JP3502423B2 - 信号処理回路補正装置 - Google Patents
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- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定回路の如き信号処
理回路についての、種々の変動要因による特性変動を一
括して補正する補正装置、及びそのような補正装置を備
えた一括補正型の信号処理回路に関するものである。
理回路についての、種々の変動要因による特性変動を一
括して補正する補正装置、及びそのような補正装置を備
えた一括補正型の信号処理回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、測定機器を使用する際には、測定
に先立ってウォーミングアップ時間を設け、被測定環境
中に測定機器を配置して、測定機器内の回路が熱平衡状
態に達するようにしている。例えば、標準信号発生器、
スペクトラムアナライザ、パワーメータ、ＴＶレベルメ
ータの機器では、少なくとも３０分以上で、通常１時間
のウォーミングアップ時間と必要とする。特に、高周波
を扱う機器の電子回路においては、低インピーダンスで
設計する必要があるため、各部品の消費電力も大きくな
り、２時間もウォーミングアップにかかるものもある。
に先立ってウォーミングアップ時間を設け、被測定環境
中に測定機器を配置して、測定機器内の回路が熱平衡状
態に達するようにしている。例えば、標準信号発生器、
スペクトラムアナライザ、パワーメータ、ＴＶレベルメ
ータの機器では、少なくとも３０分以上で、通常１時間
のウォーミングアップ時間と必要とする。特に、高周波
を扱う機器の電子回路においては、低インピーダンスで
設計する必要があるため、各部品の消費電力も大きくな
り、２時間もウォーミングアップにかかるものもある。
【０００３】また、従来の測定機器では、機器回路内で
補正できない変動、即ち、在来の回路技術を使って補正
できない変動については、外部に補正テーブル（例え
ば、温度−指示誤差の補正テーブル；周波数−指示誤差
の補正テーブル）を設けることが行われている。これに
より、ユーザが、そのような補正テーブルを参照して、
機器の出力指示値から補正指示値を得るようになってい
る。
補正できない変動、即ち、在来の回路技術を使って補正
できない変動については、外部に補正テーブル（例え
ば、温度−指示誤差の補正テーブル；周波数−指示誤差
の補正テーブル）を設けることが行われている。これに
より、ユーザが、そのような補正テーブルを参照して、
機器の出力指示値から補正指示値を得るようになってい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の測
定機器を含む信号処理機器では、長いウォーミングアッ
プ時間を必要とし、従って機器の電源投入後、直ぐに使
用する、ということができない。また、その長いウォー
ミングアップ時間のため、機器をバッテリ駆動とするに
は、不向きである。更に、外部補正テーブルを用いる測
定機器では、測定が不便であったりまた繁雑となったり
する。また、従来の信号処理回路では、複雑な短期ある
いは長期の変動を在来の回路技術で補正することは、困
難であったり、あるいは可能でも高価となったりする。
定機器を含む信号処理機器では、長いウォーミングアッ
プ時間を必要とし、従って機器の電源投入後、直ぐに使
用する、ということができない。また、その長いウォー
ミングアップ時間のため、機器をバッテリ駆動とするに
は、不向きである。更に、外部補正テーブルを用いる測
定機器では、測定が不便であったりまた繁雑となったり
する。また、従来の信号処理回路では、複雑な短期ある
いは長期の変動を在来の回路技術で補正することは、困
難であったり、あるいは可能でも高価となったりする。
【０００５】従って、本発明の目的は、信号処理回路の
関心のある種々の特性変動を、一括して補正する方法及
び装置、あるいはそのような補正法を組み込んだ一括補
正型の信号処理回路を提供することである。本発明の別
の目的は、信号処理回路内の関心のある種々の特性変動
を、その処理回路の外部で補正する方法及び装置、ある
いはそのような補正法を組み込んだ信号処理回路を提供
することである。本発明の別の目的は、信号処理回路内
の関心のある複雑な特性変動を、その処理回路の外部で
補正する方法及び装置、あるいはそのような補正法を組
み込んだ信号処理回路を提供することである。本発明の
別の目的は、ウォーミングアップ時間を短縮したあるい
は実質上ゼロの信号処理装置を提供することである。本
発明の別の目的は、高確度の測定が行える測定装置を低
コストで提供することである。
関心のある種々の特性変動を、一括して補正する方法及
び装置、あるいはそのような補正法を組み込んだ一括補
正型の信号処理回路を提供することである。本発明の別
の目的は、信号処理回路内の関心のある種々の特性変動
を、その処理回路の外部で補正する方法及び装置、ある
いはそのような補正法を組み込んだ信号処理回路を提供
することである。本発明の別の目的は、信号処理回路内
の関心のある複雑な特性変動を、その処理回路の外部で
補正する方法及び装置、あるいはそのような補正法を組
み込んだ信号処理回路を提供することである。本発明の
別の目的は、ウォーミングアップ時間を短縮したあるい
は実質上ゼロの信号処理装置を提供することである。本
発明の別の目的は、高確度の測定が行える測定装置を低
コストで提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を実現するた
め、本発明により提供する信号処理回路補正方法は、入
力信号を受けそして出力信号を発生する信号処理回路で
あって、静的回路条件、動的回路条件、及び回路環境条
件の内の少なくとも１つの条件により特性が変動する、
少なくとも１つの回路部分を含む信号処理回路におい
て、ａ）前記少なくとも１つの回路部分の特性の変動を
補正するため、前記信号処理回路の出力信号に対し施す
補正についての補正値データを作成するステップ、ｂ）
ある所与の入力信号を前記信号処理回路に印加して、そ
れに対応する出力信号を取得するステップ、ｃ）前記所
与の入力信号に対応する前記出力信号に対し、前記少な
くとも１つの回路部分の対応する各前記補正値データに
従って補正を行って、最終的な出力信号を生成するステ
ップ、を含むように構成する。
め、本発明により提供する信号処理回路補正方法は、入
力信号を受けそして出力信号を発生する信号処理回路で
あって、静的回路条件、動的回路条件、及び回路環境条
件の内の少なくとも１つの条件により特性が変動する、
少なくとも１つの回路部分を含む信号処理回路におい
て、ａ）前記少なくとも１つの回路部分の特性の変動を
補正するため、前記信号処理回路の出力信号に対し施す
補正についての補正値データを作成するステップ、ｂ）
ある所与の入力信号を前記信号処理回路に印加して、そ
れに対応する出力信号を取得するステップ、ｃ）前記所
与の入力信号に対応する前記出力信号に対し、前記少な
くとも１つの回路部分の対応する各前記補正値データに
従って補正を行って、最終的な出力信号を生成するステ
ップ、を含むように構成する。
【０００７】本発明によれば、前記補正値データは、補
正値テーブルの形態で作成することができる。
正値テーブルの形態で作成することができる。
【０００８】また、本発明によれば、前記少なくとも１
つの回路部分が、前記動的回路条件と前記回路環境条件
とにより特性が変動する第１の回路を含む場合、該第１
回路について、前記ステップａは、前記動的回路条件に
関する変数と前記回路環境条件に関する変数とを含む第
１の補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記
動的回路条件変数の現行の値と、前記回路環境条件変数
の現行の値との組合せに応答して、前記第１補正値テー
ブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。ま
た、前記第１回路は、前記静的回路条件によっても特性
が変動する回路であってもよい。
つの回路部分が、前記動的回路条件と前記回路環境条件
とにより特性が変動する第１の回路を含む場合、該第１
回路について、前記ステップａは、前記動的回路条件に
関する変数と前記回路環境条件に関する変数とを含む第
１の補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記
動的回路条件変数の現行の値と、前記回路環境条件変数
の現行の値との組合せに応答して、前記第１補正値テー
ブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。ま
た、前記第１回路は、前記静的回路条件によっても特性
が変動する回路であってもよい。
【０００９】また、本発明によれば、前記少なくとも１
つの回路部分が、前記回路環境条件により特性が変動す
る第２の回路を含む場合、該第２回路について、前記ス
テップａは、前記回路環境条件に関する変数を含む第２
の補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記回
路環境条件変数の現行の値に応答して前記第２補正値テ
ーブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。
また、前記第２回路は、前記静的回路条件によっても特
性が変動する回路であってもよい。
つの回路部分が、前記回路環境条件により特性が変動す
る第２の回路を含む場合、該第２回路について、前記ス
テップａは、前記回路環境条件に関する変数を含む第２
の補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記回
路環境条件変数の現行の値に応答して前記第２補正値テ
ーブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。
また、前記第２回路は、前記静的回路条件によっても特
性が変動する回路であってもよい。
【００１０】本発明によれば、前記少なくとも１つの回
路部分が、前記動的回路条件のみにより特性が変動する
第３の回路を含む場合、該第３回路について、前記ステ
ップａは、前記動的回路条件に関する変数を含む第３の
補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記動的
回路条件変数の現行の値に応答して前記第３補正値テー
ブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。前
記第３回路は、前記静的回路条件によっても特性が変動
する回路であってもよい。
路部分が、前記動的回路条件のみにより特性が変動する
第３の回路を含む場合、該第３回路について、前記ステ
ップａは、前記動的回路条件に関する変数を含む第３の
補正値テーブルを作成し、前記ステップｃは、前記動的
回路条件変数の現行の値に応答して前記第３補正値テー
ブルから補正値を検索して使用する、ようにできる。前
記第３回路は、前記静的回路条件によっても特性が変動
する回路であってもよい。
【００１１】本発明によれば、前記少なくとも１つの回
路部分が、前記静的回路条件のみにより特性が変動する
第４の回路を含む場合、該第４回路について、前記ステ
ップａは、前記信号処理回路の前記出力信号の大きさに
関する変数を含む第４の補正値テーブルを作成し、前記
ステップｃは、前記出力信号の変数の現行の値に応答し
て前記第４補正値テーブルから補正値を検索して使用す
る、ようにすることができる。
路部分が、前記静的回路条件のみにより特性が変動する
第４の回路を含む場合、該第４回路について、前記ステ
ップａは、前記信号処理回路の前記出力信号の大きさに
関する変数を含む第４の補正値テーブルを作成し、前記
ステップｃは、前記出力信号の変数の現行の値に応答し
て前記第４補正値テーブルから補正値を検索して使用す
る、ようにすることができる。
【００１２】本発明によれば、前記動的回路条件、前記
回路環境条件、及び前記静的回路条件の各々は、少なく
とも１つの変数から成ることができる。
回路環境条件、及び前記静的回路条件の各々は、少なく
とも１つの変数から成ることができる。
【００１３】また、本発明により提供する信号処理回路
補正装置は、入力信号を受けそして出力信号を発生する
信号処理回路であって、静的回路条件、動的回路条件、
及び回路環境条件の内の少なくとも１つの条件により特
性が変動する、少なくとも１つの回路部分を含む信号処
理回路において、ａ）前記少なくとも１つの回路部分の
特性の変動を補正するため、前記信号処理回路の出力信
号に対し施す補正についての補正値データを生成する補
正データ生成手段、ｂ）前記信号処理回路からの出力信
号を受けるように接続しておりかつ前記補正データ生成
手段からの前記補正値データを受けるように接続してお
り、前記少なくとも１つの回路部分の対応する各前記補
正値データに従って、前記出力信号に対し補正を行っ
て、最終的な出力信号を生成する補正手段、を含むよう
に構成する。
補正装置は、入力信号を受けそして出力信号を発生する
信号処理回路であって、静的回路条件、動的回路条件、
及び回路環境条件の内の少なくとも１つの条件により特
性が変動する、少なくとも１つの回路部分を含む信号処
理回路において、ａ）前記少なくとも１つの回路部分の
特性の変動を補正するため、前記信号処理回路の出力信
号に対し施す補正についての補正値データを生成する補
正データ生成手段、ｂ）前記信号処理回路からの出力信
号を受けるように接続しておりかつ前記補正データ生成
手段からの前記補正値データを受けるように接続してお
り、前記少なくとも１つの回路部分の対応する各前記補
正値データに従って、前記出力信号に対し補正を行っ
て、最終的な出力信号を生成する補正手段、を含むよう
に構成する。
【００１４】
【実施例】図１には、本発明による一括補正処理を行う
信号処理装置の基本構成を示す。この信号処理装置Ａ
は、大きく分けて、信号処理回路部１０と、動的回路条
件生成部３０と、補正データ生成部３２と、補正部３４
と、から成っている。信号処理回路部１０は、受ける入
力信号に対し信号処理を行うため、少なくとも１つの回
路、即ち、回路Ｃ１〜Ｃｎ（但しｎ≧１）を含んでい
る。
信号処理装置の基本構成を示す。この信号処理装置Ａ
は、大きく分けて、信号処理回路部１０と、動的回路条
件生成部３０と、補正データ生成部３２と、補正部３４
と、から成っている。信号処理回路部１０は、受ける入
力信号に対し信号処理を行うため、少なくとも１つの回
路、即ち、回路Ｃ１〜Ｃｎ（但しｎ≧１）を含んでい
る。
【００１５】本発明では、回路のタイプを３つの要素、
即ち、静的回路条件、動的回路条件、回路環境条件で区
別する。ここで、静的回路条件とは、回路に定常的に存
在するあるいは実質上不変の条件（例えば、使用した素
子の特性）のことであり、動的回路条件とは、回路に一
時的に存在するあるいは可変の条件（例えば、動作時の
周波数、減衰率、等）であり、そして回路環境条件と
は、回路が置かれている環境の条件（例えば、温度、湿
度、圧力、等）のことである。以下の表に、回路のタイ
プを示す。
即ち、静的回路条件、動的回路条件、回路環境条件で区
別する。ここで、静的回路条件とは、回路に定常的に存
在するあるいは実質上不変の条件（例えば、使用した素
子の特性）のことであり、動的回路条件とは、回路に一
時的に存在するあるいは可変の条件（例えば、動作時の
周波数、減衰率、等）であり、そして回路環境条件と
は、回路が置かれている環境の条件（例えば、温度、湿
度、圧力、等）のことである。以下の表に、回路のタイ
プを示す。
【００１６】
【表１】
表 １
回路タイプ 静的回路条件 動的回路条件 回路環境条件
１ 有り 有り 有り
２ 無し 有り 有り
３ 有り 無し 有り
４ 無し 無し 有り
５ 有り 有り 無し
６ 無し 有り 無し
７ 有り 無し 無し
【００１７】図１の回路Ｃ１は、回路タイプ１と２の例
であって、回路環境条件を検知する検知部Ｓ１と、選択
可能な複数の動作条件の１つを設定するための条件設定
部ＳＴ１とを備えている。回路Ｃ２は、回路タイプ３と
４の例であって、回路環境条件を検知するための検知部
Ｓ２のみを備えている。また、回路Ｃ３は、回路タイプ
５と６の例であり、選択可能な複数の動作条件の１つを
設定するための条件設定部ＳＴ３のみを備えている。回
路Ｃ４は、回路タイプ７の例であり、検知部や条件設定
部はない。
であって、回路環境条件を検知する検知部Ｓ１と、選択
可能な複数の動作条件の１つを設定するための条件設定
部ＳＴ１とを備えている。回路Ｃ２は、回路タイプ３と
４の例であって、回路環境条件を検知するための検知部
Ｓ２のみを備えている。また、回路Ｃ３は、回路タイプ
５と６の例であり、選択可能な複数の動作条件の１つを
設定するための条件設定部ＳＴ３のみを備えている。回
路Ｃ４は、回路タイプ７の例であり、検知部や条件設定
部はない。
【００１８】動的回路条件生成部３０は、回路Ｃ１，Ｃ
３、並びにその他の回路（図示せず）の条件設定部の各
々に対し、設定する個々の動作条件を生成する（図では
１本の線で簡略図示）。補正データ生成部３２は、回路
部１０内の回路Ｃ２等の検知部からの信号を受け、また
生成部３０が回路Ｃ１，Ｃ３等の条件設定部に対し発生
する動作条件と同じものを受けるように接続していて、
その出力に補正データを出力する。この補正データを受
ける補正部３４は、回路部１０の出力信号に対しその補
正データに従って補正を施して、補正済みの最終的な出
力信号を発生する。
３、並びにその他の回路（図示せず）の条件設定部の各
々に対し、設定する個々の動作条件を生成する（図では
１本の線で簡略図示）。補正データ生成部３２は、回路
部１０内の回路Ｃ２等の検知部からの信号を受け、また
生成部３０が回路Ｃ１，Ｃ３等の条件設定部に対し発生
する動作条件と同じものを受けるように接続していて、
その出力に補正データを出力する。この補正データを受
ける補正部３４は、回路部１０の出力信号に対しその補
正データに従って補正を施して、補正済みの最終的な出
力信号を発生する。
【００１９】本発明の１実施例では、補正データ生成部
３２には、回路部１０の本発明による補正を要する各回
路、あるいは各回路グループ（回路部１０の全体も含
む）に対応させて補正値テーブルＴ１〜Ｔｋ（但し、Ｋ
≧１）を含ませることができる。
３２には、回路部１０の本発明による補正を要する各回
路、あるいは各回路グループ（回路部１０の全体も含
む）に対応させて補正値テーブルＴ１〜Ｔｋ（但し、Ｋ
≧１）を含ませることができる。
【００２０】以上の構造の信号処理装置Ａでは、回路部
１０内の各回路の特性変動による誤差を、これら回路の
外部で、しかも回路部１０の出力側で一括して補正す
る。従って、回路部１０内の各回路は、入力信号に対し
有意なあるいは最低限の動作を確保できる程度のものと
することができ、理想的な特性を各回路で実現する必要
はなくなる。また、回路部１０内の各回路の区分けは、
必要とされる補正に都合の良いように行えばよい。
１０内の各回路の特性変動による誤差を、これら回路の
外部で、しかも回路部１０の出力側で一括して補正す
る。従って、回路部１０内の各回路は、入力信号に対し
有意なあるいは最低限の動作を確保できる程度のものと
することができ、理想的な特性を各回路で実現する必要
はなくなる。また、回路部１０内の各回路の区分けは、
必要とされる補正に都合の良いように行えばよい。
【００２１】次に、図２に、本発明の信号処理装置の１
実施例である測定機器、即ちＴＶレベルメータＢについ
て説明する。このＴＶレベルメータＢは、バッテリ駆動
も可能にしたものである。このレベルメータＢは、チュ
ーナ部１００、ＣＰＵ３００、液晶表示装置３０２
（例：１２８×１６０ドット）、ＲＡＭ３０４（ソフト
の１部を記憶）、ＥＰＲＯＭ３０６（ソフト、並びに補
正値テーブルを記憶）、ＥＥＰＲＯＭ３０８（データの
記憶用）、及びキー群３１０を備えている。
実施例である測定機器、即ちＴＶレベルメータＢについ
て説明する。このＴＶレベルメータＢは、バッテリ駆動
も可能にしたものである。このレベルメータＢは、チュ
ーナ部１００、ＣＰＵ３００、液晶表示装置３０２
（例：１２８×１６０ドット）、ＲＡＭ３０４（ソフト
の１部を記憶）、ＥＰＲＯＭ３０６（ソフト、並びに補
正値テーブルを記憶）、ＥＥＰＲＯＭ３０８（データの
記憶用）、及びキー群３１０を備えている。
【００２２】チューナ部１００は、入力端子に接続した
プログラマブルの高周波アッテネータ（ＲＦ ＡＴＴ）
１１０（１０ｄＢステップで０〜６０ｄＢの減衰）と、
この減衰出力を受けるＴＶ回路部１２０及びＳＡＴ回路
部１４０と、を備えている。
プログラマブルの高周波アッテネータ（ＲＦ ＡＴＴ）
１１０（１０ｄＢステップで０〜６０ｄＢの減衰）と、
この減衰出力を受けるＴＶ回路部１２０及びＳＡＴ回路
部１４０と、を備えている。
【００２３】ＴＶ回路部１２０は、ＲＦ ＡＴＴ１１０
の減衰出力を受けるＶＨＦ／ＵＨＦのＰＬＬチューナ１
２１、この第１のＩＦ出力（３４.７ＭＨｚ）を受け
る、ピン・ダイオードを用いたピン・アッテネータ（減
衰量をコントロール電圧で制御）を含むプログラマブル
中間周波アッテネータ（ＩＦ ＡＴＴ）１２２（５ｄＢ
ステップで０〜６５ｄＢの減衰）、第２のＩＦ周波数
（１０.７ＭＨｚ）に変換するコンバータ１２３（局部
発振周波数は４５.４ＭＨｚ）、これの出力を受けるバ
ンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１２４（中心周波数が１
０.７ＭＨｚで、帯域幅が２８０ＫＨｚ）、この出力を
受けるＩＦ増幅器１２５、この出力を受けるピーク検出
器１２６、を備えている。このピーク検出器の出力は、
ＣＰＵ３００の１０ビットＡ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）
３１２の入力（対数入力）に接続している。ＣＰＵ３０
０は、ピーク検出器出力が０〜９ｄＢ（即ち、２〜５ボ
ルト）の範囲内に入るように、ＲＦ ＡＴＴ１１０、Ｉ
Ｆ ＡＴＴ１２１の各減衰量設定入力に対し減衰量指定
信号を与えて、オートレンジ動作するようになってい
る。また、ＣＰＵ３００は、チューナ１２１に対し、同
調周波数を指定する信号を供給する。
の減衰出力を受けるＶＨＦ／ＵＨＦのＰＬＬチューナ１
２１、この第１のＩＦ出力（３４.７ＭＨｚ）を受け
る、ピン・ダイオードを用いたピン・アッテネータ（減
衰量をコントロール電圧で制御）を含むプログラマブル
中間周波アッテネータ（ＩＦ ＡＴＴ）１２２（５ｄＢ
ステップで０〜６５ｄＢの減衰）、第２のＩＦ周波数
（１０.７ＭＨｚ）に変換するコンバータ１２３（局部
発振周波数は４５.４ＭＨｚ）、これの出力を受けるバ
ンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１２４（中心周波数が１
０.７ＭＨｚで、帯域幅が２８０ＫＨｚ）、この出力を
受けるＩＦ増幅器１２５、この出力を受けるピーク検出
器１２６、を備えている。このピーク検出器の出力は、
ＣＰＵ３００の１０ビットＡ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）
３１２の入力（対数入力）に接続している。ＣＰＵ３０
０は、ピーク検出器出力が０〜９ｄＢ（即ち、２〜５ボ
ルト）の範囲内に入るように、ＲＦ ＡＴＴ１１０、Ｉ
Ｆ ＡＴＴ１２１の各減衰量設定入力に対し減衰量指定
信号を与えて、オートレンジ動作するようになってい
る。また、ＣＰＵ３００は、チューナ１２１に対し、同
調周波数を指定する信号を供給する。
【００２４】ＳＡＴ回路部１４０は、ＲＦ ＡＴＴ出力
に接続したＢＳ／ＣＳチューナ１４１（２４ＭＨｚの帯
域）と、このチューナの検波出力を増幅する直流増幅器
（ＤＣ ＡＭＰ）１４２とを備えている。増幅器１４２
の出力は、同じくＣＰＵ３００のＡＤＣ３１２の入力
（対数入力）に接続している。ＣＰＵ３００は、増幅器
１４２の出力が、０〜３０ｄＢの範囲内に入るように、
ＲＦ ＡＴＴ１１０に対し減衰量指定信号を与える。ま
た、ＣＰＵ３００は、チューナ１４１に対し、同調周波
数を指定する信号を供給する。
に接続したＢＳ／ＣＳチューナ１４１（２４ＭＨｚの帯
域）と、このチューナの検波出力を増幅する直流増幅器
（ＤＣ ＡＭＰ）１４２とを備えている。増幅器１４２
の出力は、同じくＣＰＵ３００のＡＤＣ３１２の入力
（対数入力）に接続している。ＣＰＵ３００は、増幅器
１４２の出力が、０〜３０ｄＢの範囲内に入るように、
ＲＦ ＡＴＴ１１０に対し減衰量指定信号を与える。ま
た、ＣＰＵ３００は、チューナ１４１に対し、同調周波
数を指定する信号を供給する。
【００２５】チューナ部１００は、更に、ＶＨＦ／ＵＨ
Ｆチューナ１２１と、ＩＦ ＡＴＴ１２２と、ＩＦ ＡＭ
Ｐ１２５の温度を検知するための温度センサ１２７，１
２８，１２９と、そしてＢＳ／ＣＳチューナ１４１の温
度を検知するための温度センサ１４３と、を備えてい
る。それら各温度センサの出力は、マルチプレクサ１５
０を介してＡＤＣ３１２の入力に接続している。
Ｆチューナ１２１と、ＩＦ ＡＴＴ１２２と、ＩＦ ＡＭ
Ｐ１２５の温度を検知するための温度センサ１２７，１
２８，１２９と、そしてＢＳ／ＣＳチューナ１４１の温
度を検知するための温度センサ１４３と、を備えてい
る。それら各温度センサの出力は、マルチプレクサ１５
０を介してＡＤＣ３１２の入力に接続している。
【００２６】ＡＤＣ３１２は、３つの入力、即ちピーク
検出器１２６からの入力、直流増幅器１４２からの入
力、及びマルチプレクサ１５０からの入力の内、ＣＰＵ
３００により指定されたものを、変換してＣＰＵ３００
に供給する。
検出器１２６からの入力、直流増幅器１４２からの入
力、及びマルチプレクサ１５０からの入力の内、ＣＰＵ
３００により指定されたものを、変換してＣＰＵ３００
に供給する。
【００２７】次に、図３に、ＴＶ回路系統における各回
路について、レベル誤差を発生させる条件あるいは要因
を示す。図示のように、本実施例では、ＲＦ ＡＴＴ１
１０は、動作時の周波数と減衰量の２つの動的回路条件
をもっている。次のチューナ１２１については、回路環
境条件として温度、動的回路条件として周波数、そして
静的回路条件として変換利得（素子のバラツキにより生
じる）がある。図４から図１１には、このチューナ１２
１のＶＨＦ（Ｌ）帯からＶＨＦ（Ｓ）帯、更にＵＨＦ帯
までの温度対ＧＡＩＮ特性を示す。図から分かるよう
に、複雑な変化をしている。ＩＦ ＡＴＴ１２２につい
ては、上記のようにピン・アッテネータを使っており、
このアッテネータは、図１２に示したように、減衰量が
大きくなる程、温度による減衰量の誤差が大きくなって
いる。コンバータ（ＣＯＮＶＥＲＴＥＲ）１２３、ＢＰ
Ｆ１２４及びピーク検出器１２６については、使用素子
のバラツキに起因する検波直線性、という静的回路条件
しかない。また、ＲＦ ＡＴＴ１１０とＴＶ回路部１２
０とを含むＴＶ系統全体では、ＴＯＴＡＬ利得という静
的条件がある。
路について、レベル誤差を発生させる条件あるいは要因
を示す。図示のように、本実施例では、ＲＦ ＡＴＴ１
１０は、動作時の周波数と減衰量の２つの動的回路条件
をもっている。次のチューナ１２１については、回路環
境条件として温度、動的回路条件として周波数、そして
静的回路条件として変換利得（素子のバラツキにより生
じる）がある。図４から図１１には、このチューナ１２
１のＶＨＦ（Ｌ）帯からＶＨＦ（Ｓ）帯、更にＵＨＦ帯
までの温度対ＧＡＩＮ特性を示す。図から分かるよう
に、複雑な変化をしている。ＩＦ ＡＴＴ１２２につい
ては、上記のようにピン・アッテネータを使っており、
このアッテネータは、図１２に示したように、減衰量が
大きくなる程、温度による減衰量の誤差が大きくなって
いる。コンバータ（ＣＯＮＶＥＲＴＥＲ）１２３、ＢＰ
Ｆ１２４及びピーク検出器１２６については、使用素子
のバラツキに起因する検波直線性、という静的回路条件
しかない。また、ＲＦ ＡＴＴ１１０とＴＶ回路部１２
０とを含むＴＶ系統全体では、ＴＯＴＡＬ利得という静
的条件がある。
【００２８】ＳＡＴ回路系統の回路のレベル誤差発生条
件については、チューナ１４１に、チューナ１２１と同
様の条件があり、またピーク検出器１２６と同様の検波
直線性という静的回路条件がある。尚、ＳＡＴ回路系統
についての補正方法は、ＴＶ回路系統についての補正方
法と同様に行えるため、以下の説明では省略する。
件については、チューナ１４１に、チューナ１２１と同
様の条件があり、またピーク検出器１２６と同様の検波
直線性という静的回路条件がある。尚、ＳＡＴ回路系統
についての補正方法は、ＴＶ回路系統についての補正方
法と同様に行えるため、以下の説明では省略する。
【００２９】次に、本実施例において使用する補正テー
ブルについて説明する。ＴＶ回路系統で使用する補正テ
ーブルは、５つあり、図３に示したように、補正テーブ
ルＸ１〜Ｘ５である。テーブルＸ１は、２つの回路ブロ
ックの補正を受け持つ。ＣＯＮＶＥＲＴＥＲとＢＰＦと
については、個別に補正テーブルを設けない。その代わ
り、チューナ１２１の変換利得を含むＴＶ系統全体のＴ
ＯＴＡＬ利得について、１つのテーブルＸ５を設けてい
る。
ブルについて説明する。ＴＶ回路系統で使用する補正テ
ーブルは、５つあり、図３に示したように、補正テーブ
ルＸ１〜Ｘ５である。テーブルＸ１は、２つの回路ブロ
ックの補正を受け持つ。ＣＯＮＶＥＲＴＥＲとＢＰＦと
については、個別に補正テーブルを設けない。その代わ
り、チューナ１２１の変換利得を含むＴＶ系統全体のＴ
ＯＴＡＬ利得について、１つのテーブルＸ５を設けてい
る。
【００３０】次に、補正テーブルＸ１〜Ｘ５について、
その作成方法並びにテーブルの例について以下に説明す
る。
その作成方法並びにテーブルの例について以下に説明す
る。
【００３１】図１３には、補正テーブルＸ１を作成する
ためのフローを示している。まず始めに、ステップ１１
００で、温度変数ｍ，減衰量変数ｊ，周波数変数ｉを初
期設定し、そして図２の入力端子に印加する規準入力の
レベルを７０ｄＢｕＶとする。尚、この補正テーブルを
作成している間は、ＴＶ系統内のその他の回路について
は、温度、周波数、減衰量等の変動要因は、一定に保
つ。次のステップ１１０２は、温度設定値Ｔ１を１０Ｃ
ステップで変化させ、ステップ１１０４は、減衰量設定
値Ａ１を１０ｄＢステップで変化させ、そしてステップ
１１０６は、周波数設定値Ｆを、０.０５ＭＨｚで変え
るステップである。ステップ１１０８〜１１１２を通る
最初のパスでは、Ｔ１＝−１０Ｃ，Ａ１＝０ｄＢ，Ｆ＝
４６ＭＨｚの設定値の下で、入力レベル測定、即ち、ピ
ーク検出器１２６の出力レベルＮ（Ａ／Ｄ変換後のも
の）を測定する。そしてこれから、補正値Ｄ１を、測定
レベルから規準レベルを引いたものに−１を乗算して算
出する。次に、この算出した補正値Ｄ１を、テーブルＸ
１の変数ｉ，ｊ，ｍ（最初のパスでは０，０，０）で定
まる箇所に記憶する。ステップ１１１４では、変数ｉを
１増分して、次の周波数設定値への準備をする。ステッ
プ１１１６では、Ｆ＝８７０ＭＨｚとなるまでステップ
１１０６にループさせて、周波数設定値Ｆが４６〜８７
０ＭＨｚの範囲での測定を行う。これが終了すると、ス
テップ１１１８で、再び周波数設定変数ｉを０として、
再び４６〜８７０ＭＨｚの周波数設定範囲での測定を行
えるようにする。ステップ１１２０では、減衰量変数ｊ
を１増分して、次の減衰量設定値へ準備する。ステップ
１１２２では、Ａ１＝６０ｄＢとなるまでステップ１１
０４にループさせて、減衰量設定値０〜６０ｄＢの範囲
での測定を行わせる。これが終了すると、ステップ１１
２４で、減衰量変数ｊ＝０として、再び０〜６０ｄＢの
減衰量設定範囲での測定を行えるようにする。次に、ス
テップ１１２６では、温度変数ｍを１増分して、次の温
度設定値への準備を行う。続くステップ１１２８では、
Ｔ１＝６０Ｃとなるまでステップ１１０２にループさせ
て、温度設定値０〜６０Ｃの範囲での測定を行わせる。
これが終了した時、テーブルＸ１の作成が完了する。
ためのフローを示している。まず始めに、ステップ１１
００で、温度変数ｍ，減衰量変数ｊ，周波数変数ｉを初
期設定し、そして図２の入力端子に印加する規準入力の
レベルを７０ｄＢｕＶとする。尚、この補正テーブルを
作成している間は、ＴＶ系統内のその他の回路について
は、温度、周波数、減衰量等の変動要因は、一定に保
つ。次のステップ１１０２は、温度設定値Ｔ１を１０Ｃ
ステップで変化させ、ステップ１１０４は、減衰量設定
値Ａ１を１０ｄＢステップで変化させ、そしてステップ
１１０６は、周波数設定値Ｆを、０.０５ＭＨｚで変え
るステップである。ステップ１１０８〜１１１２を通る
最初のパスでは、Ｔ１＝−１０Ｃ，Ａ１＝０ｄＢ，Ｆ＝
４６ＭＨｚの設定値の下で、入力レベル測定、即ち、ピ
ーク検出器１２６の出力レベルＮ（Ａ／Ｄ変換後のも
の）を測定する。そしてこれから、補正値Ｄ１を、測定
レベルから規準レベルを引いたものに−１を乗算して算
出する。次に、この算出した補正値Ｄ１を、テーブルＸ
１の変数ｉ，ｊ，ｍ（最初のパスでは０，０，０）で定
まる箇所に記憶する。ステップ１１１４では、変数ｉを
１増分して、次の周波数設定値への準備をする。ステッ
プ１１１６では、Ｆ＝８７０ＭＨｚとなるまでステップ
１１０６にループさせて、周波数設定値Ｆが４６〜８７
０ＭＨｚの範囲での測定を行う。これが終了すると、ス
テップ１１１８で、再び周波数設定変数ｉを０として、
再び４６〜８７０ＭＨｚの周波数設定範囲での測定を行
えるようにする。ステップ１１２０では、減衰量変数ｊ
を１増分して、次の減衰量設定値へ準備する。ステップ
１１２２では、Ａ１＝６０ｄＢとなるまでステップ１１
０４にループさせて、減衰量設定値０〜６０ｄＢの範囲
での測定を行わせる。これが終了すると、ステップ１１
２４で、減衰量変数ｊ＝０として、再び０〜６０ｄＢの
減衰量設定範囲での測定を行えるようにする。次に、ス
テップ１１２６では、温度変数ｍを１増分して、次の温
度設定値への準備を行う。続くステップ１１２８では、
Ｔ１＝６０Ｃとなるまでステップ１１０２にループさせ
て、温度設定値０〜６０Ｃの範囲での測定を行わせる。
これが終了した時、テーブルＸ１の作成が完了する。
【００３２】図１４には、このテーブルＸ１の１例を示
してある。この例では、図示の都合上、補正値は、小数
点以下を切り捨ててある（実際には、最長で小数点以下
７桁目まである）。
してある。この例では、図示の都合上、補正値は、小数
点以下を切り捨ててある（実際には、最長で小数点以下
７桁目まである）。
【００３３】図１５は、ＩＦ ＡＴＴ１２２用の補正テ
ーブルＸ２の１例である。このテーブルの作成は、図１
３のフローと同様のフロー（但し、周波数設定に関する
ステップは不要）で作成できるため、その作成手順の説
明は省略する。このテーブルＸ２の場合、ＩＦ減衰量設
定Ａ２は０〜６５ｄＢ（５ｄＢステップ）であって、Ａ
２＝５＊ｋ（ｋは０〜１３のＩＦ減衰量変数）。温度設
定Ｔ２の範囲は同じであって、Ｔ２＝（−１０）＋１０
＊ｎである（ｎ＝０〜７）。
ーブルＸ２の１例である。このテーブルの作成は、図１
３のフローと同様のフロー（但し、周波数設定に関する
ステップは不要）で作成できるため、その作成手順の説
明は省略する。このテーブルＸ２の場合、ＩＦ減衰量設
定Ａ２は０〜６５ｄＢ（５ｄＢステップ）であって、Ａ
２＝５＊ｋ（ｋは０〜１３のＩＦ減衰量変数）。温度設
定Ｔ２の範囲は同じであって、Ｔ２＝（−１０）＋１０
＊ｎである（ｎ＝０〜７）。
【００３４】図１６は、ＩＦ ＡＭＰ１２５用の補正テ
ーブルＸ３の１例である。このテーブルの作成も、図１
３と類似のフロー（但し、周波数設定、減衰量設定に関
するステップは不要）で行えるため、その手順の説明は
省略する。尚、温度設定Ｔ３の範囲は上記のものと同じ
であり、Ｔ３＝（−１０）＋１０＊ｐである（ｐ＝０〜
７）。
ーブルＸ３の１例である。このテーブルの作成も、図１
３と類似のフロー（但し、周波数設定、減衰量設定に関
するステップは不要）で行えるため、その手順の説明は
省略する。尚、温度設定Ｔ３の範囲は上記のものと同じ
であり、Ｔ３＝（−１０）＋１０＊ｐである（ｐ＝０〜
７）。
【００３５】次に、図１７、図１８を参照して、ピーク
検出器１２６用の補正テーブルＸ４の作成手順について
説明する。まず始めに、ステップ１２６０で、初期設定
を行い、チューナ部１００の入力端子に印加する入力の
レベルを７９ｄＢｕＶとする。ループカウンタａ＝９と
したのは、ピーク検出器１２６は、前述のように、その
出力レベルが０〜９ｄＢ（２〜５ボルト）の範囲内で使
用するようにしているからである。尚、図１３で説明し
たように、ＴＶ系統内のその他の回路については、その
各変動要因は一定に保つ。次のステップ１２６２で、入
力レベルＬ＝７９ｄＢｕＶをチューナ部の入力端子に印
加したときのピーク検出器の出力のＡ／Ｄ変換したもの
をＮとし、そしてステップ１２６４で、テーブルＸ４の
変数ａの箇所に記憶させる。続くステップ１２６６で
は、変数ａを１減分し、そしてステップ１２６８で、入
力レベルＬを１ｄＢｕＶ減らす。ステップ１２７０で
は、ａ＝−１となるまでステップ１２６２にループさせ
て、ａ（即ちピーク検出器の出力レベル）＝９〜０、即
ち入力レベル７９〜７０ｄＢｕＶの範囲での測定を行わ
せる。これが終了したとき、図１８の、“＜ ＞”で示
した箇所の測定を終えたことになる。即ち、入力レベル
が７９ｄＢｕＶの時、出力レベルは９.０ｄＢであっ
て、その時の測定Ａ／Ｄ値が９９２であり、同様に７１
ｄＢｕＶの時、出力レベルは１.０ｄＢであって、その
時の測定Ａ／Ｄ値が３９８であり、そして７０ｄＢｕＶ
の時の出力レベルは０.０ｄＢであって、測定Ａ／Ｄ値
が３８０である（ａを９から０に変えた時の全ての測定
Ａ／Ｄ値は、９９２（図示），７５１，６２５，５５
０，４９１，４５５，４３０，４１５，３９８（図
示），３８０（図示）である）。但し、ＡＤＣ３１２の
入力レベルは０〜５ボルトである。
検出器１２６用の補正テーブルＸ４の作成手順について
説明する。まず始めに、ステップ１２６０で、初期設定
を行い、チューナ部１００の入力端子に印加する入力の
レベルを７９ｄＢｕＶとする。ループカウンタａ＝９と
したのは、ピーク検出器１２６は、前述のように、その
出力レベルが０〜９ｄＢ（２〜５ボルト）の範囲内で使
用するようにしているからである。尚、図１３で説明し
たように、ＴＶ系統内のその他の回路については、その
各変動要因は一定に保つ。次のステップ１２６２で、入
力レベルＬ＝７９ｄＢｕＶをチューナ部の入力端子に印
加したときのピーク検出器の出力のＡ／Ｄ変換したもの
をＮとし、そしてステップ１２６４で、テーブルＸ４の
変数ａの箇所に記憶させる。続くステップ１２６６で
は、変数ａを１減分し、そしてステップ１２６８で、入
力レベルＬを１ｄＢｕＶ減らす。ステップ１２７０で
は、ａ＝−１となるまでステップ１２６２にループさせ
て、ａ（即ちピーク検出器の出力レベル）＝９〜０、即
ち入力レベル７９〜７０ｄＢｕＶの範囲での測定を行わ
せる。これが終了したとき、図１８の、“＜ ＞”で示
した箇所の測定を終えたことになる。即ち、入力レベル
が７９ｄＢｕＶの時、出力レベルは９.０ｄＢであっ
て、その時の測定Ａ／Ｄ値が９９２であり、同様に７１
ｄＢｕＶの時、出力レベルは１.０ｄＢであって、その
時の測定Ａ／Ｄ値が３９８であり、そして７０ｄＢｕＶ
の時の出力レベルは０.０ｄＢであって、測定Ａ／Ｄ値
が３８０である（ａを９から０に変えた時の全ての測定
Ａ／Ｄ値は、９９２（図示），７５１，６２５，５５
０，４９１，４５５，４３０，４１５，３９８（図
示），３８０（図示）である）。但し、ＡＤＣ３１２の
入力レベルは０〜５ボルトである。
【００３６】続くステップ１２７２では、上記測定Ａ／
Ｄ値から、Ａ／Ｄ値が０〜１０２３の範囲での出力レベ
ルを、直線補間により算出して、図１８のテーブルを作
成する。
Ｄ値から、Ａ／Ｄ値が０〜１０２３の範囲での出力レベ
ルを、直線補間により算出して、図１８のテーブルを作
成する。
【００３７】以上で、相対的な補正値を与える補正テー
ブルＸ１〜Ｘ４が得られる。
ブルＸ１〜Ｘ４が得られる。
【００３８】次に、図１９を参照して、ＴＯＴＡＬ利得
（絶対値）に関する補正テーブルＸ５について説明す
る。この補正テーブルは、本実施例では、計算フローで
実現している。但し、Ｘ１〜Ｘ４のようなテーブルの形
にすることも可能である。まず始めに、ステップ１３０
０で、初期設定を行い、チューナ部１００の入力端子に
印加する規準入力のレベルとその周波数とを定めて、Ｔ
Ｖ系統の異なった動作状態の内の１点におけるＴＯＴＡ
Ｌ利得を調べるようにする。最初のステップ１３０２〜
１３０６では、チューナ部をある固定の動作状態に置
く。即ち、ステップ１３０２では、チューナ１２１の同
調周波数Ｆを１００ＭＨｚに設定して、この時の補正テ
ーブルＸ１のアドレスｉを算出する（図１３のステップ
１１０６の式を参照）。ステップ１３０４では、チュー
ナ１２１をある特定のＲＦ減衰量Ａ１に設定し、そして
この時の補正テーブルＸ１のアドレスｊを算出する（図
１３のステップ１１０４の式を参照）。ステップ１３０
６では、ＩＦ ＡＴＴ１２２をある特定のＩＦ減衰量Ａ
２に設定して、この時の補正テーブルＸ２のアドレスｋ
を算出する（前述のＡ２＝５＊ｋより算出）。続く一連
のステップ１３０８〜１３１２では、現在のチューナ部
の各部の温度を検知する。即ち、ステップ１３０８で
は、チューナ１２１の温度Ｔ１を測定し、この測定値か
ら補正テーブルＸ１のアドレスｍを算出する（図１３の
ステップ１１０２の式を参照）。ステップ１３１０で
は、ＩＦ ＡＴＴ１２２の温度Ｔ２を測定して、これか
ら補正テーブルＸ２のアドレスｎを算出する（ステップ
１３０８と同様の式）。同じくステップ１３１２で、Ｉ
Ｆ ＡＭＰ１２５の温度Ｔ３を測定して、これから補正
テーブルＸ３のアドレスｐを算出する（ステップ１３０
８と同様の式）。次のステップ１３１４で、ピーク検出
器の出力レベルを測定して、その測定値Ｍ（Ｖ）から、
補正テーブルＸ４のアドレスｑを算出する。その算出式
は、例えばＭ＝５ボルト（９ｄＢに対応）の時、５＊１
９８.４＝９９２となり、補正テーブルＸ４のアドレス
ｑとなる。その他の値についても同様である。尚、２＊
１９８.４＝３９６.８となるが（テーブルＸ４では３８
０となっている）、このような多少のずれは、許容可能
である。
（絶対値）に関する補正テーブルＸ５について説明す
る。この補正テーブルは、本実施例では、計算フローで
実現している。但し、Ｘ１〜Ｘ４のようなテーブルの形
にすることも可能である。まず始めに、ステップ１３０
０で、初期設定を行い、チューナ部１００の入力端子に
印加する規準入力のレベルとその周波数とを定めて、Ｔ
Ｖ系統の異なった動作状態の内の１点におけるＴＯＴＡ
Ｌ利得を調べるようにする。最初のステップ１３０２〜
１３０６では、チューナ部をある固定の動作状態に置
く。即ち、ステップ１３０２では、チューナ１２１の同
調周波数Ｆを１００ＭＨｚに設定して、この時の補正テ
ーブルＸ１のアドレスｉを算出する（図１３のステップ
１１０６の式を参照）。ステップ１３０４では、チュー
ナ１２１をある特定のＲＦ減衰量Ａ１に設定し、そして
この時の補正テーブルＸ１のアドレスｊを算出する（図
１３のステップ１１０４の式を参照）。ステップ１３０
６では、ＩＦ ＡＴＴ１２２をある特定のＩＦ減衰量Ａ
２に設定して、この時の補正テーブルＸ２のアドレスｋ
を算出する（前述のＡ２＝５＊ｋより算出）。続く一連
のステップ１３０８〜１３１２では、現在のチューナ部
の各部の温度を検知する。即ち、ステップ１３０８で
は、チューナ１２１の温度Ｔ１を測定し、この測定値か
ら補正テーブルＸ１のアドレスｍを算出する（図１３の
ステップ１１０２の式を参照）。ステップ１３１０で
は、ＩＦ ＡＴＴ１２２の温度Ｔ２を測定して、これか
ら補正テーブルＸ２のアドレスｎを算出する（ステップ
１３０８と同様の式）。同じくステップ１３１２で、Ｉ
Ｆ ＡＭＰ１２５の温度Ｔ３を測定して、これから補正
テーブルＸ３のアドレスｐを算出する（ステップ１３０
８と同様の式）。次のステップ１３１４で、ピーク検出
器の出力レベルを測定して、その測定値Ｍ（Ｖ）から、
補正テーブルＸ４のアドレスｑを算出する。その算出式
は、例えばＭ＝５ボルト（９ｄＢに対応）の時、５＊１
９８.４＝９９２となり、補正テーブルＸ４のアドレス
ｑとなる。その他の値についても同様である。尚、２＊
１９８.４＝３９６.８となるが（テーブルＸ４では３８
０となっている）、このような多少のずれは、許容可能
である。
【００３９】次に、ステップ１３１６〜１３２２で、先
に算出したアドレスｉ，ｊ，ｋ，ｍ，ｎ，ｐ，ｑを使っ
て補正テーブルＸ１〜Ｘ４からの各補正値を呼び出し、
そしてそのそれぞれをＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４とする。
但し、アドレスｍ，ｎ，ｐ，ｑが小数点以下を含む場合
は、直線補間等の補間方法を使ってＤ１〜Ｄ４を算出す
ればよい。最後のステップ１３２４では、規準入力レベ
ルＬから各補正値Ｄ１〜Ｄ４及び減衰量Ａ１，Ａ２を減
算することにより、ＴＯＴＡＬ利得に関する補正値Ｘ５
を得る。
に算出したアドレスｉ，ｊ，ｋ，ｍ，ｎ，ｐ，ｑを使っ
て補正テーブルＸ１〜Ｘ４からの各補正値を呼び出し、
そしてそのそれぞれをＤ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４とする。
但し、アドレスｍ，ｎ，ｐ，ｑが小数点以下を含む場合
は、直線補間等の補間方法を使ってＤ１〜Ｄ４を算出す
ればよい。最後のステップ１３２４では、規準入力レベ
ルＬから各補正値Ｄ１〜Ｄ４及び減衰量Ａ１，Ａ２を減
算することにより、ＴＯＴＡＬ利得に関する補正値Ｘ５
を得る。
【００４０】以上で、補正テーブルの作成手順について
説明した。
説明した。
【００４１】次に、図２０を参照して、補正テーブルＸ
１〜４及び補正値Ｘ５を使ってのＴＶレベルメータによ
る測定の手順について説明する。図２０の測定フロー
は、図１９のフローと類似のものであり、ステップ１３
５０〜１３７０は、ステップ１３０２〜１３２２と同じ
である。但し、ステップ１３５０では、Ｆは、測定する
周波数に設定する。ステップ１３７２では、図１９で得
た補正値Ｘ５を呼び出してＤ５とする。最後のステップ
１３７４では、本ＴＶレベルメータに入力された信号の
レベルＬを、Ｄ１〜Ｄ５とＡ１，Ａ２を互いに加算する
ことにより算出する。
１〜４及び補正値Ｘ５を使ってのＴＶレベルメータによ
る測定の手順について説明する。図２０の測定フロー
は、図１９のフローと類似のものであり、ステップ１３
５０〜１３７０は、ステップ１３０２〜１３２２と同じ
である。但し、ステップ１３５０では、Ｆは、測定する
周波数に設定する。ステップ１３７２では、図１９で得
た補正値Ｘ５を呼び出してＤ５とする。最後のステップ
１３７４では、本ＴＶレベルメータに入力された信号の
レベルＬを、Ｄ１〜Ｄ５とＡ１，Ａ２を互いに加算する
ことにより算出する。
【００４２】図２１には、以上に説明したＴＶレベルメ
ータのＴＶ系統の温度特性について、補正前（Ａ）と補
正後（Ｂ）のものを示してある。図から分かるように、
補正前では温度による変動幅が２〜３ｄＢあったのに対
し、補正後では、１ｄＢ以下となっている。参考のた
め、図２２に、ＳＡＴ系統の温度特性についても示す。
図から分かるように、５〜６ｄＢの変動幅が、補正後で
は、ほぼ１ｄＢ以下となっている）。このような、７８
〜６７０ＭＨｚの広帯域に亙る補正を在来の回路技術の
みで行うのは、非常に困難である。
ータのＴＶ系統の温度特性について、補正前（Ａ）と補
正後（Ｂ）のものを示してある。図から分かるように、
補正前では温度による変動幅が２〜３ｄＢあったのに対
し、補正後では、１ｄＢ以下となっている。参考のた
め、図２２に、ＳＡＴ系統の温度特性についても示す。
図から分かるように、５〜６ｄＢの変動幅が、補正後で
は、ほぼ１ｄＢ以下となっている）。このような、７８
〜６７０ＭＨｚの広帯域に亙る補正を在来の回路技術の
みで行うのは、非常に困難である。
【００４３】以上、測定装置を実施例として本発明につ
いて説明したが、これは１例に過ぎず、その他の各種の
信号処理装置に適用することができる。
いて説明したが、これは１例に過ぎず、その他の各種の
信号処理装置に適用することができる。
【００４４】
【発明の効果】以上に述べた本発明の信号処理補正法に
よれば、ウォーミングアップ時間を実質上不要にして、
機器の電源投入後、即座に測定／使用を可能にすること
ができる。また、機器のバッテリ駆動が可能、あるいは
バッテリ駆動に向くようにすることができる。更に、従
来の回路技術では困難あるいは不可能であった複雑な特
性変動について、その補正を比較的簡単に行うことがで
きる。また、高い確度の機器を、低コストで実現するこ
とも可能となる。
よれば、ウォーミングアップ時間を実質上不要にして、
機器の電源投入後、即座に測定／使用を可能にすること
ができる。また、機器のバッテリ駆動が可能、あるいは
バッテリ駆動に向くようにすることができる。更に、従
来の回路技術では困難あるいは不可能であった複雑な特
性変動について、その補正を比較的簡単に行うことがで
きる。また、高い確度の機器を、低コストで実現するこ
とも可能となる。
【図１】本発明による一括補正処理を行う信号処理装置
の基本構成を示す図。
の基本構成を示す図。
【図２】本発明の信号処理装置の１実施例である測定機
器、即ちＴＶレベルメータＢを示すブロック図。
器、即ちＴＶレベルメータＢを示すブロック図。
【図３】図２のＴＶレベルメータのＴＶ回路系統におけ
る各回路について、レベル誤差を発生させる条件あるい
は要因を示す図表。
る各回路について、レベル誤差を発生させる条件あるい
は要因を示す図表。
【図４】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｌ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｌ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図５】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｌ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｌ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図６】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｈ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｈ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図７】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｈ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｈ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図８】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｓ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｓ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図９】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＶＨ
Ｆ（Ｓ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
Ｆ（Ｓ）帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図１０】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＵ
ＨＦ帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
ＨＦ帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図１１】図２のレベルメータ内のチューナ１２１のＵ
ＨＦ帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
ＨＦ帯での温度対ＧＡＩＮ特性を示す図。
【図１２】図２のレベルメータ内のＩＦ ＡＴＴ１２２
に使用したピン・アッテネータの温度特性を示す図。
に使用したピン・アッテネータの温度特性を示す図。
【図１３】補正テーブルＸ１を作成するためのフローを
示すフローチャート。
示すフローチャート。
【図１４】補正テーブルＸ１の１例を示す図表。
【図１５】補正テーブルＸ２の１例を示す図表。
【図１６】補正テーブルＸ３の１例を示す図表。
【図１７】補正テーブルＸ４を作成するためのフローを
示すフローチャート。
示すフローチャート。
【図１８】補正テーブルＸ４の１例を示す図表。
【図１９】補正値Ｘ５を得るためのフローを示すフロー
チャート。
チャート。
【図２０】ＴＶレベルメータにおける、補正テーブルＸ
１〜４及び補正値Ｘ５を使っての測定のフローを示すフ
ローチャート。
１〜４及び補正値Ｘ５を使っての測定のフローを示すフ
ローチャート。
【図２１】ＴＶレベルメータのＴＶ系統の温度特性につ
いて、補正前（Ａ）と本発明による補正後（Ｂ）のもの
を示す図。
いて、補正前（Ａ）と本発明による補正後（Ｂ）のもの
を示す図。
【図２２】ＴＶレベルメータのＳＡＴ系統の温度特性に
ついて、補正前（Ａ）と本発明による補正後（Ｂ）のも
のを示す図。
ついて、補正前（Ａ）と本発明による補正後（Ｂ）のも
のを示す図。
１００：チューナ部
１１０：高周波アッテネータ
１２０：ＴＶ回路部
１２１：ＶＨＦ／ＵＨＦチューナ
１２２：ＩＦアッテネータ
１２３：コンバータ
１２４：バンドパスフィルタ
１２５：ＩＦ増幅器
１２６：ピーク検出器
１２７，１２８，１２９：温度センサ
１４０：ＳＡＴ回路部
１４１：ＢＳ／ＣＳチューナ
１４２：直流増幅器
１４３：温度センサ
１５０：マルチプレクサ
３００：ＣＰＵ
３１２：Ａ／Ｄコンバータ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭61−97543（ＪＰ，Ａ)
特開 昭57−117088（ＪＰ，Ａ)
実開 昭61−56566（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01D 3/00 - 3/028
Claims (36)
- 【請求項１】入力信号を受けそして出力信号を発生する
信号処理回路（10;100）であって、静的回路条件、動的
回路条件、及び回路環境条件の内の少なくとも１つの条
件により特性が変動する、少なくとも２つの回路部分
（C1〜Cn;110〜126,141）を含む信号処理回路におい
て、該信号処理回路を補正回路を使って補正する方法
が、 ａ） 前記少なくとも２つの回路部分の各々の特性の変
動を補正した補正済みの出力信号を発生するため、前記
信号処理回路から発生された出力信号に対し施すように
した補正値データを作成するステップ（1100〜1128,126
0〜1272,1300〜1324）、 ｂ） ある所与の入力信号を前記信号処理回路に印加し
て、それに対応する出力信号を取得するステップ（136
2）、 ｃ） 該ステップｂの後、前記所与の入力信号に対応す
る前記取得した出力信号に対し、前記補正値データに従
って前記補正回路を使って補正を行って、前記補正済み
の出力信号を生成するステップ（1350〜1374）であっ
て、前記出力信号に対する前記補正は、前記信号処理回
路の外部で行う、前記のステップと、 を含むこと、を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項２】請求項１に記載の方法であって、 前記補正値データは、補正値テーブル（T1〜Tk;X1〜X
5）の形態で作成すること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項３】請求項２に記載の方法であって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記動的回路条件と
前記回路環境条件とにより特性が変動する第１の回路
（C1;121;122）を含む場合、該第１回路について、 前記ステップａは、前記動的回路条件に関する変数（i;
k）と前記回路環境条件に関する変数（m;n）とを含む第
１の補正値テーブル（T1;X1;X2）を作成し、 前記ステップｃは、前記動的回路条件変数の現行の値
と、前記回路環境条件変数の現行の値との組合せに応答
して、前記第１補正値テーブルから補正値を検索して使
用すること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項４】請求項３に記載の方法であって、 前記第１回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項５】請求項２から４のいずれかに記載の方法で
あって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記回路環境条件に
より特性が変動する第２の回路（C2;125）を含む場合、
該第２回路について、 前記ステップａは、前記回路環境条件に関する変数
（p）を含む第２の補正値テーブル（T2;X3）を作成し、 前記ステップｃは、前記回路環境条件変数の現行の値に
応答して前記第２補正値テーブルから補正値を検索して
使用すること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項６】請求項５に記載の方法であって、 前記第２回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項７】請求項２から６のいずれかに記載の方法で
あって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記動的回路条件に
より特性が変動する第３の回路（C3;110）を含む場合、
該第３回路について、 前記ステップａは、前記動的回路条件に関する変数（i,
j）を含む第３の補正値テーブル（T3;X1）を作成し、 前記ステップｃは、前記動的回路条件変数の現行の値に
応答して前記第３補正値テーブルから補正値を検索して
使用すること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項８】請求項７に記載の方法であって、 前記第３回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項９】請求項２から８のいずれかに記載の方法で
あって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記静的回路条件の
みにより特性が変動する第４の回路（C4;126;110,120）
を含む場合、該第４回路について、 前記ステップａは、前記信号処理回路の前記出力信号の
大きさに関する変数（q）を含む第４の補正値テーブル
（T4;X4;X5）を作成し、 前記ステップｃは、前記出力信号の変数の現行の値に応
答して前記第４補正値テーブルから補正値を検索して使
用すること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項１０】請求項１から９のいずれかに記載の方法
であって、 前記動的回路条件、前記回路環境条件、及び前記静的回
路条件の各々は、少なくとも１つの変数から成ること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項１１】請求項１０に記載の方法であって、 前記回路環境条件は温度の変数（m,n,p）を含むこと、 を特徴とする信号処理回路補正方法。
- 【請求項１２】請求項１０または１１に記載の方法であ
って、 前記動的回路条件は、周波数又は減衰量の変数（i,j,
k）を含むこと、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項１３】請求項１０から１２に記載の方法であっ
て、 前記静的回路条件は、回路内において使用する所定の素
子の特性であること、を特徴とする信号処理回路補正方
法。 - 【請求項１４】請求項１から１３のいずれかに記載の方
法であって、 前記信号処理回路は測定回路（100）であること、 を特徴とする信号処理回路補正方法。 - 【請求項１５】入力信号を受けそして出力信号を発生す
る信号処理回路（10;100）であって、静的回路条件、動
的回路条件、及び回路環境条件の内の少なくとも１つの
条件により特性が変動する、少なくとも２つの回路部分
（C1〜Cn;110〜126,141）を含む信号処理回路におい
て、 ａ） 前記少なくとも２つの回路部分の各々の特性の変
動を補正して補正済みの出力信号を発生するため、前記
信号処理回路から発生された出力信号に対し施すように
した補正値データを生成する補正データ生成手段（32;3
00,306,1100〜1128,1260〜1272,1300〜1324）、 ｂ） 前記信号処理回路の外部に設けており、また前記
信号処理回路からの出力信号を受けるように接続してお
りかつ前記補正データ生成手段からの前記補正値データ
を受けるように接続しており、前記補正値データに従っ
て、前記出力信号に対し補正を行って、前記補正済みの
出力信号を生成する補正手段（34;300,1350〜1374）、 を含むこと、を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項１６】請求項１５に記載の装置であって、 前記補正値データは、補正値テーブル（T1〜Tk;X1〜X
5）の形態で作成すること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項１７】請求項１６に記載の装置であって、前記
少なくとも２つの回路部分が、前記動的回路条件と前記
回路環境条件とにより特性が変動する第１の回路（C1;1
21,122）を含んでおり、 前記信号処理回路は、 ａ） 前記第１回路に対し、動的回路条件の値を設定す
る信号を生成する設定信号生成手段（30;300,1350〜135
4）と、 ｂ） 前記第１回路の前記回路環境条件の値を検知する
検知手段（S1;127;128）と、 を含み、 前記補正データ生成手段は、前記第１回路について、前
記動的回路条件に関する変数（i;k）と前記回路環境条
件に関する変数（m;n）とを含む第１の補正値テーブル
（T1;X1;X2）を含んでいて、前記設定信号生成手段から
の前記動的回路条件の現行の値と、前記検知手段からの
前記回路環境条件の現行の値との組合せに応答して、前
記第１補正値テーブルから補正値を検索して生成するこ
と、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項１８】請求項１７に記載の装置であって、 前記第１回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路（121）であること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項１９】請求項１６から１８のいずれかに記載の
装置であって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記回路環境条件に
より特性が変動する第２の回路（C2;125）を含んでお
り、該第２回路について、 前記信号処理回路は、前記第２回路の前記回路環境条件
の値を検知する検知手段（S2;129）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記回路環境条件に関する
変数（p）を含む第２の補正値テーブル（T2;X3）を含
み、 前記補正データ生成手段は、前記検知手段からの前記回
路環境条件の現行の値に応答して前記第２補正値テーブ
ルから補正値を検索して生成すること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２０】請求項１９に記載の装置であって、 前記第２回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２１】請求項１６から２０のいずれかに記載の
装置であって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記動的回路条件の
みにより特性が変動する第３の回路（C3;110）を含んで
おり、 前記信号処理回路は、前記第３回路に対し、動的回路条
件の値を設定する信号を生成する設定信号生成手段（3
0;300）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記第３回路について、前
記動的回路条件に関する変数（i,j）を含む第３の補正
値テーブル（T3;X1）を含んでいて、前記設定信号生成
手段からの前記動的回路条件の現行の値に応答して前記
第３補正値テーブルから補正値を検索して生成するこ
と、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２２】請求項２１に記載の装置であって、 前記第３回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２３】請求項１６から２２のいずれかに記載の
装置であって、 前記少なくとも２つの回路部分が、前記静的回路条件の
みにより特性が変動する第４の回路（C4;126;110,120）
を含んでおり、 前記補正データ生成手段は、前記信号処理回路の前記出
力信号の大きさに関する変数（q）を含む第４の補正値
テーブル（T4;X4;X5）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記出力信号の変数の現行
の値に応答して前記第４補正値テーブルから補正値を検
索して生成すること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２４】請求項１５から２３のいずれかに記載の
装置であって、 前記動的回路条件、前記回路環境条件、及び前記静的回
路条件の各々は、少なくとも１つの変数から成ること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２５】請求項２４に記載の装置であって、 前記回路環境条件は温度の変数（m,n,p）を含むこと、 を特徴とする信号処理回路補正装置。
- 【請求項２６】請求項２４または２５に記載の装置であ
って、 前記動的回路条件は、周波数又は減衰量の変数（i,j,
k）を含むこと、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２７】請求項２４から２６に記載の装置であっ
て、 前記静的回路条件は、回路内において使用する所定の素
子の特性であること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２８】請求項１５から２７のいずれかに記載の
装置であって、 前記信号処理回路は測定回路（100）であること、 を特徴とする信号処理回路補正装置。 - 【請求項２９】受ける入力信号に対し信号処理を行う信
号処理装置（A;B）であって、 ａ） 前記入力信号を受けそして回路出力信号を発生す
る信号処理回路（10;100）であって、静的回路条件、動
的回路条件及び回路環境条件のうちの少なくと も動的回
路条件および回路環境条件の２つの条件により特性が変
動する、少なくとも１つの第１の回路（C1;121,122）を
含む、前記の信号処理回路、 ｂ） 前記少なくとも１つの第１回路の前記動的回路条
件の値を設定するための信号を発生する条件設定信号生
成手段（30;300,1350〜1354）、 ｃ） 前記少なくとも１つの第１回路の前記回路環境条
件の値を検知するための検知手段（S1;127,128）、 ｄ） 前記少なくとも１つの第１回路について、前記動
的回路条件に関する変数（i;k）と前記回路環境条件
（m;n）に関する変数とを含む第１の補正値テーブル（T
1;X1;X2）を含んでおり、前記条件設定信号生成手段か
らの前記動的回路条件の現行の値と、前記検知手段から
の前記回路環境条件の現行の値とに応答して、前記第１
補正値テーブルから第１の補正値を検索して出力する補
正データ生成手段（32;300,306,1100〜1128,1260〜127
2,1300〜1324）、 ｅ） 前記信号処理回路の外部に設けており、また前記
信号処理回路からの前記回路出力信号を受けるように接
続しており、かつ前記補正データ生成手段からの前記第
１補正値を受けるように接続しており、前記第１回路の
前記第１補正値に従って、前記回路出力信号に対し補正
を行って、信号処理装置が出力する出力信号を生成する
補正手段（34;300,1350〜1374）、 を含むことを特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３０】請求項２９に記載の装置であって、 前記少なくとも１つの第１回路は、前記静的回路条件に
よっても特性が変動する回路（121）であること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３１】請求項２９または３０に記載の装置であ
って、 前記信号処理回路が、前記回路環境条件により特性が変
動する第２の回路（C2;125）を含んでおり、 前記検知手段は、前記第２回路の前記回路環境条件の値
を検知する手段（S2;129）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記第２回路の前記回路環
境条件に関する変数（p）を含む第２の補正値テーブル
（T2;X3）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記回路環境条件変数の現
行の値に応答して前記第２補正値テーブルから第２の補
正値を検索して出力し、 前記補正手段は、前記第１補正値と前記第２補正値とに
従って前記回路出力信号を補正すること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３２】請求項３１に記載の装置であって、 前記第２回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３３】請求項２９から３２のいずれかに記載の
装置であって、 前記信号処理回路が、前記動的回路条件のみにより特性
が変動する第３の回路（C3;110）を含んでおり、 前記条件設定信号生成手段は、前記第３回路に対し、動
的回路条件の値を設定する信号を生成し、 前記補正データ生成手段は、前記第３回路について、前
記動的回路条件に関する変数（i,j）を含む第３の補正
値テーブル（T3;X1）を含んでいて、前記条件設定信号
生成手段からの前記動的回路条件の現行の値に応答して
前記第３補正値テーブルから第３の補正値を検索して出
力し、 前記補正手段は、前記補正データ生成手段が出力する前
記第１補正値を含む１組の補正値に従って、前記回路出
力信号を補正すること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３４】請求項３３に記載の装置であって、 前記第３回路は、前記静的回路条件によっても特性が変
動する回路であること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３５】請求項２９から３４のいずれかに記載の
装置であって、 前記信号処理回路が、前記静的回路条件のみにより特性
が変動する第４の回路（C4;126）を含んでおり、 前記補正データ生成手段は、前記信号処理回路の前記回
路出力信号の大きさに関する変数（q）を含む第４の補
正値テーブル（T4;X4）を含み、 前記補正データ生成手段は、前記回路出力信号の変数の
現行の値に応答して前記第４補正値テーブルから第４の
補正値を検索して生成し、 前記補正手段は、前記補正データ生成手段が出力する前
記第１補正値を含む１組の補正値に従って、前記回路出
力信号を補正すること、 を特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３６】請求項２９から３５のいずれかに記載の
装置であって、 前記信号処理装置は、測定装置（B）であること、 を特徴とする信号処理装置。
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|---|---|---|---|
| JP25280793A JP3502423B2 (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 信号処理回路補正装置 |
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|---|---|---|---|
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