JP3531623B2 - Ｘ線透視撮影装置 - Google Patents
Ｘ線透視撮影装置Info
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- JP3531623B2 JP3531623B2 JP2001129422A JP2001129422A JP3531623B2 JP 3531623 B2 JP3531623 B2 JP 3531623B2 JP 2001129422 A JP2001129422 A JP 2001129422A JP 2001129422 A JP2001129422 A JP 2001129422A JP 3531623 B2 JP3531623 B2 JP 3531623B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非破壊検査などに
用いられる産業用のＸ線透視撮影装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】産業用のＸ線透視撮影装置においては、
一般に、図３に模式的に示すように、Ｘ線源３１からの
Ｘ線光軸上にＸ線検出器３２を対向配置するとともに、
その間に被写体となる試料Ｗを載せる試料台３３が配置
され、Ｘ線源３１、Ｘ線検出器３２および試料台３３の
うちのいずれか２つ、通常はＸ線検出器３２と試料台３
３を、Ｘ線光軸に沿って独立的に一定の速度で移動させ
る２つの駆動機構を備えた構成を採る。 【０００３】そして、試料ＷのＸ線透視像の撮影倍率Ｂ
／Ａの設定は、上記２つの駆動機構のうちいずれか任意
の側を動作させて、試料台３３とＸ線源３１との距離
Ａ、およびＸ線源３１とＸ線検出器３２との距離Ｂのう
ちいずれかを変化させることによって行われる。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な従来のＸ線透視撮影装置においては、撮影倍率を変化
させるべく、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２間の距離ある
いは試料台３３とＸ線源３１間の距離を変化させる際、
Ｘ線検出器３２ないしは試料台３３等が駆動機構によっ
て一定の速度で移動するため、倍率は一定の割合で変化
しないという問題がある。 【０００５】例えば、試料台３３とＸ線源３１の距離Ａ
を変化させる場合には、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２と
の距離Ｂが２４０ｍｍであったとき、試料台３３とＸ線
源３１の距離Ａが１２０ｍｍでその撮影倍率Ｂ／Ａが２
倍である状態から、距離Ａを変化させて撮影倍率を増大
させる際、撮影倍率がその２倍の４倍に変化するまでに
は、距離Ａが６０ｍｍに変化する必要がありその距離の
変化量が６０ｍｍであって、１秒間当たりの距離の変化
量が例えば一定の１０ｍｍであったとすると、その所要
時間は６秒であるのに対し、その状態から撮影倍率が更
にその２倍に変化するまでには、距離Ａが３０ｍｍに変
化すればよいため、その距離の変化量は３０ｍｍであっ
てその所要時間は３秒となり、時間当たりの撮影倍率の
変化率が次第に大きくなっていく。 【０００６】同様に、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２の距
離Ｂを変化させる場合においても、試料台３３とＸ線源
３１の距離Ａが４０ｍｍであったとき、Ｘ線源３１とＸ
線検出器３２の距離Ｂが８０ｍｍでその撮影倍率Ｂ／Ａ
が２倍である状態から、距離Ｂを変化させていくと、撮
影倍率が２倍の４倍に変化するまでには、距離Ｂが１６
０ｍｍに変化する必要があってその距離の変化量が８０
ｍｍであり、距離の変化速度が上記と同様に毎秒１０ｍ
ｍであればその所要時間は８秒であるのに対し、その状
態から撮影倍率が更にその２倍に変化するまでには、距
離Ｂが３２０ｍｍになる必要があって、その距離の変化
量は１６０ｍｍで所要時間が１６秒となり、この場合に
は時間当たりの撮影倍率の変化率が次第に小さくなって
いく。 【０００７】このようなことから、オペレータは例えば
撮影倍率を大きく変化させるに当たり、その倍率の表示
を見ながら距離ＡまたはＢを変化させていくとき、その
変化率が一定でないため、使い勝手が悪いという問題が
ある。 【０００８】本発明は以上の実情に鑑みてなされたもの
で、その主たる目的は、撮影倍率を所望の倍率に変更す
る際の操作が容易で、しかも、撮影倍率の変更時にオペ
レータが距離Ａ，Ｂのいずれを変化させるのかを選択す
ることなく、常に最適な方法によって撮影倍率を変化さ
せることがのできるＸ線透視撮影装置を提供することに
ある。 【０００９】 【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、請求項１に係る発明のＸ線透視撮影装置は、Ｘ線
源と、このＸ線源に対してその光軸上に対向配置された
Ｘ線検出器と、そのＸ線検出器とＸ線源の間に配置され
た試料台を備えるとともに、撮影倍率を変化させるべ
く、Ｘ線源、Ｘ線検出器および試料台の３部材のうち、
いずれか２部材をそれぞれ独立的にＸ線の光軸方向に移
動させる２つの駆動機構を備えたＸ線透視撮影装置にお
いて、上記各駆動機構が、Ｘ線源とＸ線検出器の距離、
もしくは、試料台とＸ線源間の距離が指数関数的に変化
するように上記２部材をそれぞれ移動させるように構成
されているとともに、上記各駆動機構が、撮影倍率の変
更指令の入力により、あらかじめ設定されている倍率を
境として、高倍率側では上記Ｘ線源とＸ線検出器間の距
離を、低倍率側では上記試料台とＸ線源間の距離を、そ
れぞれ自動的に選択して指数関数的に変化させるように
構成されていることによって特徴づけられる。 【００１０】本発明において、試料台とＸ線源との距離
Ａ、もしくはＸ線源とＸ線検出器間の距離Ｂを変化させ
るための各駆動機構を、それぞれ指数関数的に動作させ
る。つまり距離Ａ並びにＢをそれぞれ指数関数的に変化
させる。これにより、距離ＡもしくはＢを変化させるこ
とによって撮影倍率を変化させる際、撮影倍率は一定の
変化率のもとに変化していく、つまり一定の時間ごとに
撮影倍率が順次２倍に変化していくので、オペレータに
とって倍率の変更作業が容易なものとなる。 【００１１】同時に、本発明ににおいては、撮影倍率を
変更するに当たり、Ｘ線源と試料台間の距離Ａと、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離Ｂのいずれを変化させるかをオ
ペレータが選択することなく、常により適当な側の距離
を変化させることができる。 【００１２】すなわち、前記したように、Ｘ線源とＸ線
検出器間の距離Ｂを変化させると、Ｘ線検出器へのＸ線
の入射量が変化し、Ｘ線透視像の輝度が変わってしまう
という問題があり、従って、輝度変化を伴うことなく撮
影倍率を変化させるにはＸ線源と試料台間の距離Ａのみ
を変化させればよいのであるが、それでは撮影倍率の変
更範囲が限られたものとなってしまう。そこで、本発明
においては、あらかじめ設定された倍率を境として、そ
れよりも低い倍率の範囲においては、Ｘ線源とＸ線検出
器間の距離Ｂを変化させず、Ｘ線源と試料台間の距離Ａ
を変化させることによって撮影倍率を変化させ、距離Ｂ
を一定として距離Ａの変化だけでは対応できない高い倍
率の範囲においてのみ距離Ｂを変化させることで、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離Ｂを極力変化させることなく、
従ってＸ線透視像の輝度を極力変化させることなく、広
い範囲にわたって撮影倍率を変化させることを可能とし
ている。また、低い倍率側での距離Ｂは、設定可能なＢ
の最大値に比べて画像の歪みが問題にならない範囲でで
きる限り小さくするので、明るい画像が得られるという
メリットがある。 【００１３】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形
態の構成図で、機械的並びに光学的構成を表す模式図
と、電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図で
ある。 【００１４】Ｘ線源１はそのＸ線光軸が鉛直上方に向く
ように配置されており、Ｘ線制御器１１の制御下にある
高電圧発生回路１２から供給される管電流および管電圧
によりＸ線を発生する。そのＸ線光軸上にＸ線源１に対
向するようにＸ線検出器２が配置されている。Ｘ線検出
器２は、イメージ管２１とＣＣＤカメラ２２を組み合わ
せた公知のものであり、ＣＣＤカメラ２２のレンズ２２
ａには絞り２２ｂが設けられており、この絞り２２ｂは
後述する制御装置４の輝度調整部４１からの信号によっ
て開閉制御される。また、Ｘ線源１とＸ線検出器２の間
には、試料Ｗを載せるための試料台３が設けられてい
る。 【００１５】以上のＸ線源１、Ｘ線検出器２および試料
台３のうち、Ｘ線源１は装置フレーム（図示せず）に固
定されている一方、Ｘ線検出器２および試料台３は、検
出器駆動回路５１および試料台駆動回路６１から供給さ
れる制御信号によって駆動制御される検出器駆動機構５
および試料台駆動機構６により、それぞれＸ線源１に対
して接近／離隔する方向に移動するようになっている。 【００１６】Ｘ線検出器２のＣＣＤカメラ２２からの出
力は、画像取込回路７を介して制御装置４の画像処理部
４２に刻々と取り込まれ、この画像処理部４２はＣＣＤ
カメラ２２の各画素データを用いたＸ線透視像を構築し
て表示器８に表示する。 【００１７】制御装置４は、実際にはコンピュータとそ
の周辺機器によって構成され、インストールされている
プログラムに従って動作するのであるが、この図１にお
いては、そのプログラムが有する主要な機能ごとにブロ
ック図で表しており、前記した輝度調整部４１、画像処
理部４２のほか、撮影倍率設定部４３を有している。 【００１８】撮影倍率設定部４３は、制御装置４に接続
された操作部９に設けられているスイッチ等の操作によ
り撮影倍率を変更する旨の指令を与えたときに動作し、
検出器駆動機構５および試料台駆動機構６のうち、最適
な側を選択的に駆動して撮影倍率を変更する。 【００１９】すなわち、オペレータが操作部９を操作し
て撮影倍率の変更指令を与えると、あらかじめ設定され
ている倍率、例えば３００倍を境として、それよりも低
い倍率においてはＸ線検出器２を固定して試料台３側を
移動させることにより、Ｘ線源１と試料台３間の距離Ａ
のみを変化させる一方、３００倍を越える高い倍率にお
いては、試料台３を固定してＸ線検出器２側を移動させ
ることにより、Ｘ線源１とＸ線検出器２間の距離Ｂのみ
を変化させる。 【００２０】そして、これらの試料台３もしくはＸ線検
出器２の移動速度は、距離ＡもしくはＢが指数関数的に
変化する速度とする。［表１］その動作例を示す。この
例においては、Ｘ線源１とＸ線検出器２間の距離Ｂが６
００ｍｍで、Ｘ線源１と試料台３の表面までの距離Ａが
１ｍｍの状態、つまり撮影倍率Ｂ／Ａが６００倍の状態
から、その倍率Ｂ／Ａを２倍にまで変化させる場合の例
を示している。 【００２１】 【表１】 【００２２】この［表１］に示すように、撮影倍率Ｂ／
Ａが６００倍から３００倍まではＸ線検出器２をＸ線源
１に対して接近させて、距離Ｂを６００ｍｍから３００
ｍｍにまで指数関数的に変化させ、３００倍に到達した
後は、距離Ｂを３００ｍｍに固定して、試料台３をＸ線
源１に対して離隔して、距離Ａを１ｍｍから約１５０ｍ
ｍにまで指数関数的に変化させる。この動作を図２
（Ａ）および（Ｂ）グラフで示す。このうち、（Ａ）は
縦軸を対数目盛りとした片対数グラフであって、（Ｂ）
は同じ内容を両軸ともリニア目盛りとしたグラフであ
る。この図２の各グラフから明らかなように、この実施
の形態によれば、単位時間当たりの撮影倍率の変化率が
一定、つまり各時点における撮影倍率に係わらず、常に
一定の時間ごとに１／２倍、あるいは２倍になっていく
ため、オペレータによる設定操作が容易となる。 【００２３】一般に、イメージ管には画像の歪みが存在
し、その程度はＸ線源１と検出器２の距離Ｂが小さいほ
ど顕著になる。この例のように、低倍率側ではＢを３０
０ｍｍとしたが、この境界は画像歪みが問題にならない
範囲においてできるだけ小さい値とした。よって低倍率
側で、距離Ｂをできるだけ小さくすれば、この領域にお
いて同じＸ線出力に対して明るい画像が得られるという
メリットがある。 【００２４】また、高倍率側では試料ＷがほぼＸ線源１
に密着している状態が望ましい。最高倍率においては試
料ＷはＸ線源１に密着し、かつ、距離Ｂが最大となる。
ここでは３００ｍｍを境界としたが、２つ以上の境界を
設け、それによって得られる領域の各々においてＡ，Ｂ
いずれを制御するかを選択することができる。例えば、
より高倍率側においては必ずしもＡを固定するのではな
く、Ａを変化させてもよい。高倍率側においては、倍率
を変化させるためにＢを変化させると大きく動かす必要
があるが、Ａを変化させる場合には僅かな変化で大きく
倍率を変えることができるからである。その例を［表
２］に示す。 【００２５】 【表２】 【００２６】この［表２］にから明らかなように、より
速く倍率を変化させたい場合には、このようなより高い
倍率の領域においてＡを変化させる［表２］の設定は有
利である。 【００２７】また、以上の動作と併せて、Ｘ線検出器２
を移動させて距離Ｂを変化させる場合、Ｘ線検出器２の
ＣＣＤカメラ２２の絞り２２ｂを自動的に開閉して、表
示器８に表示されるＸ線透視像の輝度を常に最適に維持
する。すなわち、Ｘ線検出器２へのＸ線入射量は、距離
Ｂがρ倍になることによって１／ρ2 に減少し、ＣＣＤ
カメラ２２への入射光量も同じ割合で減少する。そこ
で、距離Ｂが３００ｍｍの状態を基準として、その距離
Ｂの増大に呼応して、ＣＣＤカメラ２２への入射光量が
一定に維持されるように絞り２２ｂを自動的に開く。こ
れにより、撮影倍率の変更に伴うＸ線透視像の輝度変化
を自動的に防止することができる。 【００２８】ここで、この輝度変化の防止手法は、以上
のようにＣＣＤカメラ２２の絞り２２ｂを自動的制御す
るほか、画像取込回路７においてＣＣＤカメラ２２の出
力を増幅するためのアンプのゲインを上記と同様の関係
のもとに変化させてもよい。 【００２９】また、以上の実施の形態においては、Ｘ線
検出器２と試料台３をＸ線光軸方向に移動させることに
よって距離ＡおよびＢを変化させる場合の例を示した
が、Ｘ線検出器２を固定して、Ｘ線源１と試料台３を移
動させることによって距離ＡおよびＢを変化させるよう
に構成してよい。 【００３０】 【発明の効果】以上のように、本発明によれば、Ｘ線
源、Ｘ線検出器および試料台のうちの２つ部材を移動さ
せることによって撮影倍率を変化させるにあたり、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離、あるいはＸ線源と試料台間の
距離が指数関数的に変化するように各部材を移動させる
ので、撮影倍率の時間当たりの変化率が常に一定とな
り、従来のように各部材を一定の速度で移動させる場合
のように、撮影倍率の大きさに応じてその変化率が相違
する不具合を解消することができ、オペレータによる撮
影倍率の設定変更作業を容易化することができ、しか
も、撮影倍率の変更指令を与えたとき、オペレータが選
択することなく、所定の撮影倍率を境にして、低倍率側
ではＸ線源と試料台間の距離を自動的に選択して変化さ
せるため、撮影倍率の変更に伴うＸ線透視像の輝度変化
を極力防止することができる。また、この低い倍率側で
の距離Ｂを、画像の歪みが問題にならない範囲でできる
限り小さく設定するので、明るい画像が得られるという
メリットがある。
用いられる産業用のＸ線透視撮影装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】産業用のＸ線透視撮影装置においては、
一般に、図３に模式的に示すように、Ｘ線源３１からの
Ｘ線光軸上にＸ線検出器３２を対向配置するとともに、
その間に被写体となる試料Ｗを載せる試料台３３が配置
され、Ｘ線源３１、Ｘ線検出器３２および試料台３３の
うちのいずれか２つ、通常はＸ線検出器３２と試料台３
３を、Ｘ線光軸に沿って独立的に一定の速度で移動させ
る２つの駆動機構を備えた構成を採る。 【０００３】そして、試料ＷのＸ線透視像の撮影倍率Ｂ
／Ａの設定は、上記２つの駆動機構のうちいずれか任意
の側を動作させて、試料台３３とＸ線源３１との距離
Ａ、およびＸ線源３１とＸ線検出器３２との距離Ｂのう
ちいずれかを変化させることによって行われる。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な従来のＸ線透視撮影装置においては、撮影倍率を変化
させるべく、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２間の距離ある
いは試料台３３とＸ線源３１間の距離を変化させる際、
Ｘ線検出器３２ないしは試料台３３等が駆動機構によっ
て一定の速度で移動するため、倍率は一定の割合で変化
しないという問題がある。 【０００５】例えば、試料台３３とＸ線源３１の距離Ａ
を変化させる場合には、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２と
の距離Ｂが２４０ｍｍであったとき、試料台３３とＸ線
源３１の距離Ａが１２０ｍｍでその撮影倍率Ｂ／Ａが２
倍である状態から、距離Ａを変化させて撮影倍率を増大
させる際、撮影倍率がその２倍の４倍に変化するまでに
は、距離Ａが６０ｍｍに変化する必要がありその距離の
変化量が６０ｍｍであって、１秒間当たりの距離の変化
量が例えば一定の１０ｍｍであったとすると、その所要
時間は６秒であるのに対し、その状態から撮影倍率が更
にその２倍に変化するまでには、距離Ａが３０ｍｍに変
化すればよいため、その距離の変化量は３０ｍｍであっ
てその所要時間は３秒となり、時間当たりの撮影倍率の
変化率が次第に大きくなっていく。 【０００６】同様に、Ｘ線源３１とＸ線検出器３２の距
離Ｂを変化させる場合においても、試料台３３とＸ線源
３１の距離Ａが４０ｍｍであったとき、Ｘ線源３１とＸ
線検出器３２の距離Ｂが８０ｍｍでその撮影倍率Ｂ／Ａ
が２倍である状態から、距離Ｂを変化させていくと、撮
影倍率が２倍の４倍に変化するまでには、距離Ｂが１６
０ｍｍに変化する必要があってその距離の変化量が８０
ｍｍであり、距離の変化速度が上記と同様に毎秒１０ｍ
ｍであればその所要時間は８秒であるのに対し、その状
態から撮影倍率が更にその２倍に変化するまでには、距
離Ｂが３２０ｍｍになる必要があって、その距離の変化
量は１６０ｍｍで所要時間が１６秒となり、この場合に
は時間当たりの撮影倍率の変化率が次第に小さくなって
いく。 【０００７】このようなことから、オペレータは例えば
撮影倍率を大きく変化させるに当たり、その倍率の表示
を見ながら距離ＡまたはＢを変化させていくとき、その
変化率が一定でないため、使い勝手が悪いという問題が
ある。 【０００８】本発明は以上の実情に鑑みてなされたもの
で、その主たる目的は、撮影倍率を所望の倍率に変更す
る際の操作が容易で、しかも、撮影倍率の変更時にオペ
レータが距離Ａ，Ｂのいずれを変化させるのかを選択す
ることなく、常に最適な方法によって撮影倍率を変化さ
せることがのできるＸ線透視撮影装置を提供することに
ある。 【０００９】 【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、請求項１に係る発明のＸ線透視撮影装置は、Ｘ線
源と、このＸ線源に対してその光軸上に対向配置された
Ｘ線検出器と、そのＸ線検出器とＸ線源の間に配置され
た試料台を備えるとともに、撮影倍率を変化させるべ
く、Ｘ線源、Ｘ線検出器および試料台の３部材のうち、
いずれか２部材をそれぞれ独立的にＸ線の光軸方向に移
動させる２つの駆動機構を備えたＸ線透視撮影装置にお
いて、上記各駆動機構が、Ｘ線源とＸ線検出器の距離、
もしくは、試料台とＸ線源間の距離が指数関数的に変化
するように上記２部材をそれぞれ移動させるように構成
されているとともに、上記各駆動機構が、撮影倍率の変
更指令の入力により、あらかじめ設定されている倍率を
境として、高倍率側では上記Ｘ線源とＸ線検出器間の距
離を、低倍率側では上記試料台とＸ線源間の距離を、そ
れぞれ自動的に選択して指数関数的に変化させるように
構成されていることによって特徴づけられる。 【００１０】本発明において、試料台とＸ線源との距離
Ａ、もしくはＸ線源とＸ線検出器間の距離Ｂを変化させ
るための各駆動機構を、それぞれ指数関数的に動作させ
る。つまり距離Ａ並びにＢをそれぞれ指数関数的に変化
させる。これにより、距離ＡもしくはＢを変化させるこ
とによって撮影倍率を変化させる際、撮影倍率は一定の
変化率のもとに変化していく、つまり一定の時間ごとに
撮影倍率が順次２倍に変化していくので、オペレータに
とって倍率の変更作業が容易なものとなる。 【００１１】同時に、本発明ににおいては、撮影倍率を
変更するに当たり、Ｘ線源と試料台間の距離Ａと、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離Ｂのいずれを変化させるかをオ
ペレータが選択することなく、常により適当な側の距離
を変化させることができる。 【００１２】すなわち、前記したように、Ｘ線源とＸ線
検出器間の距離Ｂを変化させると、Ｘ線検出器へのＸ線
の入射量が変化し、Ｘ線透視像の輝度が変わってしまう
という問題があり、従って、輝度変化を伴うことなく撮
影倍率を変化させるにはＸ線源と試料台間の距離Ａのみ
を変化させればよいのであるが、それでは撮影倍率の変
更範囲が限られたものとなってしまう。そこで、本発明
においては、あらかじめ設定された倍率を境として、そ
れよりも低い倍率の範囲においては、Ｘ線源とＸ線検出
器間の距離Ｂを変化させず、Ｘ線源と試料台間の距離Ａ
を変化させることによって撮影倍率を変化させ、距離Ｂ
を一定として距離Ａの変化だけでは対応できない高い倍
率の範囲においてのみ距離Ｂを変化させることで、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離Ｂを極力変化させることなく、
従ってＸ線透視像の輝度を極力変化させることなく、広
い範囲にわたって撮影倍率を変化させることを可能とし
ている。また、低い倍率側での距離Ｂは、設定可能なＢ
の最大値に比べて画像の歪みが問題にならない範囲でで
きる限り小さくするので、明るい画像が得られるという
メリットがある。 【００１３】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形
態の構成図で、機械的並びに光学的構成を表す模式図
と、電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図で
ある。 【００１４】Ｘ線源１はそのＸ線光軸が鉛直上方に向く
ように配置されており、Ｘ線制御器１１の制御下にある
高電圧発生回路１２から供給される管電流および管電圧
によりＸ線を発生する。そのＸ線光軸上にＸ線源１に対
向するようにＸ線検出器２が配置されている。Ｘ線検出
器２は、イメージ管２１とＣＣＤカメラ２２を組み合わ
せた公知のものであり、ＣＣＤカメラ２２のレンズ２２
ａには絞り２２ｂが設けられており、この絞り２２ｂは
後述する制御装置４の輝度調整部４１からの信号によっ
て開閉制御される。また、Ｘ線源１とＸ線検出器２の間
には、試料Ｗを載せるための試料台３が設けられてい
る。 【００１５】以上のＸ線源１、Ｘ線検出器２および試料
台３のうち、Ｘ線源１は装置フレーム（図示せず）に固
定されている一方、Ｘ線検出器２および試料台３は、検
出器駆動回路５１および試料台駆動回路６１から供給さ
れる制御信号によって駆動制御される検出器駆動機構５
および試料台駆動機構６により、それぞれＸ線源１に対
して接近／離隔する方向に移動するようになっている。 【００１６】Ｘ線検出器２のＣＣＤカメラ２２からの出
力は、画像取込回路７を介して制御装置４の画像処理部
４２に刻々と取り込まれ、この画像処理部４２はＣＣＤ
カメラ２２の各画素データを用いたＸ線透視像を構築し
て表示器８に表示する。 【００１７】制御装置４は、実際にはコンピュータとそ
の周辺機器によって構成され、インストールされている
プログラムに従って動作するのであるが、この図１にお
いては、そのプログラムが有する主要な機能ごとにブロ
ック図で表しており、前記した輝度調整部４１、画像処
理部４２のほか、撮影倍率設定部４３を有している。 【００１８】撮影倍率設定部４３は、制御装置４に接続
された操作部９に設けられているスイッチ等の操作によ
り撮影倍率を変更する旨の指令を与えたときに動作し、
検出器駆動機構５および試料台駆動機構６のうち、最適
な側を選択的に駆動して撮影倍率を変更する。 【００１９】すなわち、オペレータが操作部９を操作し
て撮影倍率の変更指令を与えると、あらかじめ設定され
ている倍率、例えば３００倍を境として、それよりも低
い倍率においてはＸ線検出器２を固定して試料台３側を
移動させることにより、Ｘ線源１と試料台３間の距離Ａ
のみを変化させる一方、３００倍を越える高い倍率にお
いては、試料台３を固定してＸ線検出器２側を移動させ
ることにより、Ｘ線源１とＸ線検出器２間の距離Ｂのみ
を変化させる。 【００２０】そして、これらの試料台３もしくはＸ線検
出器２の移動速度は、距離ＡもしくはＢが指数関数的に
変化する速度とする。［表１］その動作例を示す。この
例においては、Ｘ線源１とＸ線検出器２間の距離Ｂが６
００ｍｍで、Ｘ線源１と試料台３の表面までの距離Ａが
１ｍｍの状態、つまり撮影倍率Ｂ／Ａが６００倍の状態
から、その倍率Ｂ／Ａを２倍にまで変化させる場合の例
を示している。 【００２１】 【表１】 【００２２】この［表１］に示すように、撮影倍率Ｂ／
Ａが６００倍から３００倍まではＸ線検出器２をＸ線源
１に対して接近させて、距離Ｂを６００ｍｍから３００
ｍｍにまで指数関数的に変化させ、３００倍に到達した
後は、距離Ｂを３００ｍｍに固定して、試料台３をＸ線
源１に対して離隔して、距離Ａを１ｍｍから約１５０ｍ
ｍにまで指数関数的に変化させる。この動作を図２
（Ａ）および（Ｂ）グラフで示す。このうち、（Ａ）は
縦軸を対数目盛りとした片対数グラフであって、（Ｂ）
は同じ内容を両軸ともリニア目盛りとしたグラフであ
る。この図２の各グラフから明らかなように、この実施
の形態によれば、単位時間当たりの撮影倍率の変化率が
一定、つまり各時点における撮影倍率に係わらず、常に
一定の時間ごとに１／２倍、あるいは２倍になっていく
ため、オペレータによる設定操作が容易となる。 【００２３】一般に、イメージ管には画像の歪みが存在
し、その程度はＸ線源１と検出器２の距離Ｂが小さいほ
ど顕著になる。この例のように、低倍率側ではＢを３０
０ｍｍとしたが、この境界は画像歪みが問題にならない
範囲においてできるだけ小さい値とした。よって低倍率
側で、距離Ｂをできるだけ小さくすれば、この領域にお
いて同じＸ線出力に対して明るい画像が得られるという
メリットがある。 【００２４】また、高倍率側では試料ＷがほぼＸ線源１
に密着している状態が望ましい。最高倍率においては試
料ＷはＸ線源１に密着し、かつ、距離Ｂが最大となる。
ここでは３００ｍｍを境界としたが、２つ以上の境界を
設け、それによって得られる領域の各々においてＡ，Ｂ
いずれを制御するかを選択することができる。例えば、
より高倍率側においては必ずしもＡを固定するのではな
く、Ａを変化させてもよい。高倍率側においては、倍率
を変化させるためにＢを変化させると大きく動かす必要
があるが、Ａを変化させる場合には僅かな変化で大きく
倍率を変えることができるからである。その例を［表
２］に示す。 【００２５】 【表２】 【００２６】この［表２］にから明らかなように、より
速く倍率を変化させたい場合には、このようなより高い
倍率の領域においてＡを変化させる［表２］の設定は有
利である。 【００２７】また、以上の動作と併せて、Ｘ線検出器２
を移動させて距離Ｂを変化させる場合、Ｘ線検出器２の
ＣＣＤカメラ２２の絞り２２ｂを自動的に開閉して、表
示器８に表示されるＸ線透視像の輝度を常に最適に維持
する。すなわち、Ｘ線検出器２へのＸ線入射量は、距離
Ｂがρ倍になることによって１／ρ2 に減少し、ＣＣＤ
カメラ２２への入射光量も同じ割合で減少する。そこ
で、距離Ｂが３００ｍｍの状態を基準として、その距離
Ｂの増大に呼応して、ＣＣＤカメラ２２への入射光量が
一定に維持されるように絞り２２ｂを自動的に開く。こ
れにより、撮影倍率の変更に伴うＸ線透視像の輝度変化
を自動的に防止することができる。 【００２８】ここで、この輝度変化の防止手法は、以上
のようにＣＣＤカメラ２２の絞り２２ｂを自動的制御す
るほか、画像取込回路７においてＣＣＤカメラ２２の出
力を増幅するためのアンプのゲインを上記と同様の関係
のもとに変化させてもよい。 【００２９】また、以上の実施の形態においては、Ｘ線
検出器２と試料台３をＸ線光軸方向に移動させることに
よって距離ＡおよびＢを変化させる場合の例を示した
が、Ｘ線検出器２を固定して、Ｘ線源１と試料台３を移
動させることによって距離ＡおよびＢを変化させるよう
に構成してよい。 【００３０】 【発明の効果】以上のように、本発明によれば、Ｘ線
源、Ｘ線検出器および試料台のうちの２つ部材を移動さ
せることによって撮影倍率を変化させるにあたり、Ｘ線
源とＸ線検出器間の距離、あるいはＸ線源と試料台間の
距離が指数関数的に変化するように各部材を移動させる
ので、撮影倍率の時間当たりの変化率が常に一定とな
り、従来のように各部材を一定の速度で移動させる場合
のように、撮影倍率の大きさに応じてその変化率が相違
する不具合を解消することができ、オペレータによる撮
影倍率の設定変更作業を容易化することができ、しか
も、撮影倍率の変更指令を与えたとき、オペレータが選
択することなく、所定の撮影倍率を境にして、低倍率側
ではＸ線源と試料台間の距離を自動的に選択して変化さ
せるため、撮影倍率の変更に伴うＸ線透視像の輝度変化
を極力防止することができる。また、この低い倍率側で
の距離Ｂを、画像の歪みが問題にならない範囲でできる
限り小さく設定するので、明るい画像が得られるという
メリットがある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の構成図で、機械的並びに
光学的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック
図とを併記して示す図である。 【図２】本発明の実施の形態において撮影倍率を変化さ
せる場合のＸ線検出器２および試料台３の選択的移動と
その速度、および撮影倍率の変化を示すグラフで（Ａ）
は縦軸のみを対数目盛りとした片対数グラフであって、
（Ｂ）は同じ内容を両軸ともリニア目盛りで表したグラ
フである。 【図３】産業用のＸ線透視撮影装置の一般的な装置構成
を示す模式図である。 【符号の説明】 １ Ｘ線源 ２ Ｘ線検出器 ２１ イメージ管 ２２ ＣＣＤカメラ ２２ａ レンズ ２２ｂ 絞り ３ 試料台 ４ 制御装置 ４１ 画像処理部 ４２ 輝度調整部 ４３ 撮影倍率設定部 ５ 検出器駆動機構 ６ 試料台駆動機構 ７ 画像取込回路 ８ 表示器 ９ 操作部
光学的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック
図とを併記して示す図である。 【図２】本発明の実施の形態において撮影倍率を変化さ
せる場合のＸ線検出器２および試料台３の選択的移動と
その速度、および撮影倍率の変化を示すグラフで（Ａ）
は縦軸のみを対数目盛りとした片対数グラフであって、
（Ｂ）は同じ内容を両軸ともリニア目盛りで表したグラ
フである。 【図３】産業用のＸ線透視撮影装置の一般的な装置構成
を示す模式図である。 【符号の説明】 １ Ｘ線源 ２ Ｘ線検出器 ２１ イメージ管 ２２ ＣＣＤカメラ ２２ａ レンズ ２２ｂ 絞り ３ 試料台 ４ 制御装置 ４１ 画像処理部 ４２ 輝度調整部 ４３ 撮影倍率設定部 ５ 検出器駆動機構 ６ 試料台駆動機構 ７ 画像取込回路 ８ 表示器 ９ 操作部
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(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 23/00 - 23/227
A61B 6/00 - 6/14
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 Ｘ線源と、このＸ線源に対してその光軸
上に対向配置されたＸ線検出器と、そのＸ線検出器とＸ
線源の間に配置された試料台を備えるとともに、撮影倍
率を変化させるべく、Ｘ線源、Ｘ線検出器および試料台
の３部材のうち、いずれか２部材をそれぞれ独立的にＸ
線の光軸方向に移動させる２つの駆動機構を備えたＸ線
透視撮影装置において、 上記各駆動機構が、Ｘ線源とＸ線検出器の距離、もしく
は、試料台とＸ線源間の距離が指数関数的に変化するよ
うに上記２部材をそれぞれ移動させるように構成されて
いるとともに、この各駆動機構は、撮影倍率の変更指令
の入力により、あらかじめ設定されている倍率を境とし
て、高倍率側では上記Ｘ線源とＸ線検出器間の距離を、
低倍率側では上記試料台とＸ線源間の距離を、それぞれ
自動的に選択して指数関数的に変化させるように構成さ
れていることを特徴とするＸ線透視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001129422A JP3531623B2 (ja) | 2001-04-26 | 2001-04-26 | Ｘ線透視撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001129422A JP3531623B2 (ja) | 2001-04-26 | 2001-04-26 | Ｘ線透視撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002323460A JP2002323460A (ja) | 2002-11-08 |
| JP3531623B2 true JP3531623B2 (ja) | 2004-05-31 |
Family
ID=18977949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001129422A Expired - Fee Related JP3531623B2 (ja) | 2001-04-26 | 2001-04-26 | Ｘ線透視撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3531623B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3969337B2 (ja) * | 2003-04-15 | 2007-09-05 | 株式会社島津製作所 | バンプ検査装置 |
| JPWO2005008228A1 (ja) * | 2003-07-22 | 2006-08-31 | ポニー工業株式会社 | 透過撮影装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0743320A (ja) * | 1993-03-15 | 1995-02-14 | Hitachi Ltd | Ｘ線検査方法およびその装置並びにプレプレグの検査方法および多層配線基板の製造方法 |
| JP3478563B2 (ja) * | 1993-06-08 | 2003-12-15 | 株式会社日立製作所 | カメラ |
| JPH11318876A (ja) * | 1998-05-20 | 1999-11-24 | Toshiba Corp | Ｘ線撮像装置 |
| FR2790561B1 (fr) * | 1999-03-04 | 2001-06-01 | Ge Medical Syst Sa | Methode de commande de l'exposition dans des systemes d'imagerie radiologique |
-
2001
- 2001-04-26 JP JP2001129422A patent/JP3531623B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002323460A (ja) | 2002-11-08 |
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