JP3454905B2 - 測定器の位置決め装置 - Google Patents
測定器の位置決め装置Info
- Publication number
- JP3454905B2 JP3454905B2 JP03549294A JP3549294A JP3454905B2 JP 3454905 B2 JP3454905 B2 JP 3454905B2 JP 03549294 A JP03549294 A JP 03549294A JP 3549294 A JP3549294 A JP 3549294A JP 3454905 B2 JP3454905 B2 JP 3454905B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- reference value
- positioning
- shielding member
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一次元イメージセンサ
を用いた測定器の位置決め装置に関するものである。
を用いた測定器の位置決め装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、一次元イメージセンサを用い
ることで、物体の寸法や物体間の間隔,位置などを測定
することができる寸法測定器がある。この種の測定器の
一例を図7に示す。
ることで、物体の寸法や物体間の間隔,位置などを測定
することができる寸法測定器がある。この種の測定器の
一例を図7に示す。
【0003】図7において、光源100は、近似的に点
光源とみなせるもので、たとえば可視レーザ光のような
レーザ光Lを出射する。レーザ光Lは、コリメータレン
ズ101を通過することで平行光L1となって、対象物
102に照射され、平行光L1の一部(透過光)が、一
次元イメージセンサ1に照射される。一次元イメージセ
ンサ1は、たとえばCCDのような受光素子11 〜1n
を多数リニアに並べたもので、光のエネルギを電気信号
に変換するものである。図示しない信号処理回路および
マイクロコンピュータ(以下、「マイコン」という)
は、各受光素子11 〜1n からの出力に基づいて、対象
物102のエッジE1 ,E2 の位置を検出し、たとえば
対象物102の寸法D、つまり、所定の2つのエッジE
1 ,E2 を基準とした寸法を測定する。
光源とみなせるもので、たとえば可視レーザ光のような
レーザ光Lを出射する。レーザ光Lは、コリメータレン
ズ101を通過することで平行光L1となって、対象物
102に照射され、平行光L1の一部(透過光)が、一
次元イメージセンサ1に照射される。一次元イメージセ
ンサ1は、たとえばCCDのような受光素子11 〜1n
を多数リニアに並べたもので、光のエネルギを電気信号
に変換するものである。図示しない信号処理回路および
マイクロコンピュータ(以下、「マイコン」という)
は、各受光素子11 〜1n からの出力に基づいて、対象
物102のエッジE1 ,E2 の位置を検出し、たとえば
対象物102の寸法D、つまり、所定の2つのエッジE
1 ,E2 を基準とした寸法を測定する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この種の測定器では、
上記光源100およびコリメータレンズ101などから
なる投光装置(投光ヘッド)103と、上記一次元イメ
ージセンサ1などからなる受光装置(受光ヘッド)10
4とを別体にしたものがある。この場合、投光装置10
3と受光装置104を、検査ラインなどに別々に取り付
けるのであるが、この取付時に、投光装置103と受光
装置104との相対的な位置決めを行なう必要がある。
しかし、従来は、この位置決めを両装置103,104
の機械的寸法に基づいて行なっていたので、正確に位置
決めすることが困難である。しかも、位置決めされてい
るか否かの確認もできない。
上記光源100およびコリメータレンズ101などから
なる投光装置(投光ヘッド)103と、上記一次元イメ
ージセンサ1などからなる受光装置(受光ヘッド)10
4とを別体にしたものがある。この場合、投光装置10
3と受光装置104を、検査ラインなどに別々に取り付
けるのであるが、この取付時に、投光装置103と受光
装置104との相対的な位置決めを行なう必要がある。
しかし、従来は、この位置決めを両装置103,104
の機械的寸法に基づいて行なっていたので、正確に位置
決めすることが困難である。しかも、位置決めされてい
るか否かの確認もできない。
【0005】本発明は上記従来の問題に鑑みてなされた
もので、その目的は、受光装置と投光装置とが別体の測
定器において、両者の位置決めが容易にでき、しかも、
位置決めの確認を行い得る測定器の位置決め装置を提供
することである。
もので、その目的は、受光装置と投光装置とが別体の測
定器において、両者の位置決めが容易にでき、しかも、
位置決めの確認を行い得る測定器の位置決め装置を提供
することである。
【0006】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、本発明は、投光装置からの光の一部を遮
光する遮光部材と、この遮光部材を上記投光装置の所定
の位置に位置決めする遮光部材位置決め手段とを備えて
いる。
成するために、本発明は、投光装置からの光の一部を遮
光する遮光部材と、この遮光部材を上記投光装置の所定
の位置に位置決めする遮光部材位置決め手段とを備えて
いる。
【0007】本発明によれば、投光装置からの光の一部
を遮光する遮光部材を投光装置の所定の位置に位置決め
できるから、仮に、投光装置と受光装置とが正確に位置
決めされているとすれば、一次元イメージセンサにおけ
る所定のアドレスの受光素子が、遮光部材のエッジを検
出するはずである。そのため、投光装置と受光装置とが
相対的に位置決めされているか否かを、一次元イメージ
センサの出力に基づいて判断することができる。したが
って、受光装置を位置決めする際には、上記出力を監視
しながら受光装置の位置を調整することで、両者の相対
的な位置決めを容易に行なうことができるとともに、位
置決めの確認を行なうことができる。
を遮光する遮光部材を投光装置の所定の位置に位置決め
できるから、仮に、投光装置と受光装置とが正確に位置
決めされているとすれば、一次元イメージセンサにおけ
る所定のアドレスの受光素子が、遮光部材のエッジを検
出するはずである。そのため、投光装置と受光装置とが
相対的に位置決めされているか否かを、一次元イメージ
センサの出力に基づいて判断することができる。したが
って、受光装置を位置決めする際には、上記出力を監視
しながら受光装置の位置を調整することで、両者の相対
的な位置決めを容易に行なうことができるとともに、位
置決めの確認を行なうことができる。
【0008】本発明においては、光軸に対する一次元イ
メージセンサの位置決めの基準となる基準値を記憶する
基準値記憶部と、位置判定手段とを設けるのが好まし
い。この場合、位置判定手段は、光軸に対する一次元イ
メージセンサの相対位置の良否を判定する位置決めモー
ドにおいて、上記遮光部材を位置決めした状態で受光装
置が検出した遮光部材のエッジ位置によって定まる遮光
部材の検出位置と、上記基準値とを比較して、その比較
結果を出力する。
メージセンサの位置決めの基準となる基準値を記憶する
基準値記憶部と、位置判定手段とを設けるのが好まし
い。この場合、位置判定手段は、光軸に対する一次元イ
メージセンサの相対位置の良否を判定する位置決めモー
ドにおいて、上記遮光部材を位置決めした状態で受光装
置が検出した遮光部材のエッジ位置によって定まる遮光
部材の検出位置と、上記基準値とを比較して、その比較
結果を出力する。
【0009】さらに、上記基準値記憶部は、上記基準値
として下限基準値および上限基準値を記憶しており、上
記位置判定手段は、上記位置決めモードにおいて、下限
基準値および上限基準値と上記遮光部材の検出位置とを
比較し、光軸に対し一次元イメージセンサが位置決めさ
れていると判断した場合にOK信号を出力するのが好ま
しい。
として下限基準値および上限基準値を記憶しており、上
記位置判定手段は、上記位置決めモードにおいて、下限
基準値および上限基準値と上記遮光部材の検出位置とを
比較し、光軸に対し一次元イメージセンサが位置決めさ
れていると判断した場合にOK信号を出力するのが好ま
しい。
【0010】また、上記位置判定手段は、上記位置決め
モードにおいて、上記遮光部材の検出位置が下限値より
も小さい場合と、上記遮光部材の検出位置が上限値より
も大きい場合とで異なる信号を出力するのが好ましい。
モードにおいて、上記遮光部材の検出位置が下限値より
も小さい場合と、上記遮光部材の検出位置が上限値より
も大きい場合とで異なる信号を出力するのが好ましい。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面にしたがって説
明する。図1ないし図4は第1実施例を示す。図1にお
いて、一次元イメージセンサ1は、図示しないタイミン
グ発生器から出力されるリセット信号、スタート信号お
よびシフト信号によって、CCD(受光素子)11 〜1
n の配列方向に一定周期で走査を繰り返しつつ、受光素
子1iに入射した光L1の光電変換を行う。一次元イメ
ージセンサ1からの出力は、サンプルホールド回路2お
よびA/Dコンバータ3を介して、光量データメモリ4
およびエッジ検出回路5に入力される。エッジ検出回路
5は、A/Dコンバータ3からの光量信号を、デジタル
コンパレータ6が所定の閾値と比較して2値化する。上
記エッジ検出回路5は、i番目のアドレスと(i+1)
番目のアドレスの2値化情報(明または暗の情報)を次
々と比較し、両アドレスの情報が変化した位置にエッジ
(明暗の境界)Ei (図7)が存在すると判定し、その
エッジEiのアドレスXi をエッジアドレスメモリ7に
記憶させる。なお、以上の構成からなる信号処理回路に
おいて、種々のアンプは、その図示および説明を省略し
ている。
明する。図1ないし図4は第1実施例を示す。図1にお
いて、一次元イメージセンサ1は、図示しないタイミン
グ発生器から出力されるリセット信号、スタート信号お
よびシフト信号によって、CCD(受光素子)11 〜1
n の配列方向に一定周期で走査を繰り返しつつ、受光素
子1iに入射した光L1の光電変換を行う。一次元イメ
ージセンサ1からの出力は、サンプルホールド回路2お
よびA/Dコンバータ3を介して、光量データメモリ4
およびエッジ検出回路5に入力される。エッジ検出回路
5は、A/Dコンバータ3からの光量信号を、デジタル
コンパレータ6が所定の閾値と比較して2値化する。上
記エッジ検出回路5は、i番目のアドレスと(i+1)
番目のアドレスの2値化情報(明または暗の情報)を次
々と比較し、両アドレスの情報が変化した位置にエッジ
(明暗の境界)Ei (図7)が存在すると判定し、その
エッジEiのアドレスXi をエッジアドレスメモリ7に
記憶させる。なお、以上の構成からなる信号処理回路に
おいて、種々のアンプは、その図示および説明を省略し
ている。
【0012】上記光量データメモリ4およびエッジアド
レスメモリ7の情報はマイコンMによって読み出され
る。上記マイコンMには、CPU10およびメモリ20
が内蔵されているとともに、操作部8および表示器9が
接続されている。CPU10は、寸法算出手段11およ
び位置判定手段12を備えている。上記寸法算出手段1
1は、エッジアドレスメモリ7から寸法測定の基準とな
るエッジアドレスX2 ,X1 を読み出し、下記の(1)
式に従って、たとえば図7の対象物102の寸法Dを算
出する。 D=(X2 −X1 )・P …(1) 但し、P:受光素子のピッチ
レスメモリ7の情報はマイコンMによって読み出され
る。上記マイコンMには、CPU10およびメモリ20
が内蔵されているとともに、操作部8および表示器9が
接続されている。CPU10は、寸法算出手段11およ
び位置判定手段12を備えている。上記寸法算出手段1
1は、エッジアドレスメモリ7から寸法測定の基準とな
るエッジアドレスX2 ,X1 を読み出し、下記の(1)
式に従って、たとえば図7の対象物102の寸法Dを算
出する。 D=(X2 −X1 )・P …(1) 但し、P:受光素子のピッチ
【0013】つぎに、本発明の要部について説明する。
図1において、投光装置103には、そのケース105
に、遮光部材50を取り付けるための取付部41が設け
られている。遮光部材50は、ボルト42を取付部41
にねじ込むことにより、投光装置103のケース105
に固定される。上記取付部41およびボルト42は、本
発明の遮光部材位置決め手段40を構成しており、遮光
部材50を所定の位置に位置決めする。
図1において、投光装置103には、そのケース105
に、遮光部材50を取り付けるための取付部41が設け
られている。遮光部材50は、ボルト42を取付部41
にねじ込むことにより、投光装置103のケース105
に固定される。上記取付部41およびボルト42は、本
発明の遮光部材位置決め手段40を構成しており、遮光
部材50を所定の位置に位置決めする。
【0014】上記遮光部材50は、たとえば断面L字状
の板からなり、投光装置103からのレーザ光Lの一部
を遮光するものである。この実施例の場合、遮光部材5
0は、そのエッジ51が光軸S上に設定されており、測
定エリアAにおける上半分を遮光する。
の板からなり、投光装置103からのレーザ光Lの一部
を遮光するものである。この実施例の場合、遮光部材5
0は、そのエッジ51が光軸S上に設定されており、測
定エリアAにおける上半分を遮光する。
【0015】上記基準値記憶部21は、光軸Sに対する
一次元イメージセンサ1の位置決めの良否の基準となる
基準値mを記憶している。つまり、上記基準値記憶部2
1は、投光装置103と受光装置104とが相対的に位
置決めされているか否かの基準となる基準値mを記憶し
ている。この基準値mは、投光装置103と受光装置1
04とが相対的に正確に位置決めされているとした場合
において、遮光部材50のエッジ51が現れる受光素子
1m のアドレスに相当する。なお、この場合、遮光部材
50のエッジ51は光軸S上に設定されているので、基
準値mの値はn/2である。
一次元イメージセンサ1の位置決めの良否の基準となる
基準値mを記憶している。つまり、上記基準値記憶部2
1は、投光装置103と受光装置104とが相対的に位
置決めされているか否かの基準となる基準値mを記憶し
ている。この基準値mは、投光装置103と受光装置1
04とが相対的に正確に位置決めされているとした場合
において、遮光部材50のエッジ51が現れる受光素子
1m のアドレスに相当する。なお、この場合、遮光部材
50のエッジ51は光軸S上に設定されているので、基
準値mの値はn/2である。
【0016】また、上記基準値記憶部21は、上記基準
値mの他に、下限基準値(m−α)および上限基準値
(m+α)を記憶している。これらの上下限基準値(m
+α),(m−α)は、位置決めの許容範囲の上下限の
基準となる。
値mの他に、下限基準値(m−α)および上限基準値
(m+α)を記憶している。これらの上下限基準値(m
+α),(m−α)は、位置決めの許容範囲の上下限の
基準となる。
【0017】上記位置判定手段12は、光軸Sに対する
一次元イメージセンサ1の相対位置の良否を判定する位
置決めモードにおいて、図2の遮光部材50のエッジを
検出した受光素子1X のアドレス(エッジ位置)Xと、
図1の基準値記憶部21に記憶されている各基準値m,
(m−α),(m+α)とを比較して、その比較結果を
表示器9に出力するものである。この実施例の場合、上
記位置判定手段12は、位置決めモードにおいて、図3
(b)の下限基準値(m−α)および上限基準値(m+
α)と、上記エッジ位置Xとを比較し、(m−α)≦X
≦(m+α)であれば、図1の光軸Sに対し、一次元イ
メージセンサ1が十分位置決めされていると判断し、O
K信号を表示器9に出力して、表示器9に「0」の文字
を表示させる。
一次元イメージセンサ1の相対位置の良否を判定する位
置決めモードにおいて、図2の遮光部材50のエッジを
検出した受光素子1X のアドレス(エッジ位置)Xと、
図1の基準値記憶部21に記憶されている各基準値m,
(m−α),(m+α)とを比較して、その比較結果を
表示器9に出力するものである。この実施例の場合、上
記位置判定手段12は、位置決めモードにおいて、図3
(b)の下限基準値(m−α)および上限基準値(m+
α)と、上記エッジ位置Xとを比較し、(m−α)≦X
≦(m+α)であれば、図1の光軸Sに対し、一次元イ
メージセンサ1が十分位置決めされていると判断し、O
K信号を表示器9に出力して、表示器9に「0」の文字
を表示させる。
【0018】一方、上記位置判定手段12は、位置決め
モードにおいて、図3(b)に示すように、X>(m+
α)の場合には、その差(X−m)に受光素子1i のピ
ッチPを乗算したズレ量P・(X−m)を、図1の表示
器9に表示させる。したがって、この場合の表示は、た
とえば、「3.7 」のように正の値で表示される。
モードにおいて、図3(b)に示すように、X>(m+
α)の場合には、その差(X−m)に受光素子1i のピ
ッチPを乗算したズレ量P・(X−m)を、図1の表示
器9に表示させる。したがって、この場合の表示は、た
とえば、「3.7 」のように正の値で表示される。
【0019】また、上記位置判定手段12は、位置決め
モードにおいて、X<(m−α)の場合には、その差
(X−m)に受光素子1i のピッチPを乗算したズレ量
P・(X−m)を表示器9に表示させる。したがって、
この場合の表示は、たとえば、「−4.8 」のように負の
値で表示される。つまり、位置判定手段12には、エッ
ジ位置Xが上限基準値(m+α)よりも大きい場合と、
下限基準値(m−α)よりも小さい場合とで、正、負の
互いに異なる信号を表示器9に出力する。
モードにおいて、X<(m−α)の場合には、その差
(X−m)に受光素子1i のピッチPを乗算したズレ量
P・(X−m)を表示器9に表示させる。したがって、
この場合の表示は、たとえば、「−4.8 」のように負の
値で表示される。つまり、位置判定手段12には、エッ
ジ位置Xが上限基準値(m+α)よりも大きい場合と、
下限基準値(m−α)よりも小さい場合とで、正、負の
互いに異なる信号を表示器9に出力する。
【0020】なお、その他の構成は、図7の従来例と同
様であり、同一部分または相当部分に同一符号を付し
て、その詳しい説明を省略する。
様であり、同一部分または相当部分に同一符号を付し
て、その詳しい説明を省略する。
【0021】つぎに、光軸Sに対する一次元イメージセ
ンサ1の位置決め方法について説明する。まず、投光装
置103を検査ラインなどの所定の位置に設置するとと
もに、遮光部材位置決め手段40によって遮光部材50
を投光装置103に対して位置決めした状態で固定す
る。つづいて、受光装置104を検査ラインの反対側に
仮に取り付けておく。この状態で、操作部8を操作し
て、位置決めモードに設定し、光源100からレーザ光
Lを出射させる。これにより、エッジ検出回路5は、遮
光部材50のエッジ51が現れるエッジ位置(アドレ
ス)をエッジアドレスメモリ7に書き込む。
ンサ1の位置決め方法について説明する。まず、投光装
置103を検査ラインなどの所定の位置に設置するとと
もに、遮光部材位置決め手段40によって遮光部材50
を投光装置103に対して位置決めした状態で固定す
る。つづいて、受光装置104を検査ラインの反対側に
仮に取り付けておく。この状態で、操作部8を操作し
て、位置決めモードに設定し、光源100からレーザ光
Lを出射させる。これにより、エッジ検出回路5は、遮
光部材50のエッジ51が現れるエッジ位置(アドレ
ス)をエッジアドレスメモリ7に書き込む。
【0022】つづいて、位置判定手段12は、図4のス
テップS1において、エッジ位置Xが下限基準値(m−
α)よりも小さいか否かを判断し、小さければステップ
S2に進みズレ量を負の値で表示させる。一方、X≧
(m−α)であれば、ステップS3に進み、エッジ位置
Xが上限基準値(m+α)よりも大きいか否かを判断す
る。判断の結果、X>(m+α)であれば、ステップS
4に進み、ズレ量を正の値で表示させる。一方、X≦
(m+α)であれば、位置決めされていることを意味す
る「0」を表示させる。
テップS1において、エッジ位置Xが下限基準値(m−
α)よりも小さいか否かを判断し、小さければステップ
S2に進みズレ量を負の値で表示させる。一方、X≧
(m−α)であれば、ステップS3に進み、エッジ位置
Xが上限基準値(m+α)よりも大きいか否かを判断す
る。判断の結果、X>(m+α)であれば、ステップS
4に進み、ズレ量を正の値で表示させる。一方、X≦
(m+α)であれば、位置決めされていることを意味す
る「0」を表示させる。
【0023】したがって、取付時には、図2の光軸Sに
対して一次元イメージセンサ1が、つまり、投光装置1
03に対して受光装置104が、どの方向にどれだけズ
レているか容易に分かるから、図1の表示器9の表示を
見ながら、受光装置104の位置を容易に調整すること
ができるとともに、位置決めされたことを確認すること
ができる。
対して一次元イメージセンサ1が、つまり、投光装置1
03に対して受光装置104が、どの方向にどれだけズ
レているか容易に分かるから、図1の表示器9の表示を
見ながら、受光装置104の位置を容易に調整すること
ができるとともに、位置決めされたことを確認すること
ができる。
【0024】ところで、図3(a)のように、エッジ位
置Xを、基準値mに合致させるのは、つまり、完全に正
確に位置決めするのは、一般に無意味である一方で、困
難を伴う。ここで、本実施例では、基準値として、下限
基準値(m−α)および上限基準値(m+α)を記憶さ
せて、位置決めの許容範囲を設けているので、位置決め
が更に容易になる。
置Xを、基準値mに合致させるのは、つまり、完全に正
確に位置決めするのは、一般に無意味である一方で、困
難を伴う。ここで、本実施例では、基準値として、下限
基準値(m−α)および上限基準値(m+α)を記憶さ
せて、位置決めの許容範囲を設けているので、位置決め
が更に容易になる。
【0025】ところで、上記実施例では、基準値mを基
準としたズレ量などを表示したが、本発明では、必ずし
もズレ量を表示する必要はない。たとえば、図2の端部
の受光素子11 からエッジ51を検出した受光素子1X
までの距離Leを表示してもよい。このような表示であ
っても、表示された距離Leの値によって、位置決めさ
れているか否かの判断を行なうことができる。
準としたズレ量などを表示したが、本発明では、必ずし
もズレ量を表示する必要はない。たとえば、図2の端部
の受光素子11 からエッジ51を検出した受光素子1X
までの距離Leを表示してもよい。このような表示であ
っても、表示された距離Leの値によって、位置決めさ
れているか否かの判断を行なうことができる。
【0026】また、上記実施例では、位置決め結果を数
値で表示させたが、結果の表示はLEDなどを点灯させ
るだけでもよい。また、上記実施例では、OK信号によ
り、表示器9に「0」の文字を表示させたが、OK信号
の出力で「OK」の文字を表示させてもよい。一方、O
K信号を出力せずに、常に、基準値mからのズレ量を表
示する等してもよい。
値で表示させたが、結果の表示はLEDなどを点灯させ
るだけでもよい。また、上記実施例では、OK信号によ
り、表示器9に「0」の文字を表示させたが、OK信号
の出力で「OK」の文字を表示させてもよい。一方、O
K信号を出力せずに、常に、基準値mからのズレ量を表
示する等してもよい。
【0027】また、上記実施例では、遮光部材50のエ
ッジ位置Xと基準値mとを比較したが、本発明では、必
ずしもかかる方法に限定されない。その一例を、図5お
よび図6の第2実施例を用いて説明する。
ッジ位置Xと基準値mとを比較したが、本発明では、必
ずしもかかる方法に限定されない。その一例を、図5お
よび図6の第2実施例を用いて説明する。
【0028】図5は、遮光部材50の他の例を示す。遮
光部材50は、2つの透光用窓52によって4つのエッ
ジ51A〜51Dを形成している。上記4つのエッジ5
1A〜51Dに対応する図6の4つの受光素子1X1〜1
X4のアドレスX1 〜X4 は、投光装置103と受光装置
104とが相対的に位置決めされているとすると、下記
の(2)式の関係に設定されている。 (X1 +X2 +X3 +X4 )/4=m …(2)
光部材50は、2つの透光用窓52によって4つのエッ
ジ51A〜51Dを形成している。上記4つのエッジ5
1A〜51Dに対応する図6の4つの受光素子1X1〜1
X4のアドレスX1 〜X4 は、投光装置103と受光装置
104とが相対的に位置決めされているとすると、下記
の(2)式の関係に設定されている。 (X1 +X2 +X3 +X4 )/4=m …(2)
【0029】この実施例では、位置判定手段12(図
1)が4つのエッジアドレス(X1 〜X4 )の平均値X
A を算出し、この平均値XA と基準値mとを比較して、
その比較結果を出力する。すなわち、本発明は、遮光部
材50を投光装置103に位置決めした状態で受光装置
104が検出した遮光部材50のエッジ位置Xi によっ
て定まる遮光部材50の検出位置(平均値)XA と、基
準値mとを比較して、その比較結果を出力するものであ
ってもよい。なお、基準値mは必ずしも(n/2)であ
る必要はなく、たとえば(n/3),(n/4)などで
あってもよい。
1)が4つのエッジアドレス(X1 〜X4 )の平均値X
A を算出し、この平均値XA と基準値mとを比較して、
その比較結果を出力する。すなわち、本発明は、遮光部
材50を投光装置103に位置決めした状態で受光装置
104が検出した遮光部材50のエッジ位置Xi によっ
て定まる遮光部材50の検出位置(平均値)XA と、基
準値mとを比較して、その比較結果を出力するものであ
ってもよい。なお、基準値mは必ずしも(n/2)であ
る必要はなく、たとえば(n/3),(n/4)などで
あってもよい。
【0030】また、上記各実施例では、図5の遮光部材
50のボルト挿通孔53に図6のボルト42を挿通させ
て、遮光部材50を投光装置103に固定することで、
遮光部材50を投光装置103に位置決めしたが、本発
明では、遮光部材50を投光装置103に固定する必要
はない。たとえば、投光装置103に遮光部材50を落
とし込む溝を設けて、遮光部材50を投光装置103に
落とし込んで固定せずに位置決めしただけでもよい。
50のボルト挿通孔53に図6のボルト42を挿通させ
て、遮光部材50を投光装置103に固定することで、
遮光部材50を投光装置103に位置決めしたが、本発
明では、遮光部材50を投光装置103に固定する必要
はない。たとえば、投光装置103に遮光部材50を落
とし込む溝を設けて、遮光部材50を投光装置103に
落とし込んで固定せずに位置決めしただけでもよい。
【0031】また、上記各実施例では、遮光部材50が
板材で形成されていたが、遮光部材50は投光装置10
3からのレーザ光の一部を遮光するものであればよく、
たとえば遮光部分が細い棒状のものであってもよい。な
お、本発明は対象物間の距離や位置だけでなく、対象物
における特定の部分の寸法測定についても適用し得るこ
とはいうまでもない。また、受光素子としてはCCDに
限らずCPDなどであってもよい。また、各実施例のよ
うに、レーザ光を用いた測定器では、レーザ光が指向性
に優れているので、投受光装置が離れていても精度良く
位置決めすることができる。しかし、レーザ光以外の光
を用いた場合も本発明の範囲に含まれることはいうまで
もない。
板材で形成されていたが、遮光部材50は投光装置10
3からのレーザ光の一部を遮光するものであればよく、
たとえば遮光部分が細い棒状のものであってもよい。な
お、本発明は対象物間の距離や位置だけでなく、対象物
における特定の部分の寸法測定についても適用し得るこ
とはいうまでもない。また、受光素子としてはCCDに
限らずCPDなどであってもよい。また、各実施例のよ
うに、レーザ光を用いた測定器では、レーザ光が指向性
に優れているので、投受光装置が離れていても精度良く
位置決めすることができる。しかし、レーザ光以外の光
を用いた場合も本発明の範囲に含まれることはいうまで
もない。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
投光装置からの光の一部を遮光する遮光部材を投光装置
の所定の位置にセットして、遮光部材のエッジの位置が
受光素子の所定のアドレスに現れたか否かによって、受
光装置が位置決めされたか否かを判断することができ
る。したがって、位置決めが容易になるとともに、位置
決めされたか否かの判断を行なうことができる。
投光装置からの光の一部を遮光する遮光部材を投光装置
の所定の位置にセットして、遮光部材のエッジの位置が
受光素子の所定のアドレスに現れたか否かによって、受
光装置が位置決めされたか否かを判断することができ
る。したがって、位置決めが容易になるとともに、位置
決めされたか否かの判断を行なうことができる。
【0033】また、請求項2の発明によれば、光軸に対
する一次元イメージセンサの位置決めの良否の基準とな
る基準値と、検出した遮光部材の検出位置とを比較し、
その比較結果を出力するので、受光装置の位置ズレの状
態を把握することができるから、位置決めが更に容易に
なる。
する一次元イメージセンサの位置決めの良否の基準とな
る基準値と、検出した遮光部材の検出位置とを比較し、
その比較結果を出力するので、受光装置の位置ズレの状
態を把握することができるから、位置決めが更に容易に
なる。
【0034】さらに、請求項3の発明によれば、基準値
として上下限基準値を設定して、許容範囲を設けるとと
もに、この許容範囲内に入っている場合にOK信号を出
力するので、位置決めされているか否かの判断が更に容
易になるから、位置決めがより一層容易になる。
として上下限基準値を設定して、許容範囲を設けるとと
もに、この許容範囲内に入っている場合にOK信号を出
力するので、位置決めされているか否かの判断が更に容
易になるから、位置決めがより一層容易になる。
【0035】また、請求項4の発明によれば、検出した
遮光部材の検出位置が下限値よりも小さい場合と、上限
値よりも大きい場合とで異なる信号を出力するので、受
光装置のズレている方向を知ることができるから、受光
装置の位置決めが極めて容易になる。
遮光部材の検出位置が下限値よりも小さい場合と、上限
値よりも大きい場合とで異なる信号を出力するので、受
光装置のズレている方向を知ることができるから、受光
装置の位置決めが極めて容易になる。
【図1】本発明の第1実施例にかかる寸法測定器の概略
構成図である。
構成図である。
【図2】位置決め方法を示す寸法測定器の構成図であ
る。
る。
【図3】デジタルコンパレータの出力を示す特性図であ
る。
る。
【図4】位置判定手段の動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図5】第2実施例にかかる遮光部材の斜視図である。
【図6】第2実施例にかかる寸法測定器の概略構成図で
る。
る。
【図7】一般的な寸法測定器を示す概略構成図である。
1:一次元イメージセンサ
12:位置判定手段
21:基準値記憶部
40:遮光部材位置決め手段
50:遮光部材
51:エッジ
102:対象物
103:投光装置
104:受光装置
S:光軸
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
G01B 11/00
G06T 7/00
Claims (6)
- 【請求項1】 受光装置とは別体の投光装置から対象物
に光を照射し、その透過光を上記受光装置の一次元イメ
ージセンサに受光させて、一次元イメージセンサからの
出力に基づいてエッジの位置を検出し、検出したエッジ
に基づいて所定の測定を行う測定器において、 上記投光装置からの光の一部を遮光する遮光部材と、こ
の遮光部材を上記投光装置の所定の位置に位置決めする
遮光部材位置決め手段とを備えた測定器の位置決め装
置。 - 【請求項2】 請求項1において、光軸に対する一次元
イメージセンサの位置決めの基準となる基準値を記憶す
る基準値記憶部と、 光軸に対する一次元イメージセンサの相対位置の良否を
判定する位置決めモードにおいて、上記遮光部材を位置
決めした状態で受光装置が検出した遮光部材のエッジ位
置によって定まる遮光部材の検出位置と、上記基準値と
を比較して、その比較結果を出力する位置判定手段とを
備えた測定器の位置決め装置。 - 【請求項3】 請求項2において、上記基準値記憶部
は、上記基準値として下限基準値および上限基準値を記
憶しており、上記位置判定手段は、上記位置決めモード
において、下限基準値および上限基準値と上記遮光部材
の検出位置とを比較し、光軸に対し一次元イメージセン
サが位置決めされていると判断した場合にOK信号を出
力する測定器の位置決め装置。 - 【請求項4】 請求項3の上記位置判定手段は、上記位
置決めモードにおいて、上記遮光部材の検出位置が下限
値よりも小さい場合と、上記遮光部材の検出位置が上限
値よりも大きい場合とで異なる信号を出力する測定器の
位置決め装置。 - 【請求項5】 受光装置とは別体の投光装置から対象物
に光を照射し、その透過光を上記受光装置の一次元イメ
ージセンサに受光させて、一次元イメージセンサからの
出力に基づいてエッジの位置を検出し、検出したエッジ
に基づいて所定の測定を行う測定器において、 上記投光装置に位置決めされ、上記投光装置からの光の
一部を遮光する遮光部材と、 上記一次元イメージセンサ上の所定の位置を基準値とし
て記憶する基準値記憶部とを設け、 上記遮光部材が位置決めされた状態で受光装置が検出し
た上記遮光部材のエッジ位置と上記基準値とに基づいて
上記投光装置と受光装置の相対位置の良否の判定を可能
にした測定器の位置決め装置。 - 【請求項6】 請求項5において、 位置決めモードに設定された場合に、上記受光装置が検
出した上記遮光部材のエッジ位置と上記基準値とを比較
して、その比較結果を出力する位置判定手段を更に設け
た測定器の位置決め装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03549294A JP3454905B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 測定器の位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03549294A JP3454905B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 測定器の位置決め装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07218223A JPH07218223A (ja) | 1995-08-18 |
JP3454905B2 true JP3454905B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=12443250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03549294A Expired - Fee Related JP3454905B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 測定器の位置決め装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3454905B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6285376B2 (ja) * | 2015-02-19 | 2018-02-28 | アズビル株式会社 | エッジ検出装置 |
-
1994
- 1994-02-07 JP JP03549294A patent/JP3454905B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07218223A (ja) | 1995-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4830485A (en) | Coded aperture light detector for three dimensional camera | |
EP0790484B1 (en) | Horizontal position error correction mechanism for electronic level | |
KR940011942A (ko) | 용융수지내의 불순물 탐지법 | |
US4659936A (en) | Line width measuring device and method | |
JP3454905B2 (ja) | 測定器の位置決め装置 | |
JPH05322562A (ja) | 電子レベルと電子レベル用標尺 | |
JPS641726B2 (ja) | ||
JPH0620234B2 (ja) | 画像情報読取装置のシェーディング特性測定方法 | |
JP3085341B2 (ja) | 外形測定装置及びその被測定物配置方法 | |
JP2522191B2 (ja) | Icリ―ド高さ測定装置 | |
US6646736B1 (en) | Method for calibrating equipment for detecting impurities in transparent material | |
JPH0968462A (ja) | 反射率測定装置 | |
JP2568879Y2 (ja) | スペックル測長計に於けるモニター装置 | |
JPS6136884Y2 (ja) | ||
JP2584487B2 (ja) | 平面を形成する光束の受光装置 | |
JP3333971B2 (ja) | 遮光機構付き電子レベル | |
JP3190061B2 (ja) | 画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置 | |
JPS61225604A (ja) | 寸法測定方法 | |
JPS6230931A (ja) | 結像光学系の光学性能測定装置 | |
JPH09210639A (ja) | 外径測定装置 | |
JPH0854214A (ja) | 隙間計測方法 | |
JPS6112527B2 (ja) | ||
JP3039623U (ja) | 測距装置 | |
SU1024714A1 (ru) | Оптико-электронна система дл измерени параметров планарных волноводных пленок | |
JPH02300617A (ja) | 形状測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |