JP3525865B2 - Ｘ線透視装置 - Google Patents
Ｘ線透視装置Info
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- JP3525865B2 JP3525865B2 JP2000196201A JP2000196201A JP3525865B2 JP 3525865 B2 JP3525865 B2 JP 3525865B2 JP 2000196201 A JP2000196201 A JP 2000196201A JP 2000196201 A JP2000196201 A JP 2000196201A JP 3525865 B2 JP3525865 B2 JP 3525865B2
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の内部状況等
を観察するためのＸ線透視装置に関する。
を観察するためのＸ線透視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】試料の内部の状況を非破壊のもとに観察
するためのＸ線透視装置においては、一般に、Ｘ線源に
対向してイメージインテンシファイアとＣＣＤカメラ等
からなるＸ線検出器を設け、これらの間に透視対象物を
配置または通過させることにより、Ｘ線検出器に透視対
象物の透過Ｘ線を入射させる。そして、そのＸ線検出器
の出力を画像処理手段に導き、その出力を画素の輝度デ
ータとして、モニタ画面上に透視対象物のＸ線透視像を
表示する。
するためのＸ線透視装置においては、一般に、Ｘ線源に
対向してイメージインテンシファイアとＣＣＤカメラ等
からなるＸ線検出器を設け、これらの間に透視対象物を
配置または通過させることにより、Ｘ線検出器に透視対
象物の透過Ｘ線を入射させる。そして、そのＸ線検出器
の出力を画像処理手段に導き、その出力を画素の輝度デ
ータとして、モニタ画面上に透視対象物のＸ線透視像を
表示する。
【０００３】ここで、Ｘ線源の管電流および管電圧は、
当該Ｘ線管から出力されるＸ線量およびＸ線強度に相関
し、これらを変化させることによって透視対象物に照射
されるＸ線の量および強度が変化する。このことを利用
して、従来のＸ線透視装置においては、様々な材質並び
に大きさを有する透視対象物に対して最適な透視画像が
得られるように、Ｘ線条件、つまりＸ線源の管電流と管
電圧を人手によって調整できるように構成されている。
当該Ｘ線管から出力されるＸ線量およびＸ線強度に相関
し、これらを変化させることによって透視対象物に照射
されるＸ線の量および強度が変化する。このことを利用
して、従来のＸ線透視装置においては、様々な材質並び
に大きさを有する透視対象物に対して最適な透視画像が
得られるように、Ｘ線条件、つまりＸ線源の管電流と管
電圧を人手によって調整できるように構成されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のＸ線
透視装置においては、透視対象物の材質や大きさ等に応
じてＸ線条件を人手によって調整する必要があり、特に
未知の透視対象物を観察する場合等においては、その調
整が面倒であるばかりでなく、得られている透視画像が
最適なものであるか否かを評価することが困難であると
ともに、調整結果に人為的な差も生じるという問題があ
った。
透視装置においては、透視対象物の材質や大きさ等に応
じてＸ線条件を人手によって調整する必要があり、特に
未知の透視対象物を観察する場合等においては、その調
整が面倒であるばかりでなく、得られている透視画像が
最適なものであるか否かを評価することが困難であると
ともに、調整結果に人為的な差も生じるという問題があ
った。
【０００５】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、未知の透視対象物に対しても最適なＸ線条件を
自動的に設定することのできるＸ線透視装置の提供を目
的としている。
もので、未知の透視対象物に対しても最適なＸ線条件を
自動的に設定することのできるＸ線透視装置の提供を目
的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のＸ線透視装置は、Ｘ線源に対向してＸ線検
出器を配置するとともに、そのＸ線検出器の出力を画素
の輝度データとして、上記Ｘ線源とＸ線検出器の間に置
かれた透視対象物のＸ線透視像をモニタ画面上に表示す
る画像処理手段を備えたＸ線透視装置において、上記Ｘ
線検出器の出力に基づくＸ線透視像の画素群の輝度ヒス
トグラムを作成するヒストグラム作成手段と、上記Ｘ線
源の管電圧および管電流を規定値に設定した状態で、上
記輝度ヒストグラムの最頻値があらかじめ設定されてい
る第１の輝度範囲に収まるように上記管電圧を設定変更
する管電圧設定変更手段と、その管電圧の設定変更後、
上記輝度ヒストグラムにおける最頻値が上記第１の輝度
範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲に収まるよう
に、管電圧をその管電圧に維持した状態で、管電流を設
定変更する管電流設定変更手段を備えていることによっ
て特徴づけられる（請求項１）。
め、本発明のＸ線透視装置は、Ｘ線源に対向してＸ線検
出器を配置するとともに、そのＸ線検出器の出力を画素
の輝度データとして、上記Ｘ線源とＸ線検出器の間に置
かれた透視対象物のＸ線透視像をモニタ画面上に表示す
る画像処理手段を備えたＸ線透視装置において、上記Ｘ
線検出器の出力に基づくＸ線透視像の画素群の輝度ヒス
トグラムを作成するヒストグラム作成手段と、上記Ｘ線
源の管電圧および管電流を規定値に設定した状態で、上
記輝度ヒストグラムの最頻値があらかじめ設定されてい
る第１の輝度範囲に収まるように上記管電圧を設定変更
する管電圧設定変更手段と、その管電圧の設定変更後、
上記輝度ヒストグラムにおける最頻値が上記第１の輝度
範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲に収まるよう
に、管電圧をその管電圧に維持した状態で、管電流を設
定変更する管電流設定変更手段を備えていることによっ
て特徴づけられる（請求項１）。
【０００７】ここで、本発明においては、上記輝度ヒス
トグラムを作成すべきモニタ画面上の領域を設定する注
目領域設定手段を構成とすること（請求項２）が望まし
い。
トグラムを作成すべきモニタ画面上の領域を設定する注
目領域設定手段を構成とすること（請求項２）が望まし
い。
【０００８】本発明は、Ｘ線源の管電圧がＸ線透視画像
の画面の輝度に、また、管電流がＸ線透視画像のコント
ラストと画面の輝度の双方に、それぞれ主として影響を
及ぼすことから、見やすいＸ線透視画像を得るために
は、Ｘ線が透視対象物を十分に透過する範囲でなるべく
小さな管電圧に、かつ、Ｘ線検出器の感度限界を越えな
い範囲でなるべく大きな管電流に設定すればよいことを
勘案するとともに、モニタ画面の輝度に係る情報は画像
を構成する画素群の輝度ヒストグラムの最頻値を代表さ
せることで、最適なＸ線透視画像を得るためのＸ線条件
を自動的に設定しようとするものである。
の画面の輝度に、また、管電流がＸ線透視画像のコント
ラストと画面の輝度の双方に、それぞれ主として影響を
及ぼすことから、見やすいＸ線透視画像を得るために
は、Ｘ線が透視対象物を十分に透過する範囲でなるべく
小さな管電圧に、かつ、Ｘ線検出器の感度限界を越えな
い範囲でなるべく大きな管電流に設定すればよいことを
勘案するとともに、モニタ画面の輝度に係る情報は画像
を構成する画素群の輝度ヒストグラムの最頻値を代表さ
せることで、最適なＸ線透視画像を得るためのＸ線条件
を自動的に設定しようとするものである。
【０００９】すなわち、管電流および管電圧を規定値に
設定した状態で、モニタ画面の画素群の輝度ヒストグラ
ムを作成し、その最頻値の輝度に注目して、まず、管電
圧を設定変更することにより、その最頻値の輝度をあら
かじめ設定されている比較的輝度の小さな第１の輝度範
囲に収める。その状態で、つまり管電圧を維持した状態
で、管電流を設定変更することにより、最頻値の輝度を
上記第１の輝度範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲
内に収める。これにより、透視対象物を十分に透過する
強度でしかもできるだけ弱いＸ線で、しかもＸ線検出器
の感度限界を越えない範囲でできるだけ線量の多いＸ線
を透視対象物に照射することができ、自動的に最適なＸ
線条件の設定が可能となる。
設定した状態で、モニタ画面の画素群の輝度ヒストグラ
ムを作成し、その最頻値の輝度に注目して、まず、管電
圧を設定変更することにより、その最頻値の輝度をあら
かじめ設定されている比較的輝度の小さな第１の輝度範
囲に収める。その状態で、つまり管電圧を維持した状態
で、管電流を設定変更することにより、最頻値の輝度を
上記第１の輝度範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲
内に収める。これにより、透視対象物を十分に透過する
強度でしかもできるだけ弱いＸ線で、しかもＸ線検出器
の感度限界を越えない範囲でできるだけ線量の多いＸ線
を透視対象物に照射することができ、自動的に最適なＸ
線条件の設定が可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
好適な実施の形態について説明する。図１は本発明の実
施の形態の構成を示すブロック図である。
好適な実施の形態について説明する。図１は本発明の実
施の形態の構成を示すブロック図である。
【００１１】Ｘ線源１はＸ線を上方に向けて照射するよ
うに配置され、そのＸ線源１の上方に透視対象物Ｗを載
せるためのテーブル２が設けられているとともに、更に
その上方にＸ線検出器３が有感面を下方に向けた状態で
配置されている。このＸ線検出器３は、例えばイメージ
インテンシファイアとＣＣＤカメラを組み合わせた公知
の検出器である。
うに配置され、そのＸ線源１の上方に透視対象物Ｗを載
せるためのテーブル２が設けられているとともに、更に
その上方にＸ線検出器３が有感面を下方に向けた状態で
配置されている。このＸ線検出器３は、例えばイメージ
インテンシファイアとＣＣＤカメラを組み合わせた公知
の検出器である。
【００１２】Ｘ線源１は電源部１１から供給される管電
流および管電圧によって動作するが、この電源部１１か
らの管電流および管電圧の大きさは、後述する制御装置
４の指令に基づいて動作するＸ線制御回路１２により制
御される。
流および管電圧によって動作するが、この電源部１１か
らの管電流および管電圧の大きさは、後述する制御装置
４の指令に基づいて動作するＸ線制御回路１２により制
御される。
【００１３】Ｘ線検出器３のＣＣＤカメラの各画素出力
は、刻々と制御装置４に取り込まれる。制御装置４は、
実際にはコンピュータとその周辺機器によって構成され
ているが、この図１においては、コンピュータにインス
トールされているプログラムに含まれる主要な機能ごと
にブロック図で示しており、Ｘ線検出器３からの各画素
出力は画像処理部４１に取り込まれる。
は、刻々と制御装置４に取り込まれる。制御装置４は、
実際にはコンピュータとその周辺機器によって構成され
ているが、この図１においては、コンピュータにインス
トールされているプログラムに含まれる主要な機能ごと
にブロック図で示しており、Ｘ線検出器３からの各画素
出力は画像処理部４１に取り込まれる。
【００１４】画像処理部４１では、Ｘ線検出器３からの
出力を用いて透視対象物ＷのＸ線透視像を作り、表示器
５に表示する。このとき、画像処理部４１においては、
Ｘ線検出器３のＣＣＤカメラの各画素出力値に応じて各
画素の輝度を決定して画像を形成する。この各画素の輝
度データはヒストグラム演算部４２にも送られる。ヒス
トグラム演算部４２においては、表示器５の画像を形成
する画素群の輝度ヒストグラムを作成し、Ｘ線条件設定
部４３に供給する。
出力を用いて透視対象物ＷのＸ線透視像を作り、表示器
５に表示する。このとき、画像処理部４１においては、
Ｘ線検出器３のＣＣＤカメラの各画素出力値に応じて各
画素の輝度を決定して画像を形成する。この各画素の輝
度データはヒストグラム演算部４２にも送られる。ヒス
トグラム演算部４２においては、表示器５の画像を形成
する画素群の輝度ヒストグラムを作成し、Ｘ線条件設定
部４３に供給する。
【００１５】制御装置４は、また、各種指令や設定等を
入力するための入力部４４を備えている。
入力するための入力部４４を備えている。
【００１６】Ｘ線条件設定部４３においては、以下に示
す手順によってＸ線源１の管電流および管電圧の最適値
を決定し、前記したＸ線制御回路１２に動作指令を与え
る。図２はそのＸ線条件設定部４３による管電流および
管電圧の設定手順を示すフローチャートであり、以下、
この図２を参照しつつその詳細を説明する。
す手順によってＸ線源１の管電流および管電圧の最適値
を決定し、前記したＸ線制御回路１２に動作指令を与え
る。図２はそのＸ線条件設定部４３による管電流および
管電圧の設定手順を示すフローチャートであり、以下、
この図２を参照しつつその詳細を説明する。
【００１７】このＸ線条件の設定のためのプログラム
は、テーブル２に透視対象物Ｗを載せた状態で入力部４
４から指令を与えることによってスタートし、まず、Ｘ
線源１の管電流および管電圧をそれぞれあらかじめ設定
されている比較的低い値に設定してＸ線を照射し、Ｘ線
検出器３からの出力を取り込む。その状態においてヒス
トグラム演算部４２で作られた各画素の輝度ヒストグラ
ムの最頻値Ｈｍを読み出し、その値Ｈｍとあらかじめ設
定されている第１の輝度範囲Ｂ1 とを比較し、図３
（Ａ）に例示するように、最頻値Ｈｍの方が小さい場
合、つまり暗い場合には管電圧を規定量だけ増大させ、
大きい場合、つまり明るい場合には管電圧を規定量だけ
減少させることを繰り返し、図３（Ｂ）に例示するよう
に最頻値Ｈｍを第１の輝度範囲Ｂ1 内に入れる。
は、テーブル２に透視対象物Ｗを載せた状態で入力部４
４から指令を与えることによってスタートし、まず、Ｘ
線源１の管電流および管電圧をそれぞれあらかじめ設定
されている比較的低い値に設定してＸ線を照射し、Ｘ線
検出器３からの出力を取り込む。その状態においてヒス
トグラム演算部４２で作られた各画素の輝度ヒストグラ
ムの最頻値Ｈｍを読み出し、その値Ｈｍとあらかじめ設
定されている第１の輝度範囲Ｂ1 とを比較し、図３
（Ａ）に例示するように、最頻値Ｈｍの方が小さい場
合、つまり暗い場合には管電圧を規定量だけ増大させ、
大きい場合、つまり明るい場合には管電圧を規定量だけ
減少させることを繰り返し、図３（Ｂ）に例示するよう
に最頻値Ｈｍを第１の輝度範囲Ｂ1 内に入れる。
【００１８】ここで、Ｘ線源１の管電圧を増加させる
と、Ｘ線検出器３からの各画素の輝度のヒストグラム
は、広がりは一定のまま輝度が増大する方向に移動し、
管電圧を減少させた場合には、ヒストグラムは広がりが
一定のまま輝度が減少する方向に移動する。一方、後述
するように管電流を増加させると、ヒストグラムはその
広がりが大きくなると同時に、輝度が増大する方向に移
動し、管電流を減少させると、広がりが小さくなると同
時に輝度が減少する方向に移動する。第１の輝度範囲Ｂ
1 は、一般的に見やすい画面における平均的な輝度より
も低い輝度領域に設定され、前記したように、当初の管
電流が比較的低い値に設定されているために、管電圧の
みの変更によってヒストグラムの最頻値Ｈｍを第１の輝
度範囲Ｂ1 内に収めた状態においては、Ｘ線が透視対象
物を十分に透過し、かつ、できるだけ小さい管電圧に設
定された状態となる。
と、Ｘ線検出器３からの各画素の輝度のヒストグラム
は、広がりは一定のまま輝度が増大する方向に移動し、
管電圧を減少させた場合には、ヒストグラムは広がりが
一定のまま輝度が減少する方向に移動する。一方、後述
するように管電流を増加させると、ヒストグラムはその
広がりが大きくなると同時に、輝度が増大する方向に移
動し、管電流を減少させると、広がりが小さくなると同
時に輝度が減少する方向に移動する。第１の輝度範囲Ｂ
1 は、一般的に見やすい画面における平均的な輝度より
も低い輝度領域に設定され、前記したように、当初の管
電流が比較的低い値に設定されているために、管電圧の
みの変更によってヒストグラムの最頻値Ｈｍを第１の輝
度範囲Ｂ1 内に収めた状態においては、Ｘ線が透視対象
物を十分に透過し、かつ、できるだけ小さい管電圧に設
定された状態となる。
【００１９】次に、その管電圧を維持した状態で、管電
流を上げていき、図３（Ｃ）に例示するように、ヒスト
グラムの最頻値Ｈｍが第２の輝度範囲Ｂ2 に収まった時
点で管電流の設定を終了する。なお、管電流を上げすぎ
て最頻値Ｈｍが第２の輝度範囲Ｂ2 を越えた場合には、
管電流を下げる。この第２の輝度範囲Ｂ2 は、前記した
第１の輝度範囲Ｂ1 よりも輝度の高い領域に設定されて
おり、一般的に見やすい画面における平均的な輝度に設
定されている。
流を上げていき、図３（Ｃ）に例示するように、ヒスト
グラムの最頻値Ｈｍが第２の輝度範囲Ｂ2 に収まった時
点で管電流の設定を終了する。なお、管電流を上げすぎ
て最頻値Ｈｍが第２の輝度範囲Ｂ2 を越えた場合には、
管電流を下げる。この第２の輝度範囲Ｂ2 は、前記した
第１の輝度範囲Ｂ1 よりも輝度の高い領域に設定されて
おり、一般的に見やすい画面における平均的な輝度に設
定されている。
【００２０】以上のＸ線条件の設定動作によると、透視
対象物Ｗを十分に透過し、しかもできるだけ低い管電圧
のもとに、表示器５の画面が見やすい輝度、換言すれば
Ｘ線検出器３の感度限界を越えない範囲でできるだけ大
きな管電流に設定されることになり、適度の輝度で高い
コントラストのＸ線透視像が自動的に得られる。
対象物Ｗを十分に透過し、しかもできるだけ低い管電圧
のもとに、表示器５の画面が見やすい輝度、換言すれば
Ｘ線検出器３の感度限界を越えない範囲でできるだけ大
きな管電流に設定されることになり、適度の輝度で高い
コントラストのＸ線透視像が自動的に得られる。
【００２１】ここで、以上の設定動作においては、表示
器５の画面の全画素を母集団として輝度ヒストグラムを
作り、それをもとに画面全領域（全視野）に見やすいＸ
線透視像を得ることのできるＸ線条件を設定した例を示
したが、図４に例示するように、表示器５の画面上の任
意の注目領域Ａを対象として、その注目領域Ａ内の画素
群を母集団とした輝度ヒストグラムを作り、その最頻値
を用いて上記と同様にして管電圧および管電流の設定を
行うことによって、注目領域Ａ内が見やすい状態の画面
を得ることができる。この注目領域Ａの設定は、入力部
４４によって行うことができる。この注目領域Ａの設定
は、特に、透視対象物Ｗの材質が均一でない場合、例え
ば回路基板等の透視に際して有効であり、例えば半田に
よる接続部分の検査を行う場合等において、その接続部
分は全体のＸ線透視像を見やすくしても見やすくはなら
ないが、その半田による接続部分を注目領域として設定
してＸ線条件を自動的に設定することにより、画面全体
としては明るすぎる状態となるもののその領域の内部状
態を見やすくすることができる。
器５の画面の全画素を母集団として輝度ヒストグラムを
作り、それをもとに画面全領域（全視野）に見やすいＸ
線透視像を得ることのできるＸ線条件を設定した例を示
したが、図４に例示するように、表示器５の画面上の任
意の注目領域Ａを対象として、その注目領域Ａ内の画素
群を母集団とした輝度ヒストグラムを作り、その最頻値
を用いて上記と同様にして管電圧および管電流の設定を
行うことによって、注目領域Ａ内が見やすい状態の画面
を得ることができる。この注目領域Ａの設定は、入力部
４４によって行うことができる。この注目領域Ａの設定
は、特に、透視対象物Ｗの材質が均一でない場合、例え
ば回路基板等の透視に際して有効であり、例えば半田に
よる接続部分の検査を行う場合等において、その接続部
分は全体のＸ線透視像を見やすくしても見やすくはなら
ないが、その半田による接続部分を注目領域として設定
してＸ線条件を自動的に設定することにより、画面全体
としては明るすぎる状態となるもののその領域の内部状
態を見やすくすることができる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、Ｘ線透
視像を構成する画素の輝度のヒストグラムを作成すると
ともに、まず、Ｘ線源の管電圧を変化させながら、ヒス
トグラムの最頻値が第１の輝度範囲に収まるように管電
圧に自動的に設定した後、管電流を変化させながら、第
１の輝度範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲内にヒ
ストグラムの最頻値が収まるように自動的に管電流を設
定することにより、透視対象物をＸ線が十分に透過する
範囲でなるべく小さな管電圧で、しかも、Ｘ線検出器の
感度限界を越えない範囲でなるべく小さな管電流が自動
的に設定されて、見やすいＸ線透視像が得られ、従来の
ように人手で設定する場合に比して労力を軽減するとと
もに、常に客観的に見やすいＸ線透視像を得ることがで
きる。
視像を構成する画素の輝度のヒストグラムを作成すると
ともに、まず、Ｘ線源の管電圧を変化させながら、ヒス
トグラムの最頻値が第１の輝度範囲に収まるように管電
圧に自動的に設定した後、管電流を変化させながら、第
１の輝度範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲内にヒ
ストグラムの最頻値が収まるように自動的に管電流を設
定することにより、透視対象物をＸ線が十分に透過する
範囲でなるべく小さな管電圧で、しかも、Ｘ線検出器の
感度限界を越えない範囲でなるべく小さな管電流が自動
的に設定されて、見やすいＸ線透視像が得られ、従来の
ように人手で設定する場合に比して労力を軽減するとと
もに、常に客観的に見やすいＸ線透視像を得ることがで
きる。
【００２３】また、請求項２に係る発明のように、注目
領域を設定して、その領域内において上記と同様の設定
動作を行うように構成すると、回路基板内の半田接続部
等における内部欠陥等の検査を容易に行うことができ
る。
領域を設定して、その領域内において上記と同様の設定
動作を行うように構成すると、回路基板内の半田接続部
等における内部欠陥等の検査を容易に行うことができ
る。
【図１】本発明の実施の形態の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】本発明の実施の形態における制御部４にインス
トールされているＸ線条件の設定のためのプログラムの
内容を示すフローチャートである。
トールされているＸ線条件の設定のためのプログラムの
内容を示すフローチャートである。
【図３】画素の輝度データのヒストグラムの例を示す図
であり、（Ａ）は初期設定状態におけるヒストグラムの
例を示し、（Ｂ）は管電圧の自動設定後のヒストグラム
の例であり、（Ｃ）は管電流の自動設定後のヒストグラ
ムの例を示している。
であり、（Ａ）は初期設定状態におけるヒストグラムの
例を示し、（Ｂ）は管電圧の自動設定後のヒストグラム
の例であり、（Ｃ）は管電流の自動設定後のヒストグラ
ムの例を示している。
【図４】表示器５の画面上に設定される注目領域Ａの説
明図である。
明図である。
１ Ｘ線源
１１ 電源部
１２ Ｘ線制御回路
２ テーブル
３ Ｘ線検出器
４ 制御装置
４１ 画像処理部
４２ ヒストグラム演算部
４３ Ｘ線条件設定部
４４ 入力部
５ 表示器
Ｗ 透視対象物
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平１−276598（ＪＰ，Ａ)
特開 昭59−214391（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−66389（ＪＰ，Ａ)
特表2000−512799（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 23/00 - 23/227
H05G 1/00 - 1/70
A61B 6/00 - 6/14
ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線源に対向してＸ線検出器を配置する
とともに、そのＸ線検出器の出力を画素の輝度データと
して、上記Ｘ線源とＸ線検出器の間に置かれた透視対象
物のＸ線透視像をモニタ画面上に表示する画像処理手段
を備えたＸ線透視装置において、 上記Ｘ線検出器の出力に基づくＸ線透視像の画素群の輝
度ヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、上
記Ｘ線源の管電圧および管電流を規定値に設定した状態
で、上記輝度ヒストグラムの最頻値があらかじめ設定さ
れている第１の輝度範囲に収まるように上記管電圧を設
定変更する管電圧設定変更手段と、その管電圧の設定変
更後、上記輝度ヒストグラムにおける最頻値が上記第１
の輝度範囲よりも輝度の大きな第２の輝度範囲に収まる
ように、管電圧をその管電圧に維持した状態で、管電流
を設定変更する管電流設定変更手段を備えていることを
特徴とするＸ線透視装置。 - 【請求項２】 上記輝度ヒストグラムを作成すべきモニ
タ画像上の領域を設定する注目領域設定手段を備えてい
ることを特徴とする請求項１に記載のＸ線透視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000196201A JP3525865B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | Ｘ線透視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000196201A JP3525865B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | Ｘ線透視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002014059A JP2002014059A (ja) | 2002-01-18 |
| JP3525865B2 true JP3525865B2 (ja) | 2004-05-10 |
Family
ID=18694746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000196201A Expired - Lifetime JP3525865B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | Ｘ線透視装置 |
Country Status (1)
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