JP3465876B2 - 耐摩耗性銅または銅基合金とその製造方法ならびに該耐摩耗性銅または銅基合金からなる電気部品 - Google Patents

耐摩耗性銅または銅基合金とその製造方法ならびに該耐摩耗性銅または銅基合金からなる電気部品

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、耐摩耗性銅または
銅基合金およびその製造法並びに該耐摩耗性銅または銅
基合金を使用した電気部品に関し、特には、例えば自動
車の電気配線などに使用される多ピンコネクタの表面の
ように挿抜に際しての摩耗や摩擦係数を小さくすること
を要求される表面や、電気自動車の充電ソケットのよう
に挿抜回数が多いものや、モーターのブラシのように回
転体と接して耐磨耗性を要求される表面や、バッテリー
端子のように耐磨耗性・耐腐食性が要求される表面を有
した銅基合金とその製造法並びに該銅基合金を使用した
電気部品に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年のエレクトロニクスの発達により、
種々の機械の電気配線は複雑化、高集積化が進み、それ
に伴いコネクタの多ピン化も進んできている。従来のS
nめっきをしたコネクタでは抜き差しに際し、摩擦力が
大きくなり、コネクタの挿入が困難になるという問題が
生じてきている。また、現在の電気自動車では1日1回
以上の充電を必要としており、充電用ソケット部品の耐
磨耗性の確保が必要である。その上に10A以上の大電
流が流れるため発熱が大きく、従来のSnめっき等の方
法では、該めっき層が剥離してしまう等の問題も生じて
いる。
【0003】多ピン化したSnめっき付き端子の挿入力
の低減策あるいは上記充電用ソケット等電気部品の耐摩
耗性や密着性の確保のため、従来はSnめっきの下地に
硬質なNiめっき等を施したり、Cu−Sn拡散層を設
け、その上にSnめっきを施し、見掛け上の硬さを向上
させる案が提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
硬質Niめっきは高価であり、また加工性が悪いという
欠点がある。また、Cu−Sn拡散層を設け、その上に
Snめっきをする提案については、銅または銅基合金上
にSnめっきを施した後に熱拡散させCu−Sn層と
し、さらにSnめっきするという極めて複雑な工程を必
要とし、コスト面に問題がある他、表面のSnめっきの
密着性、加工性が劣り現実的でない。
【0005】すなわち、上記のような問題に対し、従来
の表面処理方法では対応しきれないことが明らかになっ
てきており、また銅または銅基合金をめっきした後、表
面熱処理により素地金属をめっき層に熱拡散させる技術
も従来から存在したが、従来の技術は表面処理層と素材
との拡散により、単に加工または熱的な影響等による表
面処理層の剥離を防止するだけのものであったため、や
はり上記の問題には対応できなかった。
【0006】本発明は、上記の問題点を解決するべく、
表面硬さ、接触抵抗、曲げ加工性、密着性及び端子挿入
力に優れた銅または銅基合金の提供、特に、近年の自動
車電装品等電気部品の高密度化に対応できるコネクタ材
その他の耐摩耗性や耐食性が要求される電気部品の提供
を目的とするのものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記のような問
題点を解決したもので、素材銅または銅基合金表面にS
nまたはSn合金を被覆した後に熱処理を施し、素材の
表面処理層に非常に硬いCu−Sn系金属間化合物(C
u3Sn、Cu4Sn、Cu6Sn5等のCu−Sn金属間
化合物層や銅基合金中に含まれる添加元素Xを含んだC
u−Sn−X等の化合物層)およびその表面に厚さが規
制された酸化皮膜層を適正に形成させることにより、例
えばコネクタや電気自動車の充電ソケット等に好適な表
面の摩擦係数が小さく、しかも接触抵抗等電気特性に優
れた表面を有する銅または銅基合金とその製造法とそれ
らを利用した電気部品を提案するものである。
【0008】本発明は、素材銅または銅基合金に被覆す
るSnの膜厚と熱処理条件を限定することにより、表面
硬さや接触抵抗に優れたCu−Sn系金属間化合物(C
u3Sn、Cu4Sn、Cu6Sn5等)および厚さが制御
された酸化被膜を積極的に形成させることにより、表面
皮膜の表面硬さをHV250以上、好ましくはHV30
0以上とすることができ、Snめっき層の表面硬さ(H
V60〜120)や母材の硬さ(HV80〜250)に
較べて硬さを向上させることができ、さらに適度な厚さ
の酸化皮膜を有することによって優れたすべり性が得ら
れ、かつ、接触抵抗が60mΩ以下のものが容易に得ら
れるとの知見を得て開発された技術であって、自動車の
コネクタや電気自動車の充電用ソケット等に好適な電気
特性および加工特性を有した上に表面の摩擦係数の小さ
い、耐磨耗性に優れた銅または銅基合金とその製造法と
それらを利用した電気部品を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、第
1に、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層
とその内側にCu−Snを主体とする金属間化合物層を
形成させたことを特徴とする耐摩耗性銅または銅基合
金;第2に、最表面に厚さが10〜100nmの酸化皮
膜層とその内側に厚さが0.1〜10μmのCu−Sn
を主体とする金属間化合物層を形成させたことを特徴と
する耐摩耗性銅または銅基合金;第3に、素材銅又は銅
基合金にSnを被覆した後に、熱処理を施すことによっ
て、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層と
その内側にCu−Snを主体とする金属間化合物層を形
成させることを特徴とする耐摩耗性銅または銅基合金の
製造方法;第4に、素材銅又は銅基合金にSnを被覆し
た後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが1
0〜1000nmの酸化皮膜層とその内側にCu−Sn
を主体とする金属間化合物層を形成させることを特徴と
する耐摩耗性銅または銅基合金の製造方法;第5に、素
材銅または銅基合金にSnを被覆し、リフロー処理した
後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが10
〜1000nmの酸化皮膜層とその内側に厚さが0.1
〜10μmのCu−Snを主体とする金属間化合物層を
形成させることを特徴とする耐摩耗性銅または銅基合金
の製造方法;第6に、素材銅または銅基合金にSnを被
覆し、リフロー処理した後に、熱処理を施すことによっ
て、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層と
その内側に厚さが0.1〜10μmのCu−Snを主体
とする金属間化合物層を形成させることを特徴とする耐
摩耗性銅または銅基合金の製造方法;第7に、最表面に
厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層とその内側にC
u−Snを主体とする金属間化合物を形成させた耐摩耗
性銅および銅基合金からなることを特徴とする電気部
品;第8に、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化
皮膜層とその内側に厚さが0.1〜10μmのCu−S
nを主体とする金属間化合物を形成させた耐摩耗性銅ま
たは銅基合金からなることを特徴とする電気部品;第9
に、素材銅または銅基合金にSnを被覆した後に、熱処
理を施すことによって、最表面に厚さが10〜1000
nmの酸化皮膜とその内側にCu−Snを主体とする金
属間化合物層を形成させた耐摩耗性銅または銅基合金か
らなることを特徴とする電気部品;第10に、素材銅ま
たは銅器合金にSnを被覆した後に、熱処理を施すこと
によって最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜
層とその内側に厚さが0.1〜10μmのCu−Snを
主体とする金属間化合物を形成させた耐摩耗性銅または
銅基合金からなることを特徴とする電気部品;第11
に、素材銅または銅基合金にSnを被覆し、リフロー処
理した後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さ
が10〜1000nmの酸化皮膜層とその内側にCu−
Snを主体とする金属間化合物を形成させた耐摩耗性銅
または銅基合金からなることを特徴とする電気部品;第
12に、素材銅または銅基合金にSnを被覆し、リフロ
ー処理した後に、熱処理を施すことによって、最表面に
厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層とその内側に厚
さが0.1〜10μmのCu−Snを主体とする金属間
化合物層を形成させた耐摩耗性銅または銅基合金からな
ることを特徴とする電気部品;第13に、接触抵抗が6
0mΩ以下であることを特徴とした第1または第2に記
載の耐摩耗性銅または銅基合金;第14に、前記耐摩耗
性銅または銅基合金の接触抵抗が60mΩ以下であるこ
とを特徴とする第3〜6に記載の耐摩耗性銅および銅基
合金の製造法;第15に、前記耐摩耗性銅または銅基合
金の接触抵抗が60mΩ以下であることを特徴とした第
7〜12に記載の電気部品;第16に、表面硬さがHV
250以上であることを特徴とした第1または2または
第13に記載の耐摩耗性銅または銅基合金;第17に、
前記耐摩耗性銅または銅基合金の表面硬さがHV250
以上であることを特徴とする第3〜6または第14に記
載の耐摩耗性銅および銅基合金の製造方法;第18に、
前記耐摩耗性銅または銅基合金の表面硬さがHV250
以上であることを特徴とする第7〜12または第15に
記載の電気部品を提供するものである。
【0010】
【発明の実施の形態】素材銅または銅合金素地表面に電
気めっき手段等によりSnめっき層を施し、リフロー処
理を施しまたは施さずに、好ましくは酸素濃度を制御し
た雰囲気下で熱処理することにより、めっき層表面に所
望の厚さの酸化皮膜を形成させると共に、素地からのC
uまたさらにその添加元素とめっき層のSnとの相互拡
散によるCu−Sn金属間化合物を形成させることがで
きる。
【0011】めっき手段等によるSnの被膜の厚さが
0.1μm未満であると、耐食性が低下する。特にH2S
やSO2による腐食や水分の存在下におけるNH3ガスに
よる腐食が問題となる。また、Snの被膜の厚さが10
μmを越えると拡散層の厚さが厚くなりすぎ、加工時に
割れるなどの成形加工性の低下が認められ、さらに疲労
特性の低下や、経済的にも不利になる等の問題が生じ
る。したがって、Snの被膜の厚さは、0.1〜10μ
mの範囲とする。さらに、好ましい範囲としては、0.
3〜5μmの範囲とする。
【0012】また、Snの被覆の下地として、Cuめっ
き等の処理を施しても良い。下地のCuは、Cu−Sn
系の金属間化合物の形成に役立ち、また銅合金の添加元
素の過度の拡散を効果的に防止する。ただし、Cu下地
厚さが厚すぎると拡散層が厚くなりすぎ、加工性が低下
する。したがって、好ましいCu下地厚さは10μm以
下、更に好ましくは3μm以下とする。このCu下地め
っきを用いると、素材を鉄鋼材料やステンレス、アルミ
ニウム合金等の銅基合金以外の材料にも応用できるが、
電気部品に必要な特性等を考慮すると、素材は銅または
銅基合金が好ましい。このような素材を使用し、本発明
に基づく耐摩耗層を形成することにより、電気部品とし
て有用な接触抵抗値が60mΩ以下のものをも容易に得
ることができる。
【0013】なお、銅基合金においては、強度、弾性、
電気伝導性、加工性、耐食性などの面から好ましい添加
元素の範囲として、Zn:0.01〜40wt%、S
n:0.1〜10wt%、Fe:0.01〜5wt%、
Ni:0.01〜10wt%、Co:0.01〜5wt
%、Ti:0.01〜5wt%、Mg:0.01〜 3
wt%、Zr:0.01〜3wt%、Ca:0.01〜
1wt%、Si:0.01〜3wt%、Mn:0.01
〜10wt%、Cd:0.01〜5wt%、Al:0.
01〜10wt%、Pb:0.01〜5wt%、Bi:
0.01〜5wt%、Be:0.01〜3wt%、T
e:0.01〜1wt%、Y:0.01〜5wt%、L
a:0.01〜5wt%、Cr:0.01〜5wt%、
Ce:0.01〜5wt%、Au:0.01〜5wt
%、Ag:0.01〜 5wt%、P:0.005〜
0.5wt%のうち少なくとも1種以上の元素を含み、
その総量が0.01〜40wt%であることが望まし
い。
【0014】Sn皮膜の形成の仕方は、皮膜の密着性や
均一性から、電気めっきや溶融浸漬法が経済的である。
ただし、薄く均一に被覆するには、電気めっきがより好
ましい。また、被覆するSnについては、Snの含有量
が5%以上のSn−Pb合金においても有効である。た
だし、Pbの含有量が95%を超えると熱拡散後に表層
に存在するPbのために期待する硬さやすべり性が得ら
れにくい。また、Snを被覆後にリフロー処理を施すこ
とは、熱拡散後の表面の平滑性、均一性が増すので、よ
り好ましい処理である。
【0015】最表面の酸化皮膜厚さは10〜1000n
mとする。酸化皮膜厚さが10nmより薄いとすべり性
が低下し、凝着摩耗を生じやすくなり、端子挿入力が増
大する。表面の酸化皮膜厚さが1000nmを越えると
接触抵抗が増加し、または極めて不安定となり電気性能
が劣化する。さらに酸化皮膜の密着性が低下し、その後
の加工で剥離する場合がある。さらに好ましい酸化皮膜
厚さは、15〜300nmである。酸化皮膜は、酸化
錫、Cu−Sn−O、Cu−Sn−X−O、またはX−
Oの化合物(ただしXは、銅基合金中に含まれる添加元
素である)のいずれでもよく組成は問わない。表面に形
成されたこのような酸化物は、Cu−Snの拡散層と相
まって耐摩耗性やすべり性を向上させる。表面酸化物
は、加熱等手段により被覆したSnそのものの上に設け
ることができるが、硬質な拡散層がないと上記のような
効果は得られ難い。以上の皮膜は電気部品のオス、メス
端子に応用する場合において、オス側、メス側のいずれ
かもしくはその両方に適用できる。さらに、必要な部分
のみに適用しても差し支えない。
【0016】
【実施例】[実施例1]表1に化学成分(wt%)を示す
厚さ0.25mmの銅または銅基合金の母材による試験材
を用意し、硫酸浴を用いた電気めっきによりSnを被覆
し、Cu−Sn拡散のための熱処理を行った。ただし、
Sn被覆厚さを種々に準備し、Snめっき後にリフロ−
処理したものも準備した。Cu−Sn拡散の熱処理温度
は250℃、処理時間2時間とし、雰囲気中の酸素濃度
を制御して最表面に種々厚さの酸化皮膜を形成させた。
酸化皮膜厚さの測定はAES、ESCAの分析装置を用
いた。以上のようにして得られた試験材を試験材番号1
〜7として表1に示した。
【0017】以上の試験材について、硬度、接触抵抗、
曲げ試験を行った。硬度の試験方法はJIS-Z-2244に従っ
て行った。接触抵抗の試験は、低電流低電圧測定装置を
用い、4端子法により測定を行った。Au接触子の最大
加重は0〜20gfまで変化させ、抵抗値を測定した。
曲げ加工性は、90゜W曲げ試験(CES-M-0002-6、R=0.
2mm、圧延方向および垂直方向)を行ったのちテ−プに
よるピ−リンクを行い、加工性と密着性を調査した。曲
げ試験後、試料中央部の山表面に割れ、剥離の発生しな
かったものは○印で評価し、割れや剥離の発生したもの
は×印で評価した。以上の測定結果を、表2に記載し
た。
【0018】表2の結果から、本発明に係わる試験材番
号1〜7の銅または銅合金は、表面の硬度が著しく改善
され、かつ接触抵抗、曲げ加工性及び密着性に優れてい
る。したがって、コネクタ、充電ソケット等の用途に適
合する非常に優れた特性を有する合金である。
【0019】さらに、実施例1の試験材番号6と同じ組
成の合金についてリフロー処理を行わなかった試験材を
準備し、熱処理後の表面粗さについて調査を行った。こ
の測定結果を試験材番号11として上記試験材番号6の
場合と併せて表3に記載した。
【0020】表3からSnめっき後リフロー処理を施し
た試験材番号6の試験材は、Snめっき後リフロー処理
を施さない試験材番号11の試験材に比べ、熱拡散処理
後の表面粗さに優れている。したがって、Snめっき後
のリフロー処理は施す方がより好ましいといえる。
【0021】
【表1】
【0022】
【表2】
【0023】
【表3】
【0024】[比較例1]比較例として、Sn皮膜の厚
さまたは表面酸化皮膜の厚さを本発明の範囲外とした他
は、同様の処理によって得られた試験材番号8〜10の
試験材を表1に併載した。また、これらの試験材につい
て硬さ、接触抵抗、曲げ加工性および密着性を測定し、
その結果を表2に併載した。
【0025】以上の結果からわかるように、Sn皮膜厚
さが大で、本発明の範囲外の試験材番号8の試験材は、
曲げ加工性に劣り、電気部品等の材料としては不適であ
る。次に酸化皮膜厚さが大で、本発明の範囲外の試験材
番号9の試験材は、接触抵抗の増大や密着性の低下があ
り、電気部品等の材料としては不適である。また、Sn
皮膜厚さが薄い試験材番号10の試験材は、表面硬さが
改善できないため、電気部品等の材料としては不適であ
る。
【0026】[実施例2]端子としての評価のため、本
発明の処理を行なった表4の試験材番号6の試験材をプ
レス加工し、図1および図2に示す端子を作成した。図
1はバネ部2を備えたメス端子1を示し、図2はタブ部
4を備えたオス端子3を示す。そして、本発明合金の目
的の1つとする挿入力および端子の電気特性の評価を行
った。挿入力の測定は、試験材で作成した図1のメス端
子に、図2に示すオス端子を毎分10mmの速度で挿入
し、ロードセルにより挿入力を測定した。測定結果を表
5に示した。また、この挿入回数に対する挿入力の変化
をそのバラツキと共に図3に示した。さらに、10回の
挿抜後の低電圧低電流抵抗の測定を、JIS C 54
02に従って行ない、その測定結果を表6に示した。
【0027】
【表4】
【0028】
【表5】
【0029】
【表6】
【0030】[比較例2]試験材番号6と同じ母材によ
り、同様めっき処理を行なったが、熱拡散処理を行なわ
なかった比較試験材を表4に試験材番号12として併載
した。この試験材12について上記試験材番号6の試験
材の場合と同様に挿入力測定と硬さ測定を行ない、その
結果を、表5および図3に併載した。また、上記試験材
番号6の試験材と同様に低電圧低電流抵抗値の測定を行
ない、その結果を表6に併載した。
【0031】表5および図3より、Snめっきリフロー
して熱処理を行なった本発明の試験材番号6の端子の挿
入力は、従来品相当の試験材番号12の端子の場合に比
べて低減され、バラツキも少なくなっていることがわか
る。さらに、挿抜の繰返しによる挿入力の変化が小さ
く、安定しているため硬さも大で耐磨耗性に優れている
といえる。また、表6より、本発明合金と従来品は、初
期、耐久後共に低電圧低電流抵抗値が同等であるといえ
る。以上により、本発明合金によれば、抵抗の増加を招
くことなく挿入力を大幅に低減させることができ、耐磨
耗性に優れた特性をもつ端子が得られる。
【0032】[比較例3]実施例1に示した試験材番号
6の試験材と同じ組成で同様のSn被覆処理を行った
後、H2 気流中で加熱することにより表面の酸化被膜を
極めて薄くしたCu−Sn拡散層を持った比較試験材に
ついて、実施例2と同様に挿入力を測定し、その測定結
果を試験材番号13として、試験材番号6の場合と併せ
て表7に示した。この表7より、本発明において規定さ
れている酸化被膜厚さを得ることにより、すべり性が向
上し、端子の挿入力が低減されることがわかる。
【0033】
【表7】
【0034】
【発明の効果】最表面に厚さが制御された酸化皮膜を有
し、その内側にCu−Sn系金属間化合物を有する本発
明の銅または銅基合金によれば、表面皮膜の表面硬さが
大で、すぐれたすべり性を有し、摩擦係数が小さい耐摩
耗性被覆を有する銅または銅基合金が得られる。またこ
の銅または銅基合金は被覆の密着性がよく従って曲げ加
工性がよく、また、接触抵抗が小さい等電気特性に優れ
ると共に端子挿入力が小さく、近年の自動車電装品等の
高密度化に対応できるコネクタ材ならびに耐磨耗性や耐
食性が要求される電気部品に好適に利用できるという効
果を奏する。
【0035】上記に加え、厚さが適性に制御されたCu
−Sn系金属間化合物層を備えることにより、さらに接
触抵抗等電気特性や密着性等加工性、さらには耐腐食性
を着実に確保できるという効果を奏する。素材銅または
銅基合金にSn層を形成した後、熱処理するという本発
明の製造法によれば、上記の諸特性を有する耐摩耗性銅
または銅基合金を容易に製造できるという効果を奏し、
また、リフロー処理を行なうことにより、さらに熱処理
後の表面粗さ等表面特性の優れたものが得られるという
効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例および比較例において作製した
銅基合金によるメス端子の部分側面断面図である。
【図2】本発明の実施例および比較例において作製した
銅基合金によるオス端子の側面図である。
【図3】図1のメス端子と図2のオス端子の組合わせに
おける挿入回数と挿入力の関係を示した図表である。
【符号の説明】
1 メス端子 2 バネ部 3 オス端子 4 タブ部
フロントページの続き (72)発明者 遠藤 隆吉 静岡県榛原郡榛原町布引原206−1 (56)参考文献 特開2001−169995(JP,A) 特開 平8−55521(JP,A) 特開 昭58−61268(JP,A) 特開 昭61−166987(JP,A) 特開 昭56−156769(JP,A) 特開 昭60−105259(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 8/10 C23C 30/00 C25D 5/50

Claims (18)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 最表面に厚さが10〜1000nmの酸
    化皮膜層とその内側にCu−Snを主体とする金属間化
    合物層を形成させたことを特徴とする耐摩耗性銅または
    銅基合金。
  2. 【請求項2】 最表面に厚さが10〜1000nmの酸
    化皮膜層とその内側に厚さが0.1〜10μmのCu−
    Snを主体とする金属間化合物層を形成させたことを特
    徴とする耐摩耗性銅または銅基合金。
  3. 【請求項3】 素材銅または銅基合金にSnを被覆した
    後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが10
    〜1000nmの酸化皮膜層とその内側にCu−Snを
    主体とする金属間化合物層を形成させることを特徴とす
    る耐摩耗性銅または銅基合金の製造方法。
  4. 【請求項4】 素材銅または銅基合金にSnを被覆した
    後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが10
    〜1000nmの酸化皮膜層とその内側に厚さが0.1
    〜10μmのCu−Snを主体とする金属間化合物層を
    形成させることを特徴とする耐摩耗性銅または銅基合金
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 素材銅または銅基合金にSnを被覆し、
    リフロー処理した後に、熱処理を施すことによって、最
    表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層とその内
    側にCu−Snを主体とする金属間化合物層を形成させ
    ることを特徴とする耐摩耗性銅または銅基合金の製造方
    法。
  6. 【請求項6】 素材銅または銅基合金にSnを被覆し、
    リフロー処理した後に、熱処理を施すことによって、最
    表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層とその内
    側に厚さが0.1〜10μmのCu−Snを主体とする
    金属間化合物層を形成させることを特徴とする耐摩耗性
    銅または銅基合金の製造方法。
  7. 【請求項7】 最表面に厚さが10〜1000nmの酸
    化皮膜層とその内側にCu−Snを主体とする金属間化
    合物層を形成させた耐摩耗性銅または銅基合金からなる
    ことを特徴とする電気部品。
  8. 【請求項8】 最表面に厚さが10〜1000nmの酸
    化皮膜層とその内側に厚さが0.1〜10μmのCu−
    Snを主体とする金属間化合物層を形成させた耐摩耗性
    銅または銅基合金からなることを特徴とした電気部品。
  9. 【請求項9】 素材銅または銅基合金にSnを被覆した
    後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが10
    〜1000nmの酸化皮膜層とその内側にCu−Snを
    主体とする金属間化合物層を形成させた耐摩耗性銅また
    は銅基合金からなることを特徴とした電気部品。
  10. 【請求項10】 素材銅または銅基合金にSnを被覆し
    た後に、熱処理を施すことによって、最表面に厚さが1
    0〜1000nmの酸化皮膜層とその内側に厚さが0.
    1〜10μmのCu−Snを主体とする金属間化合物層
    を形成させた耐摩耗性銅または銅基合金からなることを
    特徴とした電気部品。
  11. 【請求項11】 素材銅または銅基合金にSnを被覆
    し、リフロー処理した後に、熱処理を施すことによっ
    て、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層と
    その内側にCu−Snを主体とする金属間化合物層を形
    成させた耐摩耗性銅または銅基合金からなることを特徴
    とする電気部品。
  12. 【請求項12】 素材銅または銅基合金にSnを被覆
    し、リフロー処理した後に、熱処理を施すことによっ
    て、最表面に厚さが10〜1000nmの酸化皮膜層と
    その内側に厚さが0.1〜10μmのCu−Snを主体
    とする金属間化合物層を形成させた耐摩耗性銅または銅
    基合金からなることを特徴とする電気部品。
  13. 【請求項13】 接触抵抗が60mΩ以下であることを
    特徴とする特許請求項1または2に記載の耐摩耗性銅ま
    たは銅基合金。
  14. 【請求項14】 前記耐摩耗性銅または銅基合金の接触
    抵抗が60mΩ以下であることを特徴とする特許請求項
    3〜6に記載の耐摩耗性銅または銅基合金の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記耐摩耗性銅または銅基合金の接触
    抵抗が60mΩ以下であることを特徴とする特許請求項
    7〜12に記載の電気部品。
  16. 【請求項16】 表面硬さがHV250以上であること
    を特徴とする特許請求項1または2または13に記載の
    耐摩耗性銅または銅基合金。
  17. 【請求項17】 前記耐摩耗性銅または銅基合金の表面
    硬さがHV250以上であることを特徴とする特許請求
    項3〜6または14に記載の耐摩耗性銅または銅基合金
    の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記耐摩耗性銅または銅基合金の表面
    硬さがHV250以上であることを特徴とする特許請求
    項7〜12または15に記載の電気部品。
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