JP3523608B2 - 磁束検出装置および方法 - Google Patents

磁束検出装置および方法

Info

Publication number
JP3523608B2
JP3523608B2 JP2001104267A JP2001104267A JP3523608B2 JP 3523608 B2 JP3523608 B2 JP 3523608B2 JP 2001104267 A JP2001104267 A JP 2001104267A JP 2001104267 A JP2001104267 A JP 2001104267A JP 3523608 B2 JP3523608 B2 JP 3523608B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic flux
electromotive voltage
exciting current
value
predetermined time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001104267A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002303660A (ja
Inventor
重信 関谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP2001104267A priority Critical patent/JP3523608B2/ja
Priority to US10/084,918 priority patent/US6650113B2/en
Priority to DE10214733A priority patent/DE10214733A1/de
Publication of JP2002303660A publication Critical patent/JP2002303660A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3523608B2 publication Critical patent/JP3523608B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/028Electrodynamic magnetometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Braking Arrangements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、励磁コイルを有し
て構成され、この励磁コイルへの励磁電流の供給を受け
て発生した磁束を検出する装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】励磁コイルへ励磁電流を流して磁束を発
生させるように構成した電磁装置は従来から良く知られ
ており、このような電磁装置による電磁力をクラッチ係
合力として用いてなる電磁クラッチも良く知られてい
る。例えば、特開平4−312217号公報には、自動
車のリアディファレンシャルギヤにメインクラッチの係
合により作動する差動制限装置を設け、このメインクラ
ッチを電磁クラッチからなるパイロットクラッチを介し
て係合させる構成が開示されている。この電磁クラッチ
は、その係合力(締結力)を検出してコイルに供給する
電流のデューティ値をフィードバック制御するように構
成されている。このため、クラッチ係合力の検出が必要
であり、コイルが発生する主磁束の漏れ磁束をホール素
子からなる磁束密度センサで検出してクラッチ係合力を
検出し、上記フィードバック制御を行うようになってい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
に主磁束の漏れ磁束をホール素子を用いて磁束密度とし
て検出する構成の場合には、ホール素子からなる磁束密
度センサの取付位置の若干のずれが検出精度に影響を与
えるため、正確な磁束検出が難しいという問題がある。
さらに、磁気回路の効率を高めようとすると漏れ磁束が
減少して検出精度が低下するという問題、すなわち、漏
れ磁束を小さくすれば効率が高くなるのであるが漏れ磁
束を小さくすると磁束検出精度が低下するという問題も
ある。
【0004】本発明はこのような問題に鑑みたもので、
磁路を流れる主磁束そのものを直接検出するように構成
し、漏れ磁束を小さくしても精度の高い磁束検出を行え
るような構成の磁束検出装置および方法を提供すること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】このような目的達成のた
め、本発明に係る磁束検出装置は、励磁コイルを有して
構成されてこの励磁コイルへの励磁電流の供給を受けて
磁束を発生させる磁束発生器(例えば、実施形態におけ
るアーマチュア部材11およびコア部材12から構成さ
れる)と、励磁コイルへの励磁電流の供給制御を行う励
磁電流制御器と、磁束発生器により発生される磁束が通
る磁路内に配設されて磁束の変化に応じて誘導起電圧を
発生させるサーチコイルと、このサーチコイルにおいて
発生した誘導起電圧を測定して磁束発生器により発生さ
れた磁束を算出する磁束算出器とを備えて構成される。
その上で、励磁電流制御器は、零電流値から所定電流値
まで第1所定時間にわたって励磁電流を増加させた後、
所定電流値から零電流値まで第2所定時間にわたって励
磁電流を減少させるような励磁電流供給制御を行い、磁
束算出器は、第1所定時間においてサーチコイルから発
生する誘導起電圧を積分した増加起電圧積分値と第2所
定時間においてサーチコイルから発生する誘導起電圧を
積分した減少起電圧積分値との差から磁束発生器により
発生された磁束を算出する。
【0006】このような構成の磁束検出装置を用いれ
ば、サーチコイルは磁束発生器により発生された磁束
(いわゆる主磁束)が通る磁路内に配設されているため
この磁束そのものの変化に応じてサーチコイルに起電力
を発生し、この起電力を積分すれば磁路内を通る磁束を
正確に算出することができる。これにより、ホール素子
のようなセンサで漏れ磁束を検出して磁束を求める場合
に問題となる、センサの取付位置のバラツキによる検出
誤差の発生や、磁気回路の効率向上に伴う漏れ磁束の減
少による検出精度の低下を回避できる。
【0007】さらに、磁束算出器は増加起電圧積分値と
減少起電圧積分値との差から磁束を算出するため、励磁
電流が零のときにおけるサーチコイルの起電力の値にド
リフトが存在したり、この起電力をオフセットさせたり
した場合でも、これらドリフトもしくはオフセット分は
両積分値の差により相殺されるため、ドリフトやオフセ
ットの影響を受けることなく正確な磁束検出が可能であ
る。さらに、このようにドリフトやオフセット値を求め
る必要がないため、磁束検出をより簡易に且つ迅速に行
うことができる。
【0008】なお、第1所定時間においてサーチコイル
から発生する誘導起電圧の増加分に対応する増加分積分
値の大きさと、第2所定時間においてサーチコイルから
発生する誘導起電圧の減少分に対応する減少分積分値の
大きさとが等しくなるように励磁電流制御器による励磁
電流供給制御が行われるようにするのが好ましい。
【0009】このため、第1所定時間と第2所定時間と
が等しく、第1所定時間において励磁電流を増加させる
ときでの励磁電流の増加率の絶対値と第2所定時間にお
いて励磁電流を減少させるときでの励磁電流の減少率の
絶対値とが等しくなるように励磁電流制御器により励磁
電流供給制御が行われるようにするのが好ましい。
【0010】原理的には、増加起電圧積分値における誘
導起電圧の増加分に対応する増加分積分値の大きさが磁
束に対応し、同様に減少起電圧の減少分に対応する減少
分積分値の大きさも磁束に対応するため、いずれか一方
の積分値のみでも磁束を求めることが可能である。しか
しながら、目標とする励磁電流に対して実際に印加され
る励磁電流値との相違、印加電流に対する発生磁束特性
の影響等から、増加分積分値と減少分積分値とに相違が
生じやすいため、両者の差を求めることにより、両者の
平均値としての磁束を算出してより正確な磁束検出が可
能である。
【0011】また、第1所定時間においてサーチコイル
から発生する誘導起電圧および第2所定時間においてサ
ーチコイルから発生する誘導起電圧がともに正の値もし
くはともに負の値となるように誘導起電圧をオフセット
させる起電圧オフセット調整器を設けても良い。このよ
うにすれば、誘導起電圧は常に正の値として(もしくは
負の値として)検出でき、検出装置構成が簡単で且つ検
出が容易となる。
【0012】一方、本発明に係る磁束検出方法は、励磁
コイルへ励磁電流を流して磁束を発生させるように構成
し、磁束が通る磁路内にサーチコイルを配設し、磁束の
変化に応じてサーチコイルから発生する誘導起電圧を測
定して磁路内に発生した磁束を算出するものであるが、
この方法においては、まず、零電流値から所定電流値ま
で第1所定時間にわたって増加する励磁電流を励磁コイ
ルに供給するとともに、この間においてサーチコイルか
ら発生する誘導起電圧を積分して増加起電圧積分値を求
め、この第1所定時間の経過後に続けて、所定電流値か
ら零電流値まで第2所定時間にわたって減少する励磁電
流を励磁コイルに供給するとともに、この間においてサ
ーチコイルから発生する誘導起電圧を積分して減少起電
圧積分値を求め、次に、増加起電圧積分値から減少起電
圧積分値を減算した値から磁路内に発生した磁束を算出
する。
【0013】このような磁束検出方法によれば、サーチ
コイルは磁束発生器により発生された磁束(いわゆる主
磁束)が通る磁路内に配設されこの磁束そのものの変化
に応じてサーチコイルに起電力を発生するため、この起
電力を積分して磁路内を通る磁束を正確に算出すること
ができる。これにより、ホール素子のようなセンサで漏
れ磁束を検出して磁束を求める場合に問題となる、セン
サの取付位置のバラツキによる検出誤差の発生や、磁気
回路の効率向上に伴う漏れ磁束の減少による検出精度の
低下を回避できる。
【0014】さらに、この方法では、増加起電圧積分値
と減少起電圧積分値との差から磁束を算出するため、励
磁電流が零のときにおけるサーチコイルの起電力の値に
ドリフトが存在したり、この起電力をオフセットさせた
りした場合でも、これらドリフトもしくはオフセット分
は両積分値の差により相殺され、ドリフトやオフセット
の影響を受けることなく正確な磁束検出が可能である。
さらに、ドリフトやオフセット値を求める必要がなく、
磁束検出をより簡易に且つ迅速に行うことができる。
【0015】なお、本発明の方法において、第1所定時
間において増加する励磁電流を励磁コイルに供給したと
きにサーチコイルから発生する起電圧の増加分のみを積
分して求まる増加分積分値の絶対値と、第2所定時間に
おいて減少する励磁電流を励磁コイルに供給したときに
サーチコイルから発生する起電圧の減少分のみを積分し
て求まる減少分積分値の絶対値とが等しくなるように、
第1所定時間における励磁電流の増加特性および第2所
定時間における励磁電流の減少特性を設定するのが好ま
しい。
【0016】増加起電圧積分値における誘導起電圧の増
加分に対応する増加分積分値のみから磁束を求めたり、
減少起電圧の減少分に対応する減少分積分値のみから磁
束を求めたりできるが、上記のように設定すれば、増加
分積分値と減少分積分値との差を求めることにより、両
者の平均値としての磁束を算出してより正確な磁束検出
が可能である。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
る磁束検出装置および方法の好ましい実施形態について
説明する。本発明に係る磁束検出装置を用いた電磁ブレ
ーキ装置を図1に示している。この電磁ブレーキ装置
は、固定保持された円筒状のブレーキハウジング1内
に、多板ブレーキ機構BMと、この多板ブレーキ機構B
Mに係合力を付与する電磁力付与機構10とを配設して
構成される。このブレーキハウジング1の中心部を貫通
するとともにボールベアリング24によりブレーキハウ
ジング1に対して回転自在に支持されて回転シャフト2
3が配設されており、電磁ブレーキ装置はこの回転シャ
フト23の回転を制動する。なお、この回転制動のた
め、回転シャフト23の上にブレーキハブ21がスプラ
イン22により結合されて取り付けられている。
【0018】多板ブレーキ機構BMは、ブレーキハウジ
ング1内に配設された複数のセパレータプレート3およ
び複数のフリクションプレート4と有する。セパレータ
プレート3は外周部においてブレーキハウジング1の内
周に形成されたインナースプライン1aと噛合して軸方
向に移動可能であるが、回転は規制されている。一方、
フリクションプレート4は金属製の円盤状部材の両側面
にフェーシング材を貼り付けて構成され、それぞれセパ
レータプレート3の間に配設されている。すなわち、セ
パレータプレート3とフリクションプレート4とが軸方
向に交互に並んで配設されている。フリクションプレー
ト4は内周部においてブレーキハブ21の外周に形成さ
れたアウタースプライン21aと噛合しており、軸方向
に移動可能であるが、回転シャフト23と一体回転する
ようになっている。
【0019】このようにして交互に位置してブレーキハ
ウジング1内に配設された両プレート3,4の左側にエ
ンドプレート5がリテーニングリング6により軸方向左
側への移動が規制されて配設されている。一方、これら
両プレート3,4の右側にプレッシャプレート2が配設
されており、プレッシャプレート2を左方向に押圧して
両プレート3,4をエンドプレート5に押し付けると、
セパレータプレート3の側面とフリクションプレート4
のフェーシング材との摩擦により両プレート3,4を同
一回転させて、フリクションプレート4の回転を制動さ
せることができる。すなわち、セパレータプレート3は
ブレーキハウジング1とスプライン結合されて固定保持
されており、フリクションプレート4はブレーキハブ2
1とスプライン結合されて回転シャフト23と一体回転
しているため、プレッシャプレート2を左方向に押圧す
ることにより、フリクションプレート4の回転すなわち
回転シャフト23の回転を制動することができる。
【0020】このようにプレッシャプレート2に左方向
への押圧力を付与するために電磁押圧機構10がブレー
キハウジング1内に設けられている。この電磁押圧機構
10は、断面コ字状でリング状に形成されるとともにブ
レーキハウジング1内に配設されたコア部材もしくはヨ
ーク部材(以下、コア部材と称する)12と、このコア
部材のコ字状断面内に設けられたリング状の励磁コイル
13と、励磁コイル13に隣接して配設されたリング状
のサーチコイル14と、コア部材12のコ字状断面開口
側と対向して配設された円盤状のアーマチュア部材11
と、アーマチュア部材11の外周に結合された円筒状の
押圧部材15とを有して構成される。コア部材12はブ
レーキハウジング1内に保持リング16により固定され
て配設されている。また、励磁コイル13およびサーチ
コイル14はコア部材12のコ字状断面空間内に固定さ
れて配設されている。アーマチュア部材11は押圧部材
15に結合された状態でブレーキハウジング1内に軸方
向に移動可能に配設されており、押圧部材15の左端面
はプレッシャプレート2の右端面と当接可能となってい
る。なお、プレッシャプレート2と押圧部材15とを、
一体に形成しても良い。
【0021】このような構成の電磁押圧機構10の作動
構成を図2に模式的に示しており、コントロールユニッ
トCUの励磁電流制御器30から励磁コイル13に励磁
電流Iを供給することにより、コア部材12内を通ると
ともにアーマチュア部材11を通る磁束φ(図中に破線
で示す)が発生し、アーマチュア部材11をコア部材1
2の方に吸引する力Fが作用する。このようにアーマチ
ュア部材11に吸引力Fが作用すると、アーマチュア部
材11が押圧部材15とともに、図1において左方に移
動し、押圧部材15の左端面がプレッシャプレート2の
右端面と当接し、プレッシャプレート2を左方に押圧す
る。これにより、上述したように、プレッシャプレート
2はセパレータプレート3およびフリクションプレート
4をエンドプレート5に押し付け、回転シャフト23の
回転を制動する。
【0022】このときの制動力は、アーマチュア部材1
1に作用する吸引力Fに対応し、このことから分かるよ
うに、コントロールユニットCUの励磁電流制御器30
から励磁コイル13に励磁電流Iの供給制御を行うこと
により回転シャフト23の回転制動制御を行うことがで
きる。ここで、アーマチュア部材11に作用する吸引力
Fをプレッシャプレート2にそのまま作用させるため
に、押圧部材15がプレッシャプレート2と当接した状
態で、コア部材12の右端面とアーマチュアプレート1
1の左端面との間に間隙(これをエアギャップAGと称
する)が発生するように設定されている。このエアギャ
ップAGはフリクションプレート4のフェーシング材が
摩耗するに応じて小さくなるため、エアギャップAGの
変化に応じて励磁電流Iの供給制御を補正し、常に所望
の吸引力Fを作用させるような制御を行う必要がある。
このため、エアギャップAGの変化に対応して変化する
磁束φをサーチコイル14により正確に検出するように
なっており、サーチコイル14を用いた磁束の検出につ
いて、以下に説明する。
【0023】励磁コイル13に励磁電流Iが供給されて
磁束φが発生すると、この磁束φの変化率(dφ/d
t)に対応した誘導起電圧eがサーチコイル14に発生
する。このようにサーチコイル14に発生する誘導起電
圧eを検出するため、サーチコイル14は図2に示すよ
うにシールドケーブル35を介してコントロールユニッ
トCU内の磁束算出器40に繋がっている。磁束算出器
40においては、サーチコイル14に発生した誘導起電
圧eを検出するとともにこの誘導起電圧eから励磁コイ
ル13により発生された磁束φを算出する。
【0024】この磁束φの算出について説明するため
に、まず、励磁電流Iと、吸引力Fと、磁束(有効磁
束)φと、エアギャップAGとの関係について説明す
る。図1に示す構成の電磁ブレーキ装置において、エア
ギャップAGをそれぞれ0.2mm、0.3mm、0.
4mm、0.5mmと設定した場合に、励磁電流Iの変
化に対する吸引力Fの変化特性を図3に示している。こ
の図から分かるように、エアギャップAGが一定であれ
ば、励磁電流Iが増加するのに応じて吸引力Fも増加す
る。一方、励磁電流が同一であればエアギャップAGが
大きくなると吸引力Fは小さくなる関係にあることが分
かる。
【0025】一方、励磁コイル14により発生する有効
磁束φと吸引力Fとの関係はエアギャップAGの影響を
受けることがなく、図4に示すように、有効磁束φが増
加するに応じて吸引力が増加するという関係にある。そ
こで、図3の関係と図4の関係を合わせれば分かるよう
に、励磁電流Iと有効磁束φとを求めればエアギャップ
AGの大きさもしくは変化を知ることができ、これに基
づいて、励磁コイル13に対する励磁電流Iの供給制御
を正確に行うことができる。また、図4の関係から分か
るように、有効磁束φを求めればアーマチュア部材11
に作用する吸引力Fすなわちブレーキ力を求めることが
できる。
【0026】このようなことから、磁束算出器40にお
いては、サーチコイル14の誘導起電圧eから有効磁束
φを求めている。ここで、サーチコイル14の誘導起電
圧eと、サーチコイル14の巻き数Nと、励磁コイル1
3により発生する磁束φの時間変化率dφ/dtとの間
には、次式(1)の関係が存在する(ファラデーの法
則)。
【0027】
【数1】e=N・(dφ/dt) ・・・(1)
【0028】磁束φはその時間変化率dφ/dtを時間
に対して積分すれば算出できるため、磁束算出器40に
おいては式(1)を変形して時間積分する次式(2)に
より磁束φを算出する。
【0029】
【数2】 φ=(1/N)・∫edt+C ・・・(2) 但し、Cは積分定数であり、励磁コイル13に励磁電流
Iが供給される度にリセットされる。
【0030】以上のことから分かるように、磁束算出器
40を用いて行う本発明の磁束検出では、サーチコイル
14は磁束φ内に配設されてその時間変化に応じて発生
する誘導起電圧eを検出するものであり、従来のように
ホール素子からなる磁束密度センサを用いることなく磁
束φを精密に検出することができる。なお、このように
して磁束φが算出されると、アーマチュア部材11が受
ける吸引力(多板ブレーキ機構BMに作用する押圧力)
Fは、アーマチュア部材11とコア部材12との間のエ
アギャップ断面積Sおよび透磁率μを用いて次式(3)
により求めることができる。
【0031】
【数3】F=φ2/(2μS) ・・・(3)
【0032】以上の説明から分かるように、磁束φはサ
ーチコイル14の誘導起電圧eを時間積分して求められ
るが(上記式(2)参照)、誘導起電圧eは励磁電流I
の印加パターンに応じて変化するものであり、本発明で
は、図5(a)に示すようなパターンの励磁電流Iを印
加して磁束φやエアギャップAGの大きさもしくは変化
量を求めている。すなわち、図5(a)に示すように、
時間t0からt3までの第1所定時間T1にわたって零電
流値から所定電流値Isまで増加する励磁電流を加え、
これに続いて時間t3からt6まで第2所定時間T2にわ
たって所定電流Isから零電流値まで減少する励磁電流
を加える。
【0033】このように図5(a)に示すパターンの励
磁電流Iを励磁コイル14に加えると、励磁電流が増加
する間(時間t1からt2の間)に正の誘導起電圧+e0
が発生し、励磁電流が減少する間(時間t4からt5の
間)に負の誘導起電圧−e0が発生する。なお、この例
では励磁電流の増加率および減少率をその絶対値が等し
く且つ一定となるように設定しており、図5(b)に示
すように誘導起電圧+e 0および−e0はその大きさの絶
対値が等しく且つ一定値となる。
【0034】このような励磁電流Iを励磁コイル13に
加えた場合に、所定電流値Isが作用しているとき(時
間t2からt4の間)における発生磁束φは、上記式
(2)から分かるように、零電流値から所定電流値Is
まで増加させるときに発生する誘導起電圧eの積分値
(第1所定時間T1での誘導起電圧の積分値)として算
出でき、同様に所定電流値Isから零電流値まで減少さ
せるときに発生する誘導起電圧eの積分値(第2所定時
間T1での誘導起電圧の積分値)として算出できる。す
なわち、図5(b)における時間t0からt3までの間
(図5(b)の場合には時間t1からt2までの間)の誘
導起電圧eを示す面積A1が所定電流値Isが作用する
ときの磁束φに該当する。また、図5(b)における時
間t3からt6までの間(図5(b)の場合には時間t4
からt5までの間)の誘導起電圧eを示す面積A2も所
定電流値Isが作用するときの磁束φに該当する。この
ため、理論的には、上記面積A1およびA2のいずれか
一方の検出のみでも磁束φを求めることが可能である。
【0035】しかしながら、図5(c)に示すように、
励磁電流Iが零電流値のときにドリフト起電圧と呼ばれ
る誤差誘導起電圧edが発生することが多く、このよう
なドリフト起電圧edが発生した状態では、第1所定時
間T1における誘導起電圧eの積分(もしくは第2所定
時間T2における誘導起電圧eの積分)を行ったのでは
ドリフト起電圧edに対応する誤差を含んだ磁束φを求
めることになり、正確な磁束検出が難しいという問題が
ある。このようなことから、本発明においては、磁束算
出器40において、第1所定時間T1における誘導起電
圧の積分値(これを増加起電圧積分値と称する)から第
2所定時間T2における誘導起電圧の積分値(これを減
少起電圧積分値と称する)を減算して求めた値を2で除
した値から磁束φを算出している。
【0036】ここで図5(c)から良く分かるように、
ドリフト起電圧edは常に一定の値であるため、T1=
T2という関係が成り立つ限り、増加起電圧積分値から
減少起電圧積分値を減算するとドリフト起電圧edの積
分値が相殺されて零となり、ドリフト起電圧edを含ま
ない正確な磁束φを算出することができる。すなわち、
この場合には、図5(c)における面積A31とA32
との合計面積から面積A41とA42との合計面積が減
算されて零となり、励磁電流が実際に変化して発生する
誘導起電圧に対応する面積A3とA4との平均値から磁
束φを求めることになり、ドリフト起電圧edの影響の
ない正確な磁束φの検出が可能である。なお、図5
(b)に示すようにドリフト起電圧edが零のときに
は、面積A1(正の値)から面積A2(負の値)を減算
することにより、両面積A1,A2を合わせた面積が求
まり、これを2で除して平均面積を算出するため、この
場合にも同様に正確な磁束φの算出が可能である。
【0037】ところで、図5(a)においては、励磁電
流の増加率と減少率の絶対値を等しくしており、増加時
の誘導起電圧+e0と減少時の誘導起電圧−e0の絶対値
が等しくなるように設定しているが、増加率と減少率を
相違させても良い。但し、これらを同一に設定する方
が、誤差の小さな磁束検出が可能である。
【0038】以上のようにして磁束φを算出する場合、
誘導起電圧eは励磁電流が増加するときに正の値とな
り、減少するときに負の値となるため、磁束算出器40
においては正負両方の電圧を検出できるような回路が必
要で、回路構成が複雑化しやすい。このため、磁束算出
器40を図6のように構成して、常に正の誘導起電圧e
が発生するようにしても良い。
【0039】図6に示す磁束算出器40は、高電位設定
回路41と、低電位設定回路42と、電位設定抵抗43
と、誘導起電圧測定ライン44と、保護回路45と、C
PU48とから構成される。高電位設定回路41におい
ては、+5Vの電源電圧を抵抗値が等しい二つの抵抗4
1a,41bの間からオペアンプ41cを介して取り出
して+2.5Vの電圧をシールドケーブル35のライン
35aからサーチコイル14に作用させる。なお、図6
においてはサーチコイル14の内部抵抗を符号14aで
示し、誘導起電圧発生機能を符号14bで示している。
一方、低電位設定回路42においては、+5Vの電源電
圧を抵抗値が異なる二つの抵抗42a,42b(抵抗4
2aの抵抗値の方が大きい)の間からオペアンプ42c
を介して+0.5Vの電圧として取り出す。
【0040】このオペアンプ42cの出力端は電位設定
抵抗43を通るとともにシールドケーブル35のライン
35bを通ってサーチコイル14に繋がる。そして、電
位設定抵抗43とライン35bの間の位置Pに、この位
置Pでの電位を測定する電位測定ライン44が繋がって
いる。電位測定ライン44は保護回路45を通ってCP
U48に繋がり、位置Pの電圧をA/D変換して取り込
み検出し、これを時間積分して磁束φの算出を行う。な
お、保護回路45は電位測定ライン44の電圧が許容幅
(例えば、0.3V〜5.3V)を越えないようにして
CPU48に異常電圧が作用しないように保護するため
の回路である。
【0041】ここで、サーチコイル14の抵抗値(例え
ば、100Ω)に対して電位設定抵抗43は十分に大き
な抵抗値(例えば、1kΩ)に設定しており、サーチコ
イル14の誘導起電圧eが零のときにおける位置Pの電
圧VPは高電位設定回路41により設定される電圧+
2.5Vに近い所定の電圧となる。なお、正確には、こ
の所定電圧VPは、次式(4)で示すようになるが、こ
の電圧が位置Pにオフセット起電圧として作用する。す
なわ、CPU48により検出される誘導起電圧はこのオ
フセット起電圧が常時作用した状態となり、このオフセ
ット起電圧にサーチコイル14から発生する実際の誘導
起電圧eが加わった電圧がCPU48において検出され
る。
【0042】
【数4】 VP =(2.5−0.5)×(1000/1100)+0.5 = 2.31 ・・・(4)
【0043】このような構成の磁束算出器40におい
て、励磁コイル13に図7(a)に示すようなパターン
の励磁電流(これは図5(a)に示す励磁電流のパター
ンと同一である)を供給すると、CPU48により検出
される誘導起電圧eは、オフセット起電圧e2を有して
いるため、図7(b)に示すように、時間t1からt2の
間においてサーチコイル14から発生される(誘導起電
圧発生機能14bから発生される)正の誘導起電圧が加
わった誘導起電圧e1が発生し、時間t4からt5の間に
おいてサーチコイル14から発生される(誘導起電圧発
生機能14bから発生される)負の誘導起電圧が加わっ
た誘導起電圧e3が発生する。CPU48においては、
図7(b)に示す誘導起電圧eが測定されるのである
が、この場合においても、第1所定時間T1の間の誘導
起電圧eを時間積分した増加起電圧積分値から第2所定
時間T2の間の誘導起電圧eを時間積分した減少起電圧
積分値を減算して求めた値を2で除した値から磁束φを
算出する。
【0044】このように増加起電圧積分値から減少起電
圧積分値を減算すると、オフセット起電圧e2の積分値
が相殺され、正確な正確な磁束φの算出が行える。具体
的には、図7(b)においてハッチングを施した面積A
11とA13との合計面積から面積A21とA23との
合計面積が減算されて零となり、さらに、時間t1〜t2
における面積A12から時間t4〜t5における面積A2
2を減算することにより、面積15(サーチコイル14
から実際に発生する正の誘導起電圧の積分値に対応す
る)と面積A25(サーチコイル14から実際に発生す
る負の誘導起電圧の積分値に対応する)とを合わせた面
積が積分値として算出され、これを半分にした積分値
(平均値)から正確な磁束φを算出できる。
【0045】以上においては、本発明に係る磁束検出装
置を用いた電磁ブレーキ装置について説明したが、本発
明に係る磁束検出装置の適用対象はこれに限定されるも
のではなく、電磁クラッチにも適用され、さらに、励磁
コイルを用いて電磁力を発生させる装置であればどのよ
うなものにも適用可能である。また、図6の磁束算出器
においては誘導起電圧が常に正の電圧となるようにオフ
セットさせているが、誘導起電圧が常に負の電圧となる
ようにオフセットさせても良い。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
サーチコイルは磁束発生器により発生された磁束(いわ
ゆる主磁束)が通る磁路内に配設されているためこの磁
束そのものの変化に応じてサーチコイルに起電力を発生
し、この起電力を積分すれば磁路内を通る磁束を正確に
算出することができる。これにより、ホール素子のよう
なセンサで漏れ磁束を検出して磁束を求める場合に問題
となる、センサの取付位置のバラツキによる検出誤差の
発生や、磁気回路の効率向上に伴う漏れ磁束の減少によ
る検出精度の低下を回避できる。
【0047】さらに、磁束算出器は増加起電圧積分値と
減少起電圧積分値との差から磁束を算出するため、励磁
電流が零のときにおけるサーチコイルの起電力の値にド
リフトが存在したり、この起電力をオフセットさせたり
した場合でも、これらドリフトもしくはオフセット分は
両積分値の差により相殺されるため、ドリフトやオフセ
ットの影響を受けることなく正確な磁束検出が可能であ
る。さらに、このようにドリフトやオフセット値を求め
る必要がないため、磁束検出をより簡易に且つ迅速に行
うことができる。
【0048】なお、第1所定時間においてサーチコイル
から発生する誘導起電圧の増加分に対応する増加分積分
値の大きさと、第2所定時間においてサーチコイルから
発生する誘導起電圧の減少分に対応する減少分積分値の
大きさとが等しくなるように励磁電流制御器による励磁
電流供給制御が行われるようにするのが好ましい。この
ため、第1所定時間と第2所定時間とが等しく、第1所
定時間において励磁電流を増加させるときでの励磁電流
の増加率の絶対値と第2所定時間において励磁電流を減
少させるときでの励磁電流の減少率の絶対値とが等しく
なるように励磁電流制御器により励磁電流供給制御が行
われるようにするのが好ましい。
【0049】原理的には、増加起電圧積分値における誘
導起電圧の増加分に対応する増加分積分値もしくは減少
起電圧の減少分に対応する減少分積分値のいずれか一方
のみでも磁束を求めることが可能である。しかしなが
ら、目標とする励磁電流に対して実際に印加される励磁
電流値との相違、印加電流に対する発生磁束特性の影響
等から、増加分積分値と減少分積分値とに相違が生じや
すいため、上記のように両者の差を求めることにより、
両者の平均値としての磁束を算出してより正確な磁束検
出が可能である。
【0050】また、第1所定時間においてサーチコイル
から発生する誘導起電圧および第2所定時間においてサ
ーチコイルから発生する誘導起電圧がともに正の値もし
くはともに負の値となるように誘導起電圧をオフセット
させる起電圧オフセット調整器を設けても良い。このよ
うにすれば、誘導起電圧は常に正の値として(もしくは
負の値として)検出でき、検出装置構成が簡単で且つ検
出が容易となる。
【0051】一方、本発明に係る磁束検出方法によれ
ば、サーチコイルは磁束発生器により発生された磁束
(いわゆる主磁束)が通る磁路内に配設されこの磁束そ
のものの変化に応じてサーチコイルに起電力を発生する
ため、この起電力を積分して磁路内を通る磁束を正確に
算出することができる。これにより、ホール素子のよう
なセンサで漏れ磁束を検出して磁束を求める場合に問題
となる、センサの取付位置のバラツキによる検出誤差の
発生や、磁気回路の効率向上に伴う漏れ磁束の減少によ
る検出精度の低下を回避できる。
【0052】さらに、この方法では、増加起電圧積分値
と減少起電圧積分値との差から磁束を算出するため、励
磁電流が零のときにおけるサーチコイルの起電力の値に
ドリフトが存在したり、この起電力をオフセットさせた
りした場合でも、これらドリフトもしくはオフセット分
は両積分値の差により相殺され、ドリフトやオフセット
の影響を受けることなく正確な磁束検出が可能である。
さらに、ドリフトやオフセット値を求める必要がなく、
磁束検出をより簡易に且つ迅速に行うことができる。
【0053】なお、本発明の方法において、第1所定時
間において増加する励磁電流を励磁コイルに供給したと
きにサーチコイルから発生する起電圧の増加分のみを積
分して求まる増加分積分値の絶対値と、第2所定時間に
おいて減少する励磁電流を励磁コイルに供給したときに
サーチコイルから発生する起電圧の減少分のみを積分し
て求まる減少分積分値の絶対値とが等しくなるように、
第1所定時間における励磁電流の増加特性および第2所
定時間における励磁電流の減少特性を設定するのが好ま
しい。このように増加分積分値と減少分積分値との差を
求めることにより、両者の平均値としての磁束を算出し
てより正確な磁束検出が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る磁束検出装置を用いて電磁ブレー
キ装置を示す断面図である。
【図2】上記電磁ブレーキ装置を構成する電磁押圧機構
の構成を模式的に示す説明図である。
【図3】上記電磁押圧機構における励磁電流Iと吸引力
Fとの関係を示すグラフである。
【図4】上記電磁押圧機構における有効磁束φと吸引力
Fとの関係を示すグラフである。
【図5】図5(a)は上記電磁押圧機構に供給される励
磁電流Iの時間変化パターンを示し、図5(b)はこの
ときにドリフト起電圧がない状態でサーチコイルから発
生する誘導起電圧eの変化パターンを示し、図5(c)
はドリフト起電圧がある状態でサーチコイルから発生す
る誘導起電圧eの変化パターンを示すグラフである。
【図6】オフセット起電圧を発生させるようになった磁
束算出器の構成を示す電気回路図である。
【図7】図6(a)は上記電磁押圧機構に供給される励
磁電流Iの時間変化パターンを示し、図6(b)はこの
ときに図6の磁束算出器により検出される誘導起電圧e
の変化パターンを示すグラフである。
【符号の説明】
13 励磁コイル 14 サーチコイル 30 励磁電流制御器 40 磁束算出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 33/02 - 33/10 F16D 25/00 - 39/00

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 励磁コイルを有して構成され、前記励磁
    コイルへの励磁電流の供給を受けて磁束を発生させる磁
    束発生器と、 前記励磁コイルへの前記励磁電流の供給制御を行う励磁
    電流制御器と、 前記磁束発生器により発生される磁束が通る磁路内に配
    設されて、前記磁束の変化に応じて誘導起電圧を発生さ
    せるサーチコイルと、 前記サーチコイルにおいて発生した誘導起電圧を測定し
    て前記磁束発生器により発生された磁束を算出する磁束
    算出器とを備え、 前記励磁電流制御器は、零電流値から所定電流値まで第
    1所定時間にわたって前記励磁電流を増加させた後、所
    定電流値から零電流値まで第2所定時間にわたって前記
    励磁電流を減少させる励磁電流供給制御を行い、 前記磁束算出器は、前記第1所定時間において前記サー
    チコイルから発生する誘導起電圧を積分した増加起電圧
    積分値と前記第2所定時間において前記サーチコイルか
    ら発生する誘導起電圧を積分した減少起電圧積分値との
    差から前記磁束発生器により発生された磁束を算出する
    ことを特徴とする磁束検出装置。
  2. 【請求項2】 前記第1所定時間において前記サーチコ
    イルから発生する誘導起電圧の増加分に対応する増加分
    積分値の大きさと、前記第2所定時間において前記サー
    チコイルから発生する誘導起電圧の減少分に対応する減
    少分積分値の大きさとが等しくなるように前記励磁電流
    制御器による励磁電流供給制御が行われることを特徴と
    する請求項1に記載の磁束検出装置。
  3. 【請求項3】 前記第1所定時間と前記第2所定時間と
    が等しく、前記第1所定時間において緩やかに前記励磁
    電流を増加させるときでの前記励磁電流の増加率の絶対
    値と前記第2所定時間において緩やかに前記励磁電流を
    減少させるときでの前記励磁電流の減少率の絶対値とが
    等しくなるように前記励磁電流制御器による励磁電流供
    給制御が行われることを特徴とする請求項1もしくは2
    に記載の磁束検出装置。
  4. 【請求項4】 前記第1所定時間において前記サーチコ
    イルから発生する誘導起電圧および前記第2所定時間に
    おいて前記サーチコイルから発生する誘導起電圧がとも
    に正の値もしくはともに負の値となるように前記誘導起
    電圧をオフセットさせる起電圧オフセット調整器を有す
    ることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の磁
    束検出装置。
  5. 【請求項5】 励磁コイルへ励磁電流を流して磁束を発
    生させるように構成し、前記磁束が通る磁路内にサーチ
    コイルを配設し、前記磁束の変化に応じて前記サーチコ
    イルから発生する誘導起電圧を測定して前記磁路内に発
    生した磁束を算出する磁束検出方法において、 零電流値から所定電流値まで第1所定時間にわたって増
    加する励磁電流を前記励磁コイルに供給するとともに、
    この間において前記サーチコイルから発生する誘導起電
    圧を積分して増加起電圧積分値を求め、 前記第1所定時間の経過後に続けて、前記所定電流値か
    ら零電流値まで第2所定時間にわたって減少する励磁電
    流を前記励磁コイルに供給するとともに、この間におい
    て前記サーチコイルから発生する誘導起電圧を積分して
    減少起電圧積分値を求め、 前記増加起電圧積分値から前記減少起電圧積分値を減算
    した値から前記磁路内に発生した磁束を算出することを
    特徴とする磁束検出方法。
  6. 【請求項6】 前記第1所定時間において増加する前記
    励磁電流を前記励磁コイルに供給したときに前記サーチ
    コイルから発生する起電圧の増加分のみを積分して求ま
    る増加分積分値の絶対値と、前記第2所定時間において
    減少する前記励磁電流を前記励磁コイルに供給したとき
    に前記サーチコイルから発生する起電圧の減少分のみを
    積分して求まる減少分積分値の絶対値とが等しくなるよ
    うに、前記第1所定時間における励磁電流の増加特性お
    よび前記第2所定時間における励磁電流の減少特性を設
    定することを特徴とする請求項5に記載の磁束検出方
    法。
JP2001104267A 2001-04-03 2001-04-03 磁束検出装置および方法 Expired - Fee Related JP3523608B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001104267A JP3523608B2 (ja) 2001-04-03 2001-04-03 磁束検出装置および方法
US10/084,918 US6650113B2 (en) 2001-04-03 2002-03-01 Detector and method thereof for determining magnetic flux based on electromotive force induced by an excitation current
DE10214733A DE10214733A1 (de) 2001-04-03 2002-04-03 Magnetflussdetektor und -detektionsverfahren

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001104267A JP3523608B2 (ja) 2001-04-03 2001-04-03 磁束検出装置および方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002303660A JP2002303660A (ja) 2002-10-18
JP3523608B2 true JP3523608B2 (ja) 2004-04-26

Family

ID=18957154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001104267A Expired - Fee Related JP3523608B2 (ja) 2001-04-03 2001-04-03 磁束検出装置および方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6650113B2 (ja)
JP (1) JP3523608B2 (ja)
DE (1) DE10214733A1 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7006010B2 (en) * 2002-01-08 2006-02-28 Kirk S. Thomas Clamp assemblies and methods
JP4206713B2 (ja) * 2002-09-05 2009-01-14 株式会社デンソー 指示計器
US7126805B2 (en) 2003-04-10 2006-10-24 Honda Motor Co., Ltd. Solenoid driving device
US7046496B2 (en) * 2003-05-05 2006-05-16 Nikon Corporation Adaptive gain adjustment for electromagnetic devices
JP2006525529A (ja) 2003-05-06 2006-11-09 エスアールアイ インターナショナル ピストンロッド位置情報をピストンロッド上の磁性層に記録するシステム及び方法
US7248041B2 (en) * 2003-07-28 2007-07-24 Cummins, Inc. Device and method for measuring transient magnetic performance
US7106022B2 (en) * 2004-09-30 2006-09-12 Agere Systems Inc. Velocity controlled disk drive head retraction with offset removal
JP4614752B2 (ja) * 2004-12-08 2011-01-19 海二 佐藤 リニアモータ
US7259553B2 (en) 2005-04-13 2007-08-21 Sri International System and method of magnetically sensing position of a moving component
US20070285195A1 (en) * 2006-06-13 2007-12-13 Nehl Thomas W Direct flux control system for magnetic structures
JP4811952B2 (ja) * 2006-12-28 2011-11-09 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ 無励磁作動型電磁ブレーキ
KR101405342B1 (ko) * 2007-11-26 2014-06-12 삼성디스플레이 주식회사 인쇄 회로 기판 어셈블리와 이를 포함하는 액정 표시 장치
US8970208B2 (en) * 2010-02-11 2015-03-03 Sri International Displacement measurement system and method using magnetic encodings
US9476691B2 (en) * 2011-05-11 2016-10-25 Polyresearch Ag Magnetic based contactless measuring sensor
US9455084B2 (en) 2012-07-19 2016-09-27 The Boeing Company Variable core electromagnetic device
US9389619B2 (en) * 2013-07-29 2016-07-12 The Boeing Company Transformer core flux control for power management
US9159487B2 (en) 2012-07-19 2015-10-13 The Boeing Company Linear electromagnetic device
US9947450B1 (en) 2012-07-19 2018-04-17 The Boeing Company Magnetic core signal modulation
US9568563B2 (en) 2012-07-19 2017-02-14 The Boeing Company Magnetic core flux sensor
JP5725010B2 (ja) * 2012-12-28 2015-05-27 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサの方向識別方法、積層セラミックコンデンサの方向識別装置及び積層セラミックコンデンサの製造方法
US9651633B2 (en) 2013-02-21 2017-05-16 The Boeing Company Magnetic core flux sensor
US10094720B2 (en) 2014-04-10 2018-10-09 General Electric Company System and method of magnetic shielding for sensors
US9429488B2 (en) * 2014-04-10 2016-08-30 General Electric Company System and method of magnetic shielding for sensors
US9714921B2 (en) * 2014-06-25 2017-07-25 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of identifying direction of multilayer ceramic capacitor, apparatus identifying direction of multilayer ceramic capacitor, and method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
CN105988090B (zh) * 2015-01-30 2018-09-25 中国科学院上海微***与信息技术研究所 微机械磁场传感器及其应用
US10403429B2 (en) 2016-01-13 2019-09-03 The Boeing Company Multi-pulse electromagnetic device including a linear magnetic core configuration
CN111928890B (zh) * 2020-07-14 2022-04-05 宁波大学 一种实时测量拉索自振频率与索力的方法
CN112072889B (zh) * 2020-09-04 2022-02-11 珠海格力电器股份有限公司 永磁直线电机、其永磁体磁性能在线检测装置及方法
CN113933762B (zh) * 2021-09-22 2023-07-25 珠海凌达压缩机有限公司 变频压缩机转子磁通量的测量方法及***

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3541432A (en) * 1968-10-21 1970-11-17 Bunker Ramo Magnetometer capable of operating with a very low input power
US4305035A (en) * 1979-08-22 1981-12-08 Rockwell International Corporation Magnetic field amplitude detection sensor apparatus
US4933637A (en) * 1987-04-29 1990-06-12 Meguro Electric Mfg. Co., Ltd. Apparatus for detecting a magnetic field having an excitation current source unit, a detection unit and a current control source unit
JPH04312217A (ja) 1991-04-10 1992-11-04 Tochigi Fuji Ind Co Ltd 電磁クラッチ
CH689466A5 (de) * 1991-04-26 1999-04-30 Mars Inc Anordnung zum Messen eines Magnetfeldes.
US6208497B1 (en) * 1997-06-26 2001-03-27 Venture Scientifics, Llc System and method for servo control of nonlinear electromagnetic actuators
US6300733B1 (en) * 2000-02-22 2001-10-09 Gary E. Bergstrom System to determine solenoid position and flux without drift

Also Published As

Publication number Publication date
US20020163330A1 (en) 2002-11-07
JP2002303660A (ja) 2002-10-18
DE10214733A1 (de) 2002-10-10
US6650113B2 (en) 2003-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3523608B2 (ja) 磁束検出装置および方法
JP3523607B2 (ja) 磁束検出装置
US9228623B2 (en) Wear distance sensor for a brake pad of a friction brake
US8256954B2 (en) Contactless device for measuring operating parameters of rotors of high-speed rotary machines
JPH11132867A (ja) 温度モニタ装置
US7417398B2 (en) Vacuum pump
JP6799968B2 (ja) 電動式直動アクチュエータ
JP3583671B2 (ja) トルク検出装置
JP2000130482A (ja) 電動ブレーキ装置
JP6368007B1 (ja) ブレーキ故障予兆診断装置
JP6502172B2 (ja) 電動ブレーキ装置
JPH07251305A (ja) チャック装置を備えた電動工具
JP5023617B2 (ja) 渦電流減速装置の制動力推定方法及び推定制動力演算装置、並びに制動力制御装置、渦電流減速装置
JP2003214895A (ja) 磁電変換素子を備えた角度センサ
JP2008014323A (ja) 電動ブレーキ装置
US6848308B2 (en) Circuit arrangement for evaluating an acceleration sensor using the Ferraris principle
JP2009525718A (ja) 自動車の調整駆動装置
JP2005156348A (ja) 位置検出装置
JP2001133210A (ja) 非接触型位置センサ
JPH0914314A (ja) 電気式パッドウェアインジケータ
JPH05231809A (ja) 起電力形渦電流変位計
JPH10115502A (ja) 磁界の変化を検出するためのセンサ
JPH08275460A (ja) ロータリソレノイドの位置検出装置
KR20130059224A (ko) 로터리엔코더의 펄스를 이용한 톤휠 및 엔코더실 이상유무를 검사하는 검사장치
JPH0925912A (ja) シリンダの作動速度検出センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20031219

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040206

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080220

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090220

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100220

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100220

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110220

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110220

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120220

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120220

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130220

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130220

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140220

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees