JP3494977B2 - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、連続搬送される物
品の状態をＸ線によって検査するＸ線検査装置に関す
る。 【０００２】 【従来の技術】食品などの商品の生産ラインにおいて
は、商品への異物混入や商品の割れ欠けがある場合にそ
のような商品を出荷しないために、Ｘ線検査装置が使用
されることがある。このＸ線検査装置では、連続搬送さ
れてくる各被検査物品に対してＸ線を照射し、そのＸ線
の透過状態をＸ線ラインセンサで検出して、物品中に異
物が混入していないか、あるいは物品に割れ欠けが生じ
ていたり物品内の単位物（単品）の数量が不足していた
りしないかを判別する。また、Ｘ線検査装置によって、
物品内の単位物の数量を数えることが行なわれている。
Ｘ線検査装置において不良と判断された物品は、後段の
振分装置によって不良品として振り分けられる。物品に
異物が混入していたといった危機的な不良が見つかった
場合には、生産ラインを止めて上流の装置等の点検を行
い、原因が究明される。一方、割れ欠けや数量不足とい
った不良の場合には、取り替えや数量合わせを行って再
び生産ラインに戻されることが多い。また、Ｘ線検査装
置によって単位物の数量を数える場合には、後工程にて
その数が印刷されたラベルを貼り付けることが行なわれ
ている。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】このようなＸ線検査装
置では、被検査物品の各部における透過Ｘ線量を所定の
基準レベル（しきい値）と比較して、異物の混入を判断
する。また、物品の割れ欠け等については、正規化した
被検査物品の画像と基準画像とのパターンマッチングを
行い、そのマッチングの度合いを所定のしきい値と比較
する。また、被検査物品の画像と基準画像とのパターン
マッチングを行い、被検査物品の画像中に現れる基準画
像の数を計数する。しかし、不良判断を行う従来のＸ線
検査装置においては、内蔵するコンピュータが自動的に
不良を判断するため、使用者は、物品の良・不良を知る
ことはできるが、その判断過程や判断における余裕度な
どを確認することはできない。また、良・不良の判断結
果以外では、物品のＸ線画像が使用者に示されることが
あるが、装置の不良判断の適正度合いを確認すること
は、使用者にとって容易なことではない。したがって、
使用者が判断の状態を確認して検査の確実性を向上させ
ようと思っても、従来の装置のおいては非常に困難であ
る。 【０００４】そこで、検出した透過Ｘ線量に基づく数値
及びしきい値を画面表示することが考えられるが、連続
搬送され次々に不良検査が行われる物品それぞれに対し
て数値表示が為されても、使用者がそれらを全て認識し
て判断に結びつけることは困難である。また、計数を行
う従来のＸ線検査装置も、使用者が計数判断の状態を確
認して検査の確実性を向上させることが困難なものとな
っている。本発明の課題は、連続搬送される物品の検査
を行うＸ線検査装置であって、検査結果の認識が容易な
装置を提供することにある。 【０００５】 【課題を解決するための手段】請求項１に係るＸ線検査
装置は、連続搬送される物品の状態をＸ線を用いて検査
を行う装置であって、Ｘ線検出手段と、判断手段と、出
力手段と、記憶部と、表示部と、表示制御手段と、変更
手段とを備えている。Ｘ線検出手段は、Ｘ線で物品の状
態を検出する。判断手段は、Ｘ線検出手段による検出レ
ベルに基づき、物品の状態を判断する。出力手段は、判
断手段による判断結果を出力する。記憶部は、判断手段
の判断基準となるしきい値を物品毎に記憶する。表示部
は、検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積で
表示するとともに、しきい値を、位置を固定して表示す
る。表示制御手段は、しきい値及び検出レベルに基づく
値を、表示部に表示させる。変更手段は、しきい値を変
更する。 【０００６】この装置では、Ｘ線検出手段による物品の
状態の検出によって、異物が混入している物品のチェッ
ク、物品の割れ欠けのチェック、単品が複数含まれてい
る物品の単品の入数チェックや単品の個数の計測などの
検査を行うことができる。そして、この装置では、検査
において判断対象となる検出レベルに基づく値と判断基
準となるしきい値とを、表示部に表示する。この表示部
では、検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積
で表示する。このため、装置の使用者は、検出レベルに
基づく値がしきい値に近いのか遠いのかを比較的容易に
認識することができるようになる。特に、表示部が検出
レベルに基づく値を対応する面積で表示するため、使用
者は、数値を読み取ることなく感覚的に判断の余裕度な
どを認識することができる。 【０００７】例えば、不良判断の検査を行う際には、し
きい値の近傍で物品が良（あるいは不良）と判断された
のか、それとも、しきい値から大きく離れた状態で余裕
を持って良（あるいは不良）と判断されたのかを比較的
容易に認識することができるようになる。また、単品の
個数計測といった検査を行う際にも、しきい値に対して
物品中の単品が少し足りないのか大幅に足りないのかな
どを、比較的容易に認識することができるようになる。
なお、出力手段としては、表示器、ブザー、他の装置へ
の連動信号を出力するアルゴリズムを有する制御コンピ
ュータなどが挙げられる。さらに、ここでは、しきい値
の表示部での表示位置が固定されているため、しきい値
が変更された場合においても、使用者にとって基準とな
るしきい値が見慣れた位置に留まる。 【０００８】また、ここでは、しきい値が物品毎に記憶
されているため、検査対象である物品が変わる場合に、
物品を選択することでしきい値の変更を行うことができ
る。すなわち、本装置では、物品の変更に容易に対応す
ることができる。 【０００９】 【発明の実施の形態】本発明の一実施形態に係るＸ線検
査装置の外観を、図１に示す。このＸ線検査装置１０
は、食品等の商品の生産ラインにおいて品質検査を行う
装置の１つであって、連続的に搬送されてくる商品に対
してＸ線を照射して、商品を透過したＸ線量を基に商品
の不良判断を行う装置である。Ｘ線検査装置１０の被検
査物品である商品Ｇは、図４に示すように、前段コンベ
ア６０によりＸ線検査装置１０に運ばれてくる。商品Ｇ
は、Ｘ線検査装置１０において異物混入の有無が判断さ
れる。このＸ線検査装置１０での判断結果は、Ｘ線検査
装置１０の下流側に配置される振分機構７０に送られ
る。振分機構７０は、商品ＧがＸ線検査装置１０におい
て良品と判断された場合には商品Ｇを正規のラインコン
ベア８０へと送り、商品ＧがＸ線検査装置１０において
不良品と判断された場合には商品Ｇを不良品貯留コンベ
ア９０へと振り分ける。 【００１０】＜Ｘ線検査装置の構成＞ Ｘ線検査装置１０は、図１及び図２に示すように、主と
して、シールドボックス１１と、コンベア１２と、Ｘ線
照射器１３と、Ｘ線ラインセンサ１４と、タッチパネル
機能付きのＬＣＤモニタ３０と、制御コンピュータ２０
（図５参照）とから構成されている。 〔シールドボックス〕 シールドボックス１１は、両側面に、商品を搬出入する
ための開口１１ａを有している。このシールドボックス
１１の中に、コンベア１２、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ライ
ンセンサ１４、制御コンピュータ２０などが収容されて
いる。なお、図１には図示していないが、開口１１ａ
は、シールドボックス１１の外部へのＸ線の漏洩を抑え
るための遮蔽ノレンにより塞がれている。この遮蔽ノレ
ンは、鉛を含むゴムから成形されるもので、商品が搬出
入されるときには商品により押しのけられる。 【００１１】また、シールドボックス１１の正面上部に
は、ＬＣＤモニタ３０の他、キーの差し込み口や電源ス
イッチが配置されている。 〔コンベア〕 コンベア１２は、シールドボックス１１内において被検
査物品を搬送するものであり、図５に示すコンベアモー
タ１２ａにより駆動する。コンベア１２による搬送速度
は、制御コンピュータ２０によるコンベアモータ１２ａ
のインバータ制御により、細かく制御される。 〔Ｘ線照射器〕 Ｘ線照射器１３は、図２に示すように、コンベア１２の
上方に配置されており、下方のＸ線ラインセンサに向け
て扇状のＸ線（図２の斜線範囲Ｘを参照）を照射する。 【００１２】〔Ｘ線ラインセンサ〕 Ｘ線ラインセンサ１４は、コンベア１２の下方に配置さ
れており、商品Ｇやコンベア１２を透過してくるＸ線を
検出する。このＸ線ラインセンサ１４は、図３に示すよ
うに、コンベア１２による搬送方向に直交する向きに一
直線に配置された多くの画素１４ａから構成されてい
る。 〔ＬＣＤモニタ〕 ＬＣＤモニタ３０は、フルドット表示の液晶ディスプレ
イであって、例えば図６に示すように画面表示を行う。
図６に示す画面はＸ線画像及び物品不良の判断結果を表
示するものであるが、ＬＣＤモニタ３０は、タッチパネ
ル機能も有しており、初期設定や不良判断に関するパラ
メータ入力などを促す画面の表示も行う。 【００１３】〔制御コンピュータ〕 制御コンピュータ２０は、図５に示すように、ＣＰＵ２
１を搭載するとともに、このＣＰＵ２１が制御する主記
憶部としてＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、及びＨＤＤ（ハー
ドディスク）２５を搭載している。また、制御コンピュ
ータ２０は、フロッピーディスクとの入出力を行うＦＤ
Ｄ（フロッピーディスクドライブ）２４も有している。
さらに、制御コンピュータ２０は、ＬＣＤモニタ３０に
対するデータ表示を制御する表示制御回路、ＬＣＤモニ
タ３０のタッチパネルからのキー入力データを取り込む
キー入力回路、図示しないプリンタにおけるデータ印字
の制御等を行うためのＩ／Ｏポート等を備えている。 【００１４】そして、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ
２３、ＦＤＤ２４、ＨＤＤ２５などは、アドレスバス，
データバス等のバスラインを介して相互に接続されてい
る。また、制御コンピュータ２０は、コンベアモータ１
２ａ、ロータリーエンコーダ１２ｂ、光電センサ１５、
Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４等と接続されて
いる。ロータリーエンコーダ１２ｂは、コンベアモータ
１２ａに装着され、コンベア１２の搬送スピードを検知
して制御コンピュータ２０に送る。光電センサ１５は、
被検査物品である商品がＸ線ラインセンサ１４の位置に
くるタイミングを検知するための同期センサであり、コ
ンベアを挟んで配置される一対の投光器及び受光器から
構成されている。 【００１５】＜制御コンピュータによる物品不良の判断
＞ 〔Ｘ線画像作成〕 制御コンピュータ２０は、光電センサ１５からの信号を
受けて、商品Ｇが扇状のＸ線照射部（図２参照）を通過
するときに、Ｘ線ラインセンサ１４によるＸ線透視像信
号（図３参照）を細かい時間間隔で取得して、それらの
Ｘ線透視像信号を基にして商品ＧのＸ線画像を作成す
る。 〔物品不良判断〕 そして、制御コンピュータ２０は、得られたＸ線画像か
ら、３つの判断方式によって物品の良・不良を判断す
る。３つの判断方式は、トレース検出方式、２値化検出
方式、及びマスク２値化検出方式である。これらの判断
方式で判断した結果、１つでも不良と判断するものがあ
れば、その商品Ｇは不良品と判断される。 【００１６】これらの判断方式のうち、トレース検出方
式及び２値化検出方式は、画像のマスクされていない領
域に対して判断を行う。一方、マスク２値化方式は、画
像のマスクされている領域に対して判断を行う。マスク
は、商品Ｇの容器部分などに対して設定される。トレー
ス検出方式は、被検出物の大まかな厚さに沿って基準レ
ベル（しきい値）を設定し、像がそれよりも暗くなった
ときに商品Ｇ内に異物が混入していると判断する方式で
ある。ここでは、２つのトレース基準レベルを設定し、
それぞれを画像と対比して判断を行っている。１つ目の
トレース基準レベルは、比較的細かいものであり、２ｍ
ｍ以下の異物を検出するために設定されている。２つ目
のトレース基準レベルは、２〜４ｍｍの異物を検出する
ために設定されている。 【００１７】トレース検出方式のトレース基準レベル
は、具体的には、図１０に示すように設定される。この
トレース基準レベルは、高く設定することによって検出
感度が上がるが、あまり高く設定しすぎると正常品を異
物混入品と誤判定しやすくなるため、検出する異物の大
きさ等に合わせて適当なレベルに設定する必要がある。
２値化検出方式及びマスク２値化方式は、一定の明るさ
に基準レベルを設定し、像がそれよりも暗くなったとき
に商品Ｇ内に異物が混入していると判断する方式であ
る。この２値化検出方式は、およそ４ｍｍ以上の大きい
異物を検出するために設定されている。なお、２値化検
出方式及びマスク２値化方式には、それぞれ異なる基準
レベルが設定される。２値化検出方式の基準レベルは、
具体的には、図１１に示すように設定される。この基準
レベルは、高く設定することによって検出感度が上がる
が、あまり高く設定しすぎると正常品を異物混入品と誤
判定しやすくなるため、検出する異物の大きさ等に合わ
せて適当なレベルに設定する必要がある。 【００１８】また、マスク２値化方式におけるマスク
は、図１２に示すように設定される。このマスクでは、
上記のように、商品Ｇの容器部分を不感領域として設定
する。設定値は、収縮回数及び膨張回数である。像の有
効レベルより明るい部分を「背景エリア」、暗い部分を
「検体エリア」とすれば、マスクエリアは、２つのエリ
アの境界から膨張回数画素だけ検体エリアに入り込んだ
領域である。容器部分と商品Ｇの内容物との間に背景エ
リアがあり容器をマスクしようとすると内容物にもマス
クエリアがかかってしまうときには、一旦背景エリアを
縮小回数画素だけ縮小させて容器と内容物との間の背景
エリアを無くしてから膨張回数を設定する（図１２参
照）。上記の各判断方式における基準レベルは、ＨＤＤ
２５内に作成されるしきい値ファイル２５ａに記憶され
ている。しきい値ファイル２５ａには、商品Ｇの種類毎
に、それぞれの判断方式の基準レベルが記憶されてい
る。これらの基準レベル及びマスク領域については、Ｌ
ＣＤモニタ３０のタッチパネルからの入力によって、設
定及び変更が可能である。 【００１９】〔表示制御〕 制御コンピュータ２０は、得られた商品ＧのＸ線画像
と、各判断方式による判断に関する情報とを、ＬＣＤモ
ニタ３０に表示させる。図６に示すように、各判断方式
による判断に関する情報についてはＬＣＤモニタ３０内
の右下の第１表示部３１に、Ｘ線画像についてはＬＣＤ
モニタ３０内の左の第２表示部３２に、それぞれ表示す
る。第１表示部３１には、Ｘ線による異物混入検査の処
理結果として、各判断方式での判断結果が棒グラフ表示
される。ここでは、１つ目のトレース基準レベルによる
トレース検出方式による結果を「ＴＲＡＣＥ１」欄に、
２つ目のトレース基準レベルによるトレース検出方式に
よる結果を「ＴＲＡＣＥ２」欄に、２値化検出方式によ
る結果を「ＢＩＮＡＲＹ」欄に、マスク２値化方式によ
る結果を「ＭＡＳＫ ＢＩＮＡＲＹ」欄に表示させてい
る。各欄の棒グラフの右方には、基準レベルとの比較の
対象となった検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４が数値表示
される。各棒グラフは、左端を０、右端を１００として
表しており、検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４よりも右側
が赤色、検出値よりも左側が青色で塗りつぶされる。す
なわち、図６では、各検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４を
境に、右側が赤色で左側が青色である。なお、図６にお
いては、Ｌ１＝５９、Ｌ２＝４９、Ｌ３＝２３、Ｌ４＝
６４となっている。 【００２０】また、各棒グラフには、各判断方式におけ
る基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が、白色で表示さ
れる。これにより、ＬＣＤモニタ３０を見る人は、検出
値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４が基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ
３，Ｂ４を下回っているか否かを視覚的に容易に確認す
ることができる。なお、図６においては、Ｂ１＝９０、
Ｂ２＝８０、Ｂ３＝３０、Ｂ４＝５０に設定されてい
る。第２表示部３２には、Ｘ線画像が表示されるが、商
品Ｇに異物が混入していると判断された場合には、その
Ｘ線画像の異物と判断された部分Ａが赤色に着色され
る。これにより、ＬＣＤモニタ３０を見ている人は、異
物混入を容易に認識することができるとともに、異物の
混入されている位置を把握することが容易にできるよう
になる。 【００２１】なお、制御コンピュータ２０は、上記各判
断方式で判断した結果、１つでも不良と判断するものが
あれば、その商品Ｇを不良品と判断する。この場合に
は、制御コンピュータ２０は、図６に示すように、ＬＣ
Ｄモニタ３０内の右上の第３表示部３３に「異物混入」
という表示を行うとともに、後段の振分機構７０に振り
分けの指示を送る。 ＜Ｘ線検査装置の特徴＞ （１） 本装置１０では、商品ＧをＸ線検査したときに、ＬＣＤ
モニタ３０に、各判断方式による異物混入の判断に関す
る情報を表示させている。そして、ＬＣＤモニタ３０で
は、各検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４が、棒グラフの形
で、その値に対応する面積で着色表示される。さらに、
それらの棒グラフ内には、各判断方式における基準レベ
ルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４も着色表示される（図６参
照）。 【００２２】このため、装置１０の使用者は、基準レベ
ル（しきい値）の近傍で商品Ｇが良品（あるいは不良
品）と判断されたのか、それとも、基準レベルから大き
く離れた状態で余裕を持って良品（あるいは不良品）と
判断されたのかを、比較的容易に認識することができ
る。特に、棒グラフの形で表示が為されるため、使用者
は、数値を読み取ることなく感覚的に判断の余裕度など
を認識することができる。 （２） 本装置１０では、トレース検出方式において２つのトレ
ース基準レベルを設定しているため、大きさの違う異物
を検出することができている。 （３） 本装置１０では、ＨＤＤ２５内のしきい値ファイル２５
ａにおいて、各判断方式における基準レベルを、商品Ｇ
の種類毎に記憶している。したがって、検査対象となる
商品Ｇが変更になった場合にも、ＬＣＤモニタ３０のタ
ッチパネルからの商品Ｇの選択入力によって、各判断方
式のおける基準レベルを簡単に且つ適切に変更すること
ができる。すなわち、本装置１０では、商品Ｇの変更に
容易に対応することができる。 【００２３】＜モニタ表示の変形例＞ （１） ＬＣＤモニタ３０内の第１表示部３１の表示において、
各判断方式での判断結果を、棒グラフ表示の代わりに、
図７に示すように円グラフ表示させることもできる。こ
れによっても、ＬＣＤモニタ３０を見る人は、検出値が
基準レベルを下回っているか否かを視覚的に容易に確認
することができる。 （２） ＬＣＤモニタ３０内の第１表示部３１の表示において、
各判断方式での判断結果を、棒グラフ表示の代わりに、
図８に示すように、直線上に多数のセグメントを間欠的
に並べたものによって表示させてもよい。これによって
も、ＬＣＤモニタ３０を見る人は、検出値が基準レベル
を下回っているか否かを視覚的に容易に確認することが
できる。なお、ここでは、基準レベルを三角の印によっ
て表示させている。 【００２４】このようにセグメント表示を用いる場合に
は、フルドット表示のＬＣＤモニタ３０の代わりに、簡
易なモニタを採用することもできる。 （３） 本装置１０は、単品が複数集合している商品を検査対象
とすることもできる。例えば、６個の単品を有する商品
をＸ線検査すると、図９に示すような画面がＬＣＤモニ
タ３０に映し出される。ここでは、Ｘ線画像の異物と判
断された部分Ａが赤色に着色される。このため、ＬＣＤ
モニタ３０を見ている人は、異物混入を容易に認識する
ことができるとともに、異物がどの単品に混入している
かを把握することが容易にできる。 ［他の実施形態］ （Ａ） 上記実施形態においては、図６に示すように、左端を
０、右端を１００とする棒グラフを採用して、検出値Ｌ
１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４の絶対値をＬＣＤモニタ３０の第
１表示部３１に表示させているが、検出値Ｌ１，Ｌ２，
Ｌ３，Ｌ４を基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４に対す
る偏差の形で表示させてもよい。この場合には、絶対値
を把握し難くなるが、基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ
４を中心とした視認が行いやすくなる。 【００２５】（Ｂ） 上記実施形態では、図６に示すように、左端を０、右端
を１００とする棒グラフを採用して、棒グラフ内に表示
する基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４を数値に合った
絶対的な位置に配置させているが、基準レベルＢ１，Ｂ
２，Ｂ３，Ｂ４の値には関係なく棒グラフにおける基準
レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４の表示位置を固定させる
こともできる。ここでは、左端を０、右端を１００とす
る棒グラフを採用することは難しくなるが、基準レベル
Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が変更された場合においても、
使用者にとって基準となる基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ
３，Ｂ４が見慣れた位置に留まることになる。 （Ｃ） 上記実施形態では、各判断方式での判断結果をＬＣＤモ
ニタ３０に棒グラフ表示するとともに、各判断方式にお
ける基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４を棒グラフ内に
表示させているが、これに加えて検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ
３，Ｌ４のピーク値を棒グラフ内に表示させることもで
きる。ここでは、制御コンピュータ２０は、これまでの
異物の透視像信号のピーク値（暗い側）を下回る検出値
が現れた場合に、ＨＤＤ２４あるいはＲＡＭ２３に記憶
している各ピーク値のデータを更新して記憶させる。 【００２６】（Ｄ） 上記実施形態では、各判断方式での判断結果をＬＣＤモ
ニタ３０に棒グラフ表示するとともに、各判断方式にお
ける基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４を棒グラフ内に
表示させているが、これに加えて検出値Ｌ１，Ｌ２，Ｌ
３，Ｌ４を基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４からの差
の割合に応じて色を異ならせて表示させることもでき
る。たとえば、制御コンピュータ２０にて検出値Ｌ１，
Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４の基準レベルＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４
からの差の割合を計算する。そして、例えば１０％まで
は橙色、１０％を超すと黄色で表示する。このようにす
ることで、しきい値に対する余裕度が視覚的に容易に認
識できる。 （Ｅ） 上記実施形態では、主として異物混入という不良を検出
するＸ線検査装置について説明しているが、割れ欠けと
いった不良や、物品内に単品が平面的に複数配置された
単品の数量を計数することのできるＸ線検査装置に対し
ても本発明の適用が可能である。 【００２７】割れ欠けの不良の場合には、正規化した商
品Ｇの検出画像と基準画像とのパターンマッチングを行
い、そのマッチングの度合いを所定の基準レベルと比較
した結果をＬＣＤモニタ３０に表示させる。これによ
り、使用者は、基準レベルの近傍で商品Ｇが良品（ある
いは不良品）と判断されたのか、それとも、基準レベル
から大きく離れた状態で余裕を持って良品（あるいは不
良品）と判断されたのかを、比較的容易に認識すること
ができるようになる。数量を計数する場合には、商品Ｇ
の検出画像と基準画像とのパターンマッチングを行い、
基準画像が検出画像中に現れる数を計数するとになる
が、そのマッチングの度合いを所定の基準レベルと比較
した結果をＬＣＤモニタ３０に表示させればよい。これ
により、使用者は、基準レベルの近傍で商品Ｇの数が認
識されたか、それとも、基準レベルから大きく離れた状
態で余裕を持って数が認識されたかを、比較的容易に認
識することができるようになる。 【００２８】（Ｆ） 上記実施形態では、Ｘ線画像の異物と判断された部分Ａ
を赤色に着色して第２表示部３２に表示させているが、
これに代え、矢印を挿入したり異物の位置に三角や四角
の記号を入れたりすることによってＸ線画像における異
物の位置の特定を行ってもよい。このようにしても、Ｌ
ＣＤモニタ３０を見ている人は、異物混入を容易に認識
することができるとともに、異物の混入されている位置
を把握することが容易にできる。 （Ｇ） 上記実施形態では、商品Ｇに異物が混入していると判断
したときに「異物混入」という文字を第３表示部３３に
表示させているが、この表示の代わりに、記号等による
表示を行ってもよい。また、異物混入時にはＸ線画像の
異物と判断された部分Ａが赤色に着色されるため、必ず
しも「異物混入」という第３表示部３３の表示を行う必
要はない。 【００２９】（Ｈ） 上記実施形態では、トレース検出方式において２つのト
レース基準レベルを設定することによって大きさの違う
異物の検出を可能としているが、このように１つの判断
方式に対して複数の基準レベル（しきい値）を設定する
ことによって、以下のようなことも可能となる。まず、
金属、ガラス、セラミック、塩化ビニール、ゴムなどの
異なる材質からなる異物に対して、その材質をＸ線検査
により推定することが可能である。これらの異物は、同
じような大きさであっても、それぞれＸ線の透過度が違
う。このため、どの基準レベルで不良品と判断されたの
かによって、異物の大きさが同程度であるならば、商品
に混入している異物の種類（材質）を推定することも可
能である。これにより、Ｘ線検査で異物混入が発見され
たときに、生産ラインのどこで異物が混入したのかを特
定しやすくなる。 【００３０】また、単品が上下に複数段積まれている商
品に含まれる単品の数量の良否や計数をＸ線により検査
する場合においては、単品の数によって透過度合いが違
ってくるため、複数の基準レベルを設定することによっ
て単品の数量チェックを行うことも可能である。この場
合は、ＬＣＤモニタ３０に前記検出レベルに替えて、計
数された数量を表示させても良い。 【００３１】 【発明の効果】本発明では、検査において判断対象とな
る検出レベルに基づく値と判断基準となるしきい値と
を、表示部に表示する。そして、表示部では、検出レベ
ルに基づく値を、その値に対応する面積で表示する。こ
のため、装置の使用者は、検出レベルに基づく値がしき
い値に近いのか遠いのかを比較的容易に認識することが
できるようになる。特に、表示部が検出レベルに基づく
値を対応する面積で表示するため、使用者は、数値を読
み取ることなく感覚的に判断の余裕度などを認識するこ
とができる。さらに、しきい値の表示部での表示位置が
固定されているため、しきい値が変更された場合におい
ても、使用者にとって基準となるしきい値が見慣れた位
置に留まる。 【００３２】また、しきい値が物品毎に記憶されている
ため、検査対象である物品が変わる場合に、物品を選択
することでしきい値の変更を行うことができる。すなわ
ち、本装置では、物品の変更に容易に対応することがで
きる。

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置の外観
斜視図。 【図２】Ｘ線検査装置のシールドボックス内部の簡易構
成図。 【図３】Ｘ線検査の原理を示す模式図。 【図４】Ｘ線検査装置の前後の構成を示す図。 【図５】制御コンピュータのブロック構成図。 【図６】ＬＣＤモニタの一表示画面図。 【図７】ＬＣＤモニタの一表示画面図。 【図８】ＬＣＤモニタの一表示画面図。 【図９】ＬＣＤモニタの一表示画面図。 【図１０】トレース検出方式におけるトレース基準レベ
ルを示す図。 【図１１】２値化検出方式における基準レベルを示す
図。 【図１２】マスクエリアの作成を示す図。 【符号の説明】 １０ Ｘ線検査装置 １２ コンベア １３ Ｘ線照射器（Ｘ線検出手段） １４ Ｘ線ラインセンサ（Ｘ線検出手段） １４ａ 画素（センサ） ２０ 制御コンピュータ ２１ ＣＰＵ（画像作成手段；不良判断手段；表示制
御手段） ２２ ＲＯＭ ２３ ＲＡＭ（記憶部） ２５ ＨＤＤ（記憶部） ３０ ＬＣＤモニタ（表示機器；変更手段） ３１ 第１表示部 ３２ 第２表示部 Ｇ 商品（物品） Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４ 基準レベル（しきい値） Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４ 検出値（検出レベル）

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平11−194102（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−81038（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 23/00 - 23/227

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】連続搬送される物品の状態をＸ線を用いて
   検査を行うＸ線検査装置であって、 前記Ｘ線で物品の状態を検出するＸ線検出手段と、 前記Ｘ線検出手段による検出レベルに基づき物品の状態
   を判断する判断手段と、 前記判断手段による判断結果を出力する出力手段と、 前記判断手段の判断基準となるしきい値を物品毎に記憶
   した記憶部と、 前記検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積で
   表示するとともに、前記しきい値を、位置を固定して表
   示する、表示部と、 前記しきい値及び前記検出レベルに基づく値を前記表示
   部に表示させる表示制御手段と、前記しきい値を変更する変更手段と、 を備えたＸ線検査
   装置。