアドレスが、アクセスされるアドレスと一致する時に、前記記憶された冗長アドレスの前記冗長アドレス比較回路への供給が有効になることを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項1または2において、
前記冗長メモリは、更に、前記第一・第二のアドレス群選択データに応じて前記冗長アドレスを別々に出力するトランスファー回路を有し、
前記半導体記憶装置は、更に、
前記トランスファー回路から前記第一のアドレス群側冗長アドレス比較回路と第二のアドレス群側冗長アドレス比較回路とに別々に接続される第一のアドレス群側冗長アドレス配線と第二のアドレス群側冗長アドレス配線を有することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項1または2において、
更に、前記第一・第二のアドレス群選択データに応じて前記冗長アドレスが前記冗長メモリから前記第一のアドレス群側冗長アドレス比較回路と第二のアドレス群側冗長アドレス比較回路とに時分割で転送される冗長アドレス配線を有することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
前記第一のアドレス群が奇数アドレス、前記第二のアドレス群が偶数アドレスであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
前記第一のアドレス群及び第二のアドレス群が、最下位ビットが「00」、「01」、「10」、「11」のうちいずれかの2つであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 第一のコラムアドレス群に対応する第一のコラムアドレス群側セルアレイと第二のコラムアドレス群に対応する第二のコラムアドレス群側セルアレイとを有し、前記第一及び第二のコラムアドレス群側セルアレイが同時にアクセスされて複数ビットがプリフェッチされ、前記セルアレイがロー方向に複数のブロックに分割された半導体記憶装置において、
外部アドレスから第一または第二のコラムアドレス群のコラムアドレスを生成し、アクセスされる第一及び第二のコラムアドレス群のコラムアドレスを出力するアドレス生成回路と、
前記各ブロックに設けられ、前記第一のコラムアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第一のコラムアドレス群側冗長セルアレイと、
前記各ブロックに設けられ、前記第二のコラムアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第二のコラムアドレス群側冗長セルアレイと、
前記不良セルに対応する第一のコラムアドレス群側の冗長コラムアドレスまたは第二のコラムアドレス群側の冗長コラムアドレスを、対応するブロック選択用ローアドレス及び第一・第二のコラムアドレス群選択データと共にそれぞれ記憶する共通の冗長メモリと、
前記冗長メモリから供給される前記第一のコラムアドレス群側の冗長コラムアドレスと、前記アクセスされる第一のコラムアドレス群のコラムアドレスとを比較し、一致する時に前記第一のコラムアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第一のコラムアドレス群側冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記第二のコラムアドレス群側の冗長コラムアドレスと、前記アクセスされる第二のコラムアドレス群のコラムアドレスとを比較し、一致する時に前記第二のコラムアドレス群側冗長セルアレイの選択を有効にする第二のコラムアドレス群側冗長アドレス比較回路とを有し、
前記冗長メモリは、アクセスされるローアドレスと記憶された前記ブロック選択用ローアドレスとが一致した時に、前記第一・第二のコラムアドレス群選択データに応じて前記冗長コラムアドレスを前記第一のコラムアドレス群側冗長アドレス比較回路と第二のコラムアドレス群側冗長アドレス比較回路とに時分割で転送することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項7において、
更に、前記冗長メモリから出力される前記冗長コラムアドレスの第一のコラムアドレス群側または第二のコラムアドレス群側のいずれか一方をラッチするラッチ回路を有することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項7または8において、
前記第一のコラムアドレス群が奇数アドレス、前記第二のコラムアドレス群が偶数アドレスであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項7または8において、
前記第一のコラムアドレス群及び第二のコラムアドレス群が、最下位ビットが「00」、「01」、「10」、「11」のうちいずれかの2つであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 第一のアドレス群に対応する第一のアドレス群側セルアレイと第二のアドレス群に対応する第二のアドレス群側セルアレイとを有し、前記第一及び第二のアドレス群側セルアレイが同時にアクセスされて複数ビットがプリフェッチされる半導体記憶装置において、
外部アドレスから第一または第二のアドレス群のコラムアドレスを生成し、アクセスされる第一及び第二のアドレス群のコラムアドレスを出力するアドレス生成回路と、
前記第一のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第一のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記第二のアドレス群側セルアレイの不良セルに置き換えられる第二のアドレス群側冗長セルアレイと、
前記不良セルに対応する第一のアドレス群側の冗長アドレスまたは第二のアドレス群側の冗長アドレスをそれぞれ対応する第一・第二のアドレス群選択データと共に記憶する共通の冗長メモリと、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの下位アドレスと、前記アクセスされる第一のアドレス群の下位アドレスとを比較する第一のアドレス群側下位冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの下位アドレスと、前記アクセスされる第二のアドレス群の下位アドレスとを比較する第二のアドレス群側下位冗長アドレス比較回路と、
前記冗長メモリから供給される前記冗長アドレスの上位アドレスと、前記アクセスされる第一のアドレス群及び第二のアドレス群の共通上位アドレスとを比較する共通上位冗長アドレス比較回路とを有することを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項11において、
前記第一のアドレス群が奇数アドレス、前記第二のアドレス群が偶数アドレスであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 請求項11において、
前記第一のアドレス群及び第二のアドレス群が、最下位ビットが「00」、「01」、「10」、「11」のうちいずれかの2つであることを特徴とする半導体記憶装置。
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