JP2003196985A - 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法 - Google Patents

半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法

Info

Publication number
JP2003196985A
JP2003196985A JP2001391559A JP2001391559A JP2003196985A JP 2003196985 A JP2003196985 A JP 2003196985A JP 2001391559 A JP2001391559 A JP 2001391559A JP 2001391559 A JP2001391559 A JP 2001391559A JP 2003196985 A JP2003196985 A JP 2003196985A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
write
bit
input
data
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001391559A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Yamada
和志 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Electronics Corp
Original Assignee
NEC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Electronics Corp filed Critical NEC Electronics Corp
Priority to JP2001391559A priority Critical patent/JP2003196985A/ja
Priority to US10/329,244 priority patent/US20030117878A1/en
Publication of JP2003196985A publication Critical patent/JP2003196985A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/22Control and timing of internal memory operations
    • G11C2207/229Timing of a write operation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 素子形成面積の増加を抑制し、ビットライト
ディセーブル時の消費電力を低減し、メモリ設計時間を
短縮できる半導体メモリを提供する。 【解決手段】 1ビット分の回路ブロックは、メモリセ
ルアレイA00〜Anm、カラムセレクタC00〜Cn
m、センスアンプ及び書き込みドライバ部R00〜Rn
mを含むバンクを複数個備え、各ビットについてデータ
の入出力部IO0〜IOnが設けられている。この入出
力部は、ビットライトモード又はバイトライトモードに
おいて、ワード線とカラムセレクタの双方が選択されて
いるにも拘わらずデータ書き込みを行わないメモリセル
に電気的に接続されるビット線を、ワード線選択時にプ
リチャージ時と同様の電位で駆動することによって、ラ
イトディセーブルを実現する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビットライト機能
又はバイトライト機能を有する半導体メモリ及び半導体
メモリにおけるビットライト方式又はバイトライト方式
による書き込み方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図1は、ビットライト機能を有するSR
AM(スタティック・ランダム・アクセス・メモリ)の一
例を示すブロック図である。ビットライト機能を備えな
いSRAMは、図1でビットライト制御信号WEB0、
…、WEBnが存在しないだけで他の構成要素は同様で
ある。
【0003】I/O(入出力)部IO0と、メモリセル
アレイA00、A01、…、A0mと、センスアンプ/
書き込みドライバ部R00、R01、…、R0mと、カ
ラムセレクタC00、C01、…、C0mとの全ての構
成要素を一組として、1ビット分の回路ブロック(この
場合、第0ビット分)が構成される。同様に、第1ビッ
ト分、第2ビット分、…、第nビット分の回路ブロック
が構成される。ここで、ある1つのメモリセルアレイ
(例えば、A00)と、それに付随するセンスアンプ/書
き込みドライバ部(ここではR00)と、カラムセレクタ
(ここではC00)とをまとめて、「バンク」という単位
で呼ぶことにする。
【0004】図1では、1ビット分につき第0バンクか
ら第mバンクまであるので、SRAM全体では、(m+
1)×(n+1)個のバンクが存在することになる。
【0005】制御部CNTに入力されるアドレス信号
は、バンクアドレスと列アドレスと行アドレスに分けら
れる。バンクアドレスによって、各ビット内の(m+1)
個のバンクのいずれかが選択される。また、各メモリセ
ルアレイ内にはメモリセル(図示しない)がマトリックス
状に配置されており、列アドレスによって1つのワード
線(列線)が選択され、行アドレスによって1組のビット
線対(行線)が選択されることにより、交差地点のメモリ
セルが選択される。
【0006】ワードドライバはワード線を駆動するもの
で、各ビット間で共有されており、図1では左側にまと
めて配置されている。逆に、カラムセレクタは行線を選
択するもので、各バンク毎に設置されている。センスア
ンプ/書き込みドライバ部も、バンク毎に設置されてい
る。
【0007】制御部CNTにはアドレス信号の他に、外
部クロックCLK及び外部読み出し/書き込みモード切
り替え信号CWEB等が入力される。一方、I/O部I
O0、IO1、…、IOnにはデータ入力信号DI0、
DI1、…、DInと、データ出力信号DO0、DO
1、…、DOnと、ビットライト制御信号WEB0、W
EB1、…、WEBnとが夫々接続されている。前述の
如く、ビットライト機能を備えないSRAMには、ビッ
トライト制御信号WEB0、WEB1、…、WEBnが
存在しない。
【0008】図5はビットライト機能を備えない従来の
SRAM回路のうち、第kビットを抜き出してその回路
構成を示すブロック図である。データ入力信号DIk
は、入力データラッチ15と共通データ線ドライバ14
を介して、書き込み時に共通データ線RT、RBをその
入力データで駆動する。逆に、共通データ線RT、RB
から伝達してきた読み出しデータは、出力データラッチ
12と出力ドライバ13を介してデータ出力信号DOk
として外部へ出力される。
【0009】図1の制御部CNTで生成された内部クロ
ック信号CLと書き込みイネーブル信号WEは、図5に
示すI/O部IOkへと入力される。内部クロック信号
CLは、外部クロック信号CLKと同相で、I/O部I
Ok内の入力データラッチ15と共通データ線プリチャ
ージ回路11に接続される。書き込みイネーブル信号W
Eはインバータ18と共通データ線ドライバ14に接続
され、共通データ線ドライバ14を制御する。
【0010】共通データ線RT、RBは、グローバルビ
ット線ともいわれ、1ビット分すべてのバンクを縦断す
るよう敷設され、各センスアンプ/書き込みドライバ部
Rk0、Rk1、…、Rkmに接続されている。図5は
第mバンクが選択された場合を示しており、共通データ
線RT、RBは、読み出しドライバ対9の出力端子と、
書き込みデータ受信インバータ対7の入力端子に接続さ
れる。書き込み時に、共通データ線RT、RBから伝え
られた書き込みデータは、書き込みデータ受信インバー
タ7を介した後、書き込みドライバ4によって共通ビッ
ト線DTm、DBmに出力される。逆に、共通ビット線
DTm、DBmから伝達してきた読み出しデータは、セ
ンスアンプ6によって増幅され、インバータ対8を介し
て読み出しドライバ対9へと伝播する。
【0011】センスアンプイネーブル信号SEmと反転
書き込みイネーブル信号WBmは、各ビット間で共有さ
れており、選択されたバンクに対してのみ、内部クロッ
ク信号CLと同期した信号が伝達される。センスアンプ
イネーブル信号SEmは、センスアンプ6が増幅を開始
するタイミングを与える。反転書き込みイネーブル信号
WBmは、インバータ5を用いて書き込みドライバ4を
活性化するタイミングを与える。
【0012】共通ビット線DTm、DBmは、メモリセ
ルアレイAkm内のビット線対2(グローバルビット線
対との対比で、ローカルビット線対ともいう)をカラム
セレクタCkmによって一意に選択したものである。図
5では、8組のビット線対のうちの1組をカラム選択信
号S[0:7]で選択する構成となっている。なお、WL
0、WL1、…、WLxはワード線を示している。
【0013】次に、図5及び図6を参照して、ビットラ
イト機能を有しない従来のSRAMの動作について説明
する。図6は、内部クロック信号CLの約2周期分の動
作を示すタイミングチャートであり、前半の1周期が書
き込み動作、後半の1周期が読み出し動作に対応してい
る。書き込みイネーブル信号WEと反転書き込みイネー
ブル信号WBmは、内部クロック信号CLと外部読み出
し/書き込みモード切り替え信号CWEBとの論理で生
成される。但し、反転書き込みイネーブル信号WBm
は、さらにバンクアドレス信号との論理がとられるの
で、やや切り替わりのタイミングが遅れる。同様に、ワ
ード線WLは、バンクアドレス信号とロウアドレス信号
に応じて選択されたいずれか1本が、内部クロック信号
CLの立ち上がりに同期して立ち上がる。図6では、一
例として、前半のクロックでWL0が選択されてメモリ
セルに"0"が書き込まれ、後半のクロックでWL1が選
択されてメモリセルから"1"が読み出されたものとす
る。
【0014】共通データ線RT、RBは、図6の前半の
クロックではデータ入力信号DIkを受けて、相補形式
の書き込みデータを書き込みドライバ4へ向けて伝達
し、後半のクロックではセンスアンプ6の出力を受け
て、相補読み出し信号をデータ出力DOkへと伝達する
役割を担う。どちらも内部クロック信号CLの立ち上が
りと同期しているが、書き込み時に比べて読み出し時の
方が共通データ線RT、RBへ信号が到着するタイミン
グが遅い。
【0015】共通ビット線DTm、DBmは、図6の前
半のクロックでは書き込みドライバ4の出力を伝達す
る。後半のクロックでは、カラムセレクタCkmを介し
て、選択されたメモリセルからの相補読み出し信号をセ
ンスアンプ6へと伝達する。個々のメモリセルは面積優
先で設計されているため駆動能力が弱く、図6のDBm
に示すようにゆっくりと電位が変化する。共通ビット線
DTm、DBmの電位差が読み出し動作に充分な値に達
するまで待った後、センスアンプイネーブル信号SEm
が立ち上がり、センスアンプ6によって、増幅された読
み出し信号が共通データ線RT、RBを経由してデータ
出力DOkへと伝達される。
【0016】各制御信号は内部クロック信号CLと同期
しているものの、信号の伝播には相応の時間が必要なた
め、ある程度の時間遅れが生じる。例えば、書き込みイ
ネーブル信号WEは、図1に示す制御部CNTからI/
O部IO0、IO1、…、IOnを横断するよう敷設さ
れているため、図6に示すように内部クロックの立ち上
がりから若干遅れて遷移する。一方、反転書き込みイネ
ーブル信号WBmは、すべてのセンスアンプ/書き込み
ドライバ部R00、R01、…、R0m、R10、R1
1、…、R1m、……、Rn0、Rn1、…、Rnmへ
と配信しなければならないので、SRAM横断に必要な
遅延時間に加えて、SRAMを縦断する遅延時間も上乗
せされて信号遷移が起こる。ワード線に至っては、各メ
モリセルアレイに含まれるWL0、WL1、…、WLx
のいずれかから1本を選択するというロウデコード動作
が必要なため、さらに大きな遅延時間が加わる。このよ
うに、同期動作といえども、信号が配信される対象の多
さと、その対象までの距離の違いによって、実際に信号
が遷移するタイミングに遅れが生じ、所謂スキューが発
生する。これらのスキューは、製造バラツキ、動作電源
電圧及び温度によって変動するので、センスアンプイネ
ーブル信号SEmの立ち上がりのように、スキュー起因
で誤動作が起こりやすいタイミングの設計には、充分な
注意が払われる。
【0017】図7はビットライト機能を有する従来のS
RAM回路のうち、第kビットを抜き出してその回路構
成を示すブロック図である。図7において、図5と相違
する点は、IO部IOkにビットライト制御信号WEB
kが入力されることと、それが入力されるビットライト
制御信号ラッチ19が新たに付加されたことと、センス
アンプ/書き込みドライバ部Rkm内にNANDゲート
21及び遅延素子23が設けられたことにある。また、
ビットライト制御信号ラッチ反転出力BWEは、1ビッ
ト分の全てのバンクを縦断するよう敷設され、各センス
アンプ/書き込みドライバ部Rk0、Rk1、…、Rk
mに接続される。
【0018】図7の場合は第mバンクが選択された場合
を示しており、より具体的には、ビットライト制御信号
ラッチ反転出力BWEはセンスアンプ/書き込みドライ
バ部Rkm内のNANDゲート21の入力端子に接続さ
れる。NANDゲート21のもう一方の入力端子には、
遅延素子23を介して反転書き込みイネーブル信号WB
mが入力される。
【0019】続いて、図7と図8を使用して、ビットラ
イト機能を有する従来のSRAMの動作について説明す
る。図8は、内部クロック信号CLの約2周期分の動作
を示したタイミングチャートであり、前半の1周期が"
0"を書き込む動作、後半の1周期がSRAM全体では
書き込み動作で"0"が記憶されているメモリセルにアク
セスしているにも拘わらず、書き込み動作を行わない場
合、即ちビットライトディセーブルモード(=書き込み
動作回避)に対応している。ワード線WLとデータ入力
信号DIkは、図6と全く同様に動作するので、説明を
省略する。書き込みイネーブル信号WEと反転書き込み
イネーブル信号WBmは、ビットライトディセーブル時
もビットライト書き込み時と同じ値をとる。
【0020】ビットライト制御信号WEBkは、図8の
前半の内部クロック信号CLの立ち上がり時に"low"な
ので、第kビットは書き込み動作を行う。ビットライト
制御信号WEBkは、一旦ビットライト制御信号ラッチ
19に取り込まれた後、その反転信号であるビットライ
トイネーブル信号BWEとして、センスアンプ/書き込
みドライバ部Rkm内のNANDゲート21の入力へ伝
達される。NANDゲート21のもう一方の入力は反転
書き込みイネーブル信号WBmから伝えられるので、N
ANDゲート21の出力、ひいては書き込みドライバ4
の動作制御は、WBmとBWEの両信号が共にNAND
ゲート21に到達して初めて一意に定まる。ところが、
書き込みドライバ4は共通ビット線DTm、DBmを駆
動してメモリセル記憶データを書き換える能力を有する
ために、最終的に書き込みドライバ4を動作させない場
合であっても、反転書き込みイネーブル信号WBmとビ
ットライトイネーブル信号BWE間のスキューが原因で
過渡的に書き込みドライバ4が活性化すれば、誤書き込
みが起こり得る。
【0021】この誤動作はタイミング競合(所謂レーシ
ング)によって起こるので、精緻なタイミング設計を実
施すれば防ぐことができる。例えば、図7に示す回路で
は、遅延回路23を設置することで解決しており、図8
によれば前半の内部クロック信号CLの立ち上がりに対
し、反転書き込みイネーブル信号WBmの立ち下がりタ
イミングとビットライトイネーブル信号BWEの立ち上
がりタイミングが一部重なっているが、誤書き込みは起
こらない。なお、図7の構成はあくまで一例であり、他
のタイミング調整で解決を図ってもよい。
【0022】さて、図8の後半のクロックでは、ビット
ライト制御信号WEBkが立ち上がり、それに伴いビッ
トライトイネーブル信号BWEが立ち下がり、ビットラ
イトディセーブルモードへと切り替わる。共通データ線
RT、RBは、書き込みイネーブル信号WEが"high"で
ありさえすれば、ビットライト書き込みを行うか否かに
拘わらず、データ入力信号DIkの値をセンスアンプ/
書き込みドライバ部Rkmへ伝達する。このため、図8
において、共通データ線RT、RB信号が遷移するタイ
ミングは前後半のクロックとも、図6の前半のクロック
におけるRT、RB信号の遷移タイミングと同じであ
る。また、出力データラッチ12には常に共通データ線
RT、RB上のデータが入力されているので、書き込み
時は、データ出力信号DOkにデータ入力信号DIkと
同一のデータが内部クロック信号CLよりやや遅れて出
力される。センスアンプイネーブル信号SEmは、書き
込み時には立ち上がらない。
【0023】共通ビット線DTm、DBmは、図6の前
半のクロックにおいても、図8の前半のクロックにおい
ても、選択メモリセルへ向けて書き込みデータを送るた
め、動作としては同じである。しかし、図7におけるN
ANDゲート21でのレーシング回避のため、図8(ビ
ットライト機能を備えたSRAM)の場合は、書き込み
ドライバ4の動作開始が遅れるため、共通ビット線DT
m、DBmの立ち下がりが図6に比べてやや遅くなって
いる。一方、図8の後半のクロックは、ビットライトデ
ィセーブルモードなので、書き込みドライバが動作しな
い。しかし、ワード線は、全てのビットを横断するよう
に敷設されているため、選択されたメモリセルは、ビッ
ト線対2に電気的に接続され、結局、共通ビット線DT
m、DBmは読み出し動作と同様に振る舞う。
【0024】図9は、ビットライト機能を有する従来の
他のSRAM回路を示す。ビットライトディセーブルと
なるビットは、読み出し動作を行うことが特徴である。
図9において、図7との相違点は、IO部IOk内にN
ANDゲート17を設け、ビットライトイネーブル信号
BWEが、センスアンプ/書き込みドライバ部Rkm内
のNANDゲート21だけではなく、IO部IOk内の
NANDゲート17にも接続されている点である。NA
NDゲート17がインバータ18と共に共通データ線ド
ライバ14を制御することにより、ビットライト制御信
号WEBkに"high"が入力されたとき、共通データ線ド
ライバ14は非活性化される。
【0025】図10は、図9に示したSRAMの動作を
示すタイミングチャートである。図10は、図8と同様
に、内部クロック信号CLの約2周期分の動作を示して
いる。前半の1周期が"0"を書き込む動作、後半の1周
期がビットライトディセーブルモードに対応している点
も図8と同じである。図10において、図8と比較した
ときの波形の相違は、後半のクロックでセンスアンプイ
ネーブル信号SEmが立ち上がり、センスアンプ6及び
読み出しドライバ対9の作用で、読み出しデータが共通
データ線RT、RBに読み出され、出力データラッチ1
2を経て出力データDOkに伝達される点である。共通
データ線ドライバ14は、ビットライト制御信号WEB
kに"high"が入力されているので、ハイインピーダンス
出力である。なお、内部クロック信号CLが"low"のと
きは、共通データ線プリチャージ回路11によって共通
データ線RT、RBが共に"high"に保たれる。
【0026】図11は、バイトライト機能を有する従来
のSRAM回路を示す図である。センスアンプ及びデー
タ出力信号等の読み出し動作に関与する素子は、図5、
図7及び図9と同じなので説明を省略する。図11の左
側の部分は、図9と同一構成及び同一動作である。即
ち、書き込みイネーブル信号WEが"high"の場合、バイ
トライト制御信号BWBkに"low"が入力されたとき
は、第kビットの選択メモリセルに対して、データ入力
信号DIkの値が書き込まれる。BWBkに"high”が
入力された場合は、ビットライトディセーブルと同様の
動作となり、書き込みが実行されない。
【0027】これに対して、図11の右側の部分の第k
+1ビットは、自身のビット内で共通データ線ドライバ
制御信号25及び書き込みドライバ制御信号27を生成
しておらず、単に第kビットのIO部IOkで生成され
た両制御信号をそのまま受信して、夫々共通データ線ド
ライバ24と書き込みドライバ26を制御している。こ
のように、バイトライト制御信号BWBkは全てのIO
部に入力されるのではなく、8ビット又は9ビット単位
につき1つだけ入力される。残りの7又は8ビットは、
図11のように、バイトライト制御信号BWBkが入力
されたビット内で生成された制御信号によって、書き込
みドライバなどが制御される。図11に示すSRAMの
タイミングチャートは、図10と同様なので説明を省略
する。
【0028】図12は、特許第2598424公報の第
1図であり、個々のメモリセルMC11、MC12、
…、MCm3、MCm4の入力端子にトランスファゲー
トTG11、TG12、…、TGm3、TGm4を追加
することでビットライト機能を実現したものである。図
5、図7、図9、図11に記載されたSRAMが専用設
計したオンチップSRAMを想定しているのに対して、
この公報に示されたSRAMはゲートアレイ等の基本セ
ルを用いて形成されるものである。従って、メモリセル
MC11、MC12、…、MCm3、MCm4は、通常
広く知られている6つのトランジスタによって構成され
るメモリセルではなく、むしろ通常用いられているラッ
チと同様の構成である。
【0029】通常のメモリセル動作は、1本のワード線
の選択によって1対(2本)のビット線対を介してデータ
の読み書きを行う。これに対し、この公報のメモリセル
は読み出しワード線Wr11、Wr12(及びWrm1、W
rm2)を選択することで、読み出しデータ線Dr1、Dr
2、…を介して読み出しを行う。同様に、書き込み動作
は、書き込みワード線Ww11、Ww12(及びWw2
1、Ww22及びWwm1、Wwm2)を選択すること
で、書き込みデータ線Dw1、Dw2、Dw3、Dw
4、…を介して書き込みを行う。
【0030】ビットライトディセーブル時に誤書き込み
を防ぐために、図7、図9、図11のSRAMは、前述
のように、書き込みドライバが動作しないよう制御する
という方法を採用している。しかし、この公報のSRA
Mは、書き込みワード線Ww11、Ww12、…、Ww
m1、Wwm2も書き込みデータ線Dw1、Dw2、D
w3、Dw4も動作させた上で、メモリセルのデータ入
力部分のトランスファゲートTG11、TG12、…、
TGm3、TGm4、…を遮断することによって誤書き
込みを防いでいる。
【0031】また、書き込み制御系の簡素化を図った従
来技術として、特開平6−44780号公報及び特開平
8−249884号公報に記載されたものがある。前者
は、配線領域に必要な面積を縮小し、高集積化を図るこ
とを目的として、第1の制御信号と入力バッファからの
出力とを入力とし、第1のデータ線を出力としている第
1の書き込み回路と、第2の制御信号と前記第1のデー
タ線とを入力とし、第2のデータ線を出力としている第
2の書き込み回路とを備え、前記第1の書き込み回路が
前記第1のデータ線を確定状態にし、前記第2の書き込
み回路が前記確定状態を受けて前記第2の制御信号を無
視した出力状態をとるDRAMが開示されている。ま
た、後者は、ライトパービット・データバスをデータバ
スと共通化することにより、パターン面積を縮小化する
ことを目的として、スイッチ回路手段が1対のデータバ
スの論理状態に基づいてオンオフすることにより、入力
データがメモリセルに書き込まれるか否かが選択される
ようにした半導体メモリのライトパービット回路が開示
されている。
【0032】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ビットライト又はバイトライト機能を有するSRAMに
おいては、ビットライト又はバイトライト機能を有しな
いSRAMと比較して、次のような問題点があった。
【0033】先ず、図7、図9、図11に示した従来の
SRAMでは、ビットライト機能を実現するために、単
にSRAM内にn+1個含まれるIO部に素子を追加す
るだけではなく、SRAM内に(n+1)×(m+1)個も含
まれるセンスアンプ/書き込みドライバ部にも素子が追
加される。このため、チップ面積が大きくなり、コスト
が増大するという問題点がある。また、ビットライトイ
ネーブル信号の配線が同一ビットに属するm+1個の全
てのバンクを貫くように敷設する必要があるので、その
領域を確保する必要があるという問題点もある。
【0034】また、図12に示した従来のSRAMで
は、メモリセル1個1個にトランスファゲートを追加す
ることで、ビットライト機能を実現している。SRAM
中にメモリセルは、当然バンク数よりも遥かに多く存在
するので、SRAM全体の面積に及ぼす影響は極めて大
きい。特許第2598424公報には、その効果とし
て、回路占有面積を増大させないと記載されているが、
専用設計したオンチップSRAMの場合は、ゲートアレ
イと異なり、このような面積増加は許容できない。
【0035】また、図7、図9、図11に示した従来の
SRAMでは、ビットライトイネーブル信号BWEの配
線を充放電する電力が大きいため、消費電力の増加が大
きいという問題点がある。即ち、ビットライトイネーブ
ル信号BWEは同一ビットに属する全てのバンクを貫く
ように敷設されているため、極めて寄生容量が大きい。
加えて、図7、図9、図11のように、遅延回路23を
付加することでタイミング競合(レーシング)を防いでい
る場合は、遅延回路自身の消費電力が無視できない。な
ぜなら、高精度でバラツキの小さなタイミング設計をす
るには、ゲート長が大きな論理ゲートを多段接続する必
要がある。その結果、遅延回路は消費電力を、ある程度
無視して設計せざるを得ないからである。
【0036】また、図12に示した従来例では、ビット
ライトを行うか否かを変更する都度、メモリセルにつな
がるトランスファゲートのオン/オフを1行分(図12で
は、例えば、TG11、TG21、TG31、…、TG
m1)切り替えなければならない。よって、書き込み制
御線WE11、WE12、WE21、WE22、WE3
1、WE32、WE41、WE42は、夫々接続される
トランスファゲート数が多く、極めて寄生容量が大きく
なるため、やはり消費電力が大きくなる。
【0037】また、図7、図9、図11に示した従来の
SRAMでは、タイミング設計が複雑化するため、設計
期間が大幅に増加するという問題点がある。2方向から
IO部に届く信号のタイミング競合(レーシング)は、I
/O部が1方向(ワード線に平行方向)に並んで配置され
ているだけなので比較的回避しやすい。これに対して、
センスアンプ/書き込みドライバ部内のレーシングは、
2次元方向(ワード線に平行方向とビット線対に平行方
向の両方)の広がりをもって配置されているため、2方
向から届く信号の到着時間差はもちろん、到着順序の差
も場所によって変動し、極めてタイミング設計が難しく
なる。このため、タイミング設計が複雑化する。
【0038】また、特開平6−44780号公報に記載
された従来技術においては、ライトゲートに対する入力
データと、制御信号/WGTを使用してライトゲート内
で論理をとって出力を高インピーダンス化させ、ライト
ゲートを非活性化している。このため、特開平6−44
780号公報においては、その図3に示されているよう
に、ライトゲートは16個のトランジスタで構成されて
おり、回路が極めて複雑である。よって、素子形成面積
の縮小及び消費電力の双方において、不利である。
【0039】更に、特開平8−249884号公報にお
いても、特開平6−44780号公報と同様に、データ
バス上の信号と書き込み制御信号を入力とし、ライト増
幅回路近辺で論理をとることによって、ビット線への書
き込みを制御しているので、回路が複雑化するという問
題点がある。
【0040】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、素子形成面積の増加を抑制し、ビットライ
トディセーブル(ビットライトを行わない)時の消費電力
を低減し、ビットライト機能又はバイトライト機能を付
加する際のメモリ設計時間を短縮できるビットライト機
能又はバイトライト機能を有する半導体メモリ及び半導
体メモリのビットライト又はバイトライト方法を提供す
ることを目的とする。
【0041】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体メモ
リは、メモリセルが行列状に配置されたメモリセルアレ
イ、このメモリセルアレイの行線を選択するカラムセレ
クタ並びにセンスアンプ及び書き込みドライバ部を含む
1ビット分の回路ブロックが複数ビット分設けられ、各
ビットについてデータの入出力部が設けられていると共
に、列アドレスによって1つのワード線が選択され、行
アドレスによって1組のビット線対が選択される半導体
メモリにおいて、前記入出力部は、ビットライトモード
又はバイトライトモードにおいて、ワード線とカラムセ
レクタの双方が選択されているにも拘わらずデータ書き
込みを行わないメモリセルに電気的に接続されるビット
線を、ワード線選択時にプリチャージ時と同様の電位で
駆動することによって、ライトディセーブルを実現する
ことを特徴とする。
【0042】本発明に係る他の半導体メモリは、メモリ
セルが行列状に配置されたメモリセルアレイ、このメモ
リセルアレイ内のメモリセルのカラムを選択するカラム
セレクタ並びにセンスアンプ及び書き込みドライバ部を
含むバンクを複数個備えた1ビット分の回路ブロックが
複数ビット分設けられ、各ビットについてデータの入出
力部が設けられていると共に、バンクアドレスにより各
ビット内のバンクのいずれかが選択され、列アドレスに
よって1つのワード線が選択され、行アドレスによって
1組のビット線対が選択される半導体メモリにおいて、
前記入出力部は、ビットライトモード又はバイトライト
モードにおいて、ワード線とカラムセレクタの双方が選
択されているにも拘わらずデータ書き込みを行わないメ
モリセルに電気的に接続されるビット線を、ワード線選
択時にプリチャージ時と同様の電位で駆動することによ
って、ライトディセーブルを実現することを特徴とす
る。
【0043】これらの半導体メモリにおいて、例えば、
前記書き込みドライバ部が、書き込み時に選択ビット線
対に"0"、"1"又は"1"、"0"に該当する所定電位を出
力することによって書き込み動作を実施し、ビットライ
トディセーブル又はバイトライトディセーブル時には、
前記書き込みドライバ部が選択ビット線対に同一電位を
出力する。
【0044】本発明に係る他の半導体メモリは、メモリ
セルが行列状に配置されたメモリセルアレイ、このメモ
リセルアレイの行線を選択するカラムセレクタ並びにセ
ンスアンプ及び書き込みドライバ部を含む1ビット分の
回路ブロックが複数ビット分設けられ、各ビットについ
てデータの入出力部が設けられていると共に、列アドレ
スによって1つのワード線が選択され、行アドレスによ
って1組のビット線対が選択される半導体メモリにおい
て、前記入出力部は、前記入出力部と前記各センスアン
プ及び書き込みドライバ部とは、1対の共通データ線に
より接続されており、前記入出力部は、入力データをラ
ッチする入力データラッチと、前記共通データ線に入力
データを送出する共通データ線ドライバと、前記共通デ
ータ線からの出力データを出力端子に出力する出力デー
タラッチと、前記共通データ線をプリチャージするプリ
チャージ回路と、ビットライト又はバイトライト制御信
号が入力される制御信号ラッチと、前記制御信号のオン
によるビットライト又はバイトライトのディセーブル時
に前記共通データ線プリチャージ回路及び前記共通デー
タ線ドライバを動作させるディセーブル制御回路とを有
することを特徴とする。
【0045】本発明に係る更に他の半導体メモリは、メ
モリセルが行列状に配置されたメモリセルアレイ、この
メモリセルアレイ内のメモリセルのカラムを選択するカ
ラムセレクタ並びにセンスアンプ及び書き込みドライバ
部を含むバンクを複数個備えた1ビット分の回路ブロッ
クが複数ビット分設けられ、各ビットについてデータの
入出力部が設けられていると共に、バンクアドレスによ
り各ビット内のバンクのいずれかが選択され、列アドレ
スによって1つのワード線が選択され、行アドレスによ
って1組のビット線対が選択される半導体メモリにおい
て、前記入出力部と前記各センスアンプ及び書き込みド
ライバ部とは、1対の共通データ線により接続されてお
り、前記入出力部は、入力データをラッチする入力デー
タラッチと、前記共通データ線に入力データを送出する
共通データ線ドライバと、前記共通データ線からの出力
データを出力端子に出力する出力データラッチと、前記
共通データ線をプリチャージするプリチャージ回路と、
ビットライト又はバイトライト制御信号が入力される制
御信号ラッチと、前記制御信号のオンによるビットライ
ト又はバイトライトのディセーブル時に前記共通データ
線プリチャージ回路及び前記共通データ線ドライバを動
作させるディセーブル制御回路とを有することを特徴と
する。
【0046】これらの半導体メモリにおいて、例えば、
前記センスアンプ及び書き込みドライバ部は、ビットラ
イト又はバイトライト機能を有しないメモリの場合と同
一の回路構成を有する。
【0047】本発明に係る半導体メモリのビットライト
又はバイトライト方法は、入力データの書き込みドライ
バ部が、書き込み時にメモリセルアレイの選択ビット線
対に"0"、"1"又は"1"、"0"に該当する所定電位を出
力することによって書き込み動作を実施する半導体メモ
リにおいて、ビットライトディセーブル時又はバイトラ
イトディセーブル時には、前記書き込みドライバが前記
選択ビット線対に同一電位を出力することを特徴とす
る。
【0048】本発明は、ビットライト動作(半導体メモ
リの1ビット毎に、書き込み動作を行うか否かを制御す
る動作)を実現するものであり、特に、多バンク構成の
SRAMに好適である。書き込みモード時に書き込みを
行うビットについては、従来のメモリの書き込み動作と
同じである。これに対して、ビットライトを行わないビ
ットは、従来のように、書き込みドライバが通常の書き
込み動作を行わないように制御する等により、書き込み
をしないようにしなければ、メモリセルに記憶されたデ
ータが破壊されてしまう。このビットライトを行わない
動作は「ビットライトディセーブル」といわれる。
【0049】ところが、従来のビットライト機能を有す
る半導体メモリは、ビットライトディセーブル時に書
き込みドライバが動作しないような制御回路を設け、タ
イミングを再調整する必要があり、I/O部に入力さ
れたビットライト制御信号を書き込みドライバへ伝達す
る必要があるというものであり、これが、素子形成面
積、メモリ設計期間、及び消費電力のいずれにとっても
欠点となる。
【0050】本発明においては、書き込みドライバの
制御回路はビットライト機能を有しない半導体メモリと
同様であり、ビットライトディセーブル動作を行うビ
ットも、書き込みを行うビットと同様に、書き込みドラ
イバを動作させるが、このとき、書き込みドライバに
は、通常の書き込みデータではなく、メモリセルデータ
が破壊されないような電位を出力するような入力値を与
え、I/O部へ入力されたビットライト制御信号に応
じて、上記書き込みドライバへの入力値を生成するとい
うものである。
【0051】これにより、素子形成面積が小さく、消費
電力が少なく、メモリ設計期間が短いビットライト方式
及びバイトライト方式を実現することができる。
【0052】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について添
付の図面を参照して具体的に説明する。本発明の実施例
に係るSRAM(スタティック・ランダム・アクセス・
メモリ)の全体構成は、従来のビットライト機能を備え
たSRAMと同一であり、例えば、前述の図1に示すも
のと同一である。各ブロックの配置、役割、入出力信号
の構成も同一なので、ここでは説明を省略する。
【0053】図2は本発明の実施例に係るSRAM回路
のうち、第kビットを抜き出してその回路構成を示すブ
ロック図である。本実施例のSRAM回路は、IO部I
Okの回路構成を除いて、図5に示したビットライト機
能を有しない従来のSRAM回路と同一の構成を有す
る。このため、この部分については、重複説明を回避す
るため、説明を省略する。
【0054】また、IO部IOkを構成する素子のう
ち、出力データラッチ12、出力ドライバ13、データ
出力信号DOk、データ入力信号DIk、入力データラ
ッチ15、共通データ線ドライバ14、共通データ線R
T及びRB、内部クロック信号CL、書き込みイネーブ
ル信号WE、ビットライト制御信号WEBk、並びにビ
ットライト制御信号ラッチ19は、図7に示したビット
ライト機能を有する従来のSRAM回路と同一構成であ
る。
【0055】更に、NANDゲート17の入出力の接続
は、図9に示したビットライト機能を有する従来の他の
SRAM回路と同一なので、共通データ線ドライバ14
は、図9に示した従来例と同じように制御される。
【0056】本実施例のSRAMにおいては、IO部I
Okの回路構成が、図5に示したビットライト機能を有
しない従来のSRAMと異なる。本実施例においては、
図7に示すビットライト機能を有する従来のSRAMと
同様に、IO部IOkにビットライト制御信号WEBk
が入力されると共に、それが入力されるビットライト制
御信号ラッチ19がIO部IOkに設けられる。しか
し、ビットライト制御信号ラッチ19の反転出力は、N
ANDゲート17の一方の入力端に接続されている。N
ANDゲート17の他方の入力端には書き込みイネーブ
ル信号WEが入力される。
【0057】また、書き込みイネーブル信号WEはNA
NDゲート24の一方の入力端にも入力される。NAN
Dゲート24の他方の入力端には、ビットライト制御信
号ラッチ19の非反転出力(入力であるWEBkと同相
の出力)信号が入力される。
【0058】一方、共通データ線プリチャージ回路11
は、ANDゲート25とNANDゲート24によって制
御される。ANDゲート25の一方の入力端には、NA
NDゲート24の出力信号が入力され、ANDゲート2
5の他方の入力端には内部クロック信号CLが入力さ
れ、ANDゲート25の出力端は共通データ線プリチャ
ージ回路11を構成する2つのPチャンネルトランジス
タのゲート端子に接続されている。
【0059】次に、図2に示す本実施例のSRAMにつ
いて、図3を使用してその動作を説明する。図3は、内
部クロック信号CLの約2周期分の動作を示すタイミン
グチャートであり、前半の1周期は書き込み動作、後半
の1周期がビットライトディセーブルに対応している。
書き込み動作は、図6に示したビットライト機能を有し
ないSRAMの書き込み動作と同様なので、ここでは説
明を省略する。
【0060】ビットライトディセーブル動作も、図10
に示したビットライト機能を有する従来の他のSRAM
回路の動作と次の3点を除いて同様である。相違点の1
つ目は、センスアンプイネーブル信号SEmが立ち上が
らないこと、つまりセンスアンプが動作しないというこ
とである。但し、図8に示したビットライト機能を有す
る従来のSRAM回路の動作でも、センスアンプは動作
しないため、必ずしもこの点が本発明のSRAM固有の
特徴という訳ではない。
【0061】2つ目の相違点は、書き込みイネーブル信
号WEとビットライト制御信号WEBkが共に”high”
のときは、内部クロック信号CLが”high”、”low”
に拘わらず、共通データ線プリチャージ回路11が動作
するという点である。従来のSRAMでは、単に、内部
クロック信号CLが立ち上がると、共通データ線プリチ
ャージ回路11が非活性化し、内部クロック信号CLが
立ち下がると、共通データ線プリチャージ回路11が活
性化していたため、外部クロック信号CLK(図1)が”
low”の場合をプリチャージモードと呼んでいた。しか
し、本発明のSRAMは、ビットライトディセーブル時
(書き込みイネーブル信号WEとビットライト制御信号
WEBkが共に”high”)には、内部クロック信号CL
が立ち上がっても、共通データ線プリチャージ回路11
と共通データ線ドライバ14の双方ともプリチャージモ
ード時の動作をそのまま継続する。
【0062】3つ目の相違点は、書き込みドライバ4が
通常の書き込み時と同様に動作するということである。
共通データ線RT、RBが共に”high”レベルなので、
書き込みドライバ4は共通ビット線DTm、DBmへ共
に”high”レベルを出力する。一方、選択されたメモリ
セルは読み出し時と同じ動作をするため、例えば、図3
の場合は、共通ビット線のDBm側を”low”方向へ駆
動しようとする。これによって、書き込みドライバ4、
共通ビット線DBm、カラムセレクタCkm、ビット線
2を経て、更に選択されたメモリセルの”low”側記憶
端子からメモリセルのGND(接地)端子に至る経路で、
貫通電流が流れる。よって、”low”側共通ビット線D
Bmの電位は”low”近くまで下がることなく、上記貫
通電流経路の抵抗比で決まる電位まで下がり、飽和す
る。
【0063】通常、貫通電流が流れる回路動作は消費電
力が増大するとして避けられることが多いが、この場合
は書き込みドライバ4が動作しているので、”low”側
共通ビット線DBmが読み出し動作時よりも高い電位に
保たれる。その分、次のプリチャージ時にビット線対2
及び共通ビット線DTm、DBmを充電する電力が少な
くて済むため、電力増加の一部が相殺される。
【0064】更に重要なことに、本発明のSRAMで
は、ビットライトディセーブルモードにおいて、共通デ
ータ線RT、RBの電位が一切変化しない。よって、R
T又はRBの充放電電力と、共通データ線プリチャージ
回路11を構成するPチャンネルトランジスタのゲート
の充放電電力と、出力データラッチ12及び出力ドライ
バの消費電力と、各センスアンプ/書き込みドライバ部
Rk0、Rk1、…、Rkm内の書き込みデータ受信イ
ンバータ7の消費電力が生じない。結局、SRAM全体
では、書き込み時及び読み出し時より、却って消費電力
が減少する。加えて、本実施例においては、従来のビッ
トライト機能を有するSRAMでは不可欠であるビット
ライト制御信号BWEを必要としないため、この配線の
充放電電力が発生しない。
【0065】このため、ビットライトを行うか否かによ
って書き込みドライバ4を制御する必要がなく、その
分、制御回路が簡素になるから、面積増加を最小限に抑
制できる。また、ビットライトディセーブル(ビットラ
イトを行わない)時の消費電力が少ない。これは、ビッ
トライト制御信号WEBkの情報を書き込みドライバ4
へ伝達しないことと、書き込みドライバ4へ入力するデ
ータがプリチャージ時と同一であることとの2点によ
り、配線容量等の充放電に要する電力を大幅に削減でき
るからである。更に、ビットライトを行うか否かによっ
て書き込みドライバを制御しないため、書き込みドライ
バの制御回路を再設計する必要がないから、書き込みデ
ータを出力するタイミングを再調整する必要がないた
め、ビットライト機能又はバイトライト機能を付加する
際の設計時間を短縮できる。
【0066】本発明においては、特開平6−44780
号公報及び特開平8−249884号公報に記載された
発明と異なり、マスクビットのライトゲートがメモリセ
ルデータを破壊しないようなデータを出力するように制
御する。この出力は、ライトゲートに対する入力データ
をプリチャージ時と同一電位とし、そのまま同電位を出
力させるという簡便な方法で実現している。即ち、本発
明においては、ライトゲートにとっての入力データと、
ライトゲート制御信号との間で論理をとる必要がない。
即ち、本発明においては、ライトゲートにとっての入力
データを無視するか又は無視しないかを切り替える論理
回路が存在せず、無視するという選択肢がない。従っ
て、素子数が本発明の方が著しく少なく、素子形成面積
及び消費電力の点で本発明の方が優れている。
【0067】図4は、本発明の他の実施例を示す図であ
り、本発明のビットライト方式をバイトライト機能を有
するSRAMへ適用した場合のものである。センスアン
プ及びデータ出力信号等、読み出し動作に関与する素子
は、図2と同一であるので、説明を省略する。図4の左
側の部分、即ちIO部IOk、センスアンプ/書き込み
ドライバ部Rkm、カラムセレクタCkm、メモリセル
アレイAkmは、ビットライト制御信号WEBkの代わ
りに、バイトライト制御信号BWBkが入力されている
ことを除いて、図2と同一構成及び同一動作であるた
め、重複説明を省略する。
【0068】これに対して、図4の右側の部分、即ちI
O部IOk+1及びセンスアンプ/書き込みドライバ部R
kmは、自身のビット内で、共通データ線ドライバ制御
信号25、共通データ線プリチャージ回路制御信号28
及び書き込みドライバ制御信号27を生成しておらず、
単に第kビットのIO部IOkで生成された各制御信号
をそのまま受信し、利用していることが特徴である。
【0069】このように、8ビット又は9ビット単位に
つき、1箇所だけ入力されるバイトライト制御信号BW
Bを用いて、それらの8ビット又は9ビットをまとめて
制御するという方法により、本発明をバイトライト機能
を有するSRAMへ適用することができるようになる。
ここでは、8ビット又は9ビット単位に限定して説明し
たが、本発明の適用範囲はそれに限定されるものではな
い。
【0070】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
ビットライト機能又はバイトライト機能を有するにも拘
わらず、素子形成面積の増加を防止することができる。
これは、本発明においては、ビットライトを行うか否か
によって書き込みドライバを制御する必要がなく、その
分、制御回路が簡素になるからである。また、本発明に
よれば、ビットライトディセーブル(ビットライトを行
わない)時の消費電力が少ない。これは、ビットライト
制御信号WEBkの情報を書き込みドライバへ伝達しな
いことと、書き込みドライバ4へ入力するデータがプリ
チャージ時と同一であることにより、配線容量等の充放
電に要する電力を大幅に削減できるからである。更に、
ビットライト機能又はバイトライト機能を付加する際の
メモリ設計時間を短縮できる。これは、ビットライトを
行うか否かによって書き込みドライバを制御しないた
め、書き込みドライバの制御回路を再設計する必要がな
いからである。特に、書き込みデータを出力するタイミ
ングを再調整する必要がないことが、メモリ設計時間の
短縮に効果的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のビットライト機能を有するSRAMの
全体構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第1実施例に係るSRAMのうち、第
kビットを抜き出してその回路構成を示すブロック図で
ある。
【図3】図2に示すSRAMの動作を示すタイミングチ
ャート図である。
【図4】本発明の第2実施例に係るSRAMのうち、第
kビットを抜き出してその回路構成を示すブロック図で
ある。
【図5】従来のビットライト機能を有しないSRAMの
うち、第kビットを抜き出してその回路構成を示すブロ
ック図である。
【図6】図5に示すSRAMの動作を示すタイミングチ
ャート図である。
【図7】従来のビットライト機能を有するSRAMのう
ち、第kビットを抜き出してその回路構成を示すブロッ
ク図である。
【図8】図7に示すSRAMの動作を示すタイミングチ
ャート図である。
【図9】従来のビットライト機能を有する他のSRAM
のうち、第kビットを抜き出してその回路構成を示すブ
ロック図である。
【図10】図9に示すSRAMの動作を示すタイミング
チャート図である。
【図11】従来のバイトライト機能を有するSRAMを
示す回路図である。
【図12】特許第2598424公報の第1図である。
【符号の説明】
DI0〜DIn:データ入力信号 DO0〜DOn:データ出力信号 WEBk:ビットライト制御信号 RT,RB:共通データ線 DTm、DBm:共通ビット線 CL:内部クロック信号 CLK:外部クロック信号 WL0〜WLx:ワード線 IOk:I/O部 Rkm:センスアンプ/書き込みドライバ部 Ckm:カラムセレクタ Akm:メモリセルアレイ 14:共通データ線ドライバ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルが行列状に配置されたメモリ
    セルアレイ、このメモリセルアレイの行線を選択するカ
    ラムセレクタ並びにセンスアンプ及び書き込みドライバ
    部を含む1ビット分の回路ブロックが複数ビット分設け
    られ、各ビットについてデータの入出力部が設けられて
    いると共に、列アドレスによって1つのワード線が選択
    され、行アドレスによって1組のビット線対が選択され
    る半導体メモリにおいて、前記入出力部は、ビットライ
    トモード又はバイトライトモードにおいて、ワード線と
    カラムセレクタの双方が選択されているにも拘わらずデ
    ータ書き込みを行わないメモリセルに電気的に接続され
    るビット線を、ワード線選択時にプリチャージ時と同様
    の電位で駆動することによって、ライトディセーブルを
    実現することを特徴とする半導体メモリ。
  2. 【請求項2】 メモリセルが行列状に配置されたメモリ
    セルアレイ、このメモリセルアレイ内のメモリセルのカ
    ラムを選択するカラムセレクタ並びにセンスアンプ及び
    書き込みドライバ部を含むバンクを複数個備えた1ビッ
    ト分の回路ブロックが複数ビット分設けられ、各ビット
    についてデータの入出力部が設けられていると共に、バ
    ンクアドレスにより各ビット内のバンクのいずれかが選
    択され、列アドレスによって1つのワード線が選択さ
    れ、行アドレスによって1組のビット線対が選択される
    半導体メモリにおいて、前記入出力部は、ビットライト
    モード又はバイトライトモードにおいて、ワード線とカ
    ラムセレクタの双方が選択されているにも拘わらずデー
    タ書き込みを行わないメモリセルに電気的に接続される
    ビット線を、ワード線選択時にプリチャージ時と同様の
    電位で駆動することによって、ライトディセーブルを実
    現することを特徴とする半導体メモリ。
  3. 【請求項3】 前記書き込みドライバ部が、書き込み時
    に選択ビット線対に"0"、"1"又は"1"、"0"に該当す
    る所定電位を出力することによって書き込み動作を実施
    し、ビットライトディセーブル又はバイトライトディセ
    ーブル時には、前記書き込みドライバ部が選択ビット線
    対に同一電位を出力することを特徴とする請求項1又は
    2に記載の半導体メモリ。
  4. 【請求項4】 メモリセルが行列状に配置されたメモリ
    セルアレイ、このメモリセルアレイの行線を選択するカ
    ラムセレクタ並びにセンスアンプ及び書き込みドライバ
    部を含む1ビット分の回路ブロックが複数ビット分設け
    られ、各ビットについてデータの入出力部が設けられて
    いると共に、列アドレスによって1つのワード線が選択
    され、行アドレスによって1組のビット線対が選択され
    る半導体メモリにおいて、前記入出力部は、前記入出力
    部と前記各センスアンプ及び書き込みドライバ部とは、
    1対の共通データ線により接続されており、前記入出力
    部は、入力データをラッチする入力データラッチと、前
    記共通データ線に入力データを送出する共通データ線ド
    ライバと、前記共通データ線からの出力データを出力端
    子に出力する出力データラッチと、前記共通データ線を
    プリチャージするプリチャージ回路と、ビットライト又
    はバイトライト制御信号が入力される制御信号ラッチ
    と、前記制御信号のオンによるビットライト又はバイト
    ライトのディセーブル時に前記共通データ線プリチャー
    ジ回路及び前記共通データ線ドライバを動作させるディ
    セーブル制御回路とを有することを特徴とする半導体メ
    モリ。
  5. 【請求項5】 メモリセルが行列状に配置されたメモリ
    セルアレイ、このメモリセルアレイ内のメモリセルのカ
    ラムを選択するカラムセレクタ並びにセンスアンプ及び
    書き込みドライバ部を含むバンクを複数個備えた1ビッ
    ト分の回路ブロックが複数ビット分設けられ、各ビット
    についてデータの入出力部が設けられていると共に、バ
    ンクアドレスにより各ビット内のバンクのいずれかが選
    択され、列アドレスによって1つのワード線が選択さ
    れ、行アドレスによって1組のビット線対が選択される
    半導体メモリにおいて、前記入出力部と前記各センスア
    ンプ及び書き込みドライバ部とは、1対の共通データ線
    により接続されており、前記入出力部は、入力データを
    ラッチする入力データラッチと、前記共通データ線に入
    力データを送出する共通データ線ドライバと、前記共通
    データ線からの出力データを出力端子に出力する出力デ
    ータラッチと、前記共通データ線をプリチャージするプ
    リチャージ回路と、ビットライト又はバイトライト制御
    信号が入力される制御信号ラッチと、前記制御信号のオ
    ンによるビットライト又はバイトライトのディセーブル
    時に前記共通データ線プリチャージ回路及び前記共通デ
    ータ線ドライバを動作させるディセーブル制御回路とを
    有することを特徴とする半導体メモリ。
  6. 【請求項6】 前記センスアンプ及び書き込みドライバ
    部は、ビットライト又はバイトライト機能を有しないメ
    モリの場合と同一の回路構成を有することを特徴とする
    請求項1乃至5のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
  7. 【請求項7】 入力データの書き込みドライバ部が、書
    き込み時にメモリセルアレイの選択ビット線対に"
    0"、"1"又は"1"、"0"に該当する所定電位を出力す
    ることによって書き込み動作を実施する半導体メモリに
    おいて、ビットライトディセーブル時又はバイトライト
    ディセーブル時には、前記書き込みドライバが前記選択
    ビット線対に同一電位を出力することを特徴とする半導
    体メモリのビットライト又はバイトライト方法。
JP2001391559A 2001-12-25 2001-12-25 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法 Pending JP2003196985A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001391559A JP2003196985A (ja) 2001-12-25 2001-12-25 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法
US10/329,244 US20030117878A1 (en) 2001-12-25 2002-12-23 Semiconductor memory and method for bit and/or byte write operation

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001391559A JP2003196985A (ja) 2001-12-25 2001-12-25 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003196985A true JP2003196985A (ja) 2003-07-11

Family

ID=19188535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001391559A Pending JP2003196985A (ja) 2001-12-25 2001-12-25 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20030117878A1 (ja)
JP (1) JP2003196985A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8488401B2 (en) 2011-03-24 2013-07-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor storage device

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7327597B1 (en) * 2002-10-02 2008-02-05 Cisco Technology, Inc. Static random access memory architecture
JP4849249B2 (ja) * 2004-12-16 2012-01-11 日本電気株式会社 半導体記憶装置
KR100857434B1 (ko) * 2007-01-10 2008-09-09 주식회사 하이닉스반도체 라이트 드라이빙 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
US7929329B2 (en) * 2009-01-14 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Memory bank signal coupling buffer and method
US20110149667A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-23 Fatih Hamzaoglu Reduced area memory array by using sense amplifier as write driver

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5198996A (en) * 1988-05-16 1993-03-30 Matsushita Electronics Corporation Semiconductor non-volatile memory device
EP0342880B1 (en) * 1988-05-16 1994-07-20 Matsushita Electronics Corporation Semiconductor non-volatile memory device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8488401B2 (en) 2011-03-24 2013-07-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor storage device

Also Published As

Publication number Publication date
US20030117878A1 (en) 2003-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6597621B2 (en) Multi-bank semiconductor memory device
JP4370507B2 (ja) 半導体集積回路装置
US20020003736A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US7035161B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP2002367377A (ja) スタティックram
JP3754593B2 (ja) データビットを記憶するメモリーセルを有する集積回路および集積回路において書き込みデータビットをメモリーセルに書き込む方法
US6856574B2 (en) Semiconductor memory device
JPH11306758A (ja) 半導体記憶装置
US6704238B2 (en) Semiconductor memory device including data bus pairs respectively dedicated to data writing and data reading
JPH08339687A (ja) マルチバンク形の半導体メモリ装置
US20110026337A1 (en) Data input/output circuit and semiconductor memory apparatus including the same
EP0573046A2 (en) Semiconductor memory device with single data line pair shared between memory cell arrays
JP2003196985A (ja) 半導体メモリ及び半導体メモリのビットライト又はバイトライト方法
US5463584A (en) Semiconductor memory device
KR100334574B1 (ko) 풀-페이지 모드를 갖는 버스트-타입의 반도체 메모리 장치
JP4163476B2 (ja) 半導体メモリ装置
JP3729665B2 (ja) 半導体装置
US7095673B2 (en) Semiconductor memory device capable of operating at high speed
US6704229B2 (en) Semiconductor test circuit for testing a semiconductor memory device having a write mask function
US7978547B2 (en) Data I/O control signal generating circuit in a semiconductor memory apparatus
JP2004146001A (ja) 半導体記憶装置およびそのテスト方法
JP4100930B2 (ja) 半導体記憶装置
JP4790993B2 (ja) 半導体記憶装置
US20020027823A1 (en) Semiconductor memory device
US6246633B1 (en) Semiconductor memory device permitting stabilized operation and high-speed access

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040413